JPH0670643B2 - 加速度計 - Google Patents

加速度計

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JPH0670643B2
JPH0670643B2 JP3327436A JP32743691A JPH0670643B2 JP H0670643 B2 JPH0670643 B2 JP H0670643B2 JP 3327436 A JP3327436 A JP 3327436A JP 32743691 A JP32743691 A JP 32743691A JP H0670643 B2 JPH0670643 B2 JP H0670643B2
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silicon
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mass
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accelerometer
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スティーヴン・エドワード・スタラー
デーヴィッド・ウィリアム・デ・ロー
Original Assignee
デルコ・エレクトロニクス・コーポレーション
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    • G01P3/42Devices characterised by the use of electric or magnetic means
    • G01P3/44Devices characterised by the use of electric or magnetic means for measuring angular speed
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    • G01P2015/084Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass the mass being suspended at more than one of its sides, e.g. membrane-type suspension, so as to permit multi-axis movement of the mass
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】この発明は加速度計に関し、特に、測定用
塊部(proof mass)の過度の撓みを防止する
手段を含むような型式の加速度計に関する。
【0002】加速度計は、航行システム(航海と航空
術)、特に慣性航行システムと計器盤による自動安全コ
ントロールシステムに用いられる主要なセンサーの一つ
である。加速度計の自動車への応用例には、例えば、各
種のアンチブロックのブレーキシステム(ABS)、活
性サスペンションシステム、シートベルト自動締め付け
装置などがある。
【0003】一般的な用語では、加速度計とは加速度を
測定する、もっと詳しく言えば、物体が速度を変える時
に加えられる力を測定する装置である。物体は慣性を所
有し、これが物体に速度の変化に対する抵抗性を生じさ
せる原因である。物体が加速される時に物体によって加
えられる力の源となるのは、速度の急激な変化に対する
他ならぬ此の抵抗力である。この力は運動の方向の加速
成分に比例し、加速度の尺度を与える為に加速度計によ
って用いられる。
【0004】典型的な加速度計では、塊部の向かい合う
両側に接続された二本のスプリングによって塊部が懸垂
される(吊り下げられる)。塊部は系が静止中または一
定速度で運動している限り、ニュウトラル(中立)の位
置に保たれる。系がスプリングの軸方向またはスプリン
グ軸に垂直方向に速度の変化を受けて、これらの方向の
どちらかに加速される時は、塊部の上に取り付けられた
スプリングが、最初は塊部の持つ慣性の故にその方向に
沿った運動に抵抗する。運動に対する此の抵抗力、即
ち、運動の遅れ(delay)が一時的にスプリングを
強制的に伸縮、若しくは圧縮させる力を及ぼす。各スプ
リング上に作用する引張力又は圧縮力は、塊部の重さと
塊部の加速度の積に比例する。そうなれば加速度は塊部
が経験する速度の変化によって決定される。
【0005】一対の圧電気(piezoelectri
c)ミクロブリッジによって懸垂された測定用塊部を有
する集積回路のミクロ加速度計もまた知られている。こ
の型式の加速度計の図解例は、日本国特許公開No.1
83,167/90の中に開示されている。この型式の
ミクロ加速度計では、測定用塊部は少なくとも一対の圧
電気ミクロブリッジによって懸垂される。一対のミクロ
ブリッジは、測定用塊部の共通軸に沿って向き合う両端
に取り付けられている。塊部の加速度は各圧電気ブリッ
ジの上に作用する力の変化によって決定される。このタ
イプの共鳴ミクロ加速度計は、ミクロ機械的(micr
omechanical)な共鳴構造体の振動数が物理
的または化学的シグナルに対して高度に敏感性になる様
に為し得るので精密測定用に魅力がある。
【0006】これらの及びその他の型式のミクロ加速度
計の製造に関しては欠点がある。測定用塊部が懸垂され
るミクロブリッジは、典型的には、極端に薄い物質、一
般にはシリコンの層から形成される。これらの薄いミク
ロブリッジは、若しも測定用塊部を過度に撓むままに任
せるならば、損傷に対して極端に敏感である。従って、
測定用塊部は測定目的に対しては適当なシグナルを生じ
るに足る程度に撓んでも良いが、しかし、ミクロ加速度
計のミクロブリッジ又は他の成分に劣化をもたらす程大
きくは撓まないのが望ましい。従来からの一般的慣行と
しては、互いに両立する物質から成る二つの他のウエフ
ァーの間に加速度計の成分を組み込んだシリコンのウエ
ファーをサンドウィッチして、測定用塊部が撓むことが
できるように測定用塊部と二つの周囲のウエファーの各
々の間に予め決められた厚さの間隙(gap)を設ける
ことであった。間隙はセンサーの設計上の要求に従って
選ばれ、測定用塊部が周囲上下のウエファーに接触する
前に、測定用塊部がそれ以上撓むのを防止するように予
め決められた距離だけ撓むのを許すようになっている。
【0007】しかしながら、装置ウエファーが互いに両
立する物質の二つのウエファーの間にサンドウィッチさ
れる型式のミクロ加速度計を製造する現行の方法に関連
して困難性がある。一つの共通した方法は、シリコンの
ミクロ加速度計装置を二つのガラス板(ガラス板の各は
測定用塊部の撓みを許すように適当な高さの窪みを持っ
ている)の間で静電結合することであった。しかしなが
ら、シリコンウエファーとガラスウエファー間の熱膨張
係数の不整合(不一致)が、ミクロ加速度計が満足でき
る操作性を持つ必要がある広い温度領域に亙って熱的に
誘発された応力を齎らす。このことはミクロ加速度計が
自動車に用いられるならば特に然りである。同じく又、
ガラスに必要とされる深さの窪みを形成するように加工
することは元来困難である。これらの理由から、シリコ
ンのミクロ加速度計ウエファーを二枚のガラス板の間で
結合する現行の此の慣行は受け入れられないことが見出
だされた。
【0008】ミクロ加速度計を形成する別の方法はシリ
コン装置を二つのシリコンウエファーの間にサンドウィ
ッチするものであり、周囲上下の二枚のシリコンウエフ
ァーの各には測定用塊部の撓みを受け入れる窪みが適当
に設けられている。シリコンウエファーは、次に慣用の
金共融結合技法を用いて結合される。しかしながら、こ
の方法は熱膨張係数の不一致の問題を緩和するものであ
るとはいえ、それでも此の方法にも問題点が多い。共融
混合物を用いる結合の形成を始める為には、結合させる
表面間で密着性を確実なものとする為に、予めウエファ
ーの表面を攻撃的にスクラビング(ブラシや布でごしご
し擦する)しなければならない。この攻撃的な処置は装
置成分にとって有害であるから、ひと度ミクロ加速度計
の成分が中間層のシリコンウエファーの上に形成された
以上は、このような処置は簡単には為し得ない。それで
も尚、周囲のウエファーをミクロ加速度計に結合できる
のは、成分が形成された後のみしかない。従って、この
方法も又、受け入れることはできない。
【0009】本発明は改良された加速度計を提供しよう
とするものである。
【0010】本発明の一つの面によれば、特許請求の範
囲第1項に示すような加速度計が提供される。
【0011】本発明の別の面によれば、特許請求の範囲
第10項に示すような加速度計の形成方法が提供され
る。
【0012】本発明は、装置に不必要な残留応力を齎ら
さないように加速度計と周囲のウエファー間の結合が比
較的低い応力水準を持つような加速度計を提供する。更
に、結合されたウエファー間の間隙設定(spacin
g)の正確で精密な制御を一層容易にする手段と、一方
では同じく又、好ましくは、測定用塊部の過度の撓みを
防止する為に加速度計の設計に組み込まれた停止手段
(ストップ)を提供することができる。このような結合
は、同じくまた加速度計の成分に劣化を与えずに、例え
ば、いかなる攻撃的なスクラビング型の操作も用いずに
比較的低い温度で形成することが可能である。
【0013】本発明の加速度計は、加速度計の平面と垂
直な平面における測定用塊部の加速度を正確に決定する
のに適している。
【0014】一つの具体例では、加速度計は本質的に単
結晶の平面に沿って配向されたシリコン基板から構成さ
れる。単結晶のシリコン基板は、好ましくは、互いに事
実上平行な前面(front surface)と裏面
(back surface)及びシリコン基板の内部
にあるミクロブリッジから測定用塊部が懸垂されるよう
にシリコン基板の内部に形成された測定用塊部を有す
る。従って、シリコン基板とミクロブリッジ部位を除く
測定用塊部との間では事実上、至る所に間隙(gap)
が設けられることになる。
【0015】塊部の加速度の変化を検出する為の電子手
段がシリコン基板と測定用塊部の前面に好便に設けられ
る。これらの検出手段は、測定用塊部の運動の変化を検
出することによって測定用塊部の平面内の加速度の表示
を与えることができる。
【0016】加速度計は、測定用塊部の平面に垂直方向
の、即ち、z−軸方向の測定用塊部の過度の変位を防止
するように、その外周近くでシリコンのキャッピング
(蓋)プレートとシリコンのバックプレート(back
plate、後板)に結合される。
【0017】加速度計は、好ましくはミクロ加速度計で
ある。
【0018】シリコンの蓋プレートとシリコンのバック
プレートの双方は、それらがシリコン基板に結合されて
いるその外周に隣接する領域の回りに連続的に設けられ
た所定の高さの支持カラム(support colu
mn、支持円柱)を持つように機械加工される。蓋プレ
ートはミクロ加速度計の前面に結合され、バックプレー
トは各支持円柱の近傍でミクロ加速度計の後面に結合さ
れる。シリコンプレートは、好ましくは、ウエファーの
外周に設けられた適当な接着剤手段によって相互に結合
される。接着剤の結合は、好ましくは広い温度範囲に亙
って低い残留応力を有し、ミクロ加速度計の成分に不必
要な劣化を与えることが無いように比較的低い温度で形
成することができる。それに加えて、接着剤結合はミク
ロ加速度計の使用中又は一体組み立て(packagi
ng)中の振動に由来する応力からミクロ加速度計を或
る程度隔離する作用を与える。
【0019】支持カラムはプレートの各の内部に窪み領
域を与えることができる。窪み領域は支持カラムの所在
場所と支持カラムの高さと等しい深さによって決定され
るだろう。窪み領域は加速度計の測定用塊部がこれらの
窪み領域内に撓むことを可能にする。従って、支持カラ
ムの予定される高さは、好ましくは、ミクロ加速度計に
対する設計の明細を最適化するように選ばれ、正確にコ
ントロールすることができる。
【0020】各プレートの窪んだ領域の内部に、ミクロ
加速度計の前面と後面に対して垂直方向の検定用塊部の
過度の撓みを防止する為に、少なくとも一つの停止部材
を設けることができる。各プレート上の停止部材は、好
ましくは、支持カラムの最初に予定した高さよりも低い
二番目に予定した高さの二番目に機械加工されるカラム
である。
【0021】以下に、付随する図面を参照しながら、本
発明の一つの具体例を記述するが、これは飽くまでも単
なる例示である。
【0022】図1に示されるように、加速度計10は、
その測定用塊部12がミクロ加速度計10の平面に対し
て垂直方向に(換言すれば、図1に関して紙面の平面の
横方向または平面と垂直方向または平面の外方向に)動
く時に加速度の尺度(又は、指標)を与えるように適合
される。
【0023】ミクロ加速度計10は単結晶の結晶面に事
実上、沿って配向されたシリコン基板14から形成され
る。シリコン基板14は、最適結果のミクロな機械加工
(超精密機械加工)の目的には、結晶面〈100〉に沿
って配向した単結晶であるのが好ましいが、しかし、シ
リコン基板14が結晶面〈110〉に沿って配向したも
のでもあったも適当な結果が得られる。
【0024】単結晶のシリコン基板14は、事実上、互
いに平行な前面と後面16、18から構成される。測定
用塊部12は、シリコン基板14の内部に形成され、ミ
クロブリッジ22によって加速度計10の残りの部分の
上に支持される。好ましい具体例では、測定用塊部12
の周囲に均等に配置された四つのミクロブリッジが提供
される。
【0025】測定用塊部12は、日本国特許出願No.
224,344/91に開示されるように既知のミクロ
超精密機械加工を用いて形成される。シリコン基板14
をミクロ超精密機械加工する代りの慣用的な方法も又、
測定用塊部12とミクロブリッジ22を形成する為に用
いることができる。
【0026】間隙20は測定用塊部12とシリコン基板
14の間に設けられていて、間隙に残るのは測定用塊部
12を基板14に接合するミクロブリッジ22だけで、
あとは空間である。
【0027】測定用塊部12の加速度の変化を検出する
為の電子手段は、測定用塊部12とミクロブリッジ22
を含むシリコン基板14の前面16の事実上、全体を覆
うように設けられている。電子手段は斜めに陰影を付け
た領域24によって描写されている。使用中、電子手段
24は測定用塊部12によって運動の変化を検出し、そ
れを適当なシグナルに変えることによって、測定用塊部
12の平面内(即ち、図1に示される展望図において紙
平面の横脇又は紙面を貫いて又は紙面から外へ向かう方
向へ)の加速度を何等かの適当な方法によって表示す
る。
【0028】一般に、ミクロ加速度計10はシリコン基
板14の平面内の加速度の成分を下記の技法によって測
定する。好ましくは、シリコンのミクロ加速度計10
は、ミクロ加速度計の平面のx−軸とy−軸に沿って夫
れぞれが位置するように互いにシリコンの測定用塊部に
対して直交(直角に交叉する)して取り付けられた二対
のミクロブリッジを含む(図1と2の断面図には一対の
ミクロブリッジ22のみを示す。二番目の一対のミクロ
ブリッジは最初の一対22と直交している)。一次(微
分係数)の温度効果と物質効果を償却する為に、測定用
塊部12の対向する両側に取り付けられたミクロブリッ
ジ22は、加速中に二対のミクロブリッジの各が同等の
差分軸荷重を経験するように整合されねばならない。シ
リコン基板14と同一平面内の加速度によって測定用塊
部12の上に掛かる慣性力(inertial for
ce)は対向する各ペア(対)のミクロブリッジの上に
差分軸荷重を発生し、それによってミクロブリッジ22
の各の中に形成されたピエゾ(圧電)抵抗素子(pie
zoresistor)に相当する変化を生ずる。
【0029】ミクロ加速度計10は、その周辺部26と
28の近傍で夫れぞれ、シリコンのキャッピング(蓋)
プレート30とシリコンのバックプレート(後板)32
に結合する。キャッピングプレート30とバックプレー
ト32の目的は、使用中の電子検出手段24と測定用塊
部12の双方を保護することと、測定用塊部12とシリ
コン基板14の同一平面に対して垂直方向、即ち、z−
軸方向に測定用塊部の過度の変位を防止することであ
る。シリコン基板14と二つのシリコンプレート30と
32の間の結合は比較的低い応力を有すると共に、測定
用塊部12がミクロ加速度計10と此等二つのプレート
30と32との間で撓む間隔を精確にコントロールする
手段を与える。
【0030】シリコンのキャッピングプレート30とシ
リコンのバックプレート32の双方は、シリコン基板1
4を支持するように夫れぞれ所定の高さを持ち、シリコ
ン基板14の周辺に連続的に配置された支持カラム34
を持つように機械加工される。支持カラム34,36の
外周には、プレート30,32をミクロ加速度計10に
結合する為の結合28(図2)が設けられている。支持
カラム34と36は、慣用の型押し(patterni
ng、鋳型)と蝕刻(etching)の技法を用いて
シリコン基板14から機械加工される。支持カラム34
と36の高さはカラムの形成と測定用塊部12と各プレ
ート30と32の間の間隙の高さ、及びそれらに対応し
た測定用塊部12に対して許容される撓み量または制動
距離(damping distance)を本質的に
決定するのに必要な特定の機械装置と加工技術などのパ
ラメーターによって決定される。この制動距離は、ミク
ロ加速度計10の性能と動作にとって臨界的に重要なフ
ァクターであり、支持カラム34と36の高さによって
正確にコントロールすることができる。支持カラム34
と36は必ずしも同一の高さを持つ必要は無い。尤も、
大抵の応用例でも同じことは当然予見できることではあ
るが。
【0031】キャッピングプレート30はミクロ加速度
計10の前面16に、バックプレート32はミクロ加速
度計10の後面18に、夫れぞれ支持カラム34,36
に隣接する各領域26と28において結合されている。
結合された領域26と28は、支持カラム34と36及
びシリコン基板14の各相手方の表面との間の緊密な接
触を保証する為に、支持カラム34と36に隣接してい
ることが好ましい。
【0032】シリコン基板14、キャッピングプレート
30とバックプレート32は、領域26と28において
適当な接着剤により一緒に結合される。プレート14,
30及び32の間で完全な結合を保証する為に、接着剤
はキャッピングプレート30とバックプレート32の外
周に沿って連続的に与えられるべきである。図2に示さ
れる一つの図解例として、バックプレート32は、バッ
クプレート32の支持カラム36に隣接する領域28に
接着剤を適用することによって、シリコン基板14に結
合される。接着剤は基板の上に従来法に従ってスクリー
ン印刷しても良いし、又は、接着剤を沈着させる為の他
の適当な代わりの方法を用いることもできる。
【0033】接着剤は、好ましくはRTV(自然加硫)
型式の接着剤のようなシリコンゴムであるべきである。
RTV接着剤の特に適当なタイプは、Dow Chem
ical社から製品コードQ36611の名前で市販さ
れている。他の適当なRTV接着剤も、その他のタイプ
の接着剤と並んで用いることができる。
【0034】接着剤を塗布した後に、シリコン基板14
とシリコンプレート30,32を図1に示されるように
プレート14,30及び32を積み重ね、接着剤が硬化
する迄プレートの積層体に適当な重量を加えて一緒に結
合する。重量は必ずしも必要ではないが、重量を加えれ
ば接着剤の硬化過程でプレート14,30及び32の間
の緊密で完全な接触を確かなものとする。
【0035】接着剤の硬化プロセスは比較的低い温度で
行なわれ、勿論、そのような低温ならば、仮令電子成分
24を形成した後にプレート14,30及び32を一緒
に結合しなければならないとしても、接着剤の硬化中に
ミクロ加速度計10又はその電子成分(領域24として
描写されている)に何等意味のある損傷を齎らさないだ
ろう。好ましい接着剤であるDow Chemical
社のQ36611自然加硫型接着剤の場合は、約150
℃の温度で約3〜4時間の硬化条件が用いられる。
【0036】ミクロ加速度計10の内部の接着剤結合2
6と28は、広い温度範囲でも残留応力は低い水準に留
どまる。硬化の後でさえ、接着剤結合26と28は、何
時迄も若干の可撓性を持つので、それにより使用中とパ
ッケージング中のミクロ加速度計に対して或る程度の応
力遮断の役目を果たす。それに加えて、シリコン基板1
0はキャッピングプレート30とバックプレート32と
同じ材質であるから、熱膨張係数の不一致に因る熱誘発
応力は事実上、存在しない。このようなミクロ加速度計
10の成分の結合方法は、極めて小さな残留応力を持っ
た装置を齎らすから、製品は広い温度範囲に亙って良好
な性能を示す。
【0037】支持カラム34と36が、シリコンプレー
ト30と32の各の内部に夫れぞれ奥まった窪みの室3
8と40を形成していることは注目すべき点である。窪
み領域38と40は対応する支持カラム34と36の所
在位置によって決定される直径と支持カラムと等しい深
さを持っている。窪み領域38と40は加速度計10の
測定用塊部12が、ミクロ加速度計10の前面と後面1
6と18に対して垂直なz−軸方向へ撓むことが出来る
ようにしている。各プレート30と32の窪み領域38
と40の内部には、夫れぞれ少なくとも一つの停止部材
42と44が設けられていて測定用塊部12の過度の撓
みを防止するようになっている。各プレート、30,3
2の上にある停止部材42,44は、好ましくは、支持
カラム34と36の最初の機械加工に予定された高さよ
りも低い高さを持った二番目の機械加工のカラムであ
る。ストップカラム42と44は、シリコンに対して用
いられる慣用の型押しと蝕刻の技法を用いて機械加工さ
れ、支持カラム34,36と同時に形成することができ
る。
【0038】ストップカラム42と44の高さは多少は
変えても良いが、しかし、その高さは測定用塊部12に
よる若干の撓みを許せる程度に、支持カラム34と36
の高さより常に低くくする。ストップカラム42,44
の高さと支持カラム34,36の高さの差(及びそれに
対応して測定用塊部12の撓みに対する制動距離)は、
加速度計の特定の用途に依存して多少の違いがある。低
い加速度を検出するミクロ加速度計の場合は、二つの種
類のカラムの高さの間の差は、測定用塊部12による撓
みの大きさが小さくなるように少なくすべきである。逆
に、もっと大きな加速度を検出する加速度計10の用途
に対しては、支持カラム34,36とストップカラム4
2,44の両者の高さの差を、測定用塊部12にもっと
大きな運動を許せるように、もっと大きくすることが必
要である。当然のことながら、ストップカラム42と4
4は測定用塊部に十分な動きは許すが、しかし、過度の
撓みから測定用塊部12を保護するものでなければなら
ない。
【0039】特別な用途としては、約25Gに達する加
速度を測定するように設計されたミクロ加速度計10の
場合、支持カラム34,36とストップカラム42,4
4の両者の高さの差は約5ミクロメートルである。従っ
て、測定用塊部12は、キャッピングプレート30の上
に設けられたストップ42又はバックプレート32の上
に設けられたストップ44と接触する迄に、どちらかの
方向に5ミクロメートル丈撓むことが許される。実際上
は、この高さの差は普通は約5ミクロメートルを越えな
いことが見出された。
【0040】停止部材42と44の高さは等しくある必
要は無いが、しかし、実際上は常に大凡そ等しくなる可
能性が高い。更に、各プレート30,32の上にあるス
トップカラム42の数は、加速度計の用途と加工技術に
依存して変わり得る。停止部材42と44は、測定用塊
部12に掛かる停止作用が確実に等しく、且つ均等な分
布となるように、夫れぞれのプレート30と32の中心
に関して対称の位置に設けるのが望ましい。
【図面の簡単な説明】
【図1】キャッピングプレートとバックプレートに結合
されたミクロ加速度計の一つの具体例の断面図である。
キャッピングプレートとバックプレートの双方は、共に
ミクロ加速度計の内部にある測定用塊部の過度の撓みを
防止する為の停止部材から成る。
【図2】ミクロ加速度計の内部にある結合領域を図示す
る部分的な拡大図である。支持カラムと接着剤の双方が
示されている。

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 実質的に互いに平行な第一の表面と第二
    の表面(16,18)を含むシリコン支持体(14);
    シリコン支持体内に形成され、支持体から懸垂されるよ
    うに適合された塊部(12);シリコン支持体と接触す
    るように適合され、シリコン支持体から塊部が懸垂され
    るように第一のシリコンプレートとシリコン支持体の間
    にある第一の支持体カラムによって間隙が与えられるよ
    うにシリコン支持体の第一の表面に接着された第一のカ
    ラム(34)、及び第一のシリコンプレートと塊部間の
    空間よりも小さい量だけ塊部から間隔を置いた第一の停
    止部材(42)から構成される第一のシリコーンプレー
    ト(30);シリコン支持体と接触するように適合さ
    れ、シリコン支持体から塊部が懸垂されるように第二の
    シリコンプレートとシリコン支持体の間にある第二の支
    持体カラムによって間隙が与えられるようにシリコン支
    持体の第二の表面(18)に接着された第二の支持体カ
    ラム(36)、及び第二のシリコンプレートと塊部間の
    空間よりも小さい量だけ塊部から間隔を置いた第二の停
    止部材(44)から構成される第二のシリコンプレート
    (32);から成る加速度計であって、第一と第二の停
    止部材(42,44)が第一と第二のシリコンプレート
    の方向への塊部の過度の撓みを防止するようになってい
    る前記加速度計。
  2. 【請求項2】 第一の停止部材が第一のシリコンプレー
    ト上に形成されたリブから成り、第二の停止部材が第二
    のシリコンプレート上に形成されたリブから成る請求項
    1記載の加速度計。
  3. 【請求項3】 塊部の加速度の変化を検出し、塊部の加
    速度の表示を与えるように適合された検出手段から成
    り、該検出手段が事実上シリコン支持体の第一の表面上
    に配置されていることを特徴とする請求項1又は2に記
    載の加速度計。
  4. 【請求項4】 シリコン支持体が第一と第二のシリコン
    プレートから事実上、等しい間隔にあり、そして塊部が
    第一と第二の停止部材から等しい間隔にある請求項1、
    2又は3に記載の加速度計。
  5. 【請求項5】 シリコン支持体と第一と第二のシリコン
    プレート間の間隔と塊部と第一と第二の停止部材間の間
    隔の差が約5ミクロメートルを越えない請求項4記載の
    加速度計。
  6. 【請求項6】 シリコン支持体が第一と第二のシリコン
    プレートにシリコンベースの接着剤の手段によって結合
    されている請求項1乃至5のいずれかに記載の加速度
    計。
  7. 【請求項7】 シリコン支持体が事実上、単結晶面に沿
    って配向している請求項1乃至6のいずれかに記載の加
    速度計。
  8. 【請求項8】 塊部が複数のブリッジ部分(22)によ
    ってシリコンプレートにしっかりと繋ぎ止められている
    請求項1乃至7のいずれかに記載の加速度計。
  9. 【請求項9】 第一および/または第二のシリコンプレ
    ートが夫れ夫れの支持体カラムの外周に最も近い結合部
    分(26,28)によってシリコン支持体に結合される
    請求項1乃至8のいずれかに記載の加速度計。
  10. 【請求項10】 シリコン支持体(14)、シリコン支
    持体上の事実上互いに平行な第一と第二の表面(16,
    18)及びシリコン支持体から懸垂されるように適合さ
    れた塊部(12)を設け;シリコン支持体の第一の表面
    上に、塊部の加速度の変化を検出し、塊部の加速度を表
    示するように適合された検出手段(22)を設け;第一
    のシリコンプレート(30)、第一の支持体カラム(3
    4)及び第一のシリコンプレート上に第一の支持体カラ
    ムの高さよりも低い高さを有する第一の停止部材(4
    2)を設け;第二のシリコンプレート(32)、第二の
    支持体カラム(36)及び第二のシリコンプレート上に
    第二の支持体カラムの高さよりも低い高さを有する第二
    の停止部材(44)を設け;夫れ夫れの支持体カラムの
    領域において、第一のシリコンプレートをシリコン支持
    体の第一の表面に、第二のシリコンプレートをシリコン
    支持体の第二の表面に、シリコンベースの接着剤の手段
    によって結合し;シリコン支持体と第一のシリコンプレ
    ート間に設けられた第一の停止部材と第一の支持体カラ
    ムの高さ間の違いとほぼ等しい大きさを有する第一の間
    隙と、第二のシリコンプレートとシリコン支持体間に設
    けられた第二の停止部材と第二の支持体カラムの高さ間
    の違いとほぼ等しい大きさを有する第二の間隙を設ける
    段階から成る加速度計の形成方法。
  11. 【請求項11】 第一と第二の支持体カラムの高さが事
    実上等しく、第一と第二の停止部材の高さが事実上等し
    くて第一と第二の支持体カラムの高さよりも低いことを
    特徴とする請求項9記載の方法。
  12. 【請求項12】 第一と第二の支持体カラムの高さが、
    第一と第二の停止部材よりも約5ミクロメートル以内の
    範囲で高い請求項9又は10に記載の方法。
  13. 【請求項13】 シリコンベースの接着剤を大凡そ15
    0℃の温度で最高約4時間硬化する段階から成る請求項
    9、10又は11に記載の方法。
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