JPH07130721A - 処理装置 - Google Patents
処理装置Info
- Publication number
- JPH07130721A JPH07130721A JP5294479A JP29447993A JPH07130721A JP H07130721 A JPH07130721 A JP H07130721A JP 5294479 A JP5294479 A JP 5294479A JP 29447993 A JP29447993 A JP 29447993A JP H07130721 A JPH07130721 A JP H07130721A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wafer
- boat
- coating
- heat treatment
- processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Formation Of Insulating Films (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被処理体の塗布処理と加熱処理を連続して行
い、製品歩留まりの向上及びスループットの向上を図
る。 【構成】 ロード・アンロード部10から供給されるウ
エハWを枚葉処理によりSOG溶液を塗布する塗布処理
部20と、塗布後の複数枚のウエハWをウエハボート4
1にて保持して加熱炉31内に搬送すると共に加熱処理
する熱処理部30との間に、インターフェイス部40を
配置する。インターフェイス部40に、複数のウエハボ
ート41を着脱可能に載置すると共に同時に移動するボ
ートライナー46を設ける。加熱処理部30に、ボート
ライナー46と加熱炉側との間でウエハボート41の受
け渡しを司るボート移送機構35を設ける。これによ
り、塗布処理部で枚葉処理された被処理体を複数枚同時
に加熱処理部30に搬送して、加熱処理を行うことがで
きる。
い、製品歩留まりの向上及びスループットの向上を図
る。 【構成】 ロード・アンロード部10から供給されるウ
エハWを枚葉処理によりSOG溶液を塗布する塗布処理
部20と、塗布後の複数枚のウエハWをウエハボート4
1にて保持して加熱炉31内に搬送すると共に加熱処理
する熱処理部30との間に、インターフェイス部40を
配置する。インターフェイス部40に、複数のウエハボ
ート41を着脱可能に載置すると共に同時に移動するボ
ートライナー46を設ける。加熱処理部30に、ボート
ライナー46と加熱炉側との間でウエハボート41の受
け渡しを司るボート移送機構35を設ける。これによ
り、塗布処理部で枚葉処理された被処理体を複数枚同時
に加熱処理部30に搬送して、加熱処理を行うことがで
きる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、被処理体の表面に塗
布膜を形成する処理装置に関するものである。
布膜を形成する処理装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体デバイスの製造工程にお
いて、例えば半導体ウエハ(以下にウエハという)等の
被処理体の表面上にフォトリソグラフィー技術を用いて
所定の回路パターンの転写を行っている。
いて、例えば半導体ウエハ(以下にウエハという)等の
被処理体の表面上にフォトリソグラフィー技術を用いて
所定の回路パターンの転写を行っている。
【0003】また、近年の回路パターンの集積度の向上
に伴い、回路配線の多層化が進んでおり、このような多
層配線構造においては、下層配線の凹凸を可及的に少な
くすることが肝要であり、そのため、下層配線と上層配
線との間を相互に絶縁するための層間絶縁膜を平坦化す
るための技術が必要である。
に伴い、回路配線の多層化が進んでおり、このような多
層配線構造においては、下層配線の凹凸を可及的に少な
くすることが肝要であり、そのため、下層配線と上層配
線との間を相互に絶縁するための層間絶縁膜を平坦化す
るための技術が必要である。
【0004】そこで、従来では、層間絶縁膜を平坦化す
る方法として、塗布ガラス[SOG;Spin On Glass]
を用いる方法が知られている。このSOG膜塗布方法
は、膜となる成分(例えばシラノール化合物(Si(O
H)4))と溶媒(例えばエチルアルコール)とを混合
した処理液(溶液)を被処理体であるウエハ上に塗布
し、熱処理で溶媒を蒸発させ重合反応を進めて絶縁膜を
形成する技術である。具体的には、まず、ウエハをスピ
ンチャック上に載置させて、ウエハを回転(2000〜
6000rpm)させながら、ウエハ上にSOGの溶液
を滴下して塗布してSOG膜を形成する。次に、プレヒ
ート工程で100〜140℃の温度下で熱処理すること
によって溶媒を蒸発した後、加熱装置内にウエハを搬入
して約400℃の温度下で熱処理することにより、SO
G膜をシロキサン結合している。また、SOG膜を多層
に形成する場合には、ウエハ上にSOG溶液を塗布して
溶媒を蒸発する工程を繰り返して行った後に、塗布後の
ウエハを加熱装置内に搬入して熱処理するか、あるい
は、ウエハ上にSOG溶液を塗布して溶媒を蒸発した
後、加熱装置内に搬入して熱処理を行う工程を繰り返し
て多層のSOG膜を形成している。
る方法として、塗布ガラス[SOG;Spin On Glass]
を用いる方法が知られている。このSOG膜塗布方法
は、膜となる成分(例えばシラノール化合物(Si(O
H)4))と溶媒(例えばエチルアルコール)とを混合
した処理液(溶液)を被処理体であるウエハ上に塗布
し、熱処理で溶媒を蒸発させ重合反応を進めて絶縁膜を
形成する技術である。具体的には、まず、ウエハをスピ
ンチャック上に載置させて、ウエハを回転(2000〜
6000rpm)させながら、ウエハ上にSOGの溶液
を滴下して塗布してSOG膜を形成する。次に、プレヒ
ート工程で100〜140℃の温度下で熱処理すること
によって溶媒を蒸発した後、加熱装置内にウエハを搬入
して約400℃の温度下で熱処理することにより、SO
G膜をシロキサン結合している。また、SOG膜を多層
に形成する場合には、ウエハ上にSOG溶液を塗布して
溶媒を蒸発する工程を繰り返して行った後に、塗布後の
ウエハを加熱装置内に搬入して熱処理するか、あるい
は、ウエハ上にSOG溶液を塗布して溶媒を蒸発した
後、加熱装置内に搬入して熱処理を行う工程を繰り返し
て多層のSOG膜を形成している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ウエハ表面
にSOG溶液を塗布する塗布処理工程においては、上述
したように、ウエハを回転させながらウエハ表面にSO
G溶液を滴下して拡散させるスピンコート法によって1
枚のウエハごとにSOG溶液を塗布する枚葉処理が行わ
れている。また、塗布後のウエハを加熱処理する熱処理
工程においては、作業能率の面で複数枚のウエハをウエ
ハボートのような保持手段にて保持すると共に加熱装置
内に搬入して行うバッチ処理が適している。そのため、
従来では枚葉処理の塗布処理工程とバッチ処理の熱処理
工程とをそれぞれ別の装置で行っている。
にSOG溶液を塗布する塗布処理工程においては、上述
したように、ウエハを回転させながらウエハ表面にSO
G溶液を滴下して拡散させるスピンコート法によって1
枚のウエハごとにSOG溶液を塗布する枚葉処理が行わ
れている。また、塗布後のウエハを加熱処理する熱処理
工程においては、作業能率の面で複数枚のウエハをウエ
ハボートのような保持手段にて保持すると共に加熱装置
内に搬入して行うバッチ処理が適している。そのため、
従来では枚葉処理の塗布処理工程とバッチ処理の熱処理
工程とをそれぞれ別の装置で行っている。
【0006】しかしながら、塗布処理工程と熱処理工程
とを別の装置で行うことは、設置スペースを広くする必
要があるばかりか、塗布処理後に一旦塗布装置の外に被
処理体を搬送した後に熱処理装置に搬入するため、処理
効率の低下を招くという問題あった。更には、塗布処理
後に被処理体を大気に晒すと、塗布面に有機物や微細な
ごみ等が付着して歩留まりの低下をきたす虞れがあり、
これを解決するためには塗布処理後の被処理体の管理に
細心の注意を施す必要がある。
とを別の装置で行うことは、設置スペースを広くする必
要があるばかりか、塗布処理後に一旦塗布装置の外に被
処理体を搬送した後に熱処理装置に搬入するため、処理
効率の低下を招くという問題あった。更には、塗布処理
後に被処理体を大気に晒すと、塗布面に有機物や微細な
ごみ等が付着して歩留まりの低下をきたす虞れがあり、
これを解決するためには塗布処理後の被処理体の管理に
細心の注意を施す必要がある。
【0007】この発明は上記事情に鑑みなされたもの
で、被処理体の塗布処理と加熱処理を連続して行うこと
を可能とし、製品歩留まりの向上とスループットの向上
を図れるようにした処理装置を提供しようとするもので
ある。
で、被処理体の塗布処理と加熱処理を連続して行うこと
を可能とし、製品歩留まりの向上とスループットの向上
を図れるようにした処理装置を提供しようとするもので
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の第1の処理装置は、枚葉処理により被処
理体に処理液を塗布する塗布処理部と、上記処理液を塗
布後の複数枚の被処理体を保持手段にて保持して加熱処
理する熱処理部と、上記塗布処理部と熱処理部間、上記
被処理体を搬送するインターフェイス部とを具備し、上
記インターフェイス部に、上記保持手段を着脱可能に載
置すると共に複数の保持手段を同時に移動する移動手段
を設け、上記熱処理部に、上記移動手段と加熱装置との
間で上記保持手段の受け渡しを司る移送手段を設けてな
ることを特徴とするものである。
に、この発明の第1の処理装置は、枚葉処理により被処
理体に処理液を塗布する塗布処理部と、上記処理液を塗
布後の複数枚の被処理体を保持手段にて保持して加熱処
理する熱処理部と、上記塗布処理部と熱処理部間、上記
被処理体を搬送するインターフェイス部とを具備し、上
記インターフェイス部に、上記保持手段を着脱可能に載
置すると共に複数の保持手段を同時に移動する移動手段
を設け、上記熱処理部に、上記移動手段と加熱装置との
間で上記保持手段の受け渡しを司る移送手段を設けてな
ることを特徴とするものである。
【0009】この発明において、上記移動手段上には少
なくとも複数の保持手段が着脱可能に載置されていれば
よいが、好ましくは移動手段上に、保持手段が保有でき
る被処理体の枚数に満たない不足分のを補充するダミー
用被処理体を収容するダミー用被処理体の保持手段を載
置する方がよい。
なくとも複数の保持手段が着脱可能に載置されていれば
よいが、好ましくは移動手段上に、保持手段が保有でき
る被処理体の枚数に満たない不足分のを補充するダミー
用被処理体を収容するダミー用被処理体の保持手段を載
置する方がよい。
【0010】また、上記移動手段上に保持手段を載置す
る形態として、移動手段上の同心円上に適宜間隔をおい
て立設する耐薬品及び耐食性の固定ピン上に保持手段を
載置する方が好ましい。この場合、移動手段側に保持手
段の有無検出手段及び/又は位置ずれ検出手段を設ける
方が好ましい。また、移動手段側に保持手段の転倒を防
止する転倒防止部材を設けておく方が好ましい。
る形態として、移動手段上の同心円上に適宜間隔をおい
て立設する耐薬品及び耐食性の固定ピン上に保持手段を
載置する方が好ましい。この場合、移動手段側に保持手
段の有無検出手段及び/又は位置ずれ検出手段を設ける
方が好ましい。また、移動手段側に保持手段の転倒を防
止する転倒防止部材を設けておく方が好ましい。
【0011】また、上記移動手段又は保持手段に、保持
手段に保持される被処理体の適正位置を検出する検出手
段を設ける法が好ましい。この場合、被処理体の位置ず
れを修正する手段として、保持手段に対して被処理体を
搬入・搬出する搬入・搬出機構を用いること方が好まし
い。
手段に保持される被処理体の適正位置を検出する検出手
段を設ける法が好ましい。この場合、被処理体の位置ず
れを修正する手段として、保持手段に対して被処理体を
搬入・搬出する搬入・搬出機構を用いること方が好まし
い。
【0012】また、この発明の第2の処理装置は、枚葉
処理により被処理体に処理液を塗布する塗布処理部と、
上記処理液を塗布後の複数枚の被処理体を保持手段にて
保持して加熱処理する熱処理部と、上記塗布処理部と熱
処理部間、上記被処理体を搬送するインターフェイス部
とを具備し、上記インターフェイス部に、上記保持手段
を複数(n)配設し、上記被処理体供給部に、n−1個
の保持手段が保有する枚数の被処理体を配備してなるこ
とを特徴とするものである。
処理により被処理体に処理液を塗布する塗布処理部と、
上記処理液を塗布後の複数枚の被処理体を保持手段にて
保持して加熱処理する熱処理部と、上記塗布処理部と熱
処理部間、上記被処理体を搬送するインターフェイス部
とを具備し、上記インターフェイス部に、上記保持手段
を複数(n)配設し、上記被処理体供給部に、n−1個
の保持手段が保有する枚数の被処理体を配備してなるこ
とを特徴とするものである。
【0013】
【作用】上記のように構成されるこの発明の処理装置に
よれば、塗布処理部で枚葉処理により塗布処理された被
処理体をインターフェイス部の保持手段に所定枚数搬入
し、そして、移動手段を移動して被処理体を保持した保
持手段を所定距離移動した後、熱処理部の移送手段によ
って保持手段を加熱装置内に搬入して適宜温度下で被処
理体をバッチ処理により加熱処理することができる。加
熱処理された被処理体は再びインターフェイス部内に搬
送され、保持手段から一枚ずつ搬出されて外部に取り出
されるか、あるいは、再度、塗布処理工程に搬送されて
塗布処理が施される。したがって、被処理体の塗布処理
と加熱処理をインターフェイス部を介して連続して行う
ことができるので、スループットの向上が図れ、また、
塗布処理された被処理体は外部の大気に晒されることが
ないので、被処理体に有機物や微細ごみ等が付着するこ
とがなく、製品歩留まりの向上を図ることができる。
よれば、塗布処理部で枚葉処理により塗布処理された被
処理体をインターフェイス部の保持手段に所定枚数搬入
し、そして、移動手段を移動して被処理体を保持した保
持手段を所定距離移動した後、熱処理部の移送手段によ
って保持手段を加熱装置内に搬入して適宜温度下で被処
理体をバッチ処理により加熱処理することができる。加
熱処理された被処理体は再びインターフェイス部内に搬
送され、保持手段から一枚ずつ搬出されて外部に取り出
されるか、あるいは、再度、塗布処理工程に搬送されて
塗布処理が施される。したがって、被処理体の塗布処理
と加熱処理をインターフェイス部を介して連続して行う
ことができるので、スループットの向上が図れ、また、
塗布処理された被処理体は外部の大気に晒されることが
ないので、被処理体に有機物や微細ごみ等が付着するこ
とがなく、製品歩留まりの向上を図ることができる。
【0014】また、移動手段上に、ダミー用被処理体を
収容するダミー用被処理体の保持手段を載置することに
より、保持手段に被処理体を搬入する際、保持手段が保
有できる枚数に満たない時、不足枚数分だけ不足部分に
ダミー用被処理体を搬入して、常時保持手段が保有可能
な枚数分の被処理体及びダミー用被処理体を保持手段に
て保持して熱処理することができるので、被処理体の熱
処理を均一に行うことができ、塗布膜の均一化を図るこ
とができる。
収容するダミー用被処理体の保持手段を載置することに
より、保持手段に被処理体を搬入する際、保持手段が保
有できる枚数に満たない時、不足枚数分だけ不足部分に
ダミー用被処理体を搬入して、常時保持手段が保有可能
な枚数分の被処理体及びダミー用被処理体を保持手段に
て保持して熱処理することができるので、被処理体の熱
処理を均一に行うことができ、塗布膜の均一化を図るこ
とができる。
【0015】また、インターフェイス部に、上記保持手
段を複数(n)配設し、被処理体供給部に、n−1個の
保持手段が保有する枚数の被処理体を配備することによ
り、予備の保持手段に塗布処理済みの被処理体を収容し
て待機させることができるので、複数回塗布処理を行う
ことが可能となる。また、保持手段を洗浄する場合や交
換する場合においても装置全体の稼働を停止することな
く塗布処理及び加熱処理を連続して行うことができる。
段を複数(n)配設し、被処理体供給部に、n−1個の
保持手段が保有する枚数の被処理体を配備することによ
り、予備の保持手段に塗布処理済みの被処理体を収容し
て待機させることができるので、複数回塗布処理を行う
ことが可能となる。また、保持手段を洗浄する場合や交
換する場合においても装置全体の稼働を停止することな
く塗布処理及び加熱処理を連続して行うことができる。
【0016】
【実施例】以下にこの発明の実施例を添付図面に基いて
詳細に説明する。ここでは、この発明の処理装置をSO
G塗布・加熱装置に適用した場合について説明する。図
1はSOG塗布・加熱装置の概略平面図、図2はその概
略斜視図が示されている。
詳細に説明する。ここでは、この発明の処理装置をSO
G塗布・加熱装置に適用した場合について説明する。図
1はSOG塗布・加熱装置の概略平面図、図2はその概
略斜視図が示されている。
【0017】上記SOG塗布・加熱装置は、被処理体例
えば半導体ウエハW(以下にウエハという)を搬入(供
給)又は搬出するロード・アンロード部10(ウエハ供
給部)と、搬送手段であるウエハ搬送アーム21により
搬送されるウエハWを枚葉処理により処理液としてのS
OG溶液をウエハWに塗布する塗布処理部20と、SO
G溶液を塗布後の複数枚のウエハWをウエハボート41
(保持手段)にて収納保持して加熱装置である加熱炉3
1内に搬送し加熱処理する熱処理部30と、塗布処理部
20と熱処理部30間、ウエハWを搬送するインターフ
ェイス部40とで主要部が構成されている。
えば半導体ウエハW(以下にウエハという)を搬入(供
給)又は搬出するロード・アンロード部10(ウエハ供
給部)と、搬送手段であるウエハ搬送アーム21により
搬送されるウエハWを枚葉処理により処理液としてのS
OG溶液をウエハWに塗布する塗布処理部20と、SO
G溶液を塗布後の複数枚のウエハWをウエハボート41
(保持手段)にて収納保持して加熱装置である加熱炉3
1内に搬送し加熱処理する熱処理部30と、塗布処理部
20と熱処理部30間、ウエハWを搬送するインターフ
ェイス部40とで主要部が構成されている。
【0018】上記ロード・アンロード部10は、未処理
のウエハWを収容するウエハカセット11と、処理後の
ウエハWを収容するウエハカセット12を載置台13上
に直線状に載置し、これらウエハカセット11,12の
開口側にX,Y(水平),Z(上下)方向に移動自在な
ウエハ搬送用ピンセット14を配設してなる。このよう
に構成されるロード・アンロード部10において、ピン
セット14によってウエハカセット11から取り出され
た未処理のウエハWは、中央部付近の受渡し位置に搬送
されて塗布処理部20の搬送手段であるウエハ搬送アー
ム21に受け渡されて塗布処理が施される。また、塗布
及び加熱処理されたウエハWがウエハ搬送アーム21に
保持されて上記受渡し位置まで搬送されると、その処理
済のウエハWをピンセット14にて受け取って処理済用
ウエハカセット12内にウエハWを搬送するようになっ
ている。
のウエハWを収容するウエハカセット11と、処理後の
ウエハWを収容するウエハカセット12を載置台13上
に直線状に載置し、これらウエハカセット11,12の
開口側にX,Y(水平),Z(上下)方向に移動自在な
ウエハ搬送用ピンセット14を配設してなる。このよう
に構成されるロード・アンロード部10において、ピン
セット14によってウエハカセット11から取り出され
た未処理のウエハWは、中央部付近の受渡し位置に搬送
されて塗布処理部20の搬送手段であるウエハ搬送アー
ム21に受け渡されて塗布処理が施される。また、塗布
及び加熱処理されたウエハWがウエハ搬送アーム21に
保持されて上記受渡し位置まで搬送されると、その処理
済のウエハWをピンセット14にて受け取って処理済用
ウエハカセット12内にウエハWを搬送するようになっ
ている。
【0019】上記塗布処理部20は、X方向に伸びる搬
送路22に沿って移動自在でかつY方向,θ方向及びZ
方向に昇降可能なウエハ搬送アーム21を具備してな
り、搬送路22に関して対向する一方の側には塗布前の
ウエハWを所定の温度まで冷却するクーリング機構23
と、塗布後のウエハWを所定温度(例えば100〜14
0℃)まで加熱してSOG溶液中の溶媒を蒸発する多段
に複数個積層されたベーク機構24とを配設し、また、
対向する他方の側にはクーリング機構23で冷却された
ウエハWの表面に処理液としてのSOG溶液を供給例え
ば滴下して塗布する塗布機構25と、SOG溶液等の薬
品タンク(図示せず)を収容する収容室26とを配設し
てなる。
送路22に沿って移動自在でかつY方向,θ方向及びZ
方向に昇降可能なウエハ搬送アーム21を具備してな
り、搬送路22に関して対向する一方の側には塗布前の
ウエハWを所定の温度まで冷却するクーリング機構23
と、塗布後のウエハWを所定温度(例えば100〜14
0℃)まで加熱してSOG溶液中の溶媒を蒸発する多段
に複数個積層されたベーク機構24とを配設し、また、
対向する他方の側にはクーリング機構23で冷却された
ウエハWの表面に処理液としてのSOG溶液を供給例え
ば滴下して塗布する塗布機構25と、SOG溶液等の薬
品タンク(図示せず)を収容する収容室26とを配設し
てなる。
【0020】この場合、塗布機構25は、ウエハWを保
持回転するスピンチャック25aの外周側にカップ25
bを周設してなり、カップ25bの外側にSOG溶液供
給ノズル25cとウエハWの周辺部分のSOGを溶解除
去するためのサイドリンス用ノズル25dを配設し、こ
れらノズル25c,25dをスキャンアーム25eにて
ウエハWの上面側に搬送し得るように構成されている。
なお、クーリング機構23の上部に、例えば塗布前のウ
エハ表面に付着する有機物をオゾン(O3)によって分
解し灰化除去するためのUV(Ultraviolet)照射装置
27を設けることも可能である。
持回転するスピンチャック25aの外周側にカップ25
bを周設してなり、カップ25bの外側にSOG溶液供
給ノズル25cとウエハWの周辺部分のSOGを溶解除
去するためのサイドリンス用ノズル25dを配設し、こ
れらノズル25c,25dをスキャンアーム25eにて
ウエハWの上面側に搬送し得るように構成されている。
なお、クーリング機構23の上部に、例えば塗布前のウ
エハ表面に付着する有機物をオゾン(O3)によって分
解し灰化除去するためのUV(Ultraviolet)照射装置
27を設けることも可能である。
【0021】上記インターフェイス部40は、図3及び
図4に示すように、ほぼ密閉された箱状の室42内に、
塗布処理部20から搬送されたウエハWを受け取る位置
決め機構43と、この位置決め機構43によって位置決
めされたウエハWを受け取ってウエハボート41に搬入
又はウエハボート41からウエハWを搬出する搬入・搬
出機構44と、複数n(図面では3個の場合を示す)の
ウエハボート41を着脱可能に載置すると共に1つのダ
ミー用被処理体例えばダミーウエハ用ボート45を立設
固定しY方向に往復移動可能なボートライナー46(移
動手段)とを配設してなる。
図4に示すように、ほぼ密閉された箱状の室42内に、
塗布処理部20から搬送されたウエハWを受け取る位置
決め機構43と、この位置決め機構43によって位置決
めされたウエハWを受け取ってウエハボート41に搬入
又はウエハボート41からウエハWを搬出する搬入・搬
出機構44と、複数n(図面では3個の場合を示す)の
ウエハボート41を着脱可能に載置すると共に1つのダ
ミー用被処理体例えばダミーウエハ用ボート45を立設
固定しY方向に往復移動可能なボートライナー46(移
動手段)とを配設してなる。
【0022】この場合、位置決め機構43は、図5ない
し図7に示すように、同一円周上に3個のウエハ保持ピ
ン43aを有すると共に、中心点に関して対向する位置
に内周部分が円弧状のセンタリングガイド43bを有す
るアライメントステージ43cと、アライメントステー
ジ43cの中心部に配設されウエハWの下面を真空吸着
して保持するチャック43dと、ウエハWのオリフラ
(オリエンテーションフラット:Orientation Flat)位
置検出用センサ43eとで構成されており、チャック4
3dはステッピングモータ43fによって水平方向に回
転(自転)可能に形成されると共に、ステッピングモー
タ43fをモーター取付板43gに装着するエアシリン
ダ43hによってアライメントステージ43cの上方に
出没可能に形成されている。
し図7に示すように、同一円周上に3個のウエハ保持ピ
ン43aを有すると共に、中心点に関して対向する位置
に内周部分が円弧状のセンタリングガイド43bを有す
るアライメントステージ43cと、アライメントステー
ジ43cの中心部に配設されウエハWの下面を真空吸着
して保持するチャック43dと、ウエハWのオリフラ
(オリエンテーションフラット:Orientation Flat)位
置検出用センサ43eとで構成されており、チャック4
3dはステッピングモータ43fによって水平方向に回
転(自転)可能に形成されると共に、ステッピングモー
タ43fをモーター取付板43gに装着するエアシリン
ダ43hによってアライメントステージ43cの上方に
出没可能に形成されている。
【0023】このように構成される位置決め機構43に
おいて、アライメントステージ43c上にウエハWが搬
送されると、ウエハWはウエハ保持ピン43aによって
保持されると共に、センタリングガイド43bによって
センタリング(中心合せ)が行われる。そして、エアシ
リンダ43hの作動によってチャック43dが上昇して
ウエハWをウエハ支持ピン43aの上方へ持ち上げた状
態でステッピングモータ43fが駆動してウエハWを水
平方向へ回転させ、このときオリフラ位置検出用センサ
43eによってウエハWのオリフラWaの位置を検出
し、その検出信号に基いてステッピングモータ43fが
オリフラWaの端部から所定の回転角正回転又は逆回転
した後停止することにより、ウエハWのオリフラWaの
向きを一定方向に位置決めすることができるようになっ
ている。あるいは、アライメントステージ43c上にウ
エハWが搬送されると、ウエハWはエアシリンダ43h
の作動により上昇しているチャック43dに保持され、
ウエハWを上方へ持ち上げた状態でステッピングモータ
43fが駆動してウエハWを水平方向へ回転させ、この
ときオリフラ位置検出用センサ43eによってウエハW
のオリフラWaの位置を検出し、その検出信号に基いて
ステッピンクモータ43fがオリフラWaの端部から所
定の回転角回転した後停止することにより、ウエハWの
オリフラWaの向きを一定方向に位置決めする。そし
て、エアシリンダ43hの作動によりチャック43dが
下降してウエハWはウエハ保持ピン43aによって保持
されると共に、センタリングガイド43bによってセン
タリングが行われる。
おいて、アライメントステージ43c上にウエハWが搬
送されると、ウエハWはウエハ保持ピン43aによって
保持されると共に、センタリングガイド43bによって
センタリング(中心合せ)が行われる。そして、エアシ
リンダ43hの作動によってチャック43dが上昇して
ウエハWをウエハ支持ピン43aの上方へ持ち上げた状
態でステッピングモータ43fが駆動してウエハWを水
平方向へ回転させ、このときオリフラ位置検出用センサ
43eによってウエハWのオリフラWaの位置を検出
し、その検出信号に基いてステッピングモータ43fが
オリフラWaの端部から所定の回転角正回転又は逆回転
した後停止することにより、ウエハWのオリフラWaの
向きを一定方向に位置決めすることができるようになっ
ている。あるいは、アライメントステージ43c上にウ
エハWが搬送されると、ウエハWはエアシリンダ43h
の作動により上昇しているチャック43dに保持され、
ウエハWを上方へ持ち上げた状態でステッピングモータ
43fが駆動してウエハWを水平方向へ回転させ、この
ときオリフラ位置検出用センサ43eによってウエハW
のオリフラWaの位置を検出し、その検出信号に基いて
ステッピンクモータ43fがオリフラWaの端部から所
定の回転角回転した後停止することにより、ウエハWの
オリフラWaの向きを一定方向に位置決めする。そし
て、エアシリンダ43hの作動によりチャック43dが
下降してウエハWはウエハ保持ピン43aによって保持
されると共に、センタリングガイド43bによってセン
タリングが行われる。
【0024】また、上記搬入・搬出機構44は、図1、
図3及び図4に示すように、インターフェイス部40の
Y方向に敷設されたガイドレール47に沿って移動自在
な移動体44aと、この移動体44aに対して図示しな
い昇降装置によって昇降可能に装着される昇降台44b
と、この昇降台44b上に回転軸44cをもつて回転さ
れる搬送基台44dと、搬送基台44d上に装着されて
θ方向に回転すると共に水平面上で伸縮移動可能なアー
ム44eとで構成されている。この場合、アーム44e
は、ウエハWを保持する段付舌片44fと、この段付舌
片44fの基部側の両端に設けられる一対の内周側が円
弧状の位置決め片44gとで構成されている。また、搬
送基台44dの先端側の両側面には取付部材に取付けら
れウエハWの周縁の一部の左右両側に位置するように互
いに離間して設けられた発光部48aと受光部48bと
からなるマッピングセンサ48が上記アーム44eとは
独立して進退自在に設けられており、このマッピングセ
ンサ48によってウエハボート41に収容されたウエハ
Wの有無を検出し得るようになっている。このマッピン
グセンサ48によってウエハWの有無を検出するには、
発光部48aと受光部48bをウエハボート41内のウ
エハWの周縁部の一部がその間に入る位置まで前進させ
た後、搬送基台44dを連続的にウエハボート41の最
上段から最下段、あるいは最下段から最上段のレベルま
で降下あるいは上昇させることによって光ビームの遮断
・透過の状態により各段のウエハWの有無とウエハWの
高さ位置を高速に検出することができる。
図3及び図4に示すように、インターフェイス部40の
Y方向に敷設されたガイドレール47に沿って移動自在
な移動体44aと、この移動体44aに対して図示しな
い昇降装置によって昇降可能に装着される昇降台44b
と、この昇降台44b上に回転軸44cをもつて回転さ
れる搬送基台44dと、搬送基台44d上に装着されて
θ方向に回転すると共に水平面上で伸縮移動可能なアー
ム44eとで構成されている。この場合、アーム44e
は、ウエハWを保持する段付舌片44fと、この段付舌
片44fの基部側の両端に設けられる一対の内周側が円
弧状の位置決め片44gとで構成されている。また、搬
送基台44dの先端側の両側面には取付部材に取付けら
れウエハWの周縁の一部の左右両側に位置するように互
いに離間して設けられた発光部48aと受光部48bと
からなるマッピングセンサ48が上記アーム44eとは
独立して進退自在に設けられており、このマッピングセ
ンサ48によってウエハボート41に収容されたウエハ
Wの有無を検出し得るようになっている。このマッピン
グセンサ48によってウエハWの有無を検出するには、
発光部48aと受光部48bをウエハボート41内のウ
エハWの周縁部の一部がその間に入る位置まで前進させ
た後、搬送基台44dを連続的にウエハボート41の最
上段から最下段、あるいは最下段から最上段のレベルま
で降下あるいは上昇させることによって光ビームの遮断
・透過の状態により各段のウエハWの有無とウエハWの
高さ位置を高速に検出することができる。
【0025】上記ボートライナー46は、図8及び図9
に示すように、Y方向に沿って配設された一対のリニア
ガイド49に摺動可能に装着されるボートステージ46
aをステッピングモータ46bとボールネジ46cとか
らなるボールネジ機構46dによってY方向に一定量移
動可能に形成されている。このボートステージ46aの
上面には、1つのダミーウエハ用ボート45と複数n例
えば3つのウエハボート41を例えば等間隔で一直線状
に載置するための石英製の固定ピン46eがそれぞれ同
心円状に4つ突設されており、これら固定ピン46e上
にウエハボート41及びダミーウエハ用ボート45が載
置されるようになっている。そして、上記ボート45,
41は、4個同時に移動される。
に示すように、Y方向に沿って配設された一対のリニア
ガイド49に摺動可能に装着されるボートステージ46
aをステッピングモータ46bとボールネジ46cとか
らなるボールネジ機構46dによってY方向に一定量移
動可能に形成されている。このボートステージ46aの
上面には、1つのダミーウエハ用ボート45と複数n例
えば3つのウエハボート41を例えば等間隔で一直線状
に載置するための石英製の固定ピン46eがそれぞれ同
心円状に4つ突設されており、これら固定ピン46e上
にウエハボート41及びダミーウエハ用ボート45が載
置されるようになっている。そして、上記ボート45,
41は、4個同時に移動される。
【0026】上記のように、ウエハボート41とダミー
ウエハ用ボート45とを隣接して配設することによっ
て、上記搬入・搬出機構44によってウエハWをウエハ
ボート41内に搬入する際、ウエハボート41の上部及
び下部にダミーウエハWdを迅速に搬入することができ
る。具体的には、ウエハボート41には例えば60枚の
ウエハWが収容されるようになっており、例えば最大5
0枚のウエハWをウエハボート41内に収容し、この5
0枚のウエハWの上部及び下部にそれぞれ5枚ずつのダ
ミーウエハWdを収容して、合計60枚収容した状態で
ウエハボート41を熱処理部30にて熱処理し得るよう
になっている。このようにウエハボート41内の上部及
び下部にダミーウエハWdを配設する一つの理由は、ウ
エハWを加熱処理する際の上部及び下部と中間部との温
度状態が相違し、例えば上部と下部に位置するウエハの
温度が中間部に位置するウエハの温度より低くなり加熱
処理にばらつきが生じてしまい、均一な加熱処理が施せ
なくなるのを防止して均一な加熱処理を行えるようにす
るためである。したがって、ウエハボート41が保有で
きる最大枚数のウエハWを加熱処理する場合には、上部
及び下部にそれぞれ5枚ずつ計10枚のダミーウエハW
dを配置して、中間部に50枚のウエハWを配置する。
また、中間部に配置されるウエハWの枚数が何らかの理
由で不足しウエハボート41が保有するはずのウエハW
の枚数(50枚)に満たない場合は、搬入・搬出機構4
4によってその不足分をダミーウエハ用ボート45から
取出し補充して、常時、ウエハボート41内をウエハW
とダミーウエハWdとで60枚に満しておくことによ
り、均一な加熱処理を行うことができる。このように6
0枚に満たしておく理由は、例えば、不足箇所の雰囲気
が他の正常に収容されている雰囲気とは異なり、乱気流
が発生するなど、処理の均一性に悪影響を与えるためで
ある。なお、ウエハボート41の上部及び下部に搬入さ
れるダミーウエハWdは例えば、予め、不足枚数が判明
している場合にウエハWの搬入前に自動的に搬入し常備
しておけばウエハWを搬入する際のダミーウエハWdの
搬入の手間を省くことができる。
ウエハ用ボート45とを隣接して配設することによっ
て、上記搬入・搬出機構44によってウエハWをウエハ
ボート41内に搬入する際、ウエハボート41の上部及
び下部にダミーウエハWdを迅速に搬入することができ
る。具体的には、ウエハボート41には例えば60枚の
ウエハWが収容されるようになっており、例えば最大5
0枚のウエハWをウエハボート41内に収容し、この5
0枚のウエハWの上部及び下部にそれぞれ5枚ずつのダ
ミーウエハWdを収容して、合計60枚収容した状態で
ウエハボート41を熱処理部30にて熱処理し得るよう
になっている。このようにウエハボート41内の上部及
び下部にダミーウエハWdを配設する一つの理由は、ウ
エハWを加熱処理する際の上部及び下部と中間部との温
度状態が相違し、例えば上部と下部に位置するウエハの
温度が中間部に位置するウエハの温度より低くなり加熱
処理にばらつきが生じてしまい、均一な加熱処理が施せ
なくなるのを防止して均一な加熱処理を行えるようにす
るためである。したがって、ウエハボート41が保有で
きる最大枚数のウエハWを加熱処理する場合には、上部
及び下部にそれぞれ5枚ずつ計10枚のダミーウエハW
dを配置して、中間部に50枚のウエハWを配置する。
また、中間部に配置されるウエハWの枚数が何らかの理
由で不足しウエハボート41が保有するはずのウエハW
の枚数(50枚)に満たない場合は、搬入・搬出機構4
4によってその不足分をダミーウエハ用ボート45から
取出し補充して、常時、ウエハボート41内をウエハW
とダミーウエハWdとで60枚に満しておくことによ
り、均一な加熱処理を行うことができる。このように6
0枚に満たしておく理由は、例えば、不足箇所の雰囲気
が他の正常に収容されている雰囲気とは異なり、乱気流
が発生するなど、処理の均一性に悪影響を与えるためで
ある。なお、ウエハボート41の上部及び下部に搬入さ
れるダミーウエハWdは例えば、予め、不足枚数が判明
している場合にウエハWの搬入前に自動的に搬入し常備
しておけばウエハWを搬入する際のダミーウエハWdの
搬入の手間を省くことができる。
【0027】また、ウエハボート41が3個ボトライナ
ー46に載置される場合には、2個が保有する枚数のウ
エハWを上記ロード・アンロード部10に配備しておく
ことにより、1個のウエハボート41が常時予備として
確保されているので、ウエハボート41を洗浄する場合
や交換する場合においても装置全体の稼働を停止するこ
となくウエハWの塗布処理及び加熱処理を行うことがで
きる。また、ウエハボート41の2個分の枚数のウエハ
Wを越えて塗布処理部20にウエハWが搬入されないよ
うにロード・アンロード部10にフィードバックをか
け、投入ロットを制限できるようにシステムを構成して
おく。
ー46に載置される場合には、2個が保有する枚数のウ
エハWを上記ロード・アンロード部10に配備しておく
ことにより、1個のウエハボート41が常時予備として
確保されているので、ウエハボート41を洗浄する場合
や交換する場合においても装置全体の稼働を停止するこ
となくウエハWの塗布処理及び加熱処理を行うことがで
きる。また、ウエハボート41の2個分の枚数のウエハ
Wを越えて塗布処理部20にウエハWが搬入されないよ
うにロード・アンロード部10にフィードバックをか
け、投入ロットを制限できるようにシステムを構成して
おく。
【0028】上記ボートライナー46のボートステージ
46a上に載置されるウエハボート41は、図10及び
図11に示すように、上下に対峙する上部基板41aと
下部基板41bとの間に、長手方向に適宜間隔をおいて
60個のウエハ保持溝41cを刻設した4本のウエハ保
持棒41dを介在してなり、下部基板41bの下方側に
固着して設けられた筒部41eに上記固定ピン46eの
上端に載置されるフランジ部41fを周設してなる。こ
のように構成されるウエハボート41は全て石英製の部
材にて形成されており、ウエハWとの接触部例えばウエ
ハ保持溝41c及び固定ピン46eとの接触部において
ウエハWの材料や石英以外の金属等のパーティクルが発
生しないように考慮されている。
46a上に載置されるウエハボート41は、図10及び
図11に示すように、上下に対峙する上部基板41aと
下部基板41bとの間に、長手方向に適宜間隔をおいて
60個のウエハ保持溝41cを刻設した4本のウエハ保
持棒41dを介在してなり、下部基板41bの下方側に
固着して設けられた筒部41eに上記固定ピン46eの
上端に載置されるフランジ部41fを周設してなる。こ
のように構成されるウエハボート41は全て石英製の部
材にて形成されており、ウエハWとの接触部例えばウエ
ハ保持溝41c及び固定ピン46eとの接触部において
ウエハWの材料や石英以外の金属等のパーティクルが発
生しないように考慮されている。
【0029】また、上記ボートステージ46aにおける
ウエハボート載置用の固定ピン46eの外側近傍位置に
は、ウエハボート41の有無を検出するボート有無検出
センサ50とウエハボート41の正規位置からのずれを
検出するボートずれ検出センサ51がボートステージ4
6上面に配置されて、ウエハボート41の有無とずれが
検出され得るようになっている。これらセンサ50,5
1は例えば光透過型のフォトインターラプタ(フォトセ
ンサ)にて形成されており、ボート有無検出センサ50
は上方に位置するウエハボート41のフランジ部41f
の存在を、このフランジ部41fによって移動する光遮
蔽板(図示せず)がフォトインターラプタの光ビームを
さえぎることを確認することによってウエハボート41
が載置されていることを認識することができ、また、ボ
ートずれ検出センサ51は、ウエハボート41のフラン
ジ部41fの外周縁に設けられた切欠41gを認識する
(反射光が無いことを確認し認識する)ことによってウ
エハボート41の正常位置を知らせ、切欠41gがずれ
ることによってウエハボート41が正常位置からずれた
ことを知らせる機能を有する。なお、上記ウエハボート
41の有無の検出には、光反射型のフォトセンサを使用
し、フランジ部41fからの反射光を検出することによ
り、載置を認識するようにしてもよい。
ウエハボート載置用の固定ピン46eの外側近傍位置に
は、ウエハボート41の有無を検出するボート有無検出
センサ50とウエハボート41の正規位置からのずれを
検出するボートずれ検出センサ51がボートステージ4
6上面に配置されて、ウエハボート41の有無とずれが
検出され得るようになっている。これらセンサ50,5
1は例えば光透過型のフォトインターラプタ(フォトセ
ンサ)にて形成されており、ボート有無検出センサ50
は上方に位置するウエハボート41のフランジ部41f
の存在を、このフランジ部41fによって移動する光遮
蔽板(図示せず)がフォトインターラプタの光ビームを
さえぎることを確認することによってウエハボート41
が載置されていることを認識することができ、また、ボ
ートずれ検出センサ51は、ウエハボート41のフラン
ジ部41fの外周縁に設けられた切欠41gを認識する
(反射光が無いことを確認し認識する)ことによってウ
エハボート41の正常位置を知らせ、切欠41gがずれ
ることによってウエハボート41が正常位置からずれた
ことを知らせる機能を有する。なお、上記ウエハボート
41の有無の検出には、光反射型のフォトセンサを使用
し、フランジ部41fからの反射光を検出することによ
り、載置を認識するようにしてもよい。
【0030】また、ボートステージ46aにおけるウエ
ハボート載置用の固定ピン46eのウエハ搬入・搬出機
構44側近傍位置には、適宜間隔をおいて一対のウエハ
ボート41の転倒防止用ピン52が立設されている(図
10及び図13参照)。この転倒防止用ピン52はウエ
ハボート41等が傾斜し接触しても破損しないような部
材、例えばステンレス鋼製部材にて形成されており、ウ
エハボート41とは接触しない範囲で可及的に近接する
位置に立設されて、通常時にはウエハボート41と接触
しないようになっている。このように転倒防止用ピン5
2を通常時にはウエハボート41と接触させないように
したのは接触によるごみの発生を防止するようにしたた
めである。
ハボート載置用の固定ピン46eのウエハ搬入・搬出機
構44側近傍位置には、適宜間隔をおいて一対のウエハ
ボート41の転倒防止用ピン52が立設されている(図
10及び図13参照)。この転倒防止用ピン52はウエ
ハボート41等が傾斜し接触しても破損しないような部
材、例えばステンレス鋼製部材にて形成されており、ウ
エハボート41とは接触しない範囲で可及的に近接する
位置に立設されて、通常時にはウエハボート41と接触
しないようになっている。このように転倒防止用ピン5
2を通常時にはウエハボート41と接触させないように
したのは接触によるごみの発生を防止するようにしたた
めである。
【0031】なお、ダミーウエハ用ボート45は、図1
2に示すように、上下に対峙する上部基板45aと下部
基板45bとの間に、長手方向に適宜間隔をおいて例え
ば60個のダミーウエハ保持溝45cを刻設した一対の
保持板45dを介在してなり、図13に示すように、固
定ピン46e上に下部基板45bを載置した状態で固定
ボルト(図示せず)をもって下部基板45bがボートス
テージ46aに固定される。
2に示すように、上下に対峙する上部基板45aと下部
基板45bとの間に、長手方向に適宜間隔をおいて例え
ば60個のダミーウエハ保持溝45cを刻設した一対の
保持板45dを介在してなり、図13に示すように、固
定ピン46e上に下部基板45bを載置した状態で固定
ボルト(図示せず)をもって下部基板45bがボートス
テージ46aに固定される。
【0032】また、上記ボートステージ46aの上部に
は、図13に示すように、ウエハボート41及びダミー
ウエハ用ボート45を包囲するようにフレーム53が架
設されており、このフレーム53の上部横桁53aにお
ける各ウエハボート41及びダミーウエハ用ボート45
のウエハ搬入・搬出機構44側中心部と、上部横桁53
aに対向するボートステージ46aに、それぞれ発光部
54aと受光部54bとからなる光透過型のウエハ飛出
し検出センサ54が取り付けられている。このように、
各ウエハボート41及びダミーウエハ用ボート45の載
置位置にウエハ飛出し検出センサ54を取り付けること
により、上記搬入・搬出機構44によってウエハボート
41、ダミウエハ用ボート45に搬入されるウエハWや
ダミーウエハWd が正確にボート41,45内に搬入さ
れずに外部に突出した状態を検出することができ、その
検出信号を受けて例えばアラーム(図示せず)を鳴らし
て、ウエハが正確にボート41,45内に搬入されてい
ないのを自動的に作業員に知らせることができる。
は、図13に示すように、ウエハボート41及びダミー
ウエハ用ボート45を包囲するようにフレーム53が架
設されており、このフレーム53の上部横桁53aにお
ける各ウエハボート41及びダミーウエハ用ボート45
のウエハ搬入・搬出機構44側中心部と、上部横桁53
aに対向するボートステージ46aに、それぞれ発光部
54aと受光部54bとからなる光透過型のウエハ飛出
し検出センサ54が取り付けられている。このように、
各ウエハボート41及びダミーウエハ用ボート45の載
置位置にウエハ飛出し検出センサ54を取り付けること
により、上記搬入・搬出機構44によってウエハボート
41、ダミウエハ用ボート45に搬入されるウエハWや
ダミーウエハWd が正確にボート41,45内に搬入さ
れずに外部に突出した状態を検出することができ、その
検出信号を受けて例えばアラーム(図示せず)を鳴らし
て、ウエハが正確にボート41,45内に搬入されてい
ないのを自動的に作業員に知らせることができる。
【0033】また、このウエハ飛出し検出センサ54の
他に、図14に示すように、ウエハ飛出し検出センサ5
4の発光部54a及び受光部54bの前方側に又は、こ
の代りにそれぞれ直線状の光を発する発光部55a及び
微細センサ素子を直線状に配列した受光部55bからな
るラインセンサ55を取り付けることによってウエハ
W,Wdをの飛出し距離を検出することができる。ま
た、図15に示すように、フレーム53の左右縦桁53
bの対向する位置にウエハボート41、ダミーウエハ用
ボート45に収容されるウエハW、ダミーウエハWdの
枚数(例えば60枚)分の発光部56aと受光部56b
とからなる光透過型の飛出し位置検出センサ56を取り
付けて、左右方向から検出することによって、飛び出し
たウエハW,Wdの位置を特定することができる。 な
お、各ボート毎に同様に飛出し位置検出センサ56を取
り付けることも可能である。このように、ラインセンサ
55と飛出し位置検出センサ56とを取り付けることに
よってどのボート41,45内のどのウエハW,Wdが
何mm飛び出しているかを検出することができる。
他に、図14に示すように、ウエハ飛出し検出センサ5
4の発光部54a及び受光部54bの前方側に又は、こ
の代りにそれぞれ直線状の光を発する発光部55a及び
微細センサ素子を直線状に配列した受光部55bからな
るラインセンサ55を取り付けることによってウエハ
W,Wdをの飛出し距離を検出することができる。ま
た、図15に示すように、フレーム53の左右縦桁53
bの対向する位置にウエハボート41、ダミーウエハ用
ボート45に収容されるウエハW、ダミーウエハWdの
枚数(例えば60枚)分の発光部56aと受光部56b
とからなる光透過型の飛出し位置検出センサ56を取り
付けて、左右方向から検出することによって、飛び出し
たウエハW,Wdの位置を特定することができる。 な
お、各ボート毎に同様に飛出し位置検出センサ56を取
り付けることも可能である。このように、ラインセンサ
55と飛出し位置検出センサ56とを取り付けることに
よってどのボート41,45内のどのウエハW,Wdが
何mm飛び出しているかを検出することができる。
【0034】飛び出しているウエハW,Wdをボート4
1,45内に押込む手段として、例えば上記搬入・搬出
機構44のアーム44eを使用することができる。すな
わち、アーム44eの段付舌片44fの基部側の段部4
4hを少し高く形成して、通常のウエハWの搬入時に
は、図16(a)に示すように、段付舌片44f上に保
持された状態のウエハWをウエハボート41内に搬入
し、また、ウエハWが飛び出している場合には、図16
(b)に示すように、ウエハWを段付舌片44f上には
保持せずにアーム44eをボート41,45内に前進さ
せることによってこの段部44hで当接させウエハW,
Wdを自動的に押込むことができる。なお、ラインセン
サ55によってウエハWの飛出し距離が検出されている
ので、アーム44eが移動する際、飛出したウエハWと
アーム44eとの衝突や接触を防止することができる。
上記押込みはウエハWを段付舌片44f上に保持した状
態で押込んでもよい。
1,45内に押込む手段として、例えば上記搬入・搬出
機構44のアーム44eを使用することができる。すな
わち、アーム44eの段付舌片44fの基部側の段部4
4hを少し高く形成して、通常のウエハWの搬入時に
は、図16(a)に示すように、段付舌片44f上に保
持された状態のウエハWをウエハボート41内に搬入
し、また、ウエハWが飛び出している場合には、図16
(b)に示すように、ウエハWを段付舌片44f上には
保持せずにアーム44eをボート41,45内に前進さ
せることによってこの段部44hで当接させウエハW,
Wdを自動的に押込むことができる。なお、ラインセン
サ55によってウエハWの飛出し距離が検出されている
ので、アーム44eが移動する際、飛出したウエハWと
アーム44eとの衝突や接触を防止することができる。
上記押込みはウエハWを段付舌片44f上に保持した状
態で押込んでもよい。
【0035】上記実施例ではフレーム53の左右縦桁5
3bに飛出し位置検出センサ56を取り付けてウエハW
の飛出し位置を検出しているが、必ずしもこのようにす
る必要はなく、搬入・搬出機構44のアーム44eの下
部の搬送基台44dに設けられたマッピングセンサ48
を利用してウエハWの飛出し位置を検出することも可能
である。すなわち、マッピングセンサ48の発光部48
aと受光部48bをウエハボート41内の正規位置に収
容されているウエハWの周縁接線部(具体的にはオリフ
ラ部)がその間に入る位置まで前進させた後、搬送基台
44dをウエハボート41の最上段から最下段のレベル
まで降下又は最下段から最上段のレベルまで上昇させる
ことによって飛出したウエハWの位置を検出することが
できる。飛出している場合には、発光部48aから発せ
られた光ビームがウエハWによって遮断される。
3bに飛出し位置検出センサ56を取り付けてウエハW
の飛出し位置を検出しているが、必ずしもこのようにす
る必要はなく、搬入・搬出機構44のアーム44eの下
部の搬送基台44dに設けられたマッピングセンサ48
を利用してウエハWの飛出し位置を検出することも可能
である。すなわち、マッピングセンサ48の発光部48
aと受光部48bをウエハボート41内の正規位置に収
容されているウエハWの周縁接線部(具体的にはオリフ
ラ部)がその間に入る位置まで前進させた後、搬送基台
44dをウエハボート41の最上段から最下段のレベル
まで降下又は最下段から最上段のレベルまで上昇させる
ことによって飛出したウエハWの位置を検出することが
できる。飛出している場合には、発光部48aから発せ
られた光ビームがウエハWによって遮断される。
【0036】上記インターフェイス部40の室42に
は、図4に示すように、天井部における位置決め機構4
3及び搬入・搬出機構44の上方部位に給気口57が設
けられており、この給気口57に連結する給気ダクト5
8にフィルタ59を介して給気ファン60が配設されて
いる。また、床部における位置決め機構43の下方部位
には排気口61が設けられており、この排気口61に接
続する排気ダクト62中には、図4の紙面に対して直交
する方向(Y方向)に1個又は適宜間隔をおいて複数個
の排気ファン63が配設されている。この排気ファン6
3はインターフェイス室42の側壁に設けられた出入口
64に取り付けられたドア65の開閉に伴ってON,O
FF動作するマグネット式スイッチ66によって駆動、
停止されるようになっており、ドア65の開放時にスイ
ッチ66が動作して排気ファン63が自動的に停止し得
るようになっている。このように、室42の天井部に給
気ファン60を配設し床部に排気ファン63を配設し、
給気能力を排気能力よりも大に設定しておくことによっ
て、通常時には室42内に清浄化された空気をダウンフ
ローして室内を微弱な陽圧状態にすることができ、ドア
65を開放するときにはスイッチ66が作動して排気フ
ァン63が停止し、室内の圧力を高めて外部から室内に
流れ込む空気をなくして室内へのごみの侵入を防止する
ことができる。
は、図4に示すように、天井部における位置決め機構4
3及び搬入・搬出機構44の上方部位に給気口57が設
けられており、この給気口57に連結する給気ダクト5
8にフィルタ59を介して給気ファン60が配設されて
いる。また、床部における位置決め機構43の下方部位
には排気口61が設けられており、この排気口61に接
続する排気ダクト62中には、図4の紙面に対して直交
する方向(Y方向)に1個又は適宜間隔をおいて複数個
の排気ファン63が配設されている。この排気ファン6
3はインターフェイス室42の側壁に設けられた出入口
64に取り付けられたドア65の開閉に伴ってON,O
FF動作するマグネット式スイッチ66によって駆動、
停止されるようになっており、ドア65の開放時にスイ
ッチ66が動作して排気ファン63が自動的に停止し得
るようになっている。このように、室42の天井部に給
気ファン60を配設し床部に排気ファン63を配設し、
給気能力を排気能力よりも大に設定しておくことによっ
て、通常時には室42内に清浄化された空気をダウンフ
ローして室内を微弱な陽圧状態にすることができ、ドア
65を開放するときにはスイッチ66が作動して排気フ
ァン63が停止し、室内の圧力を高めて外部から室内に
流れ込む空気をなくして室内へのごみの侵入を防止する
ことができる。
【0037】また、インターフェイス室42の天井部に
おけるボートライナー46の上方部位には、除湿空気導
入口67が設けられており、この除湿空気導入口67に
連結する除湿空気供給ダクト68にフィルタ69(UL
PAフィルタ)を介して外部より除湿空気供給可能に配
設されている。フィルタ69の上流側に除湿供給ファン
70を設けてもよい。なお、除湿空気導入口67と給気
口57との間にはカーテン71が垂下されて両口間を仕
切り、天井部側においてダウンフローの空気と除湿空気
とが混合するのを防止している。なお、給気口側と除湿
空気導入口側とをカーテン71にて区画する他の理由
は、作業員が室内に入って、機器や部品の保守・点検や
交換作業を行う際の頭上の危険を防止するようにしたた
めである。このように構成することにより、除湿空気導
入口67から室内に供給された除湿空気は下方に向って
集中して流れ排気ファン63によって排気口61から排
出されるので、図4に破線の矢印で示すように、ウエハ
ボート41に搬入されたウエハWの前方(周囲)に集中
してなめるように(沿うようにあるいは覆うように)流
れてウエハWの表面と接触し、ウエハ表面に塗布された
吸湿性のSOG膜が吸湿により劣化するのを防止すべく
一定の湿度に維持することができる。したがって、除湿
能力は比較的小さいものでよく大型の除湿器を配置する
ことなくウエハボート41に搬入されたウエハWの湿度
を一定の状態に維持することができる。
おけるボートライナー46の上方部位には、除湿空気導
入口67が設けられており、この除湿空気導入口67に
連結する除湿空気供給ダクト68にフィルタ69(UL
PAフィルタ)を介して外部より除湿空気供給可能に配
設されている。フィルタ69の上流側に除湿供給ファン
70を設けてもよい。なお、除湿空気導入口67と給気
口57との間にはカーテン71が垂下されて両口間を仕
切り、天井部側においてダウンフローの空気と除湿空気
とが混合するのを防止している。なお、給気口側と除湿
空気導入口側とをカーテン71にて区画する他の理由
は、作業員が室内に入って、機器や部品の保守・点検や
交換作業を行う際の頭上の危険を防止するようにしたた
めである。このように構成することにより、除湿空気導
入口67から室内に供給された除湿空気は下方に向って
集中して流れ排気ファン63によって排気口61から排
出されるので、図4に破線の矢印で示すように、ウエハ
ボート41に搬入されたウエハWの前方(周囲)に集中
してなめるように(沿うようにあるいは覆うように)流
れてウエハWの表面と接触し、ウエハ表面に塗布された
吸湿性のSOG膜が吸湿により劣化するのを防止すべく
一定の湿度に維持することができる。したがって、除湿
能力は比較的小さいものでよく大型の除湿器を配置する
ことなくウエハボート41に搬入されたウエハWの湿度
を一定の状態に維持することができる。
【0038】なお、図4に想像線で示すように、上記除
湿空気導入口67と排気口61側とを循環ダクト72に
て接続し、この循環ダクト72に空気清浄器73及び除
湿器74を介設することによってインターフェイス室4
2内に除湿空気を循環して供給することができる。この
場合、更に除湿器を小型のものにすることが可能とな
る。
湿空気導入口67と排気口61側とを循環ダクト72に
て接続し、この循環ダクト72に空気清浄器73及び除
湿器74を介設することによってインターフェイス室4
2内に除湿空気を循環して供給することができる。この
場合、更に除湿器を小型のものにすることが可能とな
る。
【0039】一方、上記熱処理部30は、図1及び図1
7に示すように、開口窓75を介してインターフェイス
部40に連通しており、この熱処理部30内には、断面
逆U字状の石英製プロセスチューブ32の外周にヒータ
33を囲繞した縦型加熱炉31(加熱装置)と、この加
熱炉31の下方に配置されて、上記ウエハボート41を
プロセスチューブ32内に搬入するボートエレベータ3
4と、インターフェイス部40のボートライナー46と
ボートエレベータ34との間でウエハボート41の受け
渡しを司るボート移送機構35(移送手段)とを具備し
てなる。
7に示すように、開口窓75を介してインターフェイス
部40に連通しており、この熱処理部30内には、断面
逆U字状の石英製プロセスチューブ32の外周にヒータ
33を囲繞した縦型加熱炉31(加熱装置)と、この加
熱炉31の下方に配置されて、上記ウエハボート41を
プロセスチューブ32内に搬入するボートエレベータ3
4と、インターフェイス部40のボートライナー46と
ボートエレベータ34との間でウエハボート41の受け
渡しを司るボート移送機構35(移送手段)とを具備し
てなる。
【0040】この場合、上記プロセスチューブ32の開
口下端にはマニホールド36が接続して設けられおり、
このマニホールド36には、プロセスチューブ32内に
所定の処理用ガスを導入するガス導入管(図示せず)
と、処理後のガスを排気する排気管(図示せず)がそれ
ぞれ接続されている。また、ボートエレベータ34には
マニホールド36と当接してプロセスチューブ32内を
密閉状態に維持する蓋体37が設けられており、この蓋
体37の上部に保温筒38が搭載されている。
口下端にはマニホールド36が接続して設けられおり、
このマニホールド36には、プロセスチューブ32内に
所定の処理用ガスを導入するガス導入管(図示せず)
と、処理後のガスを排気する排気管(図示せず)がそれ
ぞれ接続されている。また、ボートエレベータ34には
マニホールド36と当接してプロセスチューブ32内を
密閉状態に維持する蓋体37が設けられており、この蓋
体37の上部に保温筒38が搭載されている。
【0041】上記ボート移送機構35は、図18に示す
ように、ボールネジ等の昇降手段35aによって昇降す
る昇降基台35bと、この昇降基台35bの上部にθ方
向に回転自在に装着される回転駆動部35cと、回転駆
動部35cの上面に設けられたガイド溝35dに沿って
移動自在な先端部がU字状のボート載置アーム35eと
で構成されている。このように構成されるボート移送機
構35は、開口窓75に移動されたボートライナー46
のボートステージ46aのウエハボート41を受け取っ
てボートエレベータ34上に搬送してボートエレベータ
34上に受け渡すか、あるいは、ボートエレベータ34
上の加熱処理後のウエハWを収容したウエハボート41
を受け取ってボートライナー46のボートステージ46
a上に移送してボートステージ46a上に受け渡すこと
ができる。
ように、ボールネジ等の昇降手段35aによって昇降す
る昇降基台35bと、この昇降基台35bの上部にθ方
向に回転自在に装着される回転駆動部35cと、回転駆
動部35cの上面に設けられたガイド溝35dに沿って
移動自在な先端部がU字状のボート載置アーム35eと
で構成されている。このように構成されるボート移送機
構35は、開口窓75に移動されたボートライナー46
のボートステージ46aのウエハボート41を受け取っ
てボートエレベータ34上に搬送してボートエレベータ
34上に受け渡すか、あるいは、ボートエレベータ34
上の加熱処理後のウエハWを収容したウエハボート41
を受け取ってボートライナー46のボートステージ46
a上に移送してボートステージ46a上に受け渡すこと
ができる。
【0042】次に、この発明の処理装置の動作態様につ
いて説明する。ウエハWにSOG膜を一度塗りする場合
は以下のようにして処理する。まず、ロード・アンロー
ド部10のピンセット14を未処理のウエハWを収容す
るウエハカセット11の前まで移動してウエハカセット
11からウエハWを受け取って受渡し位置まで搬送す
る。受渡し位置に搬送されたウエハWは塗布処理部20
のウエハ搬送アーム21によって受け取られた後、クー
リング機構23に搬送されて所定の温度に冷却される。
そして、再びウエハ搬送アーム21によって受け取られ
て塗布機構25まで搬送され、塗布機構25のスピンチ
ャック25a上に載置される。
いて説明する。ウエハWにSOG膜を一度塗りする場合
は以下のようにして処理する。まず、ロード・アンロー
ド部10のピンセット14を未処理のウエハWを収容す
るウエハカセット11の前まで移動してウエハカセット
11からウエハWを受け取って受渡し位置まで搬送す
る。受渡し位置に搬送されたウエハWは塗布処理部20
のウエハ搬送アーム21によって受け取られた後、クー
リング機構23に搬送されて所定の温度に冷却される。
そして、再びウエハ搬送アーム21によって受け取られ
て塗布機構25まで搬送され、塗布機構25のスピンチ
ャック25a上に載置される。
【0043】スピンチャック25a上に載置されたウエ
ハWがスピンチャック25aと共に回転すると、SOG
溶液供給ノズル25cがスキャンアーム25eによって
保持されてウエハW上に移動してSOG溶液を滴下す
る。このとき、ウエハWは高速回転(2000〜600
0rpm)しているので、遠心力によってSOG溶液は
ウエハWの中心部から周縁部に向って拡散してウエハW
上にSOG膜が形成される。SOG膜が形成された後、
ウエハW上にサイドリンス供給ノズル25dが移動して
ウエハWはリンス液によって周縁部のSOG膜が溶解除
去される。このようにして塗布処理が行われたウエハW
は再びウエハ搬送アーム21によって受け取られてベー
ク機構24に搬送され、ここで約100〜140℃の温
度で加熱されてSOG溶液中の溶媒(例えばエチルアル
コール)が蒸発される。このベーク機構24によるプレ
ベーク工程が終了したウエハWは、再びウエハ搬送アー
ム21によって受け取られてインターフェイス部側に搬
送されて位置決め機構43に移され、ウエハWのオリフ
ラWaの向きが一定方向に位置決めされる。
ハWがスピンチャック25aと共に回転すると、SOG
溶液供給ノズル25cがスキャンアーム25eによって
保持されてウエハW上に移動してSOG溶液を滴下す
る。このとき、ウエハWは高速回転(2000〜600
0rpm)しているので、遠心力によってSOG溶液は
ウエハWの中心部から周縁部に向って拡散してウエハW
上にSOG膜が形成される。SOG膜が形成された後、
ウエハW上にサイドリンス供給ノズル25dが移動して
ウエハWはリンス液によって周縁部のSOG膜が溶解除
去される。このようにして塗布処理が行われたウエハW
は再びウエハ搬送アーム21によって受け取られてベー
ク機構24に搬送され、ここで約100〜140℃の温
度で加熱されてSOG溶液中の溶媒(例えばエチルアル
コール)が蒸発される。このベーク機構24によるプレ
ベーク工程が終了したウエハWは、再びウエハ搬送アー
ム21によって受け取られてインターフェイス部側に搬
送されて位置決め機構43に移され、ウエハWのオリフ
ラWaの向きが一定方向に位置決めされる。
【0044】所定の方向に位置決めされたウエハWは、
搬入・搬出機構44のアーム44eによって受け取られ
た後、ボートライナー46上に載置された空のウエハボ
ート41内に例えば上から下に向って順に整列された状
態で搬入される。このようにしてウエハボート41には
塗布処理部20で枚葉処理されたウエハWが順次一枚ず
つ搬入されて、ウエハボート41に所定枚数のウエハW
が搬入される。ウエハボート41の所有する枚数(例え
ば60枚)に満たない不足部分にはダミーウエハ用ボー
ト45に収容されているダミーウエハWdが搬入・搬出
機構44のアーム44eによってウエハボート41内に
搬入される。この場合、ウエハボート41側は移動させ
ず、迅速に移動可能なアーム44eを使用して搬送する
ことにより、所要時間を短縮することができる。また、
ダミーウエハ用ボート45をウエハボート41と共にボ
ートステージ46a上に並置しているので、アーム44
eがY方向に移動する距離はウエハボート41が3個の
場合、最大でボート間隔ピッチの3倍の距離であり、し
かも、移動距離も間隔ピッチの整数倍となるために、迅
速な搬送が可能となり、搬送制御も容易となる。
搬入・搬出機構44のアーム44eによって受け取られ
た後、ボートライナー46上に載置された空のウエハボ
ート41内に例えば上から下に向って順に整列された状
態で搬入される。このようにしてウエハボート41には
塗布処理部20で枚葉処理されたウエハWが順次一枚ず
つ搬入されて、ウエハボート41に所定枚数のウエハW
が搬入される。ウエハボート41の所有する枚数(例え
ば60枚)に満たない不足部分にはダミーウエハ用ボー
ト45に収容されているダミーウエハWdが搬入・搬出
機構44のアーム44eによってウエハボート41内に
搬入される。この場合、ウエハボート41側は移動させ
ず、迅速に移動可能なアーム44eを使用して搬送する
ことにより、所要時間を短縮することができる。また、
ダミーウエハ用ボート45をウエハボート41と共にボ
ートステージ46a上に並置しているので、アーム44
eがY方向に移動する距離はウエハボート41が3個の
場合、最大でボート間隔ピッチの3倍の距離であり、し
かも、移動距離も間隔ピッチの整数倍となるために、迅
速な搬送が可能となり、搬送制御も容易となる。
【0045】ウエハボート41に所定枚数のウエハWと
ダミーウエハWdが搬入されると、ボートライナー46
が所定距離、例えばボート間隔ピッチの整数倍分だけ、
ウエハボート41が揺れない程度の低速度で移動してウ
エハボート41は開口窓75の正面位置に移動される。
すると、熱処理部30のボート移送機構35のボート載
置アーム35eがウエハボート41の下に侵入してウエ
ハボート41を載置支持して受け取った後、ウエハボー
ト41をボートエレベータ34の上に移送してボートエ
レベータ34上にウエハボート41を載置する。次に、
ボートエレベータ34が上昇して、ウエハボート41を
加熱炉31のプロセスチューブ32内に搬入する。そし
て、加熱炉31によってウエハWを約400℃の温度で
加熱することによりウエハW表面に塗布されたSOG膜
が熱処理例えば焼き締めされる。なお、このウエハWが
熱処理されている間、別のウエハボート41には上述と
同様な手順で別のウエハWが搬入される。
ダミーウエハWdが搬入されると、ボートライナー46
が所定距離、例えばボート間隔ピッチの整数倍分だけ、
ウエハボート41が揺れない程度の低速度で移動してウ
エハボート41は開口窓75の正面位置に移動される。
すると、熱処理部30のボート移送機構35のボート載
置アーム35eがウエハボート41の下に侵入してウエ
ハボート41を載置支持して受け取った後、ウエハボー
ト41をボートエレベータ34の上に移送してボートエ
レベータ34上にウエハボート41を載置する。次に、
ボートエレベータ34が上昇して、ウエハボート41を
加熱炉31のプロセスチューブ32内に搬入する。そし
て、加熱炉31によってウエハWを約400℃の温度で
加熱することによりウエハW表面に塗布されたSOG膜
が熱処理例えば焼き締めされる。なお、このウエハWが
熱処理されている間、別のウエハボート41には上述と
同様な手順で別のウエハWが搬入される。
【0046】加熱炉31での加熱処理が行われた後、ボ
ートエレベータ34が下降してウエハボート41が加熱
炉31の下方に取り出されると、前述と逆の動作によっ
てボート移送機構35のボート載置アーム35eがウエ
ハボート41の下部に侵入してウエハボート41を受け
取った後、ボートライナー46のボート載置位置に移動
してボートライナー46上にウエハボート41を受け渡
す。ウエハボート41を受け取った後、ボートライナー
46は所定距離移動して別の熱処理前のウエハWが収容
されたウエハボート41を開口窓75の正面位置に移動
して上述と同様にボート移送機構35によってウエハボ
ート41をボートエレベータ34に搬送して加熱炉31
内に搬入し熱処理を開始する一方、加熱処理されたウエ
ハWは搬入・搬出機構44のアーム44eによってウエ
ハボート41から一枚ずつ搬出されて位置決め機構43
を経由して塗布処理部20のウエハ搬送アーム21に受
け取られた後、ロード・アンロード部10のピンセット
14によって処理済み用ウエハカセット12内に収容さ
れて、処理工程が終了する。
ートエレベータ34が下降してウエハボート41が加熱
炉31の下方に取り出されると、前述と逆の動作によっ
てボート移送機構35のボート載置アーム35eがウエ
ハボート41の下部に侵入してウエハボート41を受け
取った後、ボートライナー46のボート載置位置に移動
してボートライナー46上にウエハボート41を受け渡
す。ウエハボート41を受け取った後、ボートライナー
46は所定距離移動して別の熱処理前のウエハWが収容
されたウエハボート41を開口窓75の正面位置に移動
して上述と同様にボート移送機構35によってウエハボ
ート41をボートエレベータ34に搬送して加熱炉31
内に搬入し熱処理を開始する一方、加熱処理されたウエ
ハWは搬入・搬出機構44のアーム44eによってウエ
ハボート41から一枚ずつ搬出されて位置決め機構43
を経由して塗布処理部20のウエハ搬送アーム21に受
け取られた後、ロード・アンロード部10のピンセット
14によって処理済み用ウエハカセット12内に収容さ
れて、処理工程が終了する。
【0047】したがって、3個のウエハボート41を用
いることによって、ウエハボート41へのウエハWの搬
入、ウエハボート41に搬入されたウエハWの加熱処理
及びウエハボート41からの加熱処理後のウエハWの搬
出を各50枚ずつ同時的に行うことができ、150枚の
ウエハWのSOG塗布処理と加熱処理を連続的に行うこ
とができる。
いることによって、ウエハボート41へのウエハWの搬
入、ウエハボート41に搬入されたウエハWの加熱処理
及びウエハボート41からの加熱処理後のウエハWの搬
出を各50枚ずつ同時的に行うことができ、150枚の
ウエハWのSOG塗布処理と加熱処理を連続的に行うこ
とができる。
【0048】なお、上記実施例では、ウエハWの表面に
SOG膜を一度塗りする場合について説明したが、SO
G膜を二度塗りする場合には以下のようにして処理す
る。この場合、インターフェイス部40に配設されたウ
エハボート41の数例えば3個より1個少ない2個のウ
エハボート41が保有できるウエハWの枚数(例えば5
0(枚)×2(個)=100枚)のウエハWをロード・
アンロード部10に配備しておく。
SOG膜を一度塗りする場合について説明したが、SO
G膜を二度塗りする場合には以下のようにして処理す
る。この場合、インターフェイス部40に配設されたウ
エハボート41の数例えば3個より1個少ない2個のウ
エハボート41が保有できるウエハWの枚数(例えば5
0(枚)×2(個)=100枚)のウエハWをロード・
アンロード部10に配備しておく。
【0049】ウエハWにSOG膜を二度塗りする場合
は、上述と同様に、ウエハカセット11からウエハWを
ピンセット14で取り出して、受渡し位置でウエハ搬送
アーム21に受け渡す。そして、ウエハ搬送アーム21
にてクーリング機構23に搬送して所定の温度に冷却し
た後、塗布機構25に搬送してSOG膜を塗布し、次い
で、ベーク機構24に搬送してSOG溶液中の溶媒を蒸
発させる。
は、上述と同様に、ウエハカセット11からウエハWを
ピンセット14で取り出して、受渡し位置でウエハ搬送
アーム21に受け渡す。そして、ウエハ搬送アーム21
にてクーリング機構23に搬送して所定の温度に冷却し
た後、塗布機構25に搬送してSOG膜を塗布し、次い
で、ベーク機構24に搬送してSOG溶液中の溶媒を蒸
発させる。
【0050】溶媒が蒸発された後のウエハWはインター
フェイス部40に搬送されてウエハボート41内に搬入
される。このようにして一度目のSOG膜が塗布された
ウエハWは位置決め機構43にて位置決めされた後、搬
入・搬出機構44によって順次ウエハボート41に搬入
されてウエハボート41内に所定枚数のウエハWが収容
される。
フェイス部40に搬送されてウエハボート41内に搬入
される。このようにして一度目のSOG膜が塗布された
ウエハWは位置決め機構43にて位置決めされた後、搬
入・搬出機構44によって順次ウエハボート41に搬入
されてウエハボート41内に所定枚数のウエハWが収容
される。
【0051】SOG膜が一度塗りされたウエハWは再び
搬入・搬出機構44によってウエハボート41から搬出
されて塗布処理部20のウエハ搬送アーム21に受け渡
されて、上述と同様に、クーリング機構23にて冷却さ
れた後、塗布機構25にて二度目のSOG膜が形成さ
れ、そして、ベーク機構24に搬送されてSOG溶液中
の溶媒が蒸発される。このようにして、二度目のSOG
膜が形成されたウエハWは、位置決め機構43にて位置
決めされた後、搬入・搬出機構44によって順次ウエハ
ボート41に搬入されてウエハボート41内に所定枚数
のウエハWが収容される。ウエハボート41の所有する
枚数(例えば60枚)に満たない不足部分には、上述と
同様に、ダミーウエハ用ボート45に収容されているダ
ミーウエハWdが搬入・搬出機構44のアーム44eに
よってウエハボート41内に搬入される。
搬入・搬出機構44によってウエハボート41から搬出
されて塗布処理部20のウエハ搬送アーム21に受け渡
されて、上述と同様に、クーリング機構23にて冷却さ
れた後、塗布機構25にて二度目のSOG膜が形成さ
れ、そして、ベーク機構24に搬送されてSOG溶液中
の溶媒が蒸発される。このようにして、二度目のSOG
膜が形成されたウエハWは、位置決め機構43にて位置
決めされた後、搬入・搬出機構44によって順次ウエハ
ボート41に搬入されてウエハボート41内に所定枚数
のウエハWが収容される。ウエハボート41の所有する
枚数(例えば60枚)に満たない不足部分には、上述と
同様に、ダミーウエハ用ボート45に収容されているダ
ミーウエハWdが搬入・搬出機構44のアーム44eに
よってウエハボート41内に搬入される。
【0052】ウエハボート41に所定枚数のウエハWと
ダミーウエハWdが搬入されると、ボートライナー46
が所定距離移動してウエハボート41は開口窓75の正
面位置に移動される。そして、開口窓75に移動された
ウエハボート41は熱処理部30のボート移送機構35
によってボートエレベータ34の上に移送されて、加熱
炉31のプロセスチューブ32内に搬入される。そし
て、加熱炉31によってウエハWを約400℃の温度で
加熱することによりウエハW表面に塗布されたSOG膜
が焼き締めされる。なお、ウエハW加熱処理がされてい
る間、別のウエハボート41には上述と同様な手順で別
のウエハWが搬入される。
ダミーウエハWdが搬入されると、ボートライナー46
が所定距離移動してウエハボート41は開口窓75の正
面位置に移動される。そして、開口窓75に移動された
ウエハボート41は熱処理部30のボート移送機構35
によってボートエレベータ34の上に移送されて、加熱
炉31のプロセスチューブ32内に搬入される。そし
て、加熱炉31によってウエハWを約400℃の温度で
加熱することによりウエハW表面に塗布されたSOG膜
が焼き締めされる。なお、ウエハW加熱処理がされてい
る間、別のウエハボート41には上述と同様な手順で別
のウエハWが搬入される。
【0053】加熱炉31での加熱処理が行われた後、ボ
ートエレベータ34が下降してウエハボート41が加熱
炉31の下方に取り出されると、ボート移送機構35の
上述と逆の動作によってボートライナー46のボート載
置位置に移動してボートライナー46上にウエハボート
41を受け渡す。ウエハボート41を受け取った後、ボ
ートライナー46は所定距離移動して別のウエハボート
41を開口窓75の正面位置に移動して上述と同様にボ
ート移送機構35によってウエハボート41をボートエ
レベータ34に搬送して加熱炉31内に搬入する一方、
加熱処理されたウエハWは搬入・搬出機構44のアーム
44eによってウエハボート41から搬出されて塗布処
理部20のウエハ搬送アーム21に受け取られた後、ロ
ード・アンロード部10のピンセット14によって処理
済み用ウエハカセット12内に収容されて、処理工程が
終了する。
ートエレベータ34が下降してウエハボート41が加熱
炉31の下方に取り出されると、ボート移送機構35の
上述と逆の動作によってボートライナー46のボート載
置位置に移動してボートライナー46上にウエハボート
41を受け渡す。ウエハボート41を受け取った後、ボ
ートライナー46は所定距離移動して別のウエハボート
41を開口窓75の正面位置に移動して上述と同様にボ
ート移送機構35によってウエハボート41をボートエ
レベータ34に搬送して加熱炉31内に搬入する一方、
加熱処理されたウエハWは搬入・搬出機構44のアーム
44eによってウエハボート41から搬出されて塗布処
理部20のウエハ搬送アーム21に受け取られた後、ロ
ード・アンロード部10のピンセット14によって処理
済み用ウエハカセット12内に収容されて、処理工程が
終了する。
【0054】また、ウエハWにSOG膜を二度塗りする
別の方法として、ウエハW上にSOG溶液を塗布して溶
媒を蒸発した後、再びSOG溶液を塗布して溶媒を蒸発
させ、次に加熱炉31内に搬入して熱処理を行う工程を
繰り返してウエハW上に多層のSOG膜を形成すること
ができる。
別の方法として、ウエハW上にSOG溶液を塗布して溶
媒を蒸発した後、再びSOG溶液を塗布して溶媒を蒸発
させ、次に加熱炉31内に搬入して熱処理を行う工程を
繰り返してウエハW上に多層のSOG膜を形成すること
ができる。
【0055】また、上記実施例では、ダミーウエハ用ボ
ート45をインターフェイス部40のボートライナー4
6上に1個載置した場合について説明したが、このダミ
ーウエハ用ボート45を更にインターフェイス部40に
(図示せず)、あるいは、図1に想像線で示すように、
ロード・アンロード部10にダミーウエハを収容するウ
エハカセット45aを設けておけば、不足したダミーウ
エハWdを補充することができると共に、ウエハボート
41からダミーウエハWdを回収してダミーウエハ用ウ
エハカセット45aに収容することができる。
ート45をインターフェイス部40のボートライナー4
6上に1個載置した場合について説明したが、このダミ
ーウエハ用ボート45を更にインターフェイス部40に
(図示せず)、あるいは、図1に想像線で示すように、
ロード・アンロード部10にダミーウエハを収容するウ
エハカセット45aを設けておけば、不足したダミーウ
エハWdを補充することができると共に、ウエハボート
41からダミーウエハWdを回収してダミーウエハ用ウ
エハカセット45aに収容することができる。
【0056】なお、上記実施例ではこの発明の処理装置
を半導体ウエハのSOG塗布・加熱装置に適用した場合
について説明したが、被処理体はウエハ以外の例えばL
CD基板等にも適用でき、SOG溶液以外の処理液を被
処理体に塗布した後、加熱処理するものにも適用できる
ことは勿論である。
を半導体ウエハのSOG塗布・加熱装置に適用した場合
について説明したが、被処理体はウエハ以外の例えばL
CD基板等にも適用でき、SOG溶液以外の処理液を被
処理体に塗布した後、加熱処理するものにも適用できる
ことは勿論である。
【0057】
【発明の効果】以上に説明したように、この発明の処理
装置は上記のように構成されているので、以下のような
効果が得られる。
装置は上記のように構成されているので、以下のような
効果が得られる。
【0058】1)請求項1記載の処理装置によれば、塗
布処理された複数枚の被処理体を同時に加熱処理するこ
とができるので、スループットの向上を図ることができ
ると共に、製品歩留まりの向上を図ることができる。
布処理された複数枚の被処理体を同時に加熱処理するこ
とができるので、スループットの向上を図ることができ
ると共に、製品歩留まりの向上を図ることができる。
【0059】2)請求項2記載の処理装置によれば、移
動手段上にダミー用被処理体を収容するダミー用被処理
体の保持手段を載置するので、保持手段に被処理体を搬
入する際、保持手段が保有できる枚数に満たない不足部
分にダミー用被処理体を搬入して、常時保持手段が保有
する枚数の被処理体及びダミー用被処理体を保持手段に
て保持して熱処理することができ、被処理体の熱処理を
均一に行うことができ、塗布膜の均一化を図ることがで
きる。
動手段上にダミー用被処理体を収容するダミー用被処理
体の保持手段を載置するので、保持手段に被処理体を搬
入する際、保持手段が保有できる枚数に満たない不足部
分にダミー用被処理体を搬入して、常時保持手段が保有
する枚数の被処理体及びダミー用被処理体を保持手段に
て保持して熱処理することができ、被処理体の熱処理を
均一に行うことができ、塗布膜の均一化を図ることがで
きる。
【0060】3)請求項3記載の処理装置によれば、イ
ンターフェイス部に複数の保持手段を配設し、被処理体
供給部に、インターフェイスブに配設された保持手段の
数より1個少ない数の保持手段が保有する枚数の被処理
体を配備することにより、予備の保持手段に塗布処理済
みの被処理体を待機させることができるので、複数回塗
布処理を行うことが可能となる。また、保持手段を洗浄
する場合や交換する場合においても装置全体の稼働を停
止することなく塗布処理及び加熱処理を連続して行うこ
とができる。
ンターフェイス部に複数の保持手段を配設し、被処理体
供給部に、インターフェイスブに配設された保持手段の
数より1個少ない数の保持手段が保有する枚数の被処理
体を配備することにより、予備の保持手段に塗布処理済
みの被処理体を待機させることができるので、複数回塗
布処理を行うことが可能となる。また、保持手段を洗浄
する場合や交換する場合においても装置全体の稼働を停
止することなく塗布処理及び加熱処理を連続して行うこ
とができる。
【図1】この発明の処理装置の一例の概略平面図であ
る。
る。
【図2】この発明の処理装置の一例の概略斜視図であ
る。
る。
【図3】この発明におけるインターフェイス部の平面図
である。
である。
【図4】インターフェイス部の縦断面図である。
【図5】この発明における位置決め機構の平面図であ
る。
る。
【図6】位置決め機構の断面図である。
【図7】位置決め機構の側面図である。
【図8】この発明におけるボートライナーの一部を断面
で示す平面図である。
で示す平面図である。
【図9】図8のA−A断面図である。
【図10】この発明におけるボートライナーと保持手段
の取付け状態を示す分解斜視図である。
の取付け状態を示す分解斜視図である。
【図11】保持手段の一部を断面で示す側面図及びその
B−B断面図である。
B−B断面図である。
【図12】この発明におけるダミーウエハ用ボートの一
部を断面で示す側面図及びそのC−C断面図である。
部を断面で示す側面図及びそのC−C断面図である。
【図13】この発明における保持手段に搬入されたウエ
ハの飛出し検出センサの取付け状態を示す正面図であ
る。
ハの飛出し検出センサの取付け状態を示す正面図であ
る。
【図14】ウエハ飛出し検出センサの他に飛出し距離検
出センサを取付けた状態の側面図である。
出センサを取付けた状態の側面図である。
【図15】ウエハの飛出し位置検出センサとウエハ押込
み手段を示す斜視図である。
み手段を示す斜視図である。
【図16】ウエハの保持手段への搬入状態と押込み状態
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図17】この発明における熱処理部の概略断面図であ
る。
る。
【図18】この発明における保持手段の移送機構を示す
斜視図である。
斜視図である。
10 ロード・アンロード部(被処理体供給部) 20 塗布処理部 30 熱処理部 31 加熱炉(加熱装置) 35 ボート移送機構(移送手段) 40 インターフェイス部 41 ウエハボート(保持手段) 45 ダミーウエハ用ボート(保持手段) 46 ボートライナー(移動手段) W 半導体ウエハ(被処理体) Wd ダミーウエハ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 後藤 英昭 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内 (72)発明者 建山 正規 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内 (72)発明者 吉本 裕二 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社熊本事業所内
Claims (3)
- 【請求項1】 枚葉処理により被処理体に処理液を塗布
する塗布処理部と、 上記処理液を塗布後の複数枚の被処理体を保持手段にて
保持して加熱処理する熱処理部と、 上記塗布処理部と熱処理部間、上記被処理体を搬送する
インターフェイス部とを具備し、 上記インターフェイス部に、上記保持手段を着脱可能に
載置すると共に複数の保持手段を同時に移動する移動手
段を設け、 上記熱処理部に、上記移動手段と加熱装置との間で上記
保持手段の受け渡しを司る移送手段を設けてなることを
特徴とする処理装置。 - 【請求項2】 移動手段上に、ダミー用被処理体を収容
するダミー用被処理体の保持手段を載置してなることを
特徴とする請求項1記載の処理装置。 - 【請求項3】 枚葉処理により被処理体に処理液を塗布
する塗布処理部と、上記処理液を塗布後の複数枚の被処
理体を保持手段にて保持して加熱処理する熱処理部と、 上記塗布処理部と熱処理部間、上記被処理体を搬送する
インターフェイス部とを具備し、 上記インターフェイス部に、上記保持手段を複数(n)
配設し、 上記被処理体供給部に、n−1個の保持手段が保有する
枚数の被処理体を配備してなることを特徴とする処理装
置。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05294479A JP3118681B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 処理装置及び処理方法 |
| US08/331,083 US5565034A (en) | 1993-10-29 | 1994-10-28 | Apparatus for processing substrates having a film formed on a surface of the substrate |
| KR1019940028108A KR100272188B1 (ko) | 1993-10-29 | 1994-10-29 | 기판 처리장치 및 기판 처리방법 |
| TW083110112A TW320741B (ja) | 1993-10-29 | 1994-11-02 | |
| US08/692,436 US5725664A (en) | 1993-10-29 | 1996-08-05 | Semiconductor wafer processing apparatus including localized humidification between coating and heat treatment sections |
| US08/692,286 US6054181A (en) | 1993-10-29 | 1996-08-05 | Method of substrate processing to form a film on multiple target objects |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05294479A JP3118681B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 処理装置及び処理方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07130721A true JPH07130721A (ja) | 1995-05-19 |
| JP3118681B2 JP3118681B2 (ja) | 2000-12-18 |
Family
ID=17808305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05294479A Expired - Fee Related JP3118681B2 (ja) | 1993-10-29 | 1993-10-29 | 処理装置及び処理方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3118681B2 (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US6861614B1 (en) | 1999-07-08 | 2005-03-01 | Nec Corporation | S system for the formation of a silicon thin film and a semiconductor-insulating film interface |
| WO2005031822A1 (ja) * | 2003-09-29 | 2005-04-07 | Nikon Corporation | 作業用チャンバ、メンテナンス方法、露光装置、及び環境チャンバ |
| WO2006006377A1 (ja) * | 2004-07-13 | 2006-01-19 | Hitachi Kokusai Electric Inc. | 基板処理装置および半導体装置の製造方法 |
| JP2007173765A (ja) * | 2005-11-24 | 2007-07-05 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理方法及びその装置 |
| KR100761576B1 (ko) * | 2004-12-24 | 2007-09-27 | 다이닛뽕스크린 세이조오 가부시키가이샤 | 기판 처리장치 |
| JP2007294752A (ja) * | 2006-04-26 | 2007-11-08 | Tokyo Electron Ltd | 膜位置調整方法、記憶媒体及び基板処理システム |
| CN100452340C (zh) * | 2004-12-24 | 2009-01-14 | 日本网目版制造株式会社 | 基片处理设备 |
| JP2012074647A (ja) * | 2010-09-30 | 2012-04-12 | Koyo Thermo System Kk | 基板熱処理システム |
| KR20180063310A (ko) * | 2016-09-21 | 2018-06-11 | 가부시키가이샤 히다치 고쿠사이 덴키 | 기판 처리 장치, 반도체 장치의 제조 방법 및 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체에 기록된 프로그램 |
| CN113299589A (zh) * | 2021-05-14 | 2021-08-24 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 半导体热处理设备及其调节装置和调节方法 |
| JP2022121392A (ja) * | 2021-02-08 | 2022-08-19 | エーエスエム・アイピー・ホールディング・ベー・フェー | ウエハボート |
| JP2024044297A (ja) * | 2022-09-21 | 2024-04-02 | キオクシア株式会社 | 基板処理装置、基板処理方法、及び半導体装置の製造方法 |
-
1993
- 1993-10-29 JP JP05294479A patent/JP3118681B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| WO2007126016A1 (ja) * | 2006-04-26 | 2007-11-08 | Tokyo Electron Limited | 膜位置調整方法、記憶媒体及び基板処理システム |
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| US8318238B2 (en) | 2006-04-26 | 2012-11-27 | Tokyo Electron Limited | Film position adjusting method, memory medium and substrate processing system |
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| CN113299589A (zh) * | 2021-05-14 | 2021-08-24 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 半导体热处理设备及其调节装置和调节方法 |
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|---|---|
| JP3118681B2 (ja) | 2000-12-18 |
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