JPH0685225B2 - トラッキングエラー信号の検出装置 - Google Patents
トラッキングエラー信号の検出装置Info
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- JPH0685225B2 JPH0685225B2 JP59151170A JP15117084A JPH0685225B2 JP H0685225 B2 JPH0685225 B2 JP H0685225B2 JP 59151170 A JP59151170 A JP 59151170A JP 15117084 A JP15117084 A JP 15117084A JP H0685225 B2 JPH0685225 B2 JP H0685225B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光によって情報を再生する光ディスク等に
おけるトラッキングエラー信号の検出方法に関するもの
である。
おけるトラッキングエラー信号の検出方法に関するもの
である。
記録媒体である光ディスク等に光（レーザ光等）を照射
し、その戻り光から光ディスクに記録されている情報を
読み出す光ディスク再生装置には、少なくとも、渦巻き
状の記録トラックを追跡するためのトラッキングサーボ
が必要であり、光スポットが照射されている位置が記録
トラックのどの部分にあるかを知るためのトラッキング
エラー信号を検出するための装置を備えている。
し、その戻り光から光ディスクに記録されている情報を
読み出す光ディスク再生装置には、少なくとも、渦巻き
状の記録トラックを追跡するためのトラッキングサーボ
が必要であり、光スポットが照射されている位置が記録
トラックのどの部分にあるかを知るためのトラッキング
エラー信号を検出するための装置を備えている。
第１図（ａ）はかかるトラッキングエラー信号を検出す
る方式（Push Pull方式）の一例を示す原理図で、１は
光ディスク盤、２は前記光ディスク盤１に対して光スポ
ットを照射している２軸機構の部分である。
る方式（Push Pull方式）の一例を示す原理図で、１は
光ディスク盤、２は前記光ディスク盤１に対して光スポ
ットを照射している２軸機構の部分である。
この２軸機械２の内部には対物レンズ３、および図示さ
れていないが前記対物レンズ３を上下方向に駆動するフ
ォーカスドライブコイル，対物レンズ３をラジアル方向
に駆動するトラッキングドライブコイル等が設けられて
いる。
れていないが前記対物レンズ３を上下方向に駆動するフ
ォーカスドライブコイル，対物レンズ３をラジアル方向
に駆動するトラッキングドライブコイル等が設けられて
いる。
そして、前記対物レンズ３には偏光ビームスプリッタ４
を介して発光源５よりレーザ光が入射されている。
を介して発光源５よりレーザ光が入射されている。
また、光ディスク盤１で反射された反射光は前記偏光ビ
ームスプリッタ４を直進して受光素子６に入射される。
ームスプリッタ４を直進して受光素子６に入射される。
なお、この反射光からRF信号の検出、およびフォーカス
エラー信号の検出をするための光学系は省略されてい
る。
エラー信号の検出をするための光学系は省略されてい
る。
受光素子６は第１図（ｂ）に示すように、トラック方向
に２分割されたA,Bからなる受光面を備え、この受光面
A,Bに光ディスク盤１に形成されているピットによって
回折され、反射された光が受光される。したがって、受
光素子６の受光面A,Bに入射された光の強度分布はピッ
トＰの位置によって変化する。
に２分割されたA,Bからなる受光面を備え、この受光面
A,Bに光ディスク盤１に形成されているピットによって
回折され、反射された光が受光される。したがって、受
光素子６の受光面A,Bに入射された光の強度分布はピッ
トＰの位置によって変化する。
すなわち、第２図（ａ），（ｂ），（ｃ）に示すように
１個のピットＰが光ディスク盤１に照射されている光ス
ポット内を通過すると、受光素子６に入射された反射光
スポットはS1,S2,S3のように光の強度分布が変化する。
１個のピットＰが光ディスク盤１に照射されている光ス
ポット内を通過すると、受光素子６に入射された反射光
スポットはS1,S2,S3のように光の強度分布が変化する。
この場合、第２図（ａ），（ｃ）に示すように、光ディ
スク盤１の記録トラックと対物レンズ３の中心が一致し
ていないデトラックの状態では、受光面A,Bの光の強度
分布は左右で不均一となり、第２図（ｂ）に示すように
一致しているときは左右で対称になる。
スク盤１の記録トラックと対物レンズ３の中心が一致し
ていないデトラックの状態では、受光面A,Bの光の強度
分布は左右で不均一となり、第２図（ｂ）に示すように
一致しているときは左右で対称になる。
したがって、受光面A,Bから出力される検出信号を第１
図に示した減算回路７に入力すると、Ａ−Ｂの差出力か
らトラッキングエラー信号が検出できる。
図に示した減算回路７に入力すると、Ａ−Ｂの差出力か
らトラッキングエラー信号が検出できる。
このようなトラッキングエラー信号の検出方法は一般に
プッシュプル方式，またはファーフィールド方式と呼ば
れ光学系が簡単になるという利点がある。
プッシュプル方式，またはファーフィールド方式と呼ば
れ光学系が簡単になるという利点がある。
しかし、このような方式でトラッキングサーボを行う場
合、第２図（ａ），（ｃ）のようにデトラックの状態に
なったときも、その反射光スポットS1〜S3が受光面A,B
の分割線に対して対称になるように、つまり対物レンズ
３と偏光ビームスプリッタ4,および受光素子６が同時に
トラック方向に移動するように２軸機構２内に装置され
ている場合は問題ないが、受光素子6,または受光素子６
と偏光ビームスプリッタ４が固定され、対物レンズ３の
みがトラック方向に移動する装置においては、デトラッ
クの場合に受光素子６の反射光スポットS1〜S3の位置
が、第２図（ａ），（ｃ）の一点鎖線で示すようにずれ
るため、トラッキングエラー信号にDCオフセットが生じ
正確なトラッキングエラー信号を検出することができな
いという問題がある。
合、第２図（ａ），（ｃ）のようにデトラックの状態に
なったときも、その反射光スポットS1〜S3が受光面A,B
の分割線に対して対称になるように、つまり対物レンズ
３と偏光ビームスプリッタ4,および受光素子６が同時に
トラック方向に移動するように２軸機構２内に装置され
ている場合は問題ないが、受光素子6,または受光素子６
と偏光ビームスプリッタ４が固定され、対物レンズ３の
みがトラック方向に移動する装置においては、デトラッ
クの場合に受光素子６の反射光スポットS1〜S3の位置
が、第２図（ａ），（ｃ）の一点鎖線で示すようにずれ
るため、トラッキングエラー信号にDCオフセットが生じ
正確なトラッキングエラー信号を検出することができな
いという問題がある。
すなわち、第３図（ａ）に示すように２軸機構２をトラ
ック方向に移動（トラバース）すると記録トラックを通
過するごとに正負のトラッキングエラー信号成分etが出
力されるべきであるが、受光素子６の反射光スポットS1
〜S3がずれると第３図（ｂ）に示すように、このトラッ
キングエラー信号成分etにDCオフセット信号edが重畳さ
れることになる。
ック方向に移動（トラバース）すると記録トラックを通
過するごとに正負のトラッキングエラー信号成分etが出
力されるべきであるが、受光素子６の反射光スポットS1
〜S3がずれると第３図（ｂ）に示すように、このトラッ
キングエラー信号成分etにDCオフセット信号edが重畳さ
れることになる。
すると、前記減算回路７からは常に正確なトラッキング
エラー信号が出力されないことになる。
エラー信号が出力されないことになる。
そこで、通常、このようなトラッキングエラー検出方式
では偏光ビームスプリッタ4,受光素子６も２軸機構２内
に収納し、トラッキングコイルで対物レンズ３とともに
移動するように構成されているが、この場合は２軸機構
２の重量が増加し、かつ大型化するという問題点があ
る。
では偏光ビームスプリッタ4,受光素子６も２軸機構２内
に収納し、トラッキングコイルで対物レンズ３とともに
移動するように構成されているが、この場合は２軸機構
２の重量が増加し、かつ大型化するという問題点があ
る。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、受光素子が固定型になっているプッシュプル方式
のトラッキングエラー検出方式において、DCオフセット
成分を除去できるようにしたトラッキングエラー検出方
式を提供するものである。
ので、受光素子が固定型になっているプッシュプル方式
のトラッキングエラー検出方式において、DCオフセット
成分を除去できるようにしたトラッキングエラー検出方
式を提供するものである。
この発明は、受光素子が固定されているプッシュプル方
式のトラッキングエラー検出方式において、受光素子か
ら出力されたDCオフセット成分を含むトラッキングエラ
ー信号を、第1,および第２のサンプルホールド回路によ
って、ピット部分の信号と，ランド部分の信号に分離し
てサンプルホールドし、ホールドされた電圧を差動増幅
回路によって演算することによりトラッキングエラー信
号に含まれているDCオフセット成分を除去するようにし
たものである。
式のトラッキングエラー検出方式において、受光素子か
ら出力されたDCオフセット成分を含むトラッキングエラ
ー信号を、第1,および第２のサンプルホールド回路によ
って、ピット部分の信号と，ランド部分の信号に分離し
てサンプルホールドし、ホールドされた電圧を差動増幅
回路によって演算することによりトラッキングエラー信
号に含まれているDCオフセット成分を除去するようにし
たものである。
したがって、受光素子が固定されているプッシュプル方
式のトラッキングエラー信号検出方式でもDCオフセット
成分をなくすることができるようになる。
式のトラッキングエラー信号検出方式でもDCオフセット
成分をなくすることができるようになる。
第４図はこの発明の一実施例を示すトラッキングエラー
信号検出方式のブロック図を示したもので、６は前記し
た光ディスクの反射光スポットが照射されている受光素
子、７はトラッキング信号を検出するための減算回路で
ある。
信号検出方式のブロック図を示したもので、６は前記し
た光ディスクの反射光スポットが照射されている受光素
子、７はトラッキング信号を検出するための減算回路で
ある。
また、８は受光面A,Bの検出信号の和を出力する加算回
路を示し、9,10はトラッキングエラー信号をサンプルホ
ールドするための第1,第２のサンプルホールド回路で、
後述するように第１のサンプルホールド回路９は光ビー
ムがピットを照射しているときのトラッキングエラー信
号を、第２のサンプルホールド回路10は光ビームがピッ
トとピットの間、すなわちランドの部分に照射されてい
るときの信号をサンプルするものである。
路を示し、9,10はトラッキングエラー信号をサンプルホ
ールドするための第1,第２のサンプルホールド回路で、
後述するように第１のサンプルホールド回路９は光ビー
ムがピットを照射しているときのトラッキングエラー信
号を、第２のサンプルホールド回路10は光ビームがピッ
トとピットの間、すなわちランドの部分に照射されてい
るときの信号をサンプルするものである。
11は差信号を検出するための差動増幅回路、12はRF信号
の波形整形回路、13は遅延回路、14,15はRF信号の立上
がり，および立下がり点でパルスを発生するエッジパル
ス発生回路である。
の波形整形回路、13は遅延回路、14,15はRF信号の立上
がり，および立下がり点でパルスを発生するエッジパル
ス発生回路である。
16はサンプル電圧の選別回路を示し、第３のサンプルホ
ールド回路17,タイミング回路18で構成されている。な
お、この選別回路16はより正確なトラッキングエラー信
号を検出するもので省略することもできる。
ールド回路17,タイミング回路18で構成されている。な
お、この選別回路16はより正確なトラッキングエラー信
号を検出するもので省略することもできる。
次に、第５図の波形図を参照して第４図の回路動作を説
明する。
明する。
光ディスクのピット情報の形が第５図のPMに示すように
長短のピットによって形成されている場合、反射光を検
出している加算回路８の出力はRF信号に示すようにピッ
トの部分では光量が低下し、ピットでない部分は光量が
増加する。
長短のピットによって形成されている場合、反射光を検
出している加算回路８の出力はRF信号に示すようにピッ
トの部分では光量が低下し、ピットでない部分は光量が
増加する。
このRF信号を波形整形回路12において成形するとD1波形
となり、さらに、ほぼ光ビームの照射スポット分の長さ
だけ遅延回路13において遅延（τ）すると、D2波形が得
られる。
となり、さらに、ほぼ光ビームの照射スポット分の長さ
だけ遅延回路13において遅延（τ）すると、D2波形が得
られる。
このD2波形の立上がり点，および立下がり点をエッジパ
ルス発生回路14,15において検出するとその出力よりパ
ルス波形P1,およびP2が得られる。
ルス発生回路14,15において検出するとその出力よりパ
ルス波形P1,およびP2が得られる。
そして、このパルス波形P1,P2は、第1,第２のサンプル
ホールド回路9,10のサンプリングパルスとして供給され
る。
ホールド回路9,10のサンプリングパルスとして供給され
る。
第1,第２のサンプルホールド回路9,10には、減算回路７
から出力されているトラッキングエラー信号が供給され
ているので、第１のサンプルホールド回路９からは第５
図のPM波形に示すように光ビームがピットの部分にかか
っているスポットSpの状態のトラッキングエラー信号が
出力され、第２のサンプルホールド回路10からは光ビー
ムがピットとピットの間、すなわちランドの部分にある
スポットSmのときの信号が出力される。
から出力されているトラッキングエラー信号が供給され
ているので、第１のサンプルホールド回路９からは第５
図のPM波形に示すように光ビームがピットの部分にかか
っているスポットSpの状態のトラッキングエラー信号が
出力され、第２のサンプルホールド回路10からは光ビー
ムがピットとピットの間、すなわちランドの部分にある
スポットSmのときの信号が出力される。
ところで、前述したようにプッシュプル方式では、光ビ
ームがランド部分にあるスポットSmを受光したときはト
ラッキングエラー信号は検出できない。しかし、このス
ポットSmが記録トラック上にないとき、つまり対物レン
ズ３と受光素子６の光軸が一致してないデトラックの状
態では、前述したように受光素子６でスポットがずれる
ため、DCオフセット成分（ed）が検出されるはずであ
る。
ームがランド部分にあるスポットSmを受光したときはト
ラッキングエラー信号は検出できない。しかし、このス
ポットSmが記録トラック上にないとき、つまり対物レン
ズ３と受光素子６の光軸が一致してないデトラックの状
態では、前述したように受光素子６でスポットがずれる
ため、DCオフセット成分（ed）が検出されるはずであ
る。
一方、光ビームがピット上にあるときのスポットSpから
はトラッキングエラー信号成分（et）が得られ、同時
に、このスポットSmが記録トラックの中心にないとき
は、さらにDCオフセット成分（ed）も含まれている。
はトラッキングエラー信号成分（et）が得られ、同時
に、このスポットSmが記録トラックの中心にないとき
は、さらにDCオフセット成分（ed）も含まれている。
したがって、前記した第1,第２のサンプルホールド回路
9,10から得られる信号を差動増幅回路11に入力してDCオ
フセット成分（ed）をキャンセルすると、差動増幅回路
11からはトラッキングエラー信号のみが得られることに
なる。この場合、DC成分を完全にキャンセルするために
第２のサンプルホールド回路10の出力レベルをレベル調
整回路（11a）によって調整しておくことが好ましい。
9,10から得られる信号を差動増幅回路11に入力してDCオ
フセット成分（ed）をキャンセルすると、差動増幅回路
11からはトラッキングエラー信号のみが得られることに
なる。この場合、DC成分を完全にキャンセルするために
第２のサンプルホールド回路10の出力レベルをレベル調
整回路（11a）によって調整しておくことが好ましい。
なお、光ディスクに対する照射スポット径は通常、最短
長ピットの長さより大きい直径をもっているので、第５
図に示すように最短長ピットの後、または最短長スペー
スの後のサンプリング電圧はスポットSeに見られるよう
にピットの一部にしかのっていない状態でトラッキング
エラー信号を検出することがある。
長ピットの長さより大きい直径をもっているので、第５
図に示すように最短長ピットの後、または最短長スペー
スの後のサンプリング電圧はスポットSeに見られるよう
にピットの一部にしかのっていない状態でトラッキング
エラー信号を検出することがある。
そこで、このようなスポットSeで検出されたサンプル電
圧を除去するため、第３のサンプルホールド回路17を設
ける。そして、タイミング回路18によって第５図のパル
ス波形P3を形成し、これを第３のサンプルホールド回路
17に加え差動増幅回路11から出力されるサンプル電圧を
再び選別することが好ましい。
圧を除去するため、第３のサンプルホールド回路17を設
ける。そして、タイミング回路18によって第５図のパル
ス波形P3を形成し、これを第３のサンプルホールド回路
17に加え差動増幅回路11から出力されるサンプル電圧を
再び選別することが好ましい。
この場合、タイミング回路18はピット信号，またはスペ
ース信号が長いとき、例えば2T以上のときにサンプリン
グパルス（P3）を出力するように構成し、パルス波形
P1,P2の×印でサンプルした電圧は取り込まないように
する。
ース信号が長いとき、例えば2T以上のときにサンプリン
グパルス（P3）を出力するように構成し、パルス波形
P1,P2の×印でサンプルした電圧は取り込まないように
する。
なお、あまり長いピット信号や，スペース信号は、光デ
ィスクのドロップアウトまたは傷によるものと思われる
ので、例えば、13T以上のピット信号，またはスペース
信号のときは、サンプリングパルス（P3）を出力しない
ようにしてもよい。
ィスクのドロップアウトまたは傷によるものと思われる
ので、例えば、13T以上のピット信号，またはスペース
信号のときは、サンプリングパルス（P3）を出力しない
ようにしてもよい。
サンプリングパルス（P1,P2）の形成手段は上記実施例
に限定されることはなく、他の回路構成を採用すること
も可能である。
に限定されることはなく、他の回路構成を採用すること
も可能である。
以上説明したように、この発明のトラッキングエラー検
出方式は、受光素子，または受光素子と偏光ビームスプ
リッタが２軸機構の外側に固定されているプッシュプル
方式のトラッキングエラー検出方式の場合でも、ディス
クに照射されている光ビームの反射光をピット部とラン
ド部に分けて受光し、その減算出力信号によってDCオフ
セット成分を電気的に除去したトラッキング制御信号を
得るようにしているから、正確なトラッキングエラー信
号を検出できるという利点がある。
出方式は、受光素子，または受光素子と偏光ビームスプ
リッタが２軸機構の外側に固定されているプッシュプル
方式のトラッキングエラー検出方式の場合でも、ディス
クに照射されている光ビームの反射光をピット部とラン
ド部に分けて受光し、その減算出力信号によってDCオフ
セット成分を電気的に除去したトラッキング制御信号を
得るようにしているから、正確なトラッキングエラー信
号を検出できるという利点がある。
そのため、２軸機構の部分が軽量化し、かつ、小形にな
るためトラッキングサーボの機能が向上するという効果
がある。
るためトラッキングサーボの機能が向上するという効果
がある。
第１図（ａ），（ｂ）はプッシュプル方式によるトラッ
キングエラー信号の検出機構を示す光学系の概要図、第
２図（ａ），（ｂ），（ｃ）は受光素子に入射される反
射光スポットの様子を示す説明図、第３図（ａ），
（ｂ）は対物レンズをトラバースしたときのトラッキン
グエラー信号の波形図、第４図はこの発明のトラッキン
グエラー信号の検出方式の一実施例を示すブロック図、
第５図は第４図の動作を示す主要な波形図である。 図中、１は光ディスク盤、２は２軸機構、３は対物レン
ズ、４は偏光ビームスプリッタ、５は発光源、６は受光
素子、７は減算回路、８は加算回路、9,10は第1,第２の
サンプルホールド回路、11は差動増幅回路を示す。
キングエラー信号の検出機構を示す光学系の概要図、第
２図（ａ），（ｂ），（ｃ）は受光素子に入射される反
射光スポットの様子を示す説明図、第３図（ａ），
（ｂ）は対物レンズをトラバースしたときのトラッキン
グエラー信号の波形図、第４図はこの発明のトラッキン
グエラー信号の検出方式の一実施例を示すブロック図、
第５図は第４図の動作を示す主要な波形図である。 図中、１は光ディスク盤、２は２軸機構、３は対物レン
ズ、４は偏光ビームスプリッタ、５は発光源、６は受光
素子、７は減算回路、８は加算回路、9,10は第1,第２の
サンプルホールド回路、11は差動増幅回路を示す。
Claims (1)
- 【請求項１】光ディスクのトラックを挟んで配された光
ディスクからの戻り光を受光する第１及び第２の受光面
を有する受光素子と、 上記第１及び第２の受光面からの検出出力の差信号を出
力する第１の減算回路と、 上記第１及び第２の受光面からの検出出力の和信号を出
力する加算回路と、 上記加算回路から出力される和信号をほぼ光ビームの照
射スポット分の長さだけ遅延する遅延回路と、 上記遅延回路から出力される和信号の立ち上がり点と立
ち下がり点を検出する検出手段と、 上記和信号の立ち上がり点を検出した上記検出手段から
の検出出力に基づいて上記第１の減算回路からの差信号
をサンプリングする第１のサンプルホールド回路と、 上記和信号の立ち下がり点を検出した上記検出手段から
の検出出力に基づいて上記第１の減算回路からの差信号
をサンプリングする第２のサンプルホールド回路と、 上記第１及び第２のサンプルホールド回路からの出力の
差を演算する第２の減算回路を備え、 この第２の減算回路から対物レンズを駆動するためのト
ラッキングエラー信号を検出することを特徴とするトラ
ッキングエラー信号検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59151170A JPH0685225B2 (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | トラッキングエラー信号の検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59151170A JPH0685225B2 (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | トラッキングエラー信号の検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6132228A JPS6132228A (ja) | 1986-02-14 |
| JPH0685225B2 true JPH0685225B2 (ja) | 1994-10-26 |
Family
ID=15512842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59151170A Expired - Fee Related JPH0685225B2 (ja) | 1984-07-23 | 1984-07-23 | トラッキングエラー信号の検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0685225B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100587266B1 (ko) * | 1999-05-18 | 2006-06-08 | 엘지전자 주식회사 | 광 기록매체의 기록재생 방법 |
| KR100630006B1 (ko) * | 2000-01-26 | 2006-09-28 | 엘지전자 주식회사 | 광기록재생기의 트래킹 제어방법 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5848243A (ja) * | 1981-09-17 | 1983-03-22 | Mitsubishi Electric Corp | 光学的記録再生装置のトラツク追跡装置 |
-
1984
- 1984-07-23 JP JP59151170A patent/JPH0685225B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6132228A (ja) | 1986-02-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |