JPH0712874A - 受信機温度検査装置 - Google Patents
受信機温度検査装置Info
- Publication number
- JPH0712874A JPH0712874A JP5150008A JP15000893A JPH0712874A JP H0712874 A JPH0712874 A JP H0712874A JP 5150008 A JP5150008 A JP 5150008A JP 15000893 A JP15000893 A JP 15000893A JP H0712874 A JPH0712874 A JP H0712874A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electromagnetic shielding
- shielding box
- receiver
- frequency signal
- holes
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 受信機の温度検査において、外来の電磁ノイ
ズから十分に遮蔽され、安定した温度環境を安価に提供
する。 【構成】 開閉可能で複数の穴１３を有するか、複数の
穴１３に導電性管１４を貫通させた電磁遮蔽箱１２と、
この外部にエンコーダ１９と高周波信号発生器２０が設
置され、内部には受信機１１が設置され送信アンテナ１
５が固定される。温度制御手段２１は電磁遮蔽箱１２の
外部に設置され内部の温度を制御する。高周波信号発生
器２０はエンコーダ１９の信号により高周波信号を出力
し送信アンテナ１５から送信する。受信機１１はその電
波を受信し応答音を発生する。検査者は電磁遮蔽箱１２
の複数の穴３または導電性管１４から外部へ伝達される
応答音を聞いて判断する。エンコーダ１９，高周波信号
発生器２０がが発生するノイズや外来ノイズは電磁遮蔽
箱１２により遮断され、受信機１１には影響を与えるこ
とはない。
ズから十分に遮蔽され、安定した温度環境を安価に提供
する。 【構成】 開閉可能で複数の穴１３を有するか、複数の
穴１３に導電性管１４を貫通させた電磁遮蔽箱１２と、
この外部にエンコーダ１９と高周波信号発生器２０が設
置され、内部には受信機１１が設置され送信アンテナ１
５が固定される。温度制御手段２１は電磁遮蔽箱１２の
外部に設置され内部の温度を制御する。高周波信号発生
器２０はエンコーダ１９の信号により高周波信号を出力
し送信アンテナ１５から送信する。受信機１１はその電
波を受信し応答音を発生する。検査者は電磁遮蔽箱１２
の複数の穴３または導電性管１４から外部へ伝達される
応答音を聞いて判断する。エンコーダ１９，高周波信号
発生器２０がが発生するノイズや外来ノイズは電磁遮蔽
箱１２により遮断され、受信機１１には影響を与えるこ
とはない。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は受信機温度検査装置に関
し、特に、受信機の温度検査の実施に際し、ノイズを遮
断して検査を行う受信機温度検査装置に関する。
し、特に、受信機の温度検査の実施に際し、ノイズを遮
断して検査を行う受信機温度検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の受信機温度検査装置における電磁
遮蔽箱の一例として、実公平１−１５４６９７号公報に
記載がある。
遮蔽箱の一例として、実公平１−１５４６９７号公報に
記載がある。
【０００３】この公報に記載された従来の電磁遮蔽箱に
ついて図面を参照して詳細に説明する。従来の電磁遮蔽
箱は、図３に示すように、蓋体３２と箱体３３の二つの
部分から構成されるシールドボックス本体３１と、箱体
３３の内部に設けられた受信機置台３４およびアンテナ
３５と、箱体３３の外側に設けられたアンテナ３５の外
部端子３７から構成される。
ついて図面を参照して詳細に説明する。従来の電磁遮蔽
箱は、図３に示すように、蓋体３２と箱体３３の二つの
部分から構成されるシールドボックス本体３１と、箱体
３３の内部に設けられた受信機置台３４およびアンテナ
３５と、箱体３３の外側に設けられたアンテナ３５の外
部端子３７から構成される。
【０００４】シールドボックス本体３１は、金属もしく
は金属と非金属との複合材からなる一重体、または二重
体よりなっている。箱体３３には受信機３６の形状に合
わせた受信機置台３４を設けるとともに、この受信機置
台３４に搭載する受信機３６に対してアンテナ３５をエ
レメントのみ露出して箱体３３に埋設している。
は金属と非金属との複合材からなる一重体、または二重
体よりなっている。箱体３３には受信機３６の形状に合
わせた受信機置台３４を設けるとともに、この受信機置
台３４に搭載する受信機３６に対してアンテナ３５をエ
レメントのみ露出して箱体３３に埋設している。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の電磁遮
蔽箱を用いて受信機の温度検査を行う場合には、予め、
受信機を所定の温度近傍の環境に一定時間放置した後、
上述した電磁遮蔽箱内に設置して検査を行っていたが、
検査中に受信機の発熱により電磁遮蔽箱内の温度が時間
の経過とともに変化するため、所定の条件下で検査を正
確に行えないという欠点があった。
蔽箱を用いて受信機の温度検査を行う場合には、予め、
受信機を所定の温度近傍の環境に一定時間放置した後、
上述した電磁遮蔽箱内に設置して検査を行っていたが、
検査中に受信機の発熱により電磁遮蔽箱内の温度が時間
の経過とともに変化するため、所定の条件下で検査を正
確に行えないという欠点があった。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明の受信機温度検査
装置は、開閉可能でかつ複数の穴を有するかもしくは前
記複数の穴に導電性の管を貫通させた電磁遮蔽箱と、こ
の電磁遮蔽箱の外部に設置し符号化信号を発生するエン
コーダと、前記電磁遮蔽箱の外部に設置し前記エンコー
ダが発生する前記符号化信号により変調された高周波信
号を出力する高周波信号発生器と、前記電磁遮蔽箱内に
設置し所定のレベルの高周波信号を送出する送信アンテ
ナと、前記送信アンテナを前記電磁遮蔽箱に支持固定す
る絶縁性のアンテナ支持手段と、前記電磁遮蔽箱側面に
導電性を有して取り付けた同軸コネクタと、この同軸コ
ネクタと前記送信アンテナとを接続し前記同軸コネクタ
に供給する高周波信号を前記送信アンテナに伝達する同
軸ケーブルと、前記電磁遮蔽箱の外部から前記電磁遮蔽
箱に設けた前記の複数の穴もしくは前記導電性の管を介
して送気する空気により前記電磁遮蔽箱内の温度を制御
する温度制御手段とを備えている。
装置は、開閉可能でかつ複数の穴を有するかもしくは前
記複数の穴に導電性の管を貫通させた電磁遮蔽箱と、こ
の電磁遮蔽箱の外部に設置し符号化信号を発生するエン
コーダと、前記電磁遮蔽箱の外部に設置し前記エンコー
ダが発生する前記符号化信号により変調された高周波信
号を出力する高周波信号発生器と、前記電磁遮蔽箱内に
設置し所定のレベルの高周波信号を送出する送信アンテ
ナと、前記送信アンテナを前記電磁遮蔽箱に支持固定す
る絶縁性のアンテナ支持手段と、前記電磁遮蔽箱側面に
導電性を有して取り付けた同軸コネクタと、この同軸コ
ネクタと前記送信アンテナとを接続し前記同軸コネクタ
に供給する高周波信号を前記送信アンテナに伝達する同
軸ケーブルと、前記電磁遮蔽箱の外部から前記電磁遮蔽
箱に設けた前記の複数の穴もしくは前記導電性の管を介
して送気する空気により前記電磁遮蔽箱内の温度を制御
する温度制御手段とを備えている。
【０００７】
【実施例】次に、本発明について図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
【０００８】図１は、本発明の一実施例を示す構成図で
ある。本発明の受信機温度検査装置は、図１に示すよう
に、電磁遮蔽箱１２と、送信アンテナ１５と、アンテナ
支持機構１６と、同軸コネクタ１７と、同軸ケーブル１
８と、エンコーダ１９と、高周波信号発生器２０と、温
度制御装置２１とから構成される。
ある。本発明の受信機温度検査装置は、図１に示すよう
に、電磁遮蔽箱１２と、送信アンテナ１５と、アンテナ
支持機構１６と、同軸コネクタ１７と、同軸ケーブル１
８と、エンコーダ１９と、高周波信号発生器２０と、温
度制御装置２１とから構成される。
【０００９】電磁遮蔽箱１２には複数の穴１３、もしく
はその複数の穴１３に導電性の管（以下、導電性管とい
う）１４を貫通させている。また、同軸コネクタ１７は
電磁遮蔽箱１２に導電性を有して取り付けられている。
電磁遮蔽箱１２は開閉可能であって、かつその表面には
電磁遮蔽箱１２の内外を貫通する複数の穴１３か、もし
くはその複数の穴１３を貫通する導電性の管１４を備え
ている。
はその複数の穴１３に導電性の管（以下、導電性管とい
う）１４を貫通させている。また、同軸コネクタ１７は
電磁遮蔽箱１２に導電性を有して取り付けられている。
電磁遮蔽箱１２は開閉可能であって、かつその表面には
電磁遮蔽箱１２の内外を貫通する複数の穴１３か、もし
くはその複数の穴１３を貫通する導電性の管１４を備え
ている。
【００１０】電磁遮蔽箱１２の外部には、エンコーダ１
９と高周波信号発生器２０とが設置されており、エンコ
ーダ１９は符号化信号を生成し出力し、高周波信号発生
器２０はエンコーダ１９から入力する符号化信号で変調
した高周波信号を出力する。高周波信号発生器２０から
出力された高周波信号は、同軸コネクタ１７および同軸
ケーブル１８を通して送信アンテナ１５へ導かれ、電波
として送信される。
９と高周波信号発生器２０とが設置されており、エンコ
ーダ１９は符号化信号を生成し出力し、高周波信号発生
器２０はエンコーダ１９から入力する符号化信号で変調
した高周波信号を出力する。高周波信号発生器２０から
出力された高周波信号は、同軸コネクタ１７および同軸
ケーブル１８を通して送信アンテナ１５へ導かれ、電波
として送信される。
【００１１】なお、送信アンテナ１５は絶縁性のアンテ
ナ支持機構１６により機械的に保持され電磁遮蔽箱１２
内に固定されている。
ナ支持機構１６により機械的に保持され電磁遮蔽箱１２
内に固定されている。
【００１２】ここで、受信機１１を検査する場合は、電
磁遮蔽箱１２内に受信機１１を設置し、受信機１１は送
信アンテナ１５から送信された電波を受信し応答音を発
生する。応答音は電磁遮蔽箱１２に設けられた複数の穴
３、もしくは導電性管１４を介して電磁遮蔽箱の外部へ
伝達される。そして、検査者はその応答音を聞き取って
受信機１１の性能を確認する。
磁遮蔽箱１２内に受信機１１を設置し、受信機１１は送
信アンテナ１５から送信された電波を受信し応答音を発
生する。応答音は電磁遮蔽箱１２に設けられた複数の穴
３、もしくは導電性管１４を介して電磁遮蔽箱の外部へ
伝達される。そして、検査者はその応答音を聞き取って
受信機１１の性能を確認する。
【００１３】このとき、電磁遮蔽箱１２の外部には温度
制御装置２１が設置されており、温度制御装２１は、電
磁遮蔽箱１２に設けられた複数の穴１３、もしくは導電
性管１４を介して電磁遮蔽箱１２内に空気を送り込み内
部の温度が一定になるように制御する。
制御装置２１が設置されており、温度制御装２１は、電
磁遮蔽箱１２に設けられた複数の穴１３、もしくは導電
性管１４を介して電磁遮蔽箱１２内に空気を送り込み内
部の温度が一定になるように制御する。
【００１４】また、測定系であるエンコーダ１９や高周
波信号発生器２０が発生するノイズや外来の電磁波ノイ
ズは、電磁遮蔽箱１２によって遮断されるため、受信機
１１には何ら影響を与えることはない。
波信号発生器２０が発生するノイズや外来の電磁波ノイ
ズは、電磁遮蔽箱１２によって遮断されるため、受信機
１１には何ら影響を与えることはない。
【００１５】図２は、電磁遮蔽性を説明するための図で
あって、図２（ａ）に示すように、電磁遮蔽箱１２に開
けられた穴１３が配置されている場合、遮蔽効果は次式
で与えられる。
あって、図２（ａ）に示すように、電磁遮蔽箱１２に開
けられた穴１３が配置されている場合、遮蔽効果は次式
で与えられる。
【００１６】 Ｓ＝２０ｌｏｇ（ｃ2 ｌ／ｄ3 ）＋３２ｔ／ｄ＋３．８（ｄＢ） … (１) ここで、ｃは穴のピッチ，ｄは穴の直径，ｌは最遠の穴
の中心間の距離，ｔは板厚であり、周波数には無関係で
ある。ただし、ｄ＜波長／２πの場合に（１）式は成立
する。
の中心間の距離，ｔは板厚であり、周波数には無関係で
ある。ただし、ｄ＜波長／２πの場合に（１）式は成立
する。
【００１７】従って、例えば、ｃ＝５０ｍｍ，ｌ＝２５
０ｍｍ，ｄ＝５ｍｍ，ｔ＝５ｍｍとすると、遮蔽効果Ｓ
≒１０９ｄＢとなり、受信機の温度検査を行う上で十分
な電磁遮蔽効果が得られる。
０ｍｍ，ｄ＝５ｍｍ，ｔ＝５ｍｍとすると、遮蔽効果Ｓ
≒１０９ｄＢとなり、受信機の温度検査を行う上で十分
な電磁遮蔽効果が得られる。
【００１８】さらに、高い電磁遮蔽性が必要な場合に
は、上記パラメータの組み合わせを変更するか、穴に導
電性管を貫通させることにより効果を高められる。
は、上記パラメータの組み合わせを変更するか、穴に導
電性管を貫通させることにより効果を高められる。
【００１９】次に、図２（ｂ）は、導電性の管の形状を
説明するための図である。図中、ｔは管の長さ，ｄは管
の直径を示している。また、「解析ノイズ・メカニズ
ム」（岡村 廸夫著，ＣＱ出版社）によれば、この場合
は、 ｆC ＝２７０／ｄ （Ｈｚ） ……… (２) を遮断周波数とし、 Ｓ ＝３２×ｔ／ｄ （ｄＢ） ……… (３) を減衰率とする特性を有し、ｆC よりも低い周波数での
減衰器となる。
説明するための図である。図中、ｔは管の長さ，ｄは管
の直径を示している。また、「解析ノイズ・メカニズ
ム」（岡村 廸夫著，ＣＱ出版社）によれば、この場合
は、 ｆC ＝２７０／ｄ （Ｈｚ） ……… (２) を遮断周波数とし、 Ｓ ＝３２×ｔ／ｄ （ｄＢ） ……… (３) を減衰率とする特性を有し、ｆC よりも低い周波数での
減衰器となる。
【００２０】ここで、例えば、ｄ＝５ｍｍ、ｔ＝４０ｍ
ｍとすると、 (２) 式， (３) 式はそれぞれ、 ｆC ＝５４（ＧＨｚ）， Ｓ＝２５６（ｄＢ） となる。
ｍとすると、 (２) 式， (３) 式はそれぞれ、 ｆC ＝５４（ＧＨｚ）， Ｓ＝２５６（ｄＢ） となる。
【００２１】
【発明の効果】本発明の受信機温度検査装置は、電磁遮
蔽箱に内外を貫通する複数の穴もしくはその穴を貫通す
る導電性の管を設けることにより、電磁遮断性を失うこ
となく、さらに電磁遮蔽箱の外部に設置した温度制御手
段が、この穴または導電性管を通して電磁遮蔽箱内の温
度を制御するため、所定の条件下で温度検査を正確に行
えるという効果がある。
蔽箱に内外を貫通する複数の穴もしくはその穴を貫通す
る導電性の管を設けることにより、電磁遮断性を失うこ
となく、さらに電磁遮蔽箱の外部に設置した温度制御手
段が、この穴または導電性管を通して電磁遮蔽箱内の温
度を制御するため、所定の条件下で温度検査を正確に行
えるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示す構成図である。
【図２】電磁遮蔽性を説明するための図である。
【図３】従来の電磁遮蔽箱の概要を説明する斜視図であ
る。
る。
１１ 受信機 １２ 電磁遮蔽箱 １３ 穴 １４ 導電性管 １５ 送信アンテナ １６ アンテナ支持機構 １７ 同軸コネクタ １８ 同軸ケーブル １９ エンコーダ ２０ 高周波信号発生器 ２１ 温度制御装置 ３１ シールドボックス本体 ３２ 蓋体 ３３ 箱体 ３４ 受信機置台 ３５ アンテナ ３６ 受信機 ３７ 外部端子
Claims (1)
- 【請求項１】 開閉可能でかつ複数の穴を有するかもし
くは前記複数の穴に導電性の管を貫通させた電磁遮蔽箱
と、この電磁遮蔽箱の外部に設置し符号化信号を発生す
るエンコーダと、前記電磁遮蔽箱の外部に設置し前記エ
ンコーダが発生する前記符号化信号により変調された高
周波信号を出力する高周波信号発生器と、前記電磁遮蔽
箱内に設置し所定のレベルの高周波信号を送出する送信
アンテナと、前記送信アンテナを前記電磁遮蔽箱に支持
固定する絶縁性のアンテナ支持手段と、前記電磁遮蔽箱
側面に導電性を有して取り付けた同軸コネクタと、この
同軸コネクタと前記送信アンテナとを接続し前記同軸コ
ネクタに供給する高周波信号を前記送信アンテナに伝達
する同軸ケーブルと、前記電磁遮蔽箱の外部から前記電
磁遮蔽箱に設けた前記の複数の穴もしくは前記導電性の
管を介して送気する空気により前記電磁遮蔽箱内の温度
を制御する温度制御手段とを備えることを特徴とする受
信機温度検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5150008A JP2518152B2 (ja) | 1993-06-22 | 1993-06-22 | 受信機温度検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5150008A JP2518152B2 (ja) | 1993-06-22 | 1993-06-22 | 受信機温度検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0712874A true JPH0712874A (ja) | 1995-01-17 |
| JP2518152B2 JP2518152B2 (ja) | 1996-07-24 |
Family
ID=15487463
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5150008A Expired - Lifetime JP2518152B2 (ja) | 1993-06-22 | 1993-06-22 | 受信機温度検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2518152B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009229083A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01154697U (ja) * | 1988-04-18 | 1989-10-24 | ||
| JPH02118467A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-02 | Fujitsu Ltd | 電子機器の温度試験方法 |
-
1993
- 1993-06-22 JP JP5150008A patent/JP2518152B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01154697U (ja) * | 1988-04-18 | 1989-10-24 | ||
| JPH02118467A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-02 | Fujitsu Ltd | 電子機器の温度試験方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009229083A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 半導体試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2518152B2 (ja) | 1996-07-24 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960319 |