JPH07139923A - 3次元物体計測装置 - Google Patents
3次元物体計測装置Info
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- JPH07139923A JPH07139923A JP5286510A JP28651093A JPH07139923A JP H07139923 A JPH07139923 A JP H07139923A JP 5286510 A JP5286510 A JP 5286510A JP 28651093 A JP28651093 A JP 28651093A JP H07139923 A JPH07139923 A JP H07139923A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 より短時間もしくは実時間で計測を行うこと
が可能、もしくはカラー計測が可能なパルスレーダ型3
次元物体計測装置を提供することにある。 【構成】 本発明の3次元物体計測装置は、一つもしく
は複数の光源2A、該光源2Aから物体1に向かって原
パルス信号を発射するパルス発生器9、物体からの反射
パルス信号を受信する複数の光受信手段6A、前記原パ
ルス信号と前記反射パルス信号との間の遅延時間を検出
する複数の遅延時間検出手段7A、該複数の遅延時間検
出手段の検出結果から当該計測装置と物体との間の3次
元距離を算出して物体形状の三次元計測を行う計測手段
8を備えたものである。また、前記物体の表面カラー情
報を検出する物体表面カラー情報検出手段、該表面カラ
ー情報検出手段の検出値と前記位相差検出手段の検出値
とを対応させてカラー計測を行うカラー計測手段を備え
た。
が可能、もしくはカラー計測が可能なパルスレーダ型3
次元物体計測装置を提供することにある。 【構成】 本発明の3次元物体計測装置は、一つもしく
は複数の光源2A、該光源2Aから物体1に向かって原
パルス信号を発射するパルス発生器9、物体からの反射
パルス信号を受信する複数の光受信手段6A、前記原パ
ルス信号と前記反射パルス信号との間の遅延時間を検出
する複数の遅延時間検出手段7A、該複数の遅延時間検
出手段の検出結果から当該計測装置と物体との間の3次
元距離を算出して物体形状の三次元計測を行う計測手段
8を備えたものである。また、前記物体の表面カラー情
報を検出する物体表面カラー情報検出手段、該表面カラ
ー情報検出手段の検出値と前記位相差検出手段の検出値
とを対応させてカラー計測を行うカラー計測手段を備え
た。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、3次元物体の表面情報
の計測を行う3次元物体計測装置に関するものである。
の計測を行う3次元物体計測装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、物体形状の3次元計測を行う3次
元物体計測装置として、図7に示す概略構成を有するパ
ルスレーダ型3次元物体計測装置が知られている。図7
において、1’は物体、1’Aは計測点、2’はレーザ
光源、3’はハーフミラー、4’は回転ミラー、5’は
光受信器、6’は遅延時間検出器、7’はコンピュー
タ、8’はパルス発振器である。
元物体計測装置として、図7に示す概略構成を有するパ
ルスレーダ型3次元物体計測装置が知られている。図7
において、1’は物体、1’Aは計測点、2’はレーザ
光源、3’はハーフミラー、4’は回転ミラー、5’は
光受信器、6’は遅延時間検出器、7’はコンピュー
タ、8’はパルス発振器である。
【0003】前記従来のパルスレーダ型3次元物体計測
装置は、図7に示すように、パルス発振器8’によって
制御されるレーザ光源2’(送信部)からハーフミラー
3’、回転ミラー4’を介して計測しようとする物体
1’に向かって原パルス信号(レーダパルス)P0が発
射され、これが物体1’の計測点1’Aに当ってはねか
えることによって生じる反射パルス信号P1を受信し、
原パルス信号P0と受信パルス信号(反射パルス信号P
1)との間の遅延時間Δt(図8)を計測し、この計測
結果から当該計測装置と物体との間の3次元距離を算出
することによって物体形状の三次元計測を行う仕組であ
る。
装置は、図7に示すように、パルス発振器8’によって
制御されるレーザ光源2’(送信部)からハーフミラー
3’、回転ミラー4’を介して計測しようとする物体
1’に向かって原パルス信号(レーダパルス)P0が発
射され、これが物体1’の計測点1’Aに当ってはねか
えることによって生じる反射パルス信号P1を受信し、
原パルス信号P0と受信パルス信号(反射パルス信号P
1)との間の遅延時間Δt(図8)を計測し、この計測
結果から当該計測装置と物体との間の3次元距離を算出
することによって物体形状の三次元計測を行う仕組であ
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、前記従来のパ
ルスレーダ型3次元物体計測装置では、基本的に計測装
置と物体上の1点との間の距離を求めるものである。単
一の送信部と単一の受信部を使用しており、一度に測定
できるのは一点だけである。このため、物体全体の3次
元計測を行うためには、図7に示す回転ミラー4’等の
仕掛を利用して前記原パルス信号P0の発信方向を少し
ずつ変えて物体全体をカバーするように走査を行い、各
点毎に一回ずつ前記計測を行う必要がある。このため、
物体全体を計測するためには、どうしても長い計測時間
が必要であり、動く物体の実時間計測を行うことは基本
的に困難であった。
ルスレーダ型3次元物体計測装置では、基本的に計測装
置と物体上の1点との間の距離を求めるものである。単
一の送信部と単一の受信部を使用しており、一度に測定
できるのは一点だけである。このため、物体全体の3次
元計測を行うためには、図7に示す回転ミラー4’等の
仕掛を利用して前記原パルス信号P0の発信方向を少し
ずつ変えて物体全体をカバーするように走査を行い、各
点毎に一回ずつ前記計測を行う必要がある。このため、
物体全体を計測するためには、どうしても長い計測時間
が必要であり、動く物体の実時間計測を行うことは基本
的に困難であった。
【0005】本発明は、前記問題点を解決するためにな
されたものであり、本発明の目的は、より短時間もしく
は実時間で計測を行うことが可能なパルスレーダ型3次
元物体計測装置を提供することにある。
されたものであり、本発明の目的は、より短時間もしく
は実時間で計測を行うことが可能なパルスレーダ型3次
元物体計測装置を提供することにある。
【0006】本発明の他の目的は、カラー計測が可能な
パルスレーダ型3次元物体計測装置を提供することにあ
る。
パルスレーダ型3次元物体計測装置を提供することにあ
る。
【0007】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
にする。
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
にする。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の3次元物体計測装置は、一つもしくは複数
の光源と、該光源から物体に向かって原パルス信号を発
射するパルス発生器と、物体に当ってはねかえった反射
パルス信号を受信する複数の光受信手段と、前記原パル
ス信号と前記反射パルス信号との間の遅延時間を検出す
る複数の遅延時間検出手段と、該複数の遅延時間検出手
段の検出値から当該計測装置と物体との間の3次元距離
を算出して物体形状の三次元計測を行う計測手段とを備
えたことを特徴とする。
に、本発明の3次元物体計測装置は、一つもしくは複数
の光源と、該光源から物体に向かって原パルス信号を発
射するパルス発生器と、物体に当ってはねかえった反射
パルス信号を受信する複数の光受信手段と、前記原パル
ス信号と前記反射パルス信号との間の遅延時間を検出す
る複数の遅延時間検出手段と、該複数の遅延時間検出手
段の検出値から当該計測装置と物体との間の3次元距離
を算出して物体形状の三次元計測を行う計測手段とを備
えたことを特徴とする。
【0009】また、前記物体の表面カラー情報を検出す
る物体表面カラー情報検出手段と、該表面カラー情報検
出手段の検出値と前記位相差検出手段の検出値とを対応
させてカラー計測を行うカラー計測手段とを備えたこと
を特徴とする。
る物体表面カラー情報検出手段と、該表面カラー情報検
出手段の検出値と前記位相差検出手段の検出値とを対応
させてカラー計測を行うカラー計測手段とを備えたこと
を特徴とする。
【0010】
【作用】前述した手段によれば、一つもしくは複数の光
源から物体に向かって原パルス信号を発射し、物体に当
ってはねかえった反射パルス信号を複数の光受信手段で
受信し、それぞれの前記原パルス信号と前記反射パルス
信号との間の遅延時間を、複数の遅延時間検出手段で検
出し、それらの検出値から当該計測装置と物体との間の
3次元距離を算出して物体形状の三次元計測を行うこと
により、三次元物体情報を短時間もしくは実時間で計測
することができる。これにより、静止物体の計測のみな
らず、動く物体における三次元物体情報を計測すること
ができる。
源から物体に向かって原パルス信号を発射し、物体に当
ってはねかえった反射パルス信号を複数の光受信手段で
受信し、それぞれの前記原パルス信号と前記反射パルス
信号との間の遅延時間を、複数の遅延時間検出手段で検
出し、それらの検出値から当該計測装置と物体との間の
3次元距離を算出して物体形状の三次元計測を行うこと
により、三次元物体情報を短時間もしくは実時間で計測
することができる。これにより、静止物体の計測のみな
らず、動く物体における三次元物体情報を計測すること
ができる。
【0011】また、物体の表面カラー情報を検出し、該
検出された表面カラー情報と受信パルス信号の両者の時
間差(遅延時間)とを対応させることにより、物体の3
次元形状情報と表面カラー情報とを同時にしかも各計測
点毎にそれぞれ完全に一致した形でカラー計測すること
ができるので、三次元物体を認識したり、入力されたデ
ータに基づいて物体のコンピュータグラフィックス映像
を生成することが容易にできる。
検出された表面カラー情報と受信パルス信号の両者の時
間差(遅延時間)とを対応させることにより、物体の3
次元形状情報と表面カラー情報とを同時にしかも各計測
点毎にそれぞれ完全に一致した形でカラー計測すること
ができるので、三次元物体を認識したり、入力されたデ
ータに基づいて物体のコンピュータグラフィックス映像
を生成することが容易にできる。
【0012】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。
に説明する。
【0013】なお、実施例を説明するための全図におい
て、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り
返しの説明は省略する。
て、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り
返しの説明は省略する。
【0014】(実施例1)図1は、本発明の実施例1の
パルスレーダ型三次元物体計測装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
パルスレーダ型三次元物体計測装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
【0015】図1において、101,102は計測装
置、1は物体、1A,1Bは計測点、2A,2Bはレー
ザ光源、3A,3Bはハーフミラー、4A,4Bは集光
レンズ、5A,5Bは回転ミラー、6A,6Bは光受信
器、7A,7Bは遅延時間検出器、8はコンピュータ、
9はパルス発振器である。前記光受信器6A,6Bとし
ては、例えば、ホトダイオード、光電管等を用いる。ま
た、遅延時間検出器6A,6Bとしては、例えば、PL
L等を用いた公知の遅延時間検出器を用いる。
置、1は物体、1A,1Bは計測点、2A,2Bはレー
ザ光源、3A,3Bはハーフミラー、4A,4Bは集光
レンズ、5A,5Bは回転ミラー、6A,6Bは光受信
器、7A,7Bは遅延時間検出器、8はコンピュータ、
9はパルス発振器である。前記光受信器6A,6Bとし
ては、例えば、ホトダイオード、光電管等を用いる。ま
た、遅延時間検出器6A,6Bとしては、例えば、PL
L等を用いた公知の遅延時間検出器を用いる。
【0016】計測時間を短縮するための1つの自然な方
法は、複数点の同時計測を行うことである。図1はこの
複数点同時計測方法の概念を示すものであり、基本的に
図7の計測装置を2台並べたものにほぼ等しい。計測装
置101で物体1上の計測点1Aを、また、計測装置1
02で物体1上の計測点1Bをそれぞれ計測し、両計測
結果を同時にコンピュータ8に送るものである。
法は、複数点の同時計測を行うことである。図1はこの
複数点同時計測方法の概念を示すものであり、基本的に
図7の計測装置を2台並べたものにほぼ等しい。計測装
置101で物体1上の計測点1Aを、また、計測装置1
02で物体1上の計測点1Bをそれぞれ計測し、両計測
結果を同時にコンピュータ8に送るものである。
【0017】本実施例1のパルスレーダ型三次元物体計
測装置の各計測装置101,102の動作は、まず、パ
ルス発振器9の出力パルス信号に応した原パルスレーザ
光(以下、原パルス信号という)をレーザ光源2A,2
Bから発射させる。この原パルス信号をハーフミラー3
A,3B、集光レンズ4A,4B、回転ミラー5A,5
Bを介して計測しようとする物体1に向かって発射し、
これが物体1の計測点1A,1Bに当ってはねかえるこ
とによって生じる反射パルスレーザ光(以下、反射パル
ス信号という)を光受信器6A,6Bで受信し、原パル
ス信号と反射パルス信号との時間差を検出する遅延時間
検出器7A,7Bで検出し、この検出値コンピュータ8
に入力して前記計測装置と物体との間の3次元距離を算
出して物体形状の三次元計測を行う。
測装置の各計測装置101,102の動作は、まず、パ
ルス発振器9の出力パルス信号に応した原パルスレーザ
光(以下、原パルス信号という)をレーザ光源2A,2
Bから発射させる。この原パルス信号をハーフミラー3
A,3B、集光レンズ4A,4B、回転ミラー5A,5
Bを介して計測しようとする物体1に向かって発射し、
これが物体1の計測点1A,1Bに当ってはねかえるこ
とによって生じる反射パルスレーザ光(以下、反射パル
ス信号という)を光受信器6A,6Bで受信し、原パル
ス信号と反射パルス信号との時間差を検出する遅延時間
検出器7A,7Bで検出し、この検出値コンピュータ8
に入力して前記計測装置と物体との間の3次元距離を算
出して物体形状の三次元計測を行う。
【0018】以上の説明からわかるように、本実施例1
によれば、2つの光源から物体1に向かって原パルス信
号を発射し、物体1の計測点1A,1Bからの反射パル
ス信号を複数の光受信器6A,6Bで受信し、それぞれ
の前記原パルス信号と反射パルス信号と間の時間差を遅
延時間検出器7A,7Bで検出し、それらの検出値をコ
ンピュータ8に入力して当該計測装置101,102と
物体1との間の3次元距離を算出して物体形状の三次元
計測を行うので、三次元物体情報を短時間もしくは実時
間で計測することができる。これにより、静止物体の計
測のみならず、動く物体における三次元物体情報を計測
することができる。
によれば、2つの光源から物体1に向かって原パルス信
号を発射し、物体1の計測点1A,1Bからの反射パル
ス信号を複数の光受信器6A,6Bで受信し、それぞれ
の前記原パルス信号と反射パルス信号と間の時間差を遅
延時間検出器7A,7Bで検出し、それらの検出値をコ
ンピュータ8に入力して当該計測装置101,102と
物体1との間の3次元距離を算出して物体形状の三次元
計測を行うので、三次元物体情報を短時間もしくは実時
間で計測することができる。これにより、静止物体の計
測のみならず、動く物体における三次元物体情報を計測
することができる。
【0019】前記本実施例1は、2点を同時に計測する
ために、2台の計測装置101,102を並べたもので
あるが、概念の上では3台以上の場合も全く同様な構成
を考えることができる。しかし、この方法では、光源を
はじめとする全ての部品が複数必要であり、しかも、複
数の回転ミラーを的確に制御して計測を行う必要があ
る。このため、単純に計測装置を並べるだけでは、現実
的には、あまり多くの点の同時計測を行うことは技術的
に極めて困難である。
ために、2台の計測装置101,102を並べたもので
あるが、概念の上では3台以上の場合も全く同様な構成
を考えることができる。しかし、この方法では、光源を
はじめとする全ての部品が複数必要であり、しかも、複
数の回転ミラーを的確に制御して計測を行う必要があ
る。このため、単純に計測装置を並べるだけでは、現実
的には、あまり多くの点の同時計測を行うことは技術的
に極めて困難である。
【0020】(実施例2)図2は、本発明の実施例2の
パルスレーダ型三次元物体計測装置の概略構成を示すブ
ロック図であり、21は物体1の全体を照射できるよう
な単一レーザ光源、22A,22Bはピンホール、23
は光遮蔽板である。
パルスレーダ型三次元物体計測装置の概略構成を示すブ
ロック図であり、21は物体1の全体を照射できるよう
な単一レーザ光源、22A,22Bはピンホール、23
は光遮蔽板である。
【0021】本実施例2のパルスレーダ型三次元物体計
測装置は、図2に示すように、単一のレーザ光源21を
使用し、かつ、ハーフミラー3A,3B、集光レンズ4
A,4B、回転ミラー5A,5Bを使用しない複数点同
時計測を行うものであり、単一のレーザ光源21からの
原パルス信号を物体1の全体に照射し、この原パルス信
号が物体1の計測点1A,1Bに当ってはねかえること
によって生じる反射パルス信号を光受信器6A,6Bで
受信し、原パルス信号と受信パルス信号(反射パルス信
号)との時間差(遅延時間)を遅延時間検出器7A,7
Bで検出し、この検出値をコンピュータ8に入力して前
記計測装置と物体との間の3次元距離を算出することに
よって物体形状の三次元計測を行う。
測装置は、図2に示すように、単一のレーザ光源21を
使用し、かつ、ハーフミラー3A,3B、集光レンズ4
A,4B、回転ミラー5A,5Bを使用しない複数点同
時計測を行うものであり、単一のレーザ光源21からの
原パルス信号を物体1の全体に照射し、この原パルス信
号が物体1の計測点1A,1Bに当ってはねかえること
によって生じる反射パルス信号を光受信器6A,6Bで
受信し、原パルス信号と受信パルス信号(反射パルス信
号)との時間差(遅延時間)を遅延時間検出器7A,7
Bで検出し、この検出値をコンピュータ8に入力して前
記計測装置と物体との間の3次元距離を算出することに
よって物体形状の三次元計測を行う。
【0022】この方法では、ハーフミラー3A,3B、
集光レンズ4A,4B、回転ミラー5A,5Bを使用し
ないため、図2に示す計測点1Aと計測点1Bの計測を
行うことができるだけである。
集光レンズ4A,4B、回転ミラー5A,5Bを使用し
ないため、図2に示す計測点1Aと計測点1Bの計測を
行うことができるだけである。
【0023】そこで、他の点の計測を行うために、回転
ミラーを使用することなく物体上の他の全ての点につい
て計測を行うには、図2に示す本実施例2の方法におい
て、ピンホール22A,22Bの数を2つに限定せず、
多数のピンホールを一面に作成し、それに対応する位置
に対応する個数の光受信器6A,6B・・・と遅延時間
検出器7A,7B・・・をそれぞれ層状に並べて使用す
れば良い。
ミラーを使用することなく物体上の他の全ての点につい
て計測を行うには、図2に示す本実施例2の方法におい
て、ピンホール22A,22Bの数を2つに限定せず、
多数のピンホールを一面に作成し、それに対応する位置
に対応する個数の光受信器6A,6B・・・と遅延時間
検出器7A,7B・・・をそれぞれ層状に並べて使用す
れば良い。
【0024】以上の説明からわかるように、本実施例2
によれば、一つの光源から原パルス信号を物体1の全体
に照射し、物体1の計測点1A,1B・・・からの反射
パルス信号を複数の光受信器6A,6B・・・で受信
し、それぞれの前記原パルス信号と反射パルス信号と間
の時間差を遅延時間検出器7A,7B・・・で検出し、
それらの検出値をコンピュータ8に入力して当該計測装
置と物体1との間の3次元距離を算出して物体形状の三
次元計測を行うことにより、計測時に回転ミラーを使用
しないので、三次元物体情報をより短時間もしくは実時
間で計測することができる。これにより、静止物体の計
測のみならず、動く物体における三次元物体情報を計測
することができる。
によれば、一つの光源から原パルス信号を物体1の全体
に照射し、物体1の計測点1A,1B・・・からの反射
パルス信号を複数の光受信器6A,6B・・・で受信
し、それぞれの前記原パルス信号と反射パルス信号と間
の時間差を遅延時間検出器7A,7B・・・で検出し、
それらの検出値をコンピュータ8に入力して当該計測装
置と物体1との間の3次元距離を算出して物体形状の三
次元計測を行うことにより、計測時に回転ミラーを使用
しないので、三次元物体情報をより短時間もしくは実時
間で計測することができる。これにより、静止物体の計
測のみならず、動く物体における三次元物体情報を計測
することができる。
【0025】現実的には、多数のピンホールを使用する
代わりに1枚の光学レンズを使用すれば、もっとエレガ
ントに同じ効果を得ることができる。この考え方による
本発明のパルスレーダ型三次元物体計測装置の構成を次
の実施例3に示す。
代わりに1枚の光学レンズを使用すれば、もっとエレガ
ントに同じ効果を得ることができる。この考え方による
本発明のパルスレーダ型三次元物体計測装置の構成を次
の実施例3に示す。
【0026】(実施例3)図3は、本発明の実施例3の
パルスレーダ型三次元物体計測装置の概略構成を示すブ
ロック図、図4は、図3の光受信部及び遅延時間検出部
の拡大図、図5は、図4の光受信器及び遅延時間検出器
の詳細な構成を示すブロック図である。
パルスレーダ型三次元物体計測装置の概略構成を示すブ
ロック図、図4は、図3の光受信部及び遅延時間検出部
の拡大図、図5は、図4の光受信器及び遅延時間検出器
の詳細な構成を示すブロック図である。
【0027】図3乃至図5において、31は物体1の全
体を照射できるような単一レーザ光源、32はハーフミ
ラー、33は光学レンズ、34は複数の光受信器からな
る光受信部、34A,34B・・・は光受信器、34A
1,34B1・・・は光センサ、34A2,34B2・・・
は増幅器、35は複数の遅延時間検出器からなる遅延時
間検出部、35A,35B・・・は遅延時間検出器、3
5A1,35B1・・・は出力バッファ、36はコンピュ
ータ、37は光遮蔽板である。前記光センサ34A1,
34B1・・・としては、ホトダイオード、光電管を用
いる。
体を照射できるような単一レーザ光源、32はハーフミ
ラー、33は光学レンズ、34は複数の光受信器からな
る光受信部、34A,34B・・・は光受信器、34A
1,34B1・・・は光センサ、34A2,34B2・・・
は増幅器、35は複数の遅延時間検出器からなる遅延時
間検出部、35A,35B・・・は遅延時間検出器、3
5A1,35B1・・・は出力バッファ、36はコンピュ
ータ、37は光遮蔽板である。前記光センサ34A1,
34B1・・・としては、ホトダイオード、光電管を用
いる。
【0028】前記光受信部34及び遅延時間検出部35
は、図4に示すように、それぞれ複数の光受信器34
A,34B・・・及び遅延時間検出器35A,35B・
・・からなり、M行N列の格子上に並べたものである
(但し、必ずしもこれを格子上に配置する必要はなく、
どのように配置しても原理的には同様の機能を実現する
ことができる)。このM×Nの配列のそれぞれが光学レ
ンズ33を通して物体1上のM×N個の計測点1A,1
B・・・の計測を同時に行うものである。
は、図4に示すように、それぞれ複数の光受信器34
A,34B・・・及び遅延時間検出器35A,35B・
・・からなり、M行N列の格子上に並べたものである
(但し、必ずしもこれを格子上に配置する必要はなく、
どのように配置しても原理的には同様の機能を実現する
ことができる)。このM×Nの配列のそれぞれが光学レ
ンズ33を通して物体1上のM×N個の計測点1A,1
B・・・の計測を同時に行うものである。
【0029】前記光受信器34A,34B・・・は、図
5に示すように、それぞれ光センサ34A1,34B1・
・・及び増幅器34A2,34B2・・・からなってい
る。
5に示すように、それぞれ光センサ34A1,34B1・
・・及び増幅器34A2,34B2・・・からなってい
る。
【0030】また、遅延時間検出器35A,35B・・
・にはそれぞれ出力バッファ35A1,35B1・・・が
設けられている。
・にはそれぞれ出力バッファ35A1,35B1・・・が
設けられている。
【0031】本実施例3のパルスレーダ型三次元物体計
測装置は、図3に示すように、まず、光源31から光信
号としての原パルス信号を発射し、これをハーフミラー
32および光学レンズ33を介して物体1の全体に照射
する。同時に原パルス信号送出タイミング信号を遅延時
間検出部35を構成するすべての遅延時間検出器35
A,35B・・・に送る。
測装置は、図3に示すように、まず、光源31から光信
号としての原パルス信号を発射し、これをハーフミラー
32および光学レンズ33を介して物体1の全体に照射
する。同時に原パルス信号送出タイミング信号を遅延時
間検出部35を構成するすべての遅延時間検出器35
A,35B・・・に送る。
【0032】物体1からの反射パルス信号は、物体1の
像として、光学レンズ33およびハーフミラー32を介
して光受信部34の各光受信器34A,34B・・・に
投影される。すなわち、図4に示すように、物体1上の
計測点1Aからの反射パルス信号は光受信器34Aの光
センサ34A1に、計測点1Bからの反射パルスは第2
光受信器34Bの光センサ34B1にそれぞれ入射され
る。他の計測点からの反射パルス信号も同様にしてそれ
ぞれ対応する位置にある光受信器に入射される。
像として、光学レンズ33およびハーフミラー32を介
して光受信部34の各光受信器34A,34B・・・に
投影される。すなわち、図4に示すように、物体1上の
計測点1Aからの反射パルス信号は光受信器34Aの光
センサ34A1に、計測点1Bからの反射パルスは第2
光受信器34Bの光センサ34B1にそれぞれ入射され
る。他の計測点からの反射パルス信号も同様にしてそれ
ぞれ対応する位置にある光受信器に入射される。
【0033】前記光センサ34A1,光センサ34B1に
よって検出された受信パルス信号(反射パルス信号)
は、増幅器34A2,34B2によって増幅されて遅延時
間検出回路35A,35Bに送られる。遅延時間検出回
路35A,35Bでは、光源31から受けた原パルス信
号と増幅器34A2,34B2から送られた受信パルス信
号の両者の時間差(遅延時間)を算出し、この算出結果
は、出力バッファ35A1,35B1を介してコンピュー
タ36に送られる。同様の動作が、全ての計測点と、対
応する光受信部34および遅延時間検出部35について
同時に行われる。
よって検出された受信パルス信号(反射パルス信号)
は、増幅器34A2,34B2によって増幅されて遅延時
間検出回路35A,35Bに送られる。遅延時間検出回
路35A,35Bでは、光源31から受けた原パルス信
号と増幅器34A2,34B2から送られた受信パルス信
号の両者の時間差(遅延時間)を算出し、この算出結果
は、出力バッファ35A1,35B1を介してコンピュー
タ36に送られる。同様の動作が、全ての計測点と、対
応する光受信部34および遅延時間検出部35について
同時に行われる。
【0034】各遅延時間検出回路35A,35Bからコ
ンピュータ36に送られた時間差情報は、原パルス信号
が光源31を出てからそれぞれ対応する計測点1A,1
Bで反射し、最終的に光受信器34A,34Bのそれぞ
れの光センサ34A1,光センサ34B1で受信パルス信
号として検出されるまでの時間差に対応するものを表し
ており、これは、とりもなおさず、図3の計測装置と物
体1上の計測点1A,1B・・・との3次元空間上での
距離を反映する情報である。従って、図3の計測装置の
各部品の幾何学的距離を正確に求めておけば、コンピュ
ータ8内で光受信部34と計測点1A,1Bの間の3次
元距離情報に変換することができる。このような3次元
計測が物体1上のすべての計測点1A,1B・・・につ
いて同時に行われる。
ンピュータ36に送られた時間差情報は、原パルス信号
が光源31を出てからそれぞれ対応する計測点1A,1
Bで反射し、最終的に光受信器34A,34Bのそれぞ
れの光センサ34A1,光センサ34B1で受信パルス信
号として検出されるまでの時間差に対応するものを表し
ており、これは、とりもなおさず、図3の計測装置と物
体1上の計測点1A,1B・・・との3次元空間上での
距離を反映する情報である。従って、図3の計測装置の
各部品の幾何学的距離を正確に求めておけば、コンピュ
ータ8内で光受信部34と計測点1A,1Bの間の3次
元距離情報に変換することができる。このような3次元
計測が物体1上のすべての計測点1A,1B・・・につ
いて同時に行われる。
【0035】以上のようにして、回転ミラーを使用する
ことなく、物体の3次元計測を行うことができる。
ことなく、物体の3次元計測を行うことができる。
【0036】(実施例4)図6は、本発明の実施例4の
パルスレーダ型三次元物体計測装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
パルスレーダ型三次元物体計測装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
【0037】図6において、41は第2のハーフミラ
ー、42はカラー撮像装置、43はカラー撮像装置42
とコンピュータ36とのインタフェースである。カラー
撮像装置42のカラー撮像素子としては、例えば、カラ
ー電荷結合素子(CCD)が用いられ、このカラー撮像
装置42は、例えば、500×500点分のカラーデー
タが得られるCCDによる構成になっている。
ー、42はカラー撮像装置、43はカラー撮像装置42
とコンピュータ36とのインタフェースである。カラー
撮像装置42のカラー撮像素子としては、例えば、カラ
ー電荷結合素子(CCD)が用いられ、このカラー撮像
装置42は、例えば、500×500点分のカラーデー
タが得られるCCDによる構成になっている。
【0038】このように構成することにより、物体1の
像は第2のハーフミラー41を介してカラーCCD42
に投影され、このカラー撮像装置42から物体1の表面
カラー情報がカラー画像データ(R,G,B)として出
力される。この出力カラー画像データは、コンピュータ
36に入力され、前記遅延時間検出部35の検出情報、
例えば、500×500点分の座標(X,Y,Z)値と
コンピュータ36内で対応づけられる。このようにし
て、物体1の3次元形状情報と表面カラー情報とを同時
にしかも各計測点毎にそれぞれ完全に一致した形でカラ
ー計測することができる。
像は第2のハーフミラー41を介してカラーCCD42
に投影され、このカラー撮像装置42から物体1の表面
カラー情報がカラー画像データ(R,G,B)として出
力される。この出力カラー画像データは、コンピュータ
36に入力され、前記遅延時間検出部35の検出情報、
例えば、500×500点分の座標(X,Y,Z)値と
コンピュータ36内で対応づけられる。このようにし
て、物体1の3次元形状情報と表面カラー情報とを同時
にしかも各計測点毎にそれぞれ完全に一致した形でカラ
ー計測することができる。
【0039】前記遅延時間検出部35の検出情報、例え
ば、500×500点分の座標(X,Y,Z)に対応す
る時間差と表面カラー情報との対応づけは、最初から光
学系、光センサの幾何学的条件を合せておけば不要とな
る。すなわち、この場合、最初から対応のとれた3次元
計測データとカラー画像データが得られる。
ば、500×500点分の座標(X,Y,Z)に対応す
る時間差と表面カラー情報との対応づけは、最初から光
学系、光センサの幾何学的条件を合せておけば不要とな
る。すなわち、この場合、最初から対応のとれた3次元
計測データとカラー画像データが得られる。
【0040】また、3次元計測とカラー計測は、光の波
長(光学フィルタ)で分けて行うか、あるいは時分割式
(特願平2−309766号等に記載される時分割物体
計測装置参照)で行う。
長(光学フィルタ)で分けて行うか、あるいは時分割式
(特願平2−309766号等に記載される時分割物体
計測装置参照)で行う。
【0041】なお、前記実施例2乃至4における光受信
部および遅延時間検出部もしくは全部品をLSI化する
ことも、可能である。これにより、コンパクトな計測装
置を実現することも可能である。
部および遅延時間検出部もしくは全部品をLSI化する
ことも、可能である。これにより、コンパクトな計測装
置を実現することも可能である。
【0042】以上、本発明を実施例に基づき具体的に説
明したが、本発明は、前記実施例に限定されるものでは
なく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更し得
ることはいうまでもない。例えば、本発明は、超音波、
電波等、を利用した計測システムにも同様に利用できる
ことはいうまでもない。
明したが、本発明は、前記実施例に限定されるものでは
なく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更し得
ることはいうまでもない。例えば、本発明は、超音波、
電波等、を利用した計測システムにも同様に利用できる
ことはいうまでもない。
【0043】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明によれ
ば、一つもしくは複数の光源から物体に向かって原パル
ス信号を発射し、物体に当ってはねかえった反射パルス
信号を受信し、それぞれの前記原パルス信号と前記反射
パルス信号との間の遅延時間を検出し、それら検出され
た遅延時間から当該計測装置と物体との間の3次元距離
を算出して物体形状の三次元計測を行うことにより、三
次元物体情報を短時間もしくは実時間で計測することが
できる。これにより、静止物体の計測のみならず、動く
物体における三次元物体情報を計測することができる。
ば、一つもしくは複数の光源から物体に向かって原パル
ス信号を発射し、物体に当ってはねかえった反射パルス
信号を受信し、それぞれの前記原パルス信号と前記反射
パルス信号との間の遅延時間を検出し、それら検出され
た遅延時間から当該計測装置と物体との間の3次元距離
を算出して物体形状の三次元計測を行うことにより、三
次元物体情報を短時間もしくは実時間で計測することが
できる。これにより、静止物体の計測のみならず、動く
物体における三次元物体情報を計測することができる。
【0044】また、物体の表面カラー情報を検出し、該
検出された表面カラー情報と受信パルス信号の両者の時
間差(遅延時間)とを対応させることにより、物体の3
次元形状情報と表面カラー情報とを同時にしかも各計測
点毎にそれぞれ完全に一致した形でカラー計測すること
ができるので、三次元物体を認識したり、入力されたデ
ータに基づいて物体のコンピュータグラフィックス映像
を生成することが容易にできる。
検出された表面カラー情報と受信パルス信号の両者の時
間差(遅延時間)とを対応させることにより、物体の3
次元形状情報と表面カラー情報とを同時にしかも各計測
点毎にそれぞれ完全に一致した形でカラー計測すること
ができるので、三次元物体を認識したり、入力されたデ
ータに基づいて物体のコンピュータグラフィックス映像
を生成することが容易にできる。
【図1】 本発明の実施例1のパルスレーダ型三次元物
体計測装置の概略構成を示すブロック図、
体計測装置の概略構成を示すブロック図、
【図2】 本発明の実施例2のパルスレーダ型三次元物
体計測装置の概略構成を示すブロック図、
体計測装置の概略構成を示すブロック図、
【図3】 本発明の実施例3のパルスレーダ型三次元物
体計測装置の概略構成を示すブロック図、
体計測装置の概略構成を示すブロック図、
【図4】 図3の光受信部及び遅延時間検出部の拡大
図、
図、
【図5】 図4の光受信器及び遅延時間検出器の詳細な
構成を示すブロック図、
構成を示すブロック図、
【図6】 本発明の実施例4のパルスレーダ型三次元物
体計測装置の概略構成を示すブロック図、
体計測装置の概略構成を示すブロック図、
【図7】 従来の物体形状の3次元計測を行うパルスレ
ーダ型3次元物体計測装置の問題点を説明するための
図、
ーダ型3次元物体計測装置の問題点を説明するための
図、
【図8】 図7に示すパルスレーダ型3次元物体計測装
置の原パルス信号に対する反射パルス信号の遅延時間を
示す図。
置の原パルス信号に対する反射パルス信号の遅延時間を
示す図。
101,102…計測装置、1…物体、1A,1B…計
測点、2A,2B…レーザ光源、3A,3B…ハーフミ
ラー、4A,4B…集光レンズ、5A,5B…回転ミラ
ー、6A,6B…光受信器、7A,7B…遅延時間差検
出器、8…コンピュータ、9…パルス発振器、21…物
体の全体を照射できるような単一レーザ光源、22A,
22B…ピンホール、23…光遮蔽板、31…物体の全
体を照射できるような単一レーザ光源、32…ハーフミ
ラー、33…光学レンズ、34…複数の光受信器からな
る光受信部、34A,34B…光受信器、34A1,3
4B1…光センサ、34A2,34B2…増幅器、35は
複数の遅延時間検出器からなる遅延時間検出部、35
A,35B…遅延時間検出器、35A1,35B1…出力
バッファ、36…コンピュータ、37…光遮蔽板、41
…第2のハーフミラー、42…カラー撮像装置、43…
カラー撮像装置とコンピュータとのインタフェース。
測点、2A,2B…レーザ光源、3A,3B…ハーフミ
ラー、4A,4B…集光レンズ、5A,5B…回転ミラ
ー、6A,6B…光受信器、7A,7B…遅延時間差検
出器、8…コンピュータ、9…パルス発振器、21…物
体の全体を照射できるような単一レーザ光源、22A,
22B…ピンホール、23…光遮蔽板、31…物体の全
体を照射できるような単一レーザ光源、32…ハーフミ
ラー、33…光学レンズ、34…複数の光受信器からな
る光受信部、34A,34B…光受信器、34A1,3
4B1…光センサ、34A2,34B2…増幅器、35は
複数の遅延時間検出器からなる遅延時間検出部、35
A,35B…遅延時間検出器、35A1,35B1…出力
バッファ、36…コンピュータ、37…光遮蔽板、41
…第2のハーフミラー、42…カラー撮像装置、43…
カラー撮像装置とコンピュータとのインタフェース。
Claims (2)
- 【請求項1】 一つもしくは複数の光源と、該光源から
物体に向かって原パルス信号を発射するパルス発生器
と、物体に当ってはねかえった反射パルス信号を受信す
る複数の光受信手段と、前記原パルス信号と前記反射パ
ルス信号との間の遅延時間を検出する複数の遅延時間検
出手段と、該複数の遅延時間検出手段の検出値から当該
計測装置と物体との間の3次元距離を算出して物体形状
の三次元計測を行う計測手段とを備えたことを特徴とす
る3次元物体計測装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載の物体形状の3次元物体
計測装置において、前記物体の表面カラー情報を検出す
る物体表面カラー情報検出手段と、該表面カラー情報検
出手段の検出値と前記位相差検出手段の検出値とを対応
させてカラー計測を行うカラー計測手段とを備えたこと
を特徴とする3次元物体計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5286510A JPH07139923A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 3次元物体計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5286510A JPH07139923A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 3次元物体計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07139923A true JPH07139923A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=17705347
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5286510A Pending JPH07139923A (ja) | 1993-11-16 | 1993-11-16 | 3次元物体計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07139923A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000035569A1 (de) * | 1998-12-17 | 2000-06-22 | F & P Sortiertechnik Gmbh | Verfahren, vorrichtung und anlage zur kontinuierlichen aufbereitung von wasser |
| JP4841694B2 (ja) * | 2008-04-28 | 2011-12-21 | ゼミスコ インコーポレイテッド | 多重ウェブ貼り合わせのための整列装置およびその方法 |
-
1993
- 1993-11-16 JP JP5286510A patent/JPH07139923A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000035569A1 (de) * | 1998-12-17 | 2000-06-22 | F & P Sortiertechnik Gmbh | Verfahren, vorrichtung und anlage zur kontinuierlichen aufbereitung von wasser |
| JP4841694B2 (ja) * | 2008-04-28 | 2011-12-21 | ゼミスコ インコーポレイテッド | 多重ウェブ貼り合わせのための整列装置およびその方法 |
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