JPH0663840B2 - 蛍光測定方法 - Google Patents
蛍光測定方法Info
- Publication number
- JPH0663840B2 JPH0663840B2 JP62041284A JP4128487A JPH0663840B2 JP H0663840 B2 JPH0663840 B2 JP H0663840B2 JP 62041284 A JP62041284 A JP 62041284A JP 4128487 A JP4128487 A JP 4128487A JP H0663840 B2 JPH0663840 B2 JP H0663840B2
- Authority
- JP
- Japan
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- fluorescence
- filter
- sample
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- light
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- Expired - Lifetime
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Optical Filters (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、反応容器内において反応過程中のサンプル
の、蛍光発光を測定する蛍光測定方法に関する。
の、蛍光発光を測定する蛍光測定方法に関する。
従来の蛍光測定方法としては、例えば臨床診断分野にお
いて、特に免疫学上で反応容器内の反応過程中の蛍光発
光を測定するものとして、第４図に示すように、光源１
から励起光用干渉フィルタ２を通過してサンプル３を照
射し、サンプル３から発生する蛍光を検出用干渉フィル
タ４を通過して、光電子倍増管５に当てて測定を行う装
置を用いる。そして蛍光トレーサが入らず、検体のみが
入った検体ブランクを前記サンプルの位置に置き、これ
から発生する蛍光を、検出用干渉フィルタ４を通過させ
て検出して測定値を求める。一方サンプルの位置に検体
に蛍光トレーサが入った検体を置き、該検体ブランクか
ら発生する蛍光を、検出用干渉フィルタ４を通過させて
検出した測定値を求め、前記の測定値から減じて、蛍光
検出値をえるようになっており、また暗電流をキャンセ
ルする方法も或程度行われていた。
いて、特に免疫学上で反応容器内の反応過程中の蛍光発
光を測定するものとして、第４図に示すように、光源１
から励起光用干渉フィルタ２を通過してサンプル３を照
射し、サンプル３から発生する蛍光を検出用干渉フィル
タ４を通過して、光電子倍増管５に当てて測定を行う装
置を用いる。そして蛍光トレーサが入らず、検体のみが
入った検体ブランクを前記サンプルの位置に置き、これ
から発生する蛍光を、検出用干渉フィルタ４を通過させ
て検出して測定値を求める。一方サンプルの位置に検体
に蛍光トレーサが入った検体を置き、該検体ブランクか
ら発生する蛍光を、検出用干渉フィルタ４を通過させて
検出した測定値を求め、前記の測定値から減じて、蛍光
検出値をえるようになっており、また暗電流をキャンセ
ルする方法も或程度行われていた。
しかしながら、このような従来の蛍光測定装置にあって
は、蛍光トレーサの入ったサンプルからの蛍光と検体ブ
ランクからの蛍光を測定する場合の時間差があるため、
光源の光量に変動が生じた場合や、サンプルの変質が生
じることがあり、測定に誤差を生じ、蛍光光量の微量検
出を行う場合検出感度が妨げられて、蛍光測定の結果と
して精密なデータが得られず、微量物質の定量検出がで
きないという問題点があった。
は、蛍光トレーサの入ったサンプルからの蛍光と検体ブ
ランクからの蛍光を測定する場合の時間差があるため、
光源の光量に変動が生じた場合や、サンプルの変質が生
じることがあり、測定に誤差を生じ、蛍光光量の微量検
出を行う場合検出感度が妨げられて、蛍光測定の結果と
して精密なデータが得られず、微量物質の定量検出がで
きないという問題点があった。
この発明は、このような従来の問題点に着目してなされ
たもので、蛍光以外の散乱光及び暗電流や経時変化等の
影響差引いて、精密な測定を行うことができる蛍光測定
方法を提供することをその目的とする。
たもので、蛍光以外の散乱光及び暗電流や経時変化等の
影響差引いて、精密な測定を行うことができる蛍光測定
方法を提供することをその目的とする。
そして、この目的を達成するため本発明にあってはその
構成を光源から励起光用干渉フィルタを通過した励起光
により蛍光性サンプルを照射し、該サンプルから発光す
る蛍光を、検出用干渉フィルタを通過させて検出する蛍
光測定方法において、前記サンプルの位置に置いた検体
ブランクに前記励起光を照射し、該ブランクから発生す
る蛍光を、前記検出用干渉フィルタの中の蛍光フィルタ
を通過させた蛍光予備検出値（Ｖ１）、及び前記検出用
干渉フィルタの中に設けたバックグラウンド光フィルタ
を通過させたバックグラウンド光予備検出値（Ｖ２）を
測定して、両者の予備検出値から補正係数（Ｋ）を、Ｋ
＝（Ｖ１）／（Ｖ２）として得るとともに、実際のサン
プルに前記励起光を照射し、該サンプルから発生する蛍
光を、前記検出用干渉フィルタの中の蛍光フィルタを通
過させた蛍光検出値（Ｌ１）、及び前記蛍光を、前記検
出用干渉フィルタの中に設けたバックグラウンド光フィ
ルタを通過させてバックグラウンド光検出値（Ｌ２）を
測定し、蛍光検出値（Ｌ１）、バックグラウンド光検出
値（Ｌ２）及び前記補正係数Ｋとから、蛍光測定値
（Ｓ）を、Ｓ＝Ｌ１−Ｋ・Ｌ２として得るようにしたも
のである。
構成を光源から励起光用干渉フィルタを通過した励起光
により蛍光性サンプルを照射し、該サンプルから発光す
る蛍光を、検出用干渉フィルタを通過させて検出する蛍
光測定方法において、前記サンプルの位置に置いた検体
ブランクに前記励起光を照射し、該ブランクから発生す
る蛍光を、前記検出用干渉フィルタの中の蛍光フィルタ
を通過させた蛍光予備検出値（Ｖ１）、及び前記検出用
干渉フィルタの中に設けたバックグラウンド光フィルタ
を通過させたバックグラウンド光予備検出値（Ｖ２）を
測定して、両者の予備検出値から補正係数（Ｋ）を、Ｋ
＝（Ｖ１）／（Ｖ２）として得るとともに、実際のサン
プルに前記励起光を照射し、該サンプルから発生する蛍
光を、前記検出用干渉フィルタの中の蛍光フィルタを通
過させた蛍光検出値（Ｌ１）、及び前記蛍光を、前記検
出用干渉フィルタの中に設けたバックグラウンド光フィ
ルタを通過させてバックグラウンド光検出値（Ｌ２）を
測定し、蛍光検出値（Ｌ１）、バックグラウンド光検出
値（Ｌ２）及び前記補正係数Ｋとから、蛍光測定値
（Ｓ）を、Ｓ＝Ｌ１−Ｋ・Ｌ２として得るようにしたも
のである。
次に本発明の作用を説明すると、光源から励起光干渉フ
ィルタを通して蛍光性サンプルを照射し、該サンプルか
ら発光する蛍光を測定する蛍光測定装置の前記サンプル
の位置に検体ブランクを置き、該検体ブランクに光源か
ら励起光を照射して、そのとき検体ブランクから発光す
る蛍光を、検出用干渉フィルタの中で蛍光フィルタを通
過させて検出し蛍光予備検出値とし、バックグラウンド
光フィルタを通過させて検出しバックグラウンド光予備
検出値とする。この両者の検出量の比は蛍光用フィルタ
とバックグラウンド光用フィルタの光量補正係数とな
る。そして実際のサンプルを励起光で照射したときの該
サンプルから発生する蛍光をバックグラウンド光フィル
タを通過させて検出したバックグラウンド光測定値に、
前記補正係数を乗ずれば、バックグラウンド光の影響を
表す補正値となる。この補正値を、実際のサンプルを励
起光で照射して発生した蛍光を、蛍光フィルタを通過さ
せて検出した蛍光測定値から減ずれば、バックグラウン
ド光を除去した蛍光測定値が得られる。
ィルタを通して蛍光性サンプルを照射し、該サンプルか
ら発光する蛍光を測定する蛍光測定装置の前記サンプル
の位置に検体ブランクを置き、該検体ブランクに光源か
ら励起光を照射して、そのとき検体ブランクから発光す
る蛍光を、検出用干渉フィルタの中で蛍光フィルタを通
過させて検出し蛍光予備検出値とし、バックグラウンド
光フィルタを通過させて検出しバックグラウンド光予備
検出値とする。この両者の検出量の比は蛍光用フィルタ
とバックグラウンド光用フィルタの光量補正係数とな
る。そして実際のサンプルを励起光で照射したときの該
サンプルから発生する蛍光をバックグラウンド光フィル
タを通過させて検出したバックグラウンド光測定値に、
前記補正係数を乗ずれば、バックグラウンド光の影響を
表す補正値となる。この補正値を、実際のサンプルを励
起光で照射して発生した蛍光を、蛍光フィルタを通過さ
せて検出した蛍光測定値から減ずれば、バックグラウン
ド光を除去した蛍光測定値が得られる。
このとき、Ｋ＝（Ｖ１）／（Ｖ２）であり、 であるから、本発明においては、検体ブランク蛍光の値
に、光源の強度の経時変化を補正する補正値Ｋをかけ
て、蛍光検出値から差し引き、常に正しい測定値を得る
ものとしている。
に、光源の強度の経時変化を補正する補正値Ｋをかけ
て、蛍光検出値から差し引き、常に正しい測定値を得る
ものとしている。
以下、この発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す構成図である。
蛍光測定装置１０の左端にある、光源１１からの光は、
反射鏡１２と集光レンズ１３により平行光線となり、励
起光干渉フィルタ１４を通過して集光レンズ１５によっ
て蛍光性サンプル１６を照射する。蛍光性サンプル１６
からは蛍光が発生するが、集光レンズ１７によって平行
光線となり、検出用干渉フィルタ１８を通過して、集光
レンズ１９で光を集め、光電子倍増管２０によって検出
される。
反射鏡１２と集光レンズ１３により平行光線となり、励
起光干渉フィルタ１４を通過して集光レンズ１５によっ
て蛍光性サンプル１６を照射する。蛍光性サンプル１６
からは蛍光が発生するが、集光レンズ１７によって平行
光線となり、検出用干渉フィルタ１８を通過して、集光
レンズ１９で光を集め、光電子倍増管２０によって検出
される。
検出用干渉フィルタ１８には第２図に示すようなフィル
タ切換機２１が取付けられ、フィルタ切換機２１には二
つの波長の蛍光用干渉フィルタＡ，Ｂ、二つの波長のバ
ックグラウンド光用干渉フィルタＣ，Ｄ、暗電流用盲板
Ｅが設けられている。これらのフィルタはフィルタ切換
機２１を回転させることにより、いずれのフィルタでも
任意に選択して集光レンズ１７、１９の光軸上に位置さ
せることができる。また励起光用フィルタ１４にも第３
図に示すようにフィルタ切換機２２が取付けられ、二つ
の波長の干渉フィルタＦ、Ｇが切換可能に設けられてい
る。なお干渉フィルタＦ、Ｇは前記の二つの波長のバッ
クグラウンド光用フィルタＣ、Ｄと同様の干渉フィルタ
である。
タ切換機２１が取付けられ、フィルタ切換機２１には二
つの波長の蛍光用干渉フィルタＡ，Ｂ、二つの波長のバ
ックグラウンド光用干渉フィルタＣ，Ｄ、暗電流用盲板
Ｅが設けられている。これらのフィルタはフィルタ切換
機２１を回転させることにより、いずれのフィルタでも
任意に選択して集光レンズ１７、１９の光軸上に位置さ
せることができる。また励起光用フィルタ１４にも第３
図に示すようにフィルタ切換機２２が取付けられ、二つ
の波長の干渉フィルタＦ、Ｇが切換可能に設けられてい
る。なお干渉フィルタＦ、Ｇは前記の二つの波長のバッ
クグラウンド光用フィルタＣ、Ｄと同様の干渉フィルタ
である。
測定を行うにはまず蛍光性サンプル１６が置かれる位置
に検体ブランクを置く。そして検体ブランクに光源１１
から励起光用干渉フィルタ１４の中の干渉フィルタＦま
たはＧを通過させて、励起光を照射し、検体ブランクか
ら発生する光を検出用干渉フィルタ１８の、蛍光用干渉
フィルタＡまたはＢを通過させて光電子倍増管２０によ
って検出する。この検出値を蛍光予備検出値としＶａま
たはＶｂで表す。次にフィルタ切換機２１を回転させて
バックグラウンド光用フィルタＣまたはＤを光軸上に置
き、検体ブランクから発生する光電子倍増管２０によっ
て検出する。この検出値をバックグラウンド光予備検出
値としＶｃまたはＶｄで表す。このとき検出用干渉フィ
ルタ１８の蛍光用干渉フィルタＡを用いるときは、バッ
クグラウンド光用フィルタはＣを用い、励起光用干渉フ
ィルタは前記のＣと同波長の干渉フィルタ層Ｆを用いる
ものとし、蛍光用干渉フィルタＢを用いるときは、バッ
クグラウンド光用フィルタはＤを用い、励起光用フィル
タは前記のＤと同波長の干渉フィルタＧを用いる。また
フィルタ切換機２１を回転させて盲板Ｅを光軸上に置
き、光電子倍増管２０に発生する暗電流Ｖｅを検出す
る。これらの検出値から、上述した蛍光予備検出値Ｖ１
及びバックグラウンド予備検出値Ｖ２として、実際の検
出値から暗電流を差し引いたものを使用して、Ｋ＝（Ｖ
１）／（Ｖ２）に当てはめ、 Ｋ１＝（Ｖａ−Ｖｅ）／（Ｖｃ−Ｖｅ）…(1) または Ｋ２＝（Ｖｂ−Ｖｅ）／（Ｖｄ−Ｖｅ）…(2) を求めると、Ｋ１，Ｋ２はバックグラウンド光用フィル
タの光量補正係数となる。
に検体ブランクを置く。そして検体ブランクに光源１１
から励起光用干渉フィルタ１４の中の干渉フィルタＦま
たはＧを通過させて、励起光を照射し、検体ブランクか
ら発生する光を検出用干渉フィルタ１８の、蛍光用干渉
フィルタＡまたはＢを通過させて光電子倍増管２０によ
って検出する。この検出値を蛍光予備検出値としＶａま
たはＶｂで表す。次にフィルタ切換機２１を回転させて
バックグラウンド光用フィルタＣまたはＤを光軸上に置
き、検体ブランクから発生する光電子倍増管２０によっ
て検出する。この検出値をバックグラウンド光予備検出
値としＶｃまたはＶｄで表す。このとき検出用干渉フィ
ルタ１８の蛍光用干渉フィルタＡを用いるときは、バッ
クグラウンド光用フィルタはＣを用い、励起光用干渉フ
ィルタは前記のＣと同波長の干渉フィルタ層Ｆを用いる
ものとし、蛍光用干渉フィルタＢを用いるときは、バッ
クグラウンド光用フィルタはＤを用い、励起光用フィル
タは前記のＤと同波長の干渉フィルタＧを用いる。また
フィルタ切換機２１を回転させて盲板Ｅを光軸上に置
き、光電子倍増管２０に発生する暗電流Ｖｅを検出す
る。これらの検出値から、上述した蛍光予備検出値Ｖ１
及びバックグラウンド予備検出値Ｖ２として、実際の検
出値から暗電流を差し引いたものを使用して、Ｋ＝（Ｖ
１）／（Ｖ２）に当てはめ、 Ｋ１＝（Ｖａ−Ｖｅ）／（Ｖｃ−Ｖｅ）…(1) または Ｋ２＝（Ｖｂ−Ｖｅ）／（Ｖｄ−Ｖｅ）…(2) を求めると、Ｋ１，Ｋ２はバックグラウンド光用フィル
タの光量補正係数となる。
一方蛍光測定装置１０の蛍光サンプル１６の位置に実際
の蛍光サンプルを置き、これに光源１１から励起光干渉
フィルタ１４を通過した光を照射する。これによって発
生する蛍光を、検出側干渉フィルタ１８のフィルタ切換
機２１を回転させて光軸上に置かれた蛍光用干渉フィル
タＡまたはＢを通過させ、光電子倍増管２０によって検
出して、この検出値を蛍光検出値としＬａまたはＬｂで
表す。次に蛍光サンプルから発生する蛍光を、フィルタ
切換機２１を回転させて光軸上に置かれたバックグラウ
ンド光用干渉フィルタＣまたはＤを通過させ、光電子倍
増管２０によって検出して、この検出値をバックグラウ
ンド光検出値としＬｃまたはＬｄで表す。さらにフィル
タ切換機２１を回転させて盲板Ｅを光軸上に置き、その
状態での暗電流を光電子倍増管２０によって検出してこ
の検出値をＬｅとする。なお検出を行う順序は必ずしも
前記の順序と同様である必要はなく、どの測定を先に行
ってもよい。
の蛍光サンプルを置き、これに光源１１から励起光干渉
フィルタ１４を通過した光を照射する。これによって発
生する蛍光を、検出側干渉フィルタ１８のフィルタ切換
機２１を回転させて光軸上に置かれた蛍光用干渉フィル
タＡまたはＢを通過させ、光電子倍増管２０によって検
出して、この検出値を蛍光検出値としＬａまたはＬｂで
表す。次に蛍光サンプルから発生する蛍光を、フィルタ
切換機２１を回転させて光軸上に置かれたバックグラウ
ンド光用干渉フィルタＣまたはＤを通過させ、光電子倍
増管２０によって検出して、この検出値をバックグラウ
ンド光検出値としＬｃまたはＬｄで表す。さらにフィル
タ切換機２１を回転させて盲板Ｅを光軸上に置き、その
状態での暗電流を光電子倍増管２０によって検出してこ
の検出値をＬｅとする。なお検出を行う順序は必ずしも
前記の順序と同様である必要はなく、どの測定を先に行
ってもよい。
このようにして求めたＬａＬｂＬｃＬｄＬｅの検出値
と、(1)(2)式のＫ１，Ｋ２の値から、蛍光サンプルの測
定値Ｓを得るには、蛍光検出値Ｌ１、バックグラウンド
光検出値Ｌ２として実際の検出値から暗電流を差し引い
たものを使用して、Ｓ＝Ｌ１−Ｋ・Ｌ２の式に当ては
め、 Ｓ＝（Ｌａ−Ｌｅ）−Ｋ１（Ｌｃ−Ｌｅ） または …………(3) Ｓ＝（Ｌｂ−Ｌｅ）−Ｋ２（Ｌｄ−Ｌｅ） …………(4) すなわち蛍光サンプルから発生する蛍光を蛍光フィルタ
を通過させて検出した蛍光検出値ＬａまたはＬｂから暗
電流Ｌｅを減じた値から、蛍光サンプルから発生する蛍
光をバックグラウンド光フィルタを通過させて検出した
値ＬｃまたはＬｃから暗電流Ｌｅを減じた値に、フィル
タの光量補正係数Ｋ１，Ｋ２を乗じたものを、減ずるこ
とによって、バックグラウンド光及び暗電流を除去した
蛍光測定値Ｓが得られる。このとき本実施例では、検体
ブランク蛍光の値に、光源の強度の経時変化を補正する
補正値Ｋをかけて、蛍光検出値から差し引き、常に正し
い測定値を得るものとしている。なお本実施例では蛍光
物質による蛍光波長が２種類あるときについて述べた
が、蛍光波長が１種類のとき、または３種類以上あると
きでも同様である。
と、(1)(2)式のＫ１，Ｋ２の値から、蛍光サンプルの測
定値Ｓを得るには、蛍光検出値Ｌ１、バックグラウンド
光検出値Ｌ２として実際の検出値から暗電流を差し引い
たものを使用して、Ｓ＝Ｌ１−Ｋ・Ｌ２の式に当ては
め、 Ｓ＝（Ｌａ−Ｌｅ）−Ｋ１（Ｌｃ−Ｌｅ） または …………(3) Ｓ＝（Ｌｂ−Ｌｅ）−Ｋ２（Ｌｄ−Ｌｅ） …………(4) すなわち蛍光サンプルから発生する蛍光を蛍光フィルタ
を通過させて検出した蛍光検出値ＬａまたはＬｂから暗
電流Ｌｅを減じた値から、蛍光サンプルから発生する蛍
光をバックグラウンド光フィルタを通過させて検出した
値ＬｃまたはＬｃから暗電流Ｌｅを減じた値に、フィル
タの光量補正係数Ｋ１，Ｋ２を乗じたものを、減ずるこ
とによって、バックグラウンド光及び暗電流を除去した
蛍光測定値Ｓが得られる。このとき本実施例では、検体
ブランク蛍光の値に、光源の強度の経時変化を補正する
補正値Ｋをかけて、蛍光検出値から差し引き、常に正し
い測定値を得るものとしている。なお本実施例では蛍光
物質による蛍光波長が２種類あるときについて述べた
が、蛍光波長が１種類のとき、または３種類以上あると
きでも同様である。
本発明は上記のような構成と作用を有するので、蛍光サ
ンプルから発生する蛍光以外のバックグラウンド光及び
暗電流等の雑音成分をキャンセルすると共に、光源の強
度の経時変化を補正して微量測定の精度を向上させるこ
とができる。また補正係数が予めわかっているから、蛍
光フィルタとバックグラウンド光フィルタの切換を行う
だけで、簡単に蛍光測定値を得ることがで、き、測定を
自動化し、迅速に行える等の効果もある。
ンプルから発生する蛍光以外のバックグラウンド光及び
暗電流等の雑音成分をキャンセルすると共に、光源の強
度の経時変化を補正して微量測定の精度を向上させるこ
とができる。また補正係数が予めわかっているから、蛍
光フィルタとバックグラウンド光フィルタの切換を行う
だけで、簡単に蛍光測定値を得ることがで、き、測定を
自動化し、迅速に行える等の効果もある。
第１図は本発明の実施例に係る蛍光測定装置の概念図、
第２図は検出側干渉フィルタの平面図、第３図励起光干
渉フィルタの平面図、第４図は従来の蛍光測定装置の概
念図である。 １０……蛍光測定装置 １１……光源 １４……励起光干渉フィルタ １６……蛍光サンプル １８……検出用干渉フィルタ Ａ，Ｂ……蛍光用フィルタ Ｃ，Ｄ……バックグラウンド光用フィルタ
第２図は検出側干渉フィルタの平面図、第３図励起光干
渉フィルタの平面図、第４図は従来の蛍光測定装置の概
念図である。 １０……蛍光測定装置 １１……光源 １４……励起光干渉フィルタ １６……蛍光サンプル １８……検出用干渉フィルタ Ａ，Ｂ……蛍光用フィルタ Ｃ，Ｄ……バックグラウンド光用フィルタ
Claims (1)
- 【請求項１】光源から励起光用干渉フィルタを通過した
励起光により蛍光性サンプルを照射し、該サンプルから
発光する蛍光を、検出用干渉フィルタを通過させて検出
する蛍光測定方法において、 前記サンプルの位置に置いた検体ブランクに前記励起光
を照射し、該ブランクから発生する蛍光を、前記検出用
干渉フィルタの中の蛍光フィルタを通過させた蛍光予備
検出値（Ｖ１）、及び前記検出用干渉フィルタの中に設
けたバックグラウンド光フィルタを通過させたバックグ
ラウンド光予備検出値（Ｖ２）を測定して、両者の予備
検出値から補正係数（Ｋ）を、 Ｋ＝（Ｖ１）／（Ｖ２） として得るとともに、実際のサンプルに前記励起光を照
射し、該サンプルから発生する蛍光を、前記検出用干渉
フィルタの中の蛍光フィルタを通過させた蛍光検出値
（Ｌ１）、及び前記蛍光を、前記検出用干渉フィルタの
中に設けたバックグラウンド光フィルタを通過させてバ
ックグラウンド光検出値（Ｌ２）を測定し、蛍光検出値
（Ｌ１）、バックグラウンド光検出値（Ｌ２）及び前記
補正係数（Ｋ）とから、蛍光測定値（Ｓ）を、 Ｓ＝Ｌ１−Ｋ・Ｌ２ として得ることを特徴とする蛍光測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62041284A JPH0663840B2 (ja) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | 蛍光測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62041284A JPH0663840B2 (ja) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | 蛍光測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63208733A JPS63208733A (ja) | 1988-08-30 |
| JPH0663840B2 true JPH0663840B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=12604144
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62041284A Expired - Lifetime JPH0663840B2 (ja) | 1987-02-26 | 1987-02-26 | 蛍光測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0663840B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5846364B2 (ja) * | 2011-09-28 | 2016-01-20 | 三浦工業株式会社 | 水質評価方法及び水質評価装置 |
| CN115708666B (zh) * | 2022-10-18 | 2025-12-12 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种针对环境光不敏感的组织的荧光探测装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61202126A (ja) * | 1985-03-06 | 1986-09-06 | Japan Spectroscopic Co | 多波長分光光度計 |
| JPS6238346A (ja) * | 1985-08-14 | 1987-02-19 | Hitachi Ltd | 蛍光偏光測定装置 |
-
1987
- 1987-02-26 JP JP62041284A patent/JPH0663840B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63208733A (ja) | 1988-08-30 |
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