JPH0690183B2 - 電子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法 - Google Patents
電子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法Info
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- JPH0690183B2 JPH0690183B2 JP1061652A JP6165289A JPH0690183B2 JP H0690183 B2 JPH0690183 B2 JP H0690183B2 JP 1061652 A JP1061652 A JP 1061652A JP 6165289 A JP6165289 A JP 6165289A JP H0690183 B2 JPH0690183 B2 JP H0690183B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は複数個の振動子を直線状に配置してなるアレイ
探触子を用いて、被検査体に内在する欠陥の探傷を行な
う電子走査型超音波探傷法において、特に欠陥の種類・
形状を短時間でかつ高信頼度で弁別し得るようにした電
子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法に関す
るものである。
探触子を用いて、被検査体に内在する欠陥の探傷を行な
う電子走査型超音波探傷法において、特に欠陥の種類・
形状を短時間でかつ高信頼度で弁別し得るようにした電
子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法に関す
るものである。
（従来の技術） 一般に、鋼管等の被検査体に内在する欠陥の探傷を行な
う方法の一つとして、超音波探傷法が用いられてきてい
る。また、この超音波探傷法による欠陥形状弁別法とし
ては、従来から２つのアプローチ法が知られている。第
１のアプローチは、欠陥の性状を含めての欠陥からの超
音波反射波の波形解析によるもので、例えば反射波の周
波数解析、位相解析によって欠陥形状を弁別しようとす
るものである。また、第２のアプローチは、主として欠
陥形状による反射波の反射挙動の変化に注目するもの
で、例えば反射波の形状、波高値、伝播時間等における
変化によって欠陥形状を弁別しようとするものである
（特開昭61−173152号、「超音波による電縫鋼管溶接部
欠陥識別法の基礎検討」（社）日本非破壊検査協会昭和
59年秋期大会講演概要P740−741）。本発明は、この第
２のアプローチに属するものである。
う方法の一つとして、超音波探傷法が用いられてきてい
る。また、この超音波探傷法による欠陥形状弁別法とし
ては、従来から２つのアプローチ法が知られている。第
１のアプローチは、欠陥の性状を含めての欠陥からの超
音波反射波の波形解析によるもので、例えば反射波の周
波数解析、位相解析によって欠陥形状を弁別しようとす
るものである。また、第２のアプローチは、主として欠
陥形状による反射波の反射挙動の変化に注目するもの
で、例えば反射波の形状、波高値、伝播時間等における
変化によって欠陥形状を弁別しようとするものである
（特開昭61−173152号、「超音波による電縫鋼管溶接部
欠陥識別法の基礎検討」（社）日本非破壊検査協会昭和
59年秋期大会講演概要P740−741）。本発明は、この第
２のアプローチに属するものである。
ところで、従来方法にあっては探触子の手動走査による
もので、種々の探触子走査法の組合せによって反射波の
変化を類型し、欠陥形状を推定するものである。例え
ば、溶接部の欠陥の形状，あるいは種類（クラック、ブ
ローホール、スラグ等）を判定する場合、一対の探触子
により溶接部を挟んでの欠陥部横断線上での両側探傷，
各側については、探触子の欠陥に対する前後走査，振子
走査，首振り走査等による反射波変化の総合評価とな
る。また、発生する欠陥種類が比較的限定される電縫管
溶接部の場合においても、探触子の手動走査方法の組合
せを少なくすることができるが、手動走査における非能
率性、反射波変化を読取っての弁別特性値の定性的抽
出、これらの組合せ評価における主観性、いずれの手順
においても検査員の技量依存は大であり、欠陥形状弁別
の信頼性に不安要素を残すことに変わりはない。
もので、種々の探触子走査法の組合せによって反射波の
変化を類型し、欠陥形状を推定するものである。例え
ば、溶接部の欠陥の形状，あるいは種類（クラック、ブ
ローホール、スラグ等）を判定する場合、一対の探触子
により溶接部を挟んでの欠陥部横断線上での両側探傷，
各側については、探触子の欠陥に対する前後走査，振子
走査，首振り走査等による反射波変化の総合評価とな
る。また、発生する欠陥種類が比較的限定される電縫管
溶接部の場合においても、探触子の手動走査方法の組合
せを少なくすることができるが、手動走査における非能
率性、反射波変化を読取っての弁別特性値の定性的抽
出、これらの組合せ評価における主観性、いずれの手順
においても検査員の技量依存は大であり、欠陥形状弁別
の信頼性に不安要素を残すことに変わりはない。
以下、電縫管溶接部の欠陥に対する従来の手法について
詳述する。
詳述する。
電縫管溶接部に発生する代表的な欠陥としては、第３図
（ａ）および（ｂ）に示すようにセンタークラックおよ
びフッククラックがある。またこの他に、第３図（ｃ）
に示すように管母材に残存する非金属介在物、電縫溶接
ビードの切削不良部も超音波で検出される。この場合、
内圧を受ける管使用を考えると、センタークラックは重
大欠陥であり、非金属介在物は無害である。そして、こ
れら欠陥の発生原因は異なることからも、超音波探傷で
の検出欠陥は、その種類ないしは形状をも弁別し、溶接
過程へ迅速にフィードバックして溶接条件を是正するこ
とが必要となる。
（ａ）および（ｂ）に示すようにセンタークラックおよ
びフッククラックがある。またこの他に、第３図（ｃ）
に示すように管母材に残存する非金属介在物、電縫溶接
ビードの切削不良部も超音波で検出される。この場合、
内圧を受ける管使用を考えると、センタークラックは重
大欠陥であり、非金属介在物は無害である。そして、こ
れら欠陥の発生原因は異なることからも、超音波探傷で
の検出欠陥は、その種類ないしは形状をも弁別し、溶接
過程へ迅速にフィードバックして溶接条件を是正するこ
とが必要となる。
第４図は、従来の手動探触子走査方法を示す概念図で、
例えば自動超音波探傷による欠陥指示部に対して、手動
再探傷により上述の如く最終的合否判定を行なう場合で
ある。すなわち、電縫部１の欠陥２に対して、探触子３
を前後走査することによって、 （ａ）探触子距離に伴う反射波波高値の変化を観察 （ｂ）反射波のピーク波高値の測定 （ｃ）同ピーク位置でのビーム路程の測定あるいは観察 を行ない、必要に応じて探触子３を左右走査することに
よって、欠陥２の管軸方向寸法（欠陥指示長さ）を測定
する。以上の走査を、電縫部１を挟む両側（図示Ａ側と
Ｂ側）で行なう。そして、判定はこれら走査結果の総合
評価によるもので、その考え方の一例を述べると、Ａ
側,B側探傷でのピーク波高値がほぼ同一であればセンタ
ークラック、また両者の差異が生じてくればフッククラ
ックの傾向を呈すると推定するものである。
例えば自動超音波探傷による欠陥指示部に対して、手動
再探傷により上述の如く最終的合否判定を行なう場合で
ある。すなわち、電縫部１の欠陥２に対して、探触子３
を前後走査することによって、 （ａ）探触子距離に伴う反射波波高値の変化を観察 （ｂ）反射波のピーク波高値の測定 （ｃ）同ピーク位置でのビーム路程の測定あるいは観察 を行ない、必要に応じて探触子３を左右走査することに
よって、欠陥２の管軸方向寸法（欠陥指示長さ）を測定
する。以上の走査を、電縫部１を挟む両側（図示Ａ側と
Ｂ側）で行なう。そして、判定はこれら走査結果の総合
評価によるもので、その考え方の一例を述べると、Ａ
側,B側探傷でのピーク波高値がほぼ同一であればセンタ
ークラック、また両者の差異が生じてくればフッククラ
ックの傾向を呈すると推定するものである。
（発明が解決しようとする課題） しかしながら、このような探触子の手動走査による従来
の欠陥形状弁別方法では、次のような問題がある。
の欠陥形状弁別方法では、次のような問題がある。
（ａ）各手動走査における反射波検出は、機械的走査で
あることから時間がかかり、またその検査精度は検査員
の技量に依存する（例えば、反射波ピーク位置検出とピ
ーク値の読取り）ため個人誤差が発生する （ｂ）欠陥形状弁別のための特性値抽出にあって、前後
走査に伴う反射波形状の変化、あるいは反射波ピーク値
におけるビーム路程変化等、いくつかの定性的評価を残
しており、この点についても検査員の技量に依存する所
が大である （ｃ）欠陥形状弁別のための諸特性値の総合評価は、上
記所与の走査からの情報に限定されての経験則である。
この場合、所与の情報での最適化ではあるが、より判定
の確度を上げるには、定量化された弁別特性値が多い方
が望ましい 以上の点から、従来手法の非能率性、特性値抽出および
評価における定量化不足、従って技量依存による個人誤
差の発生は、弁別結果に対する信頼度を損なうものとな
る。特に、製管プロセス中での欠陥形状弁別ともなる
と、物流バランス上許容時間に限界があり、従って迅速
に，正確に，しかもより多くの情報といったライン操業
ニーズは、従来手法の確度に対してマイナスに作用する
ことは明らかである。
あることから時間がかかり、またその検査精度は検査員
の技量に依存する（例えば、反射波ピーク位置検出とピ
ーク値の読取り）ため個人誤差が発生する （ｂ）欠陥形状弁別のための特性値抽出にあって、前後
走査に伴う反射波形状の変化、あるいは反射波ピーク値
におけるビーム路程変化等、いくつかの定性的評価を残
しており、この点についても検査員の技量に依存する所
が大である （ｃ）欠陥形状弁別のための諸特性値の総合評価は、上
記所与の走査からの情報に限定されての経験則である。
この場合、所与の情報での最適化ではあるが、より判定
の確度を上げるには、定量化された弁別特性値が多い方
が望ましい 以上の点から、従来手法の非能率性、特性値抽出および
評価における定量化不足、従って技量依存による個人誤
差の発生は、弁別結果に対する信頼度を損なうものとな
る。特に、製管プロセス中での欠陥形状弁別ともなる
と、物流バランス上許容時間に限界があり、従って迅速
に，正確に，しかもより多くの情報といったライン操業
ニーズは、従来手法の確度に対してマイナスに作用する
ことは明らかである。
本発明は上記のような問題を解決するために成されたも
ので、その目的は被検査体に内在する欠陥の種類・形状
を短時間で能率良くかつ高信頼度で弁別することが可能
な電子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法を
提供することを目的とする。
ので、その目的は被検査体に内在する欠陥の種類・形状
を短時間で能率良くかつ高信頼度で弁別することが可能
な電子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法を
提供することを目的とする。
（課題を解決するための手段） 上記の目的を達成するために、 第１の発明では、被検査体の欠陥を挟んでほぼ同一距離
位置に一対のアレイ探触子を相対的に配置し、これらの
アレイ探触子を片側ずつ切替えて電子走査型超音波探傷
を行ない、この電子走査型超音波探傷により得られる欠
陥からの各反射波の反射挙動の差異を抽出してこれを特
徴づける複数の弁別特性値を算出し、この弁別特性値に
基づいて欠陥の種類を弁別する電子走査型超音波探傷に
より得られる欠陥からの各反射波の反射挙動の差異を抽
出してこれを特徴づける複数の弁別特性値を算出し、こ
の弁別特性値に基づいて欠陥の種類を弁別するように
し、 また第２の発明では、被検査体の欠陥を挟んでほぼ同一
距離位置に一対のアレイ探触子を相対的に配置し、これ
らのアレイ探触子を片側ずつ切替えて電子走査型超音波
探傷を行ない、この電子走査型超音波探傷により得られ
る欠陥からの各反射波の反射挙動の差異を抽出してこれ
を特徴づける複数の弁別特性値を算出し、この弁別特性
値に基づいて形状弁別のための評価値を算出し、この評
価値と実際の欠陥の形状より求めた相関関係から欠陥の
形状を弁別するようにしている。
位置に一対のアレイ探触子を相対的に配置し、これらの
アレイ探触子を片側ずつ切替えて電子走査型超音波探傷
を行ない、この電子走査型超音波探傷により得られる欠
陥からの各反射波の反射挙動の差異を抽出してこれを特
徴づける複数の弁別特性値を算出し、この弁別特性値に
基づいて欠陥の種類を弁別する電子走査型超音波探傷に
より得られる欠陥からの各反射波の反射挙動の差異を抽
出してこれを特徴づける複数の弁別特性値を算出し、こ
の弁別特性値に基づいて欠陥の種類を弁別するように
し、 また第２の発明では、被検査体の欠陥を挟んでほぼ同一
距離位置に一対のアレイ探触子を相対的に配置し、これ
らのアレイ探触子を片側ずつ切替えて電子走査型超音波
探傷を行ない、この電子走査型超音波探傷により得られ
る欠陥からの各反射波の反射挙動の差異を抽出してこれ
を特徴づける複数の弁別特性値を算出し、この弁別特性
値に基づいて形状弁別のための評価値を算出し、この評
価値と実際の欠陥の形状より求めた相関関係から欠陥の
形状を弁別するようにしている。
（作用） 第１の発明では、電子走査型超音波探傷により得られる
夫々の反射波の反射挙動の差異を特徴づける複数の弁別
特性値に基づいて、欠陥の種類を弁別することが可能と
なり、第２の発明では、電子走査型超音波探傷により得
られる夫々の反射波の反射挙動の差異を特徴づける複数
の弁別特性値に基づいて形状弁別のための評価値を算出
し、この評価値と実際の欠陥の形状との相関関係から欠
陥の形状を弁別することが可能となる。従って、電子走
査型超音波探傷法の機能を効果的，効率的に組合せて適
用し、さらに定量化された諸特性に対する判定の論理化
により、前述の手動走査に基づく欠陥形状弁別法の問題
である、非能率性，技量依存による精度上の個人誤差の
誘発，所与情報に限定されての判定確度の制約等を解消
し、人的依存性の少ない信頼度の高い弁別を行なうこと
ができる。
夫々の反射波の反射挙動の差異を特徴づける複数の弁別
特性値に基づいて、欠陥の種類を弁別することが可能と
なり、第２の発明では、電子走査型超音波探傷により得
られる夫々の反射波の反射挙動の差異を特徴づける複数
の弁別特性値に基づいて形状弁別のための評価値を算出
し、この評価値と実際の欠陥の形状との相関関係から欠
陥の形状を弁別することが可能となる。従って、電子走
査型超音波探傷法の機能を効果的，効率的に組合せて適
用し、さらに定量化された諸特性に対する判定の論理化
により、前述の手動走査に基づく欠陥形状弁別法の問題
である、非能率性，技量依存による精度上の個人誤差の
誘発，所与情報に限定されての判定確度の制約等を解消
し、人的依存性の少ない信頼度の高い弁別を行なうこと
ができる。
（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
る。
第１図は、本発明の電子走査型超音波探傷による欠陥種
類・形状弁別法の一例を示す概念図である。なお本例で
は、被検査体として電縫管溶接部の欠陥探傷に適用した
場合について述べる。
類・形状弁別法の一例を示す概念図である。なお本例で
は、被検査体として電縫管溶接部の欠陥探傷に適用した
場合について述べる。
すなわち第１図においては、被検査体である電縫管４の
電縫部５に内在する欠陥６の種類および形状を弁別する
に際して、まず電縫部５の欠陥６を挟んで横断線上にほ
ぼ同一距離位置に、複数個の振動子を直線状に配置して
なる一対のアレイ探触子7A,7Bを相対的に配置する。次
に、この一対のアレイ探触子7A,7Bに対し、片側ずつあ
る探傷屈折角で各振動子に沿う直線的送受信の切替えに
よる公知のリニア走査を行なうことにより、超音波ビー
ム8Aを送信して電縫部５の欠陥６を超音波探傷する。次
に、この超音波ビーム8Aの送信に伴って欠陥６で反射し
た反射波を、アレイ探触子7Aにて受信する。そして、か
かる電子走査型超音波探傷法により得られる欠陥６から
の反射波の反射挙動の変化より、反射波のピーク検出位
置（ビーム路程）、ピーク波高値およびピーク波形に対
する1/10波高値幅（波形の尖鋭度評価）等の弁別特性値
を抽出する。また、アレイ探触子7Aのほぼ中央部の所定
個数の振動子からなる一振動子群のみにて超音波ビーム
を送信し、この超音波ビームの送信に伴う欠陥６からの
反射波を、アレイ探触子7Aを構成する各振動子毎にその
配置方向に沿ってリニア走査して順次切換えて受信する
ことにより、反射波の反射指向特性を弁別特性値として
抽出する。以上の走査を、もう一方のアレイ探触子7Bに
ついても行なう。
電縫部５に内在する欠陥６の種類および形状を弁別する
に際して、まず電縫部５の欠陥６を挟んで横断線上にほ
ぼ同一距離位置に、複数個の振動子を直線状に配置して
なる一対のアレイ探触子7A,7Bを相対的に配置する。次
に、この一対のアレイ探触子7A,7Bに対し、片側ずつあ
る探傷屈折角で各振動子に沿う直線的送受信の切替えに
よる公知のリニア走査を行なうことにより、超音波ビー
ム8Aを送信して電縫部５の欠陥６を超音波探傷する。次
に、この超音波ビーム8Aの送信に伴って欠陥６で反射し
た反射波を、アレイ探触子7Aにて受信する。そして、か
かる電子走査型超音波探傷法により得られる欠陥６から
の反射波の反射挙動の変化より、反射波のピーク検出位
置（ビーム路程）、ピーク波高値およびピーク波形に対
する1/10波高値幅（波形の尖鋭度評価）等の弁別特性値
を抽出する。また、アレイ探触子7Aのほぼ中央部の所定
個数の振動子からなる一振動子群のみにて超音波ビーム
を送信し、この超音波ビームの送信に伴う欠陥６からの
反射波を、アレイ探触子7Aを構成する各振動子毎にその
配置方向に沿ってリニア走査して順次切換えて受信する
ことにより、反射波の反射指向特性を弁別特性値として
抽出する。以上の走査を、もう一方のアレイ探触子7Bに
ついても行なう。
表は、欠陥形状弁別のための抽出した弁別特性値、さら
には評価に一般性を与えて欠陥形状に好都合な加工値と
して採用した例を示すものである。すなわち、実用的弁
別特性値としては、Ａ側およびＢ側探傷時の各弁別特性
値の差あるいは相関係数を用いるものである。
には評価に一般性を与えて欠陥形状に好都合な加工値と
して採用した例を示すものである。すなわち、実用的弁
別特性値としては、Ａ側およびＢ側探傷時の各弁別特性
値の差あるいは相関係数を用いるものである。
第２図は、本実施例における上記弁別特性値の欠陥種類
に対応した挙動の一例を示す図である。第２図におい
て、各弁別特性値は、レーダーチャート上外側に位置す
る程、フッククラック性を示すように目盛ってある。同
図（ａ）はフッククラック、同図（ｂ）はセンタークラ
ックにそれぞれ対応するもので、図から明らかな如くフ
ッククラック性の増大と共に各弁別特性値の遠心傾向が
実証できる。従って、これら諸弁別特性値を総合評価す
ることにより、欠陥６の種類の判定を容易に行なうこと
ができる。
に対応した挙動の一例を示す図である。第２図におい
て、各弁別特性値は、レーダーチャート上外側に位置す
る程、フッククラック性を示すように目盛ってある。同
図（ａ）はフッククラック、同図（ｂ）はセンタークラ
ックにそれぞれ対応するもので、図から明らかな如くフ
ッククラック性の増大と共に各弁別特性値の遠心傾向が
実証できる。従って、これら諸弁別特性値を総合評価す
ることにより、欠陥６の種類の判定を容易に行なうこと
ができる。
また、本実施例では、上述した欠陥種類の判定に定量性
を与え、さらにはその欠陥形状（特に、フッククラック
の傾き角度）をも推定するため、各弁別特性値を組合せ
て形状弁別のための評価値を下記の一次相関式に従って
算出する。そして、この評価値と実際の欠陥の形状より
求めた相関関係から欠陥６の形状を弁別する。
を与え、さらにはその欠陥形状（特に、フッククラック
の傾き角度）をも推定するため、各弁別特性値を組合せ
て形状弁別のための評価値を下記の一次相関式に従って
算出する。そして、この評価値と実際の欠陥の形状より
求めた相関関係から欠陥６の形状を弁別する。
評価値（Evaiuation Value）＝ΣfiPi ここで、Piは算出した弁別特性値、fiは重み係数であ
る。
る。
この場合、どの程度の数の弁別特性値を選ぶかの選択上
の問題がある。すなわち、単に欠陥６の種類判定のみで
あれば、上述のエコー高さの比、ビーム路程の差、
反射指向性相関によってその目的は達成できるが、欠
陥６の形状をより詳細に推定するには、より多くの弁別
特性値を用いてその確度の向上を図ることが望ましい。
の問題がある。すなわち、単に欠陥６の種類判定のみで
あれば、上述のエコー高さの比、ビーム路程の差、
反射指向性相関によってその目的は達成できるが、欠
陥６の形状をより詳細に推定するには、より多くの弁別
特性値を用いてその確度の向上を図ることが望ましい。
上述したように本実施例では、被検査体である電縫管４
の電縫部５の欠陥６を挟んでほぼ同一距離位置に一対の
アレイ探触子7A,7Bを相対的に配置し、これらのアレイ
探触子7A,7Bを片側ずつ切替えて電子走査型超音波探傷
を行ない、この電子走査型超音波探傷により得られる欠
陥６からの各反射波の反射挙動の差異を特徴づける複数
の弁別特性値を算出し、この弁別特性値に基づいて形状
弁別のための評価値を算出し、この評価値と実際の欠陥
の形状より求めた相関関係から欠陥６の形状を弁別する
ようにしたものである。
の電縫部５の欠陥６を挟んでほぼ同一距離位置に一対の
アレイ探触子7A,7Bを相対的に配置し、これらのアレイ
探触子7A,7Bを片側ずつ切替えて電子走査型超音波探傷
を行ない、この電子走査型超音波探傷により得られる欠
陥６からの各反射波の反射挙動の差異を特徴づける複数
の弁別特性値を算出し、この弁別特性値に基づいて形状
弁別のための評価値を算出し、この評価値と実際の欠陥
の形状より求めた相関関係から欠陥６の形状を弁別する
ようにしたものである。
従って、従来の手動超音波探傷での種々の走査法の組合
せに基づく欠陥形状弁別法の問題である、非能率性、定
量的評価，検査員の技量依存による弁別精度上の個人誤
差の誘発，所与情報に限定されての判定確度の不安定性
等を解消し、人的依存性を少なくして短時間で能率良く
かつ信頼度の高い、欠陥の種類・形状の弁別を行なうこ
とが可能となる。特に、製造ライン中での欠陥種類・形
状弁別が行なえる本方法は、プロセス条件の即時的なフ
ィードバックを可能とすることから、品質管理上極めて
有効な方法である。
せに基づく欠陥形状弁別法の問題である、非能率性、定
量的評価，検査員の技量依存による弁別精度上の個人誤
差の誘発，所与情報に限定されての判定確度の不安定性
等を解消し、人的依存性を少なくして短時間で能率良く
かつ信頼度の高い、欠陥の種類・形状の弁別を行なうこ
とが可能となる。特に、製造ライン中での欠陥種類・形
状弁別が行なえる本方法は、プロセス条件の即時的なフ
ィードバックを可能とすることから、品質管理上極めて
有効な方法である。
尚、上記実施例では、弁別特性値として表で示した５種
類のものについて述べたが、これに限られないことは言
うまでもない。
類のものについて述べたが、これに限られないことは言
うまでもない。
また、上記実施例では、評価値の算出式として一次相関
式を用いた場合について述べたが、これに限定されるも
のではなく、この評価値の定量区分化により欠陥形状と
の対応を可能とするものであれば他の式であってもよ
い。
式を用いた場合について述べたが、これに限定されるも
のではなく、この評価値の定量区分化により欠陥形状と
の対応を可能とするものであれば他の式であってもよ
い。
（発明の効果） 以上説明したように本発明によれば、被検査体に内在す
る欠陥の種類・形状を短時間で能率良くかつ高信頼度で
弁別することが可能な電子走査型超音波探傷による欠陥
種類・形状弁別法が提供できる。
る欠陥の種類・形状を短時間で能率良くかつ高信頼度で
弁別することが可能な電子走査型超音波探傷による欠陥
種類・形状弁別法が提供できる。
第１図は本発明の電子走査型超音波探傷による欠陥種類
・形状弁別法の一実施例を示す概念図、第２図は同実施
例における弁別特性値の欠陥種類に対応した挙動の一例
を示す図、第３図は電縫管溶接部に発生する代表的欠陥
の一例を示す図、第４図は従来の手動探触子走査方法を
示す概念図である。 ４……電縫管、５……電縫部、６……欠陥、7A,7B……
アレイ探触子、8A,8B……超音波ビーム。
・形状弁別法の一実施例を示す概念図、第２図は同実施
例における弁別特性値の欠陥種類に対応した挙動の一例
を示す図、第３図は電縫管溶接部に発生する代表的欠陥
の一例を示す図、第４図は従来の手動探触子走査方法を
示す概念図である。 ４……電縫管、５……電縫部、６……欠陥、7A,7B……
アレイ探触子、8A,8B……超音波ビーム。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小菅 英男 東京都府中市東芝町１番地 株式会社東芝 府中工場内 (72)発明者 玉木 清英 東京都府中市東芝町１番地 株式会社東芝 府中工場内 (56)参考文献 特開 平２−114114（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−173152（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】複数個の振動子を直線状に配置してなるア
レイ探触子の振動子を駆動し、被検査体に対し超音波ビ
ームを送信してこれからの反射波を受信することによ
り、前記被検査体に内在する欠陥の探傷を行なう電子走
査型超音波探傷で、欠陥の種類を弁別する方法におい
て、 前記被検査体の欠陥を挟んでほぼ同一距離位置に一対の
アレイ探触子を相対的に配置し、これらのアレイ探触子
を片側ずつ切替えて電子走査型超音波探傷を行ない、こ
の電子走査型超音波探傷により得られる欠陥からの各反
射波の反射挙動の差異を抽出してこれを特徴づける複数
の弁別特性値を算出し、この弁別特性値に基づいて欠陥
の種類を弁別するようにした ことを特徴とする電子走査型超音波探傷による欠陥種類
弁別法。 - 【請求項２】複数個の振動子を直線状に配置してなるア
レイ探触子の振動子を駆動し、被検査体に対し超音波ビ
ームを送信してこれからの反射波を受信することによ
り、前記被検査体に内在する欠陥の探傷を行なう電子走
査型超音波探傷で、欠陥の形状を弁別する方法におい
て、 前記被検査体の欠陥を挟んでほぼ同一距離位置に一対の
アレイ探触子を相対的に配置し、これらのアレイ探触子
を片側ずつ切替えて電子走査型超音波探傷を行ない、こ
の電子走査型超音波探傷により得られる欠陥からの各反
射波の反射挙動の差異を抽出してこれを特徴づける複数
の弁別特性値を算出し、この弁別特性値に基づいて形状
弁別のための評価値を算出し、この評価値と実際の欠陥
の形状より求めた相関関係から欠陥の形状を弁別するよ
うにした ことを特徴とする電子走査型超音波探傷による欠陥形状
弁別法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1061652A JPH0690183B2 (ja) | 1989-03-14 | 1989-03-14 | 電子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1061652A JPH0690183B2 (ja) | 1989-03-14 | 1989-03-14 | 電子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02240562A JPH02240562A (ja) | 1990-09-25 |
| JPH0690183B2 true JPH0690183B2 (ja) | 1994-11-14 |
Family
ID=13177372
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1061652A Expired - Lifetime JPH0690183B2 (ja) | 1989-03-14 | 1989-03-14 | 電子走査型超音波探傷による欠陥種類・形状弁別法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0690183B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7045095B1 (ja) * | 2020-08-14 | 2022-03-31 | 裕壮 割方 | マスク用フレーム及びその使用方法 |
-
1989
- 1989-03-14 JP JP1061652A patent/JPH0690183B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02240562A (ja) | 1990-09-25 |
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