JPH0670231U - 薄膜形成装置 - Google Patents
薄膜形成装置Info
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 基板の全幅にわたって均一で安定した膜厚の
薄膜を形成する。 【構成】 ガイド溝4に沿って搬送される基板aの表面
側に成膜室2が形成され、この成膜室2を通過する基板
aがヒーター23で加熱される。導入口27から成膜室
2内に霧状またはガス状の薄膜の原料が導入されるが、
この導入口27と基板搬送路上の基板とを遮る障壁25
が設けられており、導入口27から導入された原料は、
直接基板aに当たらず、まず障壁25に当り、分散され
た後、障壁25の先端から基板a側に流れてその成膜面
に当たる。このため、基板aの両側部にも充分な原料が
回り込み、中央部から両側部にわたって均一で安定した
膜厚の薄膜が形成できる。薄膜の形成に消費されなかっ
た原料は、排出口29から成膜室2の外部に排出され
る。
薄膜を形成する。 【構成】 ガイド溝4に沿って搬送される基板aの表面
側に成膜室2が形成され、この成膜室2を通過する基板
aがヒーター23で加熱される。導入口27から成膜室
2内に霧状またはガス状の薄膜の原料が導入されるが、
この導入口27と基板搬送路上の基板とを遮る障壁25
が設けられており、導入口27から導入された原料は、
直接基板aに当たらず、まず障壁25に当り、分散され
た後、障壁25の先端から基板a側に流れてその成膜面
に当たる。このため、基板aの両側部にも充分な原料が
回り込み、中央部から両側部にわたって均一で安定した
膜厚の薄膜が形成できる。薄膜の形成に消費されなかっ
た原料は、排出口29から成膜室2の外部に排出され
る。
Description
【0001】
本考案は、加熱した基板の表面に気化或は霧化した原料を当てて、基板上に薄 膜を形成する装置に関する。
【0002】
太陽電池、液晶表示装置、プラズマ表示装置等に用いられる透明導電膜は、酸 化錫や酸化インジウム錫の薄膜により形成される。この透明導電膜は、例えば、 霧化装置によって生じた原料溶液の霧を、成膜用ノズルから加熱された基板に向 けて放出し、加熱された基板上で反応、成膜させる。この方法で透明導電膜を形 成する場合に用いられている霧化薄膜形成装置の例を、図6に示す。
【0003】 この装置では、基板搬送路となるガイド溝4が水平に設けられ、薄膜を形成す る基板aがその両側を前記ガイド溝4に保持された状態で、図において左から右 へと矢印で示す方向に順次押し進めながら搬送される。このガイド溝4による基 板aの搬送経路の上には、そこを通過する基板aを加熱するヒーター23が設け られている。他方、ガイド溝4による基板aの搬送経路の下に成膜室2が形成さ れており、この成膜室2の底面には、その外部に設けた霧化器26から成膜室2 内の基板aの成膜面(図6において下面)に向けて気体或は霧状の原料を供給す るための原料供給ダクト20と、成膜室2から原料を排気するための排気ダクト 22が基板aの搬送方向に離れて設けられている。
【0004】 この薄膜形成装置では、ガイド溝4に乗って搬送される基板aが成膜室2に導 入されると、その上に設けられたヒーター23で加熱される。この基板aは、原 料供給ダクト20の先端の真上に達するまでに成膜に必要な所定の温度にまで加 熱される。そして、原料供給ダクト20の先端から同基板aの成膜面に原料が当 てられると、例えば、基板aの保有する熱により原料が分解し、さらに分解した 原料が空気中の酸素等と反応し、基板aの成膜面上に酸化物等の薄膜が形成され る。基板aの表面に薄膜を形成するのに寄与しなかった原料は、排気ダクト22 から排気される。この排気ダクト22を通過した基板aは、その温度が次第に下 げられ、その後薄膜形成装置から基板aが排出される。 なお、図6の装置では、原料を下側から基板aの下面吹き当てるものであるが 、霧状或はガス状の原料を基板aの上側から流して基板aの上面側に薄膜を形成 する装置も知られている。
【0005】
前記従来の装置でガラス板等の基板6の表面に透明導電膜を形成した場合、基 板aの中央部の透明導電膜の膜厚が概ね一定で安定しているのに対し、基板aの 両側部の透明導電膜の膜厚が不均一で不安定になるという欠点があった。例えば 、第5図のx=0のグラフに示されたように、基板aの中央部の透明導電膜の膜 厚が厚く、両側部の透明導電膜の膜厚がこれに比べて極端に薄くなる。
【0006】 これは、原料供給ダクト20から成膜室2の中に導入された霧状或はガス状の 原料が基板aの中央付近で多く当り、基板aの両側部分では充分な原料が当り難 いのが第一の原因である。また、成膜室2の中に導入された後、排気ダクト22 側に流れる霧状或はガス状の原料は、成膜室2の側壁の抵抗を受けて、成膜室2 の両側部で霧の流れが不安定になり、例えば単位流路断面積当りの流量が中央部 に比べて少なくなるのが第二の原因である。
【0007】 このような透明導電膜の膜厚の不均一状態が生じると、基板aの両側に干渉縞 が現れ、外観上好ましくないばかりでなく、特に膜厚の薄い基板aの両側部では 、透明導電膜として必要な特性が得られない。このため、使用に際しては、膜厚 の薄い基板aの両側部分を除去しなければならない。
【0008】 例えば、基板6の中央部の膜厚に対して±5%の膜厚の違いが生じる両側の部 分を除去して使用した場合、従来の装置でガラス基板上に酸化錫膜を形成したと きに、この基準で除去されるのは、ガイド溝4により保持される基板aの両側端 の部分を除いた有効成膜幅の約30%にも及ぶ。従って、実際に使用できるのは 、基板aの有効成膜幅の約70%に過ぎず、製品の歩留りが悪いという欠点があ った。 本考案は、前記従来の薄膜形成装置の課題に鑑み、基板の全幅にわたって均一 で安定した膜厚の薄膜を形成することができる薄膜形成装置を提供することを目 的とする。
【0009】
すなわち、本考案では、前記の目的を達成するため、薄膜を形成する基板aを 搬送する基板搬送路と、該基板搬送路に沿って搬送される基板aの表面側に形成 された成膜室2と、前記基板搬送路に沿って成膜室2を通過する基板aを加熱す るヒーター23と、成膜室2内に霧状またはガス状の薄膜の原料を導入する導入 口27と、成膜室2内から原料を排出する排出口29とを有する薄膜形成装置に おいて、前記成膜室2の原料の導入口27側にあって、同導入口27と基板搬送 路上の基板aとを遮る障壁25が設けられていることを特徴とする薄膜形成装置 を提供する。 なおこの場合において、障壁25は、その先端縁の位置が原料の導入口27と 排出口29との間で移動調整可能に取り付けるのがよい。
【0010】
前記本考案の薄膜形成装置では、成膜室2の原料の導入口27側に、同導入口 27と基板搬送路上の基板とを遮る障壁25が設けられているため、原料供給ダ クト20から導入口27を通って成膜室2に導入された原料が直接基板aに当た らず、まず障壁25に当り、分散される。その後、障壁25の先端から基板a側 に流れてその成膜面に当たる。このため、基板aの両側部にも充分な原料が回り 込み、中央部から両側部にわたって均一で安定した膜厚の薄膜が形成できる。
【0011】 また、障壁25の先端縁の位置が原料の導入口27と排出口29との間で移動 調整可能に障壁25を取り付けた場合、導入口27から成膜室に導入された原料 を障壁25で分散する区間の長さを調整することが可能となる。これにより、基 板aの成膜面への成膜状態に応じて、原料の分散状態を調整することができ、最 適な障壁25の配置が可能となる。
【0012】
次に、図面を参照しながら、本考案の実施例について具体的に説明する。 本考案の第一の実施例による薄膜形成装置を図1〜図3に示す。この装置は、 基本的に前記従来の薄膜形成装置と同じ構成を有している。すなわち、基板搬送 路となるガイド溝4が水平に設けられ、薄膜を形成する基板aが、その両側をこ のガイド溝4にスライド自在に保持され、図において左から右へと矢印で示す方 向に押し進めながら順次搬送される。このガイド溝4による基板aの搬送経路の 上側に、そこを通過する基板aを上から加熱するための互いに独立に制御可能な 3つのヒーター23が設けられている。
【0013】 他方、ガイド溝4による基板aの搬送経路の下側に成膜室2が形成されており 、この成膜室2の下壁部21には、その外部に設けた霧化器26から成膜室2内 の基板aの成膜面に向けて霧状の原料を供給する原料供給ダクト20が接続され 、その導入口27が基板aの下面である成膜面に向けて下壁部21に開口してい る。この導入口27から基板aの搬送方向に離れて、成膜室2から原料を排気す るための排気ダクト22が成膜室2の下壁部21に接続され、その排出口29が 下壁部21に開口してい。
【0014】 この図1〜図3に示された薄膜形成装置では、前記導入口27側に、その導入 口27と基板aの下面である成膜面とを遮蔽する邪魔板状の障壁25が設けられ ている。その障壁25はグラファイト等からなる板状のものであり、図2に示さ れたように、その幅は成膜室2の全幅にわたっている。また、図1に示されたよ うに、障壁25の基端側は、成膜室2の一端側に設けられた障壁支持部28にス ライド自在に支持され、ガイド溝4と平行な方向にスライドできるようになって いる。障壁25の先端側は自由端となっており、同先端側は通常の場合、導入口 27と排出口29との間に配置される。前記障壁25のガイド溝4と平行な移動 により、同障壁25の先端の位置、つまり図3に示すような導入口27と障壁2 5の先端の距離xが或る程度の範囲で任意に調整できる。
【0015】 この障壁25は、通常の場合、その先端縁がガイド溝4に対して直交する直線 となった矩形ものが用いられる。図4は、この障壁25の先端形状のその他の例 を示しているが、同図(a)の例は、中央が先に突出した舌状の障壁25である 。これは、基板aの成膜面の中央部よりも両側部から先に原料を基板a側に流し て当たるようにすることで、基板aの成膜面の幅方向の成膜々厚の均一化を図る のに有効である。まれには図4(b)で示すように、中央部が窪んだ同図(a) とは逆形状の障壁25も使用される。
【0016】 図5のグラフは、図1〜図3に示す装置を使用してガラス板からなる基板aの 表面に薄膜として酸化錫膜を形成した場合の基板aの幅方向の位置の平均膜厚を 示すものである。すなわち、原料としては、SnCl4・5H2Oの10%水溶液 を用い、幅220mm(有効成膜幅200mm)の基板aの下20mmの位置に 前記原料溶液の霧を導入する導入口27を開口させた。この導入口27から20 mmの高さに、成膜室2の幅と同じ幅200mmであって、長さ400mm、厚 さ1mmのグラファイト板からなる障壁25をガイド溝4と平行に設置した。そ の障壁25の先端縁は、ガイド溝4と直交する直線である。そして、図3に示す 障壁25の先端縁の前記導入口27の縁からの距離xを0mm、40mm、80 mmと各々段階的に変えて成膜した。
【0017】 この図5に示すグラフから明かな通り、障壁25を実質的に設けない場合、つ まり図3に示す距離xがx=0のとき、基板aの全体の膜厚は比較的厚いが、そ の中央部と両側部の膜厚の差が大きい。この例では、基板aの中央部の膜厚に対 して−5%以上の膜厚が得られるのは、基板aの有効成膜幅の約70%である。 これに対して、障壁25を設けた場合、つまり図3に示すx=40或はx=80 とした場合、基板aの全体の膜厚が比較的薄くなるが、その分中央部と両側部の 膜厚の差が小さくなる。この例では、基板aの中央部の膜厚に対して−5%以上 の膜厚が得られるのは、x=40mmの場合に基板aの有効成膜幅の約85%で あり、x=80mmの場合に基板aの有効成膜幅の約90%である。
【0018】 次に、図7に示した実施例について説明する。この実施例による薄膜形成装置 では、基板搬送路に沿って走行するメッシュベルトコンベア15に乗って、薄膜 を形成する基板aが図において左から右へと矢印で示す方向に順次搬送される。 このメッシュベルトコンベア15により基板aを搬送する基板搬送路の上、成膜 室2が形成されており、この成膜室2の下には、そこを通過する基板aを下から 加熱するためのヒーター23、23…が設けられている。
【0019】 さらに、成膜室2の上壁部24には、その外部に設けた原料供給源(図示せず )から成膜室2内の基板aの成膜面に向けて気体或は霧状の原料を供給するため の原料供給ダクト20が接続され、その導入口27が基板aの上面である成膜面 に向けて上壁部24に開口している。また、この導入口27から基板aの搬送方 向に離れて、成膜室2から原料を排気するための排気ダクト22が成膜室2の上 壁部24に接続され、その排出口29が上壁部24に開口してい。
【0020】 この図7に示された薄膜形成装置でも、前記導入口27側に、その導入口27 と基板aの上面である成膜面とを遮蔽する邪魔板状の障壁25が設けられている 。この障壁25の基端側は、成膜室2の一端側の障壁支持部28にスライド自在 に支持され、ガイド溝4と平行な方向にスライドできる。障壁25の先端側は自 由端となっており、導入口27と排出口29との間に配置されている。
【0021】
以上説明した通り、本考案によれば、基板の中央部と両側部との膜厚の差を小 さくし、基板の全幅にわたって均一で安定した膜厚の薄膜を形成することができ るため、基板の有効成膜幅に対して利用可能な膜厚の薄膜を得られる幅に割合を 大きくすることができる。これにより、薄膜形成の歩留りを向上させることが可 能となる。
【図1】本考案の第一の実施例による薄膜形成装置を示
す概略縦断側面図である。
す概略縦断側面図である。
【図2】図1のA−A線断面図である。
【図3】同第一の実施例による薄膜形成装置を示す要部
拡大概略縦断側面図である。
拡大概略縦断側面図である。
【図4】同実施例による薄膜形成装置に使用される障壁
の先端形状の例を示す平面図である。
の先端形状の例を示す平面図である。
【図5】同第一の実施例による薄膜形成装置における基
板の幅方向の平均膜厚を示すグラフである。
板の幅方向の平均膜厚を示すグラフである。
【図6】従来例による薄膜形成装置を示す概略縦断側面
図である。
図である。
【図7】本考案の第二の実施例による薄膜形成装置を示
す概略縦断側面図である。
す概略縦断側面図である。
2 成膜室 4 ガイド溝 15 メッシュベルトコンベア 23 ヒーター 25 障壁 27 原料の導入口 29 原料の排出口 a 基板
Claims (2)
- 【請求項1】 薄膜を形成する基板(a)を搬送する基
板搬送路と、該基板搬送路に沿って搬送される基板
(a)の表面側に形成された成膜室(2)と、前記基板
搬送路に沿って成膜室(2)を通過する基板(a)を加
熱するヒーター(23)と、成膜室(2)内に霧状また
はガス状の薄膜の原料を導入する導入口(27)と、成
膜室(2)内から原料を排出する排出口(29)とを有
する薄膜形成装置において、前記成膜室(2)の原料の
導入口(27)側にあって、同導入口(27)と基板搬
送路上の基板(a)とを遮る障壁(25)が設けられて
いることを特徴とする薄膜形成装置。 - 【請求項2】 前記請求項1において、障壁(25)の
先端縁の位置が、原料の導入口(27)と排出口(2
9)との間で移動調整可能であることを特徴とする薄膜
形成装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993013292U JP2588076Y2 (ja) | 1993-02-27 | 1993-02-27 | 薄膜形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993013292U JP2588076Y2 (ja) | 1993-02-27 | 1993-02-27 | 薄膜形成装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0670231U true JPH0670231U (ja) | 1994-09-30 |
| JP2588076Y2 JP2588076Y2 (ja) | 1999-01-06 |
Family
ID=11829125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993013292U Expired - Lifetime JP2588076Y2 (ja) | 1993-02-27 | 1993-02-27 | 薄膜形成装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2588076Y2 (ja) |
-
1993
- 1993-02-27 JP JP1993013292U patent/JP2588076Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2588076Y2 (ja) | 1999-01-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19980929 |