JPH0674974U - 線路定数測定治具 - Google Patents

線路定数測定治具

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JPH0674974U
JPH0674974U JP1532593U JP1532593U JPH0674974U JP H0674974 U JPH0674974 U JP H0674974U JP 1532593 U JP1532593 U JP 1532593U JP 1532593 U JP1532593 U JP 1532593U JP H0674974 U JPH0674974 U JP H0674974U
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JP
Japan
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triplate line
measuring
resonator
circuit board
triplate
Prior art date
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Pending
Application number
JP1532593U
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English (en)
Inventor
厚 鈴永
一男 金子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Resonac Corp
Original Assignee
Hitachi Chemical Co Ltd
Showa Denko Materials Co Ltd
Resonac Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Chemical Co Ltd, Showa Denko Materials Co Ltd, Resonac Corp filed Critical Hitachi Chemical Co Ltd
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Publication of JPH0674974U publication Critical patent/JPH0674974U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】フィルム基板等でも測定を効率良く行うこと。 【構成】トリプレート線路共振器を形成するための結合
部となるギャップを、信号入出力端子とトリプレート線
路端の間に設け、前記トリプレート線路共振器を形成す
る基板の線路部分と接地導体との間に十分な空間を設け
ること。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、高周波用基板材料の特性を測定する装置に関する。
【0002】 従来からある高周波材料の線路定数測定方法として、比誘電率εrを測定する ためのリング共振器法や、誘電正接tanδを測定するための円筒空洞共振器法等 がある。 また、IEEE TRANS-ACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT,VOL.38,NO. 2,APRIL 1989に掲載の”Precise Measurementsof Dissipation Factor in Micr- owave Prited Circuit Boards"(HIROYUKI TANAKA,FUMIAKI OKADA著)には、トリ プレート構造の直線線路共振器を用いて、上記2つの定数を測定する方法が開示 されている。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
円筒空洞共振器法では、測定周波数毎に円筒空洞共振器そのものを製作せねば ならず、製作コストも測定の手間も大変であり、かつ誘電正接 tanδしか測定で きない。リング共振器法では、基本共振周波数とその整数倍の周波数で測定が可 能であり、測定試料及び測定治具の製作は比較的容易であるが、比誘電率εrの 測定しかできず、誘電正接tanδの測定方法が別途必要となる。 これに対し、上記「田中と岡田」の報告している方法は簡便な測定試料でta
n δと等価導電率σeffの両方を測定することができる方法であるが、測定試料
は トリプレート線路上にギャップを設ける必要があり、1つの測定試料について、 基本共振周波数を変化させながら測定することができない。またトリプレート線 路は外部との接続が難しく、不要伝搬モードが発生する恐れがある。また、高周 波用のフィルム基板等では、フィルムがカールしてしまいトリプレート線路をう まく形成できない恐れがある。
【0004】 本考案は、フィルム基板等でも測定を効率良く行うための測定治具に関するも のである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明の測定治具は、トリプレート線路共振器を形成するための結合部となる ギャップを、信号入出力端子とトリプレート線路端の間に設け、前記トリプレー ト線路共振器を形成する基板の線路部分と接地導体との間に十分な空間を設ける ことを特徴とする。
【0006】
【実施例】
図1に示すように、本考案による測定治具は、ベクトルネットワークアナライ ザ等の測定機との接続点となるコネクタ1a,1bと、コネクタを固定するための 台となるコネクタベース金具2a,2bと、コネクタベース金具2a,2bと結合し 、測定対象であるトリプレート線路共振器を形成する回路基板5をコネクタ1a ,1bと結合させるために固定するための回路基板結合金具3a,3bとからなる 測定治具において、コネクタ1a,1bと測定対象であるトリプレート線路共振器 を形成する回路基板5フィルム基板等を使用した際にも線路の下に空間を設ける 。 本考案による測定治具の動作について、次に説明する。コネクタ1a,1bは 、それぞれコネクタを固定するための台となるコネクタベース金具2a,2bに固 定される。ベクトルネットワークアナライザ等の測定機はコネクタ1a,1bに接 続される。第2図にこの部分の拡大図を示す。コネクタ1a,1bの芯線は回路基 板5のトリプレート線路とは直接接続されず、ある一定の距離を持った空間を介 して容量性結合される。また、回路基板結合金具3a,3bはそれぞれ回路基板5 の端部を上下より加圧し密着させ、かつコネクタベース金具2a,2bと密着する ことにより、回路基板5のコネクタベース金具2a,2bに固定されたコネクタ1 a,1bの芯線部との結合距離を性格に保持し、かつ回路基板上の線路の上下には 十分な空間を設ける。 以上述べてきた方法により、本考案による測定治具は、コネクタ1a,1bは回 路基板5のトリプレート線路共振器とは直接接続されずある一定の距離を持った 空間を介して容量性結合されるので、この空間をギャップとして用いることによ り、トリプレート線路上にギャップを設ける必要がなくなり、任意の線路長のト リプレート線路共振器を測定する際にも、回路基板結合金具3a,3bの長さと同 じものであれば良い。 また、トリプレート線路共振器を製作する際もギャップを線路上につくる必要 がないので簡単に製作でき、例えば1個の測定試料を長めに製作しておいて、そ れをいろいろな長さの3a,3bに合わせて切断しながら(基本共振周波数を変化 させながら)測定すれば、試料製作の手間が簡略化できる。また、線路の下には 接地導体となる回路基板結合金具3a,3bとの間に十分な空間を設けることがで き、この間に任意の誘電率の誘電体を挟み込んだり、あるいは回路基板のすぐ下 に接地導体となる金属箔を挟み込んだりすることができ、種々の条件での測定が 可能となる。またフィルム基板のような薄い回路基板でも、基板端部で十分に張 力をかけた状態で上下から回路基板結合金具で固定すればトリプレート構造が保 持でき、正確な測定ができる。
【0007】
【考案の効果】
以上に述べたように、本発明の測定治具は、高周波材料の線路定数のうち誘電 正接 tanδと等価導電率σeffとを同時に測定することのできる測定法に対し効 率の良い測定治具を提供するものであり、いろいろ条件を変化させた測定や、フ ィルム基板のような柔らかい回路基板の測定を可能にするものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は本考案の一実施例を示す透視上面図で
あり、(b)はその側面図である。
【図2】本考案の一実施例の要部を示す透視側面図であ
る。
【符号の説明】
1.コネクタ 2.コネクタベース金具 3.回路基板結合金具 4.回路基板

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】トリプレート線路共振器を形成するための
    結合部となるギャップを、信号入出力端子とトリプレー
    ト線路端の間に設け、前記トリプレート線路共振器を形
    成する基板の線路部分と接地導体との間に十分な空間を
    設けることを特徴とする測定治具。
JP1532593U 1993-03-30 1993-03-30 線路定数測定治具 Pending JPH0674974U (ja)

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JP1532593U JPH0674974U (ja) 1993-03-30 1993-03-30 線路定数測定治具

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JPH0674974U true JPH0674974U (ja) 1994-10-21

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ID=11885628

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JP1532593U Pending JPH0674974U (ja) 1993-03-30 1993-03-30 線路定数測定治具

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JP (1) JPH0674974U (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006214763A (ja) * 2005-02-01 2006-08-17 Aica Kogyo Co Ltd 材料定数測定用治具
US7952365B2 (en) 2005-03-23 2011-05-31 Nec Corporation Resonator, printed board, and method for measuring complex dielectric constant

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006214763A (ja) * 2005-02-01 2006-08-17 Aica Kogyo Co Ltd 材料定数測定用治具
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