JPH0697814A - プログラマブル・ロジック・アレイおよびそれを用いたマイクロコンピュータ - Google Patents
プログラマブル・ロジック・アレイおよびそれを用いたマイクロコンピュータInfo
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- JPH0697814A JPH0697814A JP4246284A JP24628492A JPH0697814A JP H0697814 A JPH0697814 A JP H0697814A JP 4246284 A JP4246284 A JP 4246284A JP 24628492 A JP24628492 A JP 24628492A JP H0697814 A JPH0697814 A JP H0697814A
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Landscapes
- Microcomputers (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高速動作可能なPLAを実現する。
【構成】 積項線は、直列に接続された二つのトランジ
スタAT0,AN0のみを介して接地電位に接続されて
いる。トランジスタAT0のゲートにはインバータR0
の出力が接続され、トランジスタAN0のゲートにはビ
ット線兼入力線が接続され、これらにより両トランジス
タをオンすることにより、短いパスでのディスチャージ
が可能となり、PLAの高速動作が可能となる。
スタAT0,AN0のみを介して接地電位に接続されて
いる。トランジスタAT0のゲートにはインバータR0
の出力が接続され、トランジスタAN0のゲートにはビ
ット線兼入力線が接続され、これらにより両トランジス
タをオンすることにより、短いパスでのディスチャージ
が可能となり、PLAの高速動作が可能となる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、プログラマブル・ロジ
ック・アレイおよびプログラマブル・ロジック・アレイ
を同一チップ内に集積するマイクロコンピュータに関す
るものである。
ック・アレイおよびプログラマブル・ロジック・アレイ
を同一チップ内に集積するマイクロコンピュータに関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】近年の電子機器の高機能化、高性能化に
伴い、その電子機器に使用される半導体集積回路につい
ても高機能化、高性能化が求められている。また、電子
機器設計技術者は、製品の差別化をするために、半導体
集積回路に対して汎用品ではなく、その電子機器に特化
した専用品を求めている。このような用途に最適な半導
体集積回路として、ゲートアレイやスタンダードセルな
どのいわゆる特定用途向け集積回路(以下ASICと称
す)や、マイクロコンピュータなどがある。ASICは
電子機器設計技術者が望むハードウエア(回路)を半導
体集積回路化することで所望の機能を実現でき、また、
マイクロコンピュータはソフトウエア(プログラム)の
書き換えにより所望の動作を実現することができる。さ
らに、両者の特徴を兼ね備えたASICマイコンと呼ば
れる半導体集積回路が考案されている。
伴い、その電子機器に使用される半導体集積回路につい
ても高機能化、高性能化が求められている。また、電子
機器設計技術者は、製品の差別化をするために、半導体
集積回路に対して汎用品ではなく、その電子機器に特化
した専用品を求めている。このような用途に最適な半導
体集積回路として、ゲートアレイやスタンダードセルな
どのいわゆる特定用途向け集積回路(以下ASICと称
す)や、マイクロコンピュータなどがある。ASICは
電子機器設計技術者が望むハードウエア(回路)を半導
体集積回路化することで所望の機能を実現でき、また、
マイクロコンピュータはソフトウエア(プログラム)の
書き換えにより所望の動作を実現することができる。さ
らに、両者の特徴を兼ね備えたASICマイコンと呼ば
れる半導体集積回路が考案されている。
【0003】一方、電子機器の開発期間は年々短縮して
いる。これに伴って電子機器設計技術者は開発の現場で
所望の半導体集積回路を設計し、その場で設計した製品
を入手することを望んでいる。しかしながら、先に述べ
たゲートアレイやスタンダードセルおよびマイクロコン
ピュータなどの半導体集積回路は、その製造工程で所望
の機能を作り込むため、設計から製品の入手までに一定
の期間(以後リードタイムと称す)を要する。そこで電
子機器設計技術者のリードタイム短縮の要望に応えるた
めに、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ
(以下FPGAと称す)やプログラム可能なROM(以
下PROMと称す)内蔵のマイクロコンピュータなどが
考案されている。
いる。これに伴って電子機器設計技術者は開発の現場で
所望の半導体集積回路を設計し、その場で設計した製品
を入手することを望んでいる。しかしながら、先に述べ
たゲートアレイやスタンダードセルおよびマイクロコン
ピュータなどの半導体集積回路は、その製造工程で所望
の機能を作り込むため、設計から製品の入手までに一定
の期間(以後リードタイムと称す)を要する。そこで電
子機器設計技術者のリードタイム短縮の要望に応えるた
めに、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ
(以下FPGAと称す)やプログラム可能なROM(以
下PROMと称す)内蔵のマイクロコンピュータなどが
考案されている。
【0004】これらの半導体集積回路は、開発の現場で
専用の装置を用いて所望のハードウエア(回路)の作り
込みや、ソフトウエア(プログラム)の書き込みが可能
なため電子機器設計技術者のリードタイム短縮の要望を
満たすものである。
専用の装置を用いて所望のハードウエア(回路)の作り
込みや、ソフトウエア(プログラム)の書き込みが可能
なため電子機器設計技術者のリードタイム短縮の要望を
満たすものである。
【0005】このような半導体集積回路のひとつに開発
現場での書き込みを可能にしたプログラマブル・ロジッ
ク・アレイ(以下PLAと称す)がある。PLAは規則
的なプログラムで多様な論理関数の生成が可能なため広
く使われている。
現場での書き込みを可能にしたプログラマブル・ロジッ
ク・アレイ(以下PLAと称す)がある。PLAは規則
的なプログラムで多様な論理関数の生成が可能なため広
く使われている。
【0006】PLAは入力線と積項線および積項線と出
力線の交点位置のトランジスタの有無でプログラムされ
る。このプログラムの書き換えを実現するために、一般
的にはフローティングゲート・アバランシェ・インジェ
クション・MOS(以下FAMOSと称す)構造のトラ
ンジスタが用いられているが、データの書き込みのため
に10V以上の高電圧電源を必要とするため、単一電源
にてプログラムの書き換えを可能とするためにスタティ
ックRAMセルにデータを書き込むようなPLAが考案
されている(例:特開平1−238219号公報)。
力線の交点位置のトランジスタの有無でプログラムされ
る。このプログラムの書き換えを実現するために、一般
的にはフローティングゲート・アバランシェ・インジェ
クション・MOS(以下FAMOSと称す)構造のトラ
ンジスタが用いられているが、データの書き込みのため
に10V以上の高電圧電源を必要とするため、単一電源
にてプログラムの書き換えを可能とするためにスタティ
ックRAMセルにデータを書き込むようなPLAが考案
されている(例:特開平1−238219号公報)。
【0007】図5にこの従来のPLAの構成を示す。φ
1とφ2は位相の異なるクロックである。クロックφ1
がハイレベルになれば、NMOSトランジスタTφ1が
オン状態となり、積項線をハイレベルにプリチャージす
る。また、クロックφ2がハイレベルになれば、NMO
SトランジスタTφ2がオン状態となり、出力線をハイ
レベルにプリチャージする。
1とφ2は位相の異なるクロックである。クロックφ1
がハイレベルになれば、NMOSトランジスタTφ1が
オン状態となり、積項線をハイレベルにプリチャージす
る。また、クロックφ2がハイレベルになれば、NMO
SトランジスタTφ2がオン状態となり、出力線をハイ
レベルにプリチャージする。
【0008】AND平面におけるインバータラッチR
0,R1およびトランスミッションゲートTR0、TR
1が“1”、“0”の情報を記憶するスタティックRA
Mセルで、外部からワード線が選択されると、該当のト
ランスミッションゲートTR0、TR1がオン状態とな
り、ビット線BL,NBLを通って該当のインバータラ
ッチR0、R1に所定の情報が記憶される。また、AN
0およびAT0はNMOSトランジスタで、AN0はP
LAのAND条件を生成するためのトランジスタで、A
T0はトランジスタAN0を積項線に接続するか否かを
制御するためのトランジスタである。
0,R1およびトランスミッションゲートTR0、TR
1が“1”、“0”の情報を記憶するスタティックRA
Mセルで、外部からワード線が選択されると、該当のト
ランスミッションゲートTR0、TR1がオン状態とな
り、ビット線BL,NBLを通って該当のインバータラ
ッチR0、R1に所定の情報が記憶される。また、AN
0およびAT0はNMOSトランジスタで、AN0はP
LAのAND条件を生成するためのトランジスタで、A
T0はトランジスタAN0を積項線に接続するか否かを
制御するためのトランジスタである。
【0009】いま仮にインバータラッチのB点の電位が
ハイレベルで、A点の電位がロウレベルの場合、トラン
ジスタAT0がオフ状態となり、AND条件を生成する
トランジスタAN0が積項線から切り離される。すなわ
ち、該当の積項線はプリチャージされたままとなる。一
方、インバータラッチのB点の電位がロウレベルで、A
点の電位がハイレベルの場合、トランジスタAT0がオ
ン状態となり、AND条件を生成するトランジスタAN
0が積項線に接続される。したがって、入力線の電位が
ハイレベルであれば、トランジスタAN0がオン状態と
なり、該当の積項線の電位がトランジスタAN0を通し
てプルダウンされ、ロウレベルになる。すなわち、スタ
ティックRAMセルに書き込まれた情報によりPLAの
AND平面を所望の状態にプログラムすることが可能と
なり、積項線から所望のAND条件の信号が出力され
る。
ハイレベルで、A点の電位がロウレベルの場合、トラン
ジスタAT0がオフ状態となり、AND条件を生成する
トランジスタAN0が積項線から切り離される。すなわ
ち、該当の積項線はプリチャージされたままとなる。一
方、インバータラッチのB点の電位がロウレベルで、A
点の電位がハイレベルの場合、トランジスタAT0がオ
ン状態となり、AND条件を生成するトランジスタAN
0が積項線に接続される。したがって、入力線の電位が
ハイレベルであれば、トランジスタAN0がオン状態と
なり、該当の積項線の電位がトランジスタAN0を通し
てプルダウンされ、ロウレベルになる。すなわち、スタ
ティックRAMセルに書き込まれた情報によりPLAの
AND平面を所望の状態にプログラムすることが可能と
なり、積項線から所望のAND条件の信号が出力され
る。
【0010】同様に、OR平面においても、インバータ
ラッチR2、R3およびトランスミッションゲートTR
2、TR3で構成されるスタティックRAMセルに書き
込まれた情報によりOR条件を生成するNMOSトラン
ジスタON0を出力線に接続するか否かをNMOSトラ
ンジスタOT0にて制御することで、所望の状態にプロ
グラムすることが可能となり、出力線から所望のOR条
件の信号が出力される。
ラッチR2、R3およびトランスミッションゲートTR
2、TR3で構成されるスタティックRAMセルに書き
込まれた情報によりOR条件を生成するNMOSトラン
ジスタON0を出力線に接続するか否かをNMOSトラ
ンジスタOT0にて制御することで、所望の状態にプロ
グラムすることが可能となり、出力線から所望のOR条
件の信号が出力される。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
ような構成のPLAには、以下のような三つの課題があ
る。
ような構成のPLAには、以下のような三つの課題があ
る。
【0012】第一に、積項線(または出力線)の電位を
ロウレベルにプルダウンする場合、電荷はNMOSトラ
ンジスタAT0、AN0、およびインバータゲートR1
を構成するNMOSトランジスタ(またはNMOSトラ
ンジスタOT0、ON0、およびインバータゲートR3
を構成するNMOSトランジスタ)を通って放電され
る。したがって、放電速度を速くするためには、それぞ
れのトランジスタの能力を大きくしなければならず、半
導体集積回路を実現するために要する面積が大きくな
る。また逆に面積を小さくすると、放電速度が遅くなっ
てしまう。
ロウレベルにプルダウンする場合、電荷はNMOSトラ
ンジスタAT0、AN0、およびインバータゲートR1
を構成するNMOSトランジスタ(またはNMOSトラ
ンジスタOT0、ON0、およびインバータゲートR3
を構成するNMOSトランジスタ)を通って放電され
る。したがって、放電速度を速くするためには、それぞ
れのトランジスタの能力を大きくしなければならず、半
導体集積回路を実現するために要する面積が大きくな
る。また逆に面積を小さくすると、放電速度が遅くなっ
てしまう。
【0013】第二にスタティックRAMセルにデータを
書き込むためのビット線BL、NBLとAND平面への
入力線とが独立しているので、配線数が増大し、半導体
集積回路を実現するために要する面積が大きくなる。
書き込むためのビット線BL、NBLとAND平面への
入力線とが独立しているので、配線数が増大し、半導体
集積回路を実現するために要する面積が大きくなる。
【0014】第三に、積項線はいったんすべてハイレベ
ルにプリチャージされ、その後AND条件が成立した積
項線以外にはすべてロウレベルにプルダウンされる。し
たがって、必要以上の電荷が放電されるため、消費電流
を増大させる。
ルにプリチャージされ、その後AND条件が成立した積
項線以外にはすべてロウレベルにプルダウンされる。し
たがって、必要以上の電荷が放電されるため、消費電流
を増大させる。
【0015】一方、マイクロコンピュータ、特にワンチ
ップマイクロコンピュータは多様な周辺機能(ハードウ
エア)を同一チップに集積している。この周辺機能とソ
フトウエア(プログラム)との組み合わせで、多種多様
な機能を実現することができる。しかしながら、ハード
ウエアに起因する機能は、あらかじめ製造者が準備した
機能の範囲内でしか実現できない。たとえば、Nビット
のカウンタ単体では最大2N回のカウントをし、オーバ
ーフロー出力を出すことしかできない。しかしながら、
2個のNビットカウンタを用いて、一方のNビットカウ
ンタのオーバーフロー出力をセット信号に、他方のNビ
ットカウンタのオーバーフロー出力をリセット信号にそ
れぞれ用いることで、パルス幅変調(以下PWMと称
す)信号を生成することができる。このような機能を製
造者が準備していれば、PWM信号を生成することがで
きるが、そうでなければPWM信号の生成を実現するこ
とができない。
ップマイクロコンピュータは多様な周辺機能(ハードウ
エア)を同一チップに集積している。この周辺機能とソ
フトウエア(プログラム)との組み合わせで、多種多様
な機能を実現することができる。しかしながら、ハード
ウエアに起因する機能は、あらかじめ製造者が準備した
機能の範囲内でしか実現できない。たとえば、Nビット
のカウンタ単体では最大2N回のカウントをし、オーバ
ーフロー出力を出すことしかできない。しかしながら、
2個のNビットカウンタを用いて、一方のNビットカウ
ンタのオーバーフロー出力をセット信号に、他方のNビ
ットカウンタのオーバーフロー出力をリセット信号にそ
れぞれ用いることで、パルス幅変調(以下PWMと称
す)信号を生成することができる。このような機能を製
造者が準備していれば、PWM信号を生成することがで
きるが、そうでなければPWM信号の生成を実現するこ
とができない。
【0016】一般に製造者はあらかじめ使用者が所望す
るような機能を想定し、複数の機能を実現できるように
準備をしているが、すべての使用者の要望を満たすこと
は不可能である。
るような機能を想定し、複数の機能を実現できるように
準備をしているが、すべての使用者の要望を満たすこと
は不可能である。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明は前述の課題を解
決するために、AND平面への入力数がN本、積項数が
M本、OR平面の出力数がK本のPLAに対して、直列
に接続された2個のMOSトランジスタを一組として、
AND平面には(N×M)組のトランジスタと(N×
M)ビットの記憶素子を、OR平面には(M×K)組の
トランジスタと(M×K)ビットの記憶素子を備え、A
ND平面に配置された2個一組のMOSトランジスタの
ソースを電源電位に、ドレインを積項線に、一方のMO
SトランジスタのゲートにはAND平面への入力線を、
他方のMOSトランジスタのゲートにはAND平面に配
置された記憶素子の出力信号を接続し、かつOR平面に
配置された2個一組のMOSトランジスタのソースを電
源電位に、ドレインをOR平面の出力線に、一方のMO
Sトランジスタのゲートには積項線を、他方のMOSト
ランジスタのゲートにはOR平面に配置された記憶素子
の出力信号を接続し、PLAのプログラムを記憶素子に
設定した任意の値により自由に行うものである。
決するために、AND平面への入力数がN本、積項数が
M本、OR平面の出力数がK本のPLAに対して、直列
に接続された2個のMOSトランジスタを一組として、
AND平面には(N×M)組のトランジスタと(N×
M)ビットの記憶素子を、OR平面には(M×K)組の
トランジスタと(M×K)ビットの記憶素子を備え、A
ND平面に配置された2個一組のMOSトランジスタの
ソースを電源電位に、ドレインを積項線に、一方のMO
SトランジスタのゲートにはAND平面への入力線を、
他方のMOSトランジスタのゲートにはAND平面に配
置された記憶素子の出力信号を接続し、かつOR平面に
配置された2個一組のMOSトランジスタのソースを電
源電位に、ドレインをOR平面の出力線に、一方のMO
Sトランジスタのゲートには積項線を、他方のMOSト
ランジスタのゲートにはOR平面に配置された記憶素子
の出力信号を接続し、PLAのプログラムを記憶素子に
設定した任意の値により自由に行うものである。
【0018】また配線数を削減するために記憶素子への
データの読み出しと書き込みを行うためのビット線とA
ND平面の積項線またはOR平面の出力線とを共通に用
いるものである。
データの読み出しと書き込みを行うためのビット線とA
ND平面の積項線またはOR平面の出力線とを共通に用
いるものである。
【0019】さらに、マイクロコンピュータと同一のチ
ップに前述のPLAを集積させ、命令の実行により記憶
素子にデータを設定することでマイクロコンピュータの
周辺機能の振る舞いを自由に設定できるようにしたもの
である。
ップに前述のPLAを集積させ、命令の実行により記憶
素子にデータを設定することでマイクロコンピュータの
周辺機能の振る舞いを自由に設定できるようにしたもの
である。
【0020】
【作用】本発明は前述の構成により、記憶素子に設定し
た値に応じてPLAのAND条件およびOR条件を自由
にプログラム可能である。また同PLAをマイクロコン
ピュータと同一のチップに集積することで、マイクロコ
ンピュータの命令の実行によりPLAのプログラムが可
能となり、マイクロコンピュータの周辺機能を任意の論
理関数で結合することで所望の機能を実現することが可
能となる。さらに実現した周辺機能は一つの機能に固定
ではなく、必要に応じてマイクロコンピュータの処理の
なかでダイナミックに変更することができる。
た値に応じてPLAのAND条件およびOR条件を自由
にプログラム可能である。また同PLAをマイクロコン
ピュータと同一のチップに集積することで、マイクロコ
ンピュータの命令の実行によりPLAのプログラムが可
能となり、マイクロコンピュータの周辺機能を任意の論
理関数で結合することで所望の機能を実現することが可
能となる。さらに実現した周辺機能は一つの機能に固定
ではなく、必要に応じてマイクロコンピュータの処理の
なかでダイナミックに変更することができる。
【0021】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例であるPLAの
構成(一つのPLA素子の構成)を示す。φ1とφ2は
位相の異なるクロックである。クロックφ1がハイレベ
ルになればNMOSトランジスタTφ1がオン状態とな
り積項線をハイレベルにプリチャージする。またクロッ
クφ2がハイレベルになればNMOSトランジスタTφ
2がオン状態となりビット線兼出力線BOLをハイレベ
ルにプリチャージする。
構成(一つのPLA素子の構成)を示す。φ1とφ2は
位相の異なるクロックである。クロックφ1がハイレベ
ルになればNMOSトランジスタTφ1がオン状態とな
り積項線をハイレベルにプリチャージする。またクロッ
クφ2がハイレベルになればNMOSトランジスタTφ
2がオン状態となりビット線兼出力線BOLをハイレベ
ルにプリチャージする。
【0022】AND平面におけるインバータラッチR
0,R1およびトランスミッションゲートTR0、TR
1およびOR平面におけるインバータラッチR2、R3
およびトランスミッションゲートTR2、TR3が
“1”、“0”の情報を記憶するスタティックRAMセ
ルである。
0,R1およびトランスミッションゲートTR0、TR
1およびOR平面におけるインバータラッチR2、R3
およびトランスミッションゲートTR2、TR3が
“1”、“0”の情報を記憶するスタティックRAMセ
ルである。
【0023】スタティックRAMセルにデータを書き込
む場合は、制御線CをハイレベルとすることでNMOS
トランジスタTcがオン状態となり積項線をロウレベル
にプルダウンする。したがって、OR平面におけるNM
OSトランジスタON0がオフ状態となり、ビット線兼
出力線はNMOSトランジスタOT0の状態に影響を受
けなくなる。この場合本PLAは通常の記憶装置として
機能する。
む場合は、制御線CをハイレベルとすることでNMOS
トランジスタTcがオン状態となり積項線をロウレベル
にプルダウンする。したがって、OR平面におけるNM
OSトランジスタON0がオフ状態となり、ビット線兼
出力線はNMOSトランジスタOT0の状態に影響を受
けなくなる。この場合本PLAは通常の記憶装置として
機能する。
【0024】AND平面において外部からワード線が選
択されると、該当のトランスミッションゲートTR0、
TR1がオン状態となり、ビット線兼入力線BIL,ビ
ット線NBLを通って該当のインバータラッチR0、R
1に所定の情報が記憶される。またAN0およびAT0
はNMOSトランジスタで、AN0はPLAのAND条
件を生成するためのトランジスタで、AT0はトランジ
スタAN0を積項線に接続するか否かを制御するための
トランジスタである。
択されると、該当のトランスミッションゲートTR0、
TR1がオン状態となり、ビット線兼入力線BIL,ビ
ット線NBLを通って該当のインバータラッチR0、R
1に所定の情報が記憶される。またAN0およびAT0
はNMOSトランジスタで、AN0はPLAのAND条
件を生成するためのトランジスタで、AT0はトランジ
スタAN0を積項線に接続するか否かを制御するための
トランジスタである。
【0025】いま仮にインバータラッチのB点の電位が
ハイレベルで、A点の電位がロウレベルの場合、トラン
ジスタAT0がオフ状態となりAND条件を生成するト
ランジスタAN0が積項線から切り離される。すなわ
ち、該当の積項線はプリチャージされたままとなる。一
方、インバータラッチのB点の電位がロウレベルで、A
点の電位がハイレベルの場合、トランジスタAT0がオ
ン状態となりAND条件を生成するトランジスタAN0
が積項線に接続される。したがって、入力線の電位がハ
イレベルであれば、トランジスタAN0がオン状態とな
り、該当の積項線の電位がトランジスタAN0を通して
プルダウンされ、ロウレベルになる。すなわち、スタテ
ィックRAMセルに書き込まれた情報によりPLAのA
ND平面を所望の状態にプログラムすることが可能とな
り、積項線から所望のAND条件の信号が出力される。
ハイレベルで、A点の電位がロウレベルの場合、トラン
ジスタAT0がオフ状態となりAND条件を生成するト
ランジスタAN0が積項線から切り離される。すなわ
ち、該当の積項線はプリチャージされたままとなる。一
方、インバータラッチのB点の電位がロウレベルで、A
点の電位がハイレベルの場合、トランジスタAT0がオ
ン状態となりAND条件を生成するトランジスタAN0
が積項線に接続される。したがって、入力線の電位がハ
イレベルであれば、トランジスタAN0がオン状態とな
り、該当の積項線の電位がトランジスタAN0を通して
プルダウンされ、ロウレベルになる。すなわち、スタテ
ィックRAMセルに書き込まれた情報によりPLAのA
ND平面を所望の状態にプログラムすることが可能とな
り、積項線から所望のAND条件の信号が出力される。
【0026】同様にOR平面においても、インバータラ
ッチR2、R3およびトランスミッションゲートTR
2、TR3で構成されるスタティックRAMセルに書き
込まれた情報により、OR条件を生成するNMOSトラ
ンジスタON0をビット線兼出力線BOLに接続するか
否かをNMOSトランジスタOT0にて制御すること
で、所望の状態にプログラムすることができる。すなわ
ち、ビット線兼出力線BOLがプリチャージされたまま
か、またはロウレベルにプルダウンされるかで所望のO
R条件の信号が出力される。
ッチR2、R3およびトランスミッションゲートTR
2、TR3で構成されるスタティックRAMセルに書き
込まれた情報により、OR条件を生成するNMOSトラ
ンジスタON0をビット線兼出力線BOLに接続するか
否かをNMOSトランジスタOT0にて制御すること
で、所望の状態にプログラムすることができる。すなわ
ち、ビット線兼出力線BOLがプリチャージされたまま
か、またはロウレベルにプルダウンされるかで所望のO
R条件の信号が出力される。
【0027】図2は本発明の第2の実施例であるPLA
の構成(一つのPLA素子の構成)を示す。本実施例は
記憶素子として第1の実施例のスタティックRAMセル
をフリップフロップに置き換えたものである。φ1とφ
2は位相の異なるクロックである。クロックφ1がハイ
レベルになればNMOSトランジスタTφ1がオン状態
となり積項線をハイレベルにプリチャージする。またク
ロックφ2がハイレベルになればNMOSトランジスタ
Tφ2がオン状態となりビット線兼出力線BOLをハイ
レベルにプリチャージする。またAND平面におけるM
1およびOR平面におけるM2は“1”、“0”の情報
を記憶するフリップフロップである。
の構成(一つのPLA素子の構成)を示す。本実施例は
記憶素子として第1の実施例のスタティックRAMセル
をフリップフロップに置き換えたものである。φ1とφ
2は位相の異なるクロックである。クロックφ1がハイ
レベルになればNMOSトランジスタTφ1がオン状態
となり積項線をハイレベルにプリチャージする。またク
ロックφ2がハイレベルになればNMOSトランジスタ
Tφ2がオン状態となりビット線兼出力線BOLをハイ
レベルにプリチャージする。またAND平面におけるM
1およびOR平面におけるM2は“1”、“0”の情報
を記憶するフリップフロップである。
【0028】フリップフロップにデータを書き込む場合
は、制御線CをハイレベルとすることでNMOSトラン
ジスタTcがオン状態となり積項線をロウレベルにプル
ダウンする。したがって、OR平面におけるNMOSト
ランジスタON0がオフ状態となり、ビット線兼出力線
はNMOSトランジスタOT0のオン、オフの状態に影
響を受けなくなる。この場合本PLAは通常の記憶装置
として機能する。
は、制御線CをハイレベルとすることでNMOSトラン
ジスタTcがオン状態となり積項線をロウレベルにプル
ダウンする。したがって、OR平面におけるNMOSト
ランジスタON0がオフ状態となり、ビット線兼出力線
はNMOSトランジスタOT0のオン、オフの状態に影
響を受けなくなる。この場合本PLAは通常の記憶装置
として機能する。
【0029】AND平面において外部からワード書き込
み線が選択されると、ビット線兼入力線BILを通って
該当のフリップフロップM1に所定の情報が記憶され
る。またAN0およびAT0はNMOSトランジスタ
で、AN0はPLAのAND条件を生成するためのトラ
ンジスタで、AT0はトランジスタAN0を積項線に接
続するか否かを制御するためのトランジスタである。
み線が選択されると、ビット線兼入力線BILを通って
該当のフリップフロップM1に所定の情報が記憶され
る。またAN0およびAT0はNMOSトランジスタ
で、AN0はPLAのAND条件を生成するためのトラ
ンジスタで、AT0はトランジスタAN0を積項線に接
続するか否かを制御するためのトランジスタである。
【0030】いま仮にフリップフロップのQ出力がロウ
レベルの場合、トランジスタAT0がオフ状態となり、
AND条件を生成するトランジスタAN0が積項線から
切り離される。すなわち、該当の積項線はプリチャージ
されたままとなる。
レベルの場合、トランジスタAT0がオフ状態となり、
AND条件を生成するトランジスタAN0が積項線から
切り離される。すなわち、該当の積項線はプリチャージ
されたままとなる。
【0031】一方、フリップフロップのQ出力がハイレ
ベルの場合、トランジスタAT0がオン状態となり、A
ND条件を生成するトランジスタAN0が積項線に接続
される。したがって、入力線の電位がハイレベルであれ
ば、該トランジスタAN0がオン状態となり、該当の積
項線の電位がトランジスタAN0を通してプルダウンさ
れ、ロウレベルになる。すなわち、フリップフロップに
書き込まれた情報によりPLAのAND平面を所望の状
態にプログラムすることが可能となり、積項線から所望
のAND条件の信号が出力される。
ベルの場合、トランジスタAT0がオン状態となり、A
ND条件を生成するトランジスタAN0が積項線に接続
される。したがって、入力線の電位がハイレベルであれ
ば、該トランジスタAN0がオン状態となり、該当の積
項線の電位がトランジスタAN0を通してプルダウンさ
れ、ロウレベルになる。すなわち、フリップフロップに
書き込まれた情報によりPLAのAND平面を所望の状
態にプログラムすることが可能となり、積項線から所望
のAND条件の信号が出力される。
【0032】同様にOR平面においても、フリップフロ
ップM2に書き込まれた情報により、OR条件を生成す
るNMOSトランジスタON0をビット線兼出力線BO
Lに接続するか否かをNMOSトランジスタOT0にて
制御することで、所望の状態にプログラムすることが可
能となり、ビット線兼出力線BOLから所望のOR条件
の信号が出力される。
ップM2に書き込まれた情報により、OR条件を生成す
るNMOSトランジスタON0をビット線兼出力線BO
Lに接続するか否かをNMOSトランジスタOT0にて
制御することで、所望の状態にプログラムすることが可
能となり、ビット線兼出力線BOLから所望のOR条件
の信号が出力される。
【0033】フリップフロップM1,M2に書き込まれ
た情報を読み出す場合には、制御線Cがハイレベルの状
態でワード読み出し線が選択される。このときトライス
テートゲートG1,G2がオン状態となり、ビット線兼
入力線BILまたはビット線兼出力線BOLにフリップ
フロップの情報が出力される。
た情報を読み出す場合には、制御線Cがハイレベルの状
態でワード読み出し線が選択される。このときトライス
テートゲートG1,G2がオン状態となり、ビット線兼
入力線BILまたはビット線兼出力線BOLにフリップ
フロップの情報が出力される。
【0034】図3は本発明の第3の実施例であるPLA
の構成(一つのPLA素子の構成)を示す。φ1とφ2
は位相の異なるクロックである。クロックφ1がハイレ
ベルになればNMOSトランジスタTφ1がオン状態と
なり、NORゲートG0の入力の一方がハイレべルにプ
リチャージされ、NORゲートG0の出力はロウレベル
となる。また、クロックφ2がハイレベルになればNM
OSトランジスタTφ2がオン状態となり、ビット線兼
出力線BOLをハイレベルにプリチャージする。AND
平面におけるインバータラッチR0,R1(R0´、R
1´)およびトランスミッションゲートTR0、TR1
(TR0´、TR1´)およびOR平面におけるインバ
ータラッチR2、R3およびトランスミッションゲート
TR2、TR3が“1”、“0”の情報を記憶するスタ
ティックRAMセルである。
の構成(一つのPLA素子の構成)を示す。φ1とφ2
は位相の異なるクロックである。クロックφ1がハイレ
ベルになればNMOSトランジスタTφ1がオン状態と
なり、NORゲートG0の入力の一方がハイレべルにプ
リチャージされ、NORゲートG0の出力はロウレベル
となる。また、クロックφ2がハイレベルになればNM
OSトランジスタTφ2がオン状態となり、ビット線兼
出力線BOLをハイレベルにプリチャージする。AND
平面におけるインバータラッチR0,R1(R0´、R
1´)およびトランスミッションゲートTR0、TR1
(TR0´、TR1´)およびOR平面におけるインバ
ータラッチR2、R3およびトランスミッションゲート
TR2、TR3が“1”、“0”の情報を記憶するスタ
ティックRAMセルである。
【0035】スタティックRAMセルにデータを書き込
む場合には、制御線Cをハイレベルとすることで、NO
RゲートG0の出力すなわち積項線がロウレベルにな
る。したがって、OR平面におけるNMOSトランジス
タON0がオフ状態となり、ビット線兼出力線はNMO
SトランジスタOT0の状態に影響を受けなくなる。こ
の場合、本PLAは通常の記憶装置として機能する。
む場合には、制御線Cをハイレベルとすることで、NO
RゲートG0の出力すなわち積項線がロウレベルにな
る。したがって、OR平面におけるNMOSトランジス
タON0がオフ状態となり、ビット線兼出力線はNMO
SトランジスタOT0の状態に影響を受けなくなる。こ
の場合、本PLAは通常の記憶装置として機能する。
【0036】AND平面において外部からワード線が選
択されると、該当のトランスミッションゲートTR0、
TR1がオン状態となり、ビット線兼入力線BIL,ビ
ット線NBLを通って該当のインバータラッチR0、R
1に所定の情報が記憶される。また、AC0およびAP
0はNMOSトランジスタで、AP0はPLAのAND
条件を生成するためのトランジスタで、AC0は積項線
に対して直列接続されたトランジスタAP0を有効とす
るか否かを制御するためのトランジスタである。
択されると、該当のトランスミッションゲートTR0、
TR1がオン状態となり、ビット線兼入力線BIL,ビ
ット線NBLを通って該当のインバータラッチR0、R
1に所定の情報が記憶される。また、AC0およびAP
0はNMOSトランジスタで、AP0はPLAのAND
条件を生成するためのトランジスタで、AC0は積項線
に対して直列接続されたトランジスタAP0を有効とす
るか否かを制御するためのトランジスタである。
【0037】いま仮にインバータラッチのB点の電位が
ロウレベルで、A点の電位がハイレベルの場合、トラン
ジスタAC0がオン状態となりAND条件を生成するト
ランジスタAP0が無効となる。すなわち、トランジス
タAP0のオン、オフ状態に関係なくつねにバイパスさ
れるため、該当の積項線がプリチャージされたままか、
ロウレベルにプルダウンされるかを決定する要因となら
ない。一方、インバータラッチのB点の電位がハイレベ
ルで、A点の電位がロウレベルの場合、トランジスタA
C0がオフ状態となり、AND条件を生成するトランジ
スタAP0が有効となる。すなわち、トランジスタAP
0のオン、オフ状態によりバイパスされるか否かが選択
されるため、該当の積項線がプリチャージされたまま
か、ロウレベルにプルダウンされるかを決定する要因と
なる。したがって、入力線の電位がハイレベルであれ
ば、該トランジスタAP0がオン状態となりバイパス状
態となり、該当の積項線に対して直列接続されたすべて
のトランジスタがバイパス状態になると、積項線の電位
がトランジスタAP0、……、AP0´を通してプルダ
ウンされ、ロウレベルになる。また、該当の積項線に対
して直列接続されたすべてのトランジスタのうち少なく
とも一つのトランジスタがバイパス状態でなくなると積
項線の電位はプリチャージされたままとなる。すなわち
スタティックRAMセルに書き込まれた情報によりPL
AのAND平面を所望の状態にプログラムすることが可
能となり、積項線から所望のAND条件の信号が出力さ
れる。
ロウレベルで、A点の電位がハイレベルの場合、トラン
ジスタAC0がオン状態となりAND条件を生成するト
ランジスタAP0が無効となる。すなわち、トランジス
タAP0のオン、オフ状態に関係なくつねにバイパスさ
れるため、該当の積項線がプリチャージされたままか、
ロウレベルにプルダウンされるかを決定する要因となら
ない。一方、インバータラッチのB点の電位がハイレベ
ルで、A点の電位がロウレベルの場合、トランジスタA
C0がオフ状態となり、AND条件を生成するトランジ
スタAP0が有効となる。すなわち、トランジスタAP
0のオン、オフ状態によりバイパスされるか否かが選択
されるため、該当の積項線がプリチャージされたまま
か、ロウレベルにプルダウンされるかを決定する要因と
なる。したがって、入力線の電位がハイレベルであれ
ば、該トランジスタAP0がオン状態となりバイパス状
態となり、該当の積項線に対して直列接続されたすべて
のトランジスタがバイパス状態になると、積項線の電位
がトランジスタAP0、……、AP0´を通してプルダ
ウンされ、ロウレベルになる。また、該当の積項線に対
して直列接続されたすべてのトランジスタのうち少なく
とも一つのトランジスタがバイパス状態でなくなると積
項線の電位はプリチャージされたままとなる。すなわち
スタティックRAMセルに書き込まれた情報によりPL
AのAND平面を所望の状態にプログラムすることが可
能となり、積項線から所望のAND条件の信号が出力さ
れる。
【0038】OR平面においては第1の実施例と同様
に、インバータラッチR2、R3およびトランスミッシ
ョンゲートTR2、TR3で構成されるスタティックR
AMセルに書き込まれた情報により、OR条件を生成す
るNMOSトランジスタON0をビット線兼出力線BO
Lに接続するか否かをNMOSトランジスタOT0にて
制御することで、所望の状態にプログラムすることが可
能となる。すなわちビット線兼出力線BOLがプリチャ
ージされたままか、またはロウレベルにプルダウンされ
るかで所望のOR条件の信号が出力される。
に、インバータラッチR2、R3およびトランスミッシ
ョンゲートTR2、TR3で構成されるスタティックR
AMセルに書き込まれた情報により、OR条件を生成す
るNMOSトランジスタON0をビット線兼出力線BO
Lに接続するか否かをNMOSトランジスタOT0にて
制御することで、所望の状態にプログラムすることが可
能となる。すなわちビット線兼出力線BOLがプリチャ
ージされたままか、またはロウレベルにプルダウンされ
るかで所望のOR条件の信号が出力される。
【0039】図4は本発明の第4の実施例であるPLA
の構成(一つのPLA素子の構成)を示す。本実施例は
記憶素子として第3の実施例のスタティックRAMセル
をフリップフロップに置き換えたものである。φ1とφ
2は位相の異なるクロックである。クロックφ1がハイ
レベルになればNMOSトランジスタTφ1がオン状態
となり積項線をハイレベルにプリチャージする。またク
ロックφ2がハイレベルになればNMOSトランジスタ
Tφ2がオン状態となりビット線兼出力線BOLをハイ
レベルにプリチャージする。またAND平面におけるM
1およびOR平面におけるM2は“1”、“0”の情報
を記憶するフリップフロップである。
の構成(一つのPLA素子の構成)を示す。本実施例は
記憶素子として第3の実施例のスタティックRAMセル
をフリップフロップに置き換えたものである。φ1とφ
2は位相の異なるクロックである。クロックφ1がハイ
レベルになればNMOSトランジスタTφ1がオン状態
となり積項線をハイレベルにプリチャージする。またク
ロックφ2がハイレベルになればNMOSトランジスタ
Tφ2がオン状態となりビット線兼出力線BOLをハイ
レベルにプリチャージする。またAND平面におけるM
1およびOR平面におけるM2は“1”、“0”の情報
を記憶するフリップフロップである。
【0040】フリップフロップにデータを書き込む場合
は、制御線CをハイレベルとすることでNORゲートG
0の出力、すなわち積項線がロウレベルになる。したが
って、OR平面におけるNMOSトランジスタON0が
オフ状態となり、ビット線兼出力線はNMOSトランジ
スタOT0の状態に影響を受けなくなる。この場合本P
LAは通常の記憶装置として機能する。
は、制御線CをハイレベルとすることでNORゲートG
0の出力、すなわち積項線がロウレベルになる。したが
って、OR平面におけるNMOSトランジスタON0が
オフ状態となり、ビット線兼出力線はNMOSトランジ
スタOT0の状態に影響を受けなくなる。この場合本P
LAは通常の記憶装置として機能する。
【0041】AND平面において外部からワード書き込
み線が選択されると、ビット線兼入力線BILを通って
該当のフリップフロップM1に所定の情報が記憶され
る。またAC0およびAP0はNMOSトランジスタ
で、AN0はPLAのAND条件を生成するためのトラ
ンジスタで、AP0はPLAのAND条件を生成するた
めのトランジスタで、AC0は積項線に対して直列接続
されたトランジスタAP0を有効とするか否かを制御す
るためのトランジスタである。
み線が選択されると、ビット線兼入力線BILを通って
該当のフリップフロップM1に所定の情報が記憶され
る。またAC0およびAP0はNMOSトランジスタ
で、AN0はPLAのAND条件を生成するためのトラ
ンジスタで、AP0はPLAのAND条件を生成するた
めのトランジスタで、AC0は積項線に対して直列接続
されたトランジスタAP0を有効とするか否かを制御す
るためのトランジスタである。
【0042】いま仮にフリップフロップのQ出力がハイ
レベルの場合、トランジスタAC0がオン状態となりA
ND条件を生成するトランジスタAP0が無効となる
(すなわちトランジスタAP0のオン、オフ状態に関係
なく常にバイパスされるため、該当の積項線がプリチャ
ージされたままか、ロウレベルにプルダウンされるかを
決定する要因とならない)。一方フリップフロップのQ
出力がロウレベルの場合、トランジスタAC0がオフ状
態となりAND条件を生成するトランジスタAP0が有
効となる(すなわち、トランジスタAP0のオン、オフ
状態によりバイパスされるか否かが選択されるため、該
当の積項線がプリチャージされたままか、ロウレベルに
プルダウンされるかを決定する要因となる)。したがっ
て、入力線の電位がハイレベルであれば、該トランジス
タAP0がオン状態となりバイパス状態となり、該当の
積項線に対して直列接続されたすべてのトランジスタが
バイパス状態になると積項線の電位がトランジスタAP
0、……、AP0´を通してプルダウンされ、ロウレベ
ルになる。また、該当の積項線に対して直列接続された
すべてのトランジスタのうち少なくとも一つのトランジ
スタがバイパス状態でなくなると、積項線の電位はプリ
チャージされたままとなる。すなわち、スタティックR
AMセルに書き込まれた情報によりPLAのAND平面
を所望の状態にプログラムすることが可能となり、積項
線から所望のAND条件の信号が出力される。
レベルの場合、トランジスタAC0がオン状態となりA
ND条件を生成するトランジスタAP0が無効となる
(すなわちトランジスタAP0のオン、オフ状態に関係
なく常にバイパスされるため、該当の積項線がプリチャ
ージされたままか、ロウレベルにプルダウンされるかを
決定する要因とならない)。一方フリップフロップのQ
出力がロウレベルの場合、トランジスタAC0がオフ状
態となりAND条件を生成するトランジスタAP0が有
効となる(すなわち、トランジスタAP0のオン、オフ
状態によりバイパスされるか否かが選択されるため、該
当の積項線がプリチャージされたままか、ロウレベルに
プルダウンされるかを決定する要因となる)。したがっ
て、入力線の電位がハイレベルであれば、該トランジス
タAP0がオン状態となりバイパス状態となり、該当の
積項線に対して直列接続されたすべてのトランジスタが
バイパス状態になると積項線の電位がトランジスタAP
0、……、AP0´を通してプルダウンされ、ロウレベ
ルになる。また、該当の積項線に対して直列接続された
すべてのトランジスタのうち少なくとも一つのトランジ
スタがバイパス状態でなくなると、積項線の電位はプリ
チャージされたままとなる。すなわち、スタティックR
AMセルに書き込まれた情報によりPLAのAND平面
を所望の状態にプログラムすることが可能となり、積項
線から所望のAND条件の信号が出力される。
【0043】OR平面においては、第2の実施例と同様
に、フリップフロップM2に書き込まれた情報により、
OR条件を生成するNMOSトランジスタON0をビッ
ト線兼出力線BOLに接続するか否かを、NMOSトラ
ンジスタOT0にて制御することで、所望の状態にプロ
グラムすることが可能となり、ビット線兼出力線BOL
から所望のOR条件の信号が出力される。
に、フリップフロップM2に書き込まれた情報により、
OR条件を生成するNMOSトランジスタON0をビッ
ト線兼出力線BOLに接続するか否かを、NMOSトラ
ンジスタOT0にて制御することで、所望の状態にプロ
グラムすることが可能となり、ビット線兼出力線BOL
から所望のOR条件の信号が出力される。
【0044】フリップフロップM1,M2に書き込まれ
た情報を読み出す場合は、制御線Cがハイレベルの状態
でワード読み出し線が選択される。このときトライステ
ートゲートG1,G2がオン状態となり、ビット線兼入
力線BILまたはビット線兼出力線BOLにフリップフ
ロップの情報が出力される。
た情報を読み出す場合は、制御線Cがハイレベルの状態
でワード読み出し線が選択される。このときトライステ
ートゲートG1,G2がオン状態となり、ビット線兼入
力線BILまたはビット線兼出力線BOLにフリップフ
ロップの情報が出力される。
【0045】なお前記第1、第2、第3、第4の実施例
においてトランジスタTφ1、Tφ2,AT0、AN
0、AC0、AP0、ON0、OT0はNMOSトラン
ジスタにて構成しているが、PMOSトランジスタにて
構成することも可能である。但しゲートに入力される信
号の極性は反対になる。また、第2、第4の実施例2に
おいてフリップフロップの読み出しにトライステートゲ
ートを用いたが、オープンドレインゲートにても構成可
能である。
においてトランジスタTφ1、Tφ2,AT0、AN
0、AC0、AP0、ON0、OT0はNMOSトラン
ジスタにて構成しているが、PMOSトランジスタにて
構成することも可能である。但しゲートに入力される信
号の極性は反対になる。また、第2、第4の実施例2に
おいてフリップフロップの読み出しにトライステートゲ
ートを用いたが、オープンドレインゲートにても構成可
能である。
【0046】図6は本発明のPLAを同一チップ内に集
積したマイクロコンピュータの一実施例を示す。マイク
ロコンピュータと同一のチップ内に集積することで、命
令の実行によりPLA内の記憶素子に対して所望の値を
設定することができる。
積したマイクロコンピュータの一実施例を示す。マイク
ロコンピュータと同一のチップ内に集積することで、命
令の実行によりPLA内の記憶素子に対して所望の値を
設定することができる。
【0047】B1、……、B1´は周辺機能ブロック、
B2はDMA(ダイレクト・メモリ・アクセス)装置、
B3は割り込み制御回路、L1は入力信号同期化回路、
L2は命令の実行により所望の値を設定できるレジス
タ、L3はOR平面の出力を保持し、命令の実行により
その値を読み出すことができるレジスタ、L4は出力信
号同期化回路である。
B2はDMA(ダイレクト・メモリ・アクセス)装置、
B3は割り込み制御回路、L1は入力信号同期化回路、
L2は命令の実行により所望の値を設定できるレジス
タ、L3はOR平面の出力を保持し、命令の実行により
その値を読み出すことができるレジスタ、L4は出力信
号同期化回路である。
【0048】PLAのAND平面には、 (1)少なくとも1つ以上の周辺機能ブロックからの出
力信号 (2)少なくとも1本以上の入力可能な端子PIから入
力された信号を、入力信号同期化回路L1でマイクロコ
ンピュータの動作に同期化した信号 (3)少なくとも1ビット以上の、命令の実行により所
望の値に設定可能なレジスタL2の出力信号 (4)少なくとも1ビット以上のOR平面の出力を保持
するレジスタL3の出力信号 (5)少なくとも1ビット以上の出力信号同期化回路L
4でマイクロコンピュータの動作に同期化されたOR平
面の出力 が入力される。
力信号 (2)少なくとも1本以上の入力可能な端子PIから入
力された信号を、入力信号同期化回路L1でマイクロコ
ンピュータの動作に同期化した信号 (3)少なくとも1ビット以上の、命令の実行により所
望の値に設定可能なレジスタL2の出力信号 (4)少なくとも1ビット以上のOR平面の出力を保持
するレジスタL3の出力信号 (5)少なくとも1ビット以上の出力信号同期化回路L
4でマイクロコンピュータの動作に同期化されたOR平
面の出力 が入力される。
【0049】ここで、周辺機能ブロックの出力信号とし
て (1)Nビットのカウンタの最上位出力信号 (2)Nビットのカウンタのオーバーフロー信号 (3)Nビットのカウンタの値とNビットのレジスタの
値との比較出力 (4)各種周辺機能ブロックからCPUへの割り込み要
求信号 などがある。
て (1)Nビットのカウンタの最上位出力信号 (2)Nビットのカウンタのオーバーフロー信号 (3)Nビットのカウンタの値とNビットのレジスタの
値との比較出力 (4)各種周辺機能ブロックからCPUへの割り込み要
求信号 などがある。
【0050】一方、OR平面の出力は、 (1)少なくとも1ビット以上の、命令の実行により読
み出し可能なレジスタL3に保持される。 (2)出力信号同期化回路L4でマイクロコンピュータ
の動作に同期化され、少なくとも1本以上の出力可能な
端子POから出力される。 (3)転送要求信号としてDMA装置B2に入力され
る。
み出し可能なレジスタL3に保持される。 (2)出力信号同期化回路L4でマイクロコンピュータ
の動作に同期化され、少なくとも1本以上の出力可能な
端子POから出力される。 (3)転送要求信号としてDMA装置B2に入力され
る。
【0051】AND平面への入力信号およびOR平面か
らの出力信号の種類は、前述のすべての種類を満足して
いる必要はなく、場合に応じてそれらの一部が選択され
ればよい。
らの出力信号の種類は、前述のすべての種類を満足して
いる必要はなく、場合に応じてそれらの一部が選択され
ればよい。
【0052】図7は本発明の動作を説明するためのブロ
ック図である。図において、B1、B1´はNビットの
カウンタ、L4は出力信号同期化回路である。Nビット
カウンタB1´はNビットカウンタB1のオーバーフロ
ー信号Xでリセットされる。PLAのAND平面の入力
線へは、NビットカウンタB1およびB1´のオーバー
フロー出力XおよびYと、OR平面の出力Wと出力同期
化回路L4でマイクロコンピュータの動作に同期化した
信号Zとが入力されている。また、前記同期化信号Zは
出力端子POからチップ外部に出力される。
ック図である。図において、B1、B1´はNビットの
カウンタ、L4は出力信号同期化回路である。Nビット
カウンタB1´はNビットカウンタB1のオーバーフロ
ー信号Xでリセットされる。PLAのAND平面の入力
線へは、NビットカウンタB1およびB1´のオーバー
フロー出力XおよびYと、OR平面の出力Wと出力同期
化回路L4でマイクロコンピュータの動作に同期化した
信号Zとが入力されている。また、前記同期化信号Zは
出力端子POからチップ外部に出力される。
【0053】ここで、NビットカウンタB1がオーバー
フローすると、出力端子POがセットされ、Nビットカ
ウンタB1´がオーバーフローすると、出力端子POが
リセットされるような場合を考える。すなわち、出力端
子POからPWM信号を出力させる。この場合の真理値
表は下記のようになる。
フローすると、出力端子POがセットされ、Nビットカ
ウンタB1´がオーバーフローすると、出力端子POが
リセットされるような場合を考える。すなわち、出力端
子POからPWM信号を出力させる。この場合の真理値
表は下記のようになる。
【0054】 すなわち、
【0055】
【数1】
【0056】なる論理関数をPLAにプログラムするこ
とで、図8に示すような波形を出力端子POから出力す
ることができる。
とで、図8に示すような波形を出力端子POから出力す
ることができる。
【0057】前述のように本発明では、PLAの記憶素
子に対して命令の実行により所望の値を設定することが
できる。すなわち、PLAを自由にプログラムできるた
め、PLAのAND平面に入力されたマイクロコンピュ
ータの周辺機能を任意の論理関数で結合することで、所
望の機能を実現することができる。また、AND平面へ
の入力には、カウンタのオーバーフロー信号などのよう
にハードウエアだけで決定される信号だけでなく、レジ
スタL2のようにソフトウエアで決定される信号も入力
されているため、一層自由な機能を実現できる。一方、
OR平面の出力がDMA装置の転送要求信号になってい
るため、シリアルインタフェースによるデータ転送や、
インプットキャプチャ入力時のキャプチャデータ転送な
どで、ある特定の条件時のみ転送が行われるような場合
には、ソフトウエアの介在なしにハードウエアのみで転
送させることもできる。
子に対して命令の実行により所望の値を設定することが
できる。すなわち、PLAを自由にプログラムできるた
め、PLAのAND平面に入力されたマイクロコンピュ
ータの周辺機能を任意の論理関数で結合することで、所
望の機能を実現することができる。また、AND平面へ
の入力には、カウンタのオーバーフロー信号などのよう
にハードウエアだけで決定される信号だけでなく、レジ
スタL2のようにソフトウエアで決定される信号も入力
されているため、一層自由な機能を実現できる。一方、
OR平面の出力がDMA装置の転送要求信号になってい
るため、シリアルインタフェースによるデータ転送や、
インプットキャプチャ入力時のキャプチャデータ転送な
どで、ある特定の条件時のみ転送が行われるような場合
には、ソフトウエアの介在なしにハードウエアのみで転
送させることもできる。
【0058】また、本発明のPLAをPROM内蔵のマ
イクロコンピュータと同一チップに集積すると、マイク
ロコンピュータのプログラムおよびPLAのプログラム
を開発現場にてできるため、リードタイムを一層短縮す
ることができる。
イクロコンピュータと同一チップに集積すると、マイク
ロコンピュータのプログラムおよびPLAのプログラム
を開発現場にてできるため、リードタイムを一層短縮す
ることができる。
【0059】
【発明の効果】前述のように本発明によれば、 (1)積項線の電位をロウレベルにプルダウンする場
合、電荷はAND平面ではNMOSトランジスタAT
0、AN0のみを通って放電され、同様にOR平面にお
いてもNMOSトランジスタOT0,ON0のみを通っ
て放電されるため、従来例のPLAよりも高速に動作さ
せることが可能である。 (2)ビット線と入力線またはビット線と出力線を兼用
するため配線数が増加せず、半導体集積回路を実現する
ときにチップ面積を増加させない。 (3)第3または第4の実施例に示した発明によると積
項線の電位は選択された信号線のみしか変化しないた
め、余分の電荷の放電が行われず、消費電流を節減でき
る。 (4)マイクロコンピュータの周辺機能を任意の論理関
数で結合することで、所望の機能を実現できる。また、
命令の実行によりPLAのプログラムを書き換えること
ができるため、一つのシステムのなかでダイナミックに
その機能を変更することができる。
合、電荷はAND平面ではNMOSトランジスタAT
0、AN0のみを通って放電され、同様にOR平面にお
いてもNMOSトランジスタOT0,ON0のみを通っ
て放電されるため、従来例のPLAよりも高速に動作さ
せることが可能である。 (2)ビット線と入力線またはビット線と出力線を兼用
するため配線数が増加せず、半導体集積回路を実現する
ときにチップ面積を増加させない。 (3)第3または第4の実施例に示した発明によると積
項線の電位は選択された信号線のみしか変化しないた
め、余分の電荷の放電が行われず、消費電流を節減でき
る。 (4)マイクロコンピュータの周辺機能を任意の論理関
数で結合することで、所望の機能を実現できる。また、
命令の実行によりPLAのプログラムを書き換えること
ができるため、一つのシステムのなかでダイナミックに
その機能を変更することができる。
【図1】本発明の第1の実施例としてのPLAの構成を
示す回路図
示す回路図
【図2】本発明の第2の実施例としてのPLAの構成を
示す回路図
示す回路図
【図3】本発明の第3の実施例としてのPLAの構成を
示す回路図
示す回路図
【図4】本発明の第4の実施例としてのPLAの構成を
示す回路図
示す回路図
【図5】従来のPLAの構成を示す回路図
【図6】本発明のマイクロコンピュータを示すブロック
図
図
【図7】本発明のマイクロコンピュータの動作を説明す
るためのブロック図
るためのブロック図
【図8】本発明のマイクロコンピュータの動作を説明す
るためのタイミング図
るためのタイミング図
AT0 NMOSトランジスタ AN0 NMOSトランジスタ ON0 NMOSトランジスタ OT0 NMOSトランジスタ AC0 NMOSトランジスタ AP0 NMOSトランジスタ Tφ1〜2 プリチャージ用NMOSトランジスタ Tc プルダウン用NMOSトランジスタ TR0〜3 トランスミッションゲート R0〜3 インバータゲート M1〜2 フリップフロップ G0 NORゲート G1〜2 トライステートゲート BIL ビット線兼入力線 NBL ビット線 C 制御線 BOL ビット線兼出力線 B1 周辺機能ブロック B2 DMA装置 B3 割り込み制御回路 L1 入力信号同期化回路 L2〜3 レジスタ L4 出力信号同期化回路 X,Y オーバーフロー信号
Claims (24)
- 【請求項1】AND平面への入力数がN本、積項数がM
本、OR平面の出力数がK本で、前記AND平面への入
力線と積項線の交点位置のトランジスタを積項線に接続
するか否かを記憶素子に書き込まれたデータにて制御を
行うプログラマブル・ロジック・アレイのAND平面に
おいて、直列に接続された2個のトランジスタを一組と
して、(N×M)組のトランジスタと(N×M)ビット
の記憶素子を備え、前記直列に接続された2個一組のト
ランジスタのソースを電源電位に、ドレインを積項線
に、一方のトランジスタのゲートにはAND平面への入
力線を、他方のトランジスタのゲートには記憶素子の出
力信号をそれぞれ接続し、前記記憶素子に設定されたデ
ータによりAND条件を生成するトランジスタを積項線
に接続するか否かを自由にプログラム可能としたことを
特徴とするプログラマブル・ロジック・アレイ。 - 【請求項2】AND平面への入力数がN本、積項数がM
本、OR平面の出力数がK本で、積項線とOR平面の出
力線の交点位置のトランジスタを前記OR平面の出力線
に接続するか否かを記憶素子に書き込まれたデータにて
制御を行うプログラマブル・ロジック・アレイのOR平
面において、直列に接続された2個のトランジスタを一
組として、(M×K)組のトランジスタと(M×K)ビ
ットの記憶素子を備え、前記直列に接続された2個一組
のトランジスタのソースを電源電位に、ドレインを前記
OR平面の出力線に、一方のトランジスタのゲートには
積項線を、他方のトランジスタのゲートには前記記憶素
子の出力信号をそれぞれ接続し、前記記憶素子に設定さ
れたデータによりOR条件を生成するトランジスタを出
力線に接続するか否かを自由にプログラム可能としたこ
とを特徴としたプログラマブル・ロジック・アレイ。 - 【請求項3】AND平面への入力数がN本、積項数がM
本、OR平面の出力数がK本のプログラマブル・ロジッ
ク・アレイのAND平面において、ソースとソースおよ
びドレインとドレインとを並列に接続した2個のトラン
ジスタを一組とするトランジスタペアをN組直列に接続
したものを一群として、M群のトランジスタと(N×
M)ビットの記憶素子を備え、前記直列接続された一群
のトランジスタの一方の端部のトランジスタペアのソー
スを電源電位に、他方の端部のトランジスタペアのドレ
インを積項線にそれぞれ接続し、それぞれのトランジス
タペアの一方のトランジスタのゲートには前記AND平
面への入力線を、他方のトランジスタのゲートには前記
記憶素子の出力信号を接続することで入力線のAND出
力を生成すると共に、前記記憶素子に設定されたデータ
により所望の入力線をAND条件に入れるか否かを自由
にプログラム可能としたことを特徴とするプログラマブ
ル・ロジック・アレイ。 - 【請求項4】請求項1記載のプログラマブル・ロジック
・アレイにおいて、(N×M)ビットの記憶素子をAN
D平面にアレイ状に配列し、同一のビット線に対してM
個の記憶素子を接続し、前記ビット線を介して前記記憶
素子へのデータの読み出しと書き込みを行うと共に、直
列に接続された2個一組のトランジスタの一方のゲート
に、対応する記憶素子と同一のビット線を接続すること
で、1本の信号線をビット線と前記AND平面への入力
線とに共用したことを特徴としたプログラマブル・ロジ
ック・アレイ。 - 【請求項5】請求項2記載のプログラマブル・ロジック
・アレイにおいて、(M×K)ビットの記憶素子をOR
平面にアレイ状に配列し、同一のビット線に対してM個
の記憶素子を接続し、前記ビット線を介して前記記憶素
子へのデータの読み出しと書き込みを行うと共に、直列
に接続された2個一組のトランジスタのドレインを、対
応する記憶素子と同一の前記ビット線に接続すること
で、1本の信号線をビット線と前記OR平面の出力線と
に共用した特徴としたプログラマブル・ロジック・アレ
イ。 - 【請求項6】請求項3記載のプログラマブル・ロジック
・アレイにおいて、(N×M)ビットの記憶素子をAN
D平面にアレイ状に配列し、同一のビット線に対してM
個の記憶素子を接続し、前記ビット線を介して記憶素子
へのデータの読み出しと書き込みを行うと共に、並列に
接続された2個一組のトランジスタペアの一方のトラン
ジスタのゲートに、対応する記憶素子と同一のビット線
を接続することで、1本の信号線をビット線とAND平
面への入力線とに共用したことを特徴としたプログラマ
ブル・ロジック・アレイ。 - 【請求項7】請求項1、請求項3、請求項4または請求
項6におけるいずれかのAND平面と、請求項2または
請求項5におけるOR平面とをあわせて持ったことを特
徴とするプログラマブル・ロジック・アレイ。 - 【請求項8】請求項4におけるAND平面と請求項5に
おけるOR平面とをあわせて持ち、積項線の電位を、直
列に接続された2個一組のトランジスタのソースが接続
された電源の電位に固定させる手段を備え、記憶素子に
対してデータの読み出しまたは書き込みを行う場合に
は、前記積項線の電位をソースの電位に固定し、前記積
項線がゲートに入力されたトランジスタをオフ状態にさ
せることを特徴とするプログラマブル・ロジック・アレ
イ。 - 【請求項9】請求項6におけるAND平面と請求項5に
おけるOR平面とをあわせて持ち、前記AND平面内の
積項線と前記OR平面内の積項線との間に、論理の反転
と、前記OR平面内の積項線を直列接続された2個一組
のトランジスタのソースが接続された電源の電位に固定
することが可能な制御手段を備え、記憶素子に対してデ
ータの読み出しまたは書き込みを行う場合には、前記O
R平面内の積項線の電位をソースの電位に固定し、前記
積項線がゲートに入力されたトランジスタをオフ状態に
させることを特徴とするプログラマブル・ロジック・ア
レイ。 - 【請求項10】請求項7から請求項9までのいずれかに
記載のプログラマブル・ロジック・アレイに対して、プ
ログラマブル・ロジック・アレイとして機能させるか記
憶装置として機能させるかを指示するための手段を有
し、記憶装置として機能させる場合には積項線の電位
を、OR平面内の直列接続された2個一組のトランジス
タのソースが接続された電源の電位に固定することで、
プログラマブル・ロジック・アレイの機能を殺し、汎用
のデータ記憶装置として使用可能にしたことを特徴とす
るプログラマブル・ロジック・アレイ。 - 【請求項11】請求項1から請求項10のいずれかに記
載のプログラマブル・ロジック・アレイを同一チップ内
に集積したことを特徴とするマイクロコンピュータ。 - 【請求項12】プログラマブル・ロジック・アレイのA
ND平面への入力線に、同一チップ内に集積されたNビ
ットのカウンタの最上位出力信号を接続したことを特徴
とする請求項11に記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項13】プログラマブル・ロジック・アレイのA
ND平面への入力線に、同一チップ内に集積されたNビ
ットのカウンタのオーバーフロー信号を接続したことを
特徴とする請求項11に記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項14】Nビットのカウンタと、Nビットのデー
タを保持するレジスタと、前記Nビットのカウンタのカ
ウント値とNビットのレジスタに保持された値とを比較
する比較器とを具備し、前記比較器の比較出力信号をプ
ログラマブル・ロジック・アレイのAND平面への入力
線に接続したことを特徴とする請求項11に記載のマイ
クロコンピュータ。 - 【請求項15】入力端子または入出力端子から入力され
た信号をマイクロコンピュータのシステムクロックに同
期させる手段を備え、同期化された端子入力信号をプロ
グラマブル・ロジック・アレイのAND平面への入力線
に接続したことを特徴とする請求項11に記載のマイク
ロコンピュータ。 - 【請求項16】同一チップ内に集積された周辺機能ブロ
ックからCPUへの割り込み要求信号をプログラマブル
・ロジック・アレイのAND平面への入力線に接続した
ことを特徴とする請求項11に記載のマイクロコンピュ
ータ。 - 【請求項17】命令の実行によりCPUから所望の値を
設定できるレジスタを少なくとも1ビット以上備え、前
記レジスタの出力をプログラマブル・ロジック・アレイ
のAND平面への入力線に接続したことを特徴とする請
求項11に記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項18】プログラマブル・ロジック・アレイのO
R平面の出力信号の少なくとも1本以上を、割り込み要
求信号として、同一チップに集積された割り込み制御回
路に入力したことを特徴とする請求項11に記載のマイ
クロコンピュータ。 - 【請求項19】プログラマブル・ロジック・アレイのO
R平面の出力信号の少なくとも1本以上を、転送要求信
号として同一チップに集積されたDMA(ダイレクト・
メモリ・アクセス)装置に接続したことを特徴とする請
求項11に記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項20】プログラマブル・ロジック・アレイのO
R平面の出力信号の少なくとも1本以上を、マイクロコ
ンピュータのシステムクロックに同期させ出力端子また
は入出力端子より出力させることを特徴とする請求項1
1に記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項21】マイクロコンピュータのシステムクロッ
クに同期させたOR平面の出力信号のうち少なくとも1
本以上をプログラマブル・ロジック・アレイのAND平
面への入力線に接続したことを特徴とする請求項11に
記載のマイクロコンピュータ。 - 【請求項22】プログラマブル・ロジック・アレイのO
R平面の少なくとも1本以上の出力信号を保持する手段
を備え、保持された出力信号の値を命令の実行により読
み出し可能としたことを特徴とする請求項11に記載の
マイクロコンピュータ。 - 【請求項23】プログラマブル・ロジック・アレイのO
R平面の少なくとも1本以上の出力信号を保持する手段
を備え、保持された出力信号のうち少なくとも1本以上
をプログラマブル・ロジック・アレイのAND平面への
入力線に接続したことを特徴とする請求項11に記載の
マイクロコンピュータ。 - 【請求項24】インストラクションを格納するための再
書き込み可能な不揮発性記憶素子とプログラマブル・ロ
ジック・アレイを同一チップ内に集積した、請求項11
から請求項23に記載のマイクロコンピュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4246284A JP2723765B2 (ja) | 1992-09-16 | 1992-09-16 | プログラマブル・ロジック・アレイおよびそれを用いたマイクロコンピュータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4246284A JP2723765B2 (ja) | 1992-09-16 | 1992-09-16 | プログラマブル・ロジック・アレイおよびそれを用いたマイクロコンピュータ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0697814A true JPH0697814A (ja) | 1994-04-08 |
| JP2723765B2 JP2723765B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=17146260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4246284A Expired - Fee Related JP2723765B2 (ja) | 1992-09-16 | 1992-09-16 | プログラマブル・ロジック・アレイおよびそれを用いたマイクロコンピュータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2723765B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6639845B2 (en) | 1999-07-02 | 2003-10-28 | Nec Corporation | Data holding circuit having backup function |
| JP4970630B1 (ja) * | 2009-03-19 | 2012-07-11 | アルテラ コーポレイション | ソフトエラーアップセット不感性を有する揮発性記憶素子 |
| CN110936985A (zh) * | 2019-12-25 | 2020-03-31 | 交控科技股份有限公司 | 一种集成tcms和ato的车载设备、方法和列车 |
-
1992
- 1992-09-16 JP JP4246284A patent/JP2723765B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6639845B2 (en) | 1999-07-02 | 2003-10-28 | Nec Corporation | Data holding circuit having backup function |
| JP4970630B1 (ja) * | 2009-03-19 | 2012-07-11 | アルテラ コーポレイション | ソフトエラーアップセット不感性を有する揮発性記憶素子 |
| CN110936985A (zh) * | 2019-12-25 | 2020-03-31 | 交控科技股份有限公司 | 一种集成tcms和ato的车载设备、方法和列车 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2723765B2 (ja) | 1998-03-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |