JPH06657A - 抵抗スポット溶接の溶接条件制御方法 - Google Patents
抵抗スポット溶接の溶接条件制御方法Info
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- JPH06657A JPH06657A JP4157011A JP15701192A JPH06657A JP H06657 A JPH06657 A JP H06657A JP 4157011 A JP4157011 A JP 4157011A JP 15701192 A JP15701192 A JP 15701192A JP H06657 A JPH06657 A JP H06657A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は電極先端径の変化による溶接条件の変
化に対応して適正制御を行う抵抗スポット溶接の溶接条
件制御方法に関し、電極径の経時変形に拘わらず適正な
溶接を行うことを目的とする。 【構成】予め多変量解析手法に基づいて電極先端径の回
帰式を求めておき、抵抗スポット溶接時に上記回帰式よ
り現在の打点数における電極先端径を予測し、上記予想
された電極先端径に基づき電極先端面積を求め、次に溶
接打点の板合わせから必要な電流密度及び加圧力を設定
し、この電流密度及び加圧力に上記電極先端面積を乗じ
て最適溶接電流及び最適加圧力を求める。
化に対応して適正制御を行う抵抗スポット溶接の溶接条
件制御方法に関し、電極径の経時変形に拘わらず適正な
溶接を行うことを目的とする。 【構成】予め多変量解析手法に基づいて電極先端径の回
帰式を求めておき、抵抗スポット溶接時に上記回帰式よ
り現在の打点数における電極先端径を予測し、上記予想
された電極先端径に基づき電極先端面積を求め、次に溶
接打点の板合わせから必要な電流密度及び加圧力を設定
し、この電流密度及び加圧力に上記電極先端面積を乗じ
て最適溶接電流及び最適加圧力を求める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は抵抗スポット溶接の溶接
条件制御方法に係り、特に電極先端径の増大による溶接
条件の変化に対応して適正制御を行う抵抗スポット溶接
の溶接条件制御方法に関する。
条件制御方法に係り、特に電極先端径の増大による溶接
条件の変化に対応して適正制御を行う抵抗スポット溶接
の溶接条件制御方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば自動車の製造ラインにおいては、
抵抗スポット溶接が多用されている。この抵抗スポット
溶接は、重ね合わされた部材の接触部に通電した時に発
生する抵抗発熱を利用して両部材を点接合する溶接方法
であり、極めて高い生産性を有している。
抵抗スポット溶接が多用されている。この抵抗スポット
溶接は、重ね合わされた部材の接触部に通電した時に発
生する抵抗発熱を利用して両部材を点接合する溶接方法
であり、極めて高い生産性を有している。
【０００３】しかるに抵抗スポット溶接では、電極が熱
負荷と加圧力を常に繰り返し受けることにより摩耗し、
その先端径が次第に増大していくことが知られている。
スポット電極の先端径が増大した場合、溶接電流密度の
低下が生じ、溶接溶融部（ナゲット）が小さくなり、所
定の溶接強度が得られなくなる。そこで従来より、溶接
強度の低下を防ぐための方法として、電極の先端径が増
大するのに伴い溶接電流を多く流す制御方法が一般に行
われている。
負荷と加圧力を常に繰り返し受けることにより摩耗し、
その先端径が次第に増大していくことが知られている。
スポット電極の先端径が増大した場合、溶接電流密度の
低下が生じ、溶接溶融部（ナゲット）が小さくなり、所
定の溶接強度が得られなくなる。そこで従来より、溶接
強度の低下を防ぐための方法として、電極の先端径が増
大するのに伴い溶接電流を多く流す制御方法が一般に行
われている。
【０００４】具体例としては、溶接電流のステップ・ア
ップ・コントロールと称せられる電流の段階的増加方式
が知られている。この段階的増加方式は、溶接電流を溶
接打点回数に応じて段階的に増加させる方法が知られて
いる。
ップ・コントロールと称せられる電流の段階的増加方式
が知られている。この段階的増加方式は、溶接電流を溶
接打点回数に応じて段階的に増加させる方法が知られて
いる。
【０００５】また、他の例としては、ＣＣＤ（固体撮像
素子）カメラ或いはイメージセンサ等を用い、電極先端
形状が変化する様子をモニタリングし、このモニタリン
グされた電極先端形状の変化に対応させて溶接電流を増
加させる方法が知られている（特開平３−２４８７８０
号公報）。
素子）カメラ或いはイメージセンサ等を用い、電極先端
形状が変化する様子をモニタリングし、このモニタリン
グされた電極先端形状の変化に対応させて溶接電流を増
加させる方法が知られている（特開平３−２４８７８０
号公報）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、上記したス
テップ・アップ・コントロールの場合、ステップ・アッ
プのパターン設定は経験や堪にたよるところが多く、従
って使用する電極の先端径にバラツキがあったり、予想
を越えた摩耗が進行した場合には電極の摩耗量と溶接電
流が不適正となり必ずしも効率的な制御を行うことがで
きないという問題点があった。
テップ・アップ・コントロールの場合、ステップ・アッ
プのパターン設定は経験や堪にたよるところが多く、従
って使用する電極の先端径にバラツキがあったり、予想
を越えた摩耗が進行した場合には電極の摩耗量と溶接電
流が不適正となり必ずしも効率的な制御を行うことがで
きないという問題点があった。
【０００７】また、ＣＣＤカメラやイメージセンサ等の
撮像装置を用いる方法では、電極径が直接的に検出でき
るために適正な溶接電流を設定することができる。しか
るに、ＣＣＤカメラやイメージセンサは高価であり、ま
た溶接時に発生するスパッタや粉塵がカメラやセンサの
レンズに付着し適正な撮像処理（即ち、電流制御処理）
ができないおそれがあるという問題点があった。
撮像装置を用いる方法では、電極径が直接的に検出でき
るために適正な溶接電流を設定することができる。しか
るに、ＣＣＤカメラやイメージセンサは高価であり、ま
た溶接時に発生するスパッタや粉塵がカメラやセンサの
レンズに付着し適正な撮像処理（即ち、電流制御処理）
ができないおそれがあるという問題点があった。
【０００８】本発明は上記の点に鑑みてなされたもので
あり、電極先端径を多変量解析で回帰すると共にそのデ
ータに基づき溶接電流及び加圧力を制御することによ
り、電極径の経時変形に拘わらず適正な溶接を行いうる
抵抗スポット溶接の溶接条件制御方法を提供することを
目的とする。
あり、電極先端径を多変量解析で回帰すると共にそのデ
ータに基づき溶接電流及び加圧力を制御することによ
り、電極径の経時変形に拘わらず適正な溶接を行いうる
抵抗スポット溶接の溶接条件制御方法を提供することを
目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明では、予め多変量解析手法に基づいて電極先
端径の回帰式を求めておき、抵抗スポット溶接時に上記
回帰式より現在の打点数における電極先端径を予測し、
上記予想された電極先端径に基づき電極先端面積を求
め、次に溶接打点の板合わせから必要な電流密度及び加
圧力を設定し、この電流密度及び加圧力に上記電極先端
面積を乗じて最適溶接電流及び最適加圧力を求めること
を特徴とするものである。
に、本発明では、予め多変量解析手法に基づいて電極先
端径の回帰式を求めておき、抵抗スポット溶接時に上記
回帰式より現在の打点数における電極先端径を予測し、
上記予想された電極先端径に基づき電極先端面積を求
め、次に溶接打点の板合わせから必要な電流密度及び加
圧力を設定し、この電流密度及び加圧力に上記電極先端
面積を乗じて最適溶接電流及び最適加圧力を求めること
を特徴とするものである。
【００１０】
【作用】上記の方法によれば、予め多変量解析手法に基
づいて求められた回帰式により、打点数に対応した電極
先端径を予測することができる。即ち、直接撮像装置等
により監視することなく電極先端径を求めることが可能
となる。また、電極先端径の回帰式は予め多変量解析手
法に基づいて求められている式であるため、抵抗スポッ
ト溶接時には、この回帰式に現在の打点数等のデータを
代入するだけで電極先端径を予測することができる。従
って、電極先端径を予測するための回路は簡単な構成の
演算回路で済み、溶接装置の低コスト化を図ることがで
きると共に、正確な電極先端径を求めることができるた
め、溶接に必要な電流密度及び加圧力を最適に保持で
き、安定した溶接を行うことができる。
づいて求められた回帰式により、打点数に対応した電極
先端径を予測することができる。即ち、直接撮像装置等
により監視することなく電極先端径を求めることが可能
となる。また、電極先端径の回帰式は予め多変量解析手
法に基づいて求められている式であるため、抵抗スポッ
ト溶接時には、この回帰式に現在の打点数等のデータを
代入するだけで電極先端径を予測することができる。従
って、電極先端径を予測するための回路は簡単な構成の
演算回路で済み、溶接装置の低コスト化を図ることがで
きると共に、正確な電極先端径を求めることができるた
め、溶接に必要な電流密度及び加圧力を最適に保持で
き、安定した溶接を行うことができる。
【００１１】
【実施例】次に本発明の実施例について図面と共に説明
する。
する。
【００１２】本発明に係る抵抗スポット溶接の溶接条件
制御方法は、大略して２段階の処理により構成されてい
る。その一つは制御準備段階であり、もう一つは溶接制
御段階である。この内、制御準備段階は経時的に大きく
なる電極先端径を予測するための回帰式を求める処理で
ある。また溶接制御段階は、制御準備段階で求められた
回帰式に基づき電極先端径を予測し、予測された電極先
端径に基づき電流密度及び加圧力を最適な状態に制御す
る処理である。以下、各段階で行われる処理について詳
述する。
制御方法は、大略して２段階の処理により構成されてい
る。その一つは制御準備段階であり、もう一つは溶接制
御段階である。この内、制御準備段階は経時的に大きく
なる電極先端径を予測するための回帰式を求める処理で
ある。また溶接制御段階は、制御準備段階で求められた
回帰式に基づき電極先端径を予測し、予測された電極先
端径に基づき電流密度及び加圧力を最適な状態に制御す
る処理である。以下、各段階で行われる処理について詳
述する。
【００１３】先ず、制御準備段階について説明する。
【００１４】図１（Ａ）は制御準備段階の処理を示すブ
ロック図である。制御準備段階の処理は、同図に示され
るように、実際に抵抗スポット溶接を行う実験をし、打
点数Ｎi の時における電極先端径ＤNi，発熱量Ｑi,加圧
力Ｐi,被溶接物のめっき目付量ｍi の各実験データを求
める（図中、Ｐ１で示す処理）。
ロック図である。制御準備段階の処理は、同図に示され
るように、実際に抵抗スポット溶接を行う実験をし、打
点数Ｎi の時における電極先端径ＤNi，発熱量Ｑi,加圧
力Ｐi,被溶接物のめっき目付量ｍi の各実験データを求
める（図中、Ｐ１で示す処理）。
【００１５】続いて、多変量解析処理を行う演算部に上
記の如く求められた実験データを入力して回帰式を演算
し（Ｐ２）、演算部で求められた回帰式は溶接装置１の
中央演算装置（ＣＰＵ）２に格納される（Ｐ３）。
記の如く求められた実験データを入力して回帰式を演算
し（Ｐ２）、演算部で求められた回帰式は溶接装置１の
中央演算装置（ＣＰＵ）２に格納される（Ｐ３）。
【００１６】ここで、具体的な多変量解析処理について
説明する。電極先端径の増大は、打点数Ｎ，被溶接物の
発熱量Ｑ，加圧力Ｐ，被溶接物のめっき目付量ｍ等に依
存する。そこで、これらの因子を説明変数とし、電極先
端径Ｄを基準本数として重回帰分析すると、下記の回帰
式が求められる。
説明する。電極先端径の増大は、打点数Ｎ，被溶接物の
発熱量Ｑ，加圧力Ｐ，被溶接物のめっき目付量ｍ等に依
存する。そこで、これらの因子を説明変数とし、電極先
端径Ｄを基準本数として重回帰分析すると、下記の回帰
式が求められる。
【００１７】 Ｄ１N ＝a0+a1x1+a2x2+a3x3+a4x4+ … −−−（１） ここで、上式の各パラメータは下記の通りである。
【００１８】Ｄ１N ：Ｎ打点後の電極先端径の回帰値 x1：打点数Ｎ，x2：発熱量Ｑ，x3：加圧力Ｐ，x4：めっ
き目付量ｍ，… である。また、発熱量Ｑは下式により求められる。
き目付量ｍ，… である。また、発熱量Ｑは下式により求められる。
【００１９】
【数１】 但し、Ｉ：溶接電流 Ｖ：電極間電圧 ｔ：溶接時間 しかるに、実際の求め方としては、0.5 サイクル毎に電
流，電極間電圧をモニタし、各サイクルでの（Ｉ×Ｖ）
の総和で近似することにより発熱量Ｑを求めている。従
って、実際に発熱量Ｑを求める式は下式となる。
流，電極間電圧をモニタし、各サイクルでの（Ｉ×Ｖ）
の総和で近似することにより発熱量Ｑを求めている。従
って、実際に発熱量Ｑを求める式は下式となる。
【００２０】
【数２】 また、上記した回帰式（１）の各係数（ａ0,ａ1,ａ2,ａ
3,ａ4 …）は、実験から下式を最小にするよう決定す
る。
3,ａ4 …）は、実験から下式を最小にするよう決定す
る。
【００２１】
【数３】 但し、ＤNi：ｉ番目の実験での電極先端径の実測値 ｘ1i：ｉ番目の実験での打点数 ｘ2i：ｉ番目の実験での発熱量 ｘ3i：ｉ番目の実験での加圧力 ｘ4i：ｉ番目の実験でのめっき目付量 図２は、回帰式（１）により求められる電極先端径（予
測値）と、実際に抵抗アーク溶接を行なった場合におけ
る電極先端径を測定した値（実測値）とを比較して示す
図である。同図に示すように、電極先端径の予測値と実
測値との間には良い相関関係が認められ、よって回帰式
（１）により求められる電極先端径を実際に抵抗アーク
溶接を行うことにより変化する電極先端径とみなすこと
ができる。従って、この回帰式（１）を用いて電極先端
径を演算することにより、ＣＣＤやイメージセンサ等の
高価な機器を用いることなく正確な電極先端径を求める
ことができる。また、多変量解析処理を行う演算部も汎
用されている演算回路を用いることができ、回帰式
（１）を求めるための回路も比較的簡単な構成で済む。
上記の如く求められた回帰式（１）は、溶接装置１に組
み込まれているＣＰＵ２に格納される。
測値）と、実際に抵抗アーク溶接を行なった場合におけ
る電極先端径を測定した値（実測値）とを比較して示す
図である。同図に示すように、電極先端径の予測値と実
測値との間には良い相関関係が認められ、よって回帰式
（１）により求められる電極先端径を実際に抵抗アーク
溶接を行うことにより変化する電極先端径とみなすこと
ができる。従って、この回帰式（１）を用いて電極先端
径を演算することにより、ＣＣＤやイメージセンサ等の
高価な機器を用いることなく正確な電極先端径を求める
ことができる。また、多変量解析処理を行う演算部も汎
用されている演算回路を用いることができ、回帰式
（１）を求めるための回路も比較的簡単な構成で済む。
上記の如く求められた回帰式（１）は、溶接装置１に組
み込まれているＣＰＵ２に格納される。
【００２２】続いて、溶接制御段階について説明する。
【００２３】図１（Ｂ）は、溶接制御段階において用い
る溶接装置１を示している。同図において３は溶接用ロ
ボットであり、例えば６軸の関節型ロボットが用いられ
る。この溶接用ロボット３は、そのアーム部に抵抗アー
ク溶接を行うための溶接ガン４が配設れさており、この
溶接ガン４には溶接トランス５及び加圧制御ユニット６
が接続されている。
る溶接装置１を示している。同図において３は溶接用ロ
ボットであり、例えば６軸の関節型ロボットが用いられ
る。この溶接用ロボット３は、そのアーム部に抵抗アー
ク溶接を行うための溶接ガン４が配設れさており、この
溶接ガン４には溶接トランス５及び加圧制御ユニット６
が接続されている。
【００２４】溶接トランス５は、溶接ガン４に設けられ
た電極に所定の電流を流すと共に打点数をカウントする
ものであり、タイマーコンタクター７に設けられている
電極電流制御回路８に接続されている。また加圧制御ユ
ニット６は、溶接ガン４が被溶接物９を加圧する加圧力
を制御するものであり、タイマーコンタクター７に設け
られている駆動制御回路１０に接続されている。更に、
タイマーコンタクター７は前記したＣＰＵ２に接続され
ており、タイマーコンタクター７からはＣＰＵ２に向
け、打点数Ｎ，現在の設定電極電流ＩR,現在の設定加圧
力ＰR,めっき目付量ｍ等のデータが出力され、またＣＰ
Ｕ２からタイマーコンタクター７に向けては後述する設
定電極電流ＩR 及び設定加圧力ＰR が出力される。
た電極に所定の電流を流すと共に打点数をカウントする
ものであり、タイマーコンタクター７に設けられている
電極電流制御回路８に接続されている。また加圧制御ユ
ニット６は、溶接ガン４が被溶接物９を加圧する加圧力
を制御するものであり、タイマーコンタクター７に設け
られている駆動制御回路１０に接続されている。更に、
タイマーコンタクター７は前記したＣＰＵ２に接続され
ており、タイマーコンタクター７からはＣＰＵ２に向
け、打点数Ｎ，現在の設定電極電流ＩR,現在の設定加圧
力ＰR,めっき目付量ｍ等のデータが出力され、またＣＰ
Ｕ２からタイマーコンタクター７に向けては後述する設
定電極電流ＩR 及び設定加圧力ＰR が出力される。
【００２５】上記ハード構成を有する溶接装置１におい
て、ＣＰＵ２が実行する溶接条件制御動作について図３
を用いて以下説明する。尚、ＣＰＵ２には前記した制御
準備段階を実行することにより、電極先端径を予測する
回帰式が既に格納されているものとして説明する。
て、ＣＰＵ２が実行する溶接条件制御動作について図３
を用いて以下説明する。尚、ＣＰＵ２には前記した制御
準備段階を実行することにより、電極先端径を予測する
回帰式が既に格納されているものとして説明する。
【００２６】同図に示す処理が起動すると、先ずステッ
プ１０（以下、ステップをＳと略称する）において、Ｃ
ＰＵ２はタイマーコンタクター７から打点数Ｎ，現在の
設定電極電流ＩR,現在の設定加圧力ＰR,めっき目付量ｍ
の各データを取り込む。続くＳ１２では、予め格納され
ている電極先端径を予測する回帰式（１）にＳ１０で取
り込まれた各データを代入して電極先端径ＤN （予想
値）を演算する。このステップ１２で演算される電極先
端径ＤN は、前記したように溶接処理を行うことにより
変化する実際の電極先端径と高精度に対応しており（図
２参照）、よって電極先端径ＤN を実際の電極先端径と
みなすことができる。
プ１０（以下、ステップをＳと略称する）において、Ｃ
ＰＵ２はタイマーコンタクター７から打点数Ｎ，現在の
設定電極電流ＩR,現在の設定加圧力ＰR,めっき目付量ｍ
の各データを取り込む。続くＳ１２では、予め格納され
ている電極先端径を予測する回帰式（１）にＳ１０で取
り込まれた各データを代入して電極先端径ＤN （予想
値）を演算する。このステップ１２で演算される電極先
端径ＤN は、前記したように溶接処理を行うことにより
変化する実際の電極先端径と高精度に対応しており（図
２参照）、よって電極先端径ＤN を実際の電極先端径と
みなすことができる。
【００２７】続くＳ１４では、Ｓ１２で求められた電極
先端径ＤN に基づき、電極先端面積Ｓを真円に近似して
求める。具体的には、電極先端面積ＳはＳ＝（ＤN /2)
×πで求められる。
先端径ＤN に基づき、電極先端面積Ｓを真円に近似して
求める。具体的には、電極先端面積ＳはＳ＝（ＤN /2)
×πで求められる。
【００２８】Ｓ１６では、溶接打点の板合わせから溶接
に必要な電流密度ｉ，加圧密度ｐを設定し、それにＳ１
４で求めた電極先端面積Ｓを乗算するとにより最適溶接
電流ＩOPT 及び最適加圧力ＰOPT を演算する。この場
合、溶接に必要な電流密度ｉ及び加圧密度ｐは、溶接打
点における板合わせを示す情報（例えば、被溶接物の材
質，板重ね枚数，シーラーの有無等）と電極先端径との
関数で表し、予めデータベース化しておく。この構成と
することにより、各打点毎に溶接に必要な電流密度ｉ，
加圧密度ｐが設定され、電極先端径がＤN の時の夫々の
最適溶接電流ＩOP T 及び最適加圧力ＰOPT を容易に求め
ることができる。
に必要な電流密度ｉ，加圧密度ｐを設定し、それにＳ１
４で求めた電極先端面積Ｓを乗算するとにより最適溶接
電流ＩOPT 及び最適加圧力ＰOPT を演算する。この場
合、溶接に必要な電流密度ｉ及び加圧密度ｐは、溶接打
点における板合わせを示す情報（例えば、被溶接物の材
質，板重ね枚数，シーラーの有無等）と電極先端径との
関数で表し、予めデータベース化しておく。この構成と
することにより、各打点毎に溶接に必要な電流密度ｉ，
加圧密度ｐが設定され、電極先端径がＤN の時の夫々の
最適溶接電流ＩOP T 及び最適加圧力ＰOPT を容易に求め
ることができる。
【００２９】Ｓ１８ではタイマーコンタクター７から現
在の設定電極電流ＩR を取り込み、続くＳ２０では現在
の設定電極電流ＩR とＳ１６で演算された最適溶接電流
ＩOP T とを比較する。そして、Ｓ２０において両電流値
ＩR ，ＩOPT の差が±１０％以上であると判断された場
合には、現在の設定電極電流ＩR は最適な溶接を行い得
る範囲を越えていると判断し、Ｓ２２においてＳ１６で
演算された最適溶接電流ＩOPT を新たに設定電極電流Ｉ
R と変更する。
在の設定電極電流ＩR を取り込み、続くＳ２０では現在
の設定電極電流ＩR とＳ１６で演算された最適溶接電流
ＩOP T とを比較する。そして、Ｓ２０において両電流値
ＩR ，ＩOPT の差が±１０％以上であると判断された場
合には、現在の設定電極電流ＩR は最適な溶接を行い得
る範囲を越えていると判断し、Ｓ２２においてＳ１６で
演算された最適溶接電流ＩOPT を新たに設定電極電流Ｉ
R と変更する。
【００３０】一方、Ｓ２０において、両電流値ＩR ，Ｉ
OPT の差が±１０％未満の範囲に収まっている場合に
は、現在の設定電極電流ＩR は最適溶接を行うのに適し
た範囲にあるとしてＳ２２の処理は実行しない。
OPT の差が±１０％未満の範囲に収まっている場合に
は、現在の設定電極電流ＩR は最適溶接を行うのに適し
た範囲にあるとしてＳ２２の処理は実行しない。
【００３１】続くＳ２４では、Ｓ２０，２２で設定され
た設定電極電流ＩR が溶接装置１が出し得る最大溶接電
流ＩMAX に達したかどうかが判定さる。そして、設定電
極電流ＩR が最大溶接電流ＩMAX に達するまでは上記Ｓ
１０〜Ｓ２４の処理が繰り返し実行され、設定電極電流
ＩR が最大溶接電流ＩMAX に達すると電流制御を完了す
る。
た設定電極電流ＩR が溶接装置１が出し得る最大溶接電
流ＩMAX に達したかどうかが判定さる。そして、設定電
極電流ＩR が最大溶接電流ＩMAX に達するまでは上記Ｓ
１０〜Ｓ２４の処理が繰り返し実行され、設定電極電流
ＩR が最大溶接電流ＩMAX に達すると電流制御を完了す
る。
【００３２】また、加圧制御においても同様な処理が実
行され、Ｓ２６でタイマーコンタクター７から現在の設
定加圧力ＰR を取り込み、続くＳ２８では現在の設定加
圧力ＰR とＳ１６で演算された最適加圧力ＰOPT とを比
較する。そして、Ｓ２８において両電流値ＩR ，ＩOPT
の差が±１０％以上であると判断された場合には、Ｓ３
０においてＳ１６で演算された最適加圧力ＰOPT を新た
に設定加圧力ＰR と変更する。一方、Ｓ２０において、
両加圧力値ＰR ，ＰOPT の差が±１０％未満の範囲に収
まっている場合には、Ｓ２２の処理は実行しない。
行され、Ｓ２６でタイマーコンタクター７から現在の設
定加圧力ＰR を取り込み、続くＳ２８では現在の設定加
圧力ＰR とＳ１６で演算された最適加圧力ＰOPT とを比
較する。そして、Ｓ２８において両電流値ＩR ，ＩOPT
の差が±１０％以上であると判断された場合には、Ｓ３
０においてＳ１６で演算された最適加圧力ＰOPT を新た
に設定加圧力ＰR と変更する。一方、Ｓ２０において、
両加圧力値ＰR ，ＰOPT の差が±１０％未満の範囲に収
まっている場合には、Ｓ２２の処理は実行しない。
【００３３】続くＳ３２では、Ｓ２８，３０で設定され
た設定加圧力ＰR が溶接装置１が出し得る最大加圧力Ｐ
MAX に達したかどうかが判定され、設定加圧力ＰR が最
大加圧力ＰMAX に達するまでは上記Ｓ１０〜Ｓ３２の処
理は繰り返し実行され、設定加圧力ＰR が最大加圧力Ｐ
MAX に達すると加圧制御を完了する。
た設定加圧力ＰR が溶接装置１が出し得る最大加圧力Ｐ
MAX に達したかどうかが判定され、設定加圧力ＰR が最
大加圧力ＰMAX に達するまでは上記Ｓ１０〜Ｓ３２の処
理は繰り返し実行され、設定加圧力ＰR が最大加圧力Ｐ
MAX に達すると加圧制御を完了する。
【００３４】尚、上記した実施例においては、溶接装置
１に設けられているＣＰＵ２と回帰式を演算する演算部
を別構成とした例を示したが、回帰式を演算する演算部
をＣＰＵ２に一体的に組み込んだ構成としてもよい。
１に設けられているＣＰＵ２と回帰式を演算する演算部
を別構成とした例を示したが、回帰式を演算する演算部
をＣＰＵ２に一体的に組み込んだ構成としてもよい。
【００３５】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、予め多変量
解析手法に基づいて求められた回帰式により、打点数に
対応した電極先端径を予測することができるため、直接
撮像装置等により監視することなく電極先端径を求める
ことが可能となり、また電極先端径の回帰式は予め多変
量解析手法に基づいて求められている式であるため、抵
抗スポット溶接時にはその情報を電極移動装置側（例え
ばロボットを用いている場合にはロボット側）から常時
受け取るだけで電極先端径を予測することができ、電極
先端径を予測するための回路構成を簡略化でき溶接装置
の低コスト化を図ることができ、更には回帰式により求
められる電極先端径は実際の電極先端径と高精度に対応
してるため、溶接に必要な電流密度及び加圧力を最適に
保持でき安定した溶接を行うことができる等の特長を有
する。
解析手法に基づいて求められた回帰式により、打点数に
対応した電極先端径を予測することができるため、直接
撮像装置等により監視することなく電極先端径を求める
ことが可能となり、また電極先端径の回帰式は予め多変
量解析手法に基づいて求められている式であるため、抵
抗スポット溶接時にはその情報を電極移動装置側（例え
ばロボットを用いている場合にはロボット側）から常時
受け取るだけで電極先端径を予測することができ、電極
先端径を予測するための回路構成を簡略化でき溶接装置
の低コスト化を図ることができ、更には回帰式により求
められる電極先端径は実際の電極先端径と高精度に対応
してるため、溶接に必要な電流密度及び加圧力を最適に
保持でき安定した溶接を行うことができる等の特長を有
する。
【図１】本発明方法の制御準備段階と溶接制御段階を説
明するための図である。
明するための図である。
【図２】回帰式により求められる電極先端径（予測値）
と、実際に抵抗アーク溶接を行なった場合における電極
先端径を測定した値（実測値）とを比較して示す図であ
る。
と、実際に抵抗アーク溶接を行なった場合における電極
先端径を測定した値（実測値）とを比較して示す図であ
る。
【図３】ＣＰＵが実行する溶接条件制御動作を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
１ 溶接装置 ２ ＣＰＵ ３ 溶接ロボット ４ 溶接ガン ５ 溶接トランス ６ 加圧制御ユニット ７ タイマーコンタクター ８ 電極電流制御回路 ９ 被溶接物
Claims (1)
- 【請求項１】 予め多変量解析手法に基づいて電極先端
径の回帰式を求めておき、 抵抗スポット溶接時に上記回帰式より現在の打点数にお
ける電極先端径を予測し、 上記予想された電極先端径に基づき電極先端面積を求
め、 次に溶接打点の板合わせから必要な電流密度及び加圧力
を設定し、該電流密度及び加圧力に上記電極先端面積を
乗じて最適溶接電流及び最適加圧力を求めることを特徴
とする抵抗スポット溶接の溶接条件制御方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4157011A JPH06657A (ja) | 1992-06-16 | 1992-06-16 | 抵抗スポット溶接の溶接条件制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4157011A JPH06657A (ja) | 1992-06-16 | 1992-06-16 | 抵抗スポット溶接の溶接条件制御方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06657A true JPH06657A (ja) | 1994-01-11 |
Family
ID=15640232
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4157011A Pending JPH06657A (ja) | 1992-06-16 | 1992-06-16 | 抵抗スポット溶接の溶接条件制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06657A (ja) |
-
1992
- 1992-06-16 JP JP4157011A patent/JPH06657A/ja active Pending
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