JPH07139876A - クリプトン及びキセノンの精製方法 - Google Patents
クリプトン及びキセノンの精製方法Info
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- JPH07139876A JPH07139876A JP5289587A JP28958793A JPH07139876A JP H07139876 A JPH07139876 A JP H07139876A JP 5289587 A JP5289587 A JP 5289587A JP 28958793 A JP28958793 A JP 28958793A JP H07139876 A JPH07139876 A JP H07139876A
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 簡単な装置構成で、連続して効率よくクリプ
トン及びキセノンを高純度に精製する方法を提供する。 【構成】 クリプトン及びキセノンを含む液化酸素を濃
縮塔3に導入してクリプトン及びキセノンを濃縮する濃
縮工程、濃縮塔塔底液を気化後に炭化水素類と酸素とを
反応させて除去する銅・クロム複合触媒の触媒反応筒1
5及び反応生成物の二酸化炭素,水を除去する吸着器1
8とによる触媒精製工程、吸着器導出後のガスを分岐し
一方を濃縮塔塔底に導入して濃縮塔塔底液中の炭化水素
類を希釈する触媒精製ガス循環工程、濃縮塔下部へ再導
入する触媒反応工程後のクリプトン,キセノン含有ガス
の導入量の制御工程、他方を再度液化し脱酸素塔23に
導入し精留して酸素を除去する工程、脱酸素塔塔底液を
分離塔28で精留してキセノンとクリプトンとを分離す
る工程からなるキセノンとクリプトンの精製方法。
トン及びキセノンを高純度に精製する方法を提供する。 【構成】 クリプトン及びキセノンを含む液化酸素を濃
縮塔3に導入してクリプトン及びキセノンを濃縮する濃
縮工程、濃縮塔塔底液を気化後に炭化水素類と酸素とを
反応させて除去する銅・クロム複合触媒の触媒反応筒1
5及び反応生成物の二酸化炭素,水を除去する吸着器1
8とによる触媒精製工程、吸着器導出後のガスを分岐し
一方を濃縮塔塔底に導入して濃縮塔塔底液中の炭化水素
類を希釈する触媒精製ガス循環工程、濃縮塔下部へ再導
入する触媒反応工程後のクリプトン,キセノン含有ガス
の導入量の制御工程、他方を再度液化し脱酸素塔23に
導入し精留して酸素を除去する工程、脱酸素塔塔底液を
分離塔28で精留してキセノンとクリプトンとを分離す
る工程からなるキセノンとクリプトンの精製方法。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、クリプトン及びキセノ
ンの精製方法に関し、詳しくは、空気液化分離装置の複
精留塔上部塔下部の液化酸素中に濃縮されるクリプトン
及びキセノンを精製する方法に関する。
ンの精製方法に関し、詳しくは、空気液化分離装置の複
精留塔上部塔下部の液化酸素中に濃縮されるクリプトン
及びキセノンを精製する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、空気液化分離装置の液化酸素
中に濃縮されるクリプトン及びキセノンをさらに濃縮
し、濃縮した液又はガスをさらに精製後、クリプトン及
びキセノンをそれぞれに分離することが行われている。
中に濃縮されるクリプトン及びキセノンをさらに濃縮
し、濃縮した液又はガスをさらに精製後、クリプトン及
びキセノンをそれぞれに分離することが行われている。
【0003】通常、これらの装置は、精留工程,触媒工
程,吸着工程を繰り返し、精留によりクリプトン90〜
95%及びキセノン5〜10%の濃縮液を得た後、さら
にクリプトンとキセノンとを分離するようにしている。
このため複精留塔主凝縮蒸発器を導出後の液化酸素を約
10工程の精製工程を経て、最終製品であるクリプトン
及びキセノンを得ていた。
程,吸着工程を繰り返し、精留によりクリプトン90〜
95%及びキセノン5〜10%の濃縮液を得た後、さら
にクリプトンとキセノンとを分離するようにしている。
このため複精留塔主凝縮蒸発器を導出後の液化酸素を約
10工程の精製工程を経て、最終製品であるクリプトン
及びキセノンを得ていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、大気中
に含まれるクリプトン及びキセノンは、それぞれ1.1
4ppm,0.086ppmと極微量であり、これを濃
縮すると同時に大気中の炭化水素類(主としてメタン、
以下同)をも濃縮するため、上記の如く多数の工程を必
要とし、かつ、連続した精製を行うことができず、一貫
した精製工程を有する装置の製作が困難であった。
に含まれるクリプトン及びキセノンは、それぞれ1.1
4ppm,0.086ppmと極微量であり、これを濃
縮すると同時に大気中の炭化水素類(主としてメタン、
以下同)をも濃縮するため、上記の如く多数の工程を必
要とし、かつ、連続した精製を行うことができず、一貫
した精製工程を有する装置の製作が困難であった。
【0005】そこで本発明は、工程数を低減し、クリプ
トン及びキセノンを連続的かつ効率よく分離することが
でき、しかも高純度に精製したクリプトン及びキセノン
を得ることができる精製方法を提供することを目的とし
ている。
トン及びキセノンを連続的かつ効率よく分離することが
でき、しかも高純度に精製したクリプトン及びキセノン
を得ることができる精製方法を提供することを目的とし
ている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明のクリプトン及びキセノンの精製方法は、
空気液化分離装置から導出されるクリプトン及びキセノ
ンを含む液化酸素からクリプトン及びキセノンを精製す
る方法において、前記液化酸素を濃縮塔に導入して塔底
液にクリプトン及びキセノンを濃縮する工程と、該濃縮
塔塔底液を気化して触媒反応筒に導入して含有する炭化
水素類と酸素とを反応させる触媒反応工程と、該触媒反
応筒導出後のガスを吸着器に導入して触媒反応工程で生
成した水,二酸化炭素を吸着除去する吸着工程と、該吸
着工程導出後のガスを再度冷却した後2分し、その一方
を濃縮塔下部に再導入して濃縮塔塔底液中の炭化水素類
を希釈する工程と、前記濃縮塔下部へ再導入する前記触
媒反応工程後のクリプトン,キセノン含有ガスの導入量
の制御を前記濃縮塔塔底液中の炭化水素類の含有量又は
含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工程
へ導入される前のクリプトン,キセノン含有ガス中の炭
化水素類の含有量を検出し、該検出された炭化水素類の
含有量に応じて行う工程と、前記分岐した他方を脱酸素
塔に導入して精留分離を行い、該脱酸素塔塔頂から小量
のクリプトンを含む酸素ガスを導出し、塔底にクリプト
ン,キセノンの混合液を留出する脱酸素工程と、脱酸素
塔塔底液を導出して分離塔に導入し、該分離塔塔頂部か
らクリプトンを、塔底部からキセノンをそれぞれ導出す
る分離工程とを順次行うことを特徴としている。
ため、本発明のクリプトン及びキセノンの精製方法は、
空気液化分離装置から導出されるクリプトン及びキセノ
ンを含む液化酸素からクリプトン及びキセノンを精製す
る方法において、前記液化酸素を濃縮塔に導入して塔底
液にクリプトン及びキセノンを濃縮する工程と、該濃縮
塔塔底液を気化して触媒反応筒に導入して含有する炭化
水素類と酸素とを反応させる触媒反応工程と、該触媒反
応筒導出後のガスを吸着器に導入して触媒反応工程で生
成した水,二酸化炭素を吸着除去する吸着工程と、該吸
着工程導出後のガスを再度冷却した後2分し、その一方
を濃縮塔下部に再導入して濃縮塔塔底液中の炭化水素類
を希釈する工程と、前記濃縮塔下部へ再導入する前記触
媒反応工程後のクリプトン,キセノン含有ガスの導入量
の制御を前記濃縮塔塔底液中の炭化水素類の含有量又は
含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工程
へ導入される前のクリプトン,キセノン含有ガス中の炭
化水素類の含有量を検出し、該検出された炭化水素類の
含有量に応じて行う工程と、前記分岐した他方を脱酸素
塔に導入して精留分離を行い、該脱酸素塔塔頂から小量
のクリプトンを含む酸素ガスを導出し、塔底にクリプト
ン,キセノンの混合液を留出する脱酸素工程と、脱酸素
塔塔底液を導出して分離塔に導入し、該分離塔塔頂部か
らクリプトンを、塔底部からキセノンをそれぞれ導出す
る分離工程とを順次行うことを特徴としている。
【0007】また、本発明は、前記触媒反応筒に導入し
て含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工
程は、触媒に銅・クロム複合触媒を使用すること、該触
媒反応筒に導入して含有する炭化水素類と酸素とを反応
させる触媒反応工程の反応温度は300〜700℃、空
間速度は1000〜6000h-1で反応させること、前
記脱酸素塔塔頂部から導出するクリプトン含有酸素ガス
の一部又は全部を前記濃縮塔中部あるいは中下部へ再度
導入すること、前記分離塔塔頂から導出する酸素含有ク
リプトンガスの一部又は全部を前記濃縮塔下部へ再度導
入することを特徴としている。
て含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工
程は、触媒に銅・クロム複合触媒を使用すること、該触
媒反応筒に導入して含有する炭化水素類と酸素とを反応
させる触媒反応工程の反応温度は300〜700℃、空
間速度は1000〜6000h-1で反応させること、前
記脱酸素塔塔頂部から導出するクリプトン含有酸素ガス
の一部又は全部を前記濃縮塔中部あるいは中下部へ再度
導入すること、前記分離塔塔頂から導出する酸素含有ク
リプトンガスの一部又は全部を前記濃縮塔下部へ再度導
入することを特徴としている。
【0008】また、上記本発明方法を実施するための装
置構成としては、空気液化分離装置から導出されるクリ
プトン及びキセノンを含む液化酸素からクリプトン及び
キセノンを精製する装置において、前記液化酸素を導入
して塔底液にクリプトン及びキセノンを濃縮する濃縮塔
と、該濃縮塔塔底液をを気化後、含有する炭化水素類と
酸素とを反応させる触媒反応筒と、該触媒反応筒で生成
した水,二酸化炭素を吸着除去する吸着器と、該吸着器
導出後のガスを2分して一方を前記濃縮塔に再度導入す
る経路と、前記濃縮塔塔底液中の炭化水素類の含有量又
は含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工
程へ導入される前のクリプトン,キセノン含有ガス中の
炭化水素類の含有量を検出する検出手段と、該検出され
た炭化水素類の含有量に応じて前記濃縮塔下部へ再導入
する前記触媒反応工程後のクリプトン,キセノン含有ガ
スの導入量を制御する制御手段と、前記2分した他方を
導入して精留分離を行い、塔頂から小量のクリプトンを
含む酸素ガスを導出し、塔底にクリプトン,キセノンの
混合液を留出する脱酸素塔と、該脱酸素塔塔底液を導入
して精留分離し、塔頂部からクリプトンを、塔底部から
キセノンをそれぞれ導出する分離塔とを備えているもの
が適している。
置構成としては、空気液化分離装置から導出されるクリ
プトン及びキセノンを含む液化酸素からクリプトン及び
キセノンを精製する装置において、前記液化酸素を導入
して塔底液にクリプトン及びキセノンを濃縮する濃縮塔
と、該濃縮塔塔底液をを気化後、含有する炭化水素類と
酸素とを反応させる触媒反応筒と、該触媒反応筒で生成
した水,二酸化炭素を吸着除去する吸着器と、該吸着器
導出後のガスを2分して一方を前記濃縮塔に再度導入す
る経路と、前記濃縮塔塔底液中の炭化水素類の含有量又
は含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工
程へ導入される前のクリプトン,キセノン含有ガス中の
炭化水素類の含有量を検出する検出手段と、該検出され
た炭化水素類の含有量に応じて前記濃縮塔下部へ再導入
する前記触媒反応工程後のクリプトン,キセノン含有ガ
スの導入量を制御する制御手段と、前記2分した他方を
導入して精留分離を行い、塔頂から小量のクリプトンを
含む酸素ガスを導出し、塔底にクリプトン,キセノンの
混合液を留出する脱酸素塔と、該脱酸素塔塔底液を導入
して精留分離し、塔頂部からクリプトンを、塔底部から
キセノンをそれぞれ導出する分離塔とを備えているもの
が適している。
【0009】
【作 用】上記構成によれば、空気液化分離装置から導
出した液化酸素中のクリプトン及びキセノンを工程数を
低減し、連続一貫した工程で効率よく高純度に精製する
ことができる。
出した液化酸素中のクリプトン及びキセノンを工程数を
低減し、連続一貫した工程で効率よく高純度に精製する
ことができる。
【0010】
【実施例】以下、本発明を、図面に示す一実施例に基づ
いてさらに詳細に説明する。まず、空気液化分離装置の
複精留塔1の上部塔下部の主凝縮蒸発器1a部分から、
クリプトン400ppm、キセノン20ppm及び炭化
水素類(主としてメタン)100ppmが濃縮された液
化酸素を導出し、液酸ポンプ2により濃縮塔3中部又は
上部に導入する。この場合、該濃縮塔3を主凝縮蒸発器
1aより下方に設置しておけば、液化酸素の液柱圧によ
り前記ポンプ無しで濃縮塔2の頂部に導入することがで
きる。
いてさらに詳細に説明する。まず、空気液化分離装置の
複精留塔1の上部塔下部の主凝縮蒸発器1a部分から、
クリプトン400ppm、キセノン20ppm及び炭化
水素類(主としてメタン)100ppmが濃縮された液
化酸素を導出し、液酸ポンプ2により濃縮塔3中部又は
上部に導入する。この場合、該濃縮塔3を主凝縮蒸発器
1aより下方に設置しておけば、液化酸素の液柱圧によ
り前記ポンプ無しで濃縮塔2の頂部に導入することがで
きる。
【0011】上記濃縮塔3の底部には、管5aから供給
される酸素ガス,窒素ガス,アルゴンガス又は空気を加
熱源とするリボイラー5が設けられており、塔底液を加
熱して上昇ガスを生成する。該上昇ガスは塔内を上昇
し、該濃縮塔3頂部に設けられた濃縮塔凝縮器6で凝縮
し、還流液となって流下し前記上昇ガスと接触して精留
が行われる。リボイラー5で加熱源となり生成した液化
ガスの一部は,調節弁5cで圧力の制御を行った上、濃
縮塔凝縮器6で寒冷源として使用し、残りの液化ガスは
後記する脱酸素塔凝縮器25の寒冷源として使用し、更
に余剰分は、後記する冷媒用液化ガス貯槽36に導入し
貯留される。
される酸素ガス,窒素ガス,アルゴンガス又は空気を加
熱源とするリボイラー5が設けられており、塔底液を加
熱して上昇ガスを生成する。該上昇ガスは塔内を上昇
し、該濃縮塔3頂部に設けられた濃縮塔凝縮器6で凝縮
し、還流液となって流下し前記上昇ガスと接触して精留
が行われる。リボイラー5で加熱源となり生成した液化
ガスの一部は,調節弁5cで圧力の制御を行った上、濃
縮塔凝縮器6で寒冷源として使用し、残りの液化ガスは
後記する脱酸素塔凝縮器25の寒冷源として使用し、更
に余剰分は、後記する冷媒用液化ガス貯槽36に導入し
貯留される。
【0012】該リボイラー5での加熱量の調節、すなわ
ち上昇ガス量の調節は、該濃縮塔3塔底液の液面を液面
調節計(LIC)L1で検出して、弁5bを調節するこ
とにより行う。
ち上昇ガス量の調節は、該濃縮塔3塔底液の液面を液面
調節計(LIC)L1で検出して、弁5bを調節するこ
とにより行う。
【0013】前記濃縮塔3内での精留により、前記複精
留塔1から導入されたクリプトン及びキセノンを含む液
化酸素は、塔底部においてはクリプトン及びキセノンを
20〜50倍に濃縮した濃縮液となり、塔頂部からは酸
素ガスが管7に導出される。該濃縮塔3の底部には、ク
リプトンが約9000ppm、キセノンが約1000p
pmに濃縮されるとともに、原料液化酸素中に含まれて
いた炭化水素類が1000ppm以上に濃縮される。
留塔1から導入されたクリプトン及びキセノンを含む液
化酸素は、塔底部においてはクリプトン及びキセノンを
20〜50倍に濃縮した濃縮液となり、塔頂部からは酸
素ガスが管7に導出される。該濃縮塔3の底部には、ク
リプトンが約9000ppm、キセノンが約1000p
pmに濃縮されるとともに、原料液化酸素中に含まれて
いた炭化水素類が1000ppm以上に濃縮される。
【0014】炭化水素類の濃度が高まると危険であるた
め、後記するように触媒反応筒15導出後のクリプト
ン,キセノン含有ガスを分岐して再度濃縮塔3へ導入す
る。これにより炭化水素類は10倍以下の濃縮度で濃縮
した濃縮液となる。
め、後記するように触媒反応筒15導出後のクリプト
ン,キセノン含有ガスを分岐して再度濃縮塔3へ導入す
る。これにより炭化水素類は10倍以下の濃縮度で濃縮
した濃縮液となる。
【0015】濃縮塔3の底部の濃縮液は、管4に導出さ
れて該濃縮液の液ヘッドで自然流入可能な位置に設置さ
れた熱交換器8,13、加熱器14,触媒筒15,冷却
器17,吸着器18を経て脱酸素塔23及び/又は濃縮
塔3に導入される。この工程を行うのに十分な前記液柱
圧が得られる位置に濃縮塔3を設置する。
れて該濃縮液の液ヘッドで自然流入可能な位置に設置さ
れた熱交換器8,13、加熱器14,触媒筒15,冷却
器17,吸着器18を経て脱酸素塔23及び/又は濃縮
塔3に導入される。この工程を行うのに十分な前記液柱
圧が得られる位置に濃縮塔3を設置する。
【0016】次いで、濃縮塔3底部から管4に導出した
塔底液を、濃縮塔熱交換器8で触媒精製後のガスと熱交
換して気化した後、前記液柱圧で触媒精製工程へ送気す
る。該液柱圧で送気ができるように濃縮塔3の位置が設
定されていない場合は、ラインポンプ9で昇圧し、触媒
精製工程へ送気する。
塔底液を、濃縮塔熱交換器8で触媒精製後のガスと熱交
換して気化した後、前記液柱圧で触媒精製工程へ送気す
る。該液柱圧で送気ができるように濃縮塔3の位置が設
定されていない場合は、ラインポンプ9で昇圧し、触媒
精製工程へ送気する。
【0017】いずれの場合も、炭化水素類分析計11a
により検出測定された濃縮塔3塔底液中の炭化水素類の
濃度に応じて調節弁10を開閉し、触媒反応筒15へ導
入するガス量を調節して触媒反応筒15における空間速
度を後記する最適速度範囲内に制御する。
により検出測定された濃縮塔3塔底液中の炭化水素類の
濃度に応じて調節弁10を開閉し、触媒反応筒15へ導
入するガス量を調節して触媒反応筒15における空間速
度を後記する最適速度範囲内に制御する。
【0018】この結果起こる濃縮塔塔底液の上下は、液
面指示調節計(LIC)L1からの信号により開閉する
弁5bでリボイラー5の加熱量を制御することにより調
節する。
面指示調節計(LIC)L1からの信号により開閉する
弁5bでリボイラー5の加熱量を制御することにより調
節する。
【0019】このように前記触媒反応筒15に導入して
含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工程
へ導入される前のクリプトン,キセノン含有ガス中の炭
化水素類の含有量を検出し、該検出された炭化水素類の
含有量に応じて前記触媒反応工程の反応条件(空間速
度)を、該触媒反応筒出口における炭化水素類の濃度が
0.05ppm以下になるように手動又は自動で調節す
る。
含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工程
へ導入される前のクリプトン,キセノン含有ガス中の炭
化水素類の含有量を検出し、該検出された炭化水素類の
含有量に応じて前記触媒反応工程の反応条件(空間速
度)を、該触媒反応筒出口における炭化水素類の濃度が
0.05ppm以下になるように手動又は自動で調節す
る。
【0020】なお、本実施例の自動調節弁10は、前記
液柱圧を利用して送気する場合は送気量調節弁であり、
ポンプ9を使用する場合はポンプ9を循環するガス量の
調節弁である。送気量を調節された濃縮液は、次いで導
管12から触媒筒熱交換器13に入り、触媒反応筒15
の出口ガスと熱交換して略触媒反応の温度に昇温し、次
いで加熱器14で温度調節計16からの触媒反応筒15
内の検出温度に基づいた信号により、触媒反応筒15内
の反応温度が最適になるよう、すなわち、触媒反応筒1
5出口における炭化水素類の残存量が0.05ppm以
下になるように温度調節を行う。触媒反応塔15内で
は、濃縮ガスに含有する炭化水素類と酸素とを反応さ
せ、二酸化炭素及び水にする。
液柱圧を利用して送気する場合は送気量調節弁であり、
ポンプ9を使用する場合はポンプ9を循環するガス量の
調節弁である。送気量を調節された濃縮液は、次いで導
管12から触媒筒熱交換器13に入り、触媒反応筒15
の出口ガスと熱交換して略触媒反応の温度に昇温し、次
いで加熱器14で温度調節計16からの触媒反応筒15
内の検出温度に基づいた信号により、触媒反応筒15内
の反応温度が最適になるよう、すなわち、触媒反応筒1
5出口における炭化水素類の残存量が0.05ppm以
下になるように温度調節を行う。触媒反応塔15内で
は、濃縮ガスに含有する炭化水素類と酸素とを反応さ
せ、二酸化炭素及び水にする。
【0021】該触媒反応筒15には銅・クロム(CuC
r)複合触媒が所定量充填されている。触媒は白金(P
t)又はパラジウム(Pd)のような貴金属触媒でも良
い。これら金属触媒は、単独は勿論それぞれを組み合わ
せて積層充填して用いても良い。該触媒反応筒15にお
ける反応条件は、温度300〜700℃、反応温度は触
媒の寿命からみると低い程よいが、完全除去の点からは
350℃以上が良い。そして空間速度は、約1000〜
5000h-1の範囲内であれば、上記残存メタンを主と
する炭化水素類約1000ppmを0.05ppm以下
に除去し得る。
r)複合触媒が所定量充填されている。触媒は白金(P
t)又はパラジウム(Pd)のような貴金属触媒でも良
い。これら金属触媒は、単独は勿論それぞれを組み合わ
せて積層充填して用いても良い。該触媒反応筒15にお
ける反応条件は、温度300〜700℃、反応温度は触
媒の寿命からみると低い程よいが、完全除去の点からは
350℃以上が良い。そして空間速度は、約1000〜
5000h-1の範囲内であれば、上記残存メタンを主と
する炭化水素類約1000ppmを0.05ppm以下
に除去し得る。
【0022】上記銅・クロム触媒では、温度650℃、
空間速度3600h-1で、炭化水素類は、検出限界以下
(0.05ppm)であった。
空間速度3600h-1で、炭化水素類は、検出限界以下
(0.05ppm)であった。
【0023】触媒反応筒15、即ち炭化水素類の除去工
程を導出したガスは、前記熱交換器13に入り向流する
前記濃縮ガスと熱交換して降温し、さらに冷却器17で
冷却水により降温した後、切換え使用される吸着器18
の一方に導入され、触媒反応で生成した二酸化炭素と水
が吸着除去される。なお、吸着器18は、一方が吸着工
程の時は他方は再生工程である。再生工程は、該吸着器
内に加熱窒素ガスを導入して行う加熱再生工程と、酸素
ガスを導入して行う洗浄工程とにより行う。
程を導出したガスは、前記熱交換器13に入り向流する
前記濃縮ガスと熱交換して降温し、さらに冷却器17で
冷却水により降温した後、切換え使用される吸着器18
の一方に導入され、触媒反応で生成した二酸化炭素と水
が吸着除去される。なお、吸着器18は、一方が吸着工
程の時は他方は再生工程である。再生工程は、該吸着器
内に加熱窒素ガスを導入して行う加熱再生工程と、酸素
ガスを導入して行う洗浄工程とにより行う。
【0024】炭化水素類の除去工程から導出した濃縮ガ
スは、前記熱交換器8で向流する濃縮塔塔底液と熱交換
して再び液化され、2分してその一方は前記炭化水素類
分析計11aにより検出測定される塔底液中の炭化水素
類の濃度又は含有する炭化水素類と酸素とを反応させる
触媒反応工程へ導入される前のクリプトン,キセノン含
有ガス中の炭化水素類の含有量を検出し、該検出された
炭化水素類の含有量に応じて開閉する調節弁21aの作
動によりその流量が調節されつつ再度前記濃縮塔3の下
部に導入され濃縮塔3の塔底液を希釈する。なお、濃縮
塔3塔底液の炭化水素類濃度の急激な変化は無いので、
上記流量の調節、即ち調節弁21aは手動でも良い。
スは、前記熱交換器8で向流する濃縮塔塔底液と熱交換
して再び液化され、2分してその一方は前記炭化水素類
分析計11aにより検出測定される塔底液中の炭化水素
類の濃度又は含有する炭化水素類と酸素とを反応させる
触媒反応工程へ導入される前のクリプトン,キセノン含
有ガス中の炭化水素類の含有量を検出し、該検出された
炭化水素類の含有量に応じて開閉する調節弁21aの作
動によりその流量が調節されつつ再度前記濃縮塔3の下
部に導入され濃縮塔3の塔底液を希釈する。なお、濃縮
塔3塔底液の炭化水素類濃度の急激な変化は無いので、
上記流量の調節、即ち調節弁21aは手動でも良い。
【0025】分岐した他方は,遮断弁21bを経て導管
20から熱交換器22で脱酸塔凝縮器25で気化して導
出したガスと熱交換して更に降温した後、脱酸素塔23
の中段に導入される。該導管20には、遮断弁21bが
設けられていて、触媒反応筒15を導出した濃縮ガス中
の残存炭化水素類濃度を炭化水素類分析計11bで検出
し、これが0.05ppmを超えた場合又は水分が露点
−70℃を超えた場合は、これが作動して脱酸素塔23
への導入を遮断する。
20から熱交換器22で脱酸塔凝縮器25で気化して導
出したガスと熱交換して更に降温した後、脱酸素塔23
の中段に導入される。該導管20には、遮断弁21bが
設けられていて、触媒反応筒15を導出した濃縮ガス中
の残存炭化水素類濃度を炭化水素類分析計11bで検出
し、これが0.05ppmを超えた場合又は水分が露点
−70℃を超えた場合は、これが作動して脱酸素塔23
への導入を遮断する。
【0026】脱酸素塔23は、シーブトレイ又はバブル
キャップ等の実段数で約20〜40段の精留段を備え、
塔底部にはリボイラー24が、塔頂部にはリボイラー2
4で液化した液化酸素及び前記濃縮塔リボイラー5で液
化した液化ガスを寒冷源とする凝縮器25が設けられて
いる。
キャップ等の実段数で約20〜40段の精留段を備え、
塔底部にはリボイラー24が、塔頂部にはリボイラー2
4で液化した液化酸素及び前記濃縮塔リボイラー5で液
化した液化ガスを寒冷源とする凝縮器25が設けられて
いる。
【0027】上記脱酸素塔リボイラー24の加熱源とし
てのガスは、前記濃縮塔3と同様に、酸素,窒素,アル
ゴン,空気等を適宜の圧力に加圧して用いる。そして該
リボイラー24及び凝縮器25の加熱・冷却により、還
流比を0.1〜1.2程度の範囲に調節することにより
塔底液中の酸素濃度を0.5ppm以下にすることがで
きる。
てのガスは、前記濃縮塔3と同様に、酸素,窒素,アル
ゴン,空気等を適宜の圧力に加圧して用いる。そして該
リボイラー24及び凝縮器25の加熱・冷却により、還
流比を0.1〜1.2程度の範囲に調節することにより
塔底液中の酸素濃度を0.5ppm以下にすることがで
きる。
【0028】また、前記導管20からのクリプトン,キ
セノン濃縮ガスの供給量の変動により該脱酸素塔23の
塔底液液面が変動するが、これは液面検出器(LIC)
L2により塔底液の液面を検出し、この信号を受けた調
節弁26aによって管26からの前記加熱ガスによるリ
ボイラー24の加熱量を調節することにより、塔底液液
面を最適範囲内に制御する。この加熱により液化したガ
スは、弁26bによる最適圧調節後、脱酸素塔凝縮器2
5に導入される。
セノン濃縮ガスの供給量の変動により該脱酸素塔23の
塔底液液面が変動するが、これは液面検出器(LIC)
L2により塔底液の液面を検出し、この信号を受けた調
節弁26aによって管26からの前記加熱ガスによるリ
ボイラー24の加熱量を調節することにより、塔底液液
面を最適範囲内に制御する。この加熱により液化したガ
スは、弁26bによる最適圧調節後、脱酸素塔凝縮器2
5に導入される。
【0029】この脱酸素塔23における精留により、該
脱酸素塔23塔底部には、クリプトン90〜95%及び
キセノン5〜10%及び酸素0.5ppm以下からなる
液化ガスが分離する。
脱酸素塔23塔底部には、クリプトン90〜95%及び
キセノン5〜10%及び酸素0.5ppm以下からなる
液化ガスが分離する。
【0030】また、塔頂部にはクリプトンを10〜50
ppm含む酸素ガスが分離して管33aから導出されて
導管33より前記濃縮塔3の中段又は下段へ循環導入さ
れる。該導管33の酸素主成分ガスは複精留塔1の低圧
塔へ導入してもよい。
ppm含む酸素ガスが分離して管33aから導出されて
導管33より前記濃縮塔3の中段又は下段へ循環導入さ
れる。該導管33の酸素主成分ガスは複精留塔1の低圧
塔へ導入してもよい。
【0031】このようにしてクリプトン及びキセノンが
濃縮された脱酸素塔塔底液は、導管24aからクリプト
ンとキセノンとを精留分離する分離塔28の中段又は中
下段に導入される。
濃縮された脱酸素塔塔底液は、導管24aからクリプト
ンとキセノンとを精留分離する分離塔28の中段又は中
下段に導入される。
【0032】また、前記濃縮塔3及び脱酸素塔23の運
転状態により、導管27から供給されるクリプトン,キ
セノン濃縮液の供給量の変動を混合液貯槽35に該混合
液を貯留することにより調整して、該濃縮液を分離塔2
8に供給する。この調整は弁27a,27b,27cを
用いて行う。また該塔底液中の酸素濃度を酸素濃度分析
計24bにより検出してその測定値が所定値を超えた場
合は、遮断弁24cにより塔底液の分離塔28への供給
を遮断する。該遮断弁24cは前記遮断弁21bの作動
にも連動して作動するようにする。
転状態により、導管27から供給されるクリプトン,キ
セノン濃縮液の供給量の変動を混合液貯槽35に該混合
液を貯留することにより調整して、該濃縮液を分離塔2
8に供給する。この調整は弁27a,27b,27cを
用いて行う。また該塔底液中の酸素濃度を酸素濃度分析
計24bにより検出してその測定値が所定値を超えた場
合は、遮断弁24cにより塔底液の分離塔28への供給
を遮断する。該遮断弁24cは前記遮断弁21bの作動
にも連動して作動するようにする。
【0033】前記分離塔28には、その底部に塔底液を
蒸発させて上昇ガスとするリボイラー29が設けられる
とともに、頂部に液化酸素,液化窒素,液化アルゴン,
液化空気等を寒冷源として還流液を発生させる凝縮器3
0が設けられている。また、前記リボイラー29には、
前記濃縮塔3,脱酸素塔23と同様所定の温度圧力の、
例えば窒素ガスを加熱源として導入すればよい。
蒸発させて上昇ガスとするリボイラー29が設けられる
とともに、頂部に液化酸素,液化窒素,液化アルゴン,
液化空気等を寒冷源として還流液を発生させる凝縮器3
0が設けられている。また、前記リボイラー29には、
前記濃縮塔3,脱酸素塔23と同様所定の温度圧力の、
例えば窒素ガスを加熱源として導入すればよい。
【0034】分離塔28の中段に導入されたクリプトン
及びキセノンからなる混合液化ガスは、該塔における精
留により塔頂部に純度99.99%以上のクリプトンが
分離し、塔底部に純度99.99%以上のキセノンが液
状で分離する。不純物としての酸素は1ppm以下、炭
化水素類も1ppm以下である。
及びキセノンからなる混合液化ガスは、該塔における精
留により塔頂部に純度99.99%以上のクリプトンが
分離し、塔底部に純度99.99%以上のキセノンが液
状で分離する。不純物としての酸素は1ppm以下、炭
化水素類も1ppm以下である。
【0035】分離後のクリプトンは、凝縮器30の下又
は塔上部に設けた管31から、そしてキセノンは、塔底
に設けた管32からそれぞれ導出され、図示しない充填
工程に送られ、所定のガス容器に充填される。上記塔上
部に設けるクリプトン抜出管31は、塔頂から1段乃至
数段下の精留段から抜き出すようにしてもよい。
は塔上部に設けた管31から、そしてキセノンは、塔底
に設けた管32からそれぞれ導出され、図示しない充填
工程に送られ、所定のガス容器に充填される。上記塔上
部に設けるクリプトン抜出管31は、塔頂から1段乃至
数段下の精留段から抜き出すようにしてもよい。
【0036】なお、該分離塔28の塔頂部からは酸素1
〜10ppmを含むクリプトンガスを少量抜き出し,前
記導管33より脱酸素塔3の中部又は中下部へ循環導入
してクリプトンの完全回収を図る。
〜10ppmを含むクリプトンガスを少量抜き出し,前
記導管33より脱酸素塔3の中部又は中下部へ循環導入
してクリプトンの完全回収を図る。
【0037】また、前記濃縮塔3のリボイラー5で液化
した、例えば液化酸素は、脱酸素塔23及び分離塔28
の凝縮器25,30の寒冷源として使用するが、使用量
の調節が可能であるよう冷媒液化ガス貯槽36を設け
る。
した、例えば液化酸素は、脱酸素塔23及び分離塔28
の凝縮器25,30の寒冷源として使用するが、使用量
の調節が可能であるよう冷媒液化ガス貯槽36を設け
る。
【0038】本発明では、上記実施例に示すようにして
必要最小限の工程で液化酸素中からクリプトン及びキセ
ノンを分離するので、工程数の少ない連続一貫した工程
で繁雑な操作無しで高純度に精製したクリプトン及びキ
セノンを得ることが可能である。また、濃縮工程におけ
る炭化水素類の濃縮による危険を防止し、安全に連続運
転を行うことが可能である。
必要最小限の工程で液化酸素中からクリプトン及びキセ
ノンを分離するので、工程数の少ない連続一貫した工程
で繁雑な操作無しで高純度に精製したクリプトン及びキ
セノンを得ることが可能である。また、濃縮工程におけ
る炭化水素類の濃縮による危険を防止し、安全に連続運
転を行うことが可能である。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のクリプト
ン及びキセノンの精製方法は、空気液化分離装置から導
出した液化酸素中のクリプトン及びキセノンを工程数を
低減し、連続一貫した工程で安全に効率よく、99.9
9%以上の高純度に精製することができ、これらのガス
の製造コストを大幅に低減することが可能である。
ン及びキセノンの精製方法は、空気液化分離装置から導
出した液化酸素中のクリプトン及びキセノンを工程数を
低減し、連続一貫した工程で安全に効率よく、99.9
9%以上の高純度に精製することができ、これらのガス
の製造コストを大幅に低減することが可能である。
【図1】本発明方法を実施するための精製装置の一例を
示す系統図である。
示す系統図である。
1…複精留塔、3…濃縮塔、5…濃縮塔リボイラー、6
…濃縮塔凝縮器塔、8…濃縮塔熱交換器、9…ラインポ
ンプ,11a,11b…炭化水素類分析計、13…触媒
塔熱交換器、14…加熱器、15…触媒反応筒、18…
吸着器、22…熱交換器、23…脱酸素塔、24…脱酸
素塔リボイラー、24b…酸素濃度分析計、25…脱酸
素塔凝縮器、26…混合液化ガス容器、27…冷媒用液
化ガス容器、28…分離塔、29…脱酸素塔リボイラ
ー、30…脱酸素塔凝縮器
…濃縮塔凝縮器塔、8…濃縮塔熱交換器、9…ラインポ
ンプ,11a,11b…炭化水素類分析計、13…触媒
塔熱交換器、14…加熱器、15…触媒反応筒、18…
吸着器、22…熱交換器、23…脱酸素塔、24…脱酸
素塔リボイラー、24b…酸素濃度分析計、25…脱酸
素塔凝縮器、26…混合液化ガス容器、27…冷媒用液
化ガス容器、28…分離塔、29…脱酸素塔リボイラ
ー、30…脱酸素塔凝縮器
Claims (4)
- 【請求項1】 空気液化分離装置から導出されるクリプ
トン及びキセノンを含む液化酸素からクリプトン及びキ
セノンを精製する方法において、前記液化酸素を濃縮塔
に導入して塔底液にクリプトン及びキセノンを濃縮する
工程と、該濃縮塔塔底液を気化して触媒反応筒に導入し
て含有する炭化水素類と酸素とを反応させる触媒反応工
程と、該触媒反応筒導出後のガスを吸着器に導入して触
媒反応工程で生成した水,二酸化炭素を吸着除去する吸
着工程と、該吸着工程導出後のガスを再度冷却した後2
分し、その一方を濃縮塔下部に再導入する工程と、前記
濃縮塔下部へ再導入する前記触媒反応工程後のクリプト
ン,キセノン含有ガスの導入量の制御を前記濃縮塔塔底
液中の炭化水素類の含有量又は含有する炭化水素類と酸
素とを反応させる触媒反応工程へ導入される前のクリプ
トン,キセノン含有ガス中の炭化水素類の含有量を検出
し、該検出された炭化水素類の含有量に応じて行う工程
と、前記分岐した他方を脱酸素塔に導入して精留分離を
行い、塔頂から小量のクリプトンを含む酸素ガスを導出
し、塔底にクリプトン,キセノンの混合液を留出する脱
酸素工程と、脱酸素塔塔底液を導出して分離塔に導入
し、該分離塔塔頂部からクリプトンを、塔底部からキセ
ノンをそれぞれ導出する分離工程とを順次行うことを特
徴とするクリプトン及びキセノンの精製方法。 - 【請求項2】 前記触媒反応筒に導入して含有する炭化
水素類と酸素とを反応させる触媒反応工程は、該触媒に
銅・クロム複合触媒を使用することを特徴とする請求項
1記載のクリプトン及びキセノンの精製方法。 - 【請求項3】 前記脱酸素塔塔頂部から導出するクリプ
トン含有酸素ガスの一部又は全部を前記濃縮塔へ再度導
入することを特徴とする請求項1記載のクリプトン及び
キセノンの精製方法。 - 【請求項4】 前記分離塔塔頂から導出する酸素含有ク
リプトンガスの一部又は全部を前記濃縮塔へ再度導入す
ることを特徴とする請求項1記載のクリプトン及びキセ
ノンの精製方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5289587A JPH07139876A (ja) | 1993-11-18 | 1993-11-18 | クリプトン及びキセノンの精製方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5289587A JPH07139876A (ja) | 1993-11-18 | 1993-11-18 | クリプトン及びキセノンの精製方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07139876A true JPH07139876A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=17745166
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5289587A Pending JPH07139876A (ja) | 1993-11-18 | 1993-11-18 | クリプトン及びキセノンの精製方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07139876A (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007045702A (ja) * | 2005-08-09 | 2007-02-22 | Linde Ag | クリプトン及び/又はキセノンの製造方法及び装置 |
| JP2010185659A (ja) * | 2002-12-12 | 2010-08-26 | Air Products & Chemicals Inc | クリプトン及び/又はキセノンの回収方法及び装置 |
| FR2950685A1 (fr) * | 2009-12-17 | 2011-04-01 | Air Liquide | Appareil et procede d'extraction de krypton et xenon a partir d'une unite de separation de gaz de l'air |
| JP2012007990A (ja) * | 2010-06-24 | 2012-01-12 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 液面計及び液面高さの測定方法、並びに精留塔及び精留塔の運転方法 |
| JP2012042079A (ja) * | 2010-08-17 | 2012-03-01 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 空気液化分離装置及びその運転方法 |
| JP2012189254A (ja) * | 2011-03-10 | 2012-10-04 | Taiyo Nippon Sanso Corp | 分離精製方法 |
| WO2011160775A3 (de) * | 2010-06-22 | 2012-10-18 | Linde Aktiengesellschaft | Verfahren und vorrichtung zur zerlegung eines fluidgemischs |
| CN115364659A (zh) * | 2022-07-05 | 2022-11-22 | 首钢京唐钢铁联合有限责任公司 | 一种氪氙气体净化系统、方法、装置及电子设备 |
| US11679979B2 (en) | 2018-05-08 | 2023-06-20 | Curium Us Llc | Systems and methods for production of Xenon-133 |
-
1993
- 1993-11-18 JP JP5289587A patent/JPH07139876A/ja active Pending
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