JPH066445Y2 - Sample movement mechanism of surface analyzer - Google Patents
Sample movement mechanism of surface analyzerInfo
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- JPH066445Y2 JPH066445Y2 JP14624787U JP14624787U JPH066445Y2 JP H066445 Y2 JPH066445 Y2 JP H066445Y2 JP 14624787 U JP14624787 U JP 14624787U JP 14624787 U JP14624787 U JP 14624787U JP H066445 Y2 JPH066445 Y2 JP H066445Y2
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- Japan
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- sample
- shaft
- guide shaft
- slide base
- turntable
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Description
【考案の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本考案は、表面分析装置における試料移動機構に関す
る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Field of Industrial Application The present invention relates to a sample moving mechanism in a surface analyzer.
(ロ)従来技術とその問題点 一般に、EPMAやESCA等の表面分析装置では、分
析可能な試料の大きさが大きい程、試料表面を一度に広
範囲に分析できるので都合が良いが、そのためには、試
料表面の全域を所定の分析位置まで移動できる試料移動
機構が必要となる。(B) Prior art and its problems In general, in a surface analyzer such as EPMA or ESCA, the larger the size of the sample that can be analyzed, the wider the surface of the sample can be analyzed at one time, which is convenient. A sample moving mechanism that can move the entire surface of the sample to a predetermined analysis position is required.
従来の試料移動機構は、試料が配置される試料ステージ
をX軸−Y軸の直交2方向に直線移動させる構成となっ
ている。しかし、このような機構では分析試料が大きく
なれば、それに応じて直線移動させるに必要な距離も長
くなり、必然的に分析チャンバも大きな容積となる。た
とえば、従来、直径6インチの試料の全域を所定の分析
位置に移動できるようにするには、平面的に少なくとも
12インチ×12インチのチャンバ空間が必要となる。
表面分析装置は、通常、超真空が要求されるので、この
ように分析チャンバの容積が大きくなることは、装置全
体が大形化するとともに、試料交換時等において真空引
きに時間がかかるなどの不具合を生じる。A conventional sample moving mechanism is configured to linearly move a sample stage on which a sample is placed in two directions orthogonal to the X axis and the Y axis. However, in such a mechanism, if the analysis sample becomes large, the distance required for linear movement correspondingly increases, and the analysis chamber inevitably has a large volume. For example, conventionally, a chamber space of at least 12 inches × 12 inches in plane is required to be able to move the entire area of a sample having a diameter of 6 inches to a predetermined analysis position.
Since a surface analyzer usually requires an ultra-vacuum, such an increase in the volume of the analysis chamber leads to an increase in the size of the entire apparatus, and it takes time to evacuate when exchanging a sample. It causes trouble.
本考案は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、少ない移動距離で試料表面の全域を一定の分析位置
まで移動できるようにすることを目的とする。The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to make it possible to move the entire surface of the sample to a fixed analysis position with a small movement distance.
(ハ)問題点を解決するための手段 本考案は、上記の目的を達成するために、次の構成を採
る。(C) Means for Solving the Problems The present invention adopts the following configuration in order to achieve the above object.
すなわち、本考案の表面分析装置の試料移動機構は、真
空室内において上下動可能に設けられた保持台上に、ね
じ軸とガイド軸とをそれぞれ水平に並列配置するととも
に、両軸を回転可能に支持し、前記ねじ軸にスライドベ
ースを螺合し、このスライドベースには、前記ガイド軸
の軸方向に摺動可能でかつ周方向にガイド軸と一体的に
回転する摺動回転手段を取り付けるとともに、試料が配
置されるターンテーブルと、前記摺動回転手段の回転を
前記ターンテーブルの回転軸に伝動する伝動系とをそれ
ぞれ設けたことを特徴としている。That is, in the sample moving mechanism of the surface analyzer of the present invention, the screw shaft and the guide shaft are horizontally arranged in parallel on a holding table that is vertically movable in the vacuum chamber, and both shafts are rotatable. The slide base is supported, and a slide base is screwed onto the screw shaft, and the slide base is provided with a slide rotation means that is slidable in the axial direction of the guide shaft and that rotates integrally with the guide shaft in the circumferential direction. A turntable on which the sample is placed, and a transmission system for transmitting the rotation of the sliding / rotating means to the rotary shaft of the turntable are respectively provided.
(ニ)作用 本考案の試料移動機構の作用は次の通りである。(D) Operation The operation of the sample moving mechanism of the present invention is as follows.
試料を分析位置まで移動する場合、ねじ軸を単独に回転
するとこのねじ軸に螺合されているスライドベースがね
じ軸とガイド軸に沿って直線移動する。これに伴い、タ
ーンテーブル上に配置された試料も直線移動する。ま
た、ガイド軸を単独回転すると、ガイド軸と一体に摺動
回転手段も回転し、その回転力を伝動系がターンテーブ
ルの回転軸に伝動するため、ターンテーブル上に配置さ
れた試料が回転する。これにより、回転半径分の直線移
動距離があれば試料表面の全域を所定の分析位置まで移
動することができる。When the sample is moved to the analysis position, when the screw shaft is independently rotated, the slide base screwed to the screw shaft linearly moves along the screw shaft and the guide shaft. Along with this, the sample placed on the turntable also moves linearly. Further, when the guide shaft is independently rotated, the sliding rotation means is also rotated together with the guide shaft, and the rotational force is transmitted to the rotation shaft of the turntable, so that the sample arranged on the turntable is rotated. . As a result, if there is a linear movement distance corresponding to the radius of gyration, the entire surface of the sample can be moved to a predetermined analysis position.
(ホ)実施例 第1図は表面分析装置の試料移動機構を含む全体配置を
示す断面図である。この実施例の表面分析装置1では、
真空室を構成する隔壁2の内部に、X線銃4、レンズ系
6、イオン銃8、電子銃10が配置されるとともに、本
考案の試料移動機構12が設けられている。また、隔壁
2の外部には、試料を単独に上下動(同図でZ方向に移
動)、水平移動(同図でr方向に移動)、回転(同図で
θ方向に移動)するための各パルスモータ14、16、
18がそれぞれ設けられている。なお、19は試料移動
機構12の取り付け板、20はパルスモータ14により
上下動される保持台、22は試料回転用のターンテーブ
ル、24はターンテーブル22上に設置される試料パレ
ット、26はゲードバルブである。(E) Example FIG. 1 is a sectional view showing the overall arrangement including the sample moving mechanism of the surface analyzer. In the surface analyzer 1 of this example,
An X-ray gun 4, a lens system 6, an ion gun 8 and an electron gun 10 are arranged inside a partition wall 2 which constitutes a vacuum chamber, and a sample moving mechanism 12 of the present invention is provided. Further, outside the partition wall 2, the sample is independently moved up and down (moved in the Z direction in the figure), horizontally moved (moved in the r direction in the figure), and rotated (moved in the θ direction in the figure). Each pulse motor 14, 16,
18 are provided respectively. In addition, 19 is a mounting plate of the sample moving mechanism 12, 20 is a holding table which is vertically moved by the pulse motor 14, 22 is a turntable for rotating the sample, 24 is a sample pallet installed on the turntable 22, and 26 is a gated valve. Is.
第2図は試料移動機構の詳細を示す平面図、第3図は同
機構の断面図である。この試料移動機構12は、前記の
保持台20上に、ねじ軸30とガイド軸32とがそれぞ
れ水平に並列配置されるとともに、両軸30、32が保
持台20に設けたベアリング34で回転可能に支持され
ている。そして、ねじ軸30とガイド軸32は保持台2
0と取り付け板19を順次貫通し、各軸端部は外部のパ
ルスモータ16、18により駆動される駆動軸34、3
6に連結されている。FIG. 2 is a plan view showing details of the sample moving mechanism, and FIG. 3 is a sectional view of the mechanism. In this sample moving mechanism 12, a screw shaft 30 and a guide shaft 32 are horizontally arranged in parallel on the holding table 20, and both shafts 30 and 32 are rotatable by a bearing 34 provided on the holding table 20. Supported by. The screw shaft 30 and the guide shaft 32 are attached to the holding table 2
0 and the mounting plate 19 are sequentially penetrated, and each shaft end is driven by the external pulse motors 16 and 18.
It is connected to 6.
ねじ軸30にはナット部材38が螺合され、このナット
部材38がスライドベース40にボルト41で一体固定
されており、また、このスライドベース40の両側には
保持台20の側壁に摺接するスライドベアリング42が
取り付けられている。これにより、ねじ軸30の回転に
よってナット部材38が進退し、これに伴いスライドベ
ース40が一軸方向に水平移動(第2図で符号r方向に
移動)する。また、ガイド軸32は、その中間部分が平
板状に形成されて摺動部32aとされ、その摺動部32
a上を後述する摺動回転手段44が移動する。A nut member 38 is screwed onto the screw shaft 30, the nut member 38 is integrally fixed to a slide base 40 with bolts 41, and both sides of the slide base 40 are in sliding contact with the side wall of the holding table 20. A bearing 42 is attached. As a result, the nut member 38 advances and retracts due to the rotation of the screw shaft 30, and the slide base 40 horizontally moves in the uniaxial direction (moves in the direction r in FIG. 2) accordingly. Further, the guide shaft 32 has a middle portion formed in a flat plate shape to form a sliding portion 32a.
Sliding and rotating means 44, which will be described later, moves on a.
一方、スライドベース40の下部にはガイド軸32の軸
方向に摺動可能でかつ周方向にガイド軸32と一体的に
回転する摺動回転手段44が取り付けられている。この
摺動回転手段44は、ガイド軸32が貫通された中空体
46がスライドベース40間に設けたベアリング48で
支持され、その中空体46にはガイド軸32の前記摺動
部32a上を転動する車輪50が取り付けられており、
また、中空体46の端部にはギヤ部52が設けられて構
成される。On the other hand, on the lower part of the slide base 40, there is attached a sliding rotation means 44 which is slidable in the axial direction of the guide shaft 32 and rotates integrally with the guide shaft 32 in the circumferential direction. In this sliding / rotating means 44, a hollow body 46 through which the guide shaft 32 penetrates is supported by a bearing 48 provided between the slide bases 40, and the hollow body 46 rolls on the sliding portion 32a of the guide shaft 32. A moving wheel 50 is attached,
Further, a gear portion 52 is provided at the end of the hollow body 46.
そして、上記のギヤ部52には、従動歯車54が噛み合
っている。この従動歯車54は、スライドベース40の
上部に設けた軸受け台56にベアリング58を介して支
持された水平軸60に固定されており、水平軸60の軸
端部には第1笠歯車62が取り付けられている。さら
に、この第1笠歯車64には第2笠歯車64が噛み合っ
ている。この第2笠歯車64は、ベアリング66で支持
された回転軸68の上部に取り付けられ、回転軸68の
上端にターンテーブル22が固定されている。そして、
従動歯車54、水平軸60、第1、第2笠歯車62、6
4によって前記摺動回転手段44の回転をターンテーブ
ル22の回転軸68に伝動する伝動系70が構成され
る。A driven gear 54 meshes with the gear portion 52. The driven gear 54 is fixed to a horizontal shaft 60 supported by a bearing base 56 provided on the upper portion of the slide base 40 via a bearing 58, and a first bevel gear 62 is provided at the shaft end of the horizontal shaft 60. It is installed. Further, the second bevel gear 64 meshes with the first bevel gear 64. The second bevel gear 64 is attached to an upper portion of a rotating shaft 68 supported by a bearing 66, and the turntable 22 is fixed to the upper end of the rotating shaft 68. And
Driven gear 54, horizontal shaft 60, first and second bevel gears 62, 6
4 constitutes a transmission system 70 for transmitting the rotation of the sliding rotation means 44 to the rotation shaft 68 of the turntable 22.
次に、この試料移動機構12の動作について説明する。Next, the operation of the sample moving mechanism 12 will be described.
試料を分析位置まで移動したい場合、パルスモータ16
によりねじ軸30を単独に回転するとこのねじ軸38に
螺合されているナット部材38が移動し、これに伴いス
ライドベース40がターンテーブル22およびその上に
配置された試料とともにねじ軸30に沿って直線的に移
動(第2図でr方向に移動)する。なお、この場合、摺
動回転手段44もスライドベース40とともにガイド軸
32上を摺動する。If you want to move the sample to the analysis position, use the pulse motor 16
When the screw shaft 30 is independently rotated by this, the nut member 38 screwed onto the screw shaft 38 moves, and accordingly, the slide base 40 moves along the screw shaft 30 along with the turntable 22 and the sample arranged thereon. And moves linearly (moves in the r direction in FIG. 2). In this case, the sliding rotation means 44 also slides on the guide shaft 32 together with the slide base 40.
一方、パルスモータ18によりガイド軸32を単独回転
すると、ガイド軸32の回転とともに摺動回転手段44
の中空体46およびギヤ部52が一体となって回転す
る。そのギヤ部52の回転力は伝動系70すなわち従動
歯車54、水平軸60、第1、第2笠歯車62、64を
介してターンテーブル22の回転軸68に伝動される。
そのため、ターンテーブル22上に配置された試料が回
転する。On the other hand, when the guide shaft 32 is independently rotated by the pulse motor 18, the sliding rotation means 44 is rotated along with the rotation of the guide shaft 32.
The hollow body 46 and the gear portion 52 integrally rotate. The rotational force of the gear portion 52 is transmitted to the rotary shaft 68 of the turntable 22 via the transmission system 70, that is, the driven gear 54, the horizontal shaft 60, and the first and second bevel gears 62 and 64.
Therefore, the sample placed on the turntable 22 rotates.
したがって、試料の大きさDが最大で直径6インチとし
た場合、ターンテーブル22は直線方向(r方向)に3
インチ(D/2)の移動距離があれば、6インチの試料表面
の全域を所定の分析位置まで移動することができる。こ
の場合の分析チャンバ内の必要空間は、6インチ×9イ
ンチあればよい。Therefore, when the size D of the sample is 6 inches at the maximum, the turntable 22 moves in the linear direction (r direction) by 3 inches.
With a travel distance of inches (D / 2), the entire 6-inch sample surface can be moved to a predetermined analysis position. The required space in the analysis chamber in this case may be 6 inches × 9 inches.
なお、摺動回転手段44としては、本考案の実施例に限
定されるものではなく、その他、周知のスプライン嵌合
機構としたり、滑りキー機構を採用することも可能であ
る。The sliding / rotating means 44 is not limited to the embodiment of the present invention, but other known spline fitting mechanism or a sliding key mechanism may be adopted.
(ヘ)効果 本考案によれば、一軸の移動範囲内でターンテーブルが
自転する構成としたので、少ない移動距離で試料表面の
全域を分析位置まで移動することができる。したがっ
て、同一面積をもつ試料に対しては従来より分析チャン
バの容積が少なくてよいので、超真空が得やすくなる。
また同じ容積をもつ分析チャンバでは、従来より広範囲
にわたって試料表面を分析できるようになる等の優れた
効果が発揮される。(F) Effect According to the present invention, since the turntable is configured to rotate within the uniaxial movement range, the entire surface of the sample can be moved to the analysis position with a small movement distance. Therefore, for a sample having the same area, the volume of the analysis chamber may be smaller than in the conventional case, so that an ultravacuum can be easily obtained.
Further, in the analysis chamber having the same volume, excellent effects such as the ability to analyze the sample surface over a wider range than in the past are exhibited.
図面は本考案の実施例を示すもので、第1図は表面分析
装置の試料移動機構を含む全体配置を示す断面図、第2
図は試料移動機構の平面図、第3図は同機構の断面図、
第4図は試料移動機構の分析可能領域の説明図である。 1…表面分析装置、12…試料移動機構、20…保持
台、22…ターンテーブル、30…ねじ軸、32…ガイ
ド軸、40…スライドベース、44…摺動回転手段、7
0…伝動系。FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. FIG. 1 is a sectional view showing the entire arrangement including a sample moving mechanism of a surface analyzer, and FIG.
Fig. 3 is a plan view of the sample moving mechanism, Fig. 3 is a sectional view of the mechanism,
FIG. 4 is an explanatory diagram of the analyzable region of the sample moving mechanism. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Surface analysis device, 12 ... Sample moving mechanism, 20 ... Holding table, 22 ... Turntable, 30 ... Screw shaft, 32 ... Guide shaft, 40 ... Slide base, 44 ... Sliding rotation means, 7
0 ... Transmission system.
Claims (1)
保持台上に、ねじ軸とガイド軸とをそれぞれ水平に並列
配置するとともに、両軸を回転可能に支持し、前記ねじ
軸にスライドベースを螺合し、このスライドベースに
は、前記ガイド軸の軸方向に摺動可能でかつ周方向にガ
イド軸と一体的に回転する摺動回転手段を取り付けると
ともに、試料が配置されるターンテーブルと、前記摺動
回転手段の回転を前記ターンテーブルの回転軸に伝動す
る伝動系とをそれぞれ設けていることを特徴とする表面
分析装置の試料移動機構。Claims: 1. A screw base and a guide shaft are horizontally arranged in parallel on a holding table that is vertically movable in a vacuum chamber, and both shafts are rotatably supported, and a slide base is mounted on the screw shaft. The slide base is attached to the slide base, which is slidable in the axial direction of the guide shaft and rotates integrally with the guide shaft in the circumferential direction. And a transmission system for transmitting the rotation of the sliding rotation means to the rotation shaft of the turntable, respectively.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14624787U JPH066445Y2 (en) | 1987-09-24 | 1987-09-24 | Sample movement mechanism of surface analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14624787U JPH066445Y2 (en) | 1987-09-24 | 1987-09-24 | Sample movement mechanism of surface analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6454252U JPS6454252U (en) | 1989-04-04 |
| JPH066445Y2 true JPH066445Y2 (en) | 1994-02-16 |
Family
ID=31415556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14624787U Expired - Lifetime JPH066445Y2 (en) | 1987-09-24 | 1987-09-24 | Sample movement mechanism of surface analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH066445Y2 (en) |
-
1987
- 1987-09-24 JP JP14624787U patent/JPH066445Y2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6454252U (en) | 1989-04-04 |
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