JPH0676401A - 熱時定数の大きい光磁気ディスクに対する光磁気記録方 法、記録装置及び光磁気ディスク - Google Patents
熱時定数の大きい光磁気ディスクに対する光磁気記録方 法、記録装置及び光磁気ディスクInfo
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- JPH0676401A JPH0676401A JP4227230A JP22723092A JPH0676401A JP H0676401 A JPH0676401 A JP H0676401A JP 4227230 A JP4227230 A JP 4227230A JP 22723092 A JP22723092 A JP 22723092A JP H0676401 A JPH0676401 A JP H0676401A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】「熱時定数ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディス
クに、マーク長記録方式（マークエッジ位置で情報を表
す）で高密度記録を行なっても、正確に記録するでき、
再生時のウインドマージンを広くする。 【構成】マーク長記録は、光磁気ディスクを回転させな
がら、そこにレーザービームを照射し、その際、ビーム
は、記録すべきデータ信号に従って発光及び消光させ、
かつ照射位置にバイアス磁界を印加することにより、磁
化の向きが反転したマークをディスク上に形成し、マー
クエッジ位置によりデータを記録する。本発明は、「熱
時定数ｔ63」が30nsec以上のものを使用し、かつ、デー
タ信号のパターンに依存させて発光及び／又は消光する
タイミングを調整し、これによりマークのエッジシフト
量をパターンによらずに一定にした。
クに、マーク長記録方式（マークエッジ位置で情報を表
す）で高密度記録を行なっても、正確に記録するでき、
再生時のウインドマージンを広くする。 【構成】マーク長記録は、光磁気ディスクを回転させな
がら、そこにレーザービームを照射し、その際、ビーム
は、記録すべきデータ信号に従って発光及び消光させ、
かつ照射位置にバイアス磁界を印加することにより、磁
化の向きが反転したマークをディスク上に形成し、マー
クエッジ位置によりデータを記録する。本発明は、「熱
時定数ｔ63」が30nsec以上のものを使用し、かつ、デー
タ信号のパターンに依存させて発光及び／又は消光する
タイミングを調整し、これによりマークのエッジシフト
量をパターンによらずに一定にした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、熱時定数が大きい光磁
気ディスクに記録する光磁気記録方法、記録装置及び光
磁気ディスクに関する。
気ディスクに記録する光磁気記録方法、記録装置及び光
磁気ディスクに関する。
【０００２】
【従来の技術】光学的情報記録／再生は、現在、再生
専用型例えばコンパクトディスク、レーザーディスク、
一度だけ記録可能なライトワンス型（孔開けタイプ）
例えば薄い金属膜もしくはサーメット膜を記録層とする
光ディスク、記録、再生、消去が繰り返し何度でも可
能な型例えば光磁気記録、相変化型などが実用化又は試
行されている。
専用型例えばコンパクトディスク、レーザーディスク、
一度だけ記録可能なライトワンス型（孔開けタイプ）
例えば薄い金属膜もしくはサーメット膜を記録層とする
光ディスク、記録、再生、消去が繰り返し何度でも可
能な型例えば光磁気記録、相変化型などが実用化又は試
行されている。
【０００３】その中で光磁気記録は、最も注目され、現
在、精力的に実用化が進められている。ここに使用され
る記録媒体は光磁気ディスクと呼ばれ、光磁気ディスク
上には情報を記録した又はこれから情報を記録するトラ
ックが渦巻き状又は同心円状に何千本も形成されてい
る。このトラック上に０と１に相当する２種の情報単位
が形成され、情報が記録される。実際には、トラックそ
れ自身（つまり、地の部分）が０又は１の一方に相当す
る第１情報単位を示し、トラック上に点々と又は島状に
０又は１の他方に相当する第２情報単位（最近、これを
マークと呼ぶ）が形成される。この場合、マークの有
無、間隔及び／又は長さが情報を表す。特にマークのエ
ッジ位置が情報を表す方法はマーク長記録と呼ばれる。
在、精力的に実用化が進められている。ここに使用され
る記録媒体は光磁気ディスクと呼ばれ、光磁気ディスク
上には情報を記録した又はこれから情報を記録するトラ
ックが渦巻き状又は同心円状に何千本も形成されてい
る。このトラック上に０と１に相当する２種の情報単位
が形成され、情報が記録される。実際には、トラックそ
れ自身（つまり、地の部分）が０又は１の一方に相当す
る第１情報単位を示し、トラック上に点々と又は島状に
０又は１の他方に相当する第２情報単位（最近、これを
マークと呼ぶ）が形成される。この場合、マークの有
無、間隔及び／又は長さが情報を表す。特にマークのエ
ッジ位置が情報を表す方法はマーク長記録と呼ばれる。
【０００４】この場合、光磁気記録装置は、主として、
光磁気ディスクを回転させる回転手段、レーザービーム
光源、光源から発光したレーザービームを前記ディスク
に照射する照射光学系、レーザービームを記録すべきデ
ータ（２値化情報）信号に従って発光及び消光させる変
調手段、及び、照射位置にバイアス磁界を印加する磁気
手段からなる。
光磁気ディスクを回転させる回転手段、レーザービーム
光源、光源から発光したレーザービームを前記ディスク
に照射する照射光学系、レーザービームを記録すべきデ
ータ（２値化情報）信号に従って発光及び消光させる変
調手段、及び、照射位置にバイアス磁界を印加する磁気
手段からなる。
【０００５】この装置では、光磁気ディスクを回転させ
ながら、そこにレーザービームを照射し、その際、該レ
ーザービームは、記録すべきデータ信号に従って発光及
び消光させ、かつ照射位置にバイアス磁界を印加するこ
とにより、磁化の向きが反転したマークを前記ディスク
上に形成し、マークエッジ位置により前記データを記録
するのである。
ながら、そこにレーザービームを照射し、その際、該レ
ーザービームは、記録すべきデータ信号に従って発光及
び消光させ、かつ照射位置にバイアス磁界を印加するこ
とにより、磁化の向きが反転したマークを前記ディスク
上に形成し、マークエッジ位置により前記データを記録
するのである。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】光磁気記録において、
最近、記憶容量の向上を望む声が高まり、本発明者は、
新たな光磁気ディスクを試作し、高密度記録の研究に取
り組んだ。しかし、このディスクは、高密度に記録しよ
うとすると、従来技術では、正確に記録できずにウイン
ドマージンがゼロ又は極めて狭いと言う問題点のあるこ
とが判明した。本発明の目的はかかる問題点の解決にあ
る。
最近、記憶容量の向上を望む声が高まり、本発明者は、
新たな光磁気ディスクを試作し、高密度記録の研究に取
り組んだ。しかし、このディスクは、高密度に記録しよ
うとすると、従来技術では、正確に記録できずにウイン
ドマージンがゼロ又は極めて狭いと言う問題点のあるこ
とが判明した。本発明の目的はかかる問題点の解決にあ
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明者は、まず問題点
の原因を突き止めるべく鋭意研究を開始した。従来技術
では、図２の（２）に示すように、記録すべきデータ信
号（１）に相応させて単純にレーザー光源に入力する電
力を高レベル（ＰH ) 、低レベル（ＰL ) に変化させて
いた。これに応じて、レーザービームが発光（ＰH ) 、
消光（ＰL ) する。厳密なことを言えば、図３に示すよ
うに、発光のとき、完全発光（高い所望の発光強度）に
なるのはデータ信号より少し（Δｔ）遅れる。このΔｔ
を立ち上がり時間と言う。また、逆に消光のとき、完全
消光（低い所望の発光強度又は強度がゼロ）になるのは
データ信号より少し（Δｔ）遅れる。トラッキングやフ
ォーカシングのために、低い所望の発光強度が望まれる
ことがある。後者のΔｔを立ち下がり時間と言う。
の原因を突き止めるべく鋭意研究を開始した。従来技術
では、図２の（２）に示すように、記録すべきデータ信
号（１）に相応させて単純にレーザー光源に入力する電
力を高レベル（ＰH ) 、低レベル（ＰL ) に変化させて
いた。これに応じて、レーザービームが発光（ＰH ) 、
消光（ＰL ) する。厳密なことを言えば、図３に示すよ
うに、発光のとき、完全発光（高い所望の発光強度）に
なるのはデータ信号より少し（Δｔ）遅れる。このΔｔ
を立ち上がり時間と言う。また、逆に消光のとき、完全
消光（低い所望の発光強度又は強度がゼロ）になるのは
データ信号より少し（Δｔ）遅れる。トラッキングやフ
ォーカシングのために、低い所望の発光強度が望まれる
ことがある。後者のΔｔを立ち下がり時間と言う。
【０００８】レーザービームが発光してディスクを照射
すると、ディスクの温度は当然のことながら上昇する。
そして、ディスクの温度がキューリー点近傍の臨界温度
Ｔthに達すると、バイアス磁界により磁化が反転してマ
ークが形成され始める。データが０から１に立ち上がっ
て発光が開始されてから、Ｔthに達してマークの形成が
開始されるまでに当然にズレ（図２に示すＳf)がある。
このズレ量Ｓf をマークのエッジシフト量と呼ぶ。こ
れはマークの前側のズレ量であるが、マークの後側にも
ズレがある。それは、今度は、データが１から０に立ち
下がって消光が開始されても、ディスクの温度はすぐに
はＴth以下に下がらず、マークの形成が継続する。しば
らくして、ディスクの温度がＴth以下に下がりマーク形
成が終了する。データが１から０に立ち下がって消光し
た時からマーク形成が終了するまでのズレ量（図２に示
すＳb ）もマークのエッジシフト量と呼ぶ。
すると、ディスクの温度は当然のことながら上昇する。
そして、ディスクの温度がキューリー点近傍の臨界温度
Ｔthに達すると、バイアス磁界により磁化が反転してマ
ークが形成され始める。データが０から１に立ち上がっ
て発光が開始されてから、Ｔthに達してマークの形成が
開始されるまでに当然にズレ（図２に示すＳf)がある。
このズレ量Ｓf をマークのエッジシフト量と呼ぶ。こ
れはマークの前側のズレ量であるが、マークの後側にも
ズレがある。それは、今度は、データが１から０に立ち
下がって消光が開始されても、ディスクの温度はすぐに
はＴth以下に下がらず、マークの形成が継続する。しば
らくして、ディスクの温度がＴth以下に下がりマーク形
成が終了する。データが１から０に立ち下がって消光し
た時からマーク形成が終了するまでのズレ量（図２に示
すＳb ）もマークのエッジシフト量と呼ぶ。
【０００９】付言すると、発光が開始されて、温度が上
昇しＴthに達しも更に上昇を続け、その結果、ディスク
の温度はトラックの幅方向へも拡散し、マークが後行く
ほど太くなる。マークの形状は涙滴型になる、このこと
も不都合がある。涙滴型のマークは、Ｃ／Ｎ比を低下さ
せたり、消し残りを生む。更に鋭意研究の結果、特に、
後述する「熱時定数ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディス
クに対して、高密度記録を行なうと、エッジシフト量が
記録すべきデータ信号のパターンに依存して変化するこ
とが判明した。例えば、マークの長さが延びて別のマー
クになったり、２つのマークとマークとの間がつながっ
て、長い１つの別のマークになってしまった。これによ
り、記録が正確にできなかったらしい。このことは、定
性的にも理解されよう。例えば、長いマークの後にすぐ
次のマークを形成する場合は、既にディスクが余熱され
ていて、次のマーク形成は早めに開始されるであろう。
逆に、しばらくマーク形成がない後にマークを形成する
場合は、ディスクは冷えきっているので、次のマーク形
成は中々始まらない。このように、エッジシフト量が記
録すべきデータ信号のパターンに依存して変化すること
を「パターン依存性」と表現する。
昇しＴthに達しも更に上昇を続け、その結果、ディスク
の温度はトラックの幅方向へも拡散し、マークが後行く
ほど太くなる。マークの形状は涙滴型になる、このこと
も不都合がある。涙滴型のマークは、Ｃ／Ｎ比を低下さ
せたり、消し残りを生む。更に鋭意研究の結果、特に、
後述する「熱時定数ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディス
クに対して、高密度記録を行なうと、エッジシフト量が
記録すべきデータ信号のパターンに依存して変化するこ
とが判明した。例えば、マークの長さが延びて別のマー
クになったり、２つのマークとマークとの間がつながっ
て、長い１つの別のマークになってしまった。これによ
り、記録が正確にできなかったらしい。このことは、定
性的にも理解されよう。例えば、長いマークの後にすぐ
次のマークを形成する場合は、既にディスクが余熱され
ていて、次のマーク形成は早めに開始されるであろう。
逆に、しばらくマーク形成がない後にマークを形成する
場合は、ディスクは冷えきっているので、次のマーク形
成は中々始まらない。このように、エッジシフト量が記
録すべきデータ信号のパターンに依存して変化すること
を「パターン依存性」と表現する。
【００１０】本発明者は、光磁気ディスクの熱的特性と
「パターン依存性」について研究した。 その過程で、
本発明者は、光磁気ディスクについて、後述する「熱時
定数ｔ63」を初めて測定した。そして、「熱時定数
ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディスクが有する「パター
ン依存性」を解消し、記録を正確に行なうための記録方
法及び記録装置を発明した。これが本発明である。
「パターン依存性」について研究した。 その過程で、
本発明者は、光磁気ディスクについて、後述する「熱時
定数ｔ63」を初めて測定した。そして、「熱時定数
ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディスクが有する「パター
ン依存性」を解消し、記録を正確に行なうための記録方
法及び記録装置を発明した。これが本発明である。
【００１１】即ち、第１に本発明は、「光磁気ディスク
を回転させながら、そこにレーザービームを照射し、そ
の際、該レーザービームは、記録すべきデータ信号に従
って発光及び消光させ、かつ照射位置にバイアス磁界を
印加することにより、磁化の向きが反転したマークを前
記ディスク上に形成し、マークエッジ位置により前記デ
ータを記録する光磁気記録方法において、前記ディスク
が、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のものであり、か
つ、前記データ信号のパターンに依存させて発光及び／
又は消光するタイミングを調整し、これによりマークの
エッジシフト量をパターンによらずに一定にすることを
特徴とする記録方法（請求項１）」を提供する。
を回転させながら、そこにレーザービームを照射し、そ
の際、該レーザービームは、記録すべきデータ信号に従
って発光及び消光させ、かつ照射位置にバイアス磁界を
印加することにより、磁化の向きが反転したマークを前
記ディスク上に形成し、マークエッジ位置により前記デ
ータを記録する光磁気記録方法において、前記ディスク
が、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のものであり、か
つ、前記データ信号のパターンに依存させて発光及び／
又は消光するタイミングを調整し、これによりマークの
エッジシフト量をパターンによらずに一定にすることを
特徴とする記録方法（請求項１）」を提供する。
【００１２】第２に本発明は、「光磁気ディスクを回転
させながら、そこにレーザービームを照射し、その際、
該レーザービームは、記録すべきデータ信号に従って発
光及び消光させ、かつ照射位置にバイアス磁界を印加す
ることにより、磁化の向きが反転したマークを前記ディ
スク上に形成し、マークエッジ位置により前記データを
記録する光磁気記録方法において、前記ディスクが、
「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のものであり、かつ、前
記レーザービームを短時間に発光及び消光を繰り返すこ
とにより、１つのマークを形成することを特徴とする記
録方法 （請求項２）」を提供する。
させながら、そこにレーザービームを照射し、その際、
該レーザービームは、記録すべきデータ信号に従って発
光及び消光させ、かつ照射位置にバイアス磁界を印加す
ることにより、磁化の向きが反転したマークを前記ディ
スク上に形成し、マークエッジ位置により前記データを
記録する光磁気記録方法において、前記ディスクが、
「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のものであり、かつ、前
記レーザービームを短時間に発光及び消光を繰り返すこ
とにより、１つのマークを形成することを特徴とする記
録方法 （請求項２）」を提供する。
【００１３】第３に本発明は、「光磁気ディスクを回転
させる回転手段、レーザービーム光源、光源から発光し
たレーザービームを前記ディスクに照射する照射光学
系、レーザービームを記録すべきデータ信号に従って発
光及び消光させる変調手段、及び、照射位置にバイアス
磁界を印加する磁気手段からなり、磁化の向きが反転し
たマークを前記ディスク上に形成し、マークエッジ位置
により前記データを記録する光磁気記録装置において、
前記ディスクが、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のもの
であり、かつ、前記データ信号のパターンに依存させて
発光及び／又は消光するタイミングを調整し、これによ
りマークのエッジシフト量をパターンによらずに一定に
する補償手段を付加したことを特徴とする記録装置（請
求項３）」を提供する。
させる回転手段、レーザービーム光源、光源から発光し
たレーザービームを前記ディスクに照射する照射光学
系、レーザービームを記録すべきデータ信号に従って発
光及び消光させる変調手段、及び、照射位置にバイアス
磁界を印加する磁気手段からなり、磁化の向きが反転し
たマークを前記ディスク上に形成し、マークエッジ位置
により前記データを記録する光磁気記録装置において、
前記ディスクが、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のもの
であり、かつ、前記データ信号のパターンに依存させて
発光及び／又は消光するタイミングを調整し、これによ
りマークのエッジシフト量をパターンによらずに一定に
する補償手段を付加したことを特徴とする記録装置（請
求項３）」を提供する。
【００１４】第４に本発明は、「光磁気ディスクを回転
させる回転手段、レーザービーム光源、光源から発光し
たレーザービームを前記ディスクに照射する照射光学
系、レーザービームを記録すべきデータ信号に従って発
光及び消光させる変調手段、及び、照射位置にバイアス
磁界を印加する磁気手段からなり、磁化の向きが反転し
たマークを前記ディスク上に形成し、マークエッジ位置
により前記データを記録する光磁気記録装置において、
前記ディスクが、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のもの
であり、かつ、１つのマークを形成するために前記レー
ザービームを発光させる時間の中で、短時間の発光及び
消光を繰り返す第２補償手段を付加したことを特徴とす
る記録装置（請求項４）」を提供する。
させる回転手段、レーザービーム光源、光源から発光し
たレーザービームを前記ディスクに照射する照射光学
系、レーザービームを記録すべきデータ信号に従って発
光及び消光させる変調手段、及び、照射位置にバイアス
磁界を印加する磁気手段からなり、磁化の向きが反転し
たマークを前記ディスク上に形成し、マークエッジ位置
により前記データを記録する光磁気記録装置において、
前記ディスクが、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のもの
であり、かつ、１つのマークを形成するために前記レー
ザービームを発光させる時間の中で、短時間の発光及び
消光を繰り返す第２補償手段を付加したことを特徴とす
る記録装置（請求項４）」を提供する。
【００１５】第５に本発明は、 「熱時定数ｔ63」が30
nsec以上の光磁気ディスク（請求項５）」を提供する。
第６に本発明は、 「熱時定数ｔ63」が40nsec以上の光
磁気ディスク（請求項６）」を提供する。最後に、本発
明は、「熱時定数ｔ63」が50nsec以上の光磁気ディスク
（請求項７）」を提供する。（
nsec以上の光磁気ディスク（請求項５）」を提供する。
第６に本発明は、 「熱時定数ｔ63」が40nsec以上の光
磁気ディスク（請求項６）」を提供する。最後に、本発
明は、「熱時定数ｔ63」が50nsec以上の光磁気ディスク
（請求項７）」を提供する。（
【００１６】
【作用】熱時定数について説明する。光磁気ディスクに
対し、記録用レーザービーム（パルス）を用いて光磁気
記録を行なう場合、熱拡散の立場から光磁気ディスクを
見ると、断熱的光磁気ディスクと熱拡散的光磁気ディス
クの２種存在する。レーザービームをデータ信号に従
い、図２の（２）に示すように、消光から発光へとステ
ップ関数的（矩形波のように）に立ち上げるとする。こ
のとき、断熱的ディスクは、熱拡散的ディスクに比べ
て、レーザービームの単位強度当たりの昇温［℃／ｍ
Ｗ］が大きい。 つまり、同一の強度で照射した場合に
目的温度に達するまでの時間は、断熱的ディスクの方が
短い。一方、断熱的ディスクは、昇温プロフィール又は
温度プロフィール（instantaneous (elevated) tempera
ture profile ) が飽和に達するまでの所要時間（ｔ
sat ）が、熱拡散的ディスクに比べて長い。図４を参照
されたい。このことは、土瓶は鉄瓶よりも熱し難く冷め
難いと考えれば分かりやすい。熱時定数は、このｔsat
に相応する。
対し、記録用レーザービーム（パルス）を用いて光磁気
記録を行なう場合、熱拡散の立場から光磁気ディスクを
見ると、断熱的光磁気ディスクと熱拡散的光磁気ディス
クの２種存在する。レーザービームをデータ信号に従
い、図２の（２）に示すように、消光から発光へとステ
ップ関数的（矩形波のように）に立ち上げるとする。こ
のとき、断熱的ディスクは、熱拡散的ディスクに比べ
て、レーザービームの単位強度当たりの昇温［℃／ｍ
Ｗ］が大きい。 つまり、同一の強度で照射した場合に
目的温度に達するまでの時間は、断熱的ディスクの方が
短い。一方、断熱的ディスクは、昇温プロフィール又は
温度プロフィール（instantaneous (elevated) tempera
ture profile ) が飽和に達するまでの所要時間（ｔ
sat ）が、熱拡散的ディスクに比べて長い。図４を参照
されたい。このことは、土瓶は鉄瓶よりも熱し難く冷め
難いと考えれば分かりやすい。熱時定数は、このｔsat
に相応する。
【００１７】本発明者は、鋭意研究の結果、先に光磁気
ディスクそれ自体を測定することによって、ディスクの
熱時定数を測定する方法を発明した。次にこの測定方法
を説明する。 ＜熱時定数の測定方法＞被測定物である光磁気ディスク
と、測定ツール（測定手段）である光磁気ディスク評価
用の光磁気記録／再生装置（以下、評価用ドライブとも
言う）を用意する。レーザービームは、N.A.＝ 0.55 、
波長＝ 830 nm であり、立ち上がり時間と立ち下がり時
間は共に約 10 nsecである。評価用ドライブに光磁気デ
ィスクをセットし、ディスクのトラックが測定線速度
（Ｖ＝11.3 ｍ／sec ）となるようにディスクを回転さ
せる。次に評価用ドライブのレーザービームのスポット
をトラック上にサーボオンさせる。つまり、フォーカシ
ングとトラッキングのサーボ装置を作動させる。
ディスクそれ自体を測定することによって、ディスクの
熱時定数を測定する方法を発明した。次にこの測定方法
を説明する。 ＜熱時定数の測定方法＞被測定物である光磁気ディスク
と、測定ツール（測定手段）である光磁気ディスク評価
用の光磁気記録／再生装置（以下、評価用ドライブとも
言う）を用意する。レーザービームは、N.A.＝ 0.55 、
波長＝ 830 nm であり、立ち上がり時間と立ち下がり時
間は共に約 10 nsecである。評価用ドライブに光磁気デ
ィスクをセットし、ディスクのトラックが測定線速度
（Ｖ＝11.3 ｍ／sec ）となるようにディスクを回転さ
せる。次に評価用ドライブのレーザービームのスポット
をトラック上にサーボオンさせる。つまり、フォーカシ
ングとトラッキングのサーボ装置を作動させる。
【００１８】そして、レーザービームをパルス変調す
る。レーザービームの照射によりディスクの温度は上昇
するが、パルス変調は、各パルスの加熱による熱が干渉
し合わないと見なせるに十分な時間間隔が開くようなデ
ュティ・サイクル duty cycleとする。そして、様々な
パルス時間長（pulse dulation time ；以下、P.D.T.と
略す；図５参照）を持つパルスをディスクに照射し、各
P.D.T.毎の「ディスクに記録が行えることのできる最小
パワー（Pth)」を求める。図６に示す如くに、１／Pth
を縦軸、P.D.T.を横軸にデータをプロットする。１／Pt
h の飽和するレベルを100 とする。熱時定数の代表値と
して、１／Pth が63になるP.D.T.を選択する。この値
が、本明細書で言う「熱時定数ｔ63」である。
る。レーザービームの照射によりディスクの温度は上昇
するが、パルス変調は、各パルスの加熱による熱が干渉
し合わないと見なせるに十分な時間間隔が開くようなデ
ュティ・サイクル duty cycleとする。そして、様々な
パルス時間長（pulse dulation time ；以下、P.D.T.と
略す；図５参照）を持つパルスをディスクに照射し、各
P.D.T.毎の「ディスクに記録が行えることのできる最小
パワー（Pth)」を求める。図６に示す如くに、１／Pth
を縦軸、P.D.T.を横軸にデータをプロットする。１／Pt
h の飽和するレベルを100 とする。熱時定数の代表値と
して、１／Pth が63になるP.D.T.を選択する。この値
が、本明細書で言う「熱時定数ｔ63」である。
【００１９】「熱時定数ｔ63」の大きな光磁気ディスク
は、断熱的ディスクであり、記録時にマーク形成のデー
タパターン依存性が大きい。本発明者は、鋭意研究の結
果、「熱時定数ｔ63」が30 nsec 以上である光磁気ディ
スクにおいては、マーク形成のデータパターン依存性が
大きいため、従来技術では、記録すべき情報が正確に記
録されないことを見出した。
は、断熱的ディスクであり、記録時にマーク形成のデー
タパターン依存性が大きい。本発明者は、鋭意研究の結
果、「熱時定数ｔ63」が30 nsec 以上である光磁気ディ
スクにおいては、マーク形成のデータパターン依存性が
大きいため、従来技術では、記録すべき情報が正確に記
録されないことを見出した。
【００２０】従来技術では、図２に示したように、レー
ザービームの強度レベル（ｍＷ）が単に高低（ＰH 、Ｐ
L ) の２値であり、発光（ＰH ）及び消光（ＰL ) タイ
ミングが、入力するデータ信号（記録すべき情報）の立
ち上がり立ち下がりのタイミングと同一である。ただ、
厳密に言うと、図３に示す遅れΔｔがあるが、今はこの
点を無視する。このような単純な記録方法では、情報が
正確に記録されず、そのため正確に再生されないことが
判った。
ザービームの強度レベル（ｍＷ）が単に高低（ＰH 、Ｐ
L ) の２値であり、発光（ＰH ）及び消光（ＰL ) タイ
ミングが、入力するデータ信号（記録すべき情報）の立
ち上がり立ち下がりのタイミングと同一である。ただ、
厳密に言うと、図３に示す遅れΔｔがあるが、今はこの
点を無視する。このような単純な記録方法では、情報が
正確に記録されず、そのため正確に再生されないことが
判った。
【００２１】本発明の１つは、レーザービームを発光
及び／又は消光するタイミングをデータ信号のパターン
に依存させて調整するものである。パターンによって、
発光するタイミングを早めたり、遅めたりし、またパタ
ーンによって、消光するタイミングを早めたり、遅めた
りする。例えば、発光タイミングの場合は、その前の消
光時間が短いとき（ディスクが余熱されている）には、
短いほど発光タイミングを遅らせ、その前の消光時間が
長いときには、長いほど発光タイミングを早める。消光
タイミングの場合は、その前の発光時間が長い（ディス
クに熱蓄積が生じる）ときには、長いほど消光タイミン
グを早める。
及び／又は消光するタイミングをデータ信号のパターン
に依存させて調整するものである。パターンによって、
発光するタイミングを早めたり、遅めたりし、またパタ
ーンによって、消光するタイミングを早めたり、遅めた
りする。例えば、発光タイミングの場合は、その前の消
光時間が短いとき（ディスクが余熱されている）には、
短いほど発光タイミングを遅らせ、その前の消光時間が
長いときには、長いほど発光タイミングを早める。消光
タイミングの場合は、その前の発光時間が長い（ディス
クに熱蓄積が生じる）ときには、長いほど消光タイミン
グを早める。
【００２２】他の１つは、１つのマークを形成すると
き、単にレーザービームを発光し続けないで、その間に
短時間の発光及び消光を繰り返すことにより、１つのマ
ークを形成するものである。前者は「熱時定数ｔ63」
が30 nsec 以上の断熱的ディスクにおける大きな熱時定
数に起因する「パターン依存性」を直接に相殺する。後
者は、レーザービームによる加熱をできるだけ断熱的
に取り扱うことで、少ないレーザーエネルギーで正確な
エッジ位置のマークを形成させ、それにより「パターン
依存性」を小さくする。
き、単にレーザービームを発光し続けないで、その間に
短時間の発光及び消光を繰り返すことにより、１つのマ
ークを形成するものである。前者は「熱時定数ｔ63」
が30 nsec 以上の断熱的ディスクにおける大きな熱時定
数に起因する「パターン依存性」を直接に相殺する。後
者は、レーザービームによる加熱をできるだけ断熱的
に取り扱うことで、少ないレーザーエネルギーで正確な
エッジ位置のマークを形成させ、それにより「パターン
依存性」を小さくする。
【００２３】以下、実施例により本発明をより具体的に
説明する。
説明する。
【００２４】
【実施例１】「熱時定数ｔ63」が36nsecの新規なオーバ
ーライト可能な光磁気ディスクを用意した。構造は樹脂
層／SiN (700Å）／磁性膜 (1300Å）／SiN (700Å）／
樹脂層である。このディスクは図７に示す特性を有す
る。全面初期化の後、この光磁気ディスクを測定線速
度：Ｖ＝11.3ｍ／sec で回転させた。レーザービーム
は、N.A.＝ 0.55 、波長＝ 830 nm である。発光
（ＰH ）強度は11ｍＷとし、消光（ＰL ）強度は4.5 ｍ
Ｗとした。なお、このレーザービームの立ち上がり時間
と立ち下がり時間は共に約 10 nsecであった。
ーライト可能な光磁気ディスクを用意した。構造は樹脂
層／SiN (700Å）／磁性膜 (1300Å）／SiN (700Å）／
樹脂層である。このディスクは図７に示す特性を有す
る。全面初期化の後、この光磁気ディスクを測定線速
度：Ｖ＝11.3ｍ／sec で回転させた。レーザービーム
は、N.A.＝ 0.55 、波長＝ 830 nm である。発光
（ＰH ）強度は11ｍＷとし、消光（ＰL ）強度は4.5 ｍ
Ｗとした。なお、このレーザービームの立ち上がり時間
と立ち下がり時間は共に約 10 nsecであった。
【００２５】このビームを記録すべきデータ信号に従っ
てパルス変調する。データ信号は、１／２（2,7)R.L.
L.、 0.54 μｍ／bit 、 clock period ＝24nsecのＮＲ
ＺＩマーク長記録用のランダム信号を用いた。ここで
は、図１の（実施例）に示すように、レーザービームの
発光（ＰH ）及び消光（ＰL ) タイミングをデータ信号
のパターンに依存して調整し、エッジシフト量を常に一
定にした。
てパルス変調する。データ信号は、１／２（2,7)R.L.
L.、 0.54 μｍ／bit 、 clock period ＝24nsecのＮＲ
ＺＩマーク長記録用のランダム信号を用いた。ここで
は、図１の（実施例）に示すように、レーザービームの
発光（ＰH ）及び消光（ＰL ) タイミングをデータ信号
のパターンに依存して調整し、エッジシフト量を常に一
定にした。
【００２６】こうして記録されたデータをレーザービー
ム強度ＰR ＝１ｍＷで再生し、B.E.R.＝10-5のレベルの
ウインドマージンを測定したところ、ウインドマージン
は12nsecの35％であった。
ム強度ＰR ＝１ｍＷで再生し、B.E.R.＝10-5のレベルの
ウインドマージンを測定したところ、ウインドマージン
は12nsecの35％であった。
【００２７】
【従来例】ここでは、レーザービームの発光及び消光の
タイミングをデータ信号のパターンに依存して調整する
ことはしなかった。図１の（従来例）と同じである。そ
して、実施例１と同様にＮＲＺＩマーク長記録用のラン
ダム信号を記録し、再生した。その結果、ウインドマー
ジンは存在しなかった。つまり、正確なデータは記録さ
れなかったのである。
タイミングをデータ信号のパターンに依存して調整する
ことはしなかった。図１の（従来例）と同じである。そ
して、実施例１と同様にＮＲＺＩマーク長記録用のラン
ダム信号を記録し、再生した。その結果、ウインドマー
ジンは存在しなかった。つまり、正確なデータは記録さ
れなかったのである。
【００２８】
【実施例２】実施例１と同じディスクを用意した。全面
初期化の後、この光磁気ディスクを測定線速度：Ｖ＝1
1.3ｍ／sec で回転させた。レーザービームも実施例１
と同じものである。但し、発光強度は、初期値ＰH ＝11
ｍＷ、それ以降ＰHB＝10ｍＷとし、消光強度はＰL ＝4.
5 ｍＷとした。
初期化の後、この光磁気ディスクを測定線速度：Ｖ＝1
1.3ｍ／sec で回転させた。レーザービームも実施例１
と同じものである。但し、発光強度は、初期値ＰH ＝11
ｍＷ、それ以降ＰHB＝10ｍＷとし、消光強度はＰL ＝4.
5 ｍＷとした。
【００２９】このビームを記録すべきデータ信号に従っ
てパルス変調する。データ信号も実施例１と同じであ
る。ここでは、図８の（２）に示すように、１つのマー
クを形成するためにレーザービームを発光させる時間の
中で、短時間の発光及び消光を繰り返す第２補償手段を
付加した装置を用いた。
てパルス変調する。データ信号も実施例１と同じであ
る。ここでは、図８の（２）に示すように、１つのマー
クを形成するためにレーザービームを発光させる時間の
中で、短時間の発光及び消光を繰り返す第２補償手段を
付加した装置を用いた。
【００３０】これにより記録されたデータをレーザービ
ーム強度ＰR ＝１ｍＷで再生し、B.E.R.＝10-5のレベル
のウインドマージンを測定したところ、ウインドマージ
ンは12nsecの40％であった。
ーム強度ＰR ＝１ｍＷで再生し、B.E.R.＝10-5のレベル
のウインドマージンを測定したところ、ウインドマージ
ンは12nsecの40％であった。
【００３１】
【発明の効果】以上の通り、本発明によれば、「熱時定
数ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディスクに高密度記録を
行なっても、正確に記録することができ、再生時のウイ
ンドマージンが広い。また、本発明は、「熱時定数
ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディスクを提供する。これ
は、本発明の記録方法と合いまって、少ないレーザーエ
ネルギーで正確な長さのマークを形成することができ
る。
数ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディスクに高密度記録を
行なっても、正確に記録することができ、再生時のウイ
ンドマージンが広い。また、本発明は、「熱時定数
ｔ63」が30nsec以上の光磁気ディスクを提供する。これ
は、本発明の記録方法と合いまって、少ないレーザーエ
ネルギーで正確な長さのマークを形成することができ
る。
【図１】は、記録すべきデータ信号に従って変調された
レーザービームの発光及び消光を示すチャート（波形
図）である。厳密には、レーザービームの光源へ入力す
る電力のチャート（波形図）である。
レーザービームの発光及び消光を示すチャート（波形
図）である。厳密には、レーザービームの光源へ入力す
る電力のチャート（波形図）である。
【図２】は、従来技術における、記録すべきデータ信号
のパターン（波形）の一例、そのときのレーザービーム
の発光及び消光を示すチャート（光源へ入力する電力の
チャート）、そのときのディスクの温度プロフィール
（昇温プロフィール）及び形成されるマークの関係を示
す説明図である。
のパターン（波形）の一例、そのときのレーザービーム
の発光及び消光を示すチャート（光源へ入力する電力の
チャート）、そのときのディスクの温度プロフィール
（昇温プロフィール）及び形成されるマークの関係を示
す説明図である。
【図３】は、記録すべきデータ信号に従って変調された
「レーザービームの光源へ入力する電力」と、実際に発
光するレーザービームの強度との関係を説明するチャー
トである。
「レーザービームの光源へ入力する電力」と、実際に発
光するレーザービームの強度との関係を説明するチャー
トである。
【図４】は、飽和に達するまでの所要時間（ｔsat ）を
示す温度プロフィールのグラフである。
示す温度プロフィールのグラフである。
【図５】は、パルス時間長（P.D.T.）を説明する波形図
である。
である。
【図６】は、１／Pth を縦軸、P.D.T.を横軸にデータを
プロットしたグラフである。１／Pth が63になるP.D.T.
を選択すると、この値が「熱時定数ｔ63」数となる。
プロットしたグラフである。１／Pth が63になるP.D.T.
を選択すると、この値が「熱時定数ｔ63」数となる。
【図７】は、実施例に使用したディスクの「１／Pth を
縦軸、P.D.T.を横軸にデータをプロットしたグラフ」で
ある。
縦軸、P.D.T.を横軸にデータをプロットしたグラフ」で
ある。
【図８】は、１つのマークを形成するレーザービームの
発光を示す波形図である。（１）は従来例である。
（２）は実施例であり、同じ１つのマークを形成するの
に、レーザービームの発光（ＰH 、ＰHB) 及び消光（Ｐ
L ) を繰り返す。発光、消光を繰り返すとき、発光レベ
ルを初期値ＰH からＰHBに低下させる点にも特徴があ
る。
発光を示す波形図である。（１）は従来例である。
（２）は実施例であり、同じ１つのマークを形成するの
に、レーザービームの発光（ＰH 、ＰHB) 及び消光（Ｐ
L ) を繰り返す。発光、消光を繰り返すとき、発光レベ
ルを初期値ＰH からＰHBに低下させる点にも特徴があ
る。
Claims (7)
- 【請求項１】光磁気ディスクを回転させながら、そこに
レーザービームを照射し、その際、該レーザービーム
は、記録すべきデータ信号に従って発光及び消光させ、
かつ照射位置にバイアス磁界を印加することにより、磁
化の向きが反転したマークを前記ディスク上に形成し、
マークエッジ位置により前記データを記録する光磁気記
録方法において、 前記ディスクが、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のもの
であり、かつ、前記データ信号のパターンに依存させて
発光及び／又は消光するタイミングを調整し、これによ
りマークのエッジシフト量をパターンによらずに一定に
することを特徴とする記録方法。 - 【請求項２】光磁気ディスクを回転させながら、そこに
レーザービームを照射し、その際、該レーザービーム
は、記録すべきデータ信号に従って発光及び消光させ、
かつ照射位置にバイアス磁界を印加することにより、磁
化の向きが反転したマークを前記ディスク上に形成し、
マークエッジ位置により前記データを記録する光磁気記
録方法において、 前記ディスクが、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のもの
であり、かつ、前記レーザービームを短時間に発光及び
消光を繰り返すことにより、１つのマークを形成するこ
とを特徴とする記録方法。 - 【請求項３】光磁気ディスクを回転させる回転手段、レ
ーザービーム光源、光源から発光したレーザービームを
前記ディスクに照射する照射光学系、レーザービームを
記録すべきデータ信号に従って発光及び消光させる変調
手段、及び、照射位置にバイアス磁界を印加する磁気手
段からなり、磁化の向きが反転したマークを前記ディス
ク上に形成し、マークエッジ位置により前記データを記
録する光磁気記録装置において、 前記ディスクが、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のもの
であり、かつ、前記データ信号のパターンに依存させて
発光及び／又は消光するタイミングを調整し、これによ
りマークのエッジシフト量をパターンによらずに一定に
する補償手段を付加したことを特徴とする記録装置。 - 【請求項４】光磁気ディスクを回転させる回転手段、レ
ーザービーム光源、光源から発光したレーザービームを
前記ディスクに照射する照射光学系、レーザービームを
記録すべきデータ信号に従って発光及び消光させる変調
手段、及び、照射位置にバイアス磁界を印加する磁気手
段からなり、磁化の向きが反転したマークを前記ディス
ク上に形成し、マークエッジ位置により前記データを記
録する光磁気記録装置において、 前記ディスクが、「熱時定数ｔ63」が30nsec以上のもの
であり、かつ、１つのマークを形成するために前記レー
ザービームを発光させる時間の中で、短時間の発光及び
消光を繰り返す第２補償手段を付加したことを特徴とす
る記録装置。 - 【請求項５】「熱時定数ｔ63」が30nsec以上の光磁気デ
ィスク。 - 【請求項６】「熱時定数ｔ63」が40nsec以上の光磁気デ
ィスク。 - 【請求項７】「熱時定数ｔ63」が50nsec以上の光磁気デ
ィスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4227230A JPH0676401A (ja) | 1992-08-26 | 1992-08-26 | 熱時定数の大きい光磁気ディスクに対する光磁気記録方 法、記録装置及び光磁気ディスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4227230A JPH0676401A (ja) | 1992-08-26 | 1992-08-26 | 熱時定数の大きい光磁気ディスクに対する光磁気記録方 法、記録装置及び光磁気ディスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0676401A true JPH0676401A (ja) | 1994-03-18 |
Family
ID=16857552
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4227230A Pending JPH0676401A (ja) | 1992-08-26 | 1992-08-26 | 熱時定数の大きい光磁気ディスクに対する光磁気記録方 法、記録装置及び光磁気ディスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0676401A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6426930B2 (en) | 2000-06-23 | 2002-07-30 | Fujitsu Limited | Information recording method and information recording apparatus therefor |
| US7120710B2 (en) | 1999-11-22 | 2006-10-10 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Controller for data recorder |
-
1992
- 1992-08-26 JP JP4227230A patent/JPH0676401A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7120710B2 (en) | 1999-11-22 | 2006-10-10 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Controller for data recorder |
| US6426930B2 (en) | 2000-06-23 | 2002-07-30 | Fujitsu Limited | Information recording method and information recording apparatus therefor |
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