JPH0677335B2 - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH0677335B2 JPH0677335B2 JP63266425A JP26642588A JPH0677335B2 JP H0677335 B2 JPH0677335 B2 JP H0677335B2 JP 63266425 A JP63266425 A JP 63266425A JP 26642588 A JP26642588 A JP 26642588A JP H0677335 B2 JPH0677335 B2 JP H0677335B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、コンパクトディスク・プレーヤー、ビデオデ
ィスク・プレーヤー等の記録再生装置に用いることので
きる光ピックアップ装置に関するものである。
ィスク・プレーヤー等の記録再生装置に用いることので
きる光ピックアップ装置に関するものである。
従来の光ピックアップ装置としては、第５図に示すもの
が既に知られている。かかる装置において、半導体レー
ザ11の出射光は第１の回折素子12によって回折され、０
次回折光（メインビーム）と紙面に略垂直方向に離間す
る±１次回折光（サブビーム）とに分割される。この分
割された３つのビームは第２の回折素子13によって更に
回折され、各ビームの０次回折光がコリメートレンズ14
を通過し対物レンズ15によって記録担体16上に集光され
る。このとき、メインビームは情報信号を読み取るべく
記録担体16のピット上に集光され、その反射強度からピ
ット信号（情報信号）が得られる。また、２つのサブビ
ームは上記メインビームについて対称な位置であって、
トラック方向に大きく且つラジアル方向に僅かにずれて
集光され、その２つのサブビームの反射強度からトラッ
キング誤差信号を得る。
が既に知られている。かかる装置において、半導体レー
ザ11の出射光は第１の回折素子12によって回折され、０
次回折光（メインビーム）と紙面に略垂直方向に離間す
る±１次回折光（サブビーム）とに分割される。この分
割された３つのビームは第２の回折素子13によって更に
回折され、各ビームの０次回折光がコリメートレンズ14
を通過し対物レンズ15によって記録担体16上に集光され
る。このとき、メインビームは情報信号を読み取るべく
記録担体16のピット上に集光され、その反射強度からピ
ット信号（情報信号）が得られる。また、２つのサブビ
ームは上記メインビームについて対称な位置であって、
トラック方向に大きく且つラジアル方向に僅かにずれて
集光され、その２つのサブビームの反射強度からトラッ
キング誤差信号を得る。
ピット信号、トラッキング誤差信号、およびフォーカス
誤差信号を得るため、記録担体16からの反射光は対物レ
ンズ15、コリメートレンズ14を通過し、回折素子13にて
回折され、その１次回折光が受光素子17に導かれる。上
記の回折素子13は、記録担体16側から見ると、第６図
（ａ）に示すように、２つの光入射領域13a・13bに分割
され、その分割線13cについて斜め方向に走る対称な形
の格子が形成されている。そして、受光素子17は、同図
（ｂ）に示すように、６つの受光領域17a・17b・17c・1
7d・17e・17fに分割されている。なお、回折素子13の分
割線13cは記録担体16の半径方向（ラジアル方向）と同
方向に設定されている。
誤差信号を得るため、記録担体16からの反射光は対物レ
ンズ15、コリメートレンズ14を通過し、回折素子13にて
回折され、その１次回折光が受光素子17に導かれる。上
記の回折素子13は、記録担体16側から見ると、第６図
（ａ）に示すように、２つの光入射領域13a・13bに分割
され、その分割線13cについて斜め方向に走る対称な形
の格子が形成されている。そして、受光素子17は、同図
（ｂ）に示すように、６つの受光領域17a・17b・17c・1
7d・17e・17fに分割されている。なお、回折素子13の分
割線13cは記録担体16の半径方向（ラジアル方向）と同
方向に設定されている。
ここで、上記半導体レーザ11から出射された光ビームが
記録担体16に対して合焦状態のとき、回折素子13の光入
射領域13aで回折されたメインビームは受光素子17の分
割線A1上に集光されてスポットQ1を形成し、光入射領域
13bで回折されたメインビームは分割線B1上に集光され
てスポットQ2を形成する。また、サブビームは受光領域
17e・17fに集光される。そして、受光素子17の受光領域
17a・17b・17c・17d・17e・17fから各々得られる出力信
号S1a・S1b・S1c・S1d・S1e・S1fによってフォーカス誤
差信号は（S1a＋S1d）−（S1b＋S1c）の演算で、トラッ
キング誤差信号はS1e＋S1fの演算で、ピット信号（情報
信号）はS1a＋S1b＋S1c＋S1dの演算でそれぞれ得られる
ことになる。
記録担体16に対して合焦状態のとき、回折素子13の光入
射領域13aで回折されたメインビームは受光素子17の分
割線A1上に集光されてスポットQ1を形成し、光入射領域
13bで回折されたメインビームは分割線B1上に集光され
てスポットQ2を形成する。また、サブビームは受光領域
17e・17fに集光される。そして、受光素子17の受光領域
17a・17b・17c・17d・17e・17fから各々得られる出力信
号S1a・S1b・S1c・S1d・S1e・S1fによってフォーカス誤
差信号は（S1a＋S1d）−（S1b＋S1c）の演算で、トラッ
キング誤差信号はS1e＋S1fの演算で、ピット信号（情報
信号）はS1a＋S1b＋S1c＋S1dの演算でそれぞれ得られる
ことになる。
また、他の従来例として、第７図に示す光ピックアップ
装置が知られている。かかる装置は前述した従来例に対
し、第２の回折素子である回折素子23の格子形状と受光
素子27の受光領域形状の点で異なっている。回折素子23
を記録担体26側から見たときの回折素子23の格子の配置
を第８図（ａ）に、受光素子27の受光領域の配置の関係
を同図（ｂ）にそれぞれ示す。回折素子23は２つの光入
射領域23a・23bに分割され、各々の領域には互いに異な
る同期の格子が分割線23cに対して直角方向に形成され
ている。そして、受光素子27は６つの受光領域27a・27b
・27c・27d・27e・27fに分割されている。また、回折素
子23の分割線23cの向きはラジアル方向である。合焦状
態のとき光入射領域23aで回折されたメインビームは分
割線A2上に集光されてスポットR1を形成し、光入射領域
23bで回折されたメインビームは分割線B2上に集光され
てスポットR2を形成することになり、一方、サブビーム
は受光領域27e・27fに集光されることになる。そして、
受光素子27の受光領域27a・27b・27c・27d・27e・27fか
ら各々得られる出力信号S2a・S2b・S2c・S2d・S2e・S2f
によってフォーカス誤差信号は（S2a＋S2d）−（S2b＋S
2c）の演算で、トラッキング誤差信号はS2e−S2fの演算
で、ピット信号（情報信号）はS2a＋S2b＋S2c＋S2dの演
算でそれぞれ得られる。
装置が知られている。かかる装置は前述した従来例に対
し、第２の回折素子である回折素子23の格子形状と受光
素子27の受光領域形状の点で異なっている。回折素子23
を記録担体26側から見たときの回折素子23の格子の配置
を第８図（ａ）に、受光素子27の受光領域の配置の関係
を同図（ｂ）にそれぞれ示す。回折素子23は２つの光入
射領域23a・23bに分割され、各々の領域には互いに異な
る同期の格子が分割線23cに対して直角方向に形成され
ている。そして、受光素子27は６つの受光領域27a・27b
・27c・27d・27e・27fに分割されている。また、回折素
子23の分割線23cの向きはラジアル方向である。合焦状
態のとき光入射領域23aで回折されたメインビームは分
割線A2上に集光されてスポットR1を形成し、光入射領域
23bで回折されたメインビームは分割線B2上に集光され
てスポットR2を形成することになり、一方、サブビーム
は受光領域27e・27fに集光されることになる。そして、
受光素子27の受光領域27a・27b・27c・27d・27e・27fか
ら各々得られる出力信号S2a・S2b・S2c・S2d・S2e・S2f
によってフォーカス誤差信号は（S2a＋S2d）−（S2b＋S
2c）の演算で、トラッキング誤差信号はS2e−S2fの演算
で、ピット信号（情報信号）はS2a＋S2b＋S2c＋S2dの演
算でそれぞれ得られる。
ところが、このような構成の光ピックアップ装置にあっ
ては、記録担体16（26）からの反射光スポットQ1・Q
2（R1・R2）が極めて高い精度で受光素子17（27）の分
割線上に結ばれる必要があり、そのために回折素子13
（23）および受光素子17（27）の設置のための微調整を
行っていた。しかし、回折素子13（23）と受光素子17
（27）を独立して移動可能なように構成しようとする
と、特に受光素子17（27）を移動自在とするための支持
機構が必要となり、装置の構造が複雑化し小型化・軽量
化を阻害する要因となる。また、位置合わせ用の部品点
数が多いことは製造手順の煩雑化に繋がり製造コストが
高くなるという欠点があった。
ては、記録担体16（26）からの反射光スポットQ1・Q
2（R1・R2）が極めて高い精度で受光素子17（27）の分
割線上に結ばれる必要があり、そのために回折素子13
（23）および受光素子17（27）の設置のための微調整を
行っていた。しかし、回折素子13（23）と受光素子17
（27）を独立して移動可能なように構成しようとする
と、特に受光素子17（27）を移動自在とするための支持
機構が必要となり、装置の構造が複雑化し小型化・軽量
化を阻害する要因となる。また、位置合わせ用の部品点
数が多いことは製造手順の煩雑化に繋がり製造コストが
高くなるという欠点があった。
そこで、半導体レーザ11（21）と受光素子17（27）とを
同一パッケージ内に収納せしめ反射光スポットQ1・Q
2（R1・R2）における受光素子17（27）の分割線上への
位置合わせを回折素子17（27）のみで行うように構成す
ることが考えられる。しかしながら、このような構造の
ピックアップ装置においては、半導体レーザ11（21）と
受光素子17（27）の位置が設計値より僅かでもずれた場
合、ビームスポットは受光素子17（27）上の正しい位置
に集光しないためフォーカス・オフセットが生じる。こ
のフォーカス・オフセットを取り除くためには、第５図
および第６図に示した例においては回折素子13、第７図
および第８図に示した例においては回折素子23を並進・
回転させて受光素子17（27）上のビームスポットを移動
させ、合焦状態でフォーカス誤差信号が「０」になるよ
うに調整する必要がある。しかしこのとき、受光素子17
（27）上の２つのメインビームスポットが同時に移動す
るため、各々のスポットを個別に移動して調整すること
ができず、調整が非常に困難である。また、２つのスポ
ットの移動が互いにフォーカス誤差信号上で打ち消し合
う場合があり、そのときは回折素子13（23）を大きくＹ
方向に動かす必要がある。この場合、特に第７図および
第８図に示した例においては受光素子27の分割部のＹ方
向の長さが短いので大きなフォーカス・オフセットが生
じた場合、それを補正するために回折素子23を大きくＹ
方向に移動させると、それによって受光素子27上のビー
ムスポットR1・R2がＹ方向へ大きく移動することで、本
来収束すべき受光部から外れてしまう危険がある。
同一パッケージ内に収納せしめ反射光スポットQ1・Q
2（R1・R2）における受光素子17（27）の分割線上への
位置合わせを回折素子17（27）のみで行うように構成す
ることが考えられる。しかしながら、このような構造の
ピックアップ装置においては、半導体レーザ11（21）と
受光素子17（27）の位置が設計値より僅かでもずれた場
合、ビームスポットは受光素子17（27）上の正しい位置
に集光しないためフォーカス・オフセットが生じる。こ
のフォーカス・オフセットを取り除くためには、第５図
および第６図に示した例においては回折素子13、第７図
および第８図に示した例においては回折素子23を並進・
回転させて受光素子17（27）上のビームスポットを移動
させ、合焦状態でフォーカス誤差信号が「０」になるよ
うに調整する必要がある。しかしこのとき、受光素子17
（27）上の２つのメインビームスポットが同時に移動す
るため、各々のスポットを個別に移動して調整すること
ができず、調整が非常に困難である。また、２つのスポ
ットの移動が互いにフォーカス誤差信号上で打ち消し合
う場合があり、そのときは回折素子13（23）を大きくＹ
方向に動かす必要がある。この場合、特に第７図および
第８図に示した例においては受光素子27の分割部のＹ方
向の長さが短いので大きなフォーカス・オフセットが生
じた場合、それを補正するために回折素子23を大きくＹ
方向に移動させると、それによって受光素子27上のビー
ムスポットR1・R2がＹ方向へ大きく移動することで、本
来収束すべき受光部から外れてしまう危険がある。
さらに、上記２例の共通の問題として、フォーカス・オ
フセット調整の際に回折素子13（23）を並進させる必要
があるため、入射するビームスポットの大きさに比べて
予め十分な余裕をもつ大きさの回折素子13（23）が必要
とされその大きくなる分だけ製造コストが嵩むという問
題を招来する。
フセット調整の際に回折素子13（23）を並進させる必要
があるため、入射するビームスポットの大きさに比べて
予め十分な余裕をもつ大きさの回折素子13（23）が必要
とされその大きくなる分だけ製造コストが嵩むという問
題を招来する。
本発明に係る光ピックアップ装置は、上記の課題を解決
するために、光源からの光ビームを記録担体上に集光さ
せるレンズ系と、上記記録担体からの反射光を検出する
受光素子と、前記の光源と記録担体との間の光路中に設
けられ、光源からの光ビームを、ピット信号検出用の０
次回折光とトラッキング誤差検出用の一対の１次回折光
とに分ける第１の回折素子と、前記記録担体にて反射さ
れた光を前記の受光素子に導く第２の回折素子とを備え
た光ピックアップ装置において、上記受光素子は第１な
いし第４の４つの受光領域に分割される一方、第２の回
折素子は第１ないし第３の３つの光入射領域に分割され
ており、前記記録担体にて反射された０次回折光であっ
て第１の光入射領域にて回折された光は、その回折方向
とほぼ同じ方向に走る分割線にて分割された第１の受光
領域と第２の受光領域との間である当該分割線上に集光
され、前記記録担体にて反射された０次回折光であって
第２の光入射領域にて回折された光は上記第１の受光領
域上に集光され、前記記録担体にて反射された０次回折
光であって前記第２の光入射領域と等しい入射光量を有
する第３の光入射領域にて回折された光は上記第２の受
光領域上に集光されるように設定されており、且つ、前
記記録担体にて反射された一対の１次回折光であって第
２の回折素子にて回折された光は第３の受光領域と第４
の受光領域とにそれぞれ集光されるように設定されてい
ることを特徴としている。
するために、光源からの光ビームを記録担体上に集光さ
せるレンズ系と、上記記録担体からの反射光を検出する
受光素子と、前記の光源と記録担体との間の光路中に設
けられ、光源からの光ビームを、ピット信号検出用の０
次回折光とトラッキング誤差検出用の一対の１次回折光
とに分ける第１の回折素子と、前記記録担体にて反射さ
れた光を前記の受光素子に導く第２の回折素子とを備え
た光ピックアップ装置において、上記受光素子は第１な
いし第４の４つの受光領域に分割される一方、第２の回
折素子は第１ないし第３の３つの光入射領域に分割され
ており、前記記録担体にて反射された０次回折光であっ
て第１の光入射領域にて回折された光は、その回折方向
とほぼ同じ方向に走る分割線にて分割された第１の受光
領域と第２の受光領域との間である当該分割線上に集光
され、前記記録担体にて反射された０次回折光であって
第２の光入射領域にて回折された光は上記第１の受光領
域上に集光され、前記記録担体にて反射された０次回折
光であって前記第２の光入射領域と等しい入射光量を有
する第３の光入射領域にて回折された光は上記第２の受
光領域上に集光されるように設定されており、且つ、前
記記録担体にて反射された一対の１次回折光であって第
２の回折素子にて回折された光は第３の受光領域と第４
の受光領域とにそれぞれ集光されるように設定されてい
ることを特徴としている。
上記の構成によれば、第１の受光領域から得られる出力
と、第２の受光領域から得られる出力との差によってフ
ォーカス誤差信号を得ることができ、第３の受光領域か
ら得られる出力と、第４の受光領域から得られる出力と
の差によってトラッキング誤差信号を得ることができ、
第１の受光領域から得られる出力と、第２の受光領域か
ら得られる出力との和によって情報信号を得ることがで
きる。
と、第２の受光領域から得られる出力との差によってフ
ォーカス誤差信号を得ることができ、第３の受光領域か
ら得られる出力と、第４の受光領域から得られる出力と
の差によってトラッキング誤差信号を得ることができ、
第１の受光領域から得られる出力と、第２の受光領域か
ら得られる出力との和によって情報信号を得ることがで
きる。
そして、フォーカス・オフセットの調整においては、第
１の受光領域上に形成されるスポットと、第２の受光領
域上に形成されるスポットの光強度は相等しく、フォー
カス誤差信号上では相殺されるため、前記分割線上に形
成されるスポットのみを移動させて調整すれば良い。し
たがって、第２の回折素子を回転させることによって受
光素子上に結ばれる上記スポットを一定方向に移動させ
るだけで、フォーカス・オフセット調整が可能である。
また、このように第２の回折素子を並進させてオフセッ
ト調整を行う必要がないため、当該回折素子の大きさは
入射ビームと同じ大きさで十分であり、この小面積化に
よって製造コストの低減も図ることができる。
１の受光領域上に形成されるスポットと、第２の受光領
域上に形成されるスポットの光強度は相等しく、フォー
カス誤差信号上では相殺されるため、前記分割線上に形
成されるスポットのみを移動させて調整すれば良い。し
たがって、第２の回折素子を回転させることによって受
光素子上に結ばれる上記スポットを一定方向に移動させ
るだけで、フォーカス・オフセット調整が可能である。
また、このように第２の回折素子を並進させてオフセッ
ト調整を行う必要がないため、当該回折素子の大きさは
入射ビームと同じ大きさで十分であり、この小面積化に
よって製造コストの低減も図ることができる。
〔実施例１〕 本発明の一実施例を第１図および第２図に基づいて説明
すれば、以下の通りである。
すれば、以下の通りである。
本発明に係る光ピックアップ装置において、第１図に示
すように、光源としての半導体レーザ１の出射光は第１
の回折素子２によって回折され、０次回折光（メインビ
ーム）と紙面に略垂直方向に離間する±１次回折光（サ
ブビーム）に分割される。この分割された３つのビーム
は第２の回折素子３によって更に回折され、各ビームの
０次回折光がレンズ系10を構成するコリメートレンズ４
を通過し対物レンズ５によって記録担体６上に集光され
る。このとき、メインビームは情報信号を読み取るべく
記録担体６のピット上に集光され、その反射強度からピ
ット信号（情報信号）が得られる。また、２つのサブビ
ームは上記メインビームについて対称な位置であって、
トラック方向に大きく且つラジアル方向に僅かにずれて
集光され、その２つのサブビームの反射強度からトラッ
キング誤差信号を得る。ピット信号、トラッキング誤差
信号、およびフォーカス誤差信号を得るため、記録担体
６からの反射光は対物レンズ５、コリメートレンズ４を
通過し、回折素子３にて回折され、その１次回折光が受
光素子７に導かれる。ここで、半導体レーザ１と受光素
子７とは同一パッケージ内に収納され、互いに固定状態
にある。よって、調整は回折素子３のみで行うようにな
っている。
すように、光源としての半導体レーザ１の出射光は第１
の回折素子２によって回折され、０次回折光（メインビ
ーム）と紙面に略垂直方向に離間する±１次回折光（サ
ブビーム）に分割される。この分割された３つのビーム
は第２の回折素子３によって更に回折され、各ビームの
０次回折光がレンズ系10を構成するコリメートレンズ４
を通過し対物レンズ５によって記録担体６上に集光され
る。このとき、メインビームは情報信号を読み取るべく
記録担体６のピット上に集光され、その反射強度からピ
ット信号（情報信号）が得られる。また、２つのサブビ
ームは上記メインビームについて対称な位置であって、
トラック方向に大きく且つラジアル方向に僅かにずれて
集光され、その２つのサブビームの反射強度からトラッ
キング誤差信号を得る。ピット信号、トラッキング誤差
信号、およびフォーカス誤差信号を得るため、記録担体
６からの反射光は対物レンズ５、コリメートレンズ４を
通過し、回折素子３にて回折され、その１次回折光が受
光素子７に導かれる。ここで、半導体レーザ１と受光素
子７とは同一パッケージ内に収納され、互いに固定状態
にある。よって、調整は回折素子３のみで行うようにな
っている。
上記の回折素子３は、記録担体６側から見ると、第２図
（ａ）に示すように、ラジアル方向に走る分割線3dとこ
れと直交する方向に走る分割線3eとにより、第１ないし
第３の光入射領域3a・3b・3cに分割されている。第１の
光入射領域3aは半円形に形成される一方、第２・第３の
光入射領域3b・3cは半円を二つに等分して互いの入射光
量が相等しくなるように設定されている。さらに、光入
射領域3bおよび光入射領域3cの格子線は光入射領域3aの
格子線に対して斜めに走るとともに、互いに逆方向に傾
いている。また、光入射領域3bの格子周期は光入射領域
3aよりも長く、一方、光入射領域3cの格子周期は光入射
領域3aよりも短くなっている。これは収差を補正するた
めであるが、その長短の序列は上述のものに限らない。
即ち、回折素子３と光源１と受光素子７上の集光点Ｐと
の相対位置によって決まるので、それに応じて回折素子
３の格子間隔は徐々に変化している。同じく、各格子線
は収差を補正するために緩やかな曲線を描いている。そ
して、受光素子７は、同図（ｂ）に示すように、第１な
いし第４の受光領域7a・7b・7e・7fに分割されている。
受光領域7aと7bとを分割する分割線A0は、波長変化によ
るフォーカス・オフセットの発生を防ぐために回折方向
と同じ方向で僅かな傾きをもって設けられている。
（ａ）に示すように、ラジアル方向に走る分割線3dとこ
れと直交する方向に走る分割線3eとにより、第１ないし
第３の光入射領域3a・3b・3cに分割されている。第１の
光入射領域3aは半円形に形成される一方、第２・第３の
光入射領域3b・3cは半円を二つに等分して互いの入射光
量が相等しくなるように設定されている。さらに、光入
射領域3bおよび光入射領域3cの格子線は光入射領域3aの
格子線に対して斜めに走るとともに、互いに逆方向に傾
いている。また、光入射領域3bの格子周期は光入射領域
3aよりも長く、一方、光入射領域3cの格子周期は光入射
領域3aよりも短くなっている。これは収差を補正するた
めであるが、その長短の序列は上述のものに限らない。
即ち、回折素子３と光源１と受光素子７上の集光点Ｐと
の相対位置によって決まるので、それに応じて回折素子
３の格子間隔は徐々に変化している。同じく、各格子線
は収差を補正するために緩やかな曲線を描いている。そ
して、受光素子７は、同図（ｂ）に示すように、第１な
いし第４の受光領域7a・7b・7e・7fに分割されている。
受光領域7aと7bとを分割する分割線A0は、波長変化によ
るフォーカス・オフセットの発生を防ぐために回折方向
と同じ方向で僅かな傾きをもって設けられている。
ここで、上記半導体レーザ１から出射された光ビームが
記録担体６に対して合焦状態のとき、回折素子３の光入
射領域3aで回折されたメインビームは受光素子７の分割
線A0上に集光されてスポットP1を形成し、光入射領域3b
で回折されたメインビームは受光領域7a上に集光されて
スポットP2を形成し、光入射領域3cで回折されたメイン
ビームは受光領域7b上に集光されてスポットP3を形成す
る。また、回折素子３によって回折されたサブビームは
受光領域7e・7fに集光される。そして、上記受光領域7a
・7b・7e・7fから各々得られる出力信号Sa・Sb・Se・Sf
によってフォーカス誤差信号はシングルナイフエッジ法
によりSa−Sbの演算で、トラッキング誤差信号は３ビー
ム法によりSe−Sfの演算で、ピット信号はSa＋Sbの演算
で各々得られることになる。
記録担体６に対して合焦状態のとき、回折素子３の光入
射領域3aで回折されたメインビームは受光素子７の分割
線A0上に集光されてスポットP1を形成し、光入射領域3b
で回折されたメインビームは受光領域7a上に集光されて
スポットP2を形成し、光入射領域3cで回折されたメイン
ビームは受光領域7b上に集光されてスポットP3を形成す
る。また、回折素子３によって回折されたサブビームは
受光領域7e・7fに集光される。そして、上記受光領域7a
・7b・7e・7fから各々得られる出力信号Sa・Sb・Se・Sf
によってフォーカス誤差信号はシングルナイフエッジ法
によりSa−Sbの演算で、トラッキング誤差信号は３ビー
ム法によりSe−Sfの演算で、ピット信号はSa＋Sbの演算
で各々得られることになる。
上記の構成によれば、フォーカス・オフセットの調整の
際に、スポットP2・P3の光強度は相等しく、フォーカス
誤差信号（Sa−Sb）上では相殺されるため、スポットP1
のみを移動させて調整すれば良い。したがって、回折素
子３を回転させることによって受光素子７上に結ばれる
スポットP1をＸ方向に移動させるだけで、フォーカス・
オフセット調整が可能である。また、このように回折素
子３を並進させてオフセット調整を行う必要がないた
め、回折素子３の大きさは入射ビームと同じ大きさで十
分であり、これによって製造コストの低減も図ることが
できる。
際に、スポットP2・P3の光強度は相等しく、フォーカス
誤差信号（Sa−Sb）上では相殺されるため、スポットP1
のみを移動させて調整すれば良い。したがって、回折素
子３を回転させることによって受光素子７上に結ばれる
スポットP1をＸ方向に移動させるだけで、フォーカス・
オフセット調整が可能である。また、このように回折素
子３を並進させてオフセット調整を行う必要がないた
め、回折素子３の大きさは入射ビームと同じ大きさで十
分であり、これによって製造コストの低減も図ることが
できる。
〔実施例２〕 本発明の他の実施例を第３図および第４図に基づいて説
明する。なお、第１実施例と同様の機能を有する部材に
は同一の符号を付記してその説明を省略している。
明する。なお、第１実施例と同様の機能を有する部材に
は同一の符号を付記してその説明を省略している。
本実施例に係る光ピックアップ装置は、第３図に示すよ
うに、そのレンズ系10内での各要素の配置関係は同じで
あるが、第２の回折素子８の光入射領域の形状において
差異がある。即ち、回折素子８は、第４図（ａ）に示す
ように、記録担体６側から見ると、回折素子８の中心を
通ってラジアル方向に走る分割線8dとこれと一定間隔を
おいて平行に走る分割線8eとにより、３つの光入射領域
8a・8b・8cに分割されている。上記光入射領域8aは半円
形に形成される一方、光入射領域8b・8cは半円を二つに
等分して互いの入射光量が相等しくなるように設定され
ている。さらに、光入射領域8bおよび光入射領域8cの格
子線は光入射領域8aの格子線に対して斜めに走るととも
に、互いに逆方向に傾いている。また、光入射領域8bの
格子周期は光入射領域8aよりも長く、一方、光入射領域
8cの格子周期は光入射領域8aよりも短くなっている。こ
れも第１実施例と同様、その長短の序列は上述のものに
限らない。そして、受光素子７も第１実施例と同様、同
図（ｂ）に示すように、４つの受光領域7a・7b・7e・7f
に分割されている。
うに、そのレンズ系10内での各要素の配置関係は同じで
あるが、第２の回折素子８の光入射領域の形状において
差異がある。即ち、回折素子８は、第４図（ａ）に示す
ように、記録担体６側から見ると、回折素子８の中心を
通ってラジアル方向に走る分割線8dとこれと一定間隔を
おいて平行に走る分割線8eとにより、３つの光入射領域
8a・8b・8cに分割されている。上記光入射領域8aは半円
形に形成される一方、光入射領域8b・8cは半円を二つに
等分して互いの入射光量が相等しくなるように設定され
ている。さらに、光入射領域8bおよび光入射領域8cの格
子線は光入射領域8aの格子線に対して斜めに走るととも
に、互いに逆方向に傾いている。また、光入射領域8bの
格子周期は光入射領域8aよりも長く、一方、光入射領域
8cの格子周期は光入射領域8aよりも短くなっている。こ
れも第１実施例と同様、その長短の序列は上述のものに
限らない。そして、受光素子７も第１実施例と同様、同
図（ｂ）に示すように、４つの受光領域7a・7b・7e・7f
に分割されている。
ここで、上記半導体レーザ１から出射された光ビームが
記録担体６に対して合焦状態のとき、回折素子８の第１
の光入射領域8aで回折されたメインビームは受光素子７
の分割線A0上に集光されてスポットP1を形成し、第２の
光入射領域8bで回折されたメインビームは第１の受光領
域7a上に集光されてスポットP2を形成し、第３の光入射
領域8cで回折されたメインビームは第２の受光領域7b上
に集光されてスポットP3を形成する。また、第２の回折
素子８によって回折されたサブビームは第３・第４の受
光領域7e・7fに集光される。そして、上記受光領域7a・
7b・7e・7fから各々得られる出力信号Sa・Sb・Se・Sfに
よってフォーカス誤差信号はナイフエッジ法によりSa−
Sbの演算で、トラッキング誤差信号は３ビーム法により
Se−Sfの演算で、ピット信号はSa＋Sbの演算で各々得ら
れることになる。
記録担体６に対して合焦状態のとき、回折素子８の第１
の光入射領域8aで回折されたメインビームは受光素子７
の分割線A0上に集光されてスポットP1を形成し、第２の
光入射領域8bで回折されたメインビームは第１の受光領
域7a上に集光されてスポットP2を形成し、第３の光入射
領域8cで回折されたメインビームは第２の受光領域7b上
に集光されてスポットP3を形成する。また、第２の回折
素子８によって回折されたサブビームは第３・第４の受
光領域7e・7fに集光される。そして、上記受光領域7a・
7b・7e・7fから各々得られる出力信号Sa・Sb・Se・Sfに
よってフォーカス誤差信号はナイフエッジ法によりSa−
Sbの演算で、トラッキング誤差信号は３ビーム法により
Se−Sfの演算で、ピット信号はSa＋Sbの演算で各々得ら
れることになる。
上記の構成によっても、第１実施例と同様、フォーカス
・オフセットの調整はスポットP1のみを移動させて調整
すれば良いことになる。
・オフセットの調整はスポットP1のみを移動させて調整
すれば良いことになる。
本発明に係る光ピックアップ装置は、以上のように、光
源からの光ビームを記録担体上に集光させるレンズ系
と、上記記録担体からの反射光を検出する受光素子と、
前記の光源と記録担体との間の光路中に設けられ、光源
からの光ビームを、ピット信号検出用の０次回折光とト
ラッキング誤差検出用の一対の１次回折光とに分ける第
１の回折素子と、前記記録担体にて反射された光を前記
の受光素子に導く第２の回折素子とを備えた光ピックア
ップ装置において、上記受光素子は第１ないし第４の４
つの受光領域に分割される一方、第２の回折素子は第１
ないし第３の３つの光入射領域に分割されており、前記
記録担体にて反射された０次回折光であって第１の光入
射領域にて回折された光は、その回折方向とほぼ同じ方
向に走る分割線にて分割された第１の受光領域と第２の
受光領域との間である当該分割線上に集光され、前記記
録担体にて反射された０次回折光であって第２の光入射
領域にて回折された光は上記第１の受光領域上に集光さ
れ、前記記録担体にて反射された０次回折光であって前
記第２の光入射領域と等しい入射光量を有する第３の光
入射領域にて回折された光は上記第２の受光領域上に集
光されるように設定されており、且つ、前記記録担体に
て反射された一対の１次回折光であって第２の回折素子
にて回折された光は第３の受光領域と第４の受光領域と
にそれぞれ集光されるように設定されている構成であ
る。
源からの光ビームを記録担体上に集光させるレンズ系
と、上記記録担体からの反射光を検出する受光素子と、
前記の光源と記録担体との間の光路中に設けられ、光源
からの光ビームを、ピット信号検出用の０次回折光とト
ラッキング誤差検出用の一対の１次回折光とに分ける第
１の回折素子と、前記記録担体にて反射された光を前記
の受光素子に導く第２の回折素子とを備えた光ピックア
ップ装置において、上記受光素子は第１ないし第４の４
つの受光領域に分割される一方、第２の回折素子は第１
ないし第３の３つの光入射領域に分割されており、前記
記録担体にて反射された０次回折光であって第１の光入
射領域にて回折された光は、その回折方向とほぼ同じ方
向に走る分割線にて分割された第１の受光領域と第２の
受光領域との間である当該分割線上に集光され、前記記
録担体にて反射された０次回折光であって第２の光入射
領域にて回折された光は上記第１の受光領域上に集光さ
れ、前記記録担体にて反射された０次回折光であって前
記第２の光入射領域と等しい入射光量を有する第３の光
入射領域にて回折された光は上記第２の受光領域上に集
光されるように設定されており、且つ、前記記録担体に
て反射された一対の１次回折光であって第２の回折素子
にて回折された光は第３の受光領域と第４の受光領域と
にそれぞれ集光されるように設定されている構成であ
る。
これにより、フォーカス・オフセットの調整において
は、前記分割線上に形成されるスポットのみを移動させ
て調整すれば良い。したがって、第２の回折素子を回転
させることによって受光素子上に結ばれる上記スポット
を一定方向に移動させるだけで、フォーカス・オフセッ
ト調整が可能である。また、このように第２の回折素子
を並進させてオフセット調整を行う必要がないため、当
該回折素子の大きさは入射ビームと同じ大きさで十分で
あり、これによって製造コストの低減が図れるという効
果も併せて奏する。
は、前記分割線上に形成されるスポットのみを移動させ
て調整すれば良い。したがって、第２の回折素子を回転
させることによって受光素子上に結ばれる上記スポット
を一定方向に移動させるだけで、フォーカス・オフセッ
ト調整が可能である。また、このように第２の回折素子
を並進させてオフセット調整を行う必要がないため、当
該回折素子の大きさは入射ビームと同じ大きさで十分で
あり、これによって製造コストの低減が図れるという効
果も併せて奏する。
第１図および第２図は本発明の一実施例を示すものであ
って、第１図は光ピックアップ装置の概略の基本構成
図、第２図（ａ）は第２の回折素子の光入射領域を模式
的に示す説明図、同図（ｂ）は受光素子の受光領域を模
式的に示す説明図、第３図および第４図は他の実施例を
示すものであって、第３図は光ピックアップ装置の概略
の基本構成図、第４図（ａ）は第２の回折素子の光入射
領域を模式的に示す説明図、同図（ｂ）は受光素子の受
光領域を模式的に示す説明図、第５図および第６図は従
来例を示すものであって、第５図は光ピックアップ装置
の概略の基本構成図、第６図（ａ）は第２の回折素子の
光入射領域を模式的に示す説明図、同図（ｂ）は受光素
子の受光領域を模式的に示す説明図、第７図および第８
図は他の従来例を示すものであって、第７図は光ピック
アップ装置の概略の基本構成図、第８図（ａ）は第２の
回折素子の光入射領域を模式的に示す説明図、同図
（ｂ）は受光素子の受光領域を模式的に示す説明図であ
る。 １は半導体レーザ（光源）、２は第１の回折素子、３・
８は第２の回折素子、４はコリメートレンズ、５は対物
レンズ、６は記録担体、７は受光素子、10はレンズ系で
ある。
って、第１図は光ピックアップ装置の概略の基本構成
図、第２図（ａ）は第２の回折素子の光入射領域を模式
的に示す説明図、同図（ｂ）は受光素子の受光領域を模
式的に示す説明図、第３図および第４図は他の実施例を
示すものであって、第３図は光ピックアップ装置の概略
の基本構成図、第４図（ａ）は第２の回折素子の光入射
領域を模式的に示す説明図、同図（ｂ）は受光素子の受
光領域を模式的に示す説明図、第５図および第６図は従
来例を示すものであって、第５図は光ピックアップ装置
の概略の基本構成図、第６図（ａ）は第２の回折素子の
光入射領域を模式的に示す説明図、同図（ｂ）は受光素
子の受光領域を模式的に示す説明図、第７図および第８
図は他の従来例を示すものであって、第７図は光ピック
アップ装置の概略の基本構成図、第８図（ａ）は第２の
回折素子の光入射領域を模式的に示す説明図、同図
（ｂ）は受光素子の受光領域を模式的に示す説明図であ
る。 １は半導体レーザ（光源）、２は第１の回折素子、３・
８は第２の回折素子、４はコリメートレンズ、５は対物
レンズ、６は記録担体、７は受光素子、10はレンズ系で
ある。
Claims (1)
- 【請求項１】光源からの光ビームを記録担体上に集光さ
せるレンズ系と、上記記録担体からの反射光を検出する
受光素子と、前記の光源と記録担体との間の光路中に設
けられ、光源からの光ビームを、ピット信号検出用の０
次回折光とトラッキング誤差検出用の一対の１次回折光
とに分ける第１の回折素子と、前記記録担体にて反射さ
れた光を前記の受光素子に導く第２の回折素子とを備え
た光ピックアップ装置において、 上記受光素子は第１ないし第４の４つの受光領域に分割
される一方、第２の回折素子は第１ないし第３の３つの
光入射領域に分割されており、前記記録担体にて反射さ
れた０次回折光であって第１の光入射領域にて回折され
た光は、その回折方向とほぼ同じ方向に走る分割線にて
分割された第１の受光領域と第２の受光領域との間であ
る当該分割線上に集光され、前記記録担体にて反射され
た０次回折光であって第２の光入射領域にて回折された
光は上記第１の受光領域上に集光され、前記記録担体に
て反射された０次回折光であって前記第２の光入射領域
と等しい入射光量を有する第３の光入射領域にて回折さ
れた光は上記第２の受光領域上に集光されるように設定
されており、且つ、前記記録担体にて反射された一対の
１次回折光であって第２の回折素子にて回折された光は
第３の受光領域と第４の受光領域とにそれぞれ集光され
るように設定されていることを特徴とする光ピックアッ
プ装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63266425A JPH0677335B2 (ja) | 1988-10-21 | 1988-10-21 | 光ピックアップ装置 |
| US07/424,373 US5049732A (en) | 1988-10-21 | 1989-10-19 | Optical pickup device with diffraction device |
| CA002001143A CA2001143C (en) | 1988-10-21 | 1989-10-20 | Optical pickup device having multiple diffraction regions |
| KR1019890015153A KR920007317B1 (ko) | 1988-10-21 | 1989-10-21 | 광픽업장치 |
| EP89310890A EP0365368B1 (en) | 1988-10-21 | 1989-10-23 | An optical pickup device |
| DE68922272T DE68922272T2 (de) | 1988-10-21 | 1989-10-23 | Optische Abtasteinrichtung. |
| US08/123,459 USRE35332E (en) | 1988-10-21 | 1993-09-17 | Optical pickup device with diffraction device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63266425A JPH0677335B2 (ja) | 1988-10-21 | 1988-10-21 | 光ピックアップ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02113450A JPH02113450A (ja) | 1990-04-25 |
| JPH0677335B2 true JPH0677335B2 (ja) | 1994-09-28 |
Family
ID=17430759
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63266425A Expired - Fee Related JPH0677335B2 (ja) | 1988-10-21 | 1988-10-21 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0677335B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7606123B2 (en) | 2004-06-22 | 2009-10-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light receiving and emitting integrated device, optical pickup provided therewith, and optical disk apparatus |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2776487B2 (ja) * | 1992-01-28 | 1998-07-16 | シャープ株式会社 | 光学式情報記録再生装置 |
| KR0139177B1 (ko) * | 1993-06-11 | 1998-06-01 | 김광호 | 초점에러 및 트랙킹에러를 검출하기 위하여 홀로그램을 사용하는 광헤드 |
-
1988
- 1988-10-21 JP JP63266425A patent/JPH0677335B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7606123B2 (en) | 2004-06-22 | 2009-10-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Light receiving and emitting integrated device, optical pickup provided therewith, and optical disk apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02113450A (ja) | 1990-04-25 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |