JPH07119672B2 - 材料試験機のデ−タ処理装置 - Google Patents
材料試験機のデ−タ処理装置Info
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- JPH07119672B2 JPH07119672B2 JP62181456A JP18145687A JPH07119672B2 JP H07119672 B2 JPH07119672 B2 JP H07119672B2 JP 62181456 A JP62181456 A JP 62181456A JP 18145687 A JP18145687 A JP 18145687A JP H07119672 B2 JPH07119672 B2 JP H07119672B2
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- load
- measurement
- data
- displacement
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Description
【発明の詳細な説明】 A.産業上の利用分野 この発明は、引張試験、圧縮試験、曲げ試験などを行う
材料試験機本体で検出された変位データおよび荷重デー
タを処理する材料試験機のデータ処理装置に関する。
材料試験機本体で検出された変位データおよび荷重デー
タを処理する材料試験機のデータ処理装置に関する。
B.従来の技術 近年、材料試験機のデータ処理装置は、データ処理の迅
速化や操作性の向上などを企図して、マイクロコンピュ
ータを使用したデータ処理を行っている。このような材
料試験機のデータ処理装置は、概ね次のように構成され
ている。
速化や操作性の向上などを企図して、マイクロコンピュ
ータを使用したデータ処理を行っている。このような材
料試験機のデータ処理装置は、概ね次のように構成され
ている。
即ち、データ処理装置は、マイクロコンピュータを中心
としたデータ処理装置本体、データ処理装置本体に測定
条件などを入力するためのキーボード、種々の測定項目
やデータ処理結果などを表示するための表示器などから
構成されている。
としたデータ処理装置本体、データ処理装置本体に測定
条件などを入力するためのキーボード、種々の測定項目
やデータ処理結果などを表示するための表示器などから
構成されている。
データ処理に際して、オペレータがキーボードを操作す
ることによって、種々の測定条件が入力される。以下、
これについて具体的に説明する。
ることによって、種々の測定条件が入力される。以下、
これについて具体的に説明する。
まず、弾性率、上降伏点、耐力などの複数の測定項目が
表示器に映し出される。次に、オペレータによるキーボ
ード操作によって、前記測定項目の中から任意の測定項
目が選択される。いま仮に、『耐力』が選択されたとし
よう。耐力は、試験片が弾性伸びを示す範囲内で指定さ
れた荷重点P1,P2を結ぶ直線を、予め指定されたオフセ
ット量だけ平行移動させたとき、その直線が荷重−変位
線図と交わる点における荷重によって表される。したが
って、測定項目『耐力』を選択した場合、次にキー操作
によって荷重点P1,P2が設定される。荷重点P1,P1は、そ
の試験片が弾性伸びを示すであろう範囲をオペレータが
予め予測して、その範囲内で適宜に設定される。例え
ば、その試験片が少なくとも600kgfの荷重までは弾性伸
びを示すであろうと予測される場合には、P1を『100kg
f』、P2を『500kgf』のように設定する。二つの荷重点P
1,P2が設定されると、つぎにオフセット量が設定され
る。例えば、0.2％の永久歪みを生じる荷重を耐力とす
るならば、『0.2％』をキー入力する。
表示器に映し出される。次に、オペレータによるキーボ
ード操作によって、前記測定項目の中から任意の測定項
目が選択される。いま仮に、『耐力』が選択されたとし
よう。耐力は、試験片が弾性伸びを示す範囲内で指定さ
れた荷重点P1,P2を結ぶ直線を、予め指定されたオフセ
ット量だけ平行移動させたとき、その直線が荷重−変位
線図と交わる点における荷重によって表される。したが
って、測定項目『耐力』を選択した場合、次にキー操作
によって荷重点P1,P2が設定される。荷重点P1,P1は、そ
の試験片が弾性伸びを示すであろう範囲をオペレータが
予め予測して、その範囲内で適宜に設定される。例え
ば、その試験片が少なくとも600kgfの荷重までは弾性伸
びを示すであろうと予測される場合には、P1を『100kg
f』、P2を『500kgf』のように設定する。二つの荷重点P
1,P2が設定されると、つぎにオフセット量が設定され
る。例えば、0.2％の永久歪みを生じる荷重を耐力とす
るならば、『0.2％』をキー入力する。
このようにして測定条件が設定されると、選択された測
定項目に応じたプログラムに従って、変位データおよび
荷重データが処理されて、その試験片の特性値（例え
ば、0.2％耐力）が算出されて表示器やプリンタに出力
される。
定項目に応じたプログラムに従って、変位データおよび
荷重データが処理されて、その試験片の特性値（例え
ば、0.2％耐力）が算出されて表示器やプリンタに出力
される。
C.発明が解決しようとする問題点 このように従来の材料試験機のデータ処理装置は、予め
定められた測定条件に従って、希望の測定値を迅速に得
られる点において便利ではあるが、例えば、試験片が新
素材であるような場合には、次のような問題点が指摘さ
れる。
定められた測定条件に従って、希望の測定値を迅速に得
られる点において便利ではあるが、例えば、試験片が新
素材であるような場合には、次のような問題点が指摘さ
れる。
試験片が金属材料の場合、『0.2％の永久歪みを生じる
荷重を耐力とする』というように、耐力の定義が一義的
に定まっている。しかし、プラスチックのような新素材
である場合には、耐力の定義が一義的に定まっていない
場合が多い。例えば、0.3％の永久歪みを生じる荷重を
耐力と定義したり、あるいは、0.5％を基準としたりす
る場合がある。このような場合、従来装置によると、試
験片の素材が変わるごとに測定条件を設定し直さなけれ
ばならず、たいへん煩雑である。
荷重を耐力とする』というように、耐力の定義が一義的
に定まっている。しかし、プラスチックのような新素材
である場合には、耐力の定義が一義的に定まっていない
場合が多い。例えば、0.3％の永久歪みを生じる荷重を
耐力と定義したり、あるいは、0.5％を基準としたりす
る場合がある。このような場合、従来装置によると、試
験片の素材が変わるごとに測定条件を設定し直さなけれ
ばならず、たいへん煩雑である。
さらに、試験片が新素材である場合、その特性値を予測
し難い場合が多い。例えば、その素材が400kgfまでしか
弾性変形を示さないにもかかわらず、上の例のように荷
重点P1,P2を『100kgf』、『500kgf』に設定すると、荷
重点P2が弾性領域外にあるから、誤った測定結果を出す
おそれもある。
し難い場合が多い。例えば、その素材が400kgfまでしか
弾性変形を示さないにもかかわらず、上の例のように荷
重点P1,P2を『100kgf』、『500kgf』に設定すると、荷
重点P2が弾性領域外にあるから、誤った測定結果を出す
おそれもある。
このような問題点は、耐力を測定する場合だけではな
く、その他の測定項目についても言える。例えば、Ｎ値
と呼ばれる加工硬化係数は、試験片が最大荷重点に達す
るまでの二つの測定ポイントを指定し、それらの変位デ
ータと荷重データとから算出される。しかし、新素材の
場合、最大荷重点を予測することが困難な場合がある。
そのため、最大荷重点を超える測定ポイントを指定する
と、誤った測定結果を得ることになる。また、上降伏点
と下降伏現象の終点との間の伸びで定義される『降伏伸
び』を測定する場合、降伏が終了する荷重を予め測定条
件として指定することは困難なことが多い。さらに、最
大荷重点までの伸びで定義される『一様伸び』を測定す
る場合、最大点が平坦な特性を示す素材では測定ポイン
トをどこに選ぶかで測定結果が著しく異なってくるた
め、測定ポイントを一義的に指定し難いこともある。
く、その他の測定項目についても言える。例えば、Ｎ値
と呼ばれる加工硬化係数は、試験片が最大荷重点に達す
るまでの二つの測定ポイントを指定し、それらの変位デ
ータと荷重データとから算出される。しかし、新素材の
場合、最大荷重点を予測することが困難な場合がある。
そのため、最大荷重点を超える測定ポイントを指定する
と、誤った測定結果を得ることになる。また、上降伏点
と下降伏現象の終点との間の伸びで定義される『降伏伸
び』を測定する場合、降伏が終了する荷重を予め測定条
件として指定することは困難なことが多い。さらに、最
大荷重点までの伸びで定義される『一様伸び』を測定す
る場合、最大点が平坦な特性を示す素材では測定ポイン
トをどこに選ぶかで測定結果が著しく異なってくるた
め、測定ポイントを一義的に指定し難いこともある。
この発明は、このような問題点を解決するためになされ
たものであって、試験素材に応じた適当な測定ポイント
を任意に選択することができ、選択された測定ポイント
のデータに基づいて特性値を算出する材料試験機のデー
タ処理装置を提供することを目的としている。
たものであって、試験素材に応じた適当な測定ポイント
を任意に選択することができ、選択された測定ポイント
のデータに基づいて特性値を算出する材料試験機のデー
タ処理装置を提供することを目的としている。
D.問題点を解決するための手段 この発明に係る材料試験機のデータ処理装置は、材料試
験機本体で検出された変位データと荷重データとをそれ
ぞれデジタル信号に変換する信号変換手段と、前記信号
変換手段によってデジタル信号に変換された変位データ
と荷重データとをそれぞれ記憶する第１の記憶手段と、
複数の測定項目のうちから任意の測定項目を選択する第
１の操作手段と、前記各測定項目に応じた演算処理手段
を予め記憶している第２の記憶手段と、前記第１の記憶
手段が記憶している変位データと荷重データとに基づく
荷重−変位線図を表示するとともに、この荷重−変位線
図に沿って移動可能な指標を表示する表示制御手段と、
前記表示制御手段に指令を与えて前記指標を荷重−変位
線図に沿って移動させて測定ポイントを指定する第２の
操作手段と、前記測定ポイントによって特定される直線
を平行移動し、前記荷重−変位線図との交点を求めるオ
フセット手段と、この直線のオフセット量を前記表示制
御手段に併せて表示する手段と、前記第２の記憶手段に
記憶された演算処理手順のうち第１の操作手段によって
選択された測定項目に係る演算処理手段に従って前記測
定ポイント又は前記交点の変位データと荷重データとを
処理して試験片の特性値を算出する演算手段とを備えた
ことを特徴とする。
験機本体で検出された変位データと荷重データとをそれ
ぞれデジタル信号に変換する信号変換手段と、前記信号
変換手段によってデジタル信号に変換された変位データ
と荷重データとをそれぞれ記憶する第１の記憶手段と、
複数の測定項目のうちから任意の測定項目を選択する第
１の操作手段と、前記各測定項目に応じた演算処理手段
を予め記憶している第２の記憶手段と、前記第１の記憶
手段が記憶している変位データと荷重データとに基づく
荷重−変位線図を表示するとともに、この荷重−変位線
図に沿って移動可能な指標を表示する表示制御手段と、
前記表示制御手段に指令を与えて前記指標を荷重−変位
線図に沿って移動させて測定ポイントを指定する第２の
操作手段と、前記測定ポイントによって特定される直線
を平行移動し、前記荷重−変位線図との交点を求めるオ
フセット手段と、この直線のオフセット量を前記表示制
御手段に併せて表示する手段と、前記第２の記憶手段に
記憶された演算処理手順のうち第１の操作手段によって
選択された測定項目に係る演算処理手段に従って前記測
定ポイント又は前記交点の変位データと荷重データとを
処理して試験片の特性値を算出する演算手段とを備えた
ことを特徴とする。
E.作 用 材料試験機本体で検出された変位データと荷重データと
は、信号変換手段でデジタル信号に変換された後、第１
の記憶手段に記憶される。オペレータが第１の操作手段
を操作することによって測定項目を選択すると、表示制
御手段は第１の記憶手段に記憶されている変位データと
荷重データとから荷重−変位線図を表示するとともに、
この荷重−変位線図に沿って移動可能な指標を表示す
る。さらにオペレータは表示された荷重−変位線図を見
ながら、第２の操作手段を操作することによって、指標
を移動させて測定ポイントを指定する。さらに、この測
定ポイントで特定された直線をオフセット手段で平行移
動し、荷重−変位線図との交点を求める。そうすると、
演算手段は、第２の記憶手段に予め記憶されている演算
処理手順のうち第１の操作手段によって選択された測定
項目に係る演算処理手順に従って、前記指定された測定
ポイント又は交点の変位データと荷重データとを処理し
て試験片の特性値を算出する。
は、信号変換手段でデジタル信号に変換された後、第１
の記憶手段に記憶される。オペレータが第１の操作手段
を操作することによって測定項目を選択すると、表示制
御手段は第１の記憶手段に記憶されている変位データと
荷重データとから荷重−変位線図を表示するとともに、
この荷重−変位線図に沿って移動可能な指標を表示す
る。さらにオペレータは表示された荷重−変位線図を見
ながら、第２の操作手段を操作することによって、指標
を移動させて測定ポイントを指定する。さらに、この測
定ポイントで特定された直線をオフセット手段で平行移
動し、荷重−変位線図との交点を求める。そうすると、
演算手段は、第２の記憶手段に予め記憶されている演算
処理手順のうち第１の操作手段によって選択された測定
項目に係る演算処理手順に従って、前記指定された測定
ポイント又は交点の変位データと荷重データとを処理し
て試験片の特性値を算出する。
F.実施例 以下、この発明の実施例を図面に従って説明する。
第１図は、この発明に一実施例に係る材料試験機のデー
タ処理装置の構成の概略を示したブロック図である。
タ処理装置の構成の概略を示したブロック図である。
図において、10は材料試験機本体、20はデータ処理装置
を示している。材料試験機本体10は、試験片の伸びデー
タ、圧縮データあるいは曲げデータのような変位データ
と、その試験片に作用する荷重データをデータ処理装置
20に与える。データ処理装置20に与えられた変位データ
および荷重データは、信号変換手段としてのA/D変換器2
1でデジタル信号に変換される。デジタル信号に変換さ
れた各データは、入出力インターフェイス22を介して、
中央演算処理装置（CPU）23、ROM（Read Only Memory）
24、RAM（Randam Access Memory）25などで構成される
マイクロコンピュータに取り込まれる。ROM24は、複数
の測定項目に応じた手順で各データを処理するためのプ
ログラムなどを予め記憶しており、発明の構成において
説明した第２の記憶手段に対応している。RAM25は、入
出力インターフェイス22を介して取り込まれた各データ
等を記憶するもので、第１の記憶手段に対応している。
CPU23は、ROM24に記憶された処理手順に従って、各デー
タを処理することによって、所定の特性値を算出するも
ので、演算手段に対応している。データ処理装置20は、
取り込まれた各データから得られる荷重−変位線図や算
出された特性値等を表示するための表示器（CRT）26、
特性値等を印字出力するためのプリンタ27、測定条件を
設定するためのキーボード28等を備え、これらは入出力
インターフェイス29を介して前記マイクロコンピュータ
と接続されている。なお、CPU23、CRT26は表示制御手段
に対応し、キーボード28は第１および第２の操作手段に
対応している。
を示している。材料試験機本体10は、試験片の伸びデー
タ、圧縮データあるいは曲げデータのような変位データ
と、その試験片に作用する荷重データをデータ処理装置
20に与える。データ処理装置20に与えられた変位データ
および荷重データは、信号変換手段としてのA/D変換器2
1でデジタル信号に変換される。デジタル信号に変換さ
れた各データは、入出力インターフェイス22を介して、
中央演算処理装置（CPU）23、ROM（Read Only Memory）
24、RAM（Randam Access Memory）25などで構成される
マイクロコンピュータに取り込まれる。ROM24は、複数
の測定項目に応じた手順で各データを処理するためのプ
ログラムなどを予め記憶しており、発明の構成において
説明した第２の記憶手段に対応している。RAM25は、入
出力インターフェイス22を介して取り込まれた各データ
等を記憶するもので、第１の記憶手段に対応している。
CPU23は、ROM24に記憶された処理手順に従って、各デー
タを処理することによって、所定の特性値を算出するも
ので、演算手段に対応している。データ処理装置20は、
取り込まれた各データから得られる荷重−変位線図や算
出された特性値等を表示するための表示器（CRT）26、
特性値等を印字出力するためのプリンタ27、測定条件を
設定するためのキーボード28等を備え、これらは入出力
インターフェイス29を介して前記マイクロコンピュータ
と接続されている。なお、CPU23、CRT26は表示制御手段
に対応し、キーボード28は第１および第２の操作手段に
対応している。
次に、上述した構成を備えたデータ処理装置の動作を、
第２図〜第８図に従って説明する。
第２図〜第８図に従って説明する。
材料試験機本体10から送られてきた変位データおよび荷
重データがデジタル変換された後、RAM25に記憶される
と、次のような手順に従ってデータ処理が行われる。
重データがデジタル変換された後、RAM25に記憶される
と、次のような手順に従ってデータ処理が行われる。
まず、CRT26に、弾性率、上降伏点、耐力などの複数の
測定項目が映し出される。そして、第２図に示すよう
に、CPU23は、測定項目を選択する指示がキーボード28
から入力されるのを待つ（ステップS1）。測定項目が選
択されると、変位量に対応したＸ軸と荷重に対応したＹ
軸とをCRT26にスケーリングする（ステップS2）。そし
て、RAM25に記憶されている変位データと荷重データと
を読み出して、その荷重−変位線図をCRT26に表示し
（ステップS3）、さらに前記荷重−変位線図に沿って移
動可能な指標を荷重−変位線図の原点に表示する（ステ
ップS4）。以上のステップは、いずれの測定項目が選択
された場合にも行われる。
測定項目が映し出される。そして、第２図に示すよう
に、CPU23は、測定項目を選択する指示がキーボード28
から入力されるのを待つ（ステップS1）。測定項目が選
択されると、変位量に対応したＸ軸と荷重に対応したＹ
軸とをCRT26にスケーリングする（ステップS2）。そし
て、RAM25に記憶されている変位データと荷重データと
を読み出して、その荷重−変位線図をCRT26に表示し
（ステップS3）、さらに前記荷重−変位線図に沿って移
動可能な指標を荷重−変位線図の原点に表示する（ステ
ップS4）。以上のステップは、いずれの測定項目が選択
された場合にも行われる。
ステップS1において、かりに『耐力』が選択されたとす
ると、ステップS4に続いて第３図に示した処理が実行さ
れる。以下、この処理を第５図を参照しながら説明す
る。なお、第５図はCRT26に表示された荷重−変位線図
を示している。
ると、ステップS4に続いて第３図に示した処理が実行さ
れる。以下、この処理を第５図を参照しながら説明す
る。なお、第５図はCRT26に表示された荷重−変位線図
を示している。
CPU23は、CRT26に映し出された指標を移動させる指令が
キーボード28から入力されるのを待つ（ステップS5）。
キーボード28からの移動指令があると、指標を荷重−変
位線図に沿って移動する（ステップS6）。キーボード28
からの移動指令が途絶えたことを確認すると指標を停止
し（ステップS7、ステップS8）、キーボード28から測定
ポイントが指定されるのを待つ（ステップS9）。
キーボード28から入力されるのを待つ（ステップS5）。
キーボード28からの移動指令があると、指標を荷重−変
位線図に沿って移動する（ステップS6）。キーボード28
からの移動指令が途絶えたことを確認すると指標を停止
し（ステップS7、ステップS8）、キーボード28から測定
ポイントが指定されるのを待つ（ステップS9）。
測定ポイントが指定されると、そのとき指標が位置する
点の変位データおよび荷重データをRAM25内の所定のエ
リアに記憶する（ステップS10）。この測定ポイント
は、第５図に示した荷重−変位線図の原点に近いa1点に
対応している。そして、指定された測定ポイントの数ｎ
をカウントアップする（ステップS11）。いま、最初の
測定ポイントa1が指定されたから、ｎ＝１（ｎの初期値
は零）にセットする。耐力測定に必要な測定ポイントの
数は『２』であるから、次のステップS12で、測定ポイ
ントの数ｎが『２』であるか否かを判断する。測定ポイ
ントの数が『２』でなければ、ステップS5に戻って、も
う一つの測定ポイントが指定されるようにする。耐力測
定を行う場合、二つの測定ポイントは、弾性領域内で指
定する必要がある。オペレータは、CRT26に映し出され
た荷重−変位線図の弾性領域を判断して、その領域内の
適当な位置にもう一つの測定ポイントa2を指定する。
点の変位データおよび荷重データをRAM25内の所定のエ
リアに記憶する（ステップS10）。この測定ポイント
は、第５図に示した荷重−変位線図の原点に近いa1点に
対応している。そして、指定された測定ポイントの数ｎ
をカウントアップする（ステップS11）。いま、最初の
測定ポイントa1が指定されたから、ｎ＝１（ｎの初期値
は零）にセットする。耐力測定に必要な測定ポイントの
数は『２』であるから、次のステップS12で、測定ポイ
ントの数ｎが『２』であるか否かを判断する。測定ポイ
ントの数が『２』でなければ、ステップS5に戻って、も
う一つの測定ポイントが指定されるようにする。耐力測
定を行う場合、二つの測定ポイントは、弾性領域内で指
定する必要がある。オペレータは、CRT26に映し出され
た荷重−変位線図の弾性領域を判断して、その領域内の
適当な位置にもう一つの測定ポイントa2を指定する。
二つの測定ポイントa1,a2が指定されると、これらの測
定ポイントを結ぶ直線b0をCRT26に表示する（ステップS
13）。そして、この直線をＸ軸に沿って移動させる指令
がキーボード28から入力されるのを待つ（ステップS1
4）。
定ポイントを結ぶ直線b0をCRT26に表示する（ステップS
13）。そして、この直線をＸ軸に沿って移動させる指令
がキーボード28から入力されるのを待つ（ステップS1
4）。
キーボード28からの入力があると、直線b0をＸ軸に沿っ
て平行移動する（ステップS15）。このとき、この直線
がＸ軸と交わった点のＸ値（オフセット量）をCRT26に
表示する（ステップS16）。オペレータは、このオフセ
ット表示を見ながら、希望するオフセット量（例えば、
0.3％）になったところで、キーボード28からの入力を
止める。キー入力がなくなったことを確認すると（ステ
ップS17）、前記直線の平行移動を停止する（ステップS
18）。そして、特性値を表示する指示がキーボード28か
ら入力されるのを待つ（ステップS19）。
て平行移動する（ステップS15）。このとき、この直線
がＸ軸と交わった点のＸ値（オフセット量）をCRT26に
表示する（ステップS16）。オペレータは、このオフセ
ット表示を見ながら、希望するオフセット量（例えば、
0.3％）になったところで、キーボード28からの入力を
止める。キー入力がなくなったことを確認すると（ステ
ップS17）、前記直線の平行移動を停止する（ステップS
18）。そして、特性値を表示する指示がキーボード28か
ら入力されるのを待つ（ステップS19）。
特性値表示のキー入力があると、前記直線と荷重−変位
線図とが交差する点の荷重を耐力としてCRT26に表示す
る（ステップS20）。そして、キーボード28から測定終
了のキー入力があったか否かを確認する（ステップS2
1）。測定終了のキー入力がない場合には、ステップS14
に戻って測定を続ける。耐力の測定が終了したときに
は、ステップS1に戻って次の測定項目が選択されるのを
待つ。
線図とが交差する点の荷重を耐力としてCRT26に表示す
る（ステップS20）。そして、キーボード28から測定終
了のキー入力があったか否かを確認する（ステップS2
1）。測定終了のキー入力がない場合には、ステップS14
に戻って測定を続ける。耐力の測定が終了したときに
は、ステップS1に戻って次の測定項目が選択されるのを
待つ。
次に、ステップS1において、測定項目として加工硬化係
数（Ｎ値）が選択された場合の動作を説明する。
数（Ｎ値）が選択された場合の動作を説明する。
加工硬化係数が選択された場合も、前述したステップS1
〜ステップS4と同様のステップが実行されて、CRT26に
荷重−変位線図と指標とが表示される。第６図は、この
ときにCRT26に映し出された荷重−変位線図を示してい
る。以下、第４図に示したフローチャートに従って説明
する。
〜ステップS4と同様のステップが実行されて、CRT26に
荷重−変位線図と指標とが表示される。第６図は、この
ときにCRT26に映し出された荷重−変位線図を示してい
る。以下、第４図に示したフローチャートに従って説明
する。
ステップS31〜ステップS34は、オペレータのキー操作に
よって指標を荷重−変位線図に沿って希望する測定ポイ
ントにまで移動させる手順である。前述したように、加
工硬化係数を得るために必要な測定ポイントは二つであ
って、これらの測定ポイントは最大荷重点よりも前にあ
ることが必要である。オペレータは、CRT26に表示され
た荷重−変位線図を見ながら最大荷重点に達するまでの
適宜な測定ポイントn1にまで指標を移動させる。続い
て、測定ポイントを指定するキー入力があると、その測
定ポイントn1の変位データおよび荷重データを記憶する
とともに、CRT26に表示する（ステップS35、ステップS3
6）。そして、測定ポイントの数ｎをカウントアップし
（ステップS37）、ｎが『２』であるかを判断し（ステ
ップS38）、そうでなければ、ステップS31に戻って、も
う一つの測定ポイントが指定されるようにする。オペレ
ータは、CRT26に映し出された荷重−変位線図の最大荷
重点に達するまでのもう一つの測定ポイントn2を指定す
る。この測定ポイントn2の変位データおよび荷重データ
も、前述と同様に記憶するとともにCRT26に表示する。
よって指標を荷重−変位線図に沿って希望する測定ポイ
ントにまで移動させる手順である。前述したように、加
工硬化係数を得るために必要な測定ポイントは二つであ
って、これらの測定ポイントは最大荷重点よりも前にあ
ることが必要である。オペレータは、CRT26に表示され
た荷重−変位線図を見ながら最大荷重点に達するまでの
適宜な測定ポイントn1にまで指標を移動させる。続い
て、測定ポイントを指定するキー入力があると、その測
定ポイントn1の変位データおよび荷重データを記憶する
とともに、CRT26に表示する（ステップS35、ステップS3
6）。そして、測定ポイントの数ｎをカウントアップし
（ステップS37）、ｎが『２』であるかを判断し（ステ
ップS38）、そうでなければ、ステップS31に戻って、も
う一つの測定ポイントが指定されるようにする。オペレ
ータは、CRT26に映し出された荷重−変位線図の最大荷
重点に達するまでのもう一つの測定ポイントn2を指定す
る。この測定ポイントn2の変位データおよび荷重データ
も、前述と同様に記憶するとともにCRT26に表示する。
二つの測定ポイントn1,n2が指定されると、CPU23はROM2
4に予め記憶されている演算式に前記各測定ポイントの
データを代入して加工硬化係数を算出し（ステップS3
9）、その値をCRT26に表示する。（ステップS40）。そ
して、キーボード28から測定終了のキー入力があったか
否かを確認し（ステップS41）、測定終了のキー入力が
ない場合には、ステップS31に戻って測定を続け、測定
が終了したときには、ステップS1に戻って次の測定項目
が選択されるのを待つ。
4に予め記憶されている演算式に前記各測定ポイントの
データを代入して加工硬化係数を算出し（ステップS3
9）、その値をCRT26に表示する。（ステップS40）。そ
して、キーボード28から測定終了のキー入力があったか
否かを確認し（ステップS41）、測定終了のキー入力が
ない場合には、ステップS31に戻って測定を続け、測定
が終了したときには、ステップS1に戻って次の測定項目
が選択されるのを待つ。
なお、上述の実施例では、耐力の測定と、加工硬化係数
の測定とを例に採って説明したが、その他の測定項目が
選択された場合にも、同様の処理が行われる。
の測定とを例に採って説明したが、その他の測定項目が
選択された場合にも、同様の処理が行われる。
例えば、第７図は降伏伸びを測定する場合の説明図であ
る。この場合、オペレータがCRT26に映し出された荷重
−変位線図を見ながらキー操作して指標を移動させて、
上降伏点c1と下降伏現象の終点c2とを測定ポイントとし
て指定すると、c1,c2間の変位量が降伏伸びとして表示
される。
る。この場合、オペレータがCRT26に映し出された荷重
−変位線図を見ながらキー操作して指標を移動させて、
上降伏点c1と下降伏現象の終点c2とを測定ポイントとし
て指定すると、c1,c2間の変位量が降伏伸びとして表示
される。
また、第８図は一様伸びを測定する場合の説明図であ
る。この場合には、オペレータはCRT26に映し出された
荷重−変位線図の最大荷重点を適宜に定め、その点ｄを
測定ポイントとして指定する。そうすると、指定された
測定ポイントまでの変位量が一様伸びとして表示され
る。
る。この場合には、オペレータはCRT26に映し出された
荷重−変位線図の最大荷重点を適宜に定め、その点ｄを
測定ポイントとして指定する。そうすると、指定された
測定ポイントまでの変位量が一様伸びとして表示され
る。
G.発明の効果 以上の説明から明らかなよう、この発明に係る材料試験
機のデータ処理装置は、試験片について得られた荷重−
変位線図を表示し、オペレータがこの荷重−変位線図を
見ながら、適当な測定ポイントを指定できるように構成
したから、測定ポイントの設定や変更を任意にすること
ができるとともに、特性値を予測し難いような新素材を
試験する場合でも、測定条件の設定ミスによって誤った
特性値が算出されることがなく、材料試験の信頼性を向
上させることもできる。
機のデータ処理装置は、試験片について得られた荷重−
変位線図を表示し、オペレータがこの荷重−変位線図を
見ながら、適当な測定ポイントを指定できるように構成
したから、測定ポイントの設定や変更を任意にすること
ができるとともに、特性値を予測し難いような新素材を
試験する場合でも、測定条件の設定ミスによって誤った
特性値が算出されることがなく、材料試験の信頼性を向
上させることもできる。
第１図はこの発明の一実施例に係る材料試験機のデータ
処理装置の構成の概略を示したブロック図、第２図〜第
４図は前記実施例のデータ処理手順を示したフローチャ
ート、特に、第２図は各測定項目について共通のフロー
チャート、第３図は耐力を測定する場合のフローチャー
ト、第４図は加工硬化係数を測定する場合のフローチャ
ート、第５図〜第６図は前記実施例においてCRT画面に
表示される荷重−変位線図等を示し、特に第５図は耐力
の測定に係る表示例、第６図は加工硬化係数の測定に係
る表示例、第７図は降伏伸びの測定に係る表示例、第８
図は一様伸びの測定に係る表示例をそれぞれ示してい
る。 10……材料試験機本体、20……データ処理装置、21……
A/D変換器、23……CPU、24……ROM、25……RAM、26……
CRT、28……キーボード。
処理装置の構成の概略を示したブロック図、第２図〜第
４図は前記実施例のデータ処理手順を示したフローチャ
ート、特に、第２図は各測定項目について共通のフロー
チャート、第３図は耐力を測定する場合のフローチャー
ト、第４図は加工硬化係数を測定する場合のフローチャ
ート、第５図〜第６図は前記実施例においてCRT画面に
表示される荷重−変位線図等を示し、特に第５図は耐力
の測定に係る表示例、第６図は加工硬化係数の測定に係
る表示例、第７図は降伏伸びの測定に係る表示例、第８
図は一様伸びの測定に係る表示例をそれぞれ示してい
る。 10……材料試験機本体、20……データ処理装置、21……
A/D変換器、23……CPU、24……ROM、25……RAM、26……
CRT、28……キーボード。
Claims (1)
- 【請求項１】材料試験機本体で検出された変位データと
荷重データとをそれぞれデジタル信号に変換する信号変
換手段と、前記信号変換手段によってデジタル信号に変
換された変位データと荷重データとをそれぞれ記憶する
第１の記憶手段と、複数の測定項目のうちから任意の測
定項目を選択する第１の操作手段と、前記各測定項目に
応じた演算処理手段を予め記憶している第２の記憶手段
と、前記第１の記憶手段が記憶している変位データと荷
重データとに基づく荷重−変位線図を表示するととも
に、この荷重−変位線図の沿って移動可能な指標を表示
する表示制御手段と、前記表示制御手段に指令を与えて
前記指標を荷重−変位線図に沿って移動させて測定ポイ
ントを指定する第２の操作手段と、前記測定ポイントに
よって特定される直線を平行移動し、前記荷重−変位線
図との交点を求めるオフセット手段と、この直線のオフ
セット量を前記表示制御手段に併せて表示する手段と、
前記第２の記憶手段に記憶された演算処理手順のうち第
１の操作手段によって選択された測定項目に係る演算処
理手段に従って前記測定ポイント又は前記交点の変位デ
ータと荷重データとを処理して試験片の特性値を算出す
る演算手段とを備えたことを特徴とする材料試験機のデ
ータ処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62181456A JPH07119672B2 (ja) | 1987-07-21 | 1987-07-21 | 材料試験機のデ−タ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62181456A JPH07119672B2 (ja) | 1987-07-21 | 1987-07-21 | 材料試験機のデ−タ処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6425033A JPS6425033A (en) | 1989-01-27 |
| JPH07119672B2 true JPH07119672B2 (ja) | 1995-12-20 |
Family
ID=16101078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62181456A Expired - Lifetime JPH07119672B2 (ja) | 1987-07-21 | 1987-07-21 | 材料試験機のデ−タ処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07119672B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0797437B2 (ja) * | 1989-11-30 | 1995-10-18 | 株式会社島津製作所 | 材料試験機 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5956145A (ja) * | 1982-09-24 | 1984-03-31 | Shimadzu Corp | 耐力検出装置 |
| JPS6093942A (ja) * | 1983-10-28 | 1985-05-25 | Mitsubishi Petrochem Co Ltd | プラスチツクの衝撃試験装置 |
-
1987
- 1987-07-21 JP JP62181456A patent/JPH07119672B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6425033A (en) | 1989-01-27 |
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