JPH0660919B2 - Online diagnostic method and device for electromagnetic equipment - Google Patents
Online diagnostic method and device for electromagnetic equipmentInfo
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- JPH0660919B2 JPH0660919B2 JP1232880A JP23288089A JPH0660919B2 JP H0660919 B2 JPH0660919 B2 JP H0660919B2 JP 1232880 A JP1232880 A JP 1232880A JP 23288089 A JP23288089 A JP 23288089A JP H0660919 B2 JPH0660919 B2 JP H0660919B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電磁リレーや電磁開閉器等の電磁機器のオン
ライン診断方法及びその装置に関するものである。The present invention relates to a method and apparatus for online diagnosis of electromagnetic equipment such as electromagnetic relays and switches.
原子力プラントをはじめとする各種の発電プラント、鉄
鋼プラント、化学プラント等においては、電磁リレーや
電磁開閉器等の電磁機器が多く使用されている。これら
の電磁機器は通常時は待機状態であり、動作要求が発生
したときに動作させる、いわゆる待機用としての使用方
法が多い。このような場合、動作させるべきときに本当
に動作するか否かを該電磁機器を動作させずに事前に把
握できる様にしておくことはプラントの安全運転上重要
なことであり、そのための電磁機器及びその駆動回路の
診断が強く要望されている。BACKGROUND OF THE INVENTION In various power plants such as nuclear power plants, steel plants, chemical plants, etc., electromagnetic devices such as electromagnetic relays and electromagnetic switches are often used. These electromagnetic devices are normally in a standby state, and are often used for so-called standby, which is operated when an operation request is made. In such a case, it is important for safe operation of the plant that it is possible to know beforehand whether or not it should actually operate without operating the electromagnetic device. And the diagnosis of the drive circuit is strongly demanded.
特開昭53-41971号の電磁機器の故障検出装置は、電磁機
器に動作指令を与えたときに、電磁機器の可動部の動作
に伴って該電磁機器の励磁コイルのインダクタンスが変
化し、この変化に従って生じる励磁電流の極値を検出し
て、本当に電磁機器が動作したか否かを判定して、該電
磁機器の故障を検出するものである。励磁電流の変化
は、駆動回路側に抵抗を挿入し、抵抗に流れる上記励磁
電流を電圧の形で検出し、この検出信号と、これを遅延
回路を介して得られる信号とを比較する比較回路によっ
て検出している。In the failure detection device for an electromagnetic device disclosed in JP-A-53-41971, when an operation command is given to the electromagnetic device, the inductance of the exciting coil of the electromagnetic device changes according to the operation of the movable part of the electromagnetic device. The extreme value of the exciting current generated according to the change is detected to determine whether or not the electromagnetic device has really operated, thereby detecting the failure of the electromagnetic device. A change in the exciting current is made by inserting a resistor in the drive circuit side, detecting the exciting current flowing in the resistor in the form of voltage, and comparing the detected signal with a signal obtained through a delay circuit. Have detected by.
この従来例の他に特開昭53-21392号、特開昭54-159584
号、特開昭63-135679号がある。いずれも電磁弁の故障
診断に関するものである。In addition to this conventional example, JP-A-53-21392 and JP-A-54-159584
And JP-A-63-135679. Both are related to failure diagnosis of solenoid valves.
上記特開昭53-41971号においては、電磁機器の動作に伴
って生じる励磁電流の極値を検出して、電磁機器の故障
を検出しているが、電磁機器を動作させない時間幅のテ
スト信号を駆動回路に印加した場合には、当然の如く電
磁機器は動作しないために、励磁コイルのインダクタン
スは変化しない。この結果、励磁電流にわずかな変化が
生じるものの、極値が存在するようなことはない。従っ
て、このような場合には、従来技術では電磁機器及び該
駆動回路の異常を検出できないという問題がある。In the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 53-41971, the extreme value of the exciting current generated along with the operation of the electromagnetic equipment is detected to detect the failure of the electromagnetic equipment, but the test signal of the time width in which the electromagnetic equipment is not operated. When is applied to the drive circuit, the electromagnetic device does not operate as a matter of course, so that the inductance of the exciting coil does not change. As a result, although there is a slight change in the exciting current, no extreme value exists. Therefore, in such a case, there is a problem that the related art cannot detect an abnormality in the electromagnetic device and the drive circuit.
また、上記従来技術においては、励磁電流を検出するた
めに抵抗を駆動回路側に直接挿入してするが、電磁機器
が励磁電流オフで動作するタイプであれば、該抵抗が断
線側に故障すると、電磁機器が誤動作してしまい、シス
テムの高信頼性を確保できないという問題がある。Further, in the above-mentioned conventional technique, a resistor is directly inserted in the drive circuit side in order to detect the exciting current. However, if the electromagnetic device is of a type that operates with the exciting current off, the resistor may fail in the disconnection side. However, there is a problem that the electromagnetic equipment malfunctions and the high reliability of the system cannot be ensured.
また、特開昭53-21392号,特開昭54-159584号,特開昭6
3-135679号も電磁機器を動作させない時間幅のテスト信
号の印加の記載はない。Further, JP-A-53-21392, JP-A-54-159584 and JP-A-6-
No. 3-135679 does not mention the application of the test signal of the time width in which the electromagnetic equipment is not operated.
本発明は以上の点に鑑みなされたものであり、その目的
は、まず、電磁機器を動作させることなく、該電磁機器
及びその駆動回路を診断できる方法及びその装置を提供
することである。The present invention has been made in view of the above points, and an object thereof is to first provide a method and an apparatus for diagnosing an electromagnetic device and its drive circuit without operating the electromagnetic device.
本発明は電磁機器の駆動回路に電磁機器が動作しない時
間幅のテスト信号を印加し、該駆動回路内の電流を検出
し、この検出電流を、レベルシフト手段と遅延手段と比
較手段とからなる回路に入力することにより、テスト信
号印加時の駆動回路の応答を検出し、この検出結果とし
てテスト信号とを比較判定することとした。The present invention applies a test signal of a time width during which the electromagnetic device does not operate to the drive circuit of the electromagnetic device, detects the current in the drive circuit, and comprises the level detection means, the delay means, and the comparison means. By inputting to the circuit, the response of the drive circuit at the time of applying the test signal is detected, and the detection result is compared and judged with the test signal.
本発明は、電磁機器の駆動回路に電磁機器が動作しない
時間幅のテスト信号を印加し、このテスト信号に対して
駆動回路内に流れる電流の微小な変化量を、レベルシフ
ト手段と遅延手段と比較手段とから成る回路により検出
することが可能となるため、電磁機器を動作させること
はなく該電磁機器及びその駆動回路を診断することがで
きる。The present invention applies a test signal of a time width during which an electromagnetic device does not operate to a drive circuit of an electromagnetic device, and detects a minute change amount of a current flowing in the drive circuit in response to the test signal by a level shift unit and a delay unit. Since the detection can be performed by the circuit including the comparison means, the electromagnetic device and its drive circuit can be diagnosed without operating the electromagnetic device.
以下、本発明による実施例を図面を用いて説明する。各
図の番号の等しい部分は相当部を示す。Embodiments according to the present invention will be described below with reference to the drawings. The parts with the same numbers in each figure indicate the corresponding parts.
第1図は本発明の一実施例を示した図である。本実施例
で示す電磁機器2は、通常時は励磁状態であり、駆動回
路であるスイッチ3が開状態となることによって、無励
磁となって動作するタイプであるが、後述する様に、こ
れに限定することはない。このように動作させる構成
は、一般に、フェール・セーフ構成と呼ばれるものであ
り、例えば、電源1が喪失しても、該電磁機器は動作す
るわけであり、高い安全性が要求される場合によく利用
される。FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention. The electromagnetic device 2 shown in the present embodiment is in a normally excited state and is in a non-excited state when the switch 3 as a drive circuit is in an open state. It is not limited to. The configuration to operate in this manner is generally called a fail-safe configuration. For example, even if the power source 1 is lost, the electromagnetic device operates, which is often the case when high safety is required. Used.
このようにして構成される電磁機器2及びその駆動回路
が健全であるか否かを判定する診断装置は以下の様に構
成している。The diagnostic device configured as described above for determining whether or not the electromagnetic device 2 and its drive circuit are sound is configured as follows.
駆動回路に流れる電流を抵抗4を介して電圧の形で検出
している状態で、テスト信号発生回路11で発生したテ
スト信号11Aを駆動回路3に印加する。このときの検
出信号をレベルシフト回路8と遅延回路9、及びこれら
の出力信号を比較する比較回路10とから構成する入力信
号追従型比較回路6に入力し、この結果出力される入力
信号追従型比較回路の出力信号7により、故障判定回路
14Bが故障の判定を行う。これに加え本実施例では更
に、テスト信号11Aをウインド回路12に入力して得
られるウインド信号12と前記の出力信号7との論理積
をディジタル比較回路13でとり、この結果を故障判定
回路14Aで判定し、診断結果を表示する。The test signal 11A generated by the test signal generation circuit 11 is applied to the drive circuit 3 while the current flowing through the drive circuit is being detected in the form of voltage through the resistor 4. The detection signal at this time is input to an input signal tracking type comparison circuit 6 composed of a level shift circuit 8 and a delay circuit 9 and a comparison circuit 10 for comparing these output signals, and an input signal tracking type output as a result is input. The failure determination circuit 14B determines a failure based on the output signal 7 of the comparison circuit. In addition to this, in the present embodiment, further, the logical product of the window signal 12 obtained by inputting the test signal 11A to the window circuit 12 and the output signal 7 is taken by the digital comparison circuit 13, and the result is obtained by the failure judgment circuit 14A. To judge and display the diagnosis result.
さて、このように構成した診断装置の動作を、第2図を
用いて説明する。Now, the operation of the diagnostic device configured as described above will be described with reference to FIG.
第2図(a)は駆動回路3及び電磁機器2が正常である場
合の各部の動作波形を示した図であり、(b)は駆動回路
3が閉状態に故障した場合の各部の動作波形を示した図
である。FIG. 2 (a) is a diagram showing operation waveforms of each part when the drive circuit 3 and the electromagnetic device 2 are normal, and (b) is an operation waveform of each part when the drive circuit 3 fails in a closed state. It is the figure which showed.
まず第2図(a)を用いて駆動回路3が正常の場合を示
す。First, the case where the drive circuit 3 is normal will be described with reference to FIG.
テスト信号発生回路11から第2図(a)の(IV)に示すテス
ト信号11Aを駆動回路3及びウインド回路12に出力す
る。このテスト信号11Aは電磁機器2が動作しない時間
幅のパルス信号である。このテスト信号の印加により、
駆動回路3のスイッチは、短時間の間、開状態となる。
このため、駆動回路3に流れていた電流はこの期間はゼ
ロとなる。第2図(a)は、駆動回路内の電流、つまり、
電磁機器に流れていた電流が、丁度ゼロの時に、テスト
信号が印加された場合であるので、抵抗4によって検出
される電流も、電流がゼロになってから、テスト信号が
印加されている期間、ゼロが続く。そして、テスト信号
が解除されて、駆動回路3のスイッチが閉状態に戻れ
ば、その時点から電流が流れる。従って、抵抗4によっ
て検出した電流は、第2図(a)の(V)に示す電流検出信
号5となる。The test signal generation circuit 11 outputs the test signal 11A shown in (IV) of FIG. 2A to the drive circuit 3 and the window circuit 12. The test signal 11A is a pulse signal with a time width during which the electromagnetic device 2 does not operate. By applying this test signal,
The switch of the drive circuit 3 is open for a short time.
Therefore, the current flowing through the drive circuit 3 becomes zero during this period. Figure 2 (a) shows the current in the drive circuit, that is,
This is the case when the test signal is applied when the current flowing in the electromagnetic device is just zero, so the current detected by the resistor 4 is also the period during which the test signal is applied after the current becomes zero. , Zero continues. Then, when the test signal is released and the switch of the drive circuit 3 returns to the closed state, current flows from that point. Therefore, the current detected by the resistor 4 becomes the current detection signal 5 shown in (V) of FIG. 2 (a).
なお、テスト信号が印加されない場合には、電磁機器2
に流れる電流は電源1の電圧と電磁機器2の励磁コイル
のインピーダンスによって決る。If the test signal is not applied, the electromagnetic device 2
The current flowing through is determined by the voltage of the power supply 1 and the impedance of the exciting coil of the electromagnetic device 2.
さて、上記電流検出信号5は、入力信号追従型比較回路
6によって、以下の様に処理される。電流検出信号5
は、遅延回路9に入力される。この遅延回路9は、フィ
ルタ回路によって実現することが可能であり、その出力
は、第2図(a)の(V)に示す遅延信号9Aとなる。このよ
うに、電流検出信号5とこの遅延信号9Aは、テスト信
号印加時にオーバーラップしないため、テスト信号によ
って駆動回路3が動作して電磁機器に電流が流れなくな
ったかを、この2つの信号をそのまま比較したのでは判
断できない。そこで、上記電流検出信号5をレベルシフ
ト回路8にも入力し、該電流検出信号より一定レベルだ
け低い信号をこのレベルシフト回路8から出力し、この
出力信号と上記遅延信号9Aが波形上でクロスするよう
にした上で、比較する様にしている。レベルシフト回路
8から出力さる信号である、レベルシフトした信号8A
は、第2図(a)の(V)に示す波形となる。従って、この
レベルシフトした信号8Aと遅延信号9Aはテスト信号印
加時には、大小関係が反転するため、この大小関係の反
転の「有」によって電磁機器等の「正常」を、また
「無」によって「異常」を判定することができる。そこ
で本実施例では、これら2つの信号を比較回路10で比較
することにより、第2図(a)の(III)に示す、入力信号追
従型比較回路の出力信号7(テスト信号印加時に論理
“1”の信号を出力)を得ることができる。The current detection signal 5 is processed by the input signal tracking type comparison circuit 6 as follows. Current detection signal 5
Is input to the delay circuit 9. This delay circuit 9 can be realized by a filter circuit, and the output thereof becomes the delay signal 9A shown in (V) of FIG. 2 (a). In this way, the current detection signal 5 and the delayed signal 9A do not overlap at the time of applying the test signal. Therefore, it is determined whether or not the drive circuit 3 is operated by the test signal and no current flows in the electromagnetic device. It cannot be judged from the comparison. Therefore, the current detection signal 5 is also input to the level shift circuit 8, a signal lower than the current detection signal by a certain level is output from the level shift circuit 8, and this output signal and the delay signal 9A are crossed on the waveform. After doing so, I try to compare. The level-shifted signal 8A, which is the signal output from the level shift circuit 8.
Has a waveform shown in (V) of FIG. 2 (a). Therefore, when the test signal is applied, the magnitude relationship between the level-shifted signal 8A and the delayed signal 9A is inverted. Therefore, "in" of the inversion of the magnitude relationship indicates "normal" of the electromagnetic device and "absence" indicates "Abnormal" can be determined. Therefore, in the present embodiment, by comparing these two signals by the comparison circuit 10, the output signal 7 of the input signal tracking type comparison circuit shown in (III) of FIG. 1 "signal is output).
テスト信号印加時に出力信号7が“1”になる否かで故
障判定はできる。しかし、遅延信号9Aとレベルシフト
した信号8Aの大小関係が変わる点は、テスト信号印加
時ばかりでなく、第2図(a)の(V)に示す様に、電流検
出信号の凸部及び凹部にもある。従って、この点におい
ても、入力信号追従型比較回路6は、論理“1”の信号
を出力する。このように、入力信号追従型比較回路6
は、テスト信号印加時以外にも論理“1”の信号を出力
するため、テス信号印加に対応する応答のみを抽出する
必要がある。そこで本実施例では、ウインド回路12とデ
ィジタル比較回路13を設け、テスト信号印加時の応答の
みを抽出するようにしている。ウインド回路12は第2図
(a)の(II)に示す様にテスト信号11Aを入力すると一定時
間後にウインド信号12Aを出力する。このウインド信号1
2Aと入力信号追従型比較回路の出力信号7の論理積をデ
ィジタル比較回路13Aでとることにより、第2図(a)の
(I)に示す応答信号13Aを得る。つまり、テスト信号11A
を印加し、駆動回路3と電磁機器2が健全であれば、第
2図(a)の(I)に示す応答信号13Aを得ることができる。A failure can be determined by whether or not the output signal 7 becomes "1" when the test signal is applied. However, the magnitude relationship between the delayed signal 9A and the level-shifted signal 8A changes not only when the test signal is applied, but also as shown in (V) of FIG. There is also Therefore, also in this respect, the input signal tracking type comparison circuit 6 outputs a signal of logic "1". In this way, the input signal tracking type comparison circuit 6
Outputs a signal of logic "1" except when the test signal is applied, and therefore only the response corresponding to the application of the test signal needs to be extracted. Therefore, in this embodiment, the window circuit 12 and the digital comparison circuit 13 are provided so that only the response when the test signal is applied is extracted. The window circuit 12 is shown in FIG.
When the test signal 11A is input as shown in (II) of (a), the window signal 12A is output after a fixed time. This window signal 1
By calculating the logical product of 2A and the output signal 7 of the input signal tracking type comparison circuit by the digital comparison circuit 13A,
The response signal 13A shown in (I) is obtained. In other words, test signal 11A
If the drive circuit 3 and the electromagnetic device 2 are sound, the response signal 13A shown in (I) of FIG. 2 (a) can be obtained.
次に、駆動回路3が閉状態に故障した場合について第1
図及び第2図(b)を用いて説明する。Next, regarding the case where the drive circuit 3 fails in the closed state,
This will be described with reference to FIG. 2 and FIG.
駆動回路3が閉状態に故障すると、テスト信号11Aを印
加しても、駆動回路3は開状態にならないため、抵抗4
によって検出する電流検出信号5は、第2図(b)の(V)
のようになる。この結果、レベルシフトした信号8Aと
遅延信号9Aは第2図(b)の(V)に示すようになる。つま
り、テスト信号印加時に、レベルシフトした信号8Aと
遅延信号9Aの信号レベルの大小関係が変化することは
ない。従って、入力信号追従型比較回路の出力信号7は
第2図(b)の(III)のようになり、ウインド信号12Aとの
論理積をディジタル比較回路13でとることにより、第2
図(b)の(I)に示す応答信号を得ることになる。つま
り、駆動回路3が閉状態に故障すると、テスト信号印加
時の応答信号を得ることができなく、これによって故障
であると判断することができる。この判断は、故障判定
回路14Aによって実行される。本回路は、例えば、第5
図に示す回路構成によって実現することができる。If the drive circuit 3 fails in the closed state, the drive circuit 3 will not be in the open state even if the test signal 11A is applied.
The current detection signal 5 detected by is (V) in FIG. 2 (b).
become that way. As a result, the level-shifted signal 8A and the delayed signal 9A become as shown in (V) of FIG. 2 (b). That is, the magnitude relationship between the signal levels of the level-shifted signal 8A and the delayed signal 9A does not change when the test signal is applied. Therefore, the output signal 7 of the input signal tracking type comparison circuit becomes as shown in (III) of FIG. 2 (b), and the logical product with the window signal 12A is taken by the digital comparison circuit 13 to obtain the second signal.
The response signal shown in (I) of FIG. In other words, if the drive circuit 3 fails in the closed state, it is not possible to obtain a response signal when the test signal is applied, and it can be determined that there is a failure. This judgment is executed by the failure judgment circuit 14A. This circuit is, for example, the fifth
It can be realized by the circuit configuration shown in the figure.
故障判定回路14Aは、基本的には、パルス発振回路14A
1、カウンタ14A2とフリップ・フロップ回路14A3と、故
障表示器14A4によって構成しているが、フリップ・フロ
ップ回路14A2は電源14A6,抵抗14A7,スイッチ14A8から
成るリセット回路14A5によってリセットされる。The failure determination circuit 14A is basically a pulse oscillation circuit 14A.
1. The counter 14A2, the flip-flop circuit 14A3, and the failure indicator 14A4 are used. The flip-flop circuit 14A2 is reset by a reset circuit 14A5 including a power supply 14A6, a resistor 14A7, and a switch 14A8.
カウンタ14A2はパルス発振回路14A1から出力されるパル
ス信号の数をカウントするが、応答信号13Aがリセット
端子14A9に入力されることにより、リセットされる様に
している。パルス発振回路14A1のパルス信号の周期は、
駆動回路3及び電磁機器2が健全であるときにテス信号
印加によって得られる応答信号(論理“1”のパルス状
信号)の周期よりも長くなる様、あらかじめ定められて
いる。つまり、駆動回路回路3と電磁機器が正常のとき
には、カウンタ14A2は、パルス発振回路14A1から出力す
るパルスを計数しないことになる。そして、駆動回路3
が閉状態に故障すると、テスト信号印加に対する応答信
号が得られなく、論理“1”の信号がカウンタ14A2のリ
セット端子14A9に入力され、カウントモードとなるた
め、パルス発振回路14A1からのパルス数をカウントす
る。第5図では、そのカウント値が4になったら、フリ
ップ・フロップ14A3を動作させて故障表示器14A4に故障
表示信号を与え、故障を表示する。第5図のように、カ
ウンタ14A2を用いて、そのカウント値が4になった時に
フリップ・フロップ14A3を動作させたのは駆動回路3が
故障したということをより一層確かな情報とするためで
あり、このカウント値をいくらにするかは、任意であ
る。The counter 14A2 counts the number of pulse signals output from the pulse oscillating circuit 14A1 and is reset when the response signal 13A is input to the reset terminal 14A9. The period of the pulse signal of the pulse oscillation circuit 14A1 is
It is predetermined such that it becomes longer than the cycle of the response signal (pulse-shaped signal of logic "1") obtained by applying the test signal when the drive circuit 3 and the electromagnetic device 2 are sound. That is, when the drive circuit circuit 3 and the electromagnetic device are normal, the counter 14A2 does not count the pulses output from the pulse oscillation circuit 14A1. And the drive circuit 3
If the fault occurs in the closed state, the response signal to the test signal application cannot be obtained, the signal of logic "1" is input to the reset terminal 14A9 of the counter 14A2, and the count mode is set. Therefore, the number of pulses from the pulse oscillation circuit 14A1 To count. In FIG. 5, when the count value reaches 4, the flip-flop 14A3 is operated to give a failure display signal to the failure indicator 14A4 to display the failure. As shown in FIG. 5, the counter 14A2 is used and the flip-flop 14A3 is operated when the count value becomes 4 in order to provide more reliable information that the drive circuit 3 has failed. Yes, it is arbitrary how much the count value should be.
次に、駆動回路3が開状態に故障した場合あるいは、電
磁機器2の励磁コイルが断線したり、あるいはそのコネ
クタの接触が不良であったりする場合の故障の検出につ
いて説明する。Next, the detection of a failure when the drive circuit 3 fails in the open state, the exciting coil of the electromagnetic device 2 is broken, or the contact of the connector is bad will be described.
この故障は、いずれも、電磁機器2への電流が流れない
場合である。この場合の各部の動作波形は、第7図のよ
うになる。In both of these failures, no current flows to the electromagnetic device 2. The operation waveform of each part in this case is as shown in FIG.
第7図(II)に示す様に、テスト信号11Aが論理“1”つ
まり、論理“0”のパルス信号を印加しない時に、電磁
機器2への電流が流れない故障を検出する。ただし、第
6図は、正常時の場合の動作波形であり、第7図が故障
発生した場合の動作波形である。As shown in FIG. 7 (II), when the test signal 11A does not apply a pulse signal of logic "1", that is, logic "0", a failure in which no current flows to the electromagnetic device 2 is detected. However, FIG. 6 shows operation waveforms in the case of normal operation, and FIG. 7 shows operation waveforms in the case of failure.
まず、第6図において、テスト信号11Aが論理“1”で
あると、これによって得られる電流検出信号5は、第6
図(III)のようになる。この結果、レベルシフトした信
号8Aと遅延信号9Aは、それぞれ第6図(III)のように
なる。従って、これらの信号の大小関係が変化する毎
に、第6図(1)に示す信号が入力信号追従型比較判定回
路6から出力される。この信号は第8図の故障判定回路
14Bに入力される。この故障判定回路14Bは第5図に示す
故障判定回路14Aと同一構成であるが、入力信号とパル
ス発振回路14B1が異なるのみである。具体的には、まず
入力信号が入力信号追従型比較回路の出力信号7であ
り、かつ、これを反転回路14B10で論理反転し、カウン
タのリセット14B9に入力している。次にパルス発振回路
14B1の発振周期は、14Aの場合と異なり、第6図(I)に
示す信号のパルスの出力周期より長く設定し、かつ第2
図(a)の(IV)又は(b)の(IV)に示すテスト信号におけるパ
ルス信号の印加周期より短かく設定している。このよう
に構成することにより、14Aと同様に、入力信号に、第
6図(I)の信号が入力されれば、これがカウンタ14B2の
リセット信号となるためパルス発振回路14B1からのパル
スを計数せずフリップ・フロップ14B3は動作しない。つ
まり、電磁機器2及び駆動回路3は正常であると判断で
きる。なお、リセット回路14A5は第5図と同様に、電源
14B6,抵抗14B17,スイッチ14B8によって構成してい
る。First, in FIG. 6, when the test signal 11A is logic "1", the current detection signal 5 obtained by this is
It looks like Figure (III). As a result, the level-shifted signal 8A and the delayed signal 9A are as shown in FIG. 6 (III). Therefore, each time the magnitude relationship of these signals changes, the signal shown in FIG. 6 (1) is output from the input signal tracking type comparison / determination circuit 6. This signal is the failure judgment circuit of FIG.
Input to 14B. The failure determination circuit 14B has the same configuration as the failure determination circuit 14A shown in FIG. 5, but only the input signal and the pulse oscillation circuit 14B1 are different. Specifically, first, the input signal is the output signal 7 of the input signal tracking type comparison circuit, and this is logically inverted by the inverting circuit 14B10 and input to the reset 14B9 of the counter. Next, the pulse oscillator circuit
Unlike the case of 14A, the oscillation cycle of 14B1 is set longer than the pulse output cycle of the signal shown in FIG.
It is set shorter than the application period of the pulse signal in the test signal shown in (IV) of FIG. (A) or (IV) of (b). With this configuration, as in the case of 14A, when the signal of FIG. 6 (I) is input to the input signal, this becomes the reset signal of the counter 14B2, so that the pulse from the pulse oscillation circuit 14B1 is counted. Without flip-flop 14B3 does not work. That is, it can be determined that the electromagnetic device 2 and the drive circuit 3 are normal. In addition, the reset circuit 14A5 is the same as in FIG.
It consists of 14B6, resistor 14B17, and switch 14B8.
次に、第7図を用いて、電磁機器2に電流が流れない様
な故障が発生した場合の動作について説明する。Next, with reference to FIG. 7, the operation in the case where a failure such that no current flows in the electromagnetic device 2 will be described.
テスト信号11Aは第7図(II)に示す様に論理“1”であ
る。電磁機器2に電流が流れなくなると、電流検出信号
は第7図(III)に示す様になる。これに対し、レベルシ
フトした信号8Aと遅延信号9Aはそれぞれ第7図(III)
の様になる。この結果、入力信号追従型比較回路の出力
信号7は第7図(I)の様に論理“1”の信号になる。従
って、故障判定回路14Bは、反転回路14B10により、論理
“0”の信号がカウンタ14B2のリセット端子14B9に入力
されるため、カウンタ14B2はカウントモードになり、パ
ルス発振回路14B1から出力されるパルスを計数する。こ
の値が4となったら、フリップ・フロップ14B3を動作さ
せ故障表示部14B4に故障表示信号を出力する。このよう
にして、電磁機器2あるいは駆動回路の開故障を判定,
表示する。The test signal 11A is logic "1" as shown in FIG. 7 (II). When the current stops flowing in the electromagnetic device 2, the current detection signal becomes as shown in FIG. 7 (III). On the other hand, the level-shifted signal 8A and the delayed signal 9A are respectively shown in FIG. 7 (III).
It becomes like. As a result, the output signal 7 of the input signal tracking type comparison circuit becomes a signal of logic "1" as shown in FIG. Therefore, since the inverting circuit 14B10 inputs the signal of logic “0” to the reset terminal 14B9 of the counter 14B2, the failure determination circuit 14B enters the count mode of the counter 14B2 and outputs the pulse output from the pulse oscillation circuit 14B1. Count. When this value becomes 4, the flip-flop 14B3 is operated and the failure display signal is output to the failure display unit 14B4. In this way, the open failure of the electromagnetic device 2 or the drive circuit is determined,
indicate.
これまで述べた、入力信号追従型比較回路6の具体的な
回路構成を以下に述べる。The specific circuit configuration of the input signal tracking type comparison circuit 6 described above will be described below.
具体例を第3図に示す。比較回路9は抵抗91とコンデン
サ92から成る1次のフィルタで構成し、レベルシフト回
路はダイオード81と抵抗82、及び電源83によって構成し
ている。この電源83は、ダイオード81と抵抗83をこの様
に接続した場合には負極性の電圧源となる。つまり、入
力信号に対してダイオード81の順方向降下電圧Vfだけ
低い電圧を比較回路10に印加するためである。A specific example is shown in FIG. The comparison circuit 9 is composed of a primary filter composed of a resistor 91 and a capacitor 92, and the level shift circuit is composed of a diode 81, a resistor 82, and a power supply 83. The power source 83 becomes a negative voltage source when the diode 81 and the resistor 83 are connected in this way. That is, a voltage lower than the input signal by the forward drop voltage V f of the diode 81 is applied to the comparison circuit 10.
なお、レベルシフト回路8の出力を比較回路のプラス側
入力端子に接続し、遅延回路9の出力を比較回路10のマ
イナス入力端子に接続してもよい。ただし、この場合に
は、比較回路10から出力される信号が、第3図の場合の
出力信号と論理が反転することになるが、入力信号追従
型比較回路の機能としては同一である。また、遅延回路
は、他のn次型のフィルタであってもよい。The output of the level shift circuit 8 may be connected to the plus side input terminal of the comparison circuit, and the output of the delay circuit 9 may be connected to the minus input terminal of the comparison circuit 10. However, in this case, the logic of the signal output from the comparison circuit 10 is inverted from that of the output signal in the case of FIG. 3, but the function of the input signal tracking type comparison circuit is the same. Further, the delay circuit may be another n-order type filter.
第4図は、入力信号追従型比較回路6の他の実施例であ
り、これを第1図の入力信号追従型比較回路6としても
よい。FIG. 4 shows another embodiment of the input signal tracking type comparison circuit 6, which may be the input signal tracking type comparison circuit 6 of FIG.
第4図の入力信号追従型比較回路6は、入力信号を比較
回路10のマイナス入力端子に接続し、この入力信号を遅
延回路9に入力し、この遅延回路9の出力信号をレベル
シフト回路8に入力し、レベルシフト回路の出力信号を
比較回路10のプラス入力端子に接続する構成としてい
る。この動作波形を第2図(a)の(III)〜(V)と対比して
第9図に示す。テスト信号11に対して得られる電流検出
信号5は第9図(III)のようになる。従って、遅延信号
9Aは第9図(III)のようになる。レベルシフト回路8
は、第1図の場合と異なる、レベルシフト回路の入力信
号により一定レベルだけ高い信号を出力するものであ
る。従って、レベルシフトした信号8Aは第9図(III)に
示す様になる。比較回路10には、入力信号とレベルシフ
トした信号8Aが入力されるため、第9図(I)に示す信
号が出力される。つまり、第2図(a)の(III)と同一の波
形が本入力信号追従型比較回路6から出力することがで
きる。The input signal tracking type comparison circuit 6 of FIG. 4 connects the input signal to the minus input terminal of the comparison circuit 10, inputs this input signal to the delay circuit 9, and outputs the output signal of this delay circuit 9 to the level shift circuit 8 And the output signal of the level shift circuit is connected to the positive input terminal of the comparison circuit 10. This operation waveform is shown in FIG. 9 in comparison with (III) to (V) of FIG. 2 (a). The current detection signal 5 obtained for the test signal 11 is as shown in FIG. 9 (III). Therefore, the delay signal 9A becomes as shown in FIG. Level shift circuit 8
Which is different from the case of FIG. 1, outputs a signal which is higher by a certain level by the input signal of the level shift circuit. Therefore, the level-shifted signal 8A becomes as shown in FIG. 9 (III). Since the input signal and the level-shifted signal 8A are input to the comparison circuit 10, the signal shown in FIG. 9 (I) is output. That is, the same waveform as (III) in FIG. 2 (a) can be output from the input signal tracking type comparison circuit 6.
この入力信号追従型比較回路6の具体的な回路構成を第
10図に示す。遅延回路9は第3図と同様、抵抗91とコン
デンサ92の一次フィルタで構成し、レベルシフト回路
は、ダイオード81と抵抗82、及び電源84によって正極性
の電源である。この電源は第3図とは異なって正極性の
電源である。このようにレベルシフト回路を構成すると
こにより、該回路8の入力信号、つまり遅延信号9Aに
対して、ダイオード81の順方向降下電圧Vfだけ高い電
圧を比較回路10に印加することができる。A specific circuit configuration of the input signal tracking type comparison circuit 6 will be described below.
Shown in Figure 10. The delay circuit 9 is composed of a primary filter of a resistor 91 and a capacitor 92, as in FIG. 3, and the level shift circuit is a positive power source by a diode 81, a resistor 82, and a power source 84. This power source is a positive polarity power source unlike FIG. By configuring the level shift circuit in this way, a voltage higher than the input signal of the circuit 8, that is, the delay signal 9A by the forward drop voltage V f of the diode 81 can be applied to the comparison circuit 10.
ところで、第3図及び本回路におけるダイオードの順方
向降下電圧Vfは次式で与えられる。By the way, the forward drop voltage V f of the diode in FIG. 3 and this circuit is given by the following equation.
上式におけるVfとIfの関係を図示すると第11図の様に
なる。つまり、順方向電流がある程度の値となる点を動
作点Aとすると、この点においては、Ifが変化しても、
Vfはほぼ一定となる。従って、第3図及び第10図のよ
うに構成することにより、レベルシフトした信号を得る
ことができる。 The relationship between V f and I f in the above equation is illustrated in FIG. That is, assuming that the point at which the forward current has a certain value is the operating point A, even if I f changes at this point,
V f becomes almost constant. Therefore, by configuring as shown in FIG. 3 and FIG. 10, a level-shifted signal can be obtained.
第3図及び第10図において、ダイオードの代わりに抵抗
を用いることも可能であるが、この場合に、その抵抗
と、抵抗82との抵抗比によって得られる電圧分だけレベ
ルシフトすることが可能である。ただし、入力信号の電
圧レベルが高い時と低いときには、そのレベルシフトす
るレベルの比は等しいが、レベルシフトするレベルの大
きさは異なる。つまり、入力信号が小さいときは、レベ
ルシフトする量が小さく、入力信号が大きいときはレベ
ルシフトする量も大きくなる。この結果、第2図(a)あ
るいは第9図において、テスト信号印加時に、比較回路
10に入力される二つの信号の大小関係の反転期間が短く
なる。つまり、この比較回路からの出力信号の応答パル
スの期間が短くなるだけである。In FIGS. 3 and 10, a resistor may be used instead of the diode, but in this case, the level can be shifted by the voltage obtained by the resistance ratio of the resistor and the resistor 82. is there. However, when the voltage level of the input signal is high and when the voltage level of the input signal is low, the level-shifted levels have the same ratio but the level-shifted levels are different. That is, when the input signal is small, the level shift amount is small, and when the input signal is large, the level shift amount is large. As a result, in FIG. 2 (a) or FIG. 9, the comparison circuit is applied when the test signal is applied.
The inversion period of the magnitude relationship between the two signals input to 10 is shortened. That is, the period of the response pulse of the output signal from this comparison circuit is only shortened.
次に、第1図において、抵抗4の代わりに、駆動回路に
流れる電流を他の検出手段によって検出する方法につい
て述べる。Next, in FIG. 1, instead of the resistor 4, a method of detecting the current flowing through the drive circuit by another detecting means will be described.
抵抗を用いて電流を検出する場合には、電磁機器の駆動
回路側に直接、該抵抗を挿入しているため、該抵抗の故
障により、システムの可動率が低下したりする問題があ
る。この問題を解決するためには、非接触で電流を検出
することが望ましい。When the current is detected by using the resistor, the resistor is directly inserted in the drive circuit side of the electromagnetic device, so that there is a problem that the mobility of the system is lowered due to the failure of the resistor. In order to solve this problem, it is desirable to detect the current without contact.
そこで、第12図に示す様に、カレント・トランス15を用
いて、電流が流れることによって発生する磁界を該カレ
ント・トランス15により電圧信号として取り出すことが
できる。このカレント・トランス15の出力信号を、これ
まで述べた入力信号追従型比較回路6に入力する。カレ
ント・トランスは、いわゆる交流結合素子はであるた
め、直流分はしゃ断される。このため、例えば、第13図
(I)のように、連続的にテスト信号11A(パルス信号)
が駆動回路に印加されると、この結果、カレント・トラ
ンス15によって得られる電流検出信号は、電流オフの期
間がプラス側にシフトしてしまう。これは、カレン・ト
ランスが交流結合素子であるためであるが、入力信号追
従型比較回路は、電流の変化を検出する様に構成し、か
つ第3図及び第10図に示した様に、レベルシフト回路は
その入力信号のレベルが変化しても一定レベルだけシフ
トできる様にしているため、入力信号追従型比較回路6
はその入力信号が第13図(II)のような電流検出信号であ
っても、的確に電流オフ時の応答信号を検出することが
できる。Therefore, as shown in FIG. 12, the current transformer 15 can be used to extract the magnetic field generated by the current flow as a voltage signal by the current transformer 15. The output signal of the current transformer 15 is input to the input signal tracking type comparison circuit 6 described above. Since the current transformer is a so-called AC coupling element, the DC component is cut off. Therefore, for example,
Test signal 11A (pulse signal) continuously as shown in (I)
Is applied to the drive circuit, as a result, the current detection signal obtained by the current transformer 15 shifts the current off period to the plus side. This is because the Karen transformer is an AC coupling element, but the input signal tracking type comparison circuit is configured to detect a change in current and, as shown in FIGS. 3 and 10, Since the level shift circuit is designed to be able to shift by a constant level even if the level of the input signal changes, the input signal tracking type comparison circuit 6
Can accurately detect the response signal when the current is off, even if the input signal is a current detection signal as shown in FIG. 13 (II).
また、第1図及び第12図において、電流検出信号のレベ
ルが小さい場合には、入力信号追従型比較回路の入力段
に、信号レベルを増幅する増幅回路を設けてもよいこと
は言うまでもないことである。Further, in FIGS. 1 and 12, it is needless to say that when the level of the current detection signal is low, an amplifier circuit for amplifying the signal level may be provided at the input stage of the input signal tracking type comparison circuit. Is.
なお、第13図においても、テスト信号は、電磁機器に流
れる電流がゼロになったときに印加するようにしている
が、これについては以下の理由による。Note that, also in FIG. 13, the test signal is applied when the current flowing through the electromagnetic device becomes zero, but this is for the following reason.
例えば、第14図に示す様に、電磁機器2に流れる電流が
最大なときにテスト信号11として、パルス信号を印加す
ると、電源電圧に大きなノイズ電圧が発生する。このノ
イズ電圧Enは次式で与えられる。For example, as shown in FIG. 14, when a pulse signal is applied as the test signal 11 when the current flowing through the electromagnetic device 2 is maximum, a large noise voltage is generated in the power supply voltage. This noise voltage E n is given by the following equation.
駆動回路のスイッチング時間は、使用する素子にもよる
が、数ms〜数μsであると考えられるので、Enは非
常に大きな値となってしまう。特に、大型の電磁機器を
駆動する場合には、電流が大きいため、このEnは極め
て高くなる。従って、このノイズ電圧を制御するための
保護回路が新たに必要になり、ハード量が増大すると共
に、この保護回路自体の故障によるシステムの信頼性低
下も発生するという問題がある。 Switching time of the drive circuit, depending on the element used, since it is considered that the number ms~ number .mu.s, E n becomes very large value. Particularly, when driving a large electromagnetic device, because the current is large, the E n becomes extremely high. Therefore, there is a problem that a protection circuit for controlling the noise voltage is newly required, the amount of hardware is increased, and the reliability of the system is deteriorated due to the failure of the protection circuit itself.
この問題を解決するためには、(2)式においてiがゼロ
となる様に制御すればよい。このために、電磁機器2に
流れる電流を検出し、この電流がゼロになるときにテス
ト信号を印加する様にすればよく、構成としては第15図
の様になる。この図において、カレント・トランス15に
より電流を検出し、この結果を位相検出回路16に入力す
る。位相検出回路16は電流がゼロになるときにテスト信
号11Aを出力されるための指令信号をテスト信号発生回
路11に出力する。以上の様に構成することにより、ノイ
ズ電圧の発生を伴わないテスト信号の印加が達成でき
る。In order to solve this problem, it is sufficient to control so that i becomes zero in the equation (2). For this purpose, the current flowing through the electromagnetic device 2 may be detected, and a test signal may be applied when this current becomes zero. The configuration is as shown in FIG. In this figure, a current is detected by the current transformer 15, and the result is input to the phase detection circuit 16. The phase detection circuit 16 outputs a command signal for outputting the test signal 11A to the test signal generation circuit 11 when the current becomes zero. With the above configuration, it is possible to apply the test signal without generating a noise voltage.
ここで、駆動回路を構成するスイッチは、リレーやコン
タクタのような機械的な接点構造を持っていると、その
動作遅れが数ms程度になることがある。この遅れ時間が
問題となる場合には、駆動回路を半導体スイッチング素
子で構成すればよい。半導体スイッチング素子として
は、トランジスタ、サイリスタ等が考えられる。特にサ
イリスタで構成する場合には、次のような効果を得るこ
とができる。Here, if the switch forming the drive circuit has a mechanical contact structure such as a relay or a contactor, the operation delay may be about several ms. If this delay time becomes a problem, the drive circuit may be composed of semiconductor switching elements. A transistor, a thyristor, etc. can be considered as the semiconductor switching element. In particular, in the case of using a thyristor, the following effects can be obtained.
第16図に示す様に、双方性サイリスタ3で駆動回路を構
成し、電源の電圧の位相を位相検出回路16で検出し、電
源の電圧がゼロになったときにテスト信号11Aを出力さ
せるための指令信号をテスト信号発生回路11に出力す
る。テスト信号発生回路は、電圧と電流の位相差分を考
慮して、これまで説明したテスト信号のパルス幅よりは
長い時間幅のパルス信号(あらかじめこのパルス幅は定
めておく)を出力する。As shown in FIG. 16, a drive circuit is configured by the amphoteric thyristor 3, the phase of the power supply voltage is detected by the phase detection circuit 16, and the test signal 11A is output when the power supply voltage becomes zero. The command signal of is output to the test signal generation circuit 11. The test signal generation circuit outputs a pulse signal having a time width longer than the pulse width of the test signal described above (the pulse width is predetermined) in consideration of the phase difference between the voltage and the current.
一般に、サイリスタは、保持電流以下になったときにゲ
ート信号がない場合にはスイッチオフとなるため、この
場合、双方向性サイリスタ3に流れる電流が保持電流以
下になったときに、スイッチ・オフとなり、その後、テ
スト信号が論理“1”になると再びスイッチ・オンとな
る。この結果、第17図(III)に示す様に、テスト信号11A
に応答した電磁機器の電流をカレント・トランス15で検
出することになる。In general, the thyristor is switched off when there is no gate signal when the current falls below the holding current. In this case, when the current flowing through the bidirectional thyristor 3 falls below the holding current, the thyristor switches off. Then, when the test signal becomes logic "1", the switch is turned on again. As a result, as shown in FIG. 17 (III), the test signal 11A
The current of the electromagnetic device that responds to is detected by the current transformer 15.
第15図の場合は、カレント・トランス15の出力信号を用
いて位相検出していた。このために、テスト信号の印加
周期が短かくなると、第13図(II)のように、その信号の
レベルが変化するため、電磁機器に流れている電流がゼ
ロになる位相点を検出するのは困難となるが、電圧を検
出すれば、この様なことはなく、簡単な回路でテスト信
号11Aの印加タイミングを決定することが可能となる。In the case of FIG. 15, the phase is detected using the output signal of the current transformer 15. For this reason, if the test signal application cycle becomes shorter, the level of that signal changes as shown in Fig. 13 (II), so the phase point at which the current flowing through the electromagnetic device becomes zero is detected. However, if the voltage is detected, such a situation does not occur, and the application timing of the test signal 11A can be determined by a simple circuit.
第18図は、本発明を特願昭62-226370号(特開平1-70802
号)の診断機能付き冗長化制御、保護装置に適用した例
である。ただし、出力回路は特願昭62-4834号(特開昭6
3-140305号)の制御保護装置に示したパワー回路を対象
としている。スクラム電磁弁2は、2つの励磁コイルを
持ち、この励磁コイルに前記実施例によるテスト信号を
別々に流す。そして、各励磁コイル毎にその故障診断を
行う。これはサーベランステストとして知られている。
かかるサーベランステストに対する実施例が第18図であ
る。FIG. 18 shows the present invention in Japanese Patent Application No. 62-226370 (JP-A-1-70802).
No.), which is applied to a redundant control and protection device with a diagnostic function. However, the output circuit is Japanese Patent Application No. 62-4834 (Japanese Patent Application Laid-Open No.
The target is the power circuit shown in the control and protection device of 3-140305). The scrum solenoid valve 2 has two exciting coils, and the test signals according to the above-described embodiment are separately sent to the exciting coils. Then, the failure diagnosis is performed for each exciting coil. This is known as the surveillance test.
FIG. 18 shows an example of such a surveillance test.
本回路構成は、基本的には第1図と同様であり、出力回
路−1が駆動回路3に対応し、スイッチング素子Sw1〜
Sw8の直並列回路によって駆動回路を構成している。た
だし、出力回路−1内のコイルLoはサイリスタ並列回
路のための電流バランス用コイルである。また、カレン
ト・トランスCT1〜CT4は出力回路内の並列回路構成を
流れる電流を検出するために設けており、出力回路−1
の入力信号a〜dとCT1〜CT4によって得られる電流検
出信号を出力回路の状態判定回路14でパターン的に比較
することにより、出力回路−1あるいはスクラム電磁弁
2の故障を検出できる。このパターン比較については、
特願昭62-226370号(特開平1-70802号)に記載してあ
る。また、ウインド回路12はテスト信号a〜dが4個あ
るため、これらの論理和をOR回路17でとって、その出
力信号を入力とすることにより、テスト信号に対する入
力信号追従型比較回路61〜64をディジタル比較回路131
〜134で得るようにしている。This circuit configuration is basically the same as that shown in FIG. 1, the output circuit-1 corresponds to the drive circuit 3, and the switching elements Sw1 to Sw1.
The drive circuit is composed of a series-parallel circuit of Sw8. However, the coil L o in the output circuit -1 is coil current balance for the thyristor parallel circuit. The current transformers CT1 to CT4 are provided to detect the current flowing through the parallel circuit configuration in the output circuit, and the output circuit-1
By comparing the current detection signals obtained by the input signals a to d and CT1 to CT4 in a pattern by the state determination circuit 14 of the output circuit, the failure of the output circuit-1 or the scrum solenoid valve 2 can be detected. For this pattern comparison,
It is described in Japanese Patent Application No. 62-226370 (JP-A-1-70802). Further, since the window circuit 12 has four test signals a to d, the OR circuit 17 takes the logical sum of these signals and inputs the output signal to the input signal tracking type comparison circuit 61 to the test signal. 64 to digital comparison circuit 131
I'll try to get it at ~ 134.
以上の様に構成することにより、図示していないが、4
つの診断回路から非周期的に出力されるテスト信号に対
して、的確な診断を可能としている。非周期的にテスト
信号が印加されると、各々のカレント・トランスの出力
信号は、第13図(II)のようになることもあるが、第3図
あるいは第10図に示す入力信号追従型比較回路によっ
て、本システムは何も問題なく診断できる。Although not shown in the figure by configuring the above,
Accurate diagnosis is possible for a test signal output aperiodically from two diagnosis circuits. When a test signal is applied aperiodically, the output signal of each current transformer may be as shown in Fig. 13 (II), but the input signal tracking type shown in Fig. 3 or 10 may be used. The comparison circuit allows the system to diagnose without any problems.
以上述べた様に、本発明は、電磁機器が動作しない時間
幅のテスト信号を駆動回路に印加し、該駆動回路内に流
れる電流を、入力信号追従型比較回路に印加し、テスト
信号と入力信号追従型比較回路の出力信号とを比較する
ことにより、テスト信号の印加によって発生するわずか
な電流変化を検出することが可能となり、電磁機器を動
作させずに駆動回路あるいは電磁機器の故障を検出する
ことができる。また、上記電流検出手段にカレント・ト
ランスを用いて非接触で上記電流を検出して、同様に診
断することが可能であるため、システムの信頼性を高く
することができ、工学的価値は極めて高い。As described above, according to the present invention, a test signal having a time width in which an electromagnetic device does not operate is applied to a drive circuit, and a current flowing in the drive circuit is applied to an input signal tracking type comparison circuit to input a test signal and an input signal. By comparing with the output signal of the signal tracking type comparison circuit, it becomes possible to detect the slight current change generated by the application of the test signal, and detect the failure of the drive circuit or the electromagnetic device without operating the electromagnetic device. can do. Further, since it is possible to detect the above current in a non-contact manner by using a current transformer as the above current detecting means and perform the same diagnosis, it is possible to increase the reliability of the system and the engineering value is extremely high. high.
第1図は本発明の実施例図、第2図はそのタイムチャー
ト、第3図及び第4図,第10図は本発明の比較回路の実
施例図、第5図及び第8図は故障判定回路の実施例図、
第6図,第7図,第9図は本実施例のタイムチャート、
第11図はダイオード特性図、第12図,第15図,第16図は
本発明の他の実施例図、第13図,第14図,第17図は各実
施例のタイムチャート、第18図は本発明の適用例図であ
る。 2……電磁機器、8……レベルシフト回路、3……駆動
回路、9……遅延回路、6……入力信号追従型比較回
路、11A……テスト信号、13……ディジタル比較回路。FIG. 1 is an embodiment diagram of the present invention, FIG. 2 is a time chart thereof, FIGS. 3 and 4 and FIG. 10 are embodiment diagrams of a comparison circuit of the present invention, and FIGS. Example diagram of the determination circuit,
FIGS. 6, 7, and 9 are time charts of this embodiment.
FIG. 11 is a diode characteristic diagram, FIG. 12, FIG. 15, and FIG. 16 are diagrams of other embodiments of the present invention, and FIG. 13, FIG. 14, and FIG. The figure is an application example of the present invention. 2 ... Electromagnetic equipment, 8 ... Level shift circuit, 3 ... Drive circuit, 9 ... Delay circuit, 6 ... Input signal tracking type comparison circuit, 11A ... Test signal, 13 ... Digital comparison circuit.
Claims (6)
を該電磁機器に印加したとき流れる電流を検出し、検出
した電流信号のレベルをシフトした信号と該電流信号を
遅延した信号との大小を比較し、該比較の結果が前記テ
スト信号印加時に反転するか否かにより正常/異常を判
断することを特徴とする電磁機器のオンライン診断方
法。1. A magnitude of a signal obtained by detecting a current flowing when a test signal having a time width in which an electromagnetic device does not operate is applied to the electromagnetic device and shifting a level of the detected current signal and a signal obtained by delaying the current signal. And a normal / abnormal condition is determined depending on whether or not the result of the comparison is inverted when the test signal is applied.
を該電磁機器に印加したとき流れる電流を検出し、検出
した電流信号と該電流信号を遅延させ且つレベルシフト
した信号との大小を比較し、該比較の結果が前記テスト
信号印加時に反転するか否かにより正常/異常を判断す
ることを特徴とする電磁機器のオンライン診断方法。2. A current flowing when a test signal having a time width in which an electromagnetic device does not operate is applied to the electromagnetic device is detected, and the detected current signal is compared with the signal obtained by delaying and level shifting the current signal. Then, an online diagnostic method for an electromagnetic device is characterized by determining normality / abnormality depending on whether or not the result of the comparison is inverted when the test signal is applied.
信号印加時点から予め定められた一定の時間幅内で前記
比較の結果の反転が起きるか否かを検出することを特徴
とする電磁機器のオンライン診断方法。3. The electromagnetic device according to claim 1 or 2, wherein it is detected whether or not the result of the comparison is inverted within a predetermined time width from the time of applying the test signal. Online diagnostic method.
て、テスト信号の印加と電流の検出は、電磁機器の駆動
回路に対して行うことを特徴とする電磁機器のオンライ
ン診断方法。4. The online diagnostic method for an electromagnetic device according to claim 1, wherein the application of the test signal and the detection of the current are performed on a drive circuit of the electromagnetic device.
を該電磁機器に印加するテスト信号印加手段と、該テス
ト信号が印加されたとき前記電磁機器に流れる電流を検
出する電流検出手段と、該電流検出手段の検出した電流
信号のレベルをシフトした信号と該電流信号を遅延した
信号との大小を比較する比較手段と、該比較手段による
比較結果が前記テスト信号印加時に反転するか否かを検
出し前記電磁機器の正常/異常を判断する判定手段とを
備えることを特徴とする電磁機器のオンライン診断装
置。5. A test signal applying means for applying to the electromagnetic equipment a test signal having a time width during which the electromagnetic equipment does not operate, and a current detecting means for detecting a current flowing through the electromagnetic equipment when the test signal is applied. Comparing means for comparing the magnitude of a signal obtained by shifting the level of the current signal detected by the current detecting means and a signal obtained by delaying the current signal, and whether or not the comparison result by the comparing means is inverted when the test signal is applied. And a determination means for determining whether the electromagnetic device is normal or abnormal, and an online diagnostic device for an electromagnetic device.
を該電磁機器に印加するテスト信号印加手段と、該テス
ト信号が印加させたとき前記電磁機器に流れる電流を検
出する電流検出手段と、該電流検出手段の検出した電流
信号と該電流信号を遅延させ且つレベルシフトした信号
との大小を比較する比較手段と、該比較手段の比較結果
が前記テスト信号印加時に反転するか否かを検出し前記
電磁機器の正常/異常を判断する判定手段とを備えるこ
とを特徴とする電磁機器のオンライン診断装置。6. A test signal applying means for applying to the electromagnetic equipment a test signal having a time width during which the electromagnetic equipment does not operate, and a current detecting means for detecting a current flowing through the electromagnetic equipment when the test signal is applied. Comparing means for comparing the magnitude of the current signal detected by the current detecting means with a signal obtained by delaying and level shifting the current signal, and detecting whether or not the comparison result of the comparing means is inverted when the test signal is applied. An on-line diagnostic device for an electromagnetic device, comprising: a determining unit that determines whether the electromagnetic device is normal or abnormal.
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1989
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