JPH07139918A - 円柱中心位置・半径計測方法 - Google Patents
円柱中心位置・半径計測方法Info
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- JPH07139918A JPH07139918A JP5286315A JP28631593A JPH07139918A JP H07139918 A JPH07139918 A JP H07139918A JP 5286315 A JP5286315 A JP 5286315A JP 28631593 A JP28631593 A JP 28631593A JP H07139918 A JPH07139918 A JP H07139918A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ステレオ画像を演算処理して円柱中心位置、
半径を高精度に計測する方法を提供する。 【構成】 ステップ1にて、ステレオ画像を演算処理し
て円柱境界の画像面投影点を計測し円柱接面を検出す
る。ステップ2にて、ステレオ画像を得る左右のカメラ
の投影中心から円柱接面に引いた接線の方程式を求め
る。次に、ステップ3にて、求めた接線の方程式に基づ
き円柱の中心を算出し、真の円柱中心の近似点とする。
次に、ステップ4にて、上記接線の方程式に基づき円柱
の仮想中心の座標から前記各接線に下ろした垂線の長さ
とこれらの垂線の平均値との差の2乗和を評価関数Eと
し、円柱の仮想中心の座標に上記円柱中心の近傍領域の
座標を代入して評価関数Eが最小になる座標の値を求め
て円柱の中心位置とすると共に、この時の前記接線に下
ろした垂線の長さの平均値を求めて半径とする。
半径を高精度に計測する方法を提供する。 【構成】 ステップ1にて、ステレオ画像を演算処理し
て円柱境界の画像面投影点を計測し円柱接面を検出す
る。ステップ2にて、ステレオ画像を得る左右のカメラ
の投影中心から円柱接面に引いた接線の方程式を求め
る。次に、ステップ3にて、求めた接線の方程式に基づ
き円柱の中心を算出し、真の円柱中心の近似点とする。
次に、ステップ4にて、上記接線の方程式に基づき円柱
の仮想中心の座標から前記各接線に下ろした垂線の長さ
とこれらの垂線の平均値との差の2乗和を評価関数Eと
し、円柱の仮想中心の座標に上記円柱中心の近傍領域の
座標を代入して評価関数Eが最小になる座標の値を求め
て円柱の中心位置とすると共に、この時の前記接線に下
ろした垂線の長さの平均値を求めて半径とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、円柱形状を有する物体
に対し、ステレオ画像計測によって円柱の中心位置と半
径とを計測する方法に関するものである。この技術は、
ステレオ画像処理を用いた位置計測システムにおいて、
電柱など円柱形状体物体の位置を高精度に得るために用
いられる。
に対し、ステレオ画像計測によって円柱の中心位置と半
径とを計測する方法に関するものである。この技術は、
ステレオ画像処理を用いた位置計測システムにおいて、
電柱など円柱形状体物体の位置を高精度に得るために用
いられる。
【0002】
【従来の技術】まず、ステレオ画像計測方法について説
明し、次に、この方法を円柱計測に適用した従来例につ
いて述べる。
明し、次に、この方法を円柱計測に適用した従来例につ
いて述べる。
【0003】ステレオ画像計測原理を図5に示す。3次
元空間を表す座標としてx、y、zを用い、画像面上の
位置を表す座標としてu、vを用いる。x軸とu軸、z
軸とv軸はそれぞれ平行であり、y軸はステレオ画像を
得るためのカメラの光軸に平行であるとする。空間座標
系の原点であるOを、左右のカメラの投影中心Fl、Fr
の中点にとる。カメラ間の距離を2aとすると、Fl、
Frの3次元空間内での座標はそれぞれ(−a,0,
0)、(a,0,0)で表される。現実のカメラの画像
面はカメラの投影中心Fl,Frに関して計測対象と反対
側にあるが、以下に述べる幾何学的定量関係を見易くす
るために、図5ではカメラ画像面を計測対象と同じ側
の、投影中心Fl,Frに関して対称の位置に描いてい
る。このとき、投影中心Fl,Frと画像面との距離をf
とすると、左右のカメラの画像面における画像原点
Ol、Orの3次元空間座標はそれぞれ(−a,f,
0)、(a,f,0)で表される。以下、左、右の画像
を示す添字としてl、rを用い、原点Oを視点と呼ぶ。
元空間を表す座標としてx、y、zを用い、画像面上の
位置を表す座標としてu、vを用いる。x軸とu軸、z
軸とv軸はそれぞれ平行であり、y軸はステレオ画像を
得るためのカメラの光軸に平行であるとする。空間座標
系の原点であるOを、左右のカメラの投影中心Fl、Fr
の中点にとる。カメラ間の距離を2aとすると、Fl、
Frの3次元空間内での座標はそれぞれ(−a,0,
0)、(a,0,0)で表される。現実のカメラの画像
面はカメラの投影中心Fl,Frに関して計測対象と反対
側にあるが、以下に述べる幾何学的定量関係を見易くす
るために、図5ではカメラ画像面を計測対象と同じ側
の、投影中心Fl,Frに関して対称の位置に描いてい
る。このとき、投影中心Fl,Frと画像面との距離をf
とすると、左右のカメラの画像面における画像原点
Ol、Orの3次元空間座標はそれぞれ(−a,f,
0)、(a,f,0)で表される。以下、左、右の画像
を示す添字としてl、rを用い、原点Oを視点と呼ぶ。
【0004】今、3次元空間内の点Pが、左右画像面上
の点Il(ul,vl)、Ir(ur,vr)に投影されたと
する。ステレオ画像計測では、画像上においてIl、Ir
を決定し、三角測量の原理に基づいて点Pの3次元空間
座標(x,y,z)を求める。ここで、2台のカメラの
光軸が同一平面上にありx軸とu軸とを平行にとってい
ることから、vlとvrとは同じ値をとる。そこで、以下
では両者を区別せずvで表す。図5に示すように、直線
FlIlとFrIrとが点Pで交わるという幾何学的条件よ
り、画像面上の座標ul,ur,vと3次元空間内の座標
x、y、zとの関係は、 x=a(ul+ur)/(ul−ur) (1) y=2af/(ul−ur) (2) z=2av/(ul−ur) (3) と求められる。
の点Il(ul,vl)、Ir(ur,vr)に投影されたと
する。ステレオ画像計測では、画像上においてIl、Ir
を決定し、三角測量の原理に基づいて点Pの3次元空間
座標(x,y,z)を求める。ここで、2台のカメラの
光軸が同一平面上にありx軸とu軸とを平行にとってい
ることから、vlとvrとは同じ値をとる。そこで、以下
では両者を区別せずvで表す。図5に示すように、直線
FlIlとFrIrとが点Pで交わるという幾何学的条件よ
り、画像面上の座標ul,ur,vと3次元空間内の座標
x、y、zとの関係は、 x=a(ul+ur)/(ul−ur) (1) y=2af/(ul−ur) (2) z=2av/(ul−ur) (3) と求められる。
【0005】ディジタル画像処理を例にとって、このよ
うなステレオ画像計測を行なうための装置構成のブロッ
ク図を図6に示す。テレビカメラ1−1、1−2で撮像
された画像は、走査線毎に走査されながら時間的に連続
した映像信号に変換される。この映像信号は、デジタイ
ザ2のサンプラによって、碁盤の目のように1画面あた
り縦横数百個の画素に標本化される。また、同時にA/
D変換器によって、各画素に入射した光量に対応した濃
度として数百階調に量子化される。このように画像は、
画素の位置を示す座標とそこにおける濃度からなる情報
として、画像メモリ3に記憶される。画像面に投影され
た物体境界は通常明るさが大きく変化しているので、計
算機(CPU)4は画像メモリ3に記憶された画像に対
し微分処理などを施し、明るさが変化する場所として物
体境界の投影位置を検出する。このような処理を左右の
画像に対して行なうことにより、左右それぞれの画像面
上の対応点Il(ul,vl)、Ir(ur,vr)が得られ
る。このようにステレオ画像処理では、物体投影点の画
像面座標ul、ur、vを計測し、3次元空間座標x、
y、zを間接測定する。
うなステレオ画像計測を行なうための装置構成のブロッ
ク図を図6に示す。テレビカメラ1−1、1−2で撮像
された画像は、走査線毎に走査されながら時間的に連続
した映像信号に変換される。この映像信号は、デジタイ
ザ2のサンプラによって、碁盤の目のように1画面あた
り縦横数百個の画素に標本化される。また、同時にA/
D変換器によって、各画素に入射した光量に対応した濃
度として数百階調に量子化される。このように画像は、
画素の位置を示す座標とそこにおける濃度からなる情報
として、画像メモリ3に記憶される。画像面に投影され
た物体境界は通常明るさが大きく変化しているので、計
算機(CPU)4は画像メモリ3に記憶された画像に対
し微分処理などを施し、明るさが変化する場所として物
体境界の投影位置を検出する。このような処理を左右の
画像に対して行なうことにより、左右それぞれの画像面
上の対応点Il(ul,vl)、Ir(ur,vr)が得られ
る。このようにステレオ画像処理では、物体投影点の画
像面座標ul、ur、vを計測し、3次元空間座標x、
y、zを間接測定する。
【0006】次に、上述のステレオ画像計測方法を、単
純に円柱中心位置、半径の計測に適用した場合の例を説
明する。円柱に対するステレオ画像計測モデルを図7に
示す。通常xy平面は地表面と平行で水平であり、z軸
は円柱の中心軸に平行で鉛直であるので、以下では図7
に示すような、xy平面上の2次元計測を考える。図7
は、図5に長手方向がz軸方向にある円柱Aを加え、v
=0としたxy平面で切った断面図であり、円柱Aの左
右に関わる量をそれぞれ添字L、Rで表している。ま
た、特に、真値、計測値を区別する必要がある場合に
は、真値については記号「0」、計測値については記号
「~」(ただし、図中では文字の上に記しているが、本
文中では文字の前に記してある)で表している。今、左
カメラに投影される円柱左側について考える。点Flか
ら円柱Aに接線を引きその接点をLlとすると、円柱A
の境界位置は接線FlLlと画像面との交点ul,Lとして
投影される。同様に、左カメラの右側円柱境界、右カメ
ラの左、右の円柱境界の投影点は、それぞれ点ul,R、
ur,L、ur,Rになる。したがって円柱Aの左右の位置
は、直線Flul,LとFrur,L、および直線Flul,RとF
rur,Rの交点~L(~xL,~yL)、~R(~xR,~yR)と
して計測される。この計測結果に基づき、2点~L、~R
の中心を求めて円柱の中心点~C(~xC,~yC)とし、
この中心点から点~Lまたは~Rまでの距離すなわち2点
~L、~Rの距離の1/2を円柱の半径とする。
純に円柱中心位置、半径の計測に適用した場合の例を説
明する。円柱に対するステレオ画像計測モデルを図7に
示す。通常xy平面は地表面と平行で水平であり、z軸
は円柱の中心軸に平行で鉛直であるので、以下では図7
に示すような、xy平面上の2次元計測を考える。図7
は、図5に長手方向がz軸方向にある円柱Aを加え、v
=0としたxy平面で切った断面図であり、円柱Aの左
右に関わる量をそれぞれ添字L、Rで表している。ま
た、特に、真値、計測値を区別する必要がある場合に
は、真値については記号「0」、計測値については記号
「~」(ただし、図中では文字の上に記しているが、本
文中では文字の前に記してある)で表している。今、左
カメラに投影される円柱左側について考える。点Flか
ら円柱Aに接線を引きその接点をLlとすると、円柱A
の境界位置は接線FlLlと画像面との交点ul,Lとして
投影される。同様に、左カメラの右側円柱境界、右カメ
ラの左、右の円柱境界の投影点は、それぞれ点ul,R、
ur,L、ur,Rになる。したがって円柱Aの左右の位置
は、直線Flul,LとFrur,L、および直線Flul,RとF
rur,Rの交点~L(~xL,~yL)、~R(~xR,~yR)と
して計測される。この計測結果に基づき、2点~L、~R
の中心を求めて円柱の中心点~C(~xC,~yC)とし、
この中心点から点~Lまたは~Rまでの距離すなわち2点
~L、~Rの距離の1/2を円柱の半径とする。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】以下に、上記従来の円
柱中心位置・半径の計測方法の問題点について述べる。
前述したように、ステレオ画像計測では空間内の計測す
べき点が左右のカメラで観測できることが前提になって
いる。しかし円柱を計測する場合には、画像面に投影さ
れる円筒接面が左右カメラで異なるため、この前提が成
り立たない問題がある。そのため、異なる接面から求め
られる2点~L、~Rは円周上にはなく、正しい円柱境界
位置が計測できない。その結果、これらの2点~L、~R
の距離として求めた円柱半径は真の値とは異なる、ま
た、2点の中心として求めた円柱の中心点~C(~xC,~
yC)は真の中心位置C0(xC 0,yC 0)には一致せず、
図7に示すように、2点(~C,C0)間の距離が中心位
置計測誤差として生じることになる。このように、ステ
レオ画像計測を円柱に対して適用する場合には、系統的
な誤差が発生することになる。次に、この誤差について
検討する。
柱中心位置・半径の計測方法の問題点について述べる。
前述したように、ステレオ画像計測では空間内の計測す
べき点が左右のカメラで観測できることが前提になって
いる。しかし円柱を計測する場合には、画像面に投影さ
れる円筒接面が左右カメラで異なるため、この前提が成
り立たない問題がある。そのため、異なる接面から求め
られる2点~L、~Rは円周上にはなく、正しい円柱境界
位置が計測できない。その結果、これらの2点~L、~R
の距離として求めた円柱半径は真の値とは異なる、ま
た、2点の中心として求めた円柱の中心点~C(~xC,~
yC)は真の中心位置C0(xC 0,yC 0)には一致せず、
図7に示すように、2点(~C,C0)間の距離が中心位
置計測誤差として生じることになる。このように、ステ
レオ画像計測を円柱に対して適用する場合には、系統的
な誤差が発生することになる。次に、この誤差について
検討する。
【0008】今、直線Flul,L、Flul,R、Frur,L、
Frur,Rに関わる量をそれぞれ添字1、2、3、4で表
し、これらの直線の傾きをそれぞれm1、m2、m3、m4
とする。これらのmi(i=1〜4)の値は幾何学的関
係から、 m1=f/ul,L、m2=f/ul,R、m3=f/ur,L、m4=f/ur,R (4) で与えられる。前述したように、ここでfはカメラの焦
点距離である。この場合、上述の4本の直線の方程式は
それぞれ、 y=m1(x+a) (5) y=m2(x+a) (6) y=m3(x−a) (7) y=m4(x−a) (8) と表せる。したがって、(5)、(7)および(6)、
(8)より交点~L,~Rの座標(~xL,~yL)、(~
xR,~yR)はそれぞれ次のようになる。
Frur,Rに関わる量をそれぞれ添字1、2、3、4で表
し、これらの直線の傾きをそれぞれm1、m2、m3、m4
とする。これらのmi(i=1〜4)の値は幾何学的関
係から、 m1=f/ul,L、m2=f/ul,R、m3=f/ur,L、m4=f/ur,R (4) で与えられる。前述したように、ここでfはカメラの焦
点距離である。この場合、上述の4本の直線の方程式は
それぞれ、 y=m1(x+a) (5) y=m2(x+a) (6) y=m3(x−a) (7) y=m4(x−a) (8) と表せる。したがって、(5)、(7)および(6)、
(8)より交点~L,~Rの座標(~xL,~yL)、(~
xR,~yR)はそれぞれ次のようになる。
【0009】 ~xL=−a(m1+m3)/(m1−m3) (9) ~yL=−2am1m3/(m1−m3) (10) ~xR=−a(m2+m4)/(m2−m4) (11) ~yR=−2am2m4/(m2−m4) (12) ここで一例として、カメラ間隔を50cm、円柱半径を
15cmとして、 0<xC 0<0.5m、0.2<yC 0<1m について(~xL,~yL)、(~xR,~yR)を算出し、計
測誤差である2点(~C,C0)間距離を求めた結果を図
8に示す。図8は2点(~C,C0)間距離(計測誤
差)、xC 0、yC 0を3軸にとって3次元的に表現したも
ので、この図より、円柱が視点に接近していくにつれて
計測精度が劣化していくことがわかる。
15cmとして、 0<xC 0<0.5m、0.2<yC 0<1m について(~xL,~yL)、(~xR,~yR)を算出し、計
測誤差である2点(~C,C0)間距離を求めた結果を図
8に示す。図8は2点(~C,C0)間距離(計測誤
差)、xC 0、yC 0を3軸にとって3次元的に表現したも
ので、この図より、円柱が視点に接近していくにつれて
計測精度が劣化していくことがわかる。
【0010】本発明は、このような問題点を解決するた
めになされたもので、その目的は、ステレオ画像を演算
処理して円柱中心位置、半径を高精度に計測する方法を
提供することにある。
めになされたもので、その目的は、ステレオ画像を演算
処理して円柱中心位置、半径を高精度に計測する方法を
提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明の円柱中心位置、半径計測方法は、ステレ
オ画像処理を用いて円柱形状物体の中心位置、半径を計
測する方法において、ステレオ画像を演算処理して画像
から円柱の接面を検出する第1工程と、前記ステレオ画
像を得るカメラの投影中心からこの円柱の接面に引いた
n本の接線の方程式を求める第2工程と、前記接線の方
程式に基づいて円柱の仮想中心の座標から前記各々の接
線に下ろした垂線の長さpiとこれらの垂線の平均値-p
との差の2乗和E=Σi=1 n(pi−-p)2を評価関数と
して前記仮想中心の座標を変化させ前記評価関数Eが最
小になる座標の値を求めて円柱の中心位置とすると共に
この時の前記接線に下ろした垂線の長さの平均値を求め
て半径とする第3工程と、からなることを特徴とする。
めに、本発明の円柱中心位置、半径計測方法は、ステレ
オ画像処理を用いて円柱形状物体の中心位置、半径を計
測する方法において、ステレオ画像を演算処理して画像
から円柱の接面を検出する第1工程と、前記ステレオ画
像を得るカメラの投影中心からこの円柱の接面に引いた
n本の接線の方程式を求める第2工程と、前記接線の方
程式に基づいて円柱の仮想中心の座標から前記各々の接
線に下ろした垂線の長さpiとこれらの垂線の平均値-p
との差の2乗和E=Σi=1 n(pi−-p)2を評価関数と
して前記仮想中心の座標を変化させ前記評価関数Eが最
小になる座標の値を求めて円柱の中心位置とすると共に
この時の前記接線に下ろした垂線の長さの平均値を求め
て半径とする第3工程と、からなることを特徴とする。
【0012】
【作用】本発明の円柱中心位置・半径計測方法では、ス
テレオ画像を演算処理して画像から検出した円柱接面に
左右カメラの投影中心から引いたn本の接線に対して、
任意の点から下ろした垂線の長さとこれらの接線の平均
値との差の2乗和が、円柱中心からの場合に最小になる
ことを利用し、その任意の点を円柱の仮想中心としてそ
の仮想中心の座標を変化させ、上記の2乗和が最小とな
る座標を円柱の中心位置とし、その時の平均値を半径と
して求めることで、ステレオ画像計測を円柱中心位置、
半径計測に適用する際に生じる系統的誤差の発生を回避
する。
テレオ画像を演算処理して画像から検出した円柱接面に
左右カメラの投影中心から引いたn本の接線に対して、
任意の点から下ろした垂線の長さとこれらの接線の平均
値との差の2乗和が、円柱中心からの場合に最小になる
ことを利用し、その任意の点を円柱の仮想中心としてそ
の仮想中心の座標を変化させ、上記の2乗和が最小とな
る座標を円柱の中心位置とし、その時の平均値を半径と
して求めることで、ステレオ画像計測を円柱中心位置、
半径計測に適用する際に生じる系統的誤差の発生を回避
する。
【0013】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面を参照して詳
細に説明する。
細に説明する。
【0014】図1は本発明の基本的な一実施例を示すフ
ローチャートである。本実施例は4つのステップから成
る。まず、ステップ1において、ステレオ画像を演算処
理して円柱境界の画像面投影点を計測し、円柱の接面を
検出する。次に、ステップ2において、ステレオ画像を
得る左右のカメラの投影中心からこの円柱の接面に引い
た接線の方程式を決定する。次に、ステップ3におい
て、求めた接線の方程式に基づいて従来の方法により円
柱の中心を算出し、これを真の円柱中心の近似点とす
る。次に、ステップ4において、上記で求めた接線の方
程式に基づき円柱の仮想中心の座標から前記各々の接線
に下ろした垂線の長さとこれらの垂線の平均値との差の
2乗和を評価関数Eとし、円柱の仮想中心の座標に上記
円柱中心の近傍領域の座標を代入して評価関数Eが最小
になる座標の値を求めて円柱の中心位置とすると共に、
この時の前記接線に下ろした垂線の長さの平均値を求め
て半径とする。
ローチャートである。本実施例は4つのステップから成
る。まず、ステップ1において、ステレオ画像を演算処
理して円柱境界の画像面投影点を計測し、円柱の接面を
検出する。次に、ステップ2において、ステレオ画像を
得る左右のカメラの投影中心からこの円柱の接面に引い
た接線の方程式を決定する。次に、ステップ3におい
て、求めた接線の方程式に基づいて従来の方法により円
柱の中心を算出し、これを真の円柱中心の近似点とす
る。次に、ステップ4において、上記で求めた接線の方
程式に基づき円柱の仮想中心の座標から前記各々の接線
に下ろした垂線の長さとこれらの垂線の平均値との差の
2乗和を評価関数Eとし、円柱の仮想中心の座標に上記
円柱中心の近傍領域の座標を代入して評価関数Eが最小
になる座標の値を求めて円柱の中心位置とすると共に、
この時の前記接線に下ろした垂線の長さの平均値を求め
て半径とする。
【0015】本実施例では、円柱の仮想中心点Cの座標
を(xC,yC)とし、評価関数Eとして、点Cから4本
の接線に下ろした垂線の長さpi(i=1〜4)と、こ
れらの垂線の長さの平均値-p(=(1/4)Σ
j=1 4pj、ただしj=1〜4であってpiとpjは同一の
もの)との差の2乗和、すなわち E=Σi=1 4{pi−-p}2 (13) を考える。仮想中心点が真の円柱中心のときEの値は最
小になる。そこで、この評価関数Eを最小化する座標
(xC,yC)の値を求める。なお、上式中の記号Σi=1 4
等はi=1〜4等の総和を示す。ここで、垂線の長さp
iと仮想中心点Cの座標(xC,yC)との関係は、 pi=|mixC−yC+bi|/√(mi 2+1) (14) で与えられる。ただし、biは接線がy軸と交わる座標
であり、bi(i=1〜4)はそれぞれm1a、m2a、
−m3a、−m4aである。式(13)のEを最小化する
条件を解析的に求めることは困難であるので、本実施例
では次のようにして求める。まず、ステップ3におい
て、従来の方法すなわち2点~L、~Rの中心として点~
C(~xC,~yC)を算出する。次に、ステップ4におい
て、この点~Cの座標を真の中心位置C0の近似点と考
え、その近傍領域の値を実際に(xC,yC)に代入して
Eを算出し、Eの最小値を与える(xC,yC)を円柱中
心位置の推定値(^xC,^yC)として求める。また、こ
のとき得られる-p、すなわち円柱半径の平均値を算出
し、その値を円柱半径の推定値^pとする。
を(xC,yC)とし、評価関数Eとして、点Cから4本
の接線に下ろした垂線の長さpi(i=1〜4)と、こ
れらの垂線の長さの平均値-p(=(1/4)Σ
j=1 4pj、ただしj=1〜4であってpiとpjは同一の
もの)との差の2乗和、すなわち E=Σi=1 4{pi−-p}2 (13) を考える。仮想中心点が真の円柱中心のときEの値は最
小になる。そこで、この評価関数Eを最小化する座標
(xC,yC)の値を求める。なお、上式中の記号Σi=1 4
等はi=1〜4等の総和を示す。ここで、垂線の長さp
iと仮想中心点Cの座標(xC,yC)との関係は、 pi=|mixC−yC+bi|/√(mi 2+1) (14) で与えられる。ただし、biは接線がy軸と交わる座標
であり、bi(i=1〜4)はそれぞれm1a、m2a、
−m3a、−m4aである。式(13)のEを最小化する
条件を解析的に求めることは困難であるので、本実施例
では次のようにして求める。まず、ステップ3におい
て、従来の方法すなわち2点~L、~Rの中心として点~
C(~xC,~yC)を算出する。次に、ステップ4におい
て、この点~Cの座標を真の中心位置C0の近似点と考
え、その近傍領域の値を実際に(xC,yC)に代入して
Eを算出し、Eの最小値を与える(xC,yC)を円柱中
心位置の推定値(^xC,^yC)として求める。また、こ
のとき得られる-p、すなわち円柱半径の平均値を算出
し、その値を円柱半径の推定値^pとする。
【0016】なお、時間はかかることになるが、計測範
囲は容易にわかるので、ステップ3を省略して、それら
の計測範囲領域の座標を順次に仮想中心の座標に代入し
てEを算出することにより、同様に円柱中心位置、円柱
半径の推定値を求めることが可能である。
囲は容易にわかるので、ステップ3を省略して、それら
の計測範囲領域の座標を順次に仮想中心の座標に代入し
てEを算出することにより、同様に円柱中心位置、円柱
半径の推定値を求めることが可能である。
【0017】以下、本発明を具体的な実施例を用いて説
明する。
明する。
【0018】[実施例1]今、左右カメラの間隔2aを
20cm、カメラレンズの焦点距離を5mm、1画素の
寸法である画像面上での標本化の間隔を10μm、画像
面投影点位置計測誤差の標準偏差を1画素とする。ま
た、円柱の半径は15cm、その中心位置は(0.3
m、1m)にあるものとする。このような条件の下での
シミュレーションを通し、上記した実施例を図1のフロ
ーチャートを用いて具体的に説明する。以下では長さの
単位はすべてmとし、以下ではこのmは省略する。
20cm、カメラレンズの焦点距離を5mm、1画素の
寸法である画像面上での標本化の間隔を10μm、画像
面投影点位置計測誤差の標準偏差を1画素とする。ま
た、円柱の半径は15cm、その中心位置は(0.3
m、1m)にあるものとする。このような条件の下での
シミュレーションを通し、上記した実施例を図1のフロ
ーチャートを用いて具体的に説明する。以下では長さの
単位はすべてmとし、以下ではこのmは省略する。
【0019】まず、ステップ1における円柱境界の画像
面投影点の計測は、微分処理などで明るさが急激に変化
する位置を検出することによって行う。具体的方法につ
いては森俊二、坂倉栂子、“画像認識の基礎[II]”、
オーム社、1990に詳述されている。ここでは上述の
シミュレーション条件において、投影点の画素位置を幾
何学的に、すなわちカメラ投影中心から円柱へ接線を引
き、この接線と画像面との交点として算出する。さら
に、この座標値に上述の画像面投影点位置計測誤差を正
規乱数で与え、少数以下を切り捨ててディジタル化す
る。この計算の結果、画像面投影点の計測座標~ul,L、
~ul,R、~ur,L、~ur,Rの値はそれぞれ123、28
6、26、178と求められた。
面投影点の計測は、微分処理などで明るさが急激に変化
する位置を検出することによって行う。具体的方法につ
いては森俊二、坂倉栂子、“画像認識の基礎[II]”、
オーム社、1990に詳述されている。ここでは上述の
シミュレーション条件において、投影点の画素位置を幾
何学的に、すなわちカメラ投影中心から円柱へ接線を引
き、この接線と画像面との交点として算出する。さら
に、この座標値に上述の画像面投影点位置計測誤差を正
規乱数で与え、少数以下を切り捨ててディジタル化す
る。この計算の結果、画像面投影点の計測座標~ul,L、
~ul,R、~ur,L、~ur,Rの値はそれぞれ123、28
6、26、178と求められた。
【0020】ステップ2では、実際に4本の接線の方程
式を決定する。1画素の大きさが10μm、焦点距離f
が5mmであることから、m1は式(4)を考慮すると
m1=4.07(=f/ul,L=5/(123×1
0-2))と求められ、一方、切片b1=0.41(=m1
a=4.07×0.1)と求められる。同様にして
m2、m3、m4、およびb2、b3、b4はそれぞれ1.7
5、19.23、2.81および0.175、−1.9
2、−0.28と求められる。これにより、4本の接線
の方程式が決定された。
式を決定する。1画素の大きさが10μm、焦点距離f
が5mmであることから、m1は式(4)を考慮すると
m1=4.07(=f/ul,L=5/(123×1
0-2))と求められ、一方、切片b1=0.41(=m1
a=4.07×0.1)と求められる。同様にして
m2、m3、m4、およびb2、b3、b4はそれぞれ1.7
5、19.23、2.81および0.175、−1.9
2、−0.28と求められる。これにより、4本の接線
の方程式が決定された。
【0021】ステップ3では、接線の2交点~L、~Rの
座標(~xL,~yL)、(~xR,~yR)を算出し、それよ
り円柱中心の近似点~C(~xC,~yC)を求める。式
(9)〜(12)より、(~xL,~yL)、(~xR,~
yR)の座標はそれぞれ(0.154、1.031)、
(0.430、0.926)と算出される。したがっ
て、近似点の座標は(0.292、0.978)(=
(0.154+0.430)/2、(1.031+0.
926)/2)となる。この従来の方法はこの座標を中
心位置として求めるものであり、x,y方向それぞれに
ついて本例では0.008、0.022の誤差が発生し
ている。一方、半径の値は0.149mであり正確に求
められている。
座標(~xL,~yL)、(~xR,~yR)を算出し、それよ
り円柱中心の近似点~C(~xC,~yC)を求める。式
(9)〜(12)より、(~xL,~yL)、(~xR,~
yR)の座標はそれぞれ(0.154、1.031)、
(0.430、0.926)と算出される。したがっ
て、近似点の座標は(0.292、0.978)(=
(0.154+0.430)/2、(1.031+0.
926)/2)となる。この従来の方法はこの座標を中
心位置として求めるものであり、x,y方向それぞれに
ついて本例では0.008、0.022の誤差が発生し
ている。一方、半径の値は0.149mであり正確に求
められている。
【0022】ステップ4では、近似点近傍領域について
評価関数Eを計算し、それを最小化する座標を円柱中心
位置として求める。ここではステップ3で得られた近似
点(0.292、0.978)を中心にx,y両方向に
ついてそれぞれ0.005刻みで、0.242から0.
342まで、また0.928から1.028までの範囲
について式(13)で与えられる評価関数Eを算出し
た。その結果、Eを最小にする円柱中心位置の推定座標
(~xC,~yC)として(0.302、1.003)が得
られた。この場合のx,y方向の誤差はそれぞれ0.0
02、0.003であり、従来の方法に比べ約5から6
倍精度が向上していることが確認された。なお、刻み幅
を小さくすることによって、より高い精度の計測結果が
得られる。また、このときの半径は0.149であり、
半径についても精度良く得られていることが確認され
た。
評価関数Eを計算し、それを最小化する座標を円柱中心
位置として求める。ここではステップ3で得られた近似
点(0.292、0.978)を中心にx,y両方向に
ついてそれぞれ0.005刻みで、0.242から0.
342まで、また0.928から1.028までの範囲
について式(13)で与えられる評価関数Eを算出し
た。その結果、Eを最小にする円柱中心位置の推定座標
(~xC,~yC)として(0.302、1.003)が得
られた。この場合のx,y方向の誤差はそれぞれ0.0
02、0.003であり、従来の方法に比べ約5から6
倍精度が向上していることが確認された。なお、刻み幅
を小さくすることによって、より高い精度の計測結果が
得られる。また、このときの半径は0.149であり、
半径についても精度良く得られていることが確認され
た。
【0023】[実施例2]上述の実施例1では円柱の両
側が観測できる場合を例にとって説明したが、図2に示
すように、一方側からしか観測できない場合にも全く同
様に適用できる。すなわち、投影中心F1,F2、…を結
ぶ直線上の適当な位置に原点を取り、仮想中心点Cから
接線F1L1、F2L2、…に垂線を下ろす。次に各垂線の
長さを式(14)より算出し、式(13)の評価関数の
値を算出し、その最小値を与える位置を中心位置として
求めればよい。なお、この場合には4箇所以上の位置か
ら観測する必要があり、接線の本数はn≧4となる。こ
の場合、式(13)はE=Σi=1 n(pi−-p)2を用い
る。本実施例では、真の円柱中心の近傍点を求めること
ができないため、図1のステップ3は省略されることに
なる。
側が観測できる場合を例にとって説明したが、図2に示
すように、一方側からしか観測できない場合にも全く同
様に適用できる。すなわち、投影中心F1,F2、…を結
ぶ直線上の適当な位置に原点を取り、仮想中心点Cから
接線F1L1、F2L2、…に垂線を下ろす。次に各垂線の
長さを式(14)より算出し、式(13)の評価関数の
値を算出し、その最小値を与える位置を中心位置として
求めればよい。なお、この場合には4箇所以上の位置か
ら観測する必要があり、接線の本数はn≧4となる。こ
の場合、式(13)はE=Σi=1 n(pi−-p)2を用い
る。本実施例では、真の円柱中心の近傍点を求めること
ができないため、図1のステップ3は省略されることに
なる。
【0024】[実施例3]本発明を屋外作業に適用した
場合の実施例について説明する。作業環境の改善、人件
費の高騰などの理由により、現在屋外作業についての自
動化の検討が進められている。ここではマニピュレータ
の遠隔操作によって、電柱上での各種作業を自動化する
ことを目的とし、マニピュレータ先端部に取付けられた
ステレオカメラと電柱との相対位置を計測するととも
に、マニピュレータの位置制御を行う方法を説明する。
電柱のような円柱物体に対し、表面上の特徴点の位置情
報を用いて視点位置を計測制御する方法がある。この方
法を図3を用いて簡単に説明する。図3は図7と同様で
あるが、カメラに関わる部分は省略してある。電柱A表
面上の特徴点Mが円柱中心点C(xC,yC)を中心にθ
回転した円周上の位置にあり、この点の座標を(xM,
yM)とする。なお、電柱作業では通常特徴点として、
ケーブルを支持する金具を電柱に固定するための穴が用
いられる。
場合の実施例について説明する。作業環境の改善、人件
費の高騰などの理由により、現在屋外作業についての自
動化の検討が進められている。ここではマニピュレータ
の遠隔操作によって、電柱上での各種作業を自動化する
ことを目的とし、マニピュレータ先端部に取付けられた
ステレオカメラと電柱との相対位置を計測するととも
に、マニピュレータの位置制御を行う方法を説明する。
電柱のような円柱物体に対し、表面上の特徴点の位置情
報を用いて視点位置を計測制御する方法がある。この方
法を図3を用いて簡単に説明する。図3は図7と同様で
あるが、カメラに関わる部分は省略してある。電柱A表
面上の特徴点Mが円柱中心点C(xC,yC)を中心にθ
回転した円周上の位置にあり、この点の座標を(xM,
yM)とする。なお、電柱作業では通常特徴点として、
ケーブルを支持する金具を電柱に固定するための穴が用
いられる。
【0025】本実施例では、円柱中心点Cを実施例1ま
たは実施例2と同様にして求める。また、特徴点Mは、
ステレオ画像計測方法によって求める。図3の場合、幾
何学的関係より次式が得られる。
たは実施例2と同様にして求める。また、特徴点Mは、
ステレオ画像計測方法によって求める。図3の場合、幾
何学的関係より次式が得られる。
【0026】 xM=xC+psinθ (15) yM=yC−pcosθ (16) なお、特徴点Mが左右カメラから見える位置に視点を移
動すること、すなわち図7の円弧⌒LrRl上に視点位置
を移動することは正確な移動制御を必要とせず、オペレ
ータの操作によって容易に行える。式(15)、(1
6)より、円柱中心点Cの計測座標(~xC,~yC)と特
徴点Mの計測座標(~xM,~yM)とから角度θは、 θ=tan-1{((~xM)−(~xC))/((~yM)−(~yC))} (17) と求められる。ただし、上述の特徴点Mの計測条件すな
わち特徴点Mが左右カメラから見えることにより、θの
範囲は−90゜<θ<90゜である。
動すること、すなわち図7の円弧⌒LrRl上に視点位置
を移動することは正確な移動制御を必要とせず、オペレ
ータの操作によって容易に行える。式(15)、(1
6)より、円柱中心点Cの計測座標(~xC,~yC)と特
徴点Mの計測座標(~xM,~yM)とから角度θは、 θ=tan-1{((~xM)−(~xC))/((~yM)−(~yC))} (17) と求められる。ただし、上述の特徴点Mの計測条件すな
わち特徴点Mが左右カメラから見えることにより、θの
範囲は−90゜<θ<90゜である。
【0027】図3のように正対化する前の視点O1の座
標をx1y1で、また正対化後の視点O2座標をx2y2で
表すこととし、まず視点O1を角度θだけ回転し、次に
回転後のx軸であるx2軸に沿ってtX平行移動して正対
化することを考える。この場合、幾何学的関係から、t
Xは、 tX=xCcosθ+yCsinθ (18) となる。また、正対化後の視点と円柱中心との距離はx
Ccosθ−yCsinθであるので、この情報に基づい
て正対化した状態で視点O2からy2軸に沿ってマニピュ
レータを所望の位置まで移動できる。
標をx1y1で、また正対化後の視点O2座標をx2y2で
表すこととし、まず視点O1を角度θだけ回転し、次に
回転後のx軸であるx2軸に沿ってtX平行移動して正対
化することを考える。この場合、幾何学的関係から、t
Xは、 tX=xCcosθ+yCsinθ (18) となる。また、正対化後の視点と円柱中心との距離はx
Ccosθ−yCsinθであるので、この情報に基づい
て正対化した状態で視点O2からy2軸に沿ってマニピュ
レータを所望の位置まで移動できる。
【0028】実施例1と同じ条件を用いた場合の、正対
化の過程を図4に示す。ここではθ0を30゜、tX 0を
0.76とし、特徴点Mの計測にも計測誤差を正規乱数
で与えた。初期位置は電柱から離れているために、画像
面投影点位置計測に含まれる誤差がθ、tXに影響を与
え、1回目の移動位置は正確に得られていないが、2回
目以降電柱に接近するにつれて正確に正対化されていく
ようすがわかる。これはステレオ画像計測誤差はほぼ計
測距離の2乗に比例する性質があることに起因してい
る。本実施例によれば、円柱中心点の計測誤差が小さい
ため、従来技術で円柱中心点を計測した場合よりも、正
確に正対化できる。
化の過程を図4に示す。ここではθ0を30゜、tX 0を
0.76とし、特徴点Mの計測にも計測誤差を正規乱数
で与えた。初期位置は電柱から離れているために、画像
面投影点位置計測に含まれる誤差がθ、tXに影響を与
え、1回目の移動位置は正確に得られていないが、2回
目以降電柱に接近するにつれて正確に正対化されていく
ようすがわかる。これはステレオ画像計測誤差はほぼ計
測距離の2乗に比例する性質があることに起因してい
る。本実施例によれば、円柱中心点の計測誤差が小さい
ため、従来技術で円柱中心点を計測した場合よりも、正
確に正対化できる。
【0029】以上に述べた各実施例では簡単化のために
2次元計測の場合を例に説明したが、3次元計測の場合
にも拡張できることは言うまでもない。
2次元計測の場合を例に説明したが、3次元計測の場合
にも拡張できることは言うまでもない。
【0030】
【発明の効果】以上、説明したように本発明の円柱中心
位置・半径計測方法は、ステレオ画像を演算処理して画
像から円柱接面を検出し、左右カメラの投影中心からこ
の円柱接面に引いた4本の接線の方程式を求め、円柱の
仮想中心から各々の接線に下ろした垂線の長さとこれら
の垂線の平均値との差を2乗和が最小になる位置として
円柱の中心位置を算出し、その時の平均値を半径として
求める方法であるため、ステレオ画像計測を円柱中心位
置、半径計測に適用する際に生じる系統的誤差の発生を
回避することができ、従来の方法に比べ計測精度を大幅
に向上できる利点がある。
位置・半径計測方法は、ステレオ画像を演算処理して画
像から円柱接面を検出し、左右カメラの投影中心からこ
の円柱接面に引いた4本の接線の方程式を求め、円柱の
仮想中心から各々の接線に下ろした垂線の長さとこれら
の垂線の平均値との差を2乗和が最小になる位置として
円柱の中心位置を算出し、その時の平均値を半径として
求める方法であるため、ステレオ画像計測を円柱中心位
置、半径計測に適用する際に生じる系統的誤差の発生を
回避することができ、従来の方法に比べ計測精度を大幅
に向上できる利点がある。
【図1】本発明の基本的な実施例を説明するためのフロ
ーチャート
ーチャート
【図2】本発明の具体的な実施例1を説明するための図
【図3】視点位置を計測制御する方法を説明するための
図
図
【図4】本発明を視点位置計測制御に適用した場合の実
施例3を説明するための図
施例3を説明するための図
【図5】ステレオ画像計測原理を説明するための図
【図6】ステレオ画像計測を行なうための装置構成のブ
ロック図
ロック図
【図7】円柱物体に対するステレオ画像計測モデルを説
明するための図
明するための図
【図8】従来の方法で計測した場合の誤差の結果を示し
た図
た図
Claims (1)
- 【請求項1】 ステレオ画像処理を用いて円柱形状物体
の中心位置、半径を計測する方法において、ステレオ画
像を演算処理して画像から円柱の接面を検出する第1工
程と、前記ステレオ画像を得るカメラの投影中心からこ
の円柱の接面に引いたn本の接線の方程式を求める第2
工程と、前記接線の方程式に基づいて円柱の仮想中心の
座標から前記各々の接線に下ろした垂線の長さpiとこ
れらの垂線の平均値-pとの差の2乗和E=Σi=1 n(pi
−-p)2を評価関数として前記仮想中心の座標を変化さ
せ前記評価関数Eが最小になる座標の値を求めて円柱の
中心位置とすると共にこの時の前記接線に下ろした垂線
の長さの平均値を求めて半径とする第3工程と、からな
ることを特徴とする円柱中心位置・半径計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5286315A JPH07139918A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 円柱中心位置・半径計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5286315A JPH07139918A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 円柱中心位置・半径計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07139918A true JPH07139918A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=17702799
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5286315A Pending JPH07139918A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 円柱中心位置・半径計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07139918A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012098182A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 架空設備用支持物の負荷応力推定方法及び柱状構造物の形状測定方法 |
| WO2013061952A1 (ja) | 2011-10-24 | 2013-05-02 | 富士フイルム株式会社 | 円柱状物体の直径測定装置及び測定方法、測定プログラム |
| CN110268221A (zh) * | 2016-11-29 | 2019-09-20 | 明电舍公司 | 线绳测量装置和线绳测量方法 |
| CN112729167A (zh) * | 2020-12-21 | 2021-04-30 | 福建汇川物联网技术科技股份有限公司 | 一种平面方程的计算方法及装置 |
| CN114485437A (zh) * | 2022-01-28 | 2022-05-13 | 中冶赛迪重庆信息技术有限公司 | 一种库区底层钢卷外径测算方法 |
-
1993
- 1993-11-16 JP JP5286315A patent/JPH07139918A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012098182A (ja) * | 2010-11-02 | 2012-05-24 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 架空設備用支持物の負荷応力推定方法及び柱状構造物の形状測定方法 |
| WO2013061952A1 (ja) | 2011-10-24 | 2013-05-02 | 富士フイルム株式会社 | 円柱状物体の直径測定装置及び測定方法、測定プログラム |
| JP5584832B2 (ja) * | 2011-10-24 | 2014-09-03 | 富士フイルム株式会社 | 円柱状物体の直径測定装置及び測定方法、測定プログラム |
| US8965110B2 (en) | 2011-10-24 | 2015-02-24 | Fujifilm Corporation | Device and method for measuring diameter of cylindrical object |
| CN110268221A (zh) * | 2016-11-29 | 2019-09-20 | 明电舍公司 | 线绳测量装置和线绳测量方法 |
| CN110268221B (zh) * | 2016-11-29 | 2022-06-07 | 明电舍公司 | 线绳测量装置和线绳测量方法 |
| CN112729167A (zh) * | 2020-12-21 | 2021-04-30 | 福建汇川物联网技术科技股份有限公司 | 一种平面方程的计算方法及装置 |
| CN112729167B (zh) * | 2020-12-21 | 2022-10-25 | 福建汇川物联网技术科技股份有限公司 | 一种平面方程的计算方法及装置 |
| CN114485437A (zh) * | 2022-01-28 | 2022-05-13 | 中冶赛迪重庆信息技术有限公司 | 一种库区底层钢卷外径测算方法 |
| CN114485437B (zh) * | 2022-01-28 | 2023-09-05 | 中冶赛迪信息技术(重庆)有限公司 | 一种库区底层钢卷外径测算方法 |
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