JPH0697254B2 - 回路基板検査方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は回路基板の検査方法に関し、さらに詳しく言
えば、インサーキットテスタにおける新規な検査方法に
関するものである。

〔従来例〕

インサーキットテスタによる回路基板の検査において
は、フィクスチャーと呼ばれる基板固定装置が用いられ
る。このフィクスチャーには被検査回路基板の測定ポイ
ントに対応するプローブが多数植設されており、同プロ
ーブを介して測定信号を与えるとともに、その応答信号
を検出し、例えば良品基板から予め吸収した良品データ
とその検出信号とを比較することにより、回路基板の良
否を判別するようにしている。すなわち基本的には、特
定のプローブを測定信号源に接続し、それに対応する所
定のプローブから検出信号を得るということになるが、
これにはいくつかの方法がある。

総当り方式：これは各プローブ間をすべてテストする
もので、第２図に示されているような例えば４つの抵抗
R1〜R4の回路網をテストする場合には、Ａ−B,A−C,A−
D,B−C,B−D,C−Ｄの各テストステップを踏むことにな
る。

ショートグループ、オープングループによるテスト：
良品基板より良品データを吸収する際、特定のプローブ
に対してある一定レベル以下のプローブのグループ（シ
ョートグループ）をつくり、検査時にそのグループ内の
プローブがある一定レベル以下で、かつ、他のグループ
との間ではオープンである時に良品と判断する。

ピン間テスト：特にL,C,Rなど単品が存在する場合、
そのプローブピン間を測定する。第２図の例について言
えば、Ａ−B,B−C,C−D,D−Ａ間のテストを行う。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上記の総当り方式はプログラム的には比較的単純であ
るが、測定ポイントが多くなると測定ステップが大幅に
増大し、高速性に欠ける。これに対し、のショート、
オープンはある程度高速ではあるが、不良と判定された
場合、その不良部品の存在が掴み難くリペアを行う上で
不便である。その点のピン間テストによれば、精度が
よく不良部品の位置を適確に掴むことができ、リペアを
行う上で便利ではあるが、プログラムが複雑でその設計
にかなりの手間がかかる。その場合なによりもまず問題
なのは、プログラム作成者が測定方法はもとより被測定
対象である部品の性質、特性等を知っていることが前提
であり、このような総合的な知識がなければプログラム
をつくることができないということである。

この発明は上記した従来の事情に鑑みなされたもので、
その目的は、複雑なプログラム設計が不要であり、しか
も多数の測定ポイントを高速に検査することができるよ
うにした回路基板検査方法を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

上記した目的を達成するため、この発明においては、被
測定回路基板の測定ポイントに接触する複数（Ｎ本）の
プローブと、該プローブを介して被検査回路基板に測定
信号を供給する測定信号源およびその被検査回路基板側
から出力される応答信号を同じくプローブを介して検出
する信号検出部と、上記プローブを上記測定信号源もし
くは信号検出部のいずれかに接続する切替え手段とを含
み、上記信号検出部から出力される検出信号を予定され
た基準信号と比較することにより、上記被検査回路基板
の良否を判定する回路基板検査方法において、上記プロ
ーブの内、Ｎ−１本を上記測定信号源に接続するととも
に、残りの１本を上記信号検出部に接続し、これを各プ
ローブについて行うことにより各測定ポイントのインピ
ーダンスを測定し、該インピーダンスの値をもって良否
を判定することを特徴としている。

〔作用〕

検査に先立って、良品基板から判定基準となる良品デー
タ（基準データ）の取込みが行われる。このデータ取込
み作業は、上記の如くプローブを切替えることにより、
各測定ポイントの個々についてそのインピーダンスが測
定され、その値はメモリに記憶される。このようにし
て、好ましくは複数の良品基板からデータを吸収し、そ
れを平均化して判定基準となる良品データが決められ
る。

しかるのち、実際の基板検査に移行する。すなわち、被
検査回路基板の各測定ポイントにプローブを当て、上記
良品データ吸収時と同一の順序および条件でプローブが
切替えられて、各測定ポイントのインピーダンスが測定
される。そして、この測定インピーダンス値と良品デー
タとが比較され、許容範囲内かが判定される。

〔実施例〕

以下、この発明を第１図に示されている模式図を参照し
ながら詳細に説明する。

同図には第２図の回路網の各測定ポイントＡ〜Ｄに対応
する４つのプローブ１〜４が示されている。すなわち、
プローブ１は測定ポイントＡに、２はＢに、３はＣにそ
して４はＤにそれぞれ対応するように図示しないフィク
スチャーのピンボードに植設されている。各プローブ１
〜４には、それぞれ２つの切替えスイッチ1a,1b;2a,2b;
3a,3b;4a,4bが並列的に接続されている。各プローブ１
〜４はその一方のスイッチ1a,2a,3a,4aを介して測定信
号源である例えば交流電源５に接続されている。また、
各プローブ１〜４は他方のスイッチ1b,2b,3b,4bを介し
て信号検出部６に接続されている。この実施例において
同信号検出部６は電流−電圧変換器からなる。この信号
検出部６の出力側には、増幅器７を介してA/D変換器８
が接続されており、その変換データはCPU（中央処理手
段）９にて処理され、また、スイッチ1a〜4bもこのCPU9
により制御されるようになっている。

この発明によれば、次のようにして基板検査が行われ
る。まず、良品基板から判定基準に使用される良品デー
タを得る。すなわち、良品基板を図示しないフィクスチ
ャーにセットし、同じく図示しないプレス装置を動作さ
せて各プローブ１〜４を良品基板の測定ポイントＡ〜Ｄ
に接触させる。そして、交流電源５側のスイッチ1a〜4a
の内、スイッチ1aを「開」、その他のスイッチ2a〜4aを
「開」とするとともに、信号検出器６側のスイッチ1b〜
4bの内、スイッチ1bを「閉」、その他のスイッチ2b〜4b
を「開」とする。これにより、測定ポイントB,C,Dは同
電位で、測定ポイントＡのみがそれらに対して低電位と
なるため、この例の場合測定ポイントＢとＤから測定ポ
イントＡに向けて電流が流れ込むことになる。この電流
は信号検出器６にて例えば電圧に変換され、増幅器７で
所定に増幅されたのち、A/D変換器８にてデジタルのデ
ータに変換される。このデータは良品基板の測定ポイン
トＡにおけるインピーダンスであり、CPU9はこの良品デ
ータを測定ポイントＡの基準データとしてメモリ10に格
納する。次に、交流電源５側のスイッチ1a〜4aの内、ス
イッチ2aを「開」、その他のスイッチ1a,3a,4aを「閉」
とするとともに、信号検出器６側のスイッチ1b〜1dの
内、スイッチ2bを「閉」、その他のスイッチ1b,3b,4bを
「開」とする。これにより、測定ポイントＢのインピー
ダンスが検出され、そのデータが同ポイントＢにおける
基準データとしてメモリ10に格納される。以後同様にし
て測定ポイントC,Dのインピーダンスが求められ、その
データは同ポイントC,Dにおける基準データとしてメモ
リ10に格納される。このようにして、良品基板から判定
基準としての良品（基準）データを吸収するのである
が、好ましくは複数の良品基板からデータを得て、その
平均値を使用するとよい。

しかるのち、被検査回路基板をフィクスチャーにセット
してその基板検査が行われる。すなわち、上記の切替え
順序と同じ順序にしたがって交流電源５側のスイッチ1a
〜4aと、信号検出器６側のスイッチ1b〜4bが切替えられ
て、被検査回路基板の各測定ポイントＡ〜Ｄについての
インピーダンスが測定され、CPU9においてその測定デー
タとメモリ10に格納されている基準データとが比較され
る。この場合、基準データは所定の範囲を有し、測定デ
ータがその範囲内であればCRT等の表示装置11に検査合
格を示す『GO』が表示され、その範囲を逸脱していれば
不良品の表示、例えば『NG』と表示される。

なお、上記実施例では測定電源として交流電源を使用し
ているが、直流電源であってもよい。また、比較基準値
を良品基板から得ているが、場合によっては例えば設計
時のデータや仕様書に記載されているデータ等を使用し
てもよい。

〔発明の効果〕

以上説明したように、この発明によれば、Ｎ本のプロー
ブの内、（Ｎ−１）本を測定電源側に接続し、残された
１本のプローブを信号検出器側に切替える操作をＮ回繰
返して各測定ポイントにおけるインピーダンスを検出
し、その値で良否を判定するものであるため、従来のよ
うに実装部品の個々についてそれに対応するプローブの
ピン番号を指定したり、場合によってはどれをガードピ
ンとするか等の複雑なプログラムを組む必要がなく、特
に各部品の測定方法について余り知識がない者でも基板
検査を行うことができる。また、各測定ポイントについ
て判定を行うため、不良箇所の所在をも適確に知ること
ができる等、その効果は顕著である。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明を説明するための模式図、第２図は検
査対象となる回路の一例を示した回路図である。 図中、１〜４はプローブ、５は測定電源、６は信号検出
器、８はA/D変換器、９はCPU、10はメモリである。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被測定回路基板の測定ポイントに接触する
   複数（Ｎ本）のプローブと、該プローブを介して被検査
   回路基板に測定信号を供給する測定信号源およびその被
   検査回路基板側から出力される応答信号を同じくプロー
   ブを介して検出する信号検出部と、上記プローブを上記
   測定信号源もしくは信号検出部のいずれかに接続する切
   替え手段とを含み、上記信号検出部から出力される検出
   信号を予定された基準信号と比較することにより、上記
   被検査回路基板の良否を判定する回路基板検査方法にお
   いて、 上記プローブの内、Ｎ−１本を上記測定信号源に接続す
   るとともに、残りの１本を上記信号検出部に接続し、こ
   れを各プローブについて行うことにより各測定ポイント
   のインピーダンスを測定し、該インピーダンスの値をも
   って良否を判定することを特徴とする回路基板検査方
   法。