JPH068801B2 - 密封包装体のピンホール検査装置 - Google Patents
密封包装体のピンホール検査装置Info
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- JPH068801B2 JPH068801B2 JP62274366A JP27436687A JPH068801B2 JP H068801 B2 JPH068801 B2 JP H068801B2 JP 62274366 A JP62274366 A JP 62274366A JP 27436687 A JP27436687 A JP 27436687A JP H068801 B2 JPH068801 B2 JP H068801B2
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- Japan
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、輸液容器やレトルト食品などのような密封包
装体のピンホール有無の検査に使用される検査装置に関
する。
装体のピンホール有無の検査に使用される検査装置に関
する。
従来の技術とその問題点 従来輸液容器などのピンホール検査装置として、左右1
対の電極間に高周波高電圧を印加し、之等電極間に配置
された被検査体上に放電電流を生ぜしめ、この生じた放
電電流を検出して合否を判定するような方式の装置が知
られている。ところが上記従来装置は、被検査体の内容
物の比抵抗が高くなるに従って良品信号対不良品信号の
比が小さくなる傾向があり、性能的に尚満足すべきもの
でなかった。
対の電極間に高周波高電圧を印加し、之等電極間に配置
された被検査体上に放電電流を生ぜしめ、この生じた放
電電流を検出して合否を判定するような方式の装置が知
られている。ところが上記従来装置は、被検査体の内容
物の比抵抗が高くなるに従って良品信号対不良品信号の
比が小さくなる傾向があり、性能的に尚満足すべきもの
でなかった。
本発明者等は、上記従来装置の問題解決を目的として鋭
意研究を重ねた結果、電極間に印加される電圧として、
従来の高周波高電圧に代え低周波高電圧を利用するとき
は、従来装置の性能を大幅に改善し得ることを見出し、
茲に本発明を完成するに至ったものである。
意研究を重ねた結果、電極間に印加される電圧として、
従来の高周波高電圧に代え低周波高電圧を利用するとき
は、従来装置の性能を大幅に改善し得ることを見出し、
茲に本発明を完成するに至ったものである。
問題点を解決するための手段 本発明は、被検査体の一端に接続される高圧側電極と、
同他端に接続される低圧側電極と、之等電極間に周波数
1〜100Hzの低周波高電圧を印加するための低周波
高電圧発生器と、上記電極間に上記発生器よりの低周波
高電圧を印加することによって生じた上記被検査体上の
放電電流を検出して合否を判別する判別器を、具備して
いることを特徴とする密封包装体のピンホール検査装置
に係る。
同他端に接続される低圧側電極と、之等電極間に周波数
1〜100Hzの低周波高電圧を印加するための低周波
高電圧発生器と、上記電極間に上記発生器よりの低周波
高電圧を印加することによって生じた上記被検査体上の
放電電流を検出して合否を判別する判別器を、具備して
いることを特徴とする密封包装体のピンホール検査装置
に係る。
実施例 以下に本発明の一実施例を添附図面にもとづき説明する
と、次の通りである。
と、次の通りである。
第1図は本発明装置の全体を概略的に示す説明図であ
り、被検査体(a)の一端側に接続される高圧側電極
(1)と、同他端側に接続される低圧側電極(2)
(2′)と、之等電極(1)及び(2)(2′)間に周
波数1〜100Kzの低周波高電圧を印加するための低
周波高電圧発生装置(3)と、上記電極(1)及び
(2)(2′)間に低周波高電圧を印加することによっ
て生じた上記被検査体(a)上の放電電流を検出して合
否を判別する判別器(4)を具備している。
り、被検査体(a)の一端側に接続される高圧側電極
(1)と、同他端側に接続される低圧側電極(2)
(2′)と、之等電極(1)及び(2)(2′)間に周
波数1〜100Kzの低周波高電圧を印加するための低
周波高電圧発生装置(3)と、上記電極(1)及び
(2)(2′)間に低周波高電圧を印加することによっ
て生じた上記被検査体(a)上の放電電流を検出して合
否を判別する判別器(4)を具備している。
低圧側電極(2)(2′)は、被検査体(a)上に生ず
る放電電流を2系統独立して個別に検出するためのもの
であり、之等電極(2)(2′)は、電流を電圧に変換
するための抵抗器及びコンデンサ(5)(5′)を介し
て上記判別器(4)に個別に接続されている。
る放電電流を2系統独立して個別に検出するためのもの
であり、之等電極(2)(2′)は、電流を電圧に変換
するための抵抗器及びコンデンサ(5)(5′)を介し
て上記判別器(4)に個別に接続されている。
判別器(4)は、2系統独立して送られてくる電圧の大
小を比較し、之等の間にあらかじめ定めた値よりも大き
い電圧差が生ずると、不良品信号を出すような構成にな
っている。
小を比較し、之等の間にあらかじめ定めた値よりも大き
い電圧差が生ずると、不良品信号を出すような構成にな
っている。
第1図に示す状態で、電極(1)及び(2)(2′)間
に電圧を印加すると、ピンホールなしの場合は被検査体
(a)上にコロナ放電電流を生じ、而して判別器(4)
に2系統独立して送られる電圧間には実質的に大小の差
がなく、よって判別器(4)は作動しない。尚電極
(2)(2′)は被検査体(a)の内容物との間の静電
容量が等しくなるように設置されている。
に電圧を印加すると、ピンホールなしの場合は被検査体
(a)上にコロナ放電電流を生じ、而して判別器(4)
に2系統独立して送られる電圧間には実質的に大小の差
がなく、よって判別器(4)は作動しない。尚電極
(2)(2′)は被検査体(a)の内容物との間の静電
容量が等しくなるように設置されている。
一方ピンホールありの場合は被検査体(a)上にコロナ
放電電流と火花放電電流を生じ、火花放電電流はコロナ
放電電流に比較して大きく、而して判別器(4)に2系
統独立して送られる電圧間に大小の差を生じ、よって判
別器(4)は作動して不良品信号を発する。尚第1図に
於て、(6)はシフトレジスター、(7)はパルス発生
器、(8)は電磁弁であり、之等は本発明装置の組込ま
れた下記の検査装置を自動制御するためのものである。
放電電流と火花放電電流を生じ、火花放電電流はコロナ
放電電流に比較して大きく、而して判別器(4)に2系
統独立して送られる電圧間に大小の差を生じ、よって判
別器(4)は作動して不良品信号を発する。尚第1図に
於て、(6)はシフトレジスター、(7)はパルス発生
器、(8)は電磁弁であり、之等は本発明装置の組込ま
れた下記の検査装置を自動制御するためのものである。
本発明は上記形式の検査装置に於て、従来の高周波高電
圧発生装置に代え、特に周波数1〜100Hzの低周波
高電圧発生装置(3)を設置したことを特徴とし、上記
発生装置(3)より、電極(1)及び(2)(2′)間
に低周波高電圧を印加することにより、ピンホール有の
場合、火花放電電流とコロナ放電電流の比が大きくな
り、良品と不良品の正確確実に判別できる。
圧発生装置に代え、特に周波数1〜100Hzの低周波
高電圧発生装置(3)を設置したことを特徴とし、上記
発生装置(3)より、電極(1)及び(2)(2′)間
に低周波高電圧を印加することにより、ピンホール有の
場合、火花放電電流とコロナ放電電流の比が大きくな
り、良品と不良品の正確確実に判別できる。
次表は高周波高電圧を印加した比較例と、低周波高電圧
を印加した本発明との比較実験結果である。尚内溶液と
して蒸留水を用いた。
を印加した本発明との比較実験結果である。尚内溶液と
して蒸留水を用いた。
上表から明らかなように、良品を不良品に誤判定する率
は、印加電圧13KVo−p及び25KVo−pとも
に、比較例の500Hzでは2.0〜2.5%とかなり
高いのに対し本発明の60Hzでは、0.2〜0.3%
と遥かに小さくなり、従来装置よりも性能を各段と向上
できる。
は、印加電圧13KVo−p及び25KVo−pとも
に、比較例の500Hzでは2.0〜2.5%とかなり
高いのに対し本発明の60Hzでは、0.2〜0.3%
と遥かに小さくなり、従来装置よりも性能を各段と向上
できる。
本発明において周波数は1〜100Kz程度の低周波数
の範囲内から選択決定され、特に50Hz又は60Hz
の商用周波数を適用するときは、周波数変換器の備付け
を省略できる。
の範囲内から選択決定され、特に50Hz又は60Hz
の商用周波数を適用するときは、周波数変換器の備付け
を省略できる。
本発明に於ては、低圧側電極(2)(2′)は、必ずし
も2系統独立して備える必要はなく、通常行なわれてい
るような1系統のものであってもよい。
も2系統独立して備える必要はなく、通常行なわれてい
るような1系統のものであってもよい。
第2〜4図に本発明装置の一使用例が示されている。本
使用例に於ては、被検査体(a)は原動器(9)により
駆動されるチェーンコンベア(10)上に等間隔に設置
固定された送り爪(11)に支持された状態で、入口部
に於ては、供給コンベア(12)との協同のもとに、ま
た供給コンベア(12)に後続するガイドレール(1
3)上に於ては、チェーンコンベア(10)の単独送り
の案内で前端から後方に向けて搬送されて行く。
使用例に於ては、被検査体(a)は原動器(9)により
駆動されるチェーンコンベア(10)上に等間隔に設置
固定された送り爪(11)に支持された状態で、入口部
に於ては、供給コンベア(12)との協同のもとに、ま
た供給コンベア(12)に後続するガイドレール(1
3)上に於ては、チェーンコンベア(10)の単独送り
の案内で前端から後方に向けて搬送されて行く。
送り爪(11)は第4図の拡大図に示されるように、被
検査体(a)の頸部(a1)に嵌入係止される溝付爪部
(11a)と、同底部の吊り孔(a2)に挿入係止され
るピン状爪部(11b)から構成されている。
検査体(a)の頸部(a1)に嵌入係止される溝付爪部
(11a)と、同底部の吊り孔(a2)に挿入係止され
るピン状爪部(11b)から構成されている。
ガイドレール(13)は第3図に詳細が示されるように
前半部(13a)と後半部(13b)に分かれ、之等
は、前、後で半ピッチずれるように間隔(14)を存し
て平行配置された複数本の電気絶縁性例えば合成樹脂製
のレール(15)から構成され、前半部(13a)と後
半部(13b)に、それぞれ、本発明装置が設置され、
第1検査部(16)と第2検査部(17)を構成してい
る。
前半部(13a)と後半部(13b)に分かれ、之等
は、前、後で半ピッチずれるように間隔(14)を存し
て平行配置された複数本の電気絶縁性例えば合成樹脂製
のレール(15)から構成され、前半部(13a)と後
半部(13b)に、それぞれ、本発明装置が設置され、
第1検査部(16)と第2検査部(17)を構成してい
る。
第1検査部(16)の詳細が第4図に拡大して示され、
被検査体(a)の上面側に於ては、本発明装置の電極
(1)及び(2)が被検査体(a)が通過するごとにそ
の略々全面に接触し、また下面側に於ては、電極(1)
及び(2′)が各レール(15)間の間隔(14)の部
分に於て接触されるようになっている。この場合上記レ
ール(15)の平行配置は、前半部(13a)と後半部
(13b)で半ピッチずれているので、第1検査部(1
6)で検査されなかった被検査体(a)の下面の残部
は、第2検査部(17)に於て検査される。
被検査体(a)の上面側に於ては、本発明装置の電極
(1)及び(2)が被検査体(a)が通過するごとにそ
の略々全面に接触し、また下面側に於ては、電極(1)
及び(2′)が各レール(15)間の間隔(14)の部
分に於て接触されるようになっている。この場合上記レ
ール(15)の平行配置は、前半部(13a)と後半部
(13b)で半ピッチずれているので、第1検査部(1
6)で検査されなかった被検査体(a)の下面の残部
は、第2検査部(17)に於て検査される。
このように被検査体(a)は、チェーンコンベア(1
0)の送り案内でガイドレール(13)上を移動され、
この移動中、第1検査部(16)及び第2検査部(1
7)を順次通過してピンホール有無の検査がなされる。
0)の送り案内でガイドレール(13)上を移動され、
この移動中、第1検査部(16)及び第2検査部(1
7)を順次通過してピンホール有無の検査がなされる。
検査の結果ピンホール無しの場合は、被検査体(a)は
ガイドレール(13)の後端で送り爪(11)より解放
され、該レール(13)に後続する受取りコンベア(1
8)、排出コンベア(19)及び送り出しコンベア(2
0)を順次経て次工程に送り出されて行く。
ガイドレール(13)の後端で送り爪(11)より解放
され、該レール(13)に後続する受取りコンベア(1
8)、排出コンベア(19)及び送り出しコンベア(2
0)を順次経て次工程に送り出されて行く。
一方ピンホール有の場合は、その信号が第1図に示され
るように判別器(4)よりシフトレジスター(6)に送
られる。
るように判別器(4)よりシフトレジスター(6)に送
られる。
シフトレジスター(6)はパルス発生器(7)より一定
の間隔、例えば被検査体(a)が1ピッチ(送り爪の間
隔)移動されるごとに送られてくるクロックパルスによ
り各被検査体の位置を記憶しており、而して判別器
(4)より不良品信号を受け取ると、これに該当する不
良品が排出コンベア(19)上に至ると、電磁弁(8)
に信号を発し、電磁弁(8)及びエアシリンダ(21)
(第2図参照)の働きで排出コンベア(19)の一端を
持ち上げ、不良品を自動でその下方のシュート(22)
に落下させ系外へ排出する。排出後は、例えば電磁弁
(8)用に備えたタイミングカム(図示せず)の働き
で、再び元の状態に復帰する。このようにして、被検査
体の検査を連続的に行うことができる。
の間隔、例えば被検査体(a)が1ピッチ(送り爪の間
隔)移動されるごとに送られてくるクロックパルスによ
り各被検査体の位置を記憶しており、而して判別器
(4)より不良品信号を受け取ると、これに該当する不
良品が排出コンベア(19)上に至ると、電磁弁(8)
に信号を発し、電磁弁(8)及びエアシリンダ(21)
(第2図参照)の働きで排出コンベア(19)の一端を
持ち上げ、不良品を自動でその下方のシュート(22)
に落下させ系外へ排出する。排出後は、例えば電磁弁
(8)用に備えたタイミングカム(図示せず)の働き
で、再び元の状態に復帰する。このようにして、被検査
体の検査を連続的に行うことができる。
効果 このように本発明に於ては、電極間に、特に周波数1〜
100Hzの低周波高電圧を印加するような構成となし
たことにより、ピンホール有無の検査に際し不良品の確
実な検出に加え良品と不良品と誤判定することが殆んど
なくなり、その検査性能を格段と向上し得る特徴を有す
る。
100Hzの低周波高電圧を印加するような構成となし
たことにより、ピンホール有無の検査に際し不良品の確
実な検出に加え良品と不良品と誤判定することが殆んど
なくなり、その検査性能を格段と向上し得る特徴を有す
る。
第1図は本発明の一実施例の概略的に示す全体図、第2
図は本発明装置の一使用例を概略的に示す側面図、第3
図は同平面図、第4図は第2図に於ける第1検査部の拡
大図である。 図に於て(1)及び(2)(2′)は電極、(3)は低
周波高電圧発生器、(4)は判別器、(5)(5′)は
低抗及びコンデンサ、(6)はシフトレジスター、
(7)はパルス発生器、(8)は電磁弁である。
図は本発明装置の一使用例を概略的に示す側面図、第3
図は同平面図、第4図は第2図に於ける第1検査部の拡
大図である。 図に於て(1)及び(2)(2′)は電極、(3)は低
周波高電圧発生器、(4)は判別器、(5)(5′)は
低抗及びコンデンサ、(6)はシフトレジスター、
(7)はパルス発生器、(8)は電磁弁である。
Claims (1)
- 【請求項1】被検査体の一端に接続される高圧側電極
と、同他端に接続される低圧側電極と、之等電極間に周
波数1〜100Hzの低周波高電圧を印加するための低
周波高電圧発生器と、上記電極間に上記発生器よりの低
周波高電圧を印加することによって生じた上記被検査体
上の放電電流を検出して合否を判別する判別器を、具備
していることを特徴とする密封包装体のピンホール検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62274366A JPH068801B2 (ja) | 1987-10-29 | 1987-10-29 | 密封包装体のピンホール検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62274366A JPH068801B2 (ja) | 1987-10-29 | 1987-10-29 | 密封包装体のピンホール検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01114744A JPH01114744A (ja) | 1989-05-08 |
| JPH068801B2 true JPH068801B2 (ja) | 1994-02-02 |
Family
ID=17540657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62274366A Expired - Fee Related JPH068801B2 (ja) | 1987-10-29 | 1987-10-29 | 密封包装体のピンホール検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH068801B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2852572B2 (ja) * | 1991-07-04 | 1999-02-03 | 株式会社大塚製薬工場 | 複室容器の独立室間の密閉不良検査装置 |
| JP2006300541A (ja) * | 2005-04-15 | 2006-11-02 | Jiyooben Denki Kk | 密封包装物の検査方法および検査装置 |
| JP4943084B2 (ja) * | 2006-08-02 | 2012-05-30 | ニッカ電測株式会社 | ピンホール検査装置用電極 |
| DE102012207736B4 (de) * | 2012-05-09 | 2023-05-17 | Syntegon Technology Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Fördern gefüllter Behälter und Prüfen derselben auf ausgetretene Flüssigkeit |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5737027A (en) * | 1980-08-11 | 1982-03-01 | Toshiba Corp | Trolley wire for remotely controlled vehicle in nuclear power plant |
-
1987
- 1987-10-29 JP JP62274366A patent/JPH068801B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01114744A (ja) | 1989-05-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |