JPH07120321A - 分光光度計 - Google Patents
分光光度計Info
- Publication number
- JPH07120321A JPH07120321A JP27051593A JP27051593A JPH07120321A JP H07120321 A JPH07120321 A JP H07120321A JP 27051593 A JP27051593 A JP 27051593A JP 27051593 A JP27051593 A JP 27051593A JP H07120321 A JPH07120321 A JP H07120321A
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- JP
- Japan
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- wavelength
- measurement
- interval
- spectroscope
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ベースライン測定を迅速にして、かつ適正な
ベースライン関数で測定データを補正することができる
分光光度計を提供することを目的とするものである。 【構成】 ベースライン測定時に測定全波長領域の任意
の波長領域あるいは波長で分光器の波長送り間隔を変更
して駆動することができる制御手段を備えた分光光度計
である。
ベースライン関数で測定データを補正することができる
分光光度計を提供することを目的とするものである。 【構成】 ベースライン測定時に測定全波長領域の任意
の波長領域あるいは波長で分光器の波長送り間隔を変更
して駆動することができる制御手段を備えた分光光度計
である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測定データを適正なベ
ースライン関数で補正することができる分光光度計、特
にそのベースライン測定時における分光器の波長送りの
構成に関するものである。
ースライン関数で補正することができる分光光度計、特
にそのベースライン測定時における分光器の波長送りの
構成に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば、従来のダブルビーム分光光度計
では、試料がない場合に試料側と対照側の光量比が波長
の変化にかかわらず常に一定であることが望ましいが、
実際には装置内の光源、検出器、及び回折格子や反射鏡
などの光学素子の特性に波長依存性があって一定にはな
らない。このため、スペクトル測定などのように波長を
連続的に変化させて測定する場合、測定前に試料のない
状態で測定全波長領域のベースラインを測定し、各波長
ごとに試料側と対照側の光量比をＣＰＵやメモリなどを
用いてこれをベースライン関数として記憶しておき、試
料を測定するときに記憶したベースライン関数で測定デ
ータ（測光値）の補正をしている。補正式は次のとおり
である。
では、試料がない場合に試料側と対照側の光量比が波長
の変化にかかわらず常に一定であることが望ましいが、
実際には装置内の光源、検出器、及び回折格子や反射鏡
などの光学素子の特性に波長依存性があって一定にはな
らない。このため、スペクトル測定などのように波長を
連続的に変化させて測定する場合、測定前に試料のない
状態で測定全波長領域のベースラインを測定し、各波長
ごとに試料側と対照側の光量比をＣＰＵやメモリなどを
用いてこれをベースライン関数として記憶しておき、試
料を測定するときに記憶したベースライン関数で測定デ
ータ（測光値）の補正をしている。補正式は次のとおり
である。
【０００３】 透過率（または反射率）Ｔ＝（Ｓ／Ｒ）／（ＳB ／ＲB ）………（１） ここで、Ｓ ：試料側測光値 Ｒ ：対照側測光値 ＳB ：ベースライン測定時の試料側測光値 ＲB ：ベースライン測定時の対照側測光値 である。
【０００４】なお、上式では検出器の暗電流の補正やオ
ートゼロ、すなわち特定測光値レベルを透過率＝１とす
る補正は本発明と関係がないので省略してある。
ートゼロ、すなわち特定測光値レベルを透過率＝１とす
る補正は本発明と関係がないので省略してある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の分光光度計にあ
っては、ベースライン補正をする波長は離散的にならざ
るをえない。ベースライン測定時の分光器の波長送り間
隔が測定波長間隔よりも広いときは、測定したベースラ
インデータを測定波長間隔まで細かく補間しなければな
らないが、この方法ではベースライン測定波長の間で生
ずる試料側と対照側の光量比の急峻な変化、例えば光源
の切り替えや高次光カットフィルタの切り替えによる光
量の変化が補正できず、試料測定時のスペクトル上に段
差やノイズを生ずる、という問題点がある。
っては、ベースライン補正をする波長は離散的にならざ
るをえない。ベースライン測定時の分光器の波長送り間
隔が測定波長間隔よりも広いときは、測定したベースラ
インデータを測定波長間隔まで細かく補間しなければな
らないが、この方法ではベースライン測定波長の間で生
ずる試料側と対照側の光量比の急峻な変化、例えば光源
の切り替えや高次光カットフィルタの切り替えによる光
量の変化が補正できず、試料測定時のスペクトル上に段
差やノイズを生ずる、という問題点がある。
【０００６】他方、ベースライン測定時の分光器の波長
送り間隔を測定波長間隔と同じにすれば上記のような問
題はなくなるが、この場合にはその分光光度計で測定可
能な最小の波長間隔で測定することになり、ベースライ
ン測定に要する時間が極端に長くなって実用的でない、
という問題点がある。
送り間隔を測定波長間隔と同じにすれば上記のような問
題はなくなるが、この場合にはその分光光度計で測定可
能な最小の波長間隔で測定することになり、ベースライ
ン測定に要する時間が極端に長くなって実用的でない、
という問題点がある。
【０００７】本発明は、このような問題点に鑑み、ベー
スライン測定を迅速にして、かつ適正なベースライン関
数で測定データを補正することができる分光光度計を提
供することを目的とするものである。
スライン測定を迅速にして、かつ適正なベースライン関
数で測定データを補正することができる分光光度計を提
供することを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の分光光度計においては、ベースライン測定
時に測定全波長領域の任意の波長領域あるいは波長で分
光器の波長送り間隔を変更して駆動することができる制
御手段を備えたものである。
に、本発明の分光光度計においては、ベースライン測定
時に測定全波長領域の任意の波長領域あるいは波長で分
光器の波長送り間隔を変更して駆動することができる制
御手段を備えたものである。
【０００９】分光器の波長送り間隔を変更する測定全波
長領域の任意の波長領域あるいは波長とは、光源の切り
替え、高次光カットフィルタの切り替えを行う波長の前
後や回折格子のアノーマリなどが予想される波長または
その波長前後が相当する。
長領域の任意の波長領域あるいは波長とは、光源の切り
替え、高次光カットフィルタの切り替えを行う波長の前
後や回折格子のアノーマリなどが予想される波長または
その波長前後が相当する。
【００１０】波長送り間隔の変更は、指定された波長領
域あるいは波長のところで波長間隔を測定最小波長間隔
と同じにし、それ以外の領域では相対的に広い（粗い）
波長間隔で駆動するように行われる。
域あるいは波長のところで波長間隔を測定最小波長間隔
と同じにし、それ以外の領域では相対的に広い（粗い）
波長間隔で駆動するように行われる。
【００１１】そして、このように分光器の波長送り間隔
を変更して駆動する制御手段としては、ＣＰＵとメモリ
を用いて構成される。
を変更して駆動する制御手段としては、ＣＰＵとメモリ
を用いて構成される。
【００１２】
【作用】上記のように構成された分光光度計は、ベース
ライン測定に際し通常は測定最小波長間隔より広い波長
間隔で試料側と対照側のベースラインデータ（測光値）
を取得し、ＳB ／ＲB の値をベースライン関数としてメ
モリに記憶してゆく。そして、光源の切り替え、高次光
カットフィルタの切り替えを行う波長や回折格子のアノ
ーマリなどが予想される波長の手前にさしかかると、分
光器の波長送り間隔を密な測定最小波長間隔に変更して
駆動し、同様にＳB ／ＲB の値をベースライン関数とし
てメモリに記憶してゆき、これら波長あるいは波長領域
を過ぎると元の相対的に粗い波長間隔で分光器を駆動し
てベースライン測定を継続する。
ライン測定に際し通常は測定最小波長間隔より広い波長
間隔で試料側と対照側のベースラインデータ（測光値）
を取得し、ＳB ／ＲB の値をベースライン関数としてメ
モリに記憶してゆく。そして、光源の切り替え、高次光
カットフィルタの切り替えを行う波長や回折格子のアノ
ーマリなどが予想される波長の手前にさしかかると、分
光器の波長送り間隔を密な測定最小波長間隔に変更して
駆動し、同様にＳB ／ＲB の値をベースライン関数とし
てメモリに記憶してゆき、これら波長あるいは波長領域
を過ぎると元の相対的に粗い波長間隔で分光器を駆動し
てベースライン測定を継続する。
【００１３】測定時には、記憶したベースライン関数を
用いて測定データの補正をしていくが、広い波長間隔で
ベースライン測定した範囲については補間をし、密な波
長間隔でベースライン測定した範囲についてはそのまま
ベースライン関数（データ）を使用して上記（１）式に
より測定データの補正をする。
用いて測定データの補正をしていくが、広い波長間隔で
ベースライン測定した範囲については補間をし、密な波
長間隔でベースライン測定した範囲についてはそのまま
ベースライン関数（データ）を使用して上記（１）式に
より測定データの補正をする。
【００１４】
【実施例】本発明の分光光度計の実施例について図面を
参照して説明すると、図１において、光源１、２の切替
を行う切替鏡３、分光器４、高次光カットフィルタ５な
どの各光学素子の制御、測定側及び対照側から交互に測
定データを取得するための切替スイッチ６の制御、ベー
スライン関数の演算、そのメモリ７への記憶などはＣＰ
Ｕ８が行う。
参照して説明すると、図１において、光源１、２の切替
を行う切替鏡３、分光器４、高次光カットフィルタ５な
どの各光学素子の制御、測定側及び対照側から交互に測
定データを取得するための切替スイッチ６の制御、ベー
スライン関数の演算、そのメモリ７への記憶などはＣＰ
Ｕ８が行う。
【００１５】操作者の指令により試料側セルホルダ９及
び対照側セルホルダ１０に試料のない状態でベースライ
ン測定が開始されると、開始波長（通常は、測定全波長
領域の最短波長あるいは最長波長である。）に分光器４
が設定され、試料側と対照側の検出器１３、１４からの
各測光値が切替スイッチ６の切り替えにより、増幅器１
１及びＡ／Ｄ変換器１２を介してＣＰＵ８に取り込ま
れ、ＳB ／ＲB の値が演算されてベースライン関数とし
てメモリ７に記憶される。
び対照側セルホルダ１０に試料のない状態でベースライ
ン測定が開始されると、開始波長（通常は、測定全波長
領域の最短波長あるいは最長波長である。）に分光器４
が設定され、試料側と対照側の検出器１３、１４からの
各測光値が切替スイッチ６の切り替えにより、増幅器１
１及びＡ／Ｄ変換器１２を介してＣＰＵ８に取り込ま
れ、ＳB ／ＲB の値が演算されてベースライン関数とし
てメモリ７に記憶される。
【００１６】次に、波長送り機構（図示せず）を駆動し
て分光器４の波長が０．５ｎｍ送られ、同様に試料側と
対照側の各測光値の取得、ＳB ／ＲB の値の演算、メモ
リ７への記憶が行われ、この動作が順次繰り返されてゆ
く。そして、あらかじめ設定された高次光カットフィル
タ５の切り替え波長の１ｎｍ手前に達したら、分光器４
の波長送りが測定最小波長間隔である０．０５ｎｍ間隔
に切り替えられて駆動され、同様に試料側と対照側の各
測光値の取得、ＳB ／ＲB の値の演算、メモリ７への記
憶が高次光カットフィルタ５の切り替え波長を１ｎｍ越
えるまで繰り返されてゆく。
て分光器４の波長が０．５ｎｍ送られ、同様に試料側と
対照側の各測光値の取得、ＳB ／ＲB の値の演算、メモ
リ７への記憶が行われ、この動作が順次繰り返されてゆ
く。そして、あらかじめ設定された高次光カットフィル
タ５の切り替え波長の１ｎｍ手前に達したら、分光器４
の波長送りが測定最小波長間隔である０．０５ｎｍ間隔
に切り替えられて駆動され、同様に試料側と対照側の各
測光値の取得、ＳB ／ＲB の値の演算、メモリ７への記
憶が高次光カットフィルタ５の切り替え波長を１ｎｍ越
えるまで繰り返されてゆく。
【００１７】フィルタ５の切り替え波長を１ｎｍ越えた
ら、分光器４の波長送り間隔は元の０．５ｎｍの波長間
隔に戻される。このようにして次の高次光カットフィル
タ５の切り替え波長や光源１、２の切り替え波長の前
後、回折格子のアノーマリが予想される波長領域でも分
光器４の波長送りが０．０５ｎｍ間隔に切り替えられて
駆動され、再び上記と同様の動作を行い、終了波長（測
定全波長領域の最長波長あるいは最短波長）に達した
ら、ベースライン測定が終了する。
ら、分光器４の波長送り間隔は元の０．５ｎｍの波長間
隔に戻される。このようにして次の高次光カットフィル
タ５の切り替え波長や光源１、２の切り替え波長の前
後、回折格子のアノーマリが予想される波長領域でも分
光器４の波長送りが０．０５ｎｍ間隔に切り替えられて
駆動され、再び上記と同様の動作を行い、終了波長（測
定全波長領域の最長波長あるいは最短波長）に達した
ら、ベースライン測定が終了する。
【００１８】試料を設置後、操作者の指令によりスペク
トル測定が開始されると、開始波長に分光器４が設定さ
れ、その後、例えば分光器４が０．１ｎｍの波長間隔で
波長送りされて試料側と対照側の測光値が取得される場
合には、Ｓ／Ｒの値が演算された後、０．５ｎｍの波長
間隔でベースライン測定した波長範囲においては補間し
た値を使用して（１）式により補正された測定データ
が、また０．０５ｎｍの波長間隔でベースライン測定し
た波長範囲ではそのままのベースラインデータを用いて
（１）式により補正された測定データがそれぞれ得られ
る。これら補正後の測定データの集合はスペクトルデー
タとして表示装置１５に表示される。
トル測定が開始されると、開始波長に分光器４が設定さ
れ、その後、例えば分光器４が０．１ｎｍの波長間隔で
波長送りされて試料側と対照側の測光値が取得される場
合には、Ｓ／Ｒの値が演算された後、０．５ｎｍの波長
間隔でベースライン測定した波長範囲においては補間し
た値を使用して（１）式により補正された測定データ
が、また０．０５ｎｍの波長間隔でベースライン測定し
た波長範囲ではそのままのベースラインデータを用いて
（１）式により補正された測定データがそれぞれ得られ
る。これら補正後の測定データの集合はスペクトルデー
タとして表示装置１５に表示される。
【００１９】なお、本発明はスペクトル測定のみなら
ず、複数の異なった波長を用いる、例えば多波長時間変
化の測定などにも応用でき、さらにダブルビーム分光光
度計に限らず、シングルビーム分光光度計でも同様に適
用できる。ただし、この場合には、（１）式はＲ＝ＲB
として次のようになる。
ず、複数の異なった波長を用いる、例えば多波長時間変
化の測定などにも応用でき、さらにダブルビーム分光光
度計に限らず、シングルビーム分光光度計でも同様に適
用できる。ただし、この場合には、（１）式はＲ＝ＲB
として次のようになる。
【００２０】透過率（または反射率）Ｔ＝Ｓ／ＳB
【００２１】
【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、段差やノイズのない測定データが得られ
る。また、ベースラインデータの取得に要する時間も短
く、ベースラインデータ（関数）を記憶しているメモリ
の容量も小さなものでよいので、分光光度計の電源切断
後も電池によって記憶を保持させることが可能である。
ているので、段差やノイズのない測定データが得られ
る。また、ベースラインデータの取得に要する時間も短
く、ベースラインデータ（関数）を記憶しているメモリ
の容量も小さなものでよいので、分光光度計の電源切断
後も電池によって記憶を保持させることが可能である。
【図１】本発明の分光光度計の概要を示す図である。
３…光源切替鏡 ４…分光器 ５…高次光カットフィルタ ６…切替スイッチ ７…メモリ ８…ＣＰＵ
Claims (1)
- 【請求項１】 試料のない状態であらかじめ測定全波長
領域のベースラインを測定し、これをベースライン関数
として記憶しておき、試料を測定するときに記憶したベ
ースライン関数で測定データの補正をする分光光度計に
おいて、 ベースライン測定時に全波長領域の任意の波長領域ある
いは波長で分光器の波長送り間隔を変更して駆動する制
御手段を備えたことを特徴とする分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27051593A JPH07120321A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | 分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27051593A JPH07120321A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | 分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07120321A true JPH07120321A (ja) | 1995-05-12 |
Family
ID=17487311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27051593A Pending JPH07120321A (ja) | 1993-10-28 | 1993-10-28 | 分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07120321A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
| KR20220049599A (ko) * | 2019-12-17 | 2022-04-21 | 구글 엘엘씨 | 관통 디스플레이 분광기로 구성된 방출형 디스플레이 |
-
1993
- 1993-10-28 JP JP27051593A patent/JPH07120321A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7050164B2 (en) | 2000-11-02 | 2006-05-23 | Hitachi, Ltd. | Spectrophotometer |
| KR20220049599A (ko) * | 2019-12-17 | 2022-04-21 | 구글 엘엘씨 | 관통 디스플레이 분광기로 구성된 방출형 디스플레이 |
| US12098953B2 (en) | 2019-12-17 | 2024-09-24 | Google Llc | Emissive display configured with through-display spectrometer |
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