JPH07106255A - 縦型熱処理装置 - Google Patents

縦型熱処理装置

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JPH07106255A
JPH07106255A JP34778493A JP34778493A JPH07106255A JP H07106255 A JPH07106255 A JP H07106255A JP 34778493 A JP34778493 A JP 34778493A JP 34778493 A JP34778493 A JP 34778493A JP H07106255 A JPH07106255 A JP H07106255A
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健一 山賀
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裕一 見方
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 マニホールドの腐食を防止して熱処理の自由
度を大きくすることのできる縦型熱処理装置を提供する
こと。 【構成】 反応管の下部側の金属製のマニホールド3の
内周面を覆うように石英よりなるカバー4を設け、カバ
ー4とマニホールド3との間の間隙Sにガス導入管40
からN2 ガスを供給してパージする。ガス供給管5、7
及び排気管6、8の内端部分を石英管52、62、7
2、82で構成すると共に、カバー4に貫通穴を形成し
てこの中に石英板を嵌合させて溶着し、石英板の穴の中
に石英管を挿入する。また例えば石英管と石英板との間
に鍔部を備えた筒状体を嵌合させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、縦型熱処理装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハの製造工程における熱処理
工程の一つに減圧CVD( Chemical vapor deposition)
と呼ばれる工程がある。この減圧CVDは減圧状態下で
半導体ウエハ(以下「ウエハ」という)の表面に処理ガ
ス中の成膜成分を気相反応により形成する方法であり、
その装置としては大気の巻き込みが少ない縦型熱処理装
置が主流になりつつある。
【0003】従来の縦型の減圧CVD装置は、図5に示
すように石英製の内管1a、及び外管1bよりなる二重
管構造の反応管1と、この反応管1を取り囲むように設
けられたヒータ11と、反応管1の下部側に設けられた
ステンレス製のマニホールド12とを有してなり、マニ
ホールド12の周囲には複数種類の処理ガスを導入でき
るように複数のガス導入管13(図では1本のみ図示し
てある)と排気管14とが接続されている。そしてCV
Dを行うにあたっては、ウエハボート15に多数枚のウ
エハWを積層してボートエレベータ16を上昇させてウ
エハWをロードし、反応管1内を所定の温度に加熱する
と共に所定の真空度に維持しながら処理ガスを反応管1
内に導入してCVDによりウエハWの表面に薄膜を形成
するようにしている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで減圧CVDを
行う場合、複数種類の処理に対応できるようにステンレ
ス製のマニホールド12が用いられているため耐食性は
あるが、処理温度がかなり高くなると、腐食性が大きい
ガスを用いた場合には腐食が促進されてしまう。このた
め高温下においては、使用されるガスの種類が制限され
てしまうという問題があった。
【0005】また本発明者は、酸化・拡散処理と減圧C
VDとを共通の炉で行うことのできる縦型熱処理装置を
検討しているが、酸化処理を行うにあたって、HCl
(塩化水素)を処理ガス中に混入させることがある。こ
のHClは不純物を外部に持ち去り、良質な膜を得られ
る利点があるが、H2 Oが存在すると極めて強い腐食性
を呈し、ステンレス製のマニホールド12の内周面が腐
食し、パーティクルや重金属の汚染源になってしまう。
なおマニホールドを石英により構成すれば腐食という問
題は解消できるが、製作が困難であって高価格になる
上、外部配管と吸排気ポートとの接合が困難である。
【0006】本発明は、このような事情のもとになされ
たものであり、その目的は、処理の自由度が大きい縦型
熱処理装置を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、縦型
の反応管の下部側に、ガス供給管及び排気管が接続され
た金属製のマニホールドが設けられ、多数の被処理体を
保持具に搭載してマニホールドの下端開口部より反応管
内に搬入する縦型熱処理装置において、前記マニホール
ドの内周面を覆うように設けられた耐熱材よりなるカバ
ーと、このカバーとマニホールドの内周面との間の間隙
に不活性ガスを導入するための不活性ガス導入手段とを
備えてなることを特徴とする。
【0008】請求項2の発明は、請求項1の発明におい
て、カバーを石英により構成し、このカバーの側周面に
配管嵌合用穴を形成すると共に、配管嵌合用の穴の周囲
を平面とし、ガス供給管及び/または排気管の内端部分
を石英により構成して前記配管嵌合用の穴に嵌合させる
ことを特徴とする。
【0009】請求項3の発明は、請求項2の発明におい
て、鍔部を備えた石英よりなる筒状体を、当該鍔部が配
管嵌合用の穴の周囲の平面部の内面または外面に面接触
するように、配管嵌合用の穴に嵌合させると共に、前記
ガス供給管及び/または排気管の内端部分を前記筒状体
内に挿入したことを特徴とする。
【0010】請求項4の発明は、請求項2の発明におい
て、ガス供給管及び/または排気管の内端部分に石英よ
りなる鍔部を一体的に形成し、この鍔部が配管嵌合用の
穴の周囲の平面部の内面または外面に面接触するよう
に、前記内端部分を配管嵌合用の穴に挿入したことを特
徴とする。
【0011】
【作用】請求項1の発明によれば、マニホールドの内周
面を覆うように耐熱材のカバーを設けてその間の間隙に
不活性ガスを供給しているため、この不活性ガスのパー
ジによりマニホールドの内周面が処理ガスと接触するこ
とが避けられ、マニホールドの腐食を防止することがで
きる。
【0012】請求項2または請求項4の発明によれば、
石英よりなるカバーに貫通穴を形成し、その周囲を平面
としその平面にガス配管(ガス供給管及び排気管)の内
端側の石英管を嵌合させているので、ガス配管とカバー
との間隙を小さくすることができ、また製作が容易であ
る。そしてこの場合請求項3の発明のように筒状体の中
にガス配管を挿入し、筒状体の鍔部と平面部とを面接触
させれば石英管の径やカバーの貫通穴については、高い
位置精度が要求されない。
【0013】
【実施例】図1は本発明の実施例に係る縦型熱処理装置
を示す図、図2及び図3は、夫々図1の縦型熱処理装置
の要部を示す断面図及び分解斜視図である。反応管2
は、両端が開口すると共に鉛直方向に配設された耐熱材
料例えば石英からなる内管2aと、この内管2aを囲む
ように間隙を介して同心円状に配置された有底筒状の例
えば石英からなる外管2bとを備えた二重管構造として
構成されている。
【0014】前記反応管2の外側には、断熱体21の内
側に抵抗発熱線よりなるヒータ22を取り付けて構成し
た加熱炉23が反応管2を取囲むように配設されてい
る。前記反応管2は、ベースプレート30に固定された
マニホールド3に保持されており、このマニホールド3
は、例えばステンレスにより構成されている。このマニ
ホールド3の下端開口部には、例えばステンレスよりな
るキャップ部31が開閉自在に設けられており、閉じた
ときには図示しないOリングを介して開口部を気密封止
する。
【0015】このキャップ部31は例えばボールネジに
より昇降されるボートエレベータ24上に配置されてお
り、キャップ部31の上には保温筒25を介して例えば
石英よりなるウエハボート26が載置されている。この
ウエハボート26は多数枚のウエハWを各々水平な状態
で上下に積層して保持するためのものである。ただし図
2の例では、ボートエレベータ24に回転軸27を備え
た回転機構28が取り付けられ、保温筒25は回転軸2
7により回転する回転台29上に載置されている。
【0016】前記マニホールド3の内側には、当該マニ
ホールド3の内周面を覆うように耐熱材例えば石英より
なるカバー4が設けられている。このカバー4は、上部
側の口径よりも下部側の口径が小さく作られており、そ
の途中の段差部がマニホールド3の内周面に形成された
環状突片32に当接すると共に、カバー4の上端外縁が
マニホールド3の上端内縁に係合している。
【0017】また前記キャップ部31の上面には、耐熱
材例えば石英よりなるリング部材33がキャップ部31
に対して同心円状に埋設されており、このリング部材3
3の外縁部及び内縁部は上方側に屈曲起立された起立片
34、35(図2参照)をなしている。そして前記カバ
ー4の下端部は、リング部材33の外縁側の起立片34
と一定の間隔(0.05〜0.7cm)を保った状態で
保持されている。また前記保温筒25の底部には環状に
脚部25aが形成されており、保温筒25は、この脚部
25aがリング部材33の内縁側の起立片35の外側と
一定の間隔(0.05〜0.7cm)を保った状態で保
持されている。
【0018】前期マニホールド3の側面には、内管2a
の内側の領域に処理ガスを供給するための第1のガス供
給管5と、前記内管2a及び外管2bの間の間隙から処
理ガスを排気するための第1の排気管6とが接続されて
いる。これらガス供給管5及び排気管6は減圧CVDの
ために用いられる配管系であり、ガス供給管5及び排気
管6の外端側には夫々図示しないガス供給源及び真空ポ
ンプが接続されている。
【0019】更に前記マニホールド3の側面には、減圧
CVDのための配管系とは別に、前記内管2a及び外管
2bの間の間隙に処理ガスを供給するための第2のガス
供給管7と、内管2aの内側の領域から処理ガスを排気
するための第2の排気管7とが接続されている。これら
第2のガス供給管7及び排気管8には酸化処理のために
用いられる配管系であって、ガス供給管7及び排気管8
の外端側には夫々図示しないガス供給管及び排気ポンプ
が接続されている。
【0020】ここでこれら配管系と前記カバー4との接
続構造について図2及び図3を参照しながら述べる。例
えば第1のガス供給管5において、吸気ポート51から
マニホールド3内に亘る内端部分は、石英管52により
構成されると共にこの石英管52の内端は上方側に屈曲
しており、吸気ポート51から外側はステンレス管53
により構成されている。
【0021】一方前記カバー4の側周面には第1のガス
供給管5に対応する円形の貫通穴41(図3参照)が形
成されており、この貫通穴41内には、当該貫通穴41
に適合する形状であってかつ貫通穴41を塞ぐことので
きる十分な厚さをもった平面を形成する石英板(この例
では図3からもわかるようにリング状に構成されてい
る)54が嵌合されかつ溶着されている。石英板54に
は、配管嵌合用の穴55(図3参照)が形成されてお
り、内端側に鍔部56が形成されかつ内径が石英管52
の管径に適合する石英よりなる筒状体57が当該石英板
の穴55内に嵌合されると共に、鍔部56の内面が石英
板54の内面に面接触している。穴55は筒状体57の
外径より4mm程度大きくなっており、マンホールド3
とカバー4の軸ズレを吸収できる構造になっている。更
に前記筒状体57の中に石英管52が挿入されており、
こうしてこの例では、石英管52を筒状体57を介し
て、石英板54の配管嵌合用の穴55に嵌合している。
【0022】そして第2のガス供給管7及び排気管8に
ついても同様にしてカバー4に接続されているが、この
例では第1の排気管6については筒状体を用いない点で
他の配管の接続構造と異なっている。即ち第1の排気管
6における石英管の内端部の管壁が外側から削り取られ
て縮径されており、その縮径部分6aが石英板64の貫
通穴65に嵌合すると共に管壁の段差部分6bが石英板
64の内周面に当接している。
【0023】なお図2、図3中42〜44は貫通穴、6
1、81は排気ポート、71は吸気ポート、62、7
2、82は石英管、63、73、83はステンレス管、
64、74、84はカバー4に溶着された石英板、6
5、75、85は配管嵌合用の穴、76、86は鍔部、
77、87は石英よりなる筒状体である。
【0024】そして前記マニホールド3の上部側及び下
部側には、マニホールド3の内周面とカバー4との間の
間隙Sに不活性ガス例えばN2 ガスを導入して処理ガス
の侵入を阻止するための不活性ガス導入手段例えばガス
供給管40a、40bが夫々接続されている。
【0025】またキャップ部31には、キャップ部31
と保温筒25との間の間隙にN2 ガスを導入するための
ガス供給管40cが接続されている。
【0026】次に上述実施例の作用について説明する。
先ずヒータ22により反応管2内を例えば780℃の均
熱状態に加熱し、被処理体であるウエハWを例えば50
枚棚状にウエハボート35に保持して、ボートエレベー
タ33により反応管2内にロードする。次いで図示しな
い真空ポンプにより第1の排気管6を介して反応管2内
を例えば10-3Torrのオーダの減圧状態まで真空排
気した後、第1のガス供給管5を通じて、処理ガス例え
ばアンモニア(NH3 )ガスとジクロルシラン(SiH
2 Cl2 )ガスとを夫々例えば毎分0.03リットル及
び0.03リットルの流量で流した混合ガスを内管2a
の内側の領域に供給する。
【0027】そして反応管2内を例えば1Torrの減
圧状態に維持するように圧力制御しながら前記内管2a
及び外管2b間の間隙から排気管6を通じて排気し、ウ
エハWの表面にSi3 4 膜が形成される。このときガ
ス供給管40a〜40cによりカバー4とマニホールド
3との間隙S、及びキャップ部31と保温筒25との間
隙内にN2 ガスを供給して、処理ガスが間隙内に侵入す
るのを防止している。この実施例ではカバー4はマニホ
ールド3内に載置されており、保温筒25はキャップ部
31上に載置されているだけであるからこれらの間に隙
間があり、N2ガス(窒素ガス)の一部はその隙間から
カバー4よりも炉の内方側に流れ出すと共に、他の一部
は排気管6における排気ポート61と石英管62との隙
間からステンレス管63内に吸い込まれる。
【0028】しかる後反応管2内の雰囲気を例えばN2
ガスにより置換すると共に例えば50℃/minの昇温
スピードで反応管2内の温度を約1000℃付近まで昇
温する。N2 ガスによる置換は、例えば第1のガス供給
管4と同様にマニホールド3に設けられた図示しないガ
ス供給管からN2 ガスを内管2aの内側に供給しながら
第1の排気管6により真空排気を行うことによって行わ
れる。
【0029】そして真空排気を停止した後、第2のガス
供給管6により内管2aと外管2bとの間に例えばH2
OとHClとを夫々流量毎分10リットル及び1リット
ルで流した混合ガスを供給すると共に内管2aの内側か
ら第2の排気管8を通じて排気し、反応管2内を常圧状
態にする。こうしてSi3 4 膜の表面が酸化されてS
iO2 膜が形成される。この酸化処理中においてもガス
供給管40よりN2 ガスを前記間隙Sにパージする。
【0030】上述実施例によればマニホールドの内周面
を石英よりなるカバー4で覆い、カバー4とマニホール
ド3との間の間隙SにN2 ガスを供給してパージしてい
るため、このN2 ガスによりマニホールド3と処理ガス
雰囲気とが遮断され、高温下で腐食性の強いガスを使用
してもマニホールド3の腐食が防止される。従って例え
ばHClガスを含む酸化処理用のガスを用いて1000
℃以上もの高温で酸化処理を行ってもマニホールド3の
腐食が進行しないので、CVDと酸化処理とを共用でき
る装置として使用できる。
【0031】そしてカバー4の側周面に貫通穴41〜4
4を形成して、この中に石英板54、64、74、84
を嵌合し、上述のようなガス配管(5〜8)の接続構造
を採用すれば、ガス配管(5〜8)とカバー4との間の
隙間を極力小さくできると共に、貫通穴41〜44の位
置精度が低くてよいので製作が容易である。即ち石英管
52、62、72、82をカバー4に一体化する場合に
は、マニホールド3の吸気ポートや排気ポートの各々の
高さ位置及び周方向位置が異なるので、これらに対応し
て石英管52、62、72、82を取り付けることは極
めて困難であるが、上述のように例えば筒状体57を用
いてこの中に石英管52を若干の余裕をもって挿入すれ
ば鍔部56と石英板74との擦り合わせにより吸気ポー
トまたは排気ポートと貫通穴との位置ずれ分が吸収され
ると共に鍔部56と石英板74とが面接触するので隙間
を小さくできる。
【0032】また第1の排気管6の場合のように石英管
62の内端に段差部6bを形成して石英板64内に若干
の余裕をもって挿入した場合にも段差部6bと石英板6
4との擦り合わせにより同様に位置ずれ分が吸収でき
る。この場合各石英管52、62、72、82を吸気ポ
ート(あるいは排気ポート)の径よりも若干小さくして
おくことにより、上述の位置ずれ分を十分吸収すること
ができる。そしてまたキャップ部31についても、石英
のリング部材33により保温筒25とカバー4との間を
覆っているため処理ガスによる腐食が抑えられる。
【0033】更に成膜処理及び酸化処理を共通の反応管
2を用いて行っているため、従来のように別々の装置で
処理した場合に比べ、スループットが格段に向上すると
共に装置の占有スペースを狭くすることができ、更にウ
エハWの移載に伴うウエハWの破損のおそれもないし、
またSi3 4 膜を形成した後ウエハWを反応管2から
搬出することなく続けてSiO2 膜を形成しているた
め、これらの薄膜の間に不要な酸化膜が形成されること
もないし、水分などの不純物が混入することもない。
【0034】以上においてガス配管(5〜8)とカバー
4との接続構造は上述実施例以外の構造であってもよ
く、例えば図4に示すようにガス供給管9における石英
よりなる内端部分に石英よりなる鍔部91を一体的に形
成する一方、マニホールド4の配管嵌合用の穴45の周
囲を平面部46とし、前記鍔部91が前記平面部46の
内面または外面に面接触するように、前記内端部分を穴
45に挿入する構造としてもよい。なおこのような構造
は、排気管をマニホールドに取り付ける場合に適用して
もよい。カバー4の材質としては石英に限られるもので
はなく、またカバー4とマニホールド3との間の間隙S
に供給する不活性ガスとしてはN2 ガス以外のガスであ
ってもよい。
【0035】更に本発明は、上述のように酸化・拡散炉
とCVD炉とを合体した構成とする代りに、CVD炉専
用の構造であってもよい。
【0036】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、マニホールド
の内周面を覆うように耐熱材のカバーを設けてその間の
間隙に不活性ガスを供給しているためマニホールドの腐
食を防止することができ、処理ガスの種類や処理温度の
制限を緩和することができる。
【0037】請求項2及び請求項4の発明によれば、石
英よりなるカバーに配管嵌合用穴を形成し、その周囲に
平面を形成してその平面部にガス配管(ガス供給管及び
排気管)の内端側の石英管を嵌合させているので、ガス
配管とカバーとの間隙を小さくすることができ、また製
作が容易である。そしてこの場合請求項3の発明のよう
に筒状体の中にガス配管を挿入し、筒状体の鍔部と石英
板とを面接触させれば石英管の径やカバーの配管嵌合用
穴の位置精度がそれ程高くなくてよいので製作が容易で
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例を示す断面図である。
【図2】本発明の実施例の要部を示す断面図である。
【図3】本発明の実施例の要部を示す分解斜視図であ
る。
【図4】本発明の他の実施例の一部を示す分解斜視図で
ある。
【図5】従来の縦型熱処理装置を示す断面図である。
【符号の説明】
2 反応管 26 ウエハボート 3 マニホールド 31 キャップ部 4 カバー 5、7 ガス供給管 6、8 排気管 51、61、71、81 石英管 54、64、74、84 石英板 57、67、87 鍔部 40 ガス(N2 ガス)導入管 S 間隙
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山賀 健一 神奈川県津久井郡城山町町屋1丁目2番41 号 東京エレクトロン東北株式会社相模事 業所内 (72)発明者 見方 裕一 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1 株式会 社東芝研究開発センター内 (72)発明者 山本 明人 神奈川県川崎市幸区小向東芝町1 株式会 社東芝研究開発センター内

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 縦型の反応管の下部側に、ガス供給管及
    び排気管が接続された金属製のマニホールドが設けら
    れ、多数の被処理体を保持具に搭載してマニホールドの
    下端開口部より反応管内に搬入する縦型熱処理装置にお
    いて、 前記マニホールドの内周面を覆うように設けられた耐熱
    材よりなるカバーと、 このカバーとマニホールドの内周面との間の間隙に不活
    性ガスを導入するための不活性ガス導入手段と、 を備えてなることを特徴とする縦型熱処理装置。
  2. 【請求項2】 カバーを石英により構成し、このカバー
    の側周面に配管嵌合用穴を形成すると共に、配管嵌合用
    の穴の周囲を平面部とし、ガス供給管及び/または排気
    管の内端部分を石英により構成して前記配管嵌合用の穴
    に嵌合させることを特徴とする請求項1記載の縦型熱処
    理装置。
  3. 【請求項3】 鍔部を備えた石英よりなる筒状体を、当
    該鍔部が配管嵌合用の穴の周囲の平面部の内面または外
    面に面接触するように、配管嵌合用の穴に嵌合させると
    共に、前記ガス供給管及び/または排気管の内端部分を
    前記筒状体内に挿入したことを特徴とする請求項2記載
    の縦型熱処理装置。
  4. 【請求項4】 ガス供給管及び/または排気管の内端部
    分に石英よりなる鍔部を一体的に形成し、この鍔部が配
    管嵌合用の穴の周囲の平面部の内面または外面に面接触
    するように、前記内端部分を配管嵌合用の穴に挿入した
    ことを特徴とする請求項2記載の縦型熱処理装置。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6187102B1 (en) 1998-11-26 2001-02-13 Tokyo Electron Limited Thermal treatment apparatus
JP2002299334A (ja) * 2001-03-29 2002-10-11 Tokyo Electron Ltd 縦型熱処理装置
JP2006290718A (ja) * 2005-03-17 2006-10-26 Dainippon Printing Co Ltd 水素製造装置およびその製造方法
JP2006347844A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Dainippon Printing Co Ltd 水素製造装置
KR100966519B1 (ko) * 2002-03-15 2010-06-29 에이에스엠 인터내셔널 엔.브이. 다수의 원주 채널을 가진 프로세스 튜브 지지 슬리브
KR101347721B1 (ko) * 2012-04-18 2014-01-03 (주)제니스월드 콜렉터 제조장치
JP2019145822A (ja) * 2019-04-11 2019-08-29 光洋サーモシステム株式会社 熱処理装置
CN110977355A (zh) * 2019-12-21 2020-04-10 张忠恕 一种化学气象沉积cvd外管及其加工工艺
WO2024042621A1 (ja) * 2022-08-23 2024-02-29 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014038516A (ja) * 2012-08-17 2014-02-27 Hayashi Bussan Co Ltd 縦長な交通標識

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6187102B1 (en) 1998-11-26 2001-02-13 Tokyo Electron Limited Thermal treatment apparatus
JP2002299334A (ja) * 2001-03-29 2002-10-11 Tokyo Electron Ltd 縦型熱処理装置
KR100966519B1 (ko) * 2002-03-15 2010-06-29 에이에스엠 인터내셔널 엔.브이. 다수의 원주 채널을 가진 프로세스 튜브 지지 슬리브
JP2006290718A (ja) * 2005-03-17 2006-10-26 Dainippon Printing Co Ltd 水素製造装置およびその製造方法
JP2006347844A (ja) * 2005-06-20 2006-12-28 Dainippon Printing Co Ltd 水素製造装置
KR101347721B1 (ko) * 2012-04-18 2014-01-03 (주)제니스월드 콜렉터 제조장치
JP2019145822A (ja) * 2019-04-11 2019-08-29 光洋サーモシステム株式会社 熱処理装置
CN110977355A (zh) * 2019-12-21 2020-04-10 张忠恕 一种化学气象沉积cvd外管及其加工工艺
WO2024042621A1 (ja) * 2022-08-23 2024-02-29 株式会社Kokusai Electric 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム

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