JPH0694681A - 多重周波数渦電流探傷装置 - Google Patents
多重周波数渦電流探傷装置Info
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- JPH0694681A JPH0694681A JP19146292A JP19146292A JPH0694681A JP H0694681 A JPH0694681 A JP H0694681A JP 19146292 A JP19146292 A JP 19146292A JP 19146292 A JP19146292 A JP 19146292A JP H0694681 A JPH0694681 A JP H0694681A
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 21
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 多重周波数渦電流探傷装置において、周波数
の多重度にかかわらず、単一・最小の信号処理部の構成
によって、各周波数成分の検出を可能とする。 【構成】 本願発明に係る多重周波数渦電流探傷装置
は、複数の試験周波数波を用いる多重周波数渦電流探傷
装置において、非正弦波発振信号発生手段１と、渦電流
探傷プローブ２と、ローパスフィルター３と、演算手段
４とを備え、非正弦波発振信号発生手段１は非正弦波発
振信号を渦電流探傷プローブ２に与えるものであり、上
記ローパスフィルター３は、渦電流探傷プローブ２によ
り得られる検出信号の不要な高調波成分を除去するもの
である。そして上記演算手段４は、ローパスフィルター
３により帯域制限された信号に対して、フーリエ変換を
行うことにより、多重周波数の各波形成分を検出するこ
とが可能なるものである。
の多重度にかかわらず、単一・最小の信号処理部の構成
によって、各周波数成分の検出を可能とする。 【構成】 本願発明に係る多重周波数渦電流探傷装置
は、複数の試験周波数波を用いる多重周波数渦電流探傷
装置において、非正弦波発振信号発生手段１と、渦電流
探傷プローブ２と、ローパスフィルター３と、演算手段
４とを備え、非正弦波発振信号発生手段１は非正弦波発
振信号を渦電流探傷プローブ２に与えるものであり、上
記ローパスフィルター３は、渦電流探傷プローブ２によ
り得られる検出信号の不要な高調波成分を除去するもの
である。そして上記演算手段４は、ローパスフィルター
３により帯域制限された信号に対して、フーリエ変換を
行うことにより、多重周波数の各波形成分を検出するこ
とが可能なるものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本願発明は、超音波探傷において
用いられる多重周波数渦電流探傷装置に関し、詳しく
は、金属等の被検査材に対しその被検査材に存在する欠
陥を検出する渦電流方式の探傷装置に関し、特に多重周
波数を用いて、欠陥の種類を弁別する探傷装置に関す
る。
用いられる多重周波数渦電流探傷装置に関し、詳しく
は、金属等の被検査材に対しその被検査材に存在する欠
陥を検出する渦電流方式の探傷装置に関し、特に多重周
波数を用いて、欠陥の種類を弁別する探傷装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】図３へ、従来用いられている多重周波数
渦電流装置の信号処理のための構成を掲げる。この図３
において、Ａ1 はｆ1 発振器、Ａ2 はｆ2 発振器、Ａ3
はｆ3発振器、Ａ4 はｆ4 発振器を示し、Ｂは、Ａ1 〜
Ａ4 からの正弦波を混成するミキサーを示している。又
ミキサーＢによって混成された信号は、渦電流プローブ
Ｐに与えられる。この渦電流プローブＰからの検出信号
は、ｆ1 信号処理部Ｃ1、ｆ2 信号処理部Ｃ2 、ｆ3 信
号処理部Ｃ3 、ｆ4 信号処理部Ｃ4 へ夫々配分される。
各信号処理部Ｃ1 、Ｃ2 、Ｃ3 、Ｃ4 は、夫々バンドパ
スフィルターＦと同期検波器Ｄを有するものであり、ミ
キサーＢからの信号は、バンドパスフィルターＦを経て
同期検波器ＤにてＸ信号Ｘ、Ｙ信号Ｙに分離され、弁別
演算処理部Ｅに送られる。この弁別演算処理部Ｅは、信
号処理部Ｃ1 、Ｃ2 、Ｃ3 、Ｃ4 から送られてくる夫々
のＸ信号Ｘ及びＹ信号Ｙを、自身が有する各Ａ／Ｄ変換
器ＧＸ1 、ＧＹ1 、ＧＸ2 、ＧＹ2 、ＧＸ3 、ＧＹ3 、
ＧＸ4 、ＧＹ4 にてデジタル信号に変換した後各信号に
ついて演算処理を行うものである。そして、弁別演算処
理部Ｅの処理を経た各信号は、欠陥弁別された信号ＸO
及びＹO として出力される。
渦電流装置の信号処理のための構成を掲げる。この図３
において、Ａ1 はｆ1 発振器、Ａ2 はｆ2 発振器、Ａ3
はｆ3発振器、Ａ4 はｆ4 発振器を示し、Ｂは、Ａ1 〜
Ａ4 からの正弦波を混成するミキサーを示している。又
ミキサーＢによって混成された信号は、渦電流プローブ
Ｐに与えられる。この渦電流プローブＰからの検出信号
は、ｆ1 信号処理部Ｃ1、ｆ2 信号処理部Ｃ2 、ｆ3 信
号処理部Ｃ3 、ｆ4 信号処理部Ｃ4 へ夫々配分される。
各信号処理部Ｃ1 、Ｃ2 、Ｃ3 、Ｃ4 は、夫々バンドパ
スフィルターＦと同期検波器Ｄを有するものであり、ミ
キサーＢからの信号は、バンドパスフィルターＦを経て
同期検波器ＤにてＸ信号Ｘ、Ｙ信号Ｙに分離され、弁別
演算処理部Ｅに送られる。この弁別演算処理部Ｅは、信
号処理部Ｃ1 、Ｃ2 、Ｃ3 、Ｃ4 から送られてくる夫々
のＸ信号Ｘ及びＹ信号Ｙを、自身が有する各Ａ／Ｄ変換
器ＧＸ1 、ＧＹ1 、ＧＸ2 、ＧＹ2 、ＧＸ3 、ＧＹ3 、
ＧＸ4 、ＧＹ4 にてデジタル信号に変換した後各信号に
ついて演算処理を行うものである。そして、弁別演算処
理部Ｅの処理を経た各信号は、欠陥弁別された信号ＸO
及びＹO として出力される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】これまでの多重周波数
渦電流装置は例えば、この図３に示すように、使用する
周波数の種類毎に、その周波数の正弦波発振装置と、バ
ンドパスフィルター、同期検波器等からなる信号処理部
が必要であり、例えば、２重周波、３重周波或いはＮ重
周波の場合を考えれば、夫々２つ、３つ或いはＮ個の正
弦波発振装置と信号処理部が必要となった。
渦電流装置は例えば、この図３に示すように、使用する
周波数の種類毎に、その周波数の正弦波発振装置と、バ
ンドパスフィルター、同期検波器等からなる信号処理部
が必要であり、例えば、２重周波、３重周波或いはＮ重
周波の場合を考えれば、夫々２つ、３つ或いはＮ個の正
弦波発振装置と信号処理部が必要となった。
【０００４】又各信号処理部の出力（Ｘ信号、Ｙ信号）
は欠陥の弁別のための一次結合演算を行う信号処理部
（弁別信号処理部）に入力されるが、この弁別信号部は
デジタル方式で構成する場合が多いので、このような場
合、ｆ(n) 信号処理部の出力はＡ／Ｄ変換器にてデジタ
ル値に変換することになる。このため、多重度をＮとし
たとき、２×Ｎ個のＡ／Ｄ変換器が必要となる。欠陥の
弁別能力を上げようとすれば、周波数の多重度を上げれ
ばよいのであるが、従来の技術では、その多重度に応じ
た正弦波装置、信号処理部、Ａ／Ｄ変換器が必要とな
り、コストを上げる原因となっていた。本願発明は、上
記課題の解決を目的とする。
は欠陥の弁別のための一次結合演算を行う信号処理部
（弁別信号処理部）に入力されるが、この弁別信号部は
デジタル方式で構成する場合が多いので、このような場
合、ｆ(n) 信号処理部の出力はＡ／Ｄ変換器にてデジタ
ル値に変換することになる。このため、多重度をＮとし
たとき、２×Ｎ個のＡ／Ｄ変換器が必要となる。欠陥の
弁別能力を上げようとすれば、周波数の多重度を上げれ
ばよいのであるが、従来の技術では、その多重度に応じ
た正弦波装置、信号処理部、Ａ／Ｄ変換器が必要とな
り、コストを上げる原因となっていた。本願発明は、上
記課題の解決を目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本願発明に係る多重周波
数渦電流探傷装置は、複数の試験周波数波を用いる多重
周波数渦電流探傷装置において、非正弦波発振信号発生
手段１と、渦電流探傷プローブ２と、ローパスフィルタ
ー３と、演算手段４とを備え、下記の構成を採るもので
ある。即ち、上記非正弦波発振信号発生手段１は非正弦
波発振信号を渦電流探傷プローブ２に与えるものであ
り、上記ローパスフィルター３は、渦電流探傷プローブ
２により得られる検出信号の不要な高調波成分を除去す
るものである。そして上記演算手段４は、ローパスフィ
ルター３により帯域制限された信号に対して、フーリエ
変換を行うことにより、多重周波数の各波形成分を検出
することが可能なるものである。
数渦電流探傷装置は、複数の試験周波数波を用いる多重
周波数渦電流探傷装置において、非正弦波発振信号発生
手段１と、渦電流探傷プローブ２と、ローパスフィルタ
ー３と、演算手段４とを備え、下記の構成を採るもので
ある。即ち、上記非正弦波発振信号発生手段１は非正弦
波発振信号を渦電流探傷プローブ２に与えるものであ
り、上記ローパスフィルター３は、渦電流探傷プローブ
２により得られる検出信号の不要な高調波成分を除去す
るものである。そして上記演算手段４は、ローパスフィ
ルター３により帯域制限された信号に対して、フーリエ
変換を行うことにより、多重周波数の各波形成分を検出
することが可能なるものである。
【０００６】
【作用】各探傷周波数は、経験的に基本周波数の整数倍
のものに限定しても問題ないことから、上記手段を施し
た本願発明に係る多重周波数渦電流探傷装置は、非正弦
波発振信号発生手段１より、基本周波数以外にこの基本
周波数の整数倍の周波数の高調波成分を持つ非正弦波発
振信号を渦電流探傷プローブ２に与えるものである。そ
して、探傷により渦電流探傷プローブ２が得た信号につ
いて、ローパスフィルター３が、必要とする最大高調波
成分を越えない領域を通過帯域とし最大高調波成分を越
える範囲を阻止域として検出信号の不要な高調波成分を
除去し、演算手段４が、ローパスフィルター３により帯
域制限された信号に対して、フーリエ変換を行うことに
より、基本波及び高調波の周波数成分に分解して多重周
波数の各波形成分を検出することができるのである。従
って、周波数の多重度に対して、これに対応する数の正
弦波装置、信号処理部、Ａ／Ｄ変換器を必要とすること
がない。
のものに限定しても問題ないことから、上記手段を施し
た本願発明に係る多重周波数渦電流探傷装置は、非正弦
波発振信号発生手段１より、基本周波数以外にこの基本
周波数の整数倍の周波数の高調波成分を持つ非正弦波発
振信号を渦電流探傷プローブ２に与えるものである。そ
して、探傷により渦電流探傷プローブ２が得た信号につ
いて、ローパスフィルター３が、必要とする最大高調波
成分を越えない領域を通過帯域とし最大高調波成分を越
える範囲を阻止域として検出信号の不要な高調波成分を
除去し、演算手段４が、ローパスフィルター３により帯
域制限された信号に対して、フーリエ変換を行うことに
より、基本波及び高調波の周波数成分に分解して多重周
波数の各波形成分を検出することができるのである。従
って、周波数の多重度に対して、これに対応する数の正
弦波装置、信号処理部、Ａ／Ｄ変換器を必要とすること
がない。
【０００７】
【実施例】以下、図面を基に本願発明の実施例を具体的
に説明する。図１に示す通り、この装置は、非正弦波発
振信号発生手段１と、電力増幅器１１と、渦電流探傷プ
ローブ２と、増幅器３０付のローパスフィルター３と、
Ａ／Ｄ変換器４１と、記憶装置４２と、演算手段４とに
よって構成されるものである。
に説明する。図１に示す通り、この装置は、非正弦波発
振信号発生手段１と、電力増幅器１１と、渦電流探傷プ
ローブ２と、増幅器３０付のローパスフィルター３と、
Ａ／Ｄ変換器４１と、記憶装置４２と、演算手段４とに
よって構成されるものである。
【０００８】この非正弦波発振信号発生手段１は非正弦
波発振信号を渦電流探傷プローブ２に与えるものであ
る。この実施例において、非正弦波発振信号は１０ＫＨ
ｚの三角波である。しかし、この他の周波数及び形状の
非正弦波信号を発するものとして、実施することも可能
である。
波発振信号を渦電流探傷プローブ２に与えるものであ
る。この実施例において、非正弦波発振信号は１０ＫＨ
ｚの三角波である。しかし、この他の周波数及び形状の
非正弦波信号を発するものとして、実施することも可能
である。
【０００９】上記ローパスフィルター３は、渦電流探傷
プローブ２により得られる検出信号の不要な高調波成分
を除去するものである。この実施例において、ローパス
フィルター３は、６０ＫＨｚ以上の周波数を阻止するも
のを採用している。又Ａ／Ｄ変換器４１のサンプリング
周波数は１６０ＫＨｚとする。何れの数値も必要に応じ
て変更可能である。
プローブ２により得られる検出信号の不要な高調波成分
を除去するものである。この実施例において、ローパス
フィルター３は、６０ＫＨｚ以上の周波数を阻止するも
のを採用している。又Ａ／Ｄ変換器４１のサンプリング
周波数は１６０ＫＨｚとする。何れの数値も必要に応じ
て変更可能である。
【００１０】記憶装置４２は、Ａ／Ｄ変換器４１から得
たデジタル値を一時記憶するものである。上記演算手段
４は、ローパスフィルター３により帯域制限された信号
に対して、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）或いは離散フー
リエ変換（ＤＦＴ）を行うことにより、各周波数の成分
に分解する。この実施例においては、ＤＦＴ計算を行う
ものとして説明する。
たデジタル値を一時記憶するものである。上記演算手段
４は、ローパスフィルター３により帯域制限された信号
に対して、高速フーリエ変換（ＦＦＴ）或いは離散フー
リエ変換（ＤＦＴ）を行うことにより、各周波数の成分
に分解する。この実施例においては、ＤＦＴ計算を行う
ものとして説明する。
【００１１】演算手段４は、１周期のサンプル値が揃う
毎に、即ち１周期毎にＤＦＴ（又はＦＦＴ）計算及び後
述する一次結合演算を行う。
毎に、即ち１周期毎にＤＦＴ（又はＦＦＴ）計算及び後
述する一次結合演算を行う。
【００１２】演算手段４の演算部４０１は、上記ＤＦＴ
計算を行うものであり、演算部４０２は、上記ＤＦＴ計
算により作られた各周波数成分について、それらの一次
結合を計算し、結果として欠陥弁別された信号を出力す
る（ＸＯ，ＹＯ）。
計算を行うものであり、演算部４０２は、上記ＤＦＴ計
算により作られた各周波数成分について、それらの一次
結合を計算し、結果として欠陥弁別された信号を出力す
る（ＸＯ，ＹＯ）。
【００１３】増幅器３０は、ローパスフィルター３の出
力の周波数成分は、６０ＫＨｚで制限されているため、
サンプリング周波数は、その２倍以上即ち１２０ＫＨｚ
以上必要である。本願実施例においては、１６０ＫＨｚ
のサンプリング周波数を用いてＡ／Ｄ変換するものであ
る。これは、１周期内を１６点サンプリングしているこ
とになる。一周期のサンプリング値を順にｘ(0),ｘ(1)
…ｘ(15)と表記するものとする。
力の周波数成分は、６０ＫＨｚで制限されているため、
サンプリング周波数は、その２倍以上即ち１２０ＫＨｚ
以上必要である。本願実施例においては、１６０ＫＨｚ
のサンプリング周波数を用いてＡ／Ｄ変換するものであ
る。これは、１周期内を１６点サンプリングしているこ
とになる。一周期のサンプリング値を順にｘ(0),ｘ(1)
…ｘ(15)と表記するものとする。
【００１４】これらサンプリング値は、記憶装置４２に
一時記憶される。演算手段４は、この記憶装置４２に記
憶されているサンプリング値を読出し、フーリエ変換す
る。この場合離散数列になることから、その計算は、Ｄ
ＦＴ（又はＦＦＴ）手法を採用するものである。演算の
手法については、表１の演算１にその手法を示す。又表
１の各パラメーターについは、表１の下段に示す。 又
各周波数（１０ＫＨｚ，２０ＫＨｚ，３０ＫＨｚ，４０
ＫＨｚ，５０ＫＨｚ）の成分Ｘ(k) は、表１の(1) にて
算出される。この成分Ｘ(k) は複素数であるので、実数
成分ＲＸ(k) 及び虚数成分ＩＸ(k)は、表１の(2) に示
す通りである。
一時記憶される。演算手段４は、この記憶装置４２に記
憶されているサンプリング値を読出し、フーリエ変換す
る。この場合離散数列になることから、その計算は、Ｄ
ＦＴ（又はＦＦＴ）手法を採用するものである。演算の
手法については、表１の演算１にその手法を示す。又表
１の各パラメーターについは、表１の下段に示す。 又
各周波数（１０ＫＨｚ，２０ＫＨｚ，３０ＫＨｚ，４０
ＫＨｚ，５０ＫＨｚ）の成分Ｘ(k) は、表１の(1) にて
算出される。この成分Ｘ(k) は複素数であるので、実数
成分ＲＸ(k) 及び虚数成分ＩＸ(k)は、表１の(2) に示
す通りである。
【００１５】
【表１】
【００１６】上述の演算によって得られた各周波数の実
数成分と虚数成分より、表２の(3)に行列演算で示す通
り、その一次結合演算により、欠陥弁別出力ＸOUT,ＹOU
T を得る。ここで、Ｃa,b は、一次結合の係数である。
数成分と虚数成分より、表２の(3)に行列演算で示す通
り、その一次結合演算により、欠陥弁別出力ＸOUT,ＹOU
T を得る。ここで、Ｃa,b は、一次結合の係数である。
【００１７】
【表２】
【００１８】図２の（Ａ）に示すものは、発振装置１の
出力波形であり、図２の（Ｂ）に示すものは、ローパス
フィルター３への入力波形であり、同図（Ｃ）に示すも
のは、ローパスフィルター３の出力波形であり、同図
（Ｄ）に示すものは、Ａ／Ｄ変換器４１のサンプリング
クロックであり、同図（Ｅ）に示すものは、Ａ／Ｄ変換
器４１のデジタルサンプリング値である。
出力波形であり、図２の（Ｂ）に示すものは、ローパス
フィルター３への入力波形であり、同図（Ｃ）に示すも
のは、ローパスフィルター３の出力波形であり、同図
（Ｄ）に示すものは、Ａ／Ｄ変換器４１のサンプリング
クロックであり、同図（Ｅ）に示すものは、Ａ／Ｄ変換
器４１のデジタルサンプリング値である。
【００１９】以上が本願発明の一実施例の基本的な構成
である。多重周波数渦電流探傷装置において、その各探
傷周波数は整数倍の設定のものを用いるのが殆どである
から、各探傷周波数は、基本周波数の整数倍に限定して
も問題ない。そこで、探傷フローブ２に与える信号とし
て、矩形波信号（デューディーＭ％）又は三角波信号な
どの非正弦波信号を用いる。このような信号は周波数成
分として、基本周波数以外に、この基本周波数の整数倍
の周波数の高調波成分を持つものである。
である。多重周波数渦電流探傷装置において、その各探
傷周波数は整数倍の設定のものを用いるのが殆どである
から、各探傷周波数は、基本周波数の整数倍に限定して
も問題ない。そこで、探傷フローブ２に与える信号とし
て、矩形波信号（デューディーＭ％）又は三角波信号な
どの非正弦波信号を用いる。このような信号は周波数成
分として、基本周波数以外に、この基本周波数の整数倍
の周波数の高調波成分を持つものである。
【００２０】従って、上記手段を採用する本願発明に係
る多重周波数渦電流探傷装置にあっては、この正弦波信
号が、公知の渦流探傷プローブ２に供給される。渦流探
傷プローブ２は、被検材の欠陥情報を含んだ検出信号を
出力する。この検出信号は、基本周波数成分及びその高
調波成分を含んでいる。本願発明に係る多重周波数渦電
流探傷装置は、この検出信号について、必要とする最大
高調波成分を越えない領域を通過帯域とし最大高調波成
分を越える範囲を阻止域とするローパスフィルター３
と、アンプを通し、次にその最大高調波周波数の２倍以
上サンプリング周波数でサンプリングし且つＡ／Ｄ変換
器４１によりＡ／Ｄ変換してデジタル値に変換し、記憶
装置４２に記憶する。
る多重周波数渦電流探傷装置にあっては、この正弦波信
号が、公知の渦流探傷プローブ２に供給される。渦流探
傷プローブ２は、被検材の欠陥情報を含んだ検出信号を
出力する。この検出信号は、基本周波数成分及びその高
調波成分を含んでいる。本願発明に係る多重周波数渦電
流探傷装置は、この検出信号について、必要とする最大
高調波成分を越えない領域を通過帯域とし最大高調波成
分を越える範囲を阻止域とするローパスフィルター３
と、アンプを通し、次にその最大高調波周波数の２倍以
上サンプリング周波数でサンプリングし且つＡ／Ｄ変換
器４１によりＡ／Ｄ変換してデジタル値に変換し、記憶
装置４２に記憶する。
【００２１】１周期分のサンプリングデジタル値が得ら
れたら、これら各値より、公知の離散フーリエ（ＤＦ
Ｔ）又は高速フーリエ変換（ＦＦＴ）する演算部によ
り、基本波及び高調波の周波数成分に分解する。この各
周波数の成分は、各々実数成分、虚数成分を持つが、こ
れらは、従来の各周波数の信号処理部の出力であるＸ出
力とＹ出力と同等となる。前記演算手段４は、前記ＤＦ
Ｔ又はＦＦＴの計算処理を行うが、更に同演算手段４
は、次に必要となる一次結合の演算処理を行うことが可
能であり、最終的な欠陥弁別された信号を出力する。
れたら、これら各値より、公知の離散フーリエ（ＤＦ
Ｔ）又は高速フーリエ変換（ＦＦＴ）する演算部によ
り、基本波及び高調波の周波数成分に分解する。この各
周波数の成分は、各々実数成分、虚数成分を持つが、こ
れらは、従来の各周波数の信号処理部の出力であるＸ出
力とＹ出力と同等となる。前記演算手段４は、前記ＤＦ
Ｔ又はＦＦＴの計算処理を行うが、更に同演算手段４
は、次に必要となる一次結合の演算処理を行うことが可
能であり、最終的な欠陥弁別された信号を出力する。
【００２２】従って、一つの非正弦波発振装置と、一つ
のプローブと、一つのローパスフィルター、アンプと、
一つのＡ／Ｄ変換器と、一つの演算部により多重周波数
渦流探傷装置を構成することが可能である。
のプローブと、一つのローパスフィルター、アンプと、
一つのＡ／Ｄ変換器と、一つの演算部により多重周波数
渦流探傷装置を構成することが可能である。
【００２３】
【発明の効果】本願発明の実施によって、周波数の多重
度に対して、これに対応する数の正弦波装置、信号処理
部、Ａ／Ｄ変換器を必要とすることがない。即ち夫々一
つの装置で、周波数の多重度周波数の各波形成分を検出
すること可能となった。従って、著しくコストの低減を
可能とした。
度に対して、これに対応する数の正弦波装置、信号処理
部、Ａ／Ｄ変換器を必要とすることがない。即ち夫々一
つの装置で、周波数の多重度周波数の各波形成分を検出
すること可能となった。従って、著しくコストの低減を
可能とした。
【図面の簡単な説明】
【図１】本願発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】上記実施例によって得られる波形の説明図であ
る。
る。
【図３】従来例のブロック図である。
１ 正弦波発振信号発生手段 ２ 渦電流探傷プローブ ３ ローパスフィルター ４ 演算手段
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の試験周波数波を用いる多重周波数
渦電流探傷装置において、非正弦波発振信号発生手段
と、渦電流探傷プローブと、ローパスフィルターと、演
算手段とを備えてなり、上記非正弦波発振信号発生手段
は非正弦波発振信号を渦電流探傷プローブに与えるもの
であり、上記ローパスフィルターは、渦電流探傷プロー
ブにより得られる検出信号の不要な高調波成分を除去す
るものであり、上記演算手段は、ローパスフィルターに
より帯域制限された信号に対して、フーリエ変換を行う
ことにより、多重周波数の各波形成分を検出することが
可能なるものであることを特徴とする多重周波数渦電流
探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19146292A JPH0694681A (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 多重周波数渦電流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19146292A JPH0694681A (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 多重周波数渦電流探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0694681A true JPH0694681A (ja) | 1994-04-08 |
Family
ID=16275052
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19146292A Pending JPH0694681A (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 多重周波数渦電流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0694681A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000131287A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Japan Science & Technology Corp | 磁気計測による探傷方法及び装置 |
| JP2003065706A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Nippon Steel Corp | 導電体の厚み測定装置 |
| JP2003149208A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-21 | Japan Science & Technology Corp | 非破壊検査装置 |
| JP2003149212A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-21 | Japan Science & Technology Corp | 非破壊検査装置 |
| JP2010048723A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Kobe Steel Ltd | 鉄筋腐食検査方法，鉄筋腐食検査装置 |
-
1992
- 1992-06-24 JP JP19146292A patent/JPH0694681A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000131287A (ja) * | 1998-10-23 | 2000-05-12 | Japan Science & Technology Corp | 磁気計測による探傷方法及び装置 |
| JP2003065706A (ja) * | 2001-08-22 | 2003-03-05 | Nippon Steel Corp | 導電体の厚み測定装置 |
| JP2003149208A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-21 | Japan Science & Technology Corp | 非破壊検査装置 |
| JP2003149212A (ja) * | 2001-11-09 | 2003-05-21 | Japan Science & Technology Corp | 非破壊検査装置 |
| JP2010048723A (ja) * | 2008-08-22 | 2010-03-04 | Kobe Steel Ltd | 鉄筋腐食検査方法，鉄筋腐食検査装置 |
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