JPH0692885B2 - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
- Publication number
- JPH0692885B2 JPH0692885B2 JP2004255A JP425590A JPH0692885B2 JP H0692885 B2 JPH0692885 B2 JP H0692885B2 JP 2004255 A JP2004255 A JP 2004255A JP 425590 A JP425590 A JP 425590A JP H0692885 B2 JPH0692885 B2 JP H0692885B2
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- Japan
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- ray
- subject
- laser light
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- mirror
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- Expired - Lifetime
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- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
非破壊で検査するのに好適なX線CT装置に関するもので
ある。
することができるという優れた特徴から現在では広く普
及している。又、産業用のX線CT装置は金属、セラミッ
クス、複合材料等の内部の微小欠陥を非破壊で検査する
ことがきるので、近年材料の品質評価などに盛んに利用
されつつある。
被検体をスライスする位置におけるX線透過データを、
被検体を回転させることによって所定の角度範囲にわた
って収集し、これから計算処理を経て再構成されるもの
である。したがって、被検体のある部分のCT画像を得よ
うとするときは、その部分に正確にX線ビームを照射す
る必要がある。
別な手段が設けられておらず、オペレータの熟練技術に
たよるか、又は何回かの試行錯誤を繰り返すことによっ
てX線ビームのスライス位置を決定していた。
れる人体の部位に可視光を照射することによりCT画像が
得られる部分を確認する手段が設けられているものがあ
る。
の手段が設けられていない産業用のX線CT装置では、被
検体をスライス位置に合わせるのに熟練技術を要し、作
業性が悪いとともにその精度にも限界がある。
腫瘍などを発見することを主な目的とするので、必要と
される分解能はせいぜい数百μm程度である。したがっ
て、通常光を被検体である人体に照射しこれを肉眼で観
察することによって、X線による被検体のスライス位置
を確認することは十分に可能である。
される分解能が高く、微細な構造物を観察するためには
数十μm程度の分解能が必要となる。しかし、単に分解
能が向上してもX線のスライス幅がこの値よりも大きけ
れば明瞭なCT画像は得られないので、スライス幅も分解
能と同程度の小さい値とする必要がある。
ともなってスライス位置を正確に決めなければならな
い。このような場合に、通常光を用いてX線のスライス
位置を決めようとしても、平行光線でない通常光は光源
から被検体に至るまでの間に空間的に広がってしまい、
数十μm程度に集束させることは困難である。
解能のCT画像を得るためにX線のスライス幅を数十μ程
度とした場合にも、正確なスライス位置を決定するこが
できるX線CT装置を提供することを目的とするものであ
る。
は、X線源から発せられ被検体を透過したX線ビームを
適当なスライス幅で検出することにより、X線透過デー
タを収集しCT画像を再構成するX線CT装置において、 前記X線ビームの経路に対してレーザー光を照射するレ
ーザー光源を設け、かつ前記X線ビームの経路中にX線
を透過するとともに前記レーザー光の光路が前記X線ビ
ームの経路と一致するように前記レーザー光を反射する
ミラーを設け、該ミラーによって反射されたレーザー光
を前記被検体に照射することにより、前記X線ビームが
前記被検体をスライスする位置を決定するようにしたこ
とを特徴とするものである。
て小さく平行光線とみなすことができる。このため、ミ
ラーに反射されて被検体に当たるレーザー光は通常光と
異なり殆ど発散しない。したがって、被検体に当たるレ
ーザー光を、例えば光学顕微鏡などを用いて観測するこ
とにより、X線のスライス幅が数十μm程度の場合であ
っても被検体のスライス位置を正確に決定することがで
きる。
る。
図であり、全体を横から見た状態を示している。本実施
例装置は扇状のX線ビームを発生するX線管1、被検体
Aを載置し必要に応じて移動及び回転するステージ2、
扇状のX線ビームと平行に配列された多数のX線検出素
子によって被検透過後のX線を検出するX線検出器3、
X線ビームの経路に対してレーザー光を照射するレーザ
ー光源4、ミラー5、及び被検体に当たったレーザー光
を観測する光学顕微鏡6よりなる。このうちX線管1、
ステージ2の回転中心、及びX線検出器3の検出中心は
同一直線上にあるよう配置されている。
し、ミラー5はこの経路中のX線検出器3の前面に配置
されている。このミラー5はレーザー光源4から発され
たレーザー光を反射してその光路(同図中に矢印付実線
で示す。)がX線ビームの経路と一致するような角度に
調整されている。また、ミラー5は、レーザー光を反射
しX線を透過しなければならないので、アクリル等の軽
元素の素材を基盤として、その表面にアルミニウムなど
の光を反射する数十μm程度の金属薄膜を蒸着すること
によって得られる。
ビームをコリメートするコリメート板が設けられてお
り、このコリメート板の間隙を通過したX線のみがX線
検出器3によって検出される。すなわち、このコリメー
ト板の間隔によって被検体Aを通過するX線のスライス
幅が決定される。産業上のX線CT装置の場合には、必要
とされる分解能が数十μm程度であるので、コリメート
板の間隔はX線管1、被検体A、及びX線検出器3の相
互の位置を考慮して被検体位置におけるスライス幅が上
記分解能と同程度となるよう設定される。
一定範囲にわたってCT断層像を観察するときには、その
断層撮影を行う最初の位置を正確に決定しなければなら
らない。この場合、まず、被検体の撮影開始位置が大体
扇状のX線ビームの高さと同同じくなるようステージを
上下に移動させる。ここでX線ビームと同一経路になる
ように反射されたレーザー光を被検体Aに照射すると、
被検体AのうちX線ビームによってスライスされる部分
にはレーザー光が当たって明るく照射される。
0μm程度の極めて狭い範囲であるので、光学顕微鏡6
によってこの位置を観察しつつステージ2を上下に微調
整して撮影開始位置を定める。このときの光学顕微鏡6
の倍率は20〜30倍程度とする。
の位置からステップモーター(図示せず)によってステ
ージ2を所定の間隔で上下に移動させて上記範囲全体に
ついてのCT画像を得ることができる。
検体AとX線検出器3との間に設けられている場合につ
いて説明したが、本発明はこれに限定されるものではな
く、ミラー5とレーザー光源4とをX線源1と被検体A
との間に設ける構成としてもよい。
小さく殆ど平行光線とみなせるレーザー光を用いている
ので、このレーザー光を極めて細く集束させ、その経路
をミラーによりX線ビームの経路と一致させることによ
り、X線のスライス幅が10μm〜100μm程度の高分解
能なCT画像を得る場合にもそのスライス位置を容易、か
つ高精度に決定することができるX線CT装置を提供する
ことができる。
図である。 1……X線管、2……ステージ、 3……X線検出器、4……レーザー光源、 5……ミラー、6……光学顕微鏡。
Claims (1)
- 【請求項1】X線源から発せられ被検体を透過したX線
ビームを適当なスライス幅で検出することにより、X線
透過データを収集しCT画像を再構成するX線CT装置にお
いて、 前記X線ビームの経路に対してレーザー光を照射するレ
ーザー光源を設け、かつ前記X線ビームの経路中にX線
を透過するとともに前記レーザー光の光路が前記X線ビ
ームの経路と一致するように前記レーザー光を反射する
ミラーを設け、該ミラーによって反射されたレーザー光
を前記被検体に照射することにより、前記X線ビームが
前記被検体をスライスする位置を決定するようにしたこ
とを特徴とするX線CT装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004255A JPH0692885B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004255A JPH0692885B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | X線ct装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03209116A JPH03209116A (ja) | 1991-09-12 |
| JPH0692885B2 true JPH0692885B2 (ja) | 1994-11-16 |
Family
ID=11579433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2004255A Expired - Lifetime JPH0692885B2 (ja) | 1990-01-10 | 1990-01-10 | X線ct装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0692885B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8804905B2 (en) * | 2004-05-26 | 2014-08-12 | Werth Messtechnik Gmbh | Coordinate measuring apparatus and method for measuring an object |
| JP7168985B2 (ja) * | 2019-04-22 | 2022-11-10 | 株式会社リガク | 微細構造の解析方法、装置およびプログラム |
-
1990
- 1990-01-10 JP JP2004255A patent/JPH0692885B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03209116A (ja) | 1991-09-12 |
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