JPH0675237A - 反射型液晶表示装置 - Google Patents
反射型液晶表示装置Info
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- JPH0675237A JPH0675237A JP4230082A JP23008292A JPH0675237A JP H0675237 A JPH0675237 A JP H0675237A JP 4230082 A JP4230082 A JP 4230082A JP 23008292 A JP23008292 A JP 23008292A JP H0675237 A JPH0675237 A JP H0675237A
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- electrode
- reflective
- substrate
- insulating film
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- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/1333—Constructional arrangements; Manufacturing methods
- G02F1/1335—Structural association of cells with optical devices, e.g. polarisers or reflectors
- G02F1/133553—Reflecting elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
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- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
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- G—PHYSICS
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- G02F2201/12—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00 electrode
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- G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
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-
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- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F2203/00—Function characteristic
- G02F2203/02—Function characteristic reflective
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】
【構成】 スイッチング素子である薄膜トランジスタ4
0上に反射電極38を形成する際に、不規則な複数の凸
部42a上に形成され、凸部42aに応じた凸部42b
を有する有機絶縁膜42を形成し、その上に反射電極3
8を形成する。 【効果】 有機絶縁膜42上に反射電極38を形成する
ため、薄膜トランジスタ40の影響を受けず、隣り合う
反射電極38間の絶縁性を保つ範囲で反射電極38を大
きく形成でき、開口率を90%以上にすることができ
る。
0上に反射電極38を形成する際に、不規則な複数の凸
部42a上に形成され、凸部42aに応じた凸部42b
を有する有機絶縁膜42を形成し、その上に反射電極3
8を形成する。 【効果】 有機絶縁膜42上に反射電極38を形成する
ため、薄膜トランジスタ40の影響を受けず、隣り合う
反射電極38間の絶縁性を保つ範囲で反射電極38を大
きく形成でき、開口率を90%以上にすることができ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、入射光を反射すること
によって表示を行う反射型液晶表示装置に関する。
によって表示を行う反射型液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ワードプロセッサ、ラップトップ
パソコン、ポケットテレビなどへの液晶表示装置の応用
が急速に進展している。特に、液晶表示装置の中でも外
部から入射した光を反射させて表示を行う反射型液晶表
示装置は、バックライトが不要であるため消費電力が低
く、薄形であり、軽量化が可能であるため注目されてい
る。
パソコン、ポケットテレビなどへの液晶表示装置の応用
が急速に進展している。特に、液晶表示装置の中でも外
部から入射した光を反射させて表示を行う反射型液晶表
示装置は、バックライトが不要であるため消費電力が低
く、薄形であり、軽量化が可能であるため注目されてい
る。
【0003】従来から、反射型液晶表示装置にはTN
(ツイステッドネマティック)方式、ならびにSTN
(スーパーツイステッドネマティック)方式が用いられ
ているけれども、これらの方式では偏光板によって必然
的に自然光の光強度の1/2が表示に利用されないこと
になり、表示が暗くなるという問題がある。
(ツイステッドネマティック)方式、ならびにSTN
(スーパーツイステッドネマティック)方式が用いられ
ているけれども、これらの方式では偏光板によって必然
的に自然光の光強度の1/2が表示に利用されないこと
になり、表示が暗くなるという問題がある。
【0004】このような問題に対して、偏光板を用い
ず、自然光の全ての光線を有効に利用しようとする表示
モードが提案されている。このようなモードの例とし
て、相転移型ゲスト・ホスト方式が挙げられる(D.
L.White and G.N.Taylor:J.
Appl.Phys.45 4718 1974)。この
モードでは、電界によるコレステリック・ネマティック
相転移現象が利用されている。この方式に、さらにマイ
クロカラーフィルタを組合せた反射型マルチカラーディ
スプレイも提案されている(Tohru Koizum
i and Tatsuo Uchida Proceed
ings of the SID,Vol.29/2,1
57,1988)。
ず、自然光の全ての光線を有効に利用しようとする表示
モードが提案されている。このようなモードの例とし
て、相転移型ゲスト・ホスト方式が挙げられる(D.
L.White and G.N.Taylor:J.
Appl.Phys.45 4718 1974)。この
モードでは、電界によるコレステリック・ネマティック
相転移現象が利用されている。この方式に、さらにマイ
クロカラーフィルタを組合せた反射型マルチカラーディ
スプレイも提案されている(Tohru Koizum
i and Tatsuo Uchida Proceed
ings of the SID,Vol.29/2,1
57,1988)。
【0005】このような偏光板を必要としないモードで
さらに明るい表示を得るためには、あらゆる角度からの
入射光に対し、表示画面に垂直な方向へ散乱する光の強
度を増加させる必要がある。そのためには、最適な反射
特性を有する反射板を作成することが必要となる。上述
の文献には、ガラスなどから成る基板の表面を研磨剤で
粗面化し、フッ化水素酸でエッチングする時間を変える
ことによって表面の凹凸を制御し、その凹凸上に銀の薄
膜を形成した反射板について記載されている。図10は
アクティブマトリクス方式に用いられるスイッチング素
子である薄膜トランジスタ(以下、TFTと記す)1を
有する基板2の平面図であり、図11は図10に示す切
断面線XI−XIから見た断面図である。ガラスなどの
絶縁性の基板2上に、クロム、タンタルなどから成る複
数のゲートバス配線3が互いに平行に設けられ、ゲート
バス配線3からはゲート電極4が分岐して設けられてい
る。ゲートバス配線3は、走査線として機能している。
さらに明るい表示を得るためには、あらゆる角度からの
入射光に対し、表示画面に垂直な方向へ散乱する光の強
度を増加させる必要がある。そのためには、最適な反射
特性を有する反射板を作成することが必要となる。上述
の文献には、ガラスなどから成る基板の表面を研磨剤で
粗面化し、フッ化水素酸でエッチングする時間を変える
ことによって表面の凹凸を制御し、その凹凸上に銀の薄
膜を形成した反射板について記載されている。図10は
アクティブマトリクス方式に用いられるスイッチング素
子である薄膜トランジスタ(以下、TFTと記す)1を
有する基板2の平面図であり、図11は図10に示す切
断面線XI−XIから見た断面図である。ガラスなどの
絶縁性の基板2上に、クロム、タンタルなどから成る複
数のゲートバス配線3が互いに平行に設けられ、ゲート
バス配線3からはゲート電極4が分岐して設けられてい
る。ゲートバス配線3は、走査線として機能している。
【0006】ゲート電極4を覆って基板2上の全面に窒
化シリコン(SiNx )、酸化シリコン(SiOx )な
どから成るゲート絶縁膜5が形成されている。ゲート電
極4の上方のゲート絶縁膜5上には、非晶質シリコン
(以下、a−Siと記す)、多結晶シリコン、CdSe
などから成る半導体層6が形成されている。半導体層6
の一方の端部には、チタン、モリブデン、アルミニウム
などから成るソース電極7が重畳形成されている。ま
た、半導体層6の他方の端部には、ソース電極7と同様
にチタン、モリブデン、アルミニウムなどから成るドレ
イン電極8が重畳形成されている。ドレイン電極8の半
導体層6と反対側の端部には、ITO(Indium Tin Oxi
de)から成る絵素電極9が重畳されている。
化シリコン(SiNx )、酸化シリコン(SiOx )な
どから成るゲート絶縁膜5が形成されている。ゲート電
極4の上方のゲート絶縁膜5上には、非晶質シリコン
(以下、a−Siと記す)、多結晶シリコン、CdSe
などから成る半導体層6が形成されている。半導体層6
の一方の端部には、チタン、モリブデン、アルミニウム
などから成るソース電極7が重畳形成されている。ま
た、半導体層6の他方の端部には、ソース電極7と同様
にチタン、モリブデン、アルミニウムなどから成るドレ
イン電極8が重畳形成されている。ドレイン電極8の半
導体層6と反対側の端部には、ITO(Indium Tin Oxi
de)から成る絵素電極9が重畳されている。
【0007】図10に示すように、ソース電極7にはゲ
ートバス配線3に前述のゲート絶縁膜5を挟んで交差す
るソースバス配線10が接続されている。ソースバス配
線10は、信号線として機能している。ソースバス配線
10も、ソース電極7と同様な金属で形成されている。
ゲート電極4、ゲート絶縁膜5、半導体層6、ソース電
極7およびドレイン電極8はTFT1を構成し、該TF
T1は、スイッチング素子の機能を有している。
ートバス配線3に前述のゲート絶縁膜5を挟んで交差す
るソースバス配線10が接続されている。ソースバス配
線10は、信号線として機能している。ソースバス配線
10も、ソース電極7と同様な金属で形成されている。
ゲート電極4、ゲート絶縁膜5、半導体層6、ソース電
極7およびドレイン電極8はTFT1を構成し、該TF
T1は、スイッチング素子の機能を有している。
【0008】図10および図11に示すTFT1を有す
る基板2を反射型液晶表示装置に適応しようとすれば、
絵素電極9をアルミニウム、銀などの光反射性を有する
金属で形成するばかりでなく、ゲート絶縁膜5あるいは
その上に凹凸を形成する必要がある。一般に、無機物か
ら成る絶縁膜にテーパの付いた凹凸を均一に形成するこ
とは困難である。
る基板2を反射型液晶表示装置に適応しようとすれば、
絵素電極9をアルミニウム、銀などの光反射性を有する
金属で形成するばかりでなく、ゲート絶縁膜5あるいは
その上に凹凸を形成する必要がある。一般に、無機物か
ら成る絶縁膜にテーパの付いた凹凸を均一に形成するこ
とは困難である。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】図10および図11に
示されるように、反射電極9とソースバス配線10とを
ゲート絶縁膜5上に形成する際には、反射電極9とソー
スバス配線10とが導通しないように間隙9aが形成さ
れる。また、TFT1上に反射電極9を形成した場合、
ソース電極7とドレイン電極8とが導通し、TFT1が
スイッチング素子として機能しなくなるため、TFT1
上に反射電極9を形成することができない。
示されるように、反射電極9とソースバス配線10とを
ゲート絶縁膜5上に形成する際には、反射電極9とソー
スバス配線10とが導通しないように間隙9aが形成さ
れる。また、TFT1上に反射電極9を形成した場合、
ソース電極7とドレイン電極8とが導通し、TFT1が
スイッチング素子として機能しなくなるため、TFT1
上に反射電極9を形成することができない。
【0010】表示の輝度を向上するためには、反射電極
9は大きいほど好ましい。けれども、上述のように反射
電極9はソースバス配線10と接触せず、またTFT1
のドレイン電極8以外とは重ならないように形成しなけ
ればならず、反射電極9の面積が小さく、したがって輝
度が低く、反射型液晶表示装置の表示品位が低いという
問題がある。
9は大きいほど好ましい。けれども、上述のように反射
電極9はソースバス配線10と接触せず、またTFT1
のドレイン電極8以外とは重ならないように形成しなけ
ればならず、反射電極9の面積が小さく、したがって輝
度が低く、反射型液晶表示装置の表示品位が低いという
問題がある。
【0011】本発明の目的は、上述の問題を解決し、表
示品位が向上する反射型液晶表示装置を提供することで
ある。
示品位が向上する反射型液晶表示装置を提供することで
ある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明は、液晶層を介在
して対向配置される一対の透明基板のうち、一方基板上
の液晶層側表面には、他方基板側からの入射光を反射す
る表示絵素である複数の反射電極と、各反射電極に表示
のための電圧を印加する引回し電極とを形成し、他方基
板上の液晶層側表面には、ほぼ全面にわたって透光性を
有する共通電極を形成して構成される反射型液晶表示装
置において、前記反射電極は、一方基板上の液晶側であ
って、前記引回し電極を含む領域に不規則に配列された
複数の凸部上に形成された絶縁膜上に形成されており、
隣り合う反射電極が相互に間隙を介するように、予め定
められた領域に形成されることを特徴とする反射型液晶
表示装置である。
して対向配置される一対の透明基板のうち、一方基板上
の液晶層側表面には、他方基板側からの入射光を反射す
る表示絵素である複数の反射電極と、各反射電極に表示
のための電圧を印加する引回し電極とを形成し、他方基
板上の液晶層側表面には、ほぼ全面にわたって透光性を
有する共通電極を形成して構成される反射型液晶表示装
置において、前記反射電極は、一方基板上の液晶側であ
って、前記引回し電極を含む領域に不規則に配列された
複数の凸部上に形成された絶縁膜上に形成されており、
隣り合う反射電極が相互に間隙を介するように、予め定
められた領域に形成されることを特徴とする反射型液晶
表示装置である。
【0013】また本発明は、前記凸部は、感光性樹脂か
ら成ることを特徴とする。
ら成ることを特徴とする。
【0014】
【作用】本発明に従えば、反射型液晶表示装置は、対向
する一対の透明基板間に液晶層を介在して形成される。
このとき、一方の基板の液晶層側表面には複数の反射電
極と引回し電極とが形成され、他方の基板の液晶層側表
面には共通電極が形成される。前記反射電極は表示絵素
であり、前述の他方基板および共通電極を介して入射す
る入射光を反射することによって表示が行われる。ゲー
トバス配線、ソースバス配線および薄膜トランジスタな
どで実現される前記引回し電極は、各反射電極に表示の
ための電圧を印加する。他方基板上に形成される前記共
通電極は、他方基板ほぼ全面にわたって形成されてい
る。
する一対の透明基板間に液晶層を介在して形成される。
このとき、一方の基板の液晶層側表面には複数の反射電
極と引回し電極とが形成され、他方の基板の液晶層側表
面には共通電極が形成される。前記反射電極は表示絵素
であり、前述の他方基板および共通電極を介して入射す
る入射光を反射することによって表示が行われる。ゲー
トバス配線、ソースバス配線および薄膜トランジスタな
どで実現される前記引回し電極は、各反射電極に表示の
ための電圧を印加する。他方基板上に形成される前記共
通電極は、他方基板ほぼ全面にわたって形成されてい
る。
【0015】本発明においては、前記反射電極は、前記
一方基板上に形成されたゲートバス配線、ソースバス配
線および薄膜トランジスタなどの引回し電極上の薄膜ト
ランジスタのドレイン電極など前記反射電極との接続部
分を含む一方基板全面に不規則に配列された複数の凸部
を覆い、たとえば高分子樹脂などから成る絶縁膜上の予
め定められた領域に形成される。この際、隣り合う反射
電極は、相互に間隙を介して形成されている。前記絶縁
膜は前記凸部を覆って形成されるため、前記絶縁膜は前
記凸部に応じた凹凸を有する。前述のように、反射電極
は前記凹凸を有する絶縁膜上に形成されるため、反射電
極表面にもまた前記凹凸に対応する凹凸が形成される。
光反射面に凹凸を形成することによって、あらゆる角度
からの入射光に対し、表示画面に垂直な方向へ散乱する
光の強度が増加して表示輝度が向上し、表示のコントラ
ストが向上することが知られている。
一方基板上に形成されたゲートバス配線、ソースバス配
線および薄膜トランジスタなどの引回し電極上の薄膜ト
ランジスタのドレイン電極など前記反射電極との接続部
分を含む一方基板全面に不規則に配列された複数の凸部
を覆い、たとえば高分子樹脂などから成る絶縁膜上の予
め定められた領域に形成される。この際、隣り合う反射
電極は、相互に間隙を介して形成されている。前記絶縁
膜は前記凸部を覆って形成されるため、前記絶縁膜は前
記凸部に応じた凹凸を有する。前述のように、反射電極
は前記凹凸を有する絶縁膜上に形成されるため、反射電
極表面にもまた前記凹凸に対応する凹凸が形成される。
光反射面に凹凸を形成することによって、あらゆる角度
からの入射光に対し、表示画面に垂直な方向へ散乱する
光の強度が増加して表示輝度が向上し、表示のコントラ
ストが向上することが知られている。
【0016】また前記反射電極と引回し電極とは、接続
部を除き、有機絶縁膜を介して形成される。このため、
反射電極を形成する領域は、引回し電極に影響されるこ
とはなく、隣り合う反射電極が電気絶縁状態を保つ範囲
内で面積を増加することが可能であり、表示の輝度が向
上する。
部を除き、有機絶縁膜を介して形成される。このため、
反射電極を形成する領域は、引回し電極に影響されるこ
とはなく、隣り合う反射電極が電気絶縁状態を保つ範囲
内で面積を増加することが可能であり、表示の輝度が向
上する。
【0017】
【実施例】図1は本発明の一実施例である反射型液晶表
示装置30の断面図であり、図2は図1に示される基板
31の平面図である。ガラスなどから成る絶縁性の基板
31上に、クロム、タンタルなどから成る複数のゲート
バス配線32が互いに平行に設けられ、ゲートバス配線
32からはゲート電極33が分岐している。ゲートバス
配線32は、走査線として機能している。
示装置30の断面図であり、図2は図1に示される基板
31の平面図である。ガラスなどから成る絶縁性の基板
31上に、クロム、タンタルなどから成る複数のゲート
バス配線32が互いに平行に設けられ、ゲートバス配線
32からはゲート電極33が分岐している。ゲートバス
配線32は、走査線として機能している。
【0018】ゲート電極33を覆って基板31上の全面
に、窒化シリコン(SiNx )、酸化シリコン(SiO
x )などから成るゲート絶縁膜34が形成されている。
ゲート電極33の上方のゲート絶縁膜34上には、非晶
質シリコン(以下、a−Siと記す)、多結晶シリコ
ン、CdSeなどから成る半導体層35が形成されてい
る。半導体層35の両端部には、a−Siなどから成る
コンタクト電極41が形成されている。一方のコンタク
ト電極41上には、チタン、モリブデン、アルミニウム
などから成るソース電極36が重畳形成され、他方のコ
ンタクト電極41上には、ソース電極36と同様に、チ
タン、モリブデン、アルミニウムなどから成るドレイン
電極37が重畳形成されている。
に、窒化シリコン(SiNx )、酸化シリコン(SiO
x )などから成るゲート絶縁膜34が形成されている。
ゲート電極33の上方のゲート絶縁膜34上には、非晶
質シリコン(以下、a−Siと記す)、多結晶シリコ
ン、CdSeなどから成る半導体層35が形成されてい
る。半導体層35の両端部には、a−Siなどから成る
コンタクト電極41が形成されている。一方のコンタク
ト電極41上には、チタン、モリブデン、アルミニウム
などから成るソース電極36が重畳形成され、他方のコ
ンタクト電極41上には、ソース電極36と同様に、チ
タン、モリブデン、アルミニウムなどから成るドレイン
電極37が重畳形成されている。
【0019】図2に示すようにソース電極36には、ゲ
ートバス配線32に前述のゲート絶縁膜34を挟んで交
差するソースバス配線39が接続されている。ソースバ
ス配線39は、信号線として機能している。ソースバス
配線39も、ソース電極36と同様の金属で形成されて
いる。ゲート電極33、ゲート絶縁膜34、半導体層3
5、ソース電極36およびドレイン電極37は薄膜トラ
ンジスタ(以下、TFTと記す)40を構成し、該TF
T40は、スイッチング素子の機能を有する。
ートバス配線32に前述のゲート絶縁膜34を挟んで交
差するソースバス配線39が接続されている。ソースバ
ス配線39は、信号線として機能している。ソースバス
配線39も、ソース電極36と同様の金属で形成されて
いる。ゲート電極33、ゲート絶縁膜34、半導体層3
5、ソース電極36およびドレイン電極37は薄膜トラ
ンジスタ(以下、TFTと記す)40を構成し、該TF
T40は、スイッチング素子の機能を有する。
【0020】TFT40が形成された基板31上には、
複数の凸部42aが後述するコンタクトホール43が形
成される領域を除いて、不規則に形成されている。コン
タクトホール43領域には凸部42aを形成しないよう
にしてもよく、また全面に凸部42aを形成後、コンタ
クトホール43領域上に形成された凸部42aを除去す
るようにしてもよい。凸部42aを覆って、基板31上
全面に有機絶縁膜42が形成されている。有機絶縁膜4
2には、凸部42aに応じた凸部42bが生じる。ドレ
イン電極37部分には、コンタクトホール43が形成さ
れている。有機絶縁膜42上にアルミニウム、銀などか
ら成る反射電極38が形成され、反射電極38はコンタ
クトホール43においてドレイン電極37と接続され
る。さらにその上には、配向膜44が形成される。
複数の凸部42aが後述するコンタクトホール43が形
成される領域を除いて、不規則に形成されている。コン
タクトホール43領域には凸部42aを形成しないよう
にしてもよく、また全面に凸部42aを形成後、コンタ
クトホール43領域上に形成された凸部42aを除去す
るようにしてもよい。凸部42aを覆って、基板31上
全面に有機絶縁膜42が形成されている。有機絶縁膜4
2には、凸部42aに応じた凸部42bが生じる。ドレ
イン電極37部分には、コンタクトホール43が形成さ
れている。有機絶縁膜42上にアルミニウム、銀などか
ら成る反射電極38が形成され、反射電極38はコンタ
クトホール43においてドレイン電極37と接続され
る。さらにその上には、配向膜44が形成される。
【0021】反射電極38は、図2に示されるようにゲ
ートバス配線32の一部およびソースバス配線39の一
部に有機絶縁膜42を介して重畳されるように形成され
ている。このため反射電極38は、隣り合う反射電極3
8が電気的に絶縁状態を保つ範囲で面積を大きくするこ
とができる。このため、表示画面の開口率が大きくな
り、明るい表示が可能となる。本実施例に従えば、開口
率を90%以上にすることができる。
ートバス配線32の一部およびソースバス配線39の一
部に有機絶縁膜42を介して重畳されるように形成され
ている。このため反射電極38は、隣り合う反射電極3
8が電気的に絶縁状態を保つ範囲で面積を大きくするこ
とができる。このため、表示画面の開口率が大きくな
り、明るい表示が可能となる。本実施例に従えば、開口
率を90%以上にすることができる。
【0022】基板45上には、カラーフィルタ46が形
成される。カラーフィルタ46の基板31の反射電極3
8に対向する位置には、マゼンタまたはグリーンのフィ
ルタ46aが形成され、反射電極38に対向しない位置
にはブラックのフィルタ46bが形成される。カラーフ
ィルタ46上の全面には、ITO(Indium Tin Oxide)
などから成る透明な電極47、さらにその上には配向膜
48が形成される。
成される。カラーフィルタ46の基板31の反射電極3
8に対向する位置には、マゼンタまたはグリーンのフィ
ルタ46aが形成され、反射電極38に対向しない位置
にはブラックのフィルタ46bが形成される。カラーフ
ィルタ46上の全面には、ITO(Indium Tin Oxide)
などから成る透明な電極47、さらにその上には配向膜
48が形成される。
【0023】両基板31,45は、反射電極38とフィ
ルタ46aとが一致するように対向して貼り合わせら
れ、間に液晶49が注入されて反射液晶表示装置30が
完成する。
ルタ46aとが一致するように対向して貼り合わせら
れ、間に液晶49が注入されて反射液晶表示装置30が
完成する。
【0024】図3は図1および図2に示される凸部42
aを有する反射電極38を基板31上に形成する形成方
法を説明する工程図であり、図4は図3に示す形成方法
を説明する断面図であり、図5は図3の工程a5で用い
られるマスク51の平面図である。図4(1)は図3の
工程a4を示し、図4(2)は図3の工程a5を示し、
図4(3)は図3の工程a6を示し、図4(4)は図3
の工程a8を示し、図4(5)は図3の工程a9を示し
ている。
aを有する反射電極38を基板31上に形成する形成方
法を説明する工程図であり、図4は図3に示す形成方法
を説明する断面図であり、図5は図3の工程a5で用い
られるマスク51の平面図である。図4(1)は図3の
工程a4を示し、図4(2)は図3の工程a5を示し、
図4(3)は図3の工程a6を示し、図4(4)は図3
の工程a8を示し、図4(5)は図3の工程a9を示し
ている。
【0025】工程a1ではガラスなどから成る絶縁性の
基板31上にスパッタリング法によって3000Åの厚
さのタンタル金属層を形成し、この金属層をホトリソグ
ラフ法およびエッチングによってパターニングを行い、
ゲートバス配線32およびゲート電極33を形成する。
工程a2では、プラズマCVD法によって4000Åの
厚さの窒化シリコン(SiNx)から成るゲート絶縁膜
34を形成する。
基板31上にスパッタリング法によって3000Åの厚
さのタンタル金属層を形成し、この金属層をホトリソグ
ラフ法およびエッチングによってパターニングを行い、
ゲートバス配線32およびゲート電極33を形成する。
工程a2では、プラズマCVD法によって4000Åの
厚さの窒化シリコン(SiNx)から成るゲート絶縁膜
34を形成する。
【0026】工程a3では半導体層35となる厚さ10
00Åのa−Si層と、コンタクト層41となる厚さ4
00Åのn+型a−Si層とをこの順で連続的に形成す
る。形成されたn+型a−Si層およびa−Si層のパ
ターニングを行い、半導体層35およびコンタクト層4
1を形成する。工程a4では、基板31の全面に厚さ2
000Åのモリブデン金属をスパッタ法によって形成
し、このモリブデン金属層のパターニングを行って、ソ
ース電極36、ドレイン電極37およびソースバス配線
39を形成し、TFT40が完成する。図4(1)は、
工程a4までの処理終了後のTFT40が形成された基
板31の断面図である。
00Åのa−Si層と、コンタクト層41となる厚さ4
00Åのn+型a−Si層とをこの順で連続的に形成す
る。形成されたn+型a−Si層およびa−Si層のパ
ターニングを行い、半導体層35およびコンタクト層4
1を形成する。工程a4では、基板31の全面に厚さ2
000Åのモリブデン金属をスパッタ法によって形成
し、このモリブデン金属層のパターニングを行って、ソ
ース電極36、ドレイン電極37およびソースバス配線
39を形成し、TFT40が完成する。図4(1)は、
工程a4までの処理終了後のTFT40が形成された基
板31の断面図である。
【0027】工程a5では、TFT40を形成した基板
31上全面に光感性樹脂であるホトレジスト(OFPR
−800)を1200Åの厚さに塗布し、図5に示され
るマスク51を用いて、図4(2)に示されるように凸
部42aを形成する。マスク51には、斜線で示す円形
の遮光領域51a,51bが不規則に形成されている。
遮光領域51aの直径の長さD1は、遮光領域51bの
直径の長さD2よりも大きく形成されている。たとえば
D1は10μmであり、D2は5μmである。
31上全面に光感性樹脂であるホトレジスト(OFPR
−800)を1200Åの厚さに塗布し、図5に示され
るマスク51を用いて、図4(2)に示されるように凸
部42aを形成する。マスク51には、斜線で示す円形
の遮光領域51a,51bが不規則に形成されている。
遮光領域51aの直径の長さD1は、遮光領域51bの
直径の長さD2よりも大きく形成されている。たとえば
D1は10μmであり、D2は5μmである。
【0028】本実施例では、2種の遮光領域51a,5
1bを有するマスク51を用いたけれども、マスク51
はこれに限定されない。遮光領域は1種類の円形でもよ
く、また3種類以上の円形でもよい。マスク51の、後
述する工程a7でコンタクトホール43を形成する領域
に、遮光領域51a,51bを形成しないようにすれ
ば、コンタクトホール43領域に凸部42aを形成する
ことが防止される。全面に凸部42aを形成した場合に
は、この段階でコンタクトホール43領域の凸部42a
を除去してもよく、また、後述する工程a7でコンタク
トホール43を形成する際に除去してもよい。
1bを有するマスク51を用いたけれども、マスク51
はこれに限定されない。遮光領域は1種類の円形でもよ
く、また3種類以上の円形でもよい。マスク51の、後
述する工程a7でコンタクトホール43を形成する領域
に、遮光領域51a,51bを形成しないようにすれ
ば、コンタクトホール43領域に凸部42aを形成する
ことが防止される。全面に凸部42aを形成した場合に
は、この段階でコンタクトホール43領域の凸部42a
を除去してもよく、また、後述する工程a7でコンタク
トホール43を形成する際に除去してもよい。
【0029】工程a6では、基板31上全面にポリイミ
ド樹脂を1μmの厚さに塗布し、図4(3)に示される
ように有機絶縁膜42を形成する。工程a7では、ホト
リソグラフ法およびドライエッチング法を用いて有機絶
縁膜42にコンタクトホール43を形成する。
ド樹脂を1μmの厚さに塗布し、図4(3)に示される
ように有機絶縁膜42を形成する。工程a7では、ホト
リソグラフ法およびドライエッチング法を用いて有機絶
縁膜42にコンタクトホール43を形成する。
【0030】工程a8では、凸部42bを有する有機絶
縁膜42上全面に図4(4)に示されるようにアルミニ
ウムから成る金属薄膜を形成し、工程a9では図4
(5)に示されるように凸部42b上に反射電極38を
パターニングする。反射電極38は、有機絶縁膜42に
形成されたコンタクトホール43を介してTFT40の
ドレイン電極37と接続されている。反射電極38のパ
ターニング時に、有機絶縁膜42の下のホトレジストか
ら成る凸部42aは、露光、現像、アルミニウムのエッ
チング、レジストの剥離の工程を通しても、何の変化も
見られないことを確認している。
縁膜42上全面に図4(4)に示されるようにアルミニ
ウムから成る金属薄膜を形成し、工程a9では図4
(5)に示されるように凸部42b上に反射電極38を
パターニングする。反射電極38は、有機絶縁膜42に
形成されたコンタクトホール43を介してTFT40の
ドレイン電極37と接続されている。反射電極38のパ
ターニング時に、有機絶縁膜42の下のホトレジストか
ら成る凸部42aは、露光、現像、アルミニウムのエッ
チング、レジストの剥離の工程を通しても、何の変化も
見られないことを確認している。
【0031】凸部42aの形状は、マスク51の形状、
凸部42aとなるホトレジストの厚さによって制御する
ことができることが確認されている。また、凸部42a
の角は、凸部42aの形成後、熱処理をすることによっ
て容易に取ることができる。
凸部42aとなるホトレジストの厚さによって制御する
ことができることが確認されている。また、凸部42a
の角は、凸部42aの形成後、熱処理をすることによっ
て容易に取ることができる。
【0032】図1に示される他方の基板45に形成され
る電極47は、たとえばITOから成り、厚さは100
0Åである。電極38,47上の配向膜44,48は、
ポリイミドなどを塗布後、焼成することによって形成さ
れている。基板31,45間には、たとえば7μmある
いは12μmのスペーサを混入した図示しない接着性シ
ール剤をスクリーン印刷することによって液晶49を封
入する空間が形成され、前記空間を真空脱気することに
よって液晶49が注入される。液晶49としては、たと
えば黒色色素を混入したゲストホスト液晶(メルク社
製、商品名 ZLI2327)に光学活性物質(メルク
社製、商品名 S811)を4.5%混入したものを用
いる。
る電極47は、たとえばITOから成り、厚さは100
0Åである。電極38,47上の配向膜44,48は、
ポリイミドなどを塗布後、焼成することによって形成さ
れている。基板31,45間には、たとえば7μmある
いは12μmのスペーサを混入した図示しない接着性シ
ール剤をスクリーン印刷することによって液晶49を封
入する空間が形成され、前記空間を真空脱気することに
よって液晶49が注入される。液晶49としては、たと
えば黒色色素を混入したゲストホスト液晶(メルク社
製、商品名 ZLI2327)に光学活性物質(メルク
社製、商品名 S811)を4.5%混入したものを用
いる。
【0033】図6は本発明の反射型液晶表示装置30の
反射特性の測定に用いられる反射板70の製造工程を説
明する図であり、図7は図6の工程を説明する断面図で
ある。工程b1では、図7(1)に示すように厚さ1.
1mmのガラス(商品名 7059 コーニング社製)
71の一方表面に、光感性樹脂であるレジスト材料とし
て、たとえばOFPR−800(東京応化社製)を好ま
しくは500rpm〜3000rpmでスピンコートに
よって塗布する。本実施例では、3000rpmで30
秒間塗布し、レジスト72を1.2μm成膜した。工程
b2では、レジスト72を100℃で30分間プリベー
クし、工程b3では、図7(2)に示すように、レジス
ト72上に円形の遮光領域51a,51bを有するホト
マスク51を配置して露光を行い、工程b4では、図7
(3)に示すようにレジスト72を現像し、基板71表
面に不規則な円形の凸部74を形成した。現像液とし
て、2.38%のNMD−3(東京応化社製)を用い
た。
反射特性の測定に用いられる反射板70の製造工程を説
明する図であり、図7は図6の工程を説明する断面図で
ある。工程b1では、図7(1)に示すように厚さ1.
1mmのガラス(商品名 7059 コーニング社製)
71の一方表面に、光感性樹脂であるレジスト材料とし
て、たとえばOFPR−800(東京応化社製)を好ま
しくは500rpm〜3000rpmでスピンコートに
よって塗布する。本実施例では、3000rpmで30
秒間塗布し、レジスト72を1.2μm成膜した。工程
b2では、レジスト72を100℃で30分間プリベー
クし、工程b3では、図7(2)に示すように、レジス
ト72上に円形の遮光領域51a,51bを有するホト
マスク51を配置して露光を行い、工程b4では、図7
(3)に示すようにレジスト72を現像し、基板71表
面に不規則な円形の凸部74を形成した。現像液とし
て、2.38%のNMD−3(東京応化社製)を用い
た。
【0034】工程b5では、ガラス基板71上の凸部7
4を好ましくは120℃〜250℃で熱処理すると、図
7(4)に示されるように角がとれて滑らかな凸部74
が形成される。本実施例では、180℃で30分間熱処
理を行った。工程b6では、図7(5)に示すように凸
部74を形成した基板71上に有機絶縁膜74aを形成
した。有機絶縁膜74aとしては、ポリイミド樹脂を好
ましくは920rpm〜3500rpmで20秒間スピ
ンコートによって塗布する。本実施例では、2200r
pmで20秒間塗布し、1μmの厚さの有機絶縁膜74
aを成膜した。有機絶縁膜74aには、凸部74に応じ
た凸部が生じるが、凸部74よりは滑らかである。工程
b7では、図7(6)に示すように有機絶縁膜74aに
金属薄膜75を形成した。金属薄膜75の厚さは、0.
01μm〜1.0μm程度が適している。本実施例で
は、アルミニウムを真空蒸着することによって金属薄膜
75を形成した。金属薄膜75としては、アルミニウ
ム、ニッケル、クロム、銀、銅をあげることができる。
金属薄膜75は、凸部74に沿って形成された有機絶縁
膜74a上に形成されているため、凸部74に応じた不
規則な円形の凸部75aを有している。以上によって反
射板70を得た。
4を好ましくは120℃〜250℃で熱処理すると、図
7(4)に示されるように角がとれて滑らかな凸部74
が形成される。本実施例では、180℃で30分間熱処
理を行った。工程b6では、図7(5)に示すように凸
部74を形成した基板71上に有機絶縁膜74aを形成
した。有機絶縁膜74aとしては、ポリイミド樹脂を好
ましくは920rpm〜3500rpmで20秒間スピ
ンコートによって塗布する。本実施例では、2200r
pmで20秒間塗布し、1μmの厚さの有機絶縁膜74
aを成膜した。有機絶縁膜74aには、凸部74に応じ
た凸部が生じるが、凸部74よりは滑らかである。工程
b7では、図7(6)に示すように有機絶縁膜74aに
金属薄膜75を形成した。金属薄膜75の厚さは、0.
01μm〜1.0μm程度が適している。本実施例で
は、アルミニウムを真空蒸着することによって金属薄膜
75を形成した。金属薄膜75としては、アルミニウ
ム、ニッケル、クロム、銀、銅をあげることができる。
金属薄膜75は、凸部74に沿って形成された有機絶縁
膜74a上に形成されているため、凸部74に応じた不
規則な円形の凸部75aを有している。以上によって反
射板70を得た。
【0035】図8は、反射板70の反射特性の測定法を
説明する側面図である。通常、液晶表示装置30に用い
られる基板31,45および液晶49層の屈折率は、各
々約1.5である。反射板70の表面と液晶49層とが
接する構成を想定し、本実施例では屈折率1.5の紫外
線硬化樹脂77を用いてガラス基板76を反射板70に
密着させて、反射板70の反射特性を測定した。この測
定結果は、反射板75の表面と液晶49層の境界におけ
る反射特性と同様の結果を与えることを確認している。
説明する側面図である。通常、液晶表示装置30に用い
られる基板31,45および液晶49層の屈折率は、各
々約1.5である。反射板70の表面と液晶49層とが
接する構成を想定し、本実施例では屈折率1.5の紫外
線硬化樹脂77を用いてガラス基板76を反射板70に
密着させて、反射板70の反射特性を測定した。この測
定結果は、反射板75の表面と液晶49層の境界におけ
る反射特性と同様の結果を与えることを確認している。
【0036】図8に示すように、反射特性の測定は、反
射板70に入射する入射光79の散乱光80をホトマル
チメータ78で検出することによって行われる。反射板
70には、その法線に対し角度θをもって入射光79が
入射する。ホトマルチメータ78は、金属薄膜75上の
入射光79が照射される点を通る反射板70の法線方向
に固定されている。入射光79の入射角度θを変えてホ
トマルチメータ78で金属薄膜75による散乱光80の
強度を測定することによって、反射特性が得られた。
射板70に入射する入射光79の散乱光80をホトマル
チメータ78で検出することによって行われる。反射板
70には、その法線に対し角度θをもって入射光79が
入射する。ホトマルチメータ78は、金属薄膜75上の
入射光79が照射される点を通る反射板70の法線方向
に固定されている。入射光79の入射角度θを変えてホ
トマルチメータ78で金属薄膜75による散乱光80の
強度を測定することによって、反射特性が得られた。
【0037】図9は、入射角度θと反射強度との関係を
示すグラフである。入射角度θである入射光79の反射
強度は、θ=0°の線に対する角度θの方向に、原点0
からの距離として表されている。θ=70°の反射強度
をP1、θ=60°の反射強度をP2、θ=40°の反
射強度をP3、θ=30°の反射強度をP4、θ=−3
0°の反射強度をP5、θ=−40°の反射強度をP
6、θ=−60°の反射強度をP7、θ=−70°の反
射強度をP8で示している。
示すグラフである。入射角度θである入射光79の反射
強度は、θ=0°の線に対する角度θの方向に、原点0
からの距離として表されている。θ=70°の反射強度
をP1、θ=60°の反射強度をP2、θ=40°の反
射強度をP3、θ=30°の反射強度をP4、θ=−3
0°の反射強度をP5、θ=−40°の反射強度をP
6、θ=−60°の反射強度をP7、θ=−70°の反
射強度をP8で示している。
【0038】図9では、酸化マグネシウムの標準白色板
の反射特性曲線を破線81で示している。θ=30°の
反射強度P4は、θ=30°の酸化マグネシウムの反射
強度P10よりも優れており、θ=−30°の反射強度
もまたθ=−30°の酸化マグネシウムの反射強度P1
1よりも優れていることが判る。
の反射特性曲線を破線81で示している。θ=30°の
反射強度P4は、θ=30°の酸化マグネシウムの反射
強度P10よりも優れており、θ=−30°の反射強度
もまたθ=−30°の酸化マグネシウムの反射強度P1
1よりも優れていることが判る。
【0039】以上のように本実施例によれば、形状の制
御が容易であり、再現性を有するホトレジストから成る
凸部42a上に凸部42aに沿って形成された凸部42
bを有する有機絶縁膜42上に、凸部42bに沿った反
射電極38を形成する。凸部42aの形状を制御するこ
とによって良好な反射特性を有する反射電極38が得ら
れ、反射型液晶表示装置の表示品位が向上する。
御が容易であり、再現性を有するホトレジストから成る
凸部42a上に凸部42aに沿って形成された凸部42
bを有する有機絶縁膜42上に、凸部42bに沿った反
射電極38を形成する。凸部42aの形状を制御するこ
とによって良好な反射特性を有する反射電極38が得ら
れ、反射型液晶表示装置の表示品位が向上する。
【0040】本実施例では、スイッチング素子としてT
FT40を用いるアクティブマトリクス駆動方式の反射
型液晶表示装置30について説明したけれども、これに
限られるものではなく、単純マトリクス駆動方式などの
反射型液晶表示装置でも同様の効果が得られる。
FT40を用いるアクティブマトリクス駆動方式の反射
型液晶表示装置30について説明したけれども、これに
限られるものではなく、単純マトリクス駆動方式などの
反射型液晶表示装置でも同様の効果が得られる。
【0041】凸部42aを形成するホトレジストなどの
光感光性樹脂の種類や膜厚、熱処理温度を適当に選択す
ると凸部42aの傾斜角度を自由に制御することがで
き、これにより反射強度の入射角θ依存性を制御できる
ことを確認している。その上に塗布する有機絶縁膜42
の種類や膜厚を変えることによっても、反射強度を制御
できることを確認している。マスク51の遮光領域51
a,51bの占める割合を変えることにより、正反射成
分の大きさをも制御することができる。
光感光性樹脂の種類や膜厚、熱処理温度を適当に選択す
ると凸部42aの傾斜角度を自由に制御することがで
き、これにより反射強度の入射角θ依存性を制御できる
ことを確認している。その上に塗布する有機絶縁膜42
の種類や膜厚を変えることによっても、反射強度を制御
できることを確認している。マスク51の遮光領域51
a,51bの占める割合を変えることにより、正反射成
分の大きさをも制御することができる。
【0042】また、反射電極38と電極47との間に電
圧印加した場合、ある角度(θ=30°)から入射した
光に対するパネル法線方向の反射率は約20%で、コン
トラスト比は5であった。
圧印加した場合、ある角度(θ=30°)から入射した
光に対するパネル法線方向の反射率は約20%で、コン
トラスト比は5であった。
【0043】本実施例の反射型液晶表示装置30では、
基板31の反射電極38を形成した面が、液晶層側に配
されているので視差がなくなり、良好な表示品位が得ら
れる。本実施例では、基板31の反射薄膜である反射電
極38が液晶49層側、すなわち液晶49層にほぼ隣接
する位置に配されている構成となるので、凸部42bの
高さはセル厚さよりも小さく、凸部42bの傾斜角度は
液晶49の配向を乱さない程度に穏やかにするのが望ま
しい。
基板31の反射電極38を形成した面が、液晶層側に配
されているので視差がなくなり、良好な表示品位が得ら
れる。本実施例では、基板31の反射薄膜である反射電
極38が液晶49層側、すなわち液晶49層にほぼ隣接
する位置に配されている構成となるので、凸部42bの
高さはセル厚さよりも小さく、凸部42bの傾斜角度は
液晶49の配向を乱さない程度に穏やかにするのが望ま
しい。
【0044】さらに本実施例では、有機絶縁膜42のパ
ターニングをドライエッチング法によって行ったが、有
機絶縁膜42がポリイミド樹脂の場合にはアルカリ溶液
によるウエットエッチング法によって行ってもよい。ま
た、有機絶縁膜42としてポリイミド樹脂を用いたが、
アクリル樹脂などの他の有機材料を用いてもよい。さら
に本実施例では、基板31として、ガラスなどから成る
透明な材料を用いたが、シリコン基板のような不透明な
材料でも同様な効果が発揮され、この場合には回路を基
板上に集積できる利点がある。
ターニングをドライエッチング法によって行ったが、有
機絶縁膜42がポリイミド樹脂の場合にはアルカリ溶液
によるウエットエッチング法によって行ってもよい。ま
た、有機絶縁膜42としてポリイミド樹脂を用いたが、
アクリル樹脂などの他の有機材料を用いてもよい。さら
に本実施例では、基板31として、ガラスなどから成る
透明な材料を用いたが、シリコン基板のような不透明な
材料でも同様な効果が発揮され、この場合には回路を基
板上に集積できる利点がある。
【0045】なお、前記実施例においては、表示モード
として相転移型ゲスト・ホストモードを取り挙げたけれ
ども、これに限定されることはなく、たとえば2層式ゲ
スト・ホストのような他の光吸収モード、高分子分散型
液晶表示装置のような光散乱形表示モード、強誘電性液
晶表示装置で使用される複屈折表示モードなどでも同様
の効果が得られる。また本実施例では、スイッチング素
子としてTFT40を用いた場合について説明したが、
たとえばMIM(Metal-Insulator-Metal)素子、ダイ
オード、バリスタなどを用いたアクティブマトリクス基
板にも適用することができる。
として相転移型ゲスト・ホストモードを取り挙げたけれ
ども、これに限定されることはなく、たとえば2層式ゲ
スト・ホストのような他の光吸収モード、高分子分散型
液晶表示装置のような光散乱形表示モード、強誘電性液
晶表示装置で使用される複屈折表示モードなどでも同様
の効果が得られる。また本実施例では、スイッチング素
子としてTFT40を用いた場合について説明したが、
たとえばMIM(Metal-Insulator-Metal)素子、ダイ
オード、バリスタなどを用いたアクティブマトリクス基
板にも適用することができる。
【0046】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、感光性樹
脂を露光、現像し、熱処理を行って得られた複数の不規
則な凸部上に、前記凸部に沿って形成された絶縁膜上
に、金属薄膜から成る反射板を絶縁膜の凸部に沿って形
成する。反射板の形状は、感光性樹脂の形状によって決
定される。感光性樹脂は、容易に、かつ均一に再現性よ
く制御することが可能であるため、良好な反射特性を有
する反射板を容易に形成することができ、反射型液晶表
示装置の表示品位が向上する。
脂を露光、現像し、熱処理を行って得られた複数の不規
則な凸部上に、前記凸部に沿って形成された絶縁膜上
に、金属薄膜から成る反射板を絶縁膜の凸部に沿って形
成する。反射板の形状は、感光性樹脂の形状によって決
定される。感光性樹脂は、容易に、かつ均一に再現性よ
く制御することが可能であるため、良好な反射特性を有
する反射板を容易に形成することができ、反射型液晶表
示装置の表示品位が向上する。
【0047】また、絶縁膜上に反射電極を形成するた
め、薄膜トランジスタなどの引回し電極の影響を受け
ず、隣り合う反射電極間の絶縁性を保つ範囲で反射電極
を大きく形成でき、開口率を90%以上にすることがで
きる。
め、薄膜トランジスタなどの引回し電極の影響を受け
ず、隣り合う反射電極間の絶縁性を保つ範囲で反射電極
を大きく形成でき、開口率を90%以上にすることがで
きる。
【図1】本発明の一実施例である反射型液晶表示装置3
0の断面図である。
0の断面図である。
【図2】図1に示される基板31の平面図である。
【図3】図1および図2に示される凸部42aを有する
反射電極38を形成する形成方法を説明する工程図であ
る。
反射電極38を形成する形成方法を説明する工程図であ
る。
【図4】図3に示す形成方法を説明する断面図である。
【図5】図3の工程a5で用いるマスク51の平面図で
ある。
ある。
【図6】本発明の反射型液晶表示装置30の反射特性の
測定に用いられる反射板70の製造工程を説明する工程
図である。
測定に用いられる反射板70の製造工程を説明する工程
図である。
【図7】図6の工程を説明する断面図である。
【図8】反射板70の反射特性の測定法を説明する斜視
図である。
図である。
【図9】入射角度θと反射強度との関係を示すグラフで
ある。
ある。
【図10】アクティブマトリクス方式に用いられるスイ
ッチング素子である薄膜トランジスタ1を有する基板2
の平面図である。
ッチング素子である薄膜トランジスタ1を有する基板2
の平面図である。
【図11】図10に示す切断面線XI−XIから見た断
面図である。
面図である。
30 反射型液晶表示装置 31,45 基板 38 反射電極 42 有機絶縁膜 42a,42b 凸部 49 液晶 51 ホトマスク
Claims (2)
- 【請求項1】 液晶層を介在して対向配置される一対の
透明基板のうち、一方基板上の液晶層側表面には、他方
基板側からの入射光を反射する表示絵素である複数の反
射電極と、各反射電極に表示のための電圧を印加する引
回し電極とを形成し、他方基板上の液晶層側表面には、
ほぼ全面にわたって透光性を有する共通電極を形成して
構成される反射型液晶表示装置において、 前記反射電極は、一方基板上の液晶側であって、前記引
回し電極を含む領域に不規則に配列された複数の凸部上
に形成された絶縁膜上に形成されており、隣り合う反射
電極が相互に間隙を介するように、予め定められた領域
に形成されることを特徴とする反射型液晶表示装置。 - 【請求項2】 前記凸部は、感光性樹脂から成ることを
特徴とする請求項1に記載の反射型液晶表示装置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4230082A JPH0675237A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | 反射型液晶表示装置 |
| TW082106000A TW255019B (ja) | 1992-08-28 | 1993-07-27 | |
| KR1019930015613A KR940004514A (ko) | 1992-08-28 | 1993-08-10 | 반사형 액정표시장치 |
| US08/107,226 US5526149A (en) | 1992-08-28 | 1993-08-16 | Reflection type liquid crystal display device |
| DE69316483T DE69316483T2 (de) | 1992-08-28 | 1993-08-31 | Flüssigkristall-Anzeigevorrichtung von Reflexionstyp |
| EP93306857A EP0586220B1 (en) | 1992-08-28 | 1993-08-31 | Reflection type liquid crystal display device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4230082A JPH0675237A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | 反射型液晶表示装置 |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| JP11007192A Division JPH11316371A (ja) | 1999-01-14 | 1999-01-14 | 反射型液晶表示装置 |
| JP00719399A Division JP3193906B2 (ja) | 1999-01-14 | 1999-01-14 | 反射型液晶表示装置の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0675237A true JPH0675237A (ja) | 1994-03-18 |
Family
ID=16902271
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4230082A Pending JPH0675237A (ja) | 1992-08-28 | 1992-08-28 | 反射型液晶表示装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5526149A (ja) |
| EP (1) | EP0586220B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0675237A (ja) |
| KR (1) | KR940004514A (ja) |
| DE (1) | DE69316483T2 (ja) |
| TW (1) | TW255019B (ja) |
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