JPH07134952A - 電子管の内蔵素子及びその製造方法 - Google Patents

電子管の内蔵素子及びその製造方法

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JPH07134952A
JPH07134952A JP27815393A JP27815393A JPH07134952A JP H07134952 A JPH07134952 A JP H07134952A JP 27815393 A JP27815393 A JP 27815393A JP 27815393 A JP27815393 A JP 27815393A JP H07134952 A JPH07134952 A JP H07134952A
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JP
Japan
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built
insulating substrate
electric circuit
coating layer
electron tube
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JP27815393A
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Yoshinori Hayakawa
義則 早川
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Toshiba Corp
Toshiba Development and Engineering Corp
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Toshiba Corp
Toshiba Electronic Engineering Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】この発明は、2次電子による放電を抑制するこ
とが出来、製造能率が向上すると共に電界の集中を防止
することが出来る高品質な電子管の内蔵素子及びその製
造方法を提供することを目的とする。 【構成】この発明の電子管の内蔵素子及びその製造方法
は、絶縁基板11上に電気回路部12が形成され、この
電気回路部を覆うように絶縁被覆層14が形成され、更
に電気回路部に直接又は接合用導体層13を介して金属
端子16が電気的に接続されてなり、且つ絶縁基板の露
出面,絶縁被覆層,及び金属端子を覆うように金属酸化
物被膜18が付着されてなることにより、上記の目的を
達成することが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、例えばカラーブラウ
ン管等に使用して好適な電子管の内蔵素子及びその製造
方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子管例えばカラ−テレビジョン
受像機に用いられるカラ−ブラウン管は、図2及び図3
に示すように構成され、図2は全体を示し、図3は電子
銃付近を示している。即ち、ガラス製真空外囲器21の
パネル内面に、蛍光面22が形成されている。一方、ネ
ック23の内部には電子ビ−ムを放出する電子銃24が
配設され、コ−ン部に装着された偏向ヨ−ク28により
電子ビ−ムを偏向走査して、蛍光面22に所望の画像を
表示している。電子銃24は、電子ビ−ムを発生する陰
極と、低電圧が印加され陰極からの電子ビ−ムの発生を
抑制する電極と、陰極から放出された電子ビ−ムを集束
し加速する電極などからなる複数の電極が、蛍光面22
方向に順次所定間隔で配設されている。
【0003】一般に、電子ビ−ムを加速する電極には、
真空外囲器21のコ−ン部に設けられた高電圧供給ボタ
ン(陽極ボタン)25から内部導電膜26を介して高圧
の陽極電圧が印加されている。特にカラ−ブラウン管で
は、20〜35KV程度の高電圧が印加される。更に、
図3から明らかなように、ネック23内の電子銃24に
は内蔵素子例えば抵抗素子29が設けられているが、こ
の抵抗素子29は電圧分圧素子である。電子銃24に
は、電子ビ−ムの集束度を向上させるために、陽極電圧
以外にコンバ−ジェンス電極やフォ−カス電極等に高電
圧を供給する必要のあるものがある。このような場合、
カラ−ブラウン管のステム部27から高電圧を供給する
と、耐電圧の面から問題が生じるので、抵抗素子29に
より陽極電圧を分圧し、コンバ−ジェンス電極やフォ−
カス電極等に所定の高電圧を供給している。
【0004】このようなカラ−ブラウン管に内蔵される
抵抗素子29は、従来、例えば図4の(a)、(b)、
(c)に示すように構成され、(a)は外表部を形成す
る絶縁被覆層上から透視した状態を示す平面図、(b)
は(a)のB−B′線に沿って切断し矢印方向に見た断
面図、(c)は(b)の要部を拡大して示す断面図であ
る。
【0005】即ち、酸化アルミニウムを主成分とするセ
ラミックス製の絶縁基板31上には、所定のシ−ト抵抗
値を有するルテニウム酸鉛を含む金属酸化物と硼硅酸鉛
系のガラスよりなる抵抗材料をジグザグパタ−ンに印
刷,乾燥,焼成した抵抗層33が形成され、この抵抗層
33と電気的に一体の接合用導体層32と、この接合用
導体層32に接合するように絶縁基板31にかしめられ
た金属端子36とが設けられている。更に、抵抗層33
を覆うように絶縁被覆層34が形成され、絶縁基板31
の側面のセラミックス露出面などに絶縁被覆ガラス35
が形成されている。 このような抵抗素子29の製造工
程では、絶縁被覆層34を形成する工程までを複数の分
割用溝を有する単一絶縁基板上に複数組実施し、その
後、分割用溝に沿って複数組の抵抗素子29に分割して
いる。そのため、分割後、絶縁基板31の側面にはセラ
ミックスの部分が露出する。又、金属端子36をかしめ
により接合する際、ガラスの欠けを防止するため、絶縁
基板31の裏面のスル−ホ−ル部37周辺もセラミック
スの部分が露出している。更に、かしめた金属端子36
が絶縁基板31の裏面側に露出している。
【0006】一般に、抵抗素子29はカラ−ブラウン管
に内蔵した際、抵抗素子29の裏面側がネック内壁と対
向している。従って、陰極より発生し正規の軌道を外れ
た電子が抵抗素子29に衝突するが、その際、抵抗素子
29から2次電子が放出される。この時、2次電子放出
比の小さいガラス系材料では、2次電子の放出量が僅か
で大きな問題とはならない。しかし、2次電子放出比の
大きなセラミックスの露出部では2次電子放出量が大き
く、放電を誘発する。これにより、カラ−ブラウン管の
ネック内壁と抵抗素子29との間で、連続的に不要な放
電が発生する。又、金属端子36が露出していると、そ
こに電子銃24の高電圧電極部からの放電が単発的に発
生する。
【0007】このように連続的又は単発的な放電が発生
した場合、各部分での電位が不安定になり、電子銃の電
極に対して所定の電圧を供給することが困難となり、カ
ラ−ブラウン管として高画質の映像を提供することが困
難となる。
【0008】そのため、絶縁基板31の側面とスル−ホ
−ル部37周辺のセラミックス露出部分及び金属端子3
6の裏面かしめ部36aを、2次電子放出比の小さい絶
縁被覆ガラス35でコ−ティングし、絶縁基板31のセ
ラミックス露出部分からの2次電子放出比に伴なう連続
放電、かしめ部36aを絶縁して電子銃の高電圧電極部
からの単発的な放電を防止している。
【0009】この絶縁被覆ガラス35は絶縁被覆層34
と同一の硼硅酸鉛系のガラス材料によりなっている。こ
れは同一の材料を使用することにより、誘電率を同一と
し電界の分布の不均一化を防止するためである。尚、絶
縁被覆ガラス35のコ−ティングはペ−スト状のガラス
材料を更に溶剤で希釈、液状にして、ディスペンサ−に
より塗布している。尚、図4の(c)では、絶縁被覆ガ
ラス35の図示を省略してある。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】既述のように、従来の
抵抗素子29においては、絶縁基板31及び金属端子3
6の露出部分を絶縁被覆ガラス35でコ−ティングする
際、ディスペンサ−による塗布のため、作業が複雑で抵
抗素子29一つ当たりの塗布時間が長く、生産性に欠け
る。又、塗布むら、塗り残しが多発するので、これらを
修正するための検査・修正工程を必要とし、生産性に問
題があり、これらの諸問題を解決するための手段が望ま
れていた。
【0011】この発明は、上記事情に鑑みなされたもの
で、2次電子による放電を抑制することが出来、更に製
造能率が向上すると共に電界の集中を防止することが出
来る高品質な電子管の内蔵素子及びその製造方法を提供
することを目的とする。
【0012】
【課題を解決する手段】この発明は、絶縁基板上に電気
回路部が形成され、この電気回路部を覆うように絶縁被
覆層が形成され、更に電気回路部に直接又は接合用導体
層を介して金属端子が電気的に接続されてなる電子管の
内蔵素子において、絶縁基板の露出面,絶縁被覆層,及
び金属端子を覆うように金属酸化物被膜が付着されてな
る電子管の内蔵素子である。そして、金属酸化物被膜の
厚さは、100乃至5000オングストロ−ムの範囲に
設定されている。
【0013】又、この発明は、絶縁基板上に電気回路部
を形成し、この電気回路部を覆うように絶縁被覆層を形
成すると共に電気回路部に直接又は接合用導体層を介し
て金属端子を電気的に接続する電子管の内蔵素子の製造
方法において、内蔵素子全体を有機金属化合物溶液中に
浸漬し、その後、加熱処理して絶縁基板の露出面,絶縁
被覆層,及び金属端子を覆う金属酸化物被膜を形成する
電子管の内蔵素子の製造方法である。そして、絶縁被覆
層を形成する工程までを複数の分割用溝を有する単一絶
縁基板上に複数組実施し、その後、分割用溝に沿って複
数組の素子に分割する場合にも、上記と同様に各素子の
それぞれに金属酸化物被膜を形成する。
【0014】
【作用】この発明によれば、内蔵素子全体を有機金属化
合物溶液中に浸漬し、その塗布膜を空気中の水分等で加
水分解を行ない、更に加熱し、脱水・縮合反応すること
により、内蔵素子全体に緻密な金属酸化物被膜が付着さ
れる。従って、2次電子による放電を抑制することが出
来る。又、塗布むらや塗り残し等の不良が低減するた
め、製造能率を高めることが出来る。こうして誘電率が
均一で、電界の集中を防止することが出来、高品質な電
子管の内蔵素子を得ることが出来る。
【0015】
【実施例】以下、図面を参照して、この発明の一実施例
を詳細に説明する。この発明による電子管の内蔵素子例
えば抵抗素子は、図1の(a),(b),(c)に示す
ように構成され、(a)は外表部を形成する金属酸化物
被膜上から透視した状態を示す平面図、(b)はA−
A′線に沿って切断し矢印方向に見た断面図、(c)は
(b)の要部を拡大して示す断面図である。
【0016】即ち、酸化アルミニウムを主成分とするセ
ラミックス製の絶縁基板11上には、電気回路部である
抵抗層12が形成されている。具体的には、所定のシ−
ト抵抗値を有するルテニウム酸鉛を含む金属酸化物と硼
硅酸鉛系のガラスよりなる抵抗材料をジグザグパタ−ン
に印刷,乾燥,焼成した抵抗層12が形成されている。
更に、この抵抗層12と電気的に一体の接合用導体層1
3が形成され、この接合用導体層13に電気的に接続す
るように板状金属端子16が絶縁基板11にかしめられ
ている。図中の符号17はスル−ホ−ル部であり、16
aは金属端子16のかしめ部である。又、抵抗層12を
覆うように絶縁基板11の表面と裏面に絶縁被覆層14
が形成されている。尚、この実施例では、従来技術のよ
うに絶縁基板11の側面のセラミックス露出面には、絶
縁被覆ガラスは形成されていない。 この場合、接合用
導体層13は、例えばニッケル−アルミニウム合金,ガ
ラス質金属酸化物,及び水素化チタンを含む混合焼結層
からなる。又、金属端子16は、ニッケルからなる。
【0017】更に、金属端子16,絶縁基板11の側面
のセラミックス露出面及び絶縁被覆層14を覆うよう
に、例えばメトキシドシリカ{Si(OCH3n }と
イソプロポキシドアルミニウム{Al(O・i−C3
7n }の混合物からなる金属酸化物被膜18が付着さ
れており、この発明の特徴となっている。この金属酸化
物被膜18は、有機金属化合物のゾル−ゲル反応及び脱
水・縮合反応により、抵抗素子全体に一度に、均一に、
而も塗り残しなどの欠陥のないように形成され(詳細は
後述)、高品質にして安価である。又、この金属酸化物
被膜18の厚さは100乃至5000オングストロ−ム
の範囲に設定され、この実施例では約1000オングス
トロ−ムである。
【0018】尚、有機金属化合物としては、例えば下記
の式中のMの部分にSi,Ti,Mg,Sr,Al,B
a等の金属を含むメトキシド{M(OCH3n }、エ
トキシド{M(OC25n }、n−プロポキシド
{M(O・n−C37n }、イソプロポキシド{M
(O・i−C37n }の少なくとも1つを用いてい
る。 さて次に、上記の抵抗素子の製造方法について述
べる。先ず、酸化アルミニウムを主成分とするセラミッ
クス製の絶縁基板11上の一方の面に、抵抗ペーストを
用いスクリーン印刷法により抵抗パターンを印刷する。
その後、120〜150℃で10〜20分間乾燥してペ
ースト中の溶剤を除去し、抵抗層12を形成する。この
時、抵抗ペーストはルテニウム酸鉛を含む金属酸化物と
硼硅酸鉛系のガラスよりなる抵抗材料で、シート抵抗値
が106 〜107Ω/□程度を有する。又、印刷パター
ンは各金属端子16で所定の分圧比率が得られるような
所定のジグザグ状パターンである。
【0019】次いで、絶縁基板11上の抵抗層12と同
一の面に、導体ペーストからなる接合用導体層13を印
刷する。その後、120〜150℃で10〜20分間乾
燥してペースト中の溶剤を除去し、複数の接合用導体層
13を形成する。そのためのシート抵抗値が104 Ω/
□以下を有する。
【0020】次いで、840〜860C゜、空気雰囲気
中で約8〜10分間加熱して抵抗層12及び接合用導体
層13を焼成する。こうして得られた抵抗層12は全抵
抗値で2×109 〜3×109 Ωの抵抗値を有する。こ
の時、各金属端子16での分圧比率が所定の範囲内では
ない時には、抵抗層12の各抵抗部に設けられている抵
抗値修正用の抵抗層をサンドブラスト法等により削り、
各分圧比率が所定の範囲内となるように修正する。
【0021】次いで、絶縁基板11の両面の所定の部分
に絶縁被覆用のガラスペーストを印刷する。その後、1
20〜150℃で10〜20分間乾燥してペースト中の
溶剤を除去し、絶縁被覆層14を形成する。この時、ガ
ラスペーストは硼硅酸鉛ガラスを主成分とし酸化鉄,酸
化クロム,酸化ニッケル等の遷移金属酸化物と有機ビヒ
クルの混合材料よりなるペーストである。又、絶縁被覆
層14として所定の耐電圧特性を得るために、所定の膜
厚となるように印刷されている。焼成後の膜厚で抵抗層
12のある表面側は200〜500μm、もう一方の裏
面側は50〜200μmとしている。
【0022】次いで、590〜620C゜、空気雰囲気
中で約8〜10分間加熱して絶縁被覆層14を焼成す
る。通常、ここまでの工程を、複数の分割用溝を有する
単一絶縁基板上に複数組実施し、その後、上記分割用溝
に沿って複数個の素子に分割する。
【0023】次いで、分割された各素子の接合用導体層
13及び絶縁基板11のスル−ホ−ル部17に金属端子
16をかしめにより固着する。次いで、メトキシドシリ
カ{Si(OCH3n }とイソプロポキシドアルミニ
ウム{Al(O・i−C37n }を1:3で混合し
た有機金属化合物溶液中に、各抵抗素子全体を浸漬す
る。この時、溶液の粘度は10〜100poise とし、引
上げ速度は100mm/sec以下とする。
【0024】その後、空気中に10〜15分間放置す
る。これによって塗布膜は空気中に含まれる水分により
加水分解反応が生じる。この加水分解反応によりゾル−
ゲル化して多孔質金属酸化物膜を形成する。
【0025】次いで、450〜550C゜、空気雰囲気
中で約10〜30分間加熱することによって脱水・縮合
反応が起こり、多孔質金属酸化物膜から無孔質金属酸化
物膜へ変質し、金属酸化物被膜18を形成する。この金
属酸化物被膜18の厚さは、約1000オングストロ−
ムに設定しているが、一般に、この金属酸化物被膜18
の厚さは、100〜5000オングストロ−ムの範囲に
あれば良い。尚、金属端子16と電子銃電極への接続リ
−ドとをレ−ザ溶接で接続すれば、金属酸化物被膜18
は何等溶接の障害にならない。
【0026】その後は、従来の抵抗素子の製造工程と同
一である。以上のようにして作られた抵抗素子は、抵抗
値分割比率が±0.7%と高精度であり、実使用条件の
3〜4倍の電圧を50時間印加して高負荷試験を実施し
たところ、抵抗値及び分割比の変化は±0.2%以内と
極めて良好な結果が得られた。又、10000時間に及
ぶ実動作試験後においても、2次電子放出によって誘発
された放電等は全く見られなかった。
【0027】このような結果、従来生じていた抵抗層一
つ当たりの塗布時間が長く煩雑で生産性に欠ける工程が
不要となる。又、塗布むらや塗り残し等の不良が低減す
るため、これらを修正するための検査・修正工程が不要
となる。更に、抵抗層の全面に均一な膜を形成すること
が出来るため、誘電率を均一とし、電界の集中を防止す
ることが出来、電界集中による放電も抑制することが出
来る。
【0028】尚、有機金属化合物としては上記に限定さ
れず、例えば下記の式中のMの部分にSi,Ti,M
g,Sr,Al,Ba等の金属を含むメトキシド{M
(OCH3n }、エトキシド{M(OC25
n }、n−プロポキシド{M(O・n−C37
n }、イソプロポキシド{M(O・i−C37n
の少なくとも1つを用いれば良い。
【0029】又、上記実施例では、電気回路部として抵
抗層を例に挙げたが、電気回路部は抵抗に限定されず、
コンデンサでも良いし、抵抗とコンデンサと又は他の半
導体を組合わせた場合にも、この発明は適用される。
【0030】更に、上記実施例では、抵抗層12と金属
端子16との間に接合用導体層13が介在されていた
が、抵抗層12と金属端子16とを電気的に直接接続す
るようにしても良い。
【0031】
【発明の効果】この発明によれば、絶縁基板の露出面や
金属端子が、2次電子放出比の小さい金属酸化物被膜で
覆われている。それ故、2次電子による放電を抑制する
ことが出来る。又、塗布むらや塗り残し等の不良が低減
するため、製造能率を高めることが出来る。こうして誘
電率が均一で、電界の集中を防止することが出来、高品
質な電子管の内蔵素子を得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)、(b)、(c)はこの発明の一実施例
に係る電子管の内蔵素子を示し、(a)は外表部を形成
する絶縁被覆層上から透視した状態を示す平面図、
(b)は(a)のA−A′線に沿って切断し矢印方向に
見た断面図、(c)は(b)の要部を拡大して示す断面
図。
【図2】一般的なカラ−ブラウン管の全体を示す概略断
面図。
【図3】図2のカラ−ブラウン管の要部(電子銃構体付
近)を拡大して示す断面図。
【図4】(a)、(b)、(c)は従来の電子管の内蔵
素子を示し、(a)は外表部を形成する絶縁被覆層上か
ら透視した状態を示す平面図、(b)は(a)のB−
B′線に沿って切断し矢印方向に見た断面図、(c)は
(b)の要部を拡大して示す断面図。
【符号の説明】
11…絶縁基板、12…抵抗層(電気回路部)、13…
接合用導体層、14…絶縁被覆層、16…金属端子、1
8…金属酸化物被膜。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基板上に電気回路部が形成され、こ
    の電気回路部を覆うように絶縁被覆層が形成され、更に
    上記電気回路部に直接又は接合用導体層を介して金属端
    子が電気的に接続されてなる電子管の内蔵素子におい
    て、 上記絶縁基板の露出面,上記絶縁被覆層,及び上記金属
    端子を覆うように金属酸化物被膜が付着されてなること
    を特徴とする電子管の内蔵素子。
  2. 【請求項2】 上記金属酸化物被膜の厚さは、100乃
    至5000オングストロ−ムの範囲に設定されてなる請
    求項1記載の電子管の内蔵素子。
  3. 【請求項3】 絶縁基板上に電気回路部を形成し、この
    電気回路部を覆うように絶縁被覆層を形成すると共に上
    記電気回路部に直接又は接合用導体層を介して金属端子
    を電気的に接続する電子管の内蔵素子の製造方法におい
    て、 上記内蔵素子全体を有機金属化合物溶液中に浸漬し、そ
    の後、加熱処理して上記絶縁基板の露出面,上記絶縁被
    覆層,及び上記金属端子を覆う金属酸化物被膜を形成す
    ることを特徴とする電子管の内蔵素子の製造方法。
  4. 【請求項4】 上記絶縁被覆層を形成する工程までを複
    数の分割用溝を有する単一絶縁基板上に複数組実施し、
    その後、上記分割用溝に沿って複数個の素子に分割し、
    各素子のそれぞれに上記金属酸化物被膜を形成する請求
    項3記載の電子管の内蔵素子の製造方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000079559A1 (fr) * 1999-06-18 2000-12-28 Kabushiki Kaisha Toshiba Resistance interne d'un tube cathodique
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