JPH0669575A - 半導体レーザー駆動装置 - Google Patents

半導体レーザー駆動装置

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Publication number
JPH0669575A
JPH0669575A JP22136792A JP22136792A JPH0669575A JP H0669575 A JPH0669575 A JP H0669575A JP 22136792 A JP22136792 A JP 22136792A JP 22136792 A JP22136792 A JP 22136792A JP H0669575 A JPH0669575 A JP H0669575A
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JP
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semiconductor laser
current
circuit
signal
constant
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JP22136792A
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Inventor
Koji Hata
幸次 畑
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 電源の供給及び遮断に拘わらず半導体レーザ
ーの劣化及び破壊を防止する。 【構成】 半導体レーザーには、トランジスタ342が
オンで端子TP1,TP2間に接続された抵抗336を
流れる電流が供給される。端子TP2には、トランジス
タ356、357がオンのときレギュレータ359がオ
ンした電源が供給される。電源の供給が遮断されると、
トランジスタ357がオフしかつ、トランジスタ356
がオフしてレギュレータ359がオフする。これによ
り、端子TP2電位が不定となり、端子TP1,TP2
間の電位差が減少して、トランジスタ342がオフし
て、半導体レーザーへの電流供給が遮断される。従っ
て、電源の供給及び遮断に拘わらず半導体レーザーの劣
化及び破壊を防止できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザー駆動装
置にかかり、特に、半導体レーザーから所定の光出力の
レーザービームが射出するように制御する半導体レーザ
ー駆動装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、所定の波長帯域の光(レーザ
ービーム)を得ることができる光源として、気体レーザ
ー等が用いられていたが、装置が大型になり、かつ光出
力を変調することが複雑な構成を用いなければならない
ため、小型かつ容易に光出力を変調できる半導体レーザ
ーが光源として用いられるようになった。
【0003】この半導体レーザーは、供給される電流
が、レーザー発振領域であるしきい値電流を越えると、
周知のようにI−L特性(順電流に対する光出力)のス
ロープ効率が高くなり微弱な電流増加であっても光出力
の増加は大きくなる。従って、供給電流の微弱な電流増
加で定格光出力を越えることがある。ところで、半導体
レーザーは定格光出力を越えると、劣化され易く、つい
には破壊されてしまう。このため、半導体レーザーの駆
動装置は、スロースタート回路を備えて、電源供給時
に、半導体レーザーに流れるサージ電流を抑制すること
によって、半導体レーザーの劣化及び破壊を防止してい
る。
【0004】しかしながら、従来の半導体レーザーの駆
動装置では、電源供給時のサージ電流を抑制することは
できるが、電源遮断時のサージ電流を抑制することがで
きない、という問題がある。
【0005】これを解消するために、電源の遮断時に
は、半導体レーザーの駆動装置内の回路に応じた電源
に、所定のシーケンスを適用させることによって、電源
遮断時のサージ電流を抑制している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ように所定のシーケンスを適用させて電源遮断時のサー
ジ電流を抑制するようにした場合には、このシーケンス
を作動させるために常時、電源供給を行う必要がある
が、停電時や電源スイッチのオン状態における電源プラ
グの着脱時には、シーケンス処理が行われないため、サ
ージ電流の発生を防ぐことができない。
【0007】また、半導体レーザーの光出力制御用の電
流制御回路(所謂、APC回路)の構成について、単一
電源を用いた場合には、電源遮断時の供給電源のレベル
は接地レベル(0V)方向へ下降するが、複数の電源、
例えば、±12Vを用いた場合には、回路の負荷条件に
応じて電源遮断時の供給電源変動の方向が異なることが
ある。従って、一時的に半導体レーザーへ供給電流が増
加し半導体レーザーの定格光出力を越えることがあり、
半導体レーザーが劣化及び破壊されるという問題があ
る。
【0008】本発明は、上記問題を解決すべく成された
もので、電源の供給及び遮断に拘わらず半導体レーザー
の劣化及び破壊を防止することができる半導体レーザー
駆動装置の提供を目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項1に記載の発明は、供給された電流の大きさに
応じた出力のレーザービームを射出する半導体レーザー
と、前記半導体レーザーに流れる電流を制御するトラン
ジスタを備え、電源から供給される異なる大きさの複数
の電圧を用いて定電流を生成し、前記半導体レーザーに
流れる電流が定電流になるように制御する電流制御手段
と、前記電源を遮断するときに、前記電流制御手段によ
り電流が生成されないように前記複数の電圧の少なくと
も1つの供給を停止する電源遮断手段と、を備えてい
る。
【0010】請求項2に記載の発明は、供給された電流
の大きさに応じた出力のレーザービームを射出する半導
体レーザーと、電源に接続され、2つの定電圧を供給す
る定電圧手段と、前記半導体レーザーに流れる電流を制
御するトランジスタ、及び一端が該トランジスタに接続
されかつ他端が定電位になるように前記定電圧手段から
一方の定電圧が供給される抵抗を備え、前記定電圧手段
から供給される他方の定電圧を用いて該トランジスタと
該抵抗との接続点のレーザー制御電位を制御することに
より定電流を生成し、前記半導体レーザーに流れる電流
が定電流になるように制御する電流制御手段と、前記レ
ーザー制御電位と前記定電位との電位差が減少するよう
に電源を遮断する電源遮断手段と、を備えている。
【0011】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
の半導体レーザー駆動装置において、前記電源遮断手段
は、前記レーザー制御電位が前記定電位に近づくように
前記電流制御手段で用いた他方の定電圧の供給を停止す
ることを特徴としている。
【0012】請求項4に記載の発明は、請求項2に記載
の半導体レーザー駆動装置において、前記電源遮断手段
は、前記定電位が前記レーザー制御電位に近づくように
前記抵抗に供給される一方の定電圧の供給を停止するこ
とを特徴としている。
【0013】請求項5に記載の発明は、請求項2に記載
の半導体レーザー駆動装置において、前記電源遮断手段
は、前記レーザー制御電位及び前記所定電位が相互に近
づくように前記電流制御手段で用いた他方の定電圧及び
前記抵抗に供給された一方の定電圧の両方の定電圧の供
給を停止することを特徴としている。
【0014】
【作用】請求項1に記載した発明の半導体レーザー駆動
装置によれば、電源から供給される異なる大きさの複数
の電圧を用いて、電流供給手段が定電流を生成する。こ
の電流供給手段は、トランジスタを備えており、トラン
ジスタは半導体レーザーに流れる電流を制御する。半導
体レーザーは、電流供給手段により供給される供給電流
に応じたレーザービームを射出する。ここで電源を遮断
するときには、電源遮断手段が、電流制御手段により電
流が生成されないように複数の電圧の少なくとも1つの
供給を停止する。従って、電源を遮断すると、トランジ
スタ以外の部位の電源が遮断される以前に、電流制御手
段において電流が生成されないようになるため、トラン
ジスタが電流供給の停止状態になる。このため、電源を
遮断するときに発生するサージ電流が半導体レーザーに
供給される以前に、半導体レーザーへの電流供給が停止
されるため、半導体レーザーには、サージ電流による、
半導体レーザーの定格光出力を越えたレーザービームを
照射するような電流が流れることはない。従って、半導
体レーザーの劣化及び破壊を抑制することができる。
【0015】請求項2に記載した発明の半導体レーザー
駆動装置は、電源に接続され、2つの定電圧を供給する
定電圧手段を備えている。電流供給手段はトランジスタ
及び抵抗を備えており、トランジスタには抵抗の一端が
接続される。この抵抗の他端には一方の定電圧が供給さ
れて定電位になる。また、電流供給手段は、定電圧手段
から供給される他方の定電圧を用いてトランジスタと抵
抗との接続点のレーザー制御電位を制御することによっ
て定電流を生成し、この定電流によって半導体レーザー
に流れる電流が定電流になるように制御する。従って、
半導体レーザーは、この電流供給手段の抵抗に流れる電
流に応じたレーザービームを射出する。電源を遮断する
ときは、電源遮断手段が、抵抗の一端のレーザー制御電
位と他端の定電位との電位差が近づくように電源を遮断
する。これによって、抵抗を介して半導体レーザーに流
れる電流は減少する。従って、半導体レーザーの劣化及
び破壊を抑制することができる。この電位差を減少する
ようにするには、電源遮断手段が、請求項3に記載の発
明のように、レーザー制御電位が定電位に近づくように
電流制御手段で用いた他方の定電圧の供給を停止するこ
と、請求項4に記載の発明のように、定電位がレーザー
制御電位に近づくように抵抗に供給される一方の定電圧
の供給を停止すること、請求項5に記載の発明のよう
に、レーザー制御電位及び所定電位が相互に近づくよう
に電流制御手段で用いた他方の定電圧及び抵抗に供給さ
れた一方の定電圧の両方の定電圧の供給を停止すること
で行うことができる。従って、電源手段からの電圧供給
を遮断すると、半導体レーザーに供給される電流を生成
するための抵抗の電位差が減少する方向に電位差が減少
するため、半導体レーザーには、サージ電流による、半
導体レーザーの定格光出力を越えたレーザービームを照
射するような電流が流れることはない。従って、半導体
レーザーの劣化及び破壊を抑制することができる。
【0016】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。図1は本発明が適用された画像露光装置
10を示したものである。
【0017】画像露光装置10は、半導体レーザー14
a、14b及び14cを備えている。この半導体レーザ
ー14a、14b及び14cの各々は、後述する制御装
置40(図2参照)により駆動され、半導体レーザー1
4aは波長が例えば、670nmである赤外域のレーザー
ビームL1を射出し、半導体レーザー14b及び14c
は各々810nm、750nmの波長のレーザービームL
2、L3を射出する。また、レーザービームL1、L2
及びL3の波長は、感光材料36が露光されることによ
り発色するマゼンタ、イエロー及びシアンの各色に対応
されている。なお、これらの波長のレーザービームL
1、L2及びL3を射出する半導体レーザー14は極め
て容易に入手できるものである。
【0018】半導体レーザー14aのレーザービーム射
出側にはレーザービームL1を平行光束にするコリメー
タレンズ16aが配設されると共に、コリメータレンズ
16aから所定の間隔を隔ててシリンドリカルレンズ1
8aと反射ミラー20とが設けられている。同様に、半
導体レーザー14b及び14cのレーザービーム射出側
には各々コリメータレンズ16b、16cが配設され、
このコリメータレンズ16b、16cから所定の間隔を
隔ててシリンドリカルレンズ18b、18cが設けられ
ている。
【0019】シリンドリカルレンズ18b、18cを透
過するレーザービームL2、L3の光路上にはダイクロ
イックミラー22a、22bが配設されている。反射ミ
ラー20とダイクロイックミラー22a、22bとは同
一の傾斜角度を有し、各々のレーザービームL1、L2
及びL3を同一の光路24に導く。ダイクロイックミラ
ー22aはレーザービームL1を透過させると共にレー
ザービームL2を反射させる。一方、ダイクロイックミ
ラー22bはレーザービームL1及びL2を透過させる
と共にレーザービームL3を反射させる機能を備えてい
る。
【0020】同一の光路24に至ったレーザービームL
1、L2及びL3は反射ミラー26、28により反射さ
れた後、ポリゴンミラー30に入射される。ポリゴンミ
ラー30は矢印方向に回転し、このポリゴンミラー30
により反射されたレーザービームL1、L2及びL3は
fθレンズ32を通過して面倒れ補正のためのシリンド
リカルミラー34で反射され、感光材料36上を矢印A
方向に主走査される。感光材料36は図示しない副走査
手段により駆動されることにより、主走査方向に略直交
する副走査方向(矢印B方向)に搬送される。これによ
り、感光材料36に画像が形成される。
【0021】上記半導体レーザー14aは、レーザーダ
イオード13a及びフォトダイオード15aから構成さ
れたアノードコモンタイプの半導体レーザーであり(図
2参照)、レーザーダイオード13aは制御装置40の
制御信号に応じてレーザービームL1を射出し、フォト
ダイオード15aはレーザーダイオード13aから射出
されたレーザービームL1の光出力を検出する。半導体
レーザー14bはレーザーダイオード13b及びフォト
ダイオード15bから構成されたカソードコモンタイプ
の半導体レーザーであり、半導体レーザー14cはレー
ザーダイオード13c及びフォトダイオード15cから
構成されたカソードコモンタイプの半導体レーザーであ
る。これらの半導体レーザー14a、14b、14c、
すなわちレーザーダイオード13a、13b、13c及
びフォトダイオード15a、15b、15cは、制御装
置40に接続されている。
【0022】〔制御装置〕図2に示したように、制御装
置40は、中央演算処理装置(CPU)を有するマイク
ロコンピュータで構成されたメイン制御基板(VEC基
板)42を備えている。このVEC基板42は、各々の
相互間のデータ及びコマンド等の入出力を行うための複
数のバスライン62、64、66、68を介して半導体
レーザー駆動基板(LD基板)44に接続されている。
なお、このVEC基板42は、図示しない記憶装置を備
えており、この図示しない図示しない記憶装置に他の装
置、例えばホストコンピュータ等から供給される画像の
濃度に応じた画像データが記憶されている。また、VE
C基板42には、半導体レーザー14a,14b,14
c及び後述するECLのレシーバ202の各々の温度を
計測する図示しないサーミスタが、図示しないアナログ
デジタル変換器を介して接続されている。
【0023】LD基板44は、ゲートアレイ回路(G/
A)46、パルス幅変調回路(PWM)50、52、5
4、レーザー駆動回路(LDD)56、58、60、及
び温調回路(TEM)48から構成されている。PWM
50、52、54及びLDD56、58、60は、半導
体レーザー14a,14b,14cに対応して設けられ
ている。このPWM50は信号線70を介してLDD5
6へ接続され、PWM52は信号線72を介してLDD
58へ接続され、PWM54は信号線74を介してLD
D60へ接続されている。また、PWM50、52、5
4及びLDD56、58、60の各々は、G/A46
に、相互間のデータ及びコマンド等の入出力を行うため
の複数のバスライン76、78、80、82、84、8
6を介して接続されている。また、温調回路48は、G
/A46に、バスライン88を介して接続されている。
【0024】(G/A)図3に示したように、ゲートア
レイ回路(G/A)46は、白信号処理回路102、半
導体レーザーの出力を制御するための制御信号を生成す
るレーザーパワー制御信号生成回路104、デコーダ回
路106を有している。このデコーダ回路106は、ア
ドレスデコードを行うためのアドレスデコーダ、入出力
されるレーザーパワーのデジタルデータをラッチするた
めのデータラッチ回路、入力ポート及び出力ポートを含
んでいる。
【0025】白信号処理回路102は、半導体レーザー
14a、14b、14cに対応する同期処理回路12
0、122、124を有しており、各々の同期処理回路
120、122、124は、論理回路で構成されてい
る。この同期処理回路120、122、124の各々に
は、画面の1走査線における画像記録時間だけハイレベ
ルとなるラスタゲート信号(信号名、RG1、RG2、
RG3)が入力されるように、VEC基板42が接続さ
れている。また、同期処理回路120、122、124
は、各々半導体レーザー14a、14b、14cに対応
したPWM50、52、54に接続されている。
【0026】レーザーパワー制御信号生成回路104
は、半導体レーザー14a、14b、14cの何れかの
出力を制御するときの論理に応じた信号(信号名、AP
1、AP2)が入力されるように、VEC基板42に接
続されている。このレーザーパワー制御信号生成回路1
04は、入力された信号(AP1,AP2)を、対応す
る画素クロック(GC1,GC2,GC3)で同期され
た信号(信号名、AP01,AP02,AP03)とし
て出力するものである。また、レーザーパワー制御信号
生成回路104は、生成された制御信号(AP01、A
P02、AP03)が半導体レーザー14a、14b、
14cに対応するPWM50、52、54へ出力される
ように接続されている。
【0027】デコーダ回路106は、VEC基板42に
接続されている。また、デコーダ回路106は、LDD
56、58、60及び温調回路48に接続されている。
このデコーダ回路106には、半導体レーザーの駆動電
流制御データ及び半導体レーザー(フォトダイオード)
の光出力データ(信号名、DB)、デコーダ回路106
を制御するための制御コマンド(信号名、CM)が入出
力される。
【0028】図7には、上記半導体レーザー14aに対
応する同期処理回路120の回路例を示した。同期処理
回路120は、上述のようにVEC42及びPWM50
と接続されている。なお、同期処理回路120にPWM
50から入力される信号の詳細は後述し、この信号名を
( )内に記載する。
【0029】同期処理回路120は、フリップフロップ
回路130、132を備えており、フリップフロップ回
路130は、AND回路136に接続されている。フリ
ップフロップ回路132は、OR回路134を介してA
ND回路136に接続されている。このAND回路13
6は、バッファを介して出力される信号(信号名、RG
01)がPWM50に入力されるように接続されてい
る。詳細は後述するが、この信号RG01は、白色画素
に対応するパルス幅を除去するためのパルス幅部分を含
んだ信号である。また、フリップフロップ回路130
は、VEC42に、ラスタゲート信号(RG1)がバッ
ファを介して入力データとして入力されるように接続さ
れかつ、PWM50に、画素クロック(GC1)が同期
信号として入力されるように接続されている。この画素
クロック(GC1)はフリップフロップ回路132にも
同期信号として入力される。フリップフロップ回路13
2は、PWM50に、白色の画像データに対応する信号
(/FF1)がバッファを介して入力データとして入力
されるように接続されている。このAND回路134
は、PWM50に、画素クロックの遅延信号(GCS
1)が入力されるように接続されている。
【0030】なお、同期処理回路122、124は、同
期処理回路120と同一の構成のため、記載を省略す
る。
【0031】(PWM)図4に示したように、PWM5
0は、デジタルアナログ(D/A)変換器216を備え
ている。このD/A変換器216は、VEC42から入
力される10ビットの画像データをアナログ信号に変換
する。また、PWM50はNAND回路218を有して
おり、このD/A変換器216には入力される画像デー
タが、NAND回路218を介してG/A46へ出力さ
れるように接続されている。NAND回路218は、白
色の画像データに対応する信号、すなわち入力される画
像データの全てのビットがハイレベルのときにローレベ
ルそれ以外のときハイレベルの信号(信号名、/FF
1)を出力する。
【0032】D/A変換器216には、レシーバ202
に接続されたECL信号をTTL信号に変換する変換器
212が接続され、このレシーバ202にはECLの信
号である画素毎のクロック信号(画素クロック、信号名
GC1)が入力されるようにVEC42が接続されてい
る。このVEC42から入力される画素クロック(GC
1)は、レシーバ202及び変換器212を介して、D
/A変換器216の同期信号として用いられる。また、
遅延回路210には変換器212を介してG/A46に
接続され、変換器212で変換された画素クロック(G
C1)のTTL信号が遅延回路210において所定時間
だけ遅延(信号名、GCS1)されて、G/A46へ出
力される。
【0033】レシーバ202は、積分回路204を介し
てコンパレータ206の一方の入力側に接続されてお
り、コンパレータ206には画素クロック(GC1)が
積分された三角波の信号波形が入力される。このコンパ
レータ206の他方の入力側には、D/A変換器218
の出力が入力されるように接続されている。
【0034】コンパレータ206の出力側は、ゲート回
路208に接続されている。このゲート回路208に
は、G/A46が接続されており、G/A46で生成さ
れた信号RG01,AP01が入力される。ゲート20
8の出力側はLDD56に接続されている。従って、P
WM50において画像データに応じて変調されたパルス
信号がLDD56に入力される。
【0035】なお、PWM52、54は、同様の構成の
ため、詳細な説明を省略する。 (LDD)図5に示したように、LDD56は、変調回
路302を備えている。この変調回路302は、信号線
70を介してPWM50及び半導体レーザー14aが有
するレーザーダイオード13aのカソードに接続されて
いる。変調回路302は、PWM50から信号線70を
介して入力されるパルス信号によって、半導体レーザー
14aのレーザーダイオード13aへの供給電流を切り
換えて変調する回路(図14参照)である。
【0036】この変調回路302は、定電流回路304
及びデジタルアナログ変換器(D/A)306を介し
て、G/A46に接続されている。このD/A306に
は、G/A46から、半導体レーザー14aの電流制御
信号(信号名、DATA1)が入力される。この定電流
回路304及びD/A変換器306には、電源遮断時の
サージ電流を抑制するためのオフサージ対策回路310
が接続されている。
【0037】定電流回路304は、所定の光出力のレー
ザービームが射出されるように、オートパワーコントロ
ール(APC制御)を行うときの半導体レーザー14a
のレーザーダイオード13aに、定電流を供給するため
の回路である(図8参照)。このAPC制御とは、周知
のように、半導体レーザー14aに内蔵されたフォトダ
イオード15aによって光出力をモニターしながら規格
光出力になるように、半導体レーザー14aをドライブ
するものである。
【0038】また、変調回路302の出力側には、バイ
アス回路312が接続されており、このバイアス回路3
12によって生成された所定のバイアス電流が供給され
る。このバイアス電流は半導体レーザーの自己発熱によ
る光出力変化(ドループ)を低減するためのもので、画
像記録領域及び非記録領域に拘わらず、所定の電流値に
調整されている。
【0039】レーザーダイオード13aのアノードは、
オンサージ対策回路308を介して12Vの電源線に接
続されている。このオンサージ対策回路308は、抵抗
及びコンデンサによる所定の時定数のスロースタータ回
路と3端子レギュレータ(例えば、12Vを5Vにす
る)で構成されており、電源投入時にオンサージ対策回
路308を介して供給される電源は上記時定数に応じた
時間だけ遅延される。従って、12Vの電源投入時にレ
ーザーダイオード13aのアノードに供給される電源
(本実施例では5V)は遅延されるため、半導体レーザ
ー14aにサージ電流が流れることを防いでいる。レー
ザーダイオード13aのアノードは、フォトダイオード
15aのカソードに接続されている。
【0040】また、12Vの電源線は、フォトカプラ3
18を介してG/A46に接続されており、フォトカプ
ラ318は12Vの電源が供給されることによりハイレ
ベルとなる信号(信号名、LDSTS)をG/A46へ
出力する。
【0041】このフォトダイオード15aのアノード
は、入力された電流を電圧に変換して出力する電流電圧
(I/V)変換回路314を介してアナログデジタル変
換器(A/D)316に接続されている。このA/D3
16は、制御コマンドやフラグ等の制御信号(信号名、
ADC1)を入出力するように及びA/D316によっ
て変換されたデジタルデータ信号(信号名、ADD1)
を出力するようにG/A46へ接続されている。
【0042】なお、LDD58は同様の構成のため詳細
説明を省略し、LDD60については略同様の構成のた
め、以下、異なる部分についてのみ説明する。また、レ
ーザーダイオード13bのカソードには、フォトダイオ
ード15bのカソードが接続され、レーザーダイオード
13cのカソードには、フォトダイオード15cのカソ
ードが接続されている。
【0043】図6に示したように、LDD60の変調回
路302には、信号線74を介してPWM54及び半導
体レーザー14cが有するレーザーダイオード13cの
カソードに接続されている。このレーザーダイオード1
3cのアノードには、フォトダイオード15cのカソー
ドが接続されている。
【0044】フォトダイオード15cのアノードは、I
/V変換回路314を介してA/D316に接続されて
いる。このA/D316は、制御コマンドやフラグ等の
制御信号(信号名、ADC3)を入出力するように及び
A/D316によって変換されたデジタルデータ信号
(信号名、ADD3)を出力するようにG/A46へ接
続されている。
【0045】本実施例に用いた半導体レーザー14c
(波長750nm)は、ドループ量が大きいことを考慮し
て、LDD60は、自己発熱による光出力変化を補正す
るためのドループ補正回路320を備えている。このド
ループ補正回路320にはI/V変換回路314の出力
信号が入力されるように接続されており、ドループ補正
回路320は、出力信号が、定電流回路304に入力さ
れるように接続されている。
【0046】なお、このドループ補正回路320は、全
ての半導体レーザー14a,14b14cのLDD5
6、58、60に備えるようにしてもよい。
【0047】図14には、変調回路302の回路例を示
した。レーザーダイオード13aのカソードは、抵抗1
57を介してトランジスタ150のコレクタに接続さ
れ、エミッタは抵抗160を介して定電流回路304へ
接続されている。トランジスタ150のベースは、半導
体レーザーをパルス変調するためのパルス信号が入力さ
れるようにPWM50に接続されかつ、抵抗162を介
して−5Vに接続されている。レーザーダイオード13
aのアノードは、オンサージ対策回路308に接続さ
れ、かつ抵抗156を介してトランジスタ152のコレ
クタに接続されている。トランジスタ152のベースは
抵抗158を介して−5Vに接続され、エミッタはトラ
ンジスタ150のエミッタに接続されている。このトラ
ンジスタ152のベースには、上記トランジスタ150
のベースに供給されるパルス信号の反転されたパルス信
号が入力されるようにPWM50が接続されている。な
お、レーザーダイオード13aにはコンデンサ154が
並列に接続されている。従って、変調回路302は、半
導体レーザーを、PWM50からのパルス信号に応じて
トランジスタ150、152を交互にスイッチングする
ことによって、パルス変調することができる。
【0048】図8には、定電流回路304及びオフサー
ジ対策回路310の回路例を示した。定電流回路304
は、オペアンプ340、トランジスタ342、及び抵抗
336によって構成される定電流を生成する回路を有し
ている。また、定電流回路304は減算用オペアンプ3
38及び電圧電流(V/I)変換用オペアンプ340を
備えており、減算用オペアンプ338の一方の入力側に
はD/A306から出力される信号が抵抗330を介し
て入力される。この減算用オペアンプ338の一方の入
力側は抵抗331を介して出力側に接続されている。減
算用オペアンプ338の他方の入力側は、抵抗333を
介して接地されると共に抵抗332及びツェナーダイオ
ード344を介して接地されている。また、抵抗332
とツェナーダイオード344との接続点は、抵抗335
を介して図示しない電源(−12V)に接続されてい
る。
【0049】減算用オペアンプ338の出力側は、V/
I変換用オペアンプ340の一方の入力側に接続されて
おり、V/I変換用オペアンプ340の他方の入力側は
トランジスタ342のエミッタに接続されている。この
トランジスタ342のエミッタは、端子TP1に接続さ
れ、端子TP1は抵抗336を介して端子TP2に接続
されている。また、トランジスタ342のベースは抵抗
334を介してV/I変換用オペアンプ340の出力側
に接続され、コレクタは変調回路302に接続されてい
る。このトランジスタ342のベースとV/I変換用オ
ペアンプ340の他方の入力側とはダイオード346を
介して接続されている。
【0050】オフサージ対策回路310は、定電流シャ
ットダウン回路322及びDAシャットダウン回路32
4を備えている。定電流シャットダウン回路322は、
レギュレータ359を有しており、レギュレータ359
の出力側は定電流回路304の端子TP2に接続されて
いる。このレギュレータ359の入力側はトランジスタ
356のコレクタに接続されている。このトランジスタ
356のベースは抵抗355を介してトランジスタ35
7のコレクタに接続されている。トランジスタ356の
エミッタは、抵抗354を介してベースに接続されか
つ、抵抗350及びツェナーダイオード358を介して
接地されている。トランジスタ356のエミッタは、抵
抗351、353を介してトランジスタ357のベース
に接続されると共に、抵抗351、353の接続点は抵
抗352を介して接地されている。トランジスタ357
のエミッタはツェナーダイオード358のアノードに接
続されている。また、トランジスタ356のエミッタに
は、−12Vの負電源が供給されるように図示しない電
源に接続されている。
【0051】DAシャットダウン回路324は、レギュ
レータ360を有しており、レギュレータ360の出力
側はD/A306に接続されている。以下、定電流シャ
ットダウン回路322と同一構成のため、記載を省略す
る。
【0052】図9には、図6のI/V変換回路314及
びドループ補正回路320の回路例を示した。I/V変
換回路314は、オペアンプ372を有して電流電圧変
換回路が構成され、オペアンプ372のマイナスの入力
側はフォトダイオード15cに接続され、このオペアン
プ372の入力側と出力側とに抵抗374及びコンデン
サ373が並列に接続されている。このオペアンプ37
2のプラスの入力側は接地されている。また、オペアン
プ372の出力側は抵抗375を介してA/D316に
接続されている。
【0053】ドループ補正回路320は、オペアンプ3
78を備えており、このオペアンプ378のマイナスの
入力側はI/V変換回路314からの出力信号が抵抗3
79を介して入力されるように接続され、このオペアン
プ378の入力側と出力側とにはアナログスイッチ38
5、抵抗383及びコンデンサ384が並列に接続され
ている。このオペアンプ378のプラスの入力側は抵抗
380を介して接地されている。また、オペアンプ37
8の出力側は抵抗382、可変抵抗381及び抵抗32
8を介して定電流回路304の減算用オペアンプ338
のプラス側に接続されている。上記アナログスイッチ3
85は、VEC42から出力される信号(RG3)及び
G/A(AP03)の論理積によって制御されるように
AND回路386の出力側に接続されている。
【0054】(TEM)図10には、温調回路(TE
M)の回路構成の一例を示した。このTEMは、パワー
トランジスタの通電時における発熱を利用してパワート
ランジスタをオンオフすることによって温度を制御する
ものであり、本実施例では、レシーバ202の温度調整
に、加熱及び加熱停止するための回路TEM48(図1
0(1)参照)を適用させ、半導体レーザー14a,1
4b,14cの温度調整に、強加熱、弱加熱及び加熱停
止するための回路TEM49(図10(2)参照)を適
用させている。
【0055】TEM48は、フォトカプラ402を備え
ており、フォトカプラ402の入力側の一方は抵抗40
1を介して5V電源に接続され、他方はG/A46から
の信号が入力されるように接続されている。フォトカプ
ラ402の出力側の一方は接地され、他方はオペアンプ
404のプラス側に入力される。このオペアンプ404
のプラス側は、抵抗403を介してアナログ用5V電源
に接続されている。オペアンプ404の出力側は抵抗4
06を介してパワートランジスタ408のベースに接続
され、このパワートランジスタ408のエミッタがオペ
アンプ404のマイナス側に入力されるように接続され
ている。また、パワートランジスタ408のエミッタは
抵抗410を介して接地され、パワートランジスタ40
8のコレクタは24Vの電源に接続されている。
【0056】従って、G/A46から、このTEM48
へハイレベルの信号が入力されると、フォトカプラ40
2はオフし、オペアンプ404の入力は5Vになる。従
って、このオペアンプ、パワートランジスタ408及び
抵抗410の構成により、パワートランジスタ408に
は定電流が流れ、パワートランジスタ408は、発熱す
ることになる。
【0057】TEM49は、2個の素子からなるフォト
カプラ412を備えており、各々の素子の入力側の一方
は抵抗423、425を介して5V電源に接続され、他
方のH端及びL端にはG/A46からの異なる信号が入
力されるように接続されている。このフォトカプラ41
2の出力側の各一方は接地され、各他方は抵抗415、
417を介してアナログ用5V電源に接続されている。
また、フォトカプラ412の出力側の各他方は、抵抗4
13、414を介して加算回路420に入力されるよう
に接続されている(プラス側)。この加算回路420の
出力側とマイナス入力側とには抵抗418が並列に接続
され、マイナス入力側は抵抗416を介して接地されて
いる。また、加算回路420の出力側はオペアンプ42
2のマイナス側に接続されている。オペアンプ422の
出力側は抵抗424を介してパワートランジスタ426
のベースに接続され、このパワートランジスタ426の
エミッタがオペアンプ422のマイナス側に入力される
ように接続されている。また、パワートランジスタ42
6のエミッタは抵抗428を介して接地され、パワート
ランジスタ426のコレクタは24Vの電源に接続され
ている。
【0058】従って、G/A46から、このTEM49
のH端及びL端へ入力される信号に応じて、フォトカプ
ラ412から出力され加算回路420に入力される電流
が変化し、加算回路420に入力される信号が増減す
る。例えば、TEM49のH端にハイレベルの信号及び
L端にローレベルの信号が入力されると、フォトカプラ
412の1つがオンし他の1つがオフし、オペアンプ4
20には抵抗417、413と抵抗414による分圧が
入力される。一方、H端にローレベルの信号及びL端に
ハイレベルの信号が入力されると、オペアンプ420に
は抵抗415、414と抵抗413とによる分圧が入力
される。従って、オペアンプ422、パワートランジス
タ426及び抵抗428の構成により、パワートランジ
スタ426には加算回路420から出力される信号に応
じた定電流が流れ、パワートランジスタ408は、強と
弱とに発熱することになる。
【0059】(実施例の作用)以下、本実施例の作用に
ついて説明する。
【0060】図示しない電源スイッチが投入され、制御
装置40に電源が供給される。このとき、各半導体レー
ザーにはオンサージ308を介して電源が供給されるた
め、サージ電流が抑制され、半導体レーザーの劣化及び
破壊が抑制される(図5参照)。次に詳細は後述する
が、図示しない記憶装置から供給される画像データに基
づいて、PWM50において画像濃度に応じたパルス幅
のパルス信号が生成され、LDD56においてこのパル
ス信号で変調された信号によって、半導体レーザー14
aが駆動され、所定の露光量のレーザービームL1が半
導体レーザー14aから射出される。同様に、PWM5
2、54で生成されたパルス信号により、LDD58、
60で変調された信号によって、各々対応する半導体レ
ーザー14b,14cが駆動され、所定の露光量のレー
ザービームL2、L3が射出される(図2参照)。半導
体レーザー14a、14b,14cから射出された各々
のレーザービームL1、L2、L3は、光路24に混合
され反射ミラー26、28、ポリゴンミラー30、fθ
レンズ32及びシリンドリカルミラー34を介して感光
材料36に照射される。これにより、感光材料36には
画像データに応じた露光量のレーザービームが照射さ
れ、所定の発色濃度が得られることにより、画像が形成
される(図1参照)。
【0061】ここで、本実施例の制御装置40は、レー
ザー駆動回路(LDD)内に電源遮断時のサージ電流を
抑制するためのオフサージ対策回路310を有してい
る。
【0062】図8に示したように、制御装置40に電源
が投入されているときには定電流シャットダウン回路3
22では、トランジスタ357のベースへ抵抗351、
353を介して電流が供給され、トランジスタ357が
オンする。従って、抵抗355が通電され、トランジス
タ355がオンして、レギュレータ359へ−12Vの
電源が供給される。このレギュレータ359は、入力さ
れた−12Vの電圧を−8Vに変換して出力する。従っ
て、端子TP2の電圧は−8Vになる。DAシャットダ
ウン回路324も同様に、トランジスタ362のベース
へ抵抗365、368を介して電流が供給され、トラン
ジスタ362がオンして、抵抗369の通電によりトラ
ンジスタ361がオンして、レギュレータ360へ−1
2Vの電源が供給される。従って、D/A306には−
8Vの電圧が入力される。定電流回路304では、VE
C基板42から入力される予め設定された半導体レーザ
ーに流す電流値であるAPC制御電流データがD/A3
06でアナログ値(例えば、電圧値)に変換される。そ
の変換された出力電圧、及びツェナーダイオード344
のツェナー電圧(例えば、−6.9V)のそれぞれを減
算用オペアンプ338に入力する。その減算用オペアン
プ338の出力電圧は、オペアンプ340へ入力され、
オペアンプ340、トランジスタ342、抵抗336と
で構成される定電流回路で定電流に変換される。この定
電流が変調回路302へ供給される。従って、端子TP
1は、減算用オペアンプ338の出力電圧と同レベルと
なり、端子TP2の電圧は−8Vであるため、この電位
差によって抵抗336に流れる電流が変調回路302へ
供給される。
【0063】この定電流シャットダウン回路322に供
給されている−12Vの電源が低下(例えば、−10
V)すると、トランジスタ357の抵抗351、353
によるバイアス条件が崩れ、トランジスタ357がオフ
する。これにより、レギュレータ359から電圧が出力
されなくなり、端子TP2の電圧は不定となるが、この
端子TP2には、抵抗336を介して端子TP1に接続
されているため、端子TP2の電圧は端子TP1に近づ
く方向で変動する。従って、変調回路302へ供給され
る電流は減少する変動することにより、半導体レーザー
14aの光出力が定格以上になることはない。
【0064】また、本実施例では、D/A306には、
上記定電流シャットダウン回路322と同一の構成のD
Aシャットダウン回路324によって、電圧が供給され
る。従って、DAシャットダウン回路324に供給され
る−12Vの電源が低下すると、D/A306には電圧
が供給されなくなり、D/A306の出力が停止され
る。このため、端子TP1の電圧についても、端子TP
2の電圧方向へ変動するようになる。従って、端子TP
1及び端子TP2の電位差が減少する方向に電圧が変動
することにより、半導体レーザー14aの光出力が定格
以上になることはない。
【0065】従って、停電や、制御装置の電源スイッチ
がオンされているときの電源プラグの脱着のときような
電源オフ時においても、半導体レーザーにはサージ電流
が流れることがない。これによって、半導体レーザーの
劣化及び破壊を抑制することができる。従って、画像露
光装置においては、半導体レーザーの劣化による光出力
の微弱な変動が、色ムラや濃度ムラとなり、品質に高い
画像形成が困難となるが、本実施例によれば、この半導
体レーザーの劣化を抑制することができるため、画像品
質の高い画像露光装置を継続的に提供することができ
る。
【0066】なお、上記オフサージ対策回路310とし
て、定電流シャットダウン回路322及びDAシャット
ダウン回路324を用いて半導体レーザーへの供給電流
を遮断するようにしたが、定電流シャットダウン回路3
22及びDAシャットダウン回路324の何れか一方を
用いたときにおいても充分な効果を得ることができる。
【0067】ここで、感光材料36の発色濃度について
図15を参照して説明する。感光材料36は、最小発色
濃度Dmin 及び最大発色濃度Dmax を有しており、この
濃度間で露光量logEに対する発色濃度Dの特性を有
している(図15(3)参照)。従って、最小発色濃度
Dmin に対応する最小露光量Emin 未満の露光量で、感
光材料36を照射しても、所望の発色濃度を得ることが
できない。このため、画像データに対応するパルス幅の
信号を生成しても、所定の露光量(最小露光量Emin )
までの画像データによる発色は適正に行われないことに
なる(図15(1)参照)。そこで、本実施例では、画
像データによる画像濃度が最小(例えば、指示濃度が
0)のときには、パルス信号のパルス幅を0にしてい
る。さらに本実施例では、最小濃度に発色させるための
画像データに対応するパルス幅を、最小露光量Emin に
対応させるようにしている。すなわち、画像データによ
る指示濃度が最小値のときパルス幅を0に設定しかつ画
像データによる指示濃度が最小値を越えた最小の画像デ
ータのときパルス幅を15nsecに設定している。従っ
て、画像データと露光量との関係は、指示濃度が0を除
いて最適な露光量と対応させることができる(図15
(2)参照)。これによって、感光材料には画像データ
に基づく最適な発色濃度の画像が形成される。
【0068】この半導体レーザーの光出力を画像データ
に応じて変調するためのパルス信号形成について詳細に
説明する。
【0069】図11には、PWM50の各所における信
号の波形を示した。図4に示したように、レシーバ20
2には、画素クロックGC1(図11(1))がVEC
基板42から入力される。積分回路204は、この画素
クロックGC1を積分して、三角波形の信号230(図
11(3))を出力する。また、D/A216には、画
像データ(図11(2))が入力され、D/A216は
この画像データに応じた電圧の信号(図11(3))を
出力する。コンパレータ206は、この信号230及び
信号232を比較し、三角波の信号230が信号232
を越えたときにハイレベルの信号(図11(4))23
4を出力する。この信号234は、白色の画素を形成す
るための画像データ(例えば、10ビットD/Aなら3
FF)に対応する信号236を含んでいる。
【0070】画像データはNAND218による論理積
の信号(/FF、図11(5))がG/A46へ出力さ
れ、G/A46において後述する信号RG01(図11
(6))が形成され、ゲート回路208に入力される。
ゲート回路208は、この信号RG01及び信号AP0
1(図11(7))の論理和の信号により、信号236
がゲートされた信号238(図11(8))が出力され
る。従って、信号238は、上記白色画素に対応するパ
ルス幅の信号236が除かれ白信号補正されたパルス幅
の信号のみになる。この信号238は、信号線70を介
してLDD50へ出力される。
【0071】次に、上記白信号補正のためのパルス信号
(RG01)の形成について説明する。
【0072】図12には、G/A46における白信号処
理回路102の同期処理回路120の各所における信号
の波形を示した。図7に示したように、同期処理回路1
20のフリップフロップ回路130では、入力されるラ
スタゲート信号RG1(図12(1))が画素クロック
GC1(図12(2))の立ち上がりで同期された信号
が形成される。また、フリップフロップ回路132に入
力される信号(/FF、図12(5))も画素クロック
GC1で立ち上がりで同期される。この信号(/FF)
の同期された信号(図12(6))と画素クロックGC
1が所定時間遅延かつ反転された信号(/GCS1、図
12(4))とのOR回路134による論理和の信号
(図12(7))について、AND回路136で上記同
期されたラスタゲート信号RG1との論理積が求めら
れ、この論理積出力(図12(8))がPWM50へ出
力される。
【0073】このように、画像の記録を指示するための
ラスタゲート信号RG1が画素クロックGC1で同期さ
れかつ、白色画素に対応するパルス幅の信号236(図
11参照)が除かれた信号RG01が形成される。
【0074】従って、半導体レーザーの変調時には、白
色画素に対応するパルス幅の信号236は除去されてい
るため、微弱な光出力が生じることなく、最適な色再現
を実現できる。また、複数の画像を重ねて露光するとき
のような多重露光を行う場合においても、微弱な光によ
るかぶりを防止することができる。
【0075】また、本パルス幅変調は、最小パルス幅以
下の制御が必要なく、階調分解能を上げることができ
る。すなわち、最小濃度に発色させるための画像データ
に対応するパルス幅を、最小露光量に対応させているた
め、感光材料が発色しない露光量である短いパルス幅の
制御を行う必要がなく、階調分解能を上げることができ
る。
【0076】上記説明したように、画像データに応じた
パルス幅の信号で半導体レーザーが変調されるが、一般
に半導体レーザーは、ドループ特性を有しており、パル
ス幅変調時の半導体レーザーの自己発熱により光出力が
変化する。この自己発熱による光出力変化は、時定数が
何100μsというレベルのため、温度調整では制御す
ることができない。例えば、1走査内を同一画像データ
で変調した場合は前縁に比べ後縁の光出力が低下する
(前画像の履歴を受ける)。このため、本実施例の制御
装置40は、ドループ補正回路320を備えている。
【0077】ドループ補正回路320には、図9に示し
たように、レーザーダイオード13cから射出される光
出力(図13(1))を検出したフォトダイオード15
cの電流出力が、I/V変換回路314において電圧
(図13(2))に変換されて入力される。この入力さ
れた信号を、ドループ補正回路320は、アナログスイ
ッチ385がオフの場合に、オペアンプ378で反転増
幅すると共に、抵抗383及びコンデンサ384の時定
数に応じて積分する。この積分された信号は、可変抵抗
381で減衰されて(図13(3))、定電流回路30
4の減算用オペアンプ338のプラス入力側へ出力され
る。従って、定電流回路304の減算用オペアンプ33
8のプラス入力側の電圧は、ツェナーダイオード344
で制限された電圧(−6.9V)に図13(3)に示し
た信号が加算された信号(図13(4))になる。
【0078】上記アナログスイッチ385は、ラスタゲ
ート信号RG3及び信号AP03の論理積、すなわち画
像記録領域のときオフ、非画像記録領域のときオンにな
る。従って、非画像記録領域のときは、ドループ補正回
路320から0Vが出力されるリセット状態とされるた
め、各走査時においてドループ補正を行うときは、前回
の走査時のドループ補正を影響を受けることはない。
【0079】このように、フォトダイオード15cで検
出したレーザーダイオード13cの光出力に応じて、画
像記録領域に対する時間だけ半導体レーザーに供給する
電流を補正するため、ラスタゲート信号のハイレベルに
対応する1走査の間に、半導体レーザー14cの光出力
が補正することができる。従って、得られる画像の画質
を低下させることなく、画像を形成することができる。
【0080】なお、ドループ補正回路を付加しないでド
ループの影響による画質劣化を防ぐ方法として、上記パ
ルス幅変調するための半導体レーザーの最小パルス幅及
び最大パルス幅の差を、各々の半導体レーザーが有する
ドループ量に応じて変更する方法がある。すなわち、ド
ループ量が大きな半導体レーザーはその差を小さくし、
ドループ量が小さな半導体レーザーはその差を大きくす
る。このようにすることによってドループ量の均一化が
図れ、カラー画像を形成するときの色相変化の少ない画
像を形成することができる。更に、上記最小パルス幅及
び最大パルス幅の差を大きくした半導体レーザーは、ダ
イナミックレンジが大きくなる。
【0081】なお、本実施例では、3個の半導体レーザ
ーを使用して画像を形成する場合について説明したが、
半導体レーザーの数量に限定されるものではなく、1個
以上の何れの半導体レーザーについて本発明を適用して
もよい。
【0082】また、上記実施例では、画像露光装置とし
て画像を記録する場合について説明したが、光電変換素
子等を用いて画像情報を得る読取り再生装置にも容易に
適用できる。
【0083】また、上記実施例では、半導体レーザーの
自己発熱による光出力の補正をアナログ的に行うように
したが、半導体レーザーを変調するパルス幅を変化させ
補正するようにしてもよい。この場合、記憶されている
画像データに、フォトダイオードで測定した光出力に基
づく補正量を加算することによって、パルス幅を変化さ
せることができる。
【0084】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、半
導体レーザーを駆動するための電源を遮断する場合であ
っても、半導体レーザーの光出力が定格光出力を越える
ことがないため、半導体レーザーの劣化及び破壊を防止
することができる、という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適応可能な画像露光装置の概略を示す
構成図である。
【図2】本実施例の画像露光装置の制御装置の内部構成
を示すブロック図である。
【図3】LD基板のゲートアレイ回路の構成を示すブロ
ック図である。
【図4】LD基板のパルス幅変調回路の構成を示すブロ
ック図である。
【図5】LD基板のレーザー駆動回路の構成を示すブロ
ック図である。
【図6】LD基板のドループ補正回路を含んだレーザー
駆動回路の構成を示すブロック図である。
【図7】同期処理回路の内部構成の一例を示すブロック
図である。
【図8】図5のオフサージ対策回路の構成の一例を示す
回路図である。
【図9】図6のドループ補正回路の構成の一例を示す回
路図である。
【図10】本実施例の温調回路の構成の一例を示す回路
図である。
【図11】図4のパルス幅変調回路の各信号のタイムチ
ャートを示す線図である。
【図12】図3の同期処理回路の各信号のタイムチャー
トを示す線図である。
【図13】図6のドループ補正回路に関係する各信号の
タイムチャートを示す線図である。
【図14】図5の変調回路の構成の一例を示す回路図で
ある。
【図15】(1)は画像データと露光量の関係を示した
線図、(2)は本実施例の画像データと露光量の関係を
示した線図、(3)は感光材料における露光量と発色濃
度の関係を示した線図である。
【符号の説明】
10 画像露光装置 14 半導体レーザー 13a レーザーダイオード 15a フォトダイオード 40 制御装置 304 定電流回路 310 オフサージ対策回路 322 定電流シャットダウン回路 324 DAシャットダウン回路 336 抵抗 342 トランジスタ TP1 端子 TP2 端子

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 供給された電流の大きさに応じた出力の
    レーザービームを射出する半導体レーザーと、 前記半導体レーザーに流れる電流を制御するトランジス
    タを備え、電源から供給される異なる大きさの複数の電
    圧を用いて定電流を生成し、前記半導体レーザーに流れ
    る電流が定電流になるように制御する電流制御手段と、 前記電源を遮断するときに、前記電流制御手段により電
    流が生成されないように前記複数の電圧の少なくとも1
    つの供給を停止する電源遮断手段と、 を備えた半導体レーザー駆動装置。
  2. 【請求項2】 供給された電流の大きさに応じた出力の
    レーザービームを射出する半導体レーザーと、 電源に接続され、2つの定電圧を供給する定電圧手段
    と、 前記半導体レーザーに流れる電流を制御するトランジス
    タ、及び一端が該トランジスタに接続されかつ他端が定
    電位になるように前記定電圧手段から一方の定電圧が供
    給される抵抗を備え、前記定電圧手段から供給される他
    方の定電圧を用いて該トランジスタと該抵抗との接続点
    のレーザー制御電位を制御することにより定電流を生成
    し、前記半導体レーザーに流れる電流が定電流になるよ
    うに制御する電流制御手段と、 前記レーザー制御電位と前記定電位との電位差が減少す
    るように電源を遮断する電源遮断手段と、 を備えた半導体レーザー駆動装置。
  3. 【請求項3】 前記電源遮断手段は、前記レーザー制御
    電位が前記定電位に近づくように前記電流制御手段で用
    いた他方の定電圧の供給を停止することを特徴とする請
    求項2に記載の半導体レーザー駆動装置。
  4. 【請求項4】 前記電源遮断手段は、前記定電位が前記
    レーザー制御電位に近づくように前記抵抗に供給される
    一方の定電圧の供給を停止することを特徴とする請求項
    2に記載の半導体レーザー駆動装置。
  5. 【請求項5】 前記電源遮断手段は、前記レーザー制御
    電位及び前記所定電位が相互に近づくように前記電流制
    御手段で用いた他方の定電圧及び前記抵抗に供給された
    一方の定電圧の両方の定電圧の供給を停止することを特
    徴とする請求項2に記載の半導体レーザー駆動装置。
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