JPH0680557B2 - 磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置 - Google Patents
磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置Info
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- JPH0680557B2 JPH0680557B2 JP6714285A JP6714285A JPH0680557B2 JP H0680557 B2 JPH0680557 B2 JP H0680557B2 JP 6714285 A JP6714285 A JP 6714285A JP 6714285 A JP6714285 A JP 6714285A JP H0680557 B2 JPH0680557 B2 JP H0680557B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic disk
- magnetic
- head
- sensor
- magnetic head
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- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 磁気ヘッドに搭載され、磁気ヘッドと磁気ディスク間の
接触により発生する弾性波を検出するAEセンサからの検
出信号を増幅器にて増幅後、磁気ヘッドのスライダの形
状及び材質に対応したカットオフ周波数を有する狭帯域
のバンドパスフィルタを介して導出することでS/Nの向
上した磁気ディスク装置のヘッド異常接触検出装置。
接触により発生する弾性波を検出するAEセンサからの検
出信号を増幅器にて増幅後、磁気ヘッドのスライダの形
状及び材質に対応したカットオフ周波数を有する狭帯域
のバンドパスフィルタを介して導出することでS/Nの向
上した磁気ディスク装置のヘッド異常接触検出装置。
本発明は、磁気ディスク装置の磁気ヘッドの異常検出装
置に係り、更に詳細には磁気ディスクと磁気ヘッドが接
触した際にAEセンサにて検出される信号をS/N比を改善
させた状態で取り出すAEセンサからの信号検出構成に関
する。
置に係り、更に詳細には磁気ディスクと磁気ヘッドが接
触した際にAEセンサにて検出される信号をS/N比を改善
させた状態で取り出すAEセンサからの信号検出構成に関
する。
電磁変換素子を設けたスライダからなる磁気ヘッドを、
表面に磁性膜を形成した磁気ディスク上に設置し、この
磁気ディスクを高速で回転させることで、スライダと磁
気ディスク間に空気流を発生させ、この空気流によって
磁気ヘッドを磁気ディスクから浮上させ、磁気ヘッドの
ギャップ層と磁気ディスクの磁性膜間の漏れ磁界によっ
て情報の記録、再生を行う磁気ディスク装置は周知であ
る。
表面に磁性膜を形成した磁気ディスク上に設置し、この
磁気ディスクを高速で回転させることで、スライダと磁
気ディスク間に空気流を発生させ、この空気流によって
磁気ヘッドを磁気ディスクから浮上させ、磁気ヘッドの
ギャップ層と磁気ディスクの磁性膜間の漏れ磁界によっ
て情報の記録、再生を行う磁気ディスク装置は周知であ
る。
このような磁気ディスク装置については、磁気ディスク
と磁気ヘッドが接触した状態が続いて損傷するヘッドク
ラッシュ現象を事前に検知することが必要である。
と磁気ヘッドが接触した状態が続いて損傷するヘッドク
ラッシュ現象を事前に検知することが必要である。
ここで一般的な磁気ディスク装置について第５図の模式
図、および第６図に示す第５図の要部平面図、第７図に
示す第５図の側面図を用いて説明する。
図、および第６図に示す第５図の要部平面図、第７図に
示す第５図の側面図を用いて説明する。
第５図に示すように、スピンドルモータ１によって回転
する回転軸２には、所定の間隔を隔てて多数の磁気ディ
スク３が積層して配設され、この磁気ディスク３上に
は、矢印Ａに示す左右の方向に移動するキャリッジ４よ
り延びるアーム５に設置された磁気ヘッド６が設置され
ている。この磁気ヘッド６は第６図、および第７図に示
すように、弾力性の鋼材よりなる薄板状部材よりなるジ
ンバル構造体７に設置されており、コアを設けたスライ
ダ８にて構成され、このジンバル構造体７はアーム５よ
り延びるバネ板９に設置されている。
する回転軸２には、所定の間隔を隔てて多数の磁気ディ
スク３が積層して配設され、この磁気ディスク３上に
は、矢印Ａに示す左右の方向に移動するキャリッジ４よ
り延びるアーム５に設置された磁気ヘッド６が設置され
ている。この磁気ヘッド６は第６図、および第７図に示
すように、弾力性の鋼材よりなる薄板状部材よりなるジ
ンバル構造体７に設置されており、コアを設けたスライ
ダ８にて構成され、このジンバル構造体７はアーム５よ
り延びるバネ板９に設置されている。
この磁気ディスク３上には微少な塵等が付着することが
あり、この塵の上にスライダ（磁気ヘッド）８が接触し
て磁気ヘッド８と磁気ディスク３が接触し、この接触が
多数回繰り返されると、磁気ディスク３と磁気ヘッド８
が共に損傷するヘッドクラッシュ現象が発生する。
あり、この塵の上にスライダ（磁気ヘッド）８が接触し
て磁気ヘッド８と磁気ディスク３が接触し、この接触が
多数回繰り返されると、磁気ディスク３と磁気ヘッド８
が共に損傷するヘッドクラッシュ現象が発生する。
このヘッドクラッシュ現象が発生すると、装置全体を取
り替える必要が起こるので、第７図に示すようにスライ
ダ８の磁気ディスク３と対向する面の背面側にAEセンサ
10を固着して磁気ディスクと磁気ヘッドの接触を検知す
る方法が考えられている。
り替える必要が起こるので、第７図に示すようにスライ
ダ８の磁気ディスク３と対向する面の背面側にAEセンサ
10を固着して磁気ディスクと磁気ヘッドの接触を検知す
る方法が考えられている。
このAEセンサ10のAEは、Acoustic Emissionの略称であ
り、音の放出を意味しており、固体材料が変形や破壊を
する時に解放される歪みエネルギーが弾性波としての音
となり放出される現象である。AEはその周波数が数10KH
zから数MHzにわたる弾性波（いわゆる超音波）であるこ
とが多く、このようなAE波を検出するAEセンサはチタン
酸鉛（PbTiO3）等の圧電素子を用いている。
り、音の放出を意味しており、固体材料が変形や破壊を
する時に解放される歪みエネルギーが弾性波としての音
となり放出される現象である。AEはその周波数が数10KH
zから数MHzにわたる弾性波（いわゆる超音波）であるこ
とが多く、このようなAE波を検出するAEセンサはチタン
酸鉛（PbTiO3）等の圧電素子を用いている。
ところでこのようなAEセンサ10は通常金属ケースに密封
シールドされ、このAEセンサの検出信号を導出する信号
線も同軸ケーブルの如きシールドされた線路でローノイ
ズアンプにて増幅されている。
シールドされ、このAEセンサの検出信号を導出する信号
線も同軸ケーブルの如きシールドされた線路でローノイ
ズアンプにて増幅されている。
然し、磁気ヘッドに搭載されるAEセンサ10は小型でかつ
軽量化を図る必要があるので容器に収容し難く、また信
号線は磁気ヘッドのアーム５に取りつけられているの
で、可撓性を持たす必要がある。そのため、金属箔等を
用いてジンバル構造体７、或いはアーム５上に固着して
完全にシールドすることが困難で電気的ノイズを拾い易
い問題があった。
軽量化を図る必要があるので容器に収容し難く、また信
号線は磁気ヘッドのアーム５に取りつけられているの
で、可撓性を持たす必要がある。そのため、金属箔等を
用いてジンバル構造体７、或いはアーム５上に固着して
完全にシールドすることが困難で電気的ノイズを拾い易
い問題があった。
またジンバル構造体７から発生する機械的なノイズも大
である。このため増幅器の後段には、従来より100KHz〜
1.2MHzの広帯域幅のバンドパスフィルタを用いてノイズ
を除去していたが、前記した理由により、AEセンサ10か
らの検出信号はS/N比が悪い状態でしか得られず、その
ため、AEセンサ10より得られる信号のうち、磁気ヘッド
８と磁気ディスク３の接触に起因するAEセンサからの信
号のみを検出することが困難であった。
である。このため増幅器の後段には、従来より100KHz〜
1.2MHzの広帯域幅のバンドパスフィルタを用いてノイズ
を除去していたが、前記した理由により、AEセンサ10か
らの検出信号はS/N比が悪い状態でしか得られず、その
ため、AEセンサ10より得られる信号のうち、磁気ヘッド
８と磁気ディスク３の接触に起因するAEセンサからの信
号のみを検出することが困難であった。
第１図は本発明の磁気ディスク装置のヘッド異常接触検
出装置の信号処理構成を示す回路ブロック図で、図示す
るようにAEセンサ21により検知された信号は、フレキシ
ブルプリント基板23に集められ、更にプリント基板24を
介して増幅器25に導入される。更にこの検知信号は、磁
気ヘッドのスライダの形状及び材質に対応したカットオ
フ周波数を有するバンドパスフィルタ26に依ってその信
号のS/N比を高めた状態で外部に取り出される。
出装置の信号処理構成を示す回路ブロック図で、図示す
るようにAEセンサ21により検知された信号は、フレキシ
ブルプリント基板23に集められ、更にプリント基板24を
介して増幅器25に導入される。更にこの検知信号は、磁
気ヘッドのスライダの形状及び材質に対応したカットオ
フ周波数を有するバンドパスフィルタ26に依ってその信
号のS/N比を高めた状態で外部に取り出される。
即ち、本発明の磁気ディスク装置のヘッド異常接触検出
装置の信号処理は、一般に電気的なノイズは使用するフ
ィルタの帯域を狭くする程低下する現象があり、ジンバ
ル構造体８等より発生される機械的ノイズは、200KHz以
下の周波数帯域でゲインが大となり200KHzを越えるとゲ
インが急激に低下する狭周波数帯域で発生する現象を利
用する。
装置の信号処理は、一般に電気的なノイズは使用するフ
ィルタの帯域を狭くする程低下する現象があり、ジンバ
ル構造体８等より発生される機械的ノイズは、200KHz以
下の周波数帯域でゲインが大となり200KHzを越えるとゲ
インが急激に低下する狭周波数帯域で発生する現象を利
用する。
また磁気ヘッドと磁気ディスクが接触した時に発生する
AEセンサからの信号は、低周波数帯域より高周波数帯域
まで帯域が広く、AEセンサが搭載されるスライダの形
状、及び材質によって特異の周波数にピークを発生す
る。このことより、用いる磁気ヘッドのスライダの形
状、及び材質に対応するように特異の周波数のピークに
合わせて超狭帯域のバンドパスフィルタを用い、AEセン
サからの検出信号のS/N比を改善して、磁気ヘッドと磁
気ディスク間の接触現象を容易に検出できるようにした
ものである。
AEセンサからの信号は、低周波数帯域より高周波数帯域
まで帯域が広く、AEセンサが搭載されるスライダの形
状、及び材質によって特異の周波数にピークを発生す
る。このことより、用いる磁気ヘッドのスライダの形
状、及び材質に対応するように特異の周波数のピークに
合わせて超狭帯域のバンドパスフィルタを用い、AEセン
サからの検出信号のS/N比を改善して、磁気ヘッドと磁
気ディスク間の接触現象を容易に検出できるようにした
ものである。
以下、図面を用いながら本発明の一実施例につき詳細に
説明する。
説明する。
第１図は本発明の磁気ディスク装置のヘッド異常接触検
出装置の要部を示すブロック図で、第２図は同ヘッドの
異常接触検出部の模式図である。
出装置の要部を示すブロック図で、第２図は同ヘッドの
異常接触検出部の模式図である。
第１図、及び第２図に示すように多数の磁気ヘッド20に
搭載されているAEセンサ21の電極より、導出される信号
がパラレル接続の形で導出され、可動部である磁気ヘッ
ドのアーム22に設置されているフレキシブルプリント基
板23に導出される。このフレキシブルプリント基板23か
ら導出される信号がパラレル接続の形で導出され、磁気
ディスク装置の非可動部に設置されているプリント基板
24に導入される。
搭載されているAEセンサ21の電極より、導出される信号
がパラレル接続の形で導出され、可動部である磁気ヘッ
ドのアーム22に設置されているフレキシブルプリント基
板23に導出される。このフレキシブルプリント基板23か
ら導出される信号がパラレル接続の形で導出され、磁気
ディスク装置の非可動部に設置されているプリント基板
24に導入される。
このプリント基板24より導出される信号は増幅器25に導
かれ、更に磁気ヘッド20のスライダの形状、及び材質に
対応したカットオフ周波数を有するバンドパスフィル
タ、例えばカットオフ周波数が400KHzのバンドパスフィ
ルタ26を通じて外部に導出される。
かれ、更に磁気ヘッド20のスライダの形状、及び材質に
対応したカットオフ周波数を有するバンドパスフィル
タ、例えばカットオフ周波数が400KHzのバンドパスフィ
ルタ26を通じて外部に導出される。
ここで前記した如く、バンドパスフィルタ26のカットオ
フ周波数は、磁気ヘッドのスライダの形状、及び材質に
よって変化させる必要がある。
フ周波数は、磁気ヘッドのスライダの形状、及び材質に
よって変化させる必要がある。
例えば、5.6mm（長さ）×4.0mm（幅）×2.0mm（厚さ）
のフェライトのスライダでは、バンドパスフィルタ26の
カットオフ周波数は、200KHzとするとS/N比の大きいAE
センサからの検出信号が得られる。
のフェライトのスライダでは、バンドパスフィルタ26の
カットオフ周波数は、200KHzとするとS/N比の大きいAE
センサからの検出信号が得られる。
更に、例えば、4.6mm（長さ）×3.2mm（幅）×1.6mm
（厚さ）のフェライトのスライダでは、バンドパスフィ
ルタ26のカットオフ周波数は400KHzとするとAEセンサか
らの検出信号がS/N比の大きい状態で得られることが実
験的に確認されている。
（厚さ）のフェライトのスライダでは、バンドパスフィ
ルタ26のカットオフ周波数は400KHzとするとAEセンサか
らの検出信号がS/N比の大きい状態で得られることが実
験的に確認されている。
ここでカットオフ周波数が400KHzのバンドパスフィルタ
を15個の磁気ヘッドの設置数に対応する15個のAEセンサ
に挿入した本発明のヘッドの異常接触検出装置の信号波
形を第３図に示す。
を15個の磁気ヘッドの設置数に対応する15個のAEセンサ
に挿入した本発明のヘッドの異常接触検出装置の信号波
形を第３図に示す。
また第３図と比較するために従来の装置によるAEセンサ
の検出信号波形を第４図に示す。
の検出信号波形を第４図に示す。
第３図に示すようにノイズレベルの値Ｎは、第４図に示
すノイズレベルＮ′に比して大幅に減少しており、AEセ
ンサからの検出信号がS/N比を大きくした状態で得られ
ることが実験的に確かめられ、これによってAEセンサか
らの検出信号のピーク値Ｐは雑音レベルより突出してお
り、そのため高信頼度で、磁気ディスクと磁気ヘッドの
接触した時の信号が明確に検知できることが判る。
すノイズレベルＮ′に比して大幅に減少しており、AEセ
ンサからの検出信号がS/N比を大きくした状態で得られ
ることが実験的に確かめられ、これによってAEセンサか
らの検出信号のピーク値Ｐは雑音レベルより突出してお
り、そのため高信頼度で、磁気ディスクと磁気ヘッドの
接触した時の信号が明確に検知できることが判る。
これに反して第４図に示すように従来の構成ではノイズ
レベルＮ′とAEセンサからの検出信号のピーク値Ｐ′が
区別できにくい。
レベルＮ′とAEセンサからの検出信号のピーク値Ｐ′が
区別できにくい。
以上述べたように本発明の磁気ディスク装置のヘッド異
常接触検出装置によれば、磁気ヘッドのスライダの形状
及び材質を予め調べて、その形状及び材質よりバンドパ
スフィルタのカットオフ周波数を実験的に定め、超狭帯
域のバンドパスフィルタを増幅器の後段に、あるいは中
段に設置するのみで、AEセンサより導出される検知信号
のS/N比を大幅に改善する効果がある。
常接触検出装置によれば、磁気ヘッドのスライダの形状
及び材質を予め調べて、その形状及び材質よりバンドパ
スフィルタのカットオフ周波数を実験的に定め、超狭帯
域のバンドパスフィルタを増幅器の後段に、あるいは中
段に設置するのみで、AEセンサより導出される検知信号
のS/N比を大幅に改善する効果がある。
第１図は本発明の磁気ディスク装置のヘッド異常接触検
出装置に用いる回路ブロック図、 第２図は本発明の装置構成を示す模式図、 第３は本発明によるAE検出信号波形を示す図、 第４図は従来の装置によるAE検出信号波形を示す図、 第５図は一般的な磁気ディスク装置の模式図、 第６図は第５図の要部を示す平面図、 第７図は第５図の要部を示す側面図である。 第１図乃至第３図に於いて、 20は磁気ヘッド、21はAEセンサ、22はアーム、23はフレ
キシブルプリント基板、24はプリント基板、25は増幅
器、26はバンドパスフィルタ、Ｎはノイズレベル、Ｐは
信号のはピーク値を示す。
出装置に用いる回路ブロック図、 第２図は本発明の装置構成を示す模式図、 第３は本発明によるAE検出信号波形を示す図、 第４図は従来の装置によるAE検出信号波形を示す図、 第５図は一般的な磁気ディスク装置の模式図、 第６図は第５図の要部を示す平面図、 第７図は第５図の要部を示す側面図である。 第１図乃至第３図に於いて、 20は磁気ヘッド、21はAEセンサ、22はアーム、23はフレ
キシブルプリント基板、24はプリント基板、25は増幅
器、26はバンドパスフィルタ、Ｎはノイズレベル、Ｐは
信号のはピーク値を示す。
Claims (2)
- 【請求項１】磁気ヘッドに搭載されたAEセンサ（21）に
より、磁気ヘッドと磁気ディスク間の接触で発生した弾
性波を検出し、該検出信号を増幅後、前記磁気ヘッドの
スライダの形状及び材質に対応したカットオフ周波数を
有するバンドパスフイルタ（26）を介して導出し、磁気
ヘッドと磁気ディスクの異常接触を検出することを特徴
とする磁気ディスク装置のヘッド異常接触検出装置。 - 【請求項２】前記バンドパスフイルタ（26）が、カット
オフ周波数のハイパス側とローパス側との定数が一致し
た狭帯域バンドパスフイルタであることを特徴とする特
許請求の範囲第（１）項に記載の磁気ディスク装置のヘ
ッド異常接触検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6714285A JPH0680557B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6714285A JPH0680557B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61227220A JPS61227220A (ja) | 1986-10-09 |
| JPH0680557B2 true JPH0680557B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=13336356
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6714285A Expired - Lifetime JPH0680557B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | 磁気デイスク装置のヘツド異常接触検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680557B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5488857A (en) * | 1991-11-22 | 1996-02-06 | Hitachi Electronic Engineering Co., Ltd. | Protrusion sensor for sensing protrusion on a disc |
| JP2682508B2 (ja) * | 1995-04-27 | 1997-11-26 | 日本電気株式会社 | 磁気ヘッド用テスタ装置 |
| JP3827757B2 (ja) * | 1995-10-27 | 2006-09-27 | 富士通株式会社 | 磁気記録媒体のヘッドバニッシュ方法 |
| JPH1125628A (ja) | 1997-07-04 | 1999-01-29 | Fujitsu Ltd | 接触検出機能付ヘッドスライダ及びディスク装置 |
-
1985
- 1985-03-29 JP JP6714285A patent/JPH0680557B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61227220A (ja) | 1986-10-09 |
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