JPH0711649B2 - 直交偏波2周波発生光源 - Google Patents
直交偏波2周波発生光源Info
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- JPH0711649B2 JPH0711649B2 JP63321808A JP32180888A JPH0711649B2 JP H0711649 B2 JPH0711649 B2 JP H0711649B2 JP 63321808 A JP63321808 A JP 63321808A JP 32180888 A JP32180888 A JP 32180888A JP H0711649 B2 JPH0711649 B2 JP H0711649B2
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Description
基板、光導波路などを利用して光を周波数変調する光集
積回路によって構成され、単一の周波数で、かつ、1つ
の直線偏光(TEモードもしくはTMモードのどちらか一
方)の光から、直交する2つの直線偏光の光(TEモー
ド、TMモード)を周波数の差をもたせて出力する直交偏
波2周波発生光源に関する。
り、光波面の位相の差を利用した干渉計測技術が急速に
進展した。
は、干渉縞の間隔や干渉パターンの点滅周期など位相面
の変化を光量変化として検出し、それを微小変位測定な
どに応用してきた。すなわち、干渉計内での光路差を、
被測定物の屈折率や凹凸形状によって変化させ、出力光
による干渉パターンが格子縞であればその格子間隔が、
また、出力光による干渉パターンが点滅信号であればそ
の点滅間隔がそのまま光源波長で換算されて被測定物の
屈折率値や表面の凹凸変位として測定されてきた。
て検出するため、測定精度や対雑音性能で限界に達した
ことから、最近では2つの異なる周波数の光波を干渉さ
せる光ヘテロダイン干渉計測法が注目され始めてきた。
この光ヘテロダイン干渉測定法では、2つの光源の周波
数の差によるビート信号を、出力光の搬送波(キャリ
ア)として使用する。
れるので、該キャリアを中心周波数信号とした交流的な
信号処理が可能となり、精度、対雑音性能ともに飛躍的
に向上した。該光ヘテロダイン干渉測定法において重要
な技術は、周波数シフト技術であり、この技術には周波
数が異なり、かつ、現在する光検出器で検出可能なビー
ト信号が得られる2周波光源が必要である。
種類考えられている。
モードで同時に発振させる方法であり、 (2)第2の方法は2台の周波数安定化レーザを周波数
オフセットロックして使用する方法である。
ぎて光ヘテロダイン干渉計測法に適用するには困難な問
題が多い。
であり、1台のレーザの光を2分し、その一方もしくは
両方に光学位相変調素子を用いて周波数シフトを行う方
法である。
偏光素子などが用いられたが、今日ではブラッグ回折を
利用したバルク型の音響光変調素子がよく用いられてい
る。このバルク型の音響光変調素子はテルルガラスなど
の光学材料の中に超音波を進行させて位相格子を形成
し、そのブラッグ回折によるドップラー周波数シフトを
使用したものである。これを、干渉計に使用する方法と
しては、1個の光学位相変調素子で得られる0次と1次
の回折光を利用する方法と駆動周波数の異なる2個の光
学位相変調素子の各々の1次回折光を利用する方法とが
ある。後者の方法では、偏光状態の直交する成分にそれ
ぞれ周波数シフトを与えることができるので、直交偏波
2周波発生光源として利用価値が高い。
部がなく、小型でシフトする周波数も高くできるといっ
た長所を有する一方、量産に向かず高価な点、ブラッグ
回折条件を満足させる高精度な光学調整が必要な点、同
一光軸上に偏光状態の直交する成分を一致させ難い点、
さらに、2周波光源として構成した場合、ビームスプリ
ッタ、反射ミラー、波長板等の構成部品が多く必要とな
り、全体として複雑大型化し、そのために機械的外乱に
弱い点などの欠点が残されている。
用した2周波光源での問題点は、バルク型の光学部品を
用いたいわゆる、立体光学系のもつ根本的は欠陥であ
る。
は、光透過性及び電気光学効果を有する結晶基板上に形
成する光導波路と、該結晶基板の有する電気光学効果を
利用し、光周波数シフターの光集積化を行い、バルク型
の光学系の欠点を克服した。
の物理的特性である光の伝搬方向をz軸方向、印加電界
方向をx軸方向にとると、結晶の主軸変換が生じるとい
う現象を利用して、同一光軸上に偏光状態の直交する成
分を、異なる周波数シフトを与えて出力させる方法とし
た。
例における構成図を示す。
軸結晶の結晶基板を示す。
1つが異なるために結晶のどの切り出し方向の基板を使
うかにより、作製するデバイスの動作特性が異なり、デ
バイスの特性等を決定する上で結晶方向が非常に重要な
ファクターとなる。
ウムのような基板を利用すると良い。
導波路で構成した光導波型マッハツェンダー干渉計を示
す。ただし、この光導波路としては、初期Ti膜厚350
Å、初期Ti膜幅4μm、拡散温度995℃、拡散時間6h、
第1次拡散雰囲気Ar、第2次拡散雰囲気O2の条件で作製
したものを使い、また、このとき光伝搬モードがシング
ルモードになっている光導波路を使用する。
導波路3、第1の直線型光導波路4a、第2の直線型光導
波路4b及び合波干渉型光導波路5で構成され、また該第
1及び第2の直線型光導波路4a、4bは、光の進行方向が
前記1軸結晶の結晶基板1のz軸方向となるように載置
する。
で、等位相、等光量で2つに分割され、それぞれ前記第
1の直線型光導波路4a、第2の直線型光導波路4bを伝搬
した後に、前記合波干渉型光導波路5で再び1つに合成
されることになる。
3の電極を示す。
となって、3つの電極型の光位相補償器23を構成し、さ
らに、主軸変換が生ずることなく変調を行わせるため前
記第1及び第2の直線型光導波路4a、4b上で印加電界方
向がy軸方向に加わるように設置する。
電極12は、それぞれ一対の組をなし、該第1の電極6、
第2の電極7、第3の電極8の後段に位置し、前記第1
及び第2の直線型光導波路4a、4bを挟む形で印加電界方
向がx軸方向になるように設置され、第1及び第2の光
位相変調器24、25の電極を構成する。
前記結晶基板1の端面を光学研磨して得た光入射口と該
光を出力させるための光出射口とをそれぞれ示す。
8により構成される光位相補償器23に一定電圧を供給す
るための直流電源を、16は,前記第1及び第2の光位相
変調器24、25にそれぞれ交流電圧を加えるための交流電
源を、17は,該交流電源16から発生する電気信号の位相
を前記第1の光位相変調器24と第2の光位相変調器25と
でπ/2〔rad〕変化させるπ/2位相器をそれぞれ示す。
ついて、前記第1図、第2図及び第3図を用いて説明す
る。
発生光源に入射するレーザ光は、単一の直線偏光(TEモ
ードまたはTMモードのどちらか一方)で、かつ、単一ス
ペクトルを持つものを使う。
路3で、入力した時の偏光状態を維持したままで等位
相、かつ、等光量に分割される。
(I)側を導波する光を第1の導波光21、光路(II)側
を導波する光を第2の導波光22と呼ぶことにする。
第1の電極6、第2の電極7及び第3の電極8によって
構成される光位相補償器23を同時に通過する。
6、第2の電極7、第3の電極8の各電極間には直流電
源15により電位差が設けられているため、電気光学効果
による屈折率変化が生じ、第1及び第2の直線型光導波
路4a、4bの第1の電極6と第3の電極8の電極直下にお
ける光の位相速度が変化する。
光22との相対的位相差は直流電源15の印加電圧により変
化する。ここでは、相対的位相差がπ/2〔rad〕となる
ように調整する。
電界方向がy軸方向であるため主軸変換が生じることは
なく、偏光状態は入力した時と同一である。
2の導波光22は、それぞれ第4の電極9と第5の電極10
とで構成される第1の光位相変調器24と、第6の電極11
と第7の電極12とで構成される第2の光位相変調器25に
入力される。このとき、第1の光位相変調器24では外部
信号sin Ωtで第1の導波光21を連続的に位相変調
し、第2の光位相変調器25では外部信号cosΩtで第2
の導波光22を連続的に位相変調する。ただし、Ωは変調
信号の角周波数である。そのため、第1の導波光21と第
2の導波光22の周波数はベッセル関数で表されるような
外部変調信号の角周波数の整数倍で周波数シフトを生じ
る。さらにまた、光の進行方向がz軸方向、印加電界方
向がx軸方向をとっていることによって結晶の主軸が回
転するため、その結果として偏光状態が変化しTE、TMの
両モードが生成される。
と第2の光位相変調器25とから出力されるTEモード、TM
モードそれぞれについてのスペクトルを回転スペクトル
により表示する。第3図(a)左側は第1の光位相変調
器24から出力されるTEモードのスペクトル、第3図
(a)右側は第1の光位相変調器24から出力されるTMモ
ードのスペクトル、第3図(b)左側は第2の光位相変
調器25から出力されるTEモードのスペクトル、第3図
(b)右側は第2の光位相変調器25から出力されるTMモ
ードのスペクトルである。ただし、この表示は、各スペ
クトルにおける振幅の大きさを無視し、かつ、第2の導
波光22が第1の導波光21に対して位相がπ/2〔rad〕遅
れていると仮定したものである。
は、両変調信号が、位相は異なるものの、本質的に正弦
波であるためベッセル関数で表される。そのため、外部
変調信号の角周波数Ωの整数倍ずつシフトした信号が生
じ、その振幅は変調指数により変化する。例えば、変調
指数が“1"となるように光位相変調器への電界の強さを
調整すると、TEモードの(ω0+Ω)の成分に対して
(ω0+5Ω)の成分は32dB小さくすることができ、TM
モードのω0の成分に対して(ω0+2Ω)の成分及び
(ω0+4Ω)の成分も同様に小さくすることができ。
ここで、ω0は入射光の角周波数である。変調指数を決
めるときには、後段で合波されたとき打ち消される分も
考慮する。
例えば、(ω0+Ω)、ω0以外の不必要な周波数成分
が減少させられた第1の導波光21と第2の導波光22は合
波干渉型光導波路5で合波され、TEモードとTMモードの
直交偏波した周波数が異なる実質的に2種類の光が光出
射口14から出射される。
(c)の左側はTEモードのスペクトル、右側はTMモード
のスペクトルである。第3図(a)及び(b)と同じ
く、各スペクトルにおける振幅の大きさは無視してい
る。
結晶基板について述べてきた。
気光学効果を呈するものであれば良い。
性結晶であるが、体対角線を軸にとれば一軸結晶と等価
になる。このように等方性結晶であっても電気光学効果
を有する基板であれば、この発明の基板として使用でき
る。
は、光路(I)を導波する第1の導波光21と光路(II)
を導波する第2の導波光22との相対的位相差をπ/2〔ra
d〕つくるために設けた光位相補償手段の一つの例であ
るが、他にも次のようなものがある。
を非対称型にし、光路(I)と光路(II)の光路長を変
えて、第1の導波光21と第2の導波光22との相対的位相
差をπ/2〔rad〕にする光位相補償手段、 (2)第2の例として、前記第1及び第2の直線型光導
波路4a、4bのどちらかの上に光導波路の等価屈折率を変
化させる材料を選定して付着することで、第1の導波光
21と第2の導波光22との相対的位相差をπ/2〔rad〕に
する光位相補償手段等である。
る結晶基板の表層をY分岐型光導波路、第1及び第2の
直線型光導波路、さらに合波干渉型光導波路とから構成
される光導波型マッハツェンダー干渉計を、光の伝搬方
向がz軸方向となるように作製し、また、該第1と第2
の直線型光導波路の伝搬定数に差を持たせて両光導波路
を伝搬する光の間にπ/2〔rad〕の位相差を生じさせる
光位相補償手段を設け、さらに該第1及び第2の直線型
光導波路を挟む状態で該光位相補償手段の前段または後
段に載置し、第4の電極と第5の電極及び第6の電極と
第7の電極から構成される2つの位相変調器を印加電界
方向をx軸方向となるような構成にしたことから同一光
軸上に直交偏波し、かつ、周波数が異なる実質的に2種
類の光を出力できるようになった。また、そのためにビ
ームスプリッターや反射ミラー等の大型の構成部品の必
要がなくなった。したがって、半導体プロセス技術によ
り量産できるようになった上に高精度な光学調整も必要
なくなり、従来技術では解決し得なかった課題が解決で
きた。
例における構成図を、第2図は本発明に係る直交偏波2
周波発生光源の簡略化したブロック図を、第3図は出力
光のTEモードとTMモードのスペクトルを振幅を無視して
回転スペクトルで表したものであり、(a)は第1の光
位相変調器24からの出力光で、左側はTEモードのスペク
トル、右側はTMモードのスペクトル、(b)は第2の光
位相変調器25からの出力光で、左側はTEモードのスペク
トル、右側はTMモードのスペクトル、(c)は合波され
た総合出力光で、左側はTEモードのスペクトル、右側は
TMモードのスペクトルをそれぞれ示す。 図において、1は結晶基板、2は光導波型マッハツェン
ダー干渉計、3はY分岐型光導波路、4aと4bは第1及び
第2の直線型光導波路、5は合波干渉型光導波路、6〜
12は第1〜第7の電極、13は光入射口、14は光出射口、
15は直流電源、16は交流電源、17はπ/2位相器、21と22
は第1及び第2の導波光、23は光位相補償手段としての
光位相補償器、24と25は第1及び第2の光位相変調器を
それぞれ示す。
Claims (1)
- 【請求項1】光透過性を有し、かつ、電気光学効果を有
する結晶基板(1)と、 該結晶基板の表層に設けられ、Y分岐型光導波路
(3)、第1及び第2の直線型光導波路(4a,4b)、並
びに合波干渉型光導波路(5)から構成される光導波型
マッハツェンダー干渉計(2)と、 前記第1及び第2の直線型光導波路の伝搬定数に差を持
たせて両光導波路を伝搬する光の間にπ/2の位相差を生
じさせる光位相補償手段(23)と、 電場印加が結晶の主軸を変換する向きとなるように前記
第1及び第2の直線型光導波路のそれぞれを挟む状態で
該光位相補償手段の前段または後段に載置され、第4と
第5の電極(9,10)、及び第6と第7の電極(11,12)
から構成されて、互いにπ/2位相のずれた正弦波変調信
号で駆動される第1及び第2の光位相変調器(24,25)
とを具備し、 同一光軸上に直交偏波し、かつ、周波数が異なる実質的
に2種類の光を出力することを特徴とする直交偏波2周
波発生光源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63321808A JPH0711649B2 (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | 直交偏波2周波発生光源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63321808A JPH0711649B2 (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | 直交偏波2周波発生光源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02166426A JPH02166426A (ja) | 1990-06-27 |
| JPH0711649B2 true JPH0711649B2 (ja) | 1995-02-08 |
Family
ID=18136648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63321808A Expired - Lifetime JPH0711649B2 (ja) | 1988-12-20 | 1988-12-20 | 直交偏波2周波発生光源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0711649B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4696264B2 (ja) * | 2005-08-24 | 2011-06-08 | 独立行政法人情報通信研究機構 | 強度バランス機能を有する光fsk/ssb変調器 |
| JP4002934B2 (ja) | 2005-10-03 | 2007-11-07 | 株式会社アドバンテスト | 散乱光測定装置 |
| CN114089550B (zh) * | 2021-10-22 | 2024-04-19 | 江苏南里台科技有限公司 | 电光调制器 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2160380B (en) * | 1984-06-14 | 1988-01-27 | Stc Plc | Optical transmission systems |
-
1988
- 1988-12-20 JP JP63321808A patent/JPH0711649B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02166426A (ja) | 1990-06-27 |
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