JPH07134091A - 粒度測定装置 - Google Patents

粒度測定装置

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JPH07134091A
JPH07134091A JP5281032A JP28103293A JPH07134091A JP H07134091 A JPH07134091 A JP H07134091A JP 5281032 A JP5281032 A JP 5281032A JP 28103293 A JP28103293 A JP 28103293A JP H07134091 A JPH07134091 A JP H07134091A
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JP
Japan
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particle size
sieve
particles
measured
pipe
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Pending
Application number
JP5281032A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Arima
謙一 有馬
Shingo Kanehira
真吾 兼平
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 微粉体粒子を含む流体の粒子粒度を正確に計
る粒度測定装置を得る。 【構成】 被計測粒子を含む流体用の管1、同管の径方
向に移動可能に挿入され、先端部に採取口を有する採取
管3、同採取管に順次つながれる集じん器4および吸引
器5、同集じん器の集じん出口の下方に配置されるふる
い型粒度計6を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は石炭焚ボイラの微粉炭機
(ミル)から燃焼装置に供給される微粉炭等の粒度を自
動的に測定する粒度測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の装置を図10に示す。微粉炭の供
給管1に採取管3が径方向移動可能に挿入される。採取
管3は配管06で吸引器04、粒度計05を経て供給管
1につながれる。
【0003】所定の複数の測定点から粒子を含む流体2
が吸引、サンプリングされ、直ちにレーザ回折式粒度計
05で測定される。そして各測定点での粒度が平均され
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の装置では次
のような問題点があった。
【0005】(a)レーザ回折式による粒度の測定値が
供給管内の粒子濃度の影響を受ける。
【0006】供給管内測定点での粒子濃度は一定ではな
く変動し、また微粉炭機では負荷により供給管内の平均
粒子濃度も変動する。ところが、レーザ回折式では同一
粒子であっても粒子濃度により測定値が変化し、測定不
能となることもある。
【0007】(b)レーザ回折式では粗粒子の測定が難
しい。
【0008】粗粒子ではレーザ回折光が弱く測定が難し
い。通常0.1〜0.2mm程度が限界であるが、石炭焚
ボイラでは100#(150μm)残、48#(300
μm)残などの粗粒子の測定が必要であるため十分対応
できないこともある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するため次の手段を講ずる。
【0010】(1)被計測粒子を含む流体用の管と、同
管の径方向に移動可能に挿入され先端部に採取口を有す
る採取管と、同採取管に順次つながれる集じん手段およ
び吸引手段と、同集じん手段の集じん出口の下方に配置
されるふるい型粒度計とを設けた粒度測定装置。
【0011】(2)反転手段を有するふるいと、同ふる
いの振動手段と、上記ふるいの上方に上下移動可能に配
置されかつ下方位置にあるとき同ふるいに先端部が接触
するブラシと、上記ふるいの下方に配置される重量計測
手段とを設けた上記(1)記載のふるい型粒度計。
【0012】
【作用】
(1)上記本発明1において、吸引手段および集じん手
段が所定時間作動すると、採取管から被計測粒子を含む
流体が吸引され、集じん手段で流体中の被計測粒子が集
められる。集められた被計測粒子は下方のふるい型粒度
計上に落ちる。その後ふるい型粒度計により粒度が計測
される。
【0013】採取管は管の径方向に移動され、採取口の
位置が管内の所定位置毎に、上記の工程が繰り返され
る。
【0014】以上により、管内の各位置の粒子の粒度が
計れる。またふるい型粒度計のふるいのメッシュを適切
に選ぶことにより、所望の粒径範囲の粒度を正確に計れ
る。またふるい型粒度計であるため、管内を流れる被計
測粒子の濃度の影響は受けない。
【0015】(2)上記本発明2において、計測中はブ
ラシがふるいの上方位置に置かれる。振動手段によりふ
るいは振動され、ふるい上の被計測粒子は選別され、ふ
るいのメッシュより小径のものは重量計測手段上に落ち
る。そして重量が計測される。
【0016】次に反転手段により、ふるいは反転され
る。その後ブラシは下方位置に置かれふるいの裏面上を
ブラシングする。この作用によりふるい上の粒子は目詰
りなく完全に下方に落ちる。そして再び重量が計測され
る。前者の重量が後者の重量で割られ、ふるい通過粒度
が得られる。
【0017】このようにして、計測回数、すなわち目詰
りによる計測精度の低下を生ずることなく、精度のよい
粒度計測ができる。
【0018】
【実施例】
(1a)上記記載の本発明1の第1実施例を図1により
説明する。
【0019】被計測粒子(微粉炭)を含む流体2の流れ
るボイラの微粉炭供給管1に、採取管3が径方向に移動
可能に挿入される。このとき採取管3の先端部の採取口
aは上流方向に向けられる。採取管3の出口は集じん器
4を経て吸引器5につながれる。また吸引器5の出口は
供給管1につながれる。さらに集じん器4の出口bの下
方にはふるい型粒度計6が配置される。
【0020】以上において、吸引器5および集じん器4
が所定時間作動すると、採取管3から被計測粒子を含む
流体2が吸引され、集じん器4で流体中の被計測粒子が
集められる。集められた被計測粒子は出口bから下方の
ふるい型粒度計6上に落ちる。その後ふるい型粒度計6
により粒度が計測される。
【0021】採取管3は供給管1の径方向に移動され、
採取口aの位置が管内の所定位置毎に、上記の工程が繰
り返される。
【0022】以上により、管内の各位置の粒子の粒度が
計れる。またふるい型粒度計6のふるいのメッシュを、
例えば100#または48#に選ぶことにより、微粉炭
の粒度を正確に計れる。ふるい型粒度計6であるため、
管内を流れる微粉炭粒子の濃度の影響は受けない。
【0023】(1b)上記記載の本発明1の第2実施例
を図2により説明する。
【0024】微粉炭供給管1に、採取座20を介して採
取管3が径方向に移動可能に挿入される。採取管3はモ
ータ駆動のボールねじ15に連結されている。採取管3
の出口はフレキシブルチューブ16でサイクロン17に
つながれる。サイクロン17のガス出口はベンチュリー
差圧計18を経てインジェクタ19につながれる。イン
ジェクタ19のガス出口は供給管1につながれ、駆動ガ
ス入口は流量調整弁11を経て圧縮空気源10につなが
れる。
【0025】サイクロン17の出口bは分配器12につ
ながれる。分配器の出口cとdの下方には必要な異なる
メッシュのふるい型粒度計13と14が配置される。
【0026】以上において、微粉炭機の運転条件(微粉
炭供給量、空気量)から計算される混相流の流速と濃度
より、ふるい型粒度計に供給される微粉炭量が最適とな
るよう、ベンチュリー差圧計18の信号を用いて流量調
整弁11によりサンプリング時間が調整される。すなわ
ち、圧縮空気源10から圧縮空気がインジェクタ19に
供給されると、サイクロン17を介して採取管3から微
粉炭を含む流体が吸引される。微粉炭はサイクロン17
で分離され、分配器を介して、ふるい型粒度計13と1
4へ送られる。
【0027】ふるい型粒度計で、異る2つのメッシュ通
過の流度が同時に、正確に計測される。
【0028】(2)上記記載の本発明2の一実施例を図
3〜図9により説明する。
【0029】図3は平面図、図4および図5は図3のA
−A断面図およびB−B断面図である。図6〜図9は作
用説明図である。
【0030】図3〜図5にて、回転軸27を有するふる
い21が回転可能に配置される。回転軸27にはエアア
クチュエータ22が連結されている。また電磁ノッカ2
3がついている。ふるい21の上方には筒形の粉体入口
シュート35が軸を鉛直にしてボールスライド軸受34
を介して、回転可能かつ軸方向移動可能に取付けられて
いる。粉体入口シュート35の下端にはブラシ26が取
付けられ、粉体入口シュート35が下方位置にあると
き、ふるい21の面に接触するようになっている。さら
にモータ31にプーリー33a,33bを経て連結され
ている。
【0031】また上部にはエアシリンダ36が鉛直に配
置され、粉体入口シュート35が上下移動可能かつ下方
位置にて回転可能に上端部に連結されている。
【0032】ふるい21の下方にはホッパー25を介し
て重量計測用のロードセル24が配置されている。
【0033】以上において、粉体入口シュート35は図
4に示すように上方位置にある。そして粉体入口シュー
ト35から、サンプリングされ分離された微粉炭32が
ふるい21上へ投入される。そして、電磁ノッカ23が
作動し、ふるい21が振動して、ふるい落される(図
6、図7(a)参照)。ロードセル24でふるい通過分
の重量が計測される。
【0034】次にアクチュエータ22が作動して、ふる
い21が反転される。さらにエアシリンダ36が作動
し、粉体入口シュート35が下方位置になる。そしてモ
ータ31が作動し、ブラシ26が回転して、ふるい21
の裏面をブラシングし、ふるい21に詰っていた微粉炭
32が落される(図7(b)参照)。その後ロードセル
21で重量が計測される。後者の重量で前者の重量が割
られ、正確なメッシュ通過粉度が得られる。
【0035】このようにして、ふるい21の目詰り微粉
炭32(図8)がブラシングにより落され、ふるい21
は常にクリーンに保たれるので、経時変化なく精度のよ
い計測ができる。
【0036】従来は図9に示すように、測定回数によ
り、目詰りのため通過粒子の割合が減少し、計測精度が
低下していた。
【0037】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明は次の効
果を奏する。
【0038】(a)サンプリング計測することにより、
流体とともに流れる粒子の粒度を濃度の影響を受けず
に、正確に計測できる。
【0039】(b)従来のレーザ式では測定の難しい粗
粒子の測定が可能となる。
【0040】(c)ブラシングにより目詰りを除去した
ので、ふるいによる正確な連続的自動測定が可能となっ
た。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明1の第1実施例の構成系統図である。
【図2】本発明1の第2実施例の構成系統図である。
【図3】本発明2の一実施例の平面図である。
【図4】同実施例の図3のA−A断面図である。
【図5】同実施例の図3のB−B断面図である。
【図6】同実施例の作用説明図である。
【図7】同実施例の作用説明図である。
【図8】同実施例の作用説明図である。
【図9】同実施例の作用説明図である。
【図10】従来例の構成系統図である。
【符号の説明】
1 供給管 2 粒子を含む流体 3 採取管 4 集じん器 5 吸引器 10 圧縮空気源 11 調整弁 12 分配器 13,14 ふるい型粒度計 15 ボールねじ 16 フレキシブルチューブ 17 サイクロン 18 ベンチュリー差圧計 19 インジェクタ 20 採取器 21 ふるい 22 アクチュエータ 23 電磁ノッカー 24 ロードセル 25 受入ホッパー 26 ブラシ 31 モータ 32 微粉炭 33a,33b プーリー 34 ボールスライド軸受 35 粉体入口シュート 36 エアシリンダー
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 F23N 1/00 113 Z

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被計測粒子を含む流体用の管と、同管の
    径方向に移動可能に挿入され先端部に採取口を有する採
    取管と、同採取管に順次つながれる集じん手段および吸
    引手段と、同集じん手段の集じん出口の下方に配置され
    るふるい型粒度計とを備えてなることを特徴とする粒度
    測定装置。
  2. 【請求項2】 反転手段を有するふるいと、同ふるいの
    振動手段と、上記ふるいの上方に上下移動可能に配置さ
    れかつ下方位置にあるとき同ふるいに先端部が接触する
    ブラシと、上記ふるいの下方に配置される重量計測手段
    とを備えてなることを特徴とする請求項1記載のふるい
    型粒度計。
JP5281032A 1993-11-10 1993-11-10 粒度測定装置 Pending JPH07134091A (ja)

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