JPH067239B2 - 電気光学装置 - Google Patents

電気光学装置

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JPH067239B2
JPH067239B2 JP62202716A JP20271687A JPH067239B2 JP H067239 B2 JPH067239 B2 JP H067239B2 JP 62202716 A JP62202716 A JP 62202716A JP 20271687 A JP20271687 A JP 20271687A JP H067239 B2 JPH067239 B2 JP H067239B2
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electro
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昌彦 太田
聡 荒井
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Seiko Instruments Inc
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    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
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    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
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    • G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
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    • G02F1/136254—Checking; Testing

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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は表示装置、プリンタ用シャッタ等の電気光学装
置、特にシフトレジスタ回路を同一基板上に内蔵した電
気光学装置に関するものである。
〔発明の概要〕
シフトレジスタ回路を内蔵したマトリクス電気光学装置
において、線と制御線の少なくとも一方の終端に検査用
スイッチングトランジスタを設けたものであり、画素選
択トランジスタ駆動用回路の動作試験と同時に信号線、
制御線の断線チェック及び相互の短絡チェックを行える
ようにしたものである。
〔従来の技術およびその問題点〕 半導体薄膜を用いた集積回路装置、特にマトリクス配置
型液晶表示装置において、現在シフトレジスタ回路に代
表される画素選択トランジスタ駆動用回路（以下駆回路
と称す）を画素部と同一基板上に同工程で作り込む試み
が多くなされており、実用化の方向にある。しかしなが
ら前記駆動回路を各信号線及び制御線に直結し同一基板
上に作り込んだだけでは、前記駆動回路の動作試験を行
うことが困難でかつ信号線、制御線の断線チェック及び
相互の短絡チェックを別の検査工程で行わなければなら
ず検査コストが増す原因となってしまう。
第１図に示されるのは、駆動回路を画素部の信号線及び
制御線と直接つないで同一基板上に作り込んだだけの駆
動回路内蔵型液晶表示装置の回路図で画素選択トランジ
スタ１及び信号線２、制御線３を有する画素部と前記画
素選択トランジスタ１を駆動する駆動回路（画素信号用
シフトレジスタ回路４、制御信号用シフトレジスタ回路
５に大別される）部が同一基板上に作り込まれている。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、これらの欠点を除去するため、同一基板上に
内蔵された駆動回路、特にシフトレジスタ回路の動作試
験と信号線、制御線の断線チェック及び相互の短絡チェ
ックをより短い検査工程でできる様な構造の電気光学装
置を提供することを目的とする。
〔実施例〕
以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第２図は本発明の一実施例を示す回路図で、第１図に示
されるものと同様に画素部と駆動回路部が同一基板に作
り込まれ直結されているが画素信号用シフトレジスタ回
路４に接続されている信号線２及び制御信号用シフトレ
ジスタ回路５に接続されている制御線３のそれぞれの線
の終端にスイッチングトランジスタ６が設けられてお
り、前記各スイッチングトランジスタ６のゲート電極は
次段の信号線もしくは制御線に接続されている。また前
記各スイッチングトランジスタ６のソース電極は信号線
側及び制御線側それぞれに共通電極として取り出されて
いる。前記共通電極及び画素信号用シフトレジスタ回路
４へ入力されるクロック信号とデータ信号、また制御信
号用シフトレジスタ５へ入力されるクロック信号とデー
タ信号を使って逐次操作することによって、前記スイッ
チングトランジスタ６を信号線もしくは制御線ごとにス
イッチングすることができ、前記駆動回路の動作試験と
同検査工程において、信号線２、制御線３それぞれの断
線チェック及び相互の短絡チェックを行うことができ
る。
また実際液晶表示装置として使用する際には、前記共通
電極を接地電位に接続していれば動作に影響を与えるこ
とはない。
また第３図は、本発明の他の実施例を示す回路図で前記
本発明の一実施例と構成的には同様であるが、信号線２
もしくは制御線３の終端に設けられたスイッチングトラ
ンジスタ６が画素部の上下及び左右に配され、それに従
ってシフトレジスタ回路４及び５を画素部の上下及び左
右に配置したことを特徴とする。これにより前記各シフ
トレジスタ回路４及び５の動作速度は1/2に軽減され、
かつ前記スイッチングトランジスタ６は分割配置のため
レイアウト上無理がない。またこの場合各スイッチング
トランジスタ６のソース電極をまとめた共通電極は画素
部の各辺ごとに集められ対応する各シフトレジスタ回路
の動作試験の際、信号読み取り端子として用いられる。
〔発明の効果〕
以上のごとく本発明によれば、シフトレジスタ回路に代
表される駆動回路の動作試験と信号線、制御線それぞれ
の断線チェック及び相互の短絡チェックを同検査工程で
行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
第１図は画素部と駆動回路部を同一基板上に作り込み直
結しただけの液晶表示装置の回路図で、第２図は本発明
の一実施例における電気光学装置の回路図で、第３図は
本発明の他の実施例における電気光学装置の回路図であ
る。 １・・・画素選択トランジスタ ２・・・信号線 ３・・・制御線 ４・・・画素信号用シフトレジスタ回路 ５・・・制御信号用シフトレジスタ回路 ６・・・スイッチングトランジスタ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】シフトレジスタ回路を内蔵したマトリクス
    電気光学装置において、信号線と制御線の少なくとも一
    方の終端に検査用スイッチングトランジスタを設けたこ
    とを特徴とする電気光学装置。
  2. 【請求項２】前記検査用スイッチングトランジスタのゲ
    ートと次段の信号線もしくは制御線とをつないだ特許請
    求の範囲第１項記載の電気光学装置。
  3. 【請求項３】前記検査用スイッチングトランジスタのソ
    ースが共通電極として信号線、制御線について少なくと
    もそれぞれ独立にとり出されていることを特徴とする特
    許請求の範囲第１項記載の電気光学装置。
  4. 【請求項４】前記シフトレジスタを画素部の上下に配
    し、前記検査用スイッチングトランジスタを信号線もし
    くは制御線において少なくとも一本置きに互い違いに配
    置したことを特徴とする特許請求の範囲第３項記載の電
    気光学装置。
JP62202716A 1987-08-14 1987-08-14 電気光学装置 Expired - Lifetime JPH067239B2 (ja)

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