JPH07105040B2 - 磁気デイスク表面検査用ヘツドの切り替え機構 - Google Patents
磁気デイスク表面検査用ヘツドの切り替え機構Info
- Publication number
- JPH07105040B2 JPH07105040B2 JP502187A JP502187A JPH07105040B2 JP H07105040 B2 JPH07105040 B2 JP H07105040B2 JP 502187 A JP502187 A JP 502187A JP 502187 A JP502187 A JP 502187A JP H07105040 B2 JPH07105040 B2 JP H07105040B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- magnetic disk
- inspection
- axis carriage
- carriage
- Prior art date
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- Expired - Fee Related
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
- G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B23/00—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
- G11B23/50—Reconditioning of record carriers; Cleaning of record carriers ; Carrying-off electrostatic charges
- G11B23/505—Reconditioning of record carriers; Cleaning of record carriers ; Carrying-off electrostatic charges of disk carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/84—Processes or apparatus specially adapted for manufacturing record carriers
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、磁気ディスクの表面に存在する突起を除去
とその結果を検査する、磁気ディスクの表面突起検査装
置に関するものである。
とその結果を検査する、磁気ディスクの表面突起検査装
置に関するものである。
［従来の技術］ コンピュータシステムの記憶装置として使用される磁気
ディスクは、磁気媒体の微細化と性能の向上によります
ます高密度化している。このために磁気ディスクの表面
は極めて平滑なことが要求される。磁気ディスクの製造
においては、磁気膜の塗布後、これを平滑にするため研
磨（グラインド）されるが、研磨してもある程度、平滑
度（グライド）を阻害する突起があるので、さらにバー
ニッシュとよばれる工程により突起の除去がなされてい
る。これらの平滑化が行われたディスクに対して、突起
の有無が検査されるものであるが、研磨工程においては
微小な粒子が多量に発生するのでそれが検査装置および
その周辺に混入するのを避けて、バーニッシュとその結
果の検査は次段の工程とし、平滑検査装置（グライドテ
スター）とよばれる１装置で行われている。従って、グ
ライドテスターには、バーニッシュの機能と検査機能が
兼ねて設けられている。
ディスクは、磁気媒体の微細化と性能の向上によります
ます高密度化している。このために磁気ディスクの表面
は極めて平滑なことが要求される。磁気ディスクの製造
においては、磁気膜の塗布後、これを平滑にするため研
磨（グラインド）されるが、研磨してもある程度、平滑
度（グライド）を阻害する突起があるので、さらにバー
ニッシュとよばれる工程により突起の除去がなされてい
る。これらの平滑化が行われたディスクに対して、突起
の有無が検査されるものであるが、研磨工程においては
微小な粒子が多量に発生するのでそれが検査装置および
その周辺に混入するのを避けて、バーニッシュとその結
果の検査は次段の工程とし、平滑検査装置（グライドテ
スター）とよばれる１装置で行われている。従って、グ
ライドテスターには、バーニッシュの機能と検査機能が
兼ねて設けられている。
第２図は従来のグライドテスターのヘッドの切り替えお
よび移動機構の構造の概要を示す平面図で、磁気ディス
ク１に対してバーニッシュを行うバーニッシュヘッド２
と突起検査を行う突起検査ヘッド５とは互いに角度θを
なす支持具2aおよび5aに支持されて配置されている。各
支持具2aおよび5aは、それぞれキャリッジ３および６に
固定され、駆動モータ４および７により矢印Ｒの方向
（磁気ディスクの半径方向）に移動する。これらの動作
としては、まずキャリッジ６が後退して突起検査ヘッド
が磁気ディスク１から離れた状態で、キャリッジ３が前
進してバーニッシュヘッドが磁気ディスク１の表面に接
触して突起の除去がされ、表面全体の除去が終了する。
次に、バーニッシュヘッド２が後退し、代わって突起検
査ヘッド５が前進して検査が行う。検査の範囲は磁気デ
ィスク１の外側から中心までである。
よび移動機構の構造の概要を示す平面図で、磁気ディス
ク１に対してバーニッシュを行うバーニッシュヘッド２
と突起検査を行う突起検査ヘッド５とは互いに角度θを
なす支持具2aおよび5aに支持されて配置されている。各
支持具2aおよび5aは、それぞれキャリッジ３および６に
固定され、駆動モータ４および７により矢印Ｒの方向
（磁気ディスクの半径方向）に移動する。これらの動作
としては、まずキャリッジ６が後退して突起検査ヘッド
が磁気ディスク１から離れた状態で、キャリッジ３が前
進してバーニッシュヘッドが磁気ディスク１の表面に接
触して突起の除去がされ、表面全体の除去が終了する。
次に、バーニッシュヘッド２が後退し、代わって突起検
査ヘッド５が前進して検査が行う。検査の範囲は磁気デ
ィスク１の外側から中心までである。
さて、このようなグライドテスターは他の検査装置とと
もに磁気ディスク検査ラインが構成されて、流れ方式に
より各種の検査が行われているが、多くの検査ステーシ
ョンが連続するため、各装置の幅寸法はコンパクト化し
て極力小さくすることが要請されている。これに対し
て、第１図においては、２組のキャリッジ３および６の
なす角度θは、機構の配置上ほぼ直角に近く設定されて
いるため、空間占有率が大きい。ただしこの場合、角度
θを小さくして装置の横方向の寸法を縮小することには
機構上の無理があり行い難い。これに対して、簡易な方
法でコンパクト化できる方法が必要とされている。
もに磁気ディスク検査ラインが構成されて、流れ方式に
より各種の検査が行われているが、多くの検査ステーシ
ョンが連続するため、各装置の幅寸法はコンパクト化し
て極力小さくすることが要請されている。これに対し
て、第１図においては、２組のキャリッジ３および６の
なす角度θは、機構の配置上ほぼ直角に近く設定されて
いるため、空間占有率が大きい。ただしこの場合、角度
θを小さくして装置の横方向の寸法を縮小することには
機構上の無理があり行い難い。これに対して、簡易な方
法でコンパクト化できる方法が必要とされている。
［発明の目的］ この発明はグライドテスターにおいて、コンパクト化さ
れたヘッド切り替え機構を提供することを目的とするも
のである。
れたヘッド切り替え機構を提供することを目的とするも
のである。
［問題点を解決するための手段］ この発明は、回転中の磁気ディスクの表面に接触して、
表面に存在する突起を除去するバーニッシュヘッドと、
バーニッシュヘッドにより突起が除去された表面に残存
する突起を検査する突起検査ヘッドとよりなる磁気ディ
スク表面突起検査装置のヘッド切り替え機構であって、
バーニッシュヘッドと突起検査ヘッドとを取り付けたＸ
軸キャリッジと、Ｘ軸キャリッジを搭載したＹ軸キャリ
ッジとよりなる、X,Yキャリッジ機構を有するものであ
る。
表面に存在する突起を除去するバーニッシュヘッドと、
バーニッシュヘッドにより突起が除去された表面に残存
する突起を検査する突起検査ヘッドとよりなる磁気ディ
スク表面突起検査装置のヘッド切り替え機構であって、
バーニッシュヘッドと突起検査ヘッドとを取り付けたＸ
軸キャリッジと、Ｘ軸キャリッジを搭載したＹ軸キャリ
ッジとよりなる、X,Yキャリッジ機構を有するものであ
る。
上記のX,Y軸キャリッジ機構としては、そのＸ軸キャリ
ッジの移動によりバーニッシュヘッドと突起検査ヘッド
が切り替えられて、磁気ディスクの表面の一定の半径上
の動作位置にそれぞれセットされる。また、セットされ
た各ヘッドは、Ｙ軸キャリッジの移動により、上記の一
定の半径上を移動してそれぞれの動作をなすものであ
る。
ッジの移動によりバーニッシュヘッドと突起検査ヘッド
が切り替えられて、磁気ディスクの表面の一定の半径上
の動作位置にそれぞれセットされる。また、セットされ
た各ヘッドは、Ｙ軸キャリッジの移動により、上記の一
定の半径上を移動してそれぞれの動作をなすものであ
る。
［作用］ この発明による磁気ディスク表面検査用ヘッドの切り替
え機構においては、上記の機構の説明により判明するよ
うに、バーニッシュヘッドと突起検査ヘッドが同一のＸ
軸キャリッジに取り付けられているので、従来のほぼ直
角方向をなす２組のキャリッジを設けた場合に比較し
て、空間占有率がかなり低下してコンパクト化されるも
のである。
え機構においては、上記の機構の説明により判明するよ
うに、バーニッシュヘッドと突起検査ヘッドが同一のＸ
軸キャリッジに取り付けられているので、従来のほぼ直
角方向をなす２組のキャリッジを設けた場合に比較し
て、空間占有率がかなり低下してコンパクト化されるも
のである。
［実施例］ 第１図はこの発明による、磁気ディスク表面検査用ヘッ
ドの切り替え機構の実施例における、構造を示す概略の
平面図である。図において、磁気ディスク１の一定の半
径線1aをバーニッシュヘッド２および突起検査ヘッド５
の動作線とし、バーニッシュヘッド２および突起検査ヘ
ッド５は、駆動モータ９の回転によるＸ軸キャリッジ８
の移動により、この半径線1aの位置に移動することによ
り切り替えられてそれぞれの動作を行う。各動作は、Ｘ
軸キャリッジ８を搭載するＹ軸キャリッジ10が駆動モー
タ11の回転により移動して、半径線1aに沿って磁気ディ
スク１の外側より中心まで、バーニッシュまたは突起検
査を行うものである。なお、ストッパ12はヘッド２が動
作位置にあるときのＸ軸キャリッジ８の右側の限界位置
である。なおこれ以外にもストッパが設けられるが、こ
こでは省略する。
ドの切り替え機構の実施例における、構造を示す概略の
平面図である。図において、磁気ディスク１の一定の半
径線1aをバーニッシュヘッド２および突起検査ヘッド５
の動作線とし、バーニッシュヘッド２および突起検査ヘ
ッド５は、駆動モータ９の回転によるＸ軸キャリッジ８
の移動により、この半径線1aの位置に移動することによ
り切り替えられてそれぞれの動作を行う。各動作は、Ｘ
軸キャリッジ８を搭載するＹ軸キャリッジ10が駆動モー
タ11の回転により移動して、半径線1aに沿って磁気ディ
スク１の外側より中心まで、バーニッシュまたは突起検
査を行うものである。なお、ストッパ12はヘッド２が動
作位置にあるときのＸ軸キャリッジ８の右側の限界位置
である。なおこれ以外にもストッパが設けられるが、こ
こでは省略する。
ここで従来の機構とこの発明による機構のサイズを比較
する。
する。
第２図に示した従来の機構において、磁気ディスク１の
中心と駆動モータ４の（後端）までの長さをＡとする。
ヘッド５の側も同じである。次に第１図において、ヘッ
ド支持具2a、Ｙ軸キャリッジ10などを第２のヘッド支持
具2a、キャリッジ３と同じ長さのものとすると、両者の
縦方向の大きさ寸法はほぼ同一である。しかし、横方向
については、第２図の場合はキャリッジ３と６が直角方
向にあるので、駆動モータ４と７の端部の間隔Ａ′は、
ほぼ1.4Aである。これに対して、第１図の場合は、支持
具2aがＸ軸キャリッジ８の移動方向と直角に取り付けら
れているため、Ｘ軸キャリッジ８の長さをキャリッジ３
と等しいとすれば、その移動範囲ＢはＡにほぼ等しい。
すなわち、第２図の場合に比較して第１図は横方向の寸
法を小さくコンパクト化できるものである。
中心と駆動モータ４の（後端）までの長さをＡとする。
ヘッド５の側も同じである。次に第１図において、ヘッ
ド支持具2a、Ｙ軸キャリッジ10などを第２のヘッド支持
具2a、キャリッジ３と同じ長さのものとすると、両者の
縦方向の大きさ寸法はほぼ同一である。しかし、横方向
については、第２図の場合はキャリッジ３と６が直角方
向にあるので、駆動モータ４と７の端部の間隔Ａ′は、
ほぼ1.4Aである。これに対して、第１図の場合は、支持
具2aがＸ軸キャリッジ８の移動方向と直角に取り付けら
れているため、Ｘ軸キャリッジ８の長さをキャリッジ３
と等しいとすれば、その移動範囲ＢはＡにほぼ等しい。
すなわち、第２図の場合に比較して第１図は横方向の寸
法を小さくコンパクト化できるものである。
［発明の効果］ 以上の説明により明らかなように、この発明による磁気
ディスク表面検査用ヘッドの切り替え機構においては、
従来磁気ディスクの中心で直交する２軸の方向に設けら
れていたバーニッシュヘッドと突起検査ヘッドのキャリ
ッジに対して、キャリッジを中心から離れた位置で直交
するX,Y軸方向とし、ヘッドおよび支持具の取り付けを
Ｙ軸方向とすることにより、Ｘ軸（横）方向の寸法が縮
小される効果があり、磁気ディスク検査ラインのグライ
ドテスターのコンパクト化に寄与するものである。
ディスク表面検査用ヘッドの切り替え機構においては、
従来磁気ディスクの中心で直交する２軸の方向に設けら
れていたバーニッシュヘッドと突起検査ヘッドのキャリ
ッジに対して、キャリッジを中心から離れた位置で直交
するX,Y軸方向とし、ヘッドおよび支持具の取り付けを
Ｙ軸方向とすることにより、Ｘ軸（横）方向の寸法が縮
小される効果があり、磁気ディスク検査ラインのグライ
ドテスターのコンパクト化に寄与するものである。
【図面の簡単な説明】 第１図は、この発明による磁気ディスク表面検査用ヘッ
ドの切り替え機構の実施例における、構造を示す平面
図、第２図は従来のヘッド切り替え機構の構造の平面図
である。 １……磁気ディスク、1a……半径線、 ２……バーニッシュヘッド、2a……支持具、 3,6……キャリッジ、５……突起検査ヘッド、 5a……支持具、4,7,9,11……駆動モータ、 ８……Ｘ軸キャリッジ、10……Ｙ軸キャリッジ、 12……ストッパ。
ドの切り替え機構の実施例における、構造を示す平面
図、第２図は従来のヘッド切り替え機構の構造の平面図
である。 １……磁気ディスク、1a……半径線、 ２……バーニッシュヘッド、2a……支持具、 3,6……キャリッジ、５……突起検査ヘッド、 5a……支持具、4,7,9,11……駆動モータ、 ８……Ｘ軸キャリッジ、10……Ｙ軸キャリッジ、 12……ストッパ。
Claims (2)
- 【請求項１】回転中の磁気ディスクの表面に接触して、
該表面に存在する突起を除去するバーニッシュヘッド
と、該バーニッシュヘッドにより該突起が除去された上
記表面に残存する突起を検査する突起検査ヘッドとより
なる磁気ディスク表面突起検査装置において、上記バー
ニッシュヘッドと上記突起検査ヘッドとを取り付けたＸ
軸キャリッジと、該Ｘ軸キャリッジを搭載したＹ軸キャ
リッジとよりなるX,Yキャリッジ機構を有することを特
徴とする、磁気ディスク表面検査用ヘッドの切り替え機
構。 - 【請求項２】Ｘ軸方向の移動により上記バーニッシュヘ
ッドと上記突起検査ヘッドとが切り替えられて、上記磁
気ディスクの表面の一定の半径上の動作位置にそれぞれ
をセットする上記Ｘ軸キャリッジと、該セットされた上
記バーニッシュヘッドと上記突起検査ヘッドを、上記一
定の半径上をそれぞれ移動させる上記Ｙ軸キャリッジと
よりなる上記X,Y軸キャリッジ機構を有する、特許請求
の範囲第１項記載の磁気ディスク表面検査用ヘッドの切
り替え機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP502187A JPH07105040B2 (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 | 磁気デイスク表面検査用ヘツドの切り替え機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP502187A JPH07105040B2 (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 | 磁気デイスク表面検査用ヘツドの切り替え機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63175278A JPS63175278A (ja) | 1988-07-19 |
| JPH07105040B2 true JPH07105040B2 (ja) | 1995-11-13 |
Family
ID=11599855
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP502187A Expired - Fee Related JPH07105040B2 (ja) | 1987-01-14 | 1987-01-14 | 磁気デイスク表面検査用ヘツドの切り替え機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07105040B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5423111A (en) * | 1992-09-22 | 1995-06-13 | Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. | Magnetic disk tester |
-
1987
- 1987-01-14 JP JP502187A patent/JPH07105040B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63175278A (ja) | 1988-07-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |