JPH0660868B2 - 回折光の受光信号処理装置 - Google Patents

回折光の受光信号処理装置

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JPH0660868B2
JPH0660868B2 JP60218472A JP21847285A JPH0660868B2 JP H0660868 B2 JPH0660868 B2 JP H0660868B2 JP 60218472 A JP60218472 A JP 60218472A JP 21847285 A JP21847285 A JP 21847285A JP H0660868 B2 JPH0660868 B2 JP H0660868B2
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猛 丹羽
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
    • G01N15/02Investigating particle size or size distribution
    • G01N15/0205Investigating particle size or size distribution by optical means
    • G01N15/0211Investigating a scatter or diffraction pattern

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、光回折式粒度分布測定機に用いられる回折光
の受光信号処理装置に関し、特に、データ演算処理を行
うコンピュータの入力回路に適用されるものである。
<従来の技術> 一般に、気相又は液相中に存在する粒子にレーザ光等の
単色光を照射すると粒子径に比例した量の回折をうけ回
折像を生ずる。粒子セルの後方によく補正されたレンズ
が配設されると、回折を受けない光はそのレンズの焦点
に集光し、円錐面状に回折された光は中心点の周りに結
像する。そして、同一粒径の粒子による回折光は同一回
折角をもつため、同一半径の円周上に回折像が生じ、セ
ル内の試料が移動しても回折像の位置は変わらない。こ
のようにして焦点面上には粒子径分布に対応した回折光
強度分布が観察される。
<発明が解決しようとする問題点> この回折光強度を受光する受光装置として、多重リング
状のフォトセンサを同心上に約30個程度配列したもの
が開発されている。回折光強度測定は1回の測定だけで
は試料の不均一さや、ノイズの影響があるため、フォト
センサごとに積分器を設けて周波数成分の高いノイズを
除去するとともに、瞬時値データを多数回測定してデー
タの平均化を行うため信号をホールドしていた。しか
し、フォトセンサごとに積分器を設けることは装置が大
型化し高価になる欠点を伴う。
本発明の目的は、積分やデータの演算によるデータ処理
の効果を維持しながら積分器の個数を大幅に減らせて装
置を小型化した回折光の受光信号処理装置を提供するこ
とにある。
<問題点を解決する為の手段> 本発明の装置は、同心円弧状の多数個の半導体フォトセ
ンサが配列された受光装置と、その多数個の半導体フォ
トセンサを2〜8個を一群とする複数個の群に分割し、
各群に1個づつ設けられた積分回路と、各積分回路の入
力線とその群に属する半導体フォトセンサの各出力線の
間に介在するアナログスイッチと、その各アナログスイ
ッチをそれが属する群内において順次時分割制御する制
御手段と、上記各積分回路の出力をその積分回路のホー
ルド時間内に順次選択する1個のマルチプレクサと、そ
のマルチプレクサの出力をデジタル変換する1個のA/
D変換器を有し、試料の回折光の光軸と上記受光装置の
中心を合わせたときに上記A/D変換器の出力から回折
光強度データが直列に得られるよう構成されたことを特
徴としている。
<実施例> 第1図に本発明の実施例の回折光を得る装置の構成を示
す。
レーザ1の光はコリメータ2により直径6mm〜8mmのレ
ーザビームとなり、測定セル3を照射する。測定セル3
は攪拌室4,ポンプ5とパイプにより連通しており、例
えば懸濁液等の試料が流される。測定セル3の後方には
レンズ6が設けられ、そのレンズの焦点面上に受光装置
7が配設される。受光装置7には同心上に半円状のフォ
トセンサが多数個、例えば32個、多重に配設されてお
り、この中心がレンズの光軸と一致するように置かれて
いる。
第2図に本発明実施例の回路図を示す。32個の各フォ
トセンサP,P,…P32はそれぞれが受光アンプA
,A,…A32に接続され、受光アンプの出力はアナ
ログスイッチS,S,…S32を経たのち各4本づつ
が共通接続されて8個の積分回路I,I,…I
各入力に接続されている。各積分回路I,I,…I
の出力は1個のマルチプレクサに入力され、その出力
はA/D変換器を経てデジタルコンピュータに入力され
ている。
8個の積分回路により8個の群に分割されたアナログス
イッチは、4種の制御信号T,T,T,Tによ
り時分割制御される。すなわち、各群ごとの4個のアナ
ログスイッチはそれぞれ異なるタイミングをもつ制御信
号T,T,T,Tにより同時に2個のスイッチ
がオンにならないように順次オンオフ制御される。ま
た、各積分回路I,…Iはリセット信号線が共通接
続されている。マルチプレクサは3ビットの制御信号b
,b,bにより順次切換制御される。
第3図に第2図の実施例のタイムチャートを示す。タイ
ミング信号TがHiのときはS,S,S,…S
29の8個のアナログスイッチが導通状態になり、8個の
フォトセンサP,P,P,P29の受光信号が各積
分回路I,I,…Iに入力される。この信号はT
がLoに転じたのちもホールドされており、そのホー
ルド状態のときにマルチプレクサが8個の入力信号を順
次切換えてゆき、それに従ってA/D変換器が8個のデ
ジタル信号を直列に出力する。それが終了したとき積分
回路I…Iが一斉にリセットされて次の信号に備え
る。
次にタイミング信号TがHiに転じ、8個のアナログ
スイッチS,S,S10,…S30が導通し、それに係
る8個のフォトセンサP,P,P10,…P30の受光
信号が各積分回路に入力されて、同様の処理が行われ、
これらのデジタル変換された信号がA/D変換器から直
列に出力される。積分回路がリセットされたのち、同様
にして、タイミング信号Tによる処理が実行され、更
にタイミング信号Tによる処理が実行されて1サイク
ルが終了する。このサイクルが繰り返し実行されて、コ
ンピュータによるデータの積算及びその他のデータ処理
が実行される。
<発明の効果> 以上説明したように、本発明によれば、同心円弧状の多
数個の半導体フォトセンサが配列された受光装置の、そ
の各半導体フォトセンサを2〜8個を一群とする複数個
の群に分割するとともに、その各群に1個づつ積分回路
を設け、その各積分回路の入力線とその群に属する半導
体フォトセンサの各出力線の間にはアナログスイッチを
介在させ、その各アナログスイッチをそれが属する群内
において順次時分割制御し、また、各積分回路の出力
を、マルチプレクサによってその積分回路のホールド時
間内に順次選択して1個のA/D変換器に供給するよう
に構成しているから、多数個の半導体フォトセンサのそ
れぞれに積分器を接続した従来の装置に比して、そのデ
ータ処理効果を低下させることなく、装置の小型化並び
にコストダウンを図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の回折光を得る装置の構成図、第
2図は本発明実施例の回路図、第3図は第2図の作用を
説明するタイムチャートである。 7…受光装置 P〜P32…半導体フォトセンサ S〜S32…アナログスイッチ I〜I…積分回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】同心円弧状の多数個の半導体フォトセンサ
    が配列された受光装置と、その多数個の半導体フォトセ
    ンサを2〜8個を一群とする複数個の群に分割し、各群
    に1個づつ設けられた積分回路と、各積分回路の入力線
    とその群に属する半導体フォトセンサの各出力線の間に
    介在するアナログスイッチと、その各アナログスイッチ
    をそれが属する群内において順次時分割制御する制御手
    段と、上記各積分回路の出力をその積分回路のホールド
    時間内に順次選択する1個のマルチプレクサと、そのマ
    ルチプレクサの出力をデジタル変換するA/D変換器を
    有し、そのA/D変換器の出力から上記受光装置に入射
    する回折光の強度分布データが直列に得られるよう構成
    された、回折光の受光信号処理装置。
JP60218472A 1985-09-30 1985-09-30 回折光の受光信号処理装置 Expired - Lifetime JPH0660868B2 (ja)

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JPS6276430A JPS6276430A (ja) 1987-04-08
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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ES2038255T3 (es) * 1988-08-17 1993-07-16 Hewlett-Packard Gmbh Espectrometro con un conjunto ordenado de fotodiodos.
JPH02145940A (ja) * 1988-11-28 1990-06-05 Horiba Ltd レーザ回折式粒度分布測定装置の回折光検出器
JP4795733B2 (ja) * 2005-07-01 2011-10-19 シスメックス株式会社 分析装置

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