JPH07139956A - ファイバ式光センサコイルの調整方法 - Google Patents

ファイバ式光センサコイルの調整方法

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JPH07139956A
JPH07139956A JP6095361A JP9536194A JPH07139956A JP H07139956 A JPH07139956 A JP H07139956A JP 6095361 A JP6095361 A JP 6095361A JP 9536194 A JP9536194 A JP 9536194A JP H07139956 A JPH07139956 A JP H07139956A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ファイバ光学ジャイロ用センサコイルの調整
方法を提供する。 【構成】 コイルは最初既知のパターンで巻きつけられ
る。次いで、巻線コイルのファイバの一方の端部は、巻
線パターンの中点を効果的に転置する既知の差が得られ
るように、他方の端部に関して調整される。次いで、コ
イルは干渉計検査装置に取り付けられ、性能が測定され
る。連続的な観測後、受け入れ可能な性能特性を有する
“切り整えられた”コイルが得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はファイバ式光学ジャイロ
スコープに関する。特に、本発明は非相反性エラー感度
を消去するためにジャイロセンサコイルを調整する方法
に関する。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】ファイ
バ式光学ジャイロスコープは以下の主要構成要素からな
る。すなわち、(1)光源と、(2)ビームスプリッタ
(ファイバ光学方向結合器または集積光学Y分岐のどち
らか)と、(3)ファイバ光学コイルと、(4)偏光器
(及び時には1つ以上の偏光消滅器)と、(5)検出器
である。光源からの光は、ビームスプリッタで検知コイ
ルに伝わる共通伝播波及び逆伝播波に分離される。関連
エレクトロニクスは、コイルの両端から発生する、2つ
の干渉する逆伝播光ビームの間の位相関係を測定する。
2つのビームで経験される位相シフトの差は、計器が固
定されている作業台の回転率の基準を提供する。
【0003】環境要因は、測定される逆伝播ビーム間の
位相シフト差に影響を与え、それによりバイアスすなわ
ちエラーを持ち込むことがある。前記環境要因は、温
度、振動(音響的なものや機械的なもの)及び磁界のよ
うな変量を含む。前記要因は、時間と共に変化するし、
コイルのいたるところに一様でなく分布される。これら
の環境要因は、各々の逆伝播波がコイル中を進むにした
がって遭遇する、光学的な光路の変化を引き起こす。前
記2つの波により引き起こされる位相シフトは等しくな
く、回転誘導信号から区別がつかない、正味の好ましく
ない位相シフトを生じる。
【0004】適切なコイル巻線技術は、ファイバ光学ジ
ャイロの出力中にあるバイアスエラーの一部を最小にす
ることができるが、実際には、“完璧な”巻線パターン
を達成するのは不可能である。隆起、ひだ及び色々なエ
ラーが必ず巻きつけに生じるだろう。前記非対称が現わ
れる程度にまで、巻線パターンはめったに意図したとお
りにはならず、出力バイアスの減少は本質的に制限され
る。すなわち、意図した対称コイル巻線パターンは、フ
ァイバの中心から等しい長さのファイバセグメントを同
じ位置に置くことができるが、実際には、温度変化に起
因するシュープ(Shupe) エラーの理論的な消去は観測さ
れない。むしろ、“ドロップアウト”等としての前記の
回避しがたい巻線エラーの存在は、完全対称センサコイ
ルの製作を完全に失敗させる。前記巻線エラーは、例え
ば1000メートルの光ファイバからなるコイルの精密
な巻線に伴う非常に重要な仕事にかんがみて予想される
べきものである。前記の避けがたい巻きつけ欠陥の結果
として、ファイバ特性の時間に依存する変化、すなわち
バイアス効果、が規則正しく対称的に巻かれたセンサコ
イルの出力中に時々顕著に現われる。
【0005】本発明は、巻線パターン内に配置される既
知の長さの光ファイバを含むタイプのセンサコイルを調
整する方法を提供することによって、先行技術の上記及
び他の欠点に取り組んで克服する。
【0006】
【課題を解決するための手段】この方法は、巻線パター
ンの中心点と巻線コイルの一方の端部との間のファイバ
長が、巻線パターンの中心点と他方の端部との間のファ
イバ長と既知の長さだけ異なるように、前記一方の端部
を他方の端部に関して前記の長さだけ調整することによ
り始められる。次いで、コイルは、干渉計における前記
コイルの性能を確かめることができるように配置された
検査装置に取り付けられる。次いで、前記コイルの両端
部を調整して性能を測定するシーケンスが、受け入れ可
能なバイアスエラーレベルが観測されるまで繰り返らさ
れ、次いで検査装置から調整済コイルが取りはずされ
る。本発明の上記及び他の特徴と利点は、以下の詳細な
説明からさらに明らかになるだろう。前記説明は1組の
図面を伴う。図面の数字は、書かれた文の数字に対応し
て本発明の種々の特徴を示し、同じ数字は終始同じ特徴
を指す。
【0007】
【実施例】図面を参照すると、図1は、ファイバ式光学
ジャイロ装置の重要な構成要素を提供するセンサコイル
10の斜視図である。使用時、センサコイル10は回転
率が測定されるべき作業台に固定される。センサコイル
10は、一対の端部フランジを含む心棒14に巻かれて
示される光ファイバ12からなる。コイル10は、共通
光源(図示しない)から発した逆伝播ビーム対を受ける
光ガイドとして役立つ。図1の支えとなる心棒14は、
向かい合ったフランジで終端するタイプのものである
が、フランジの有無は本発明の必須構成要素を構成しな
い。
【0008】上述のように、ファイバ12の中点に対し
て対称的な巻線パターンの創作は、ジャイロの動作環境
に追随し得る多少のバイアス効果を減少させるという点
から考えると非常に有益である。本発明の方法は、4極
のすなわち一層対称的な巻線パターンに限らないが、前
記巻線コイルはこの方法の出発点を提供する。したがっ
て、シュープ効果を最小にする対称巻線パターンは、本
発明のコイルトリミング方法の実施の有利な出発点を提
供する。4極パターンは、連続したファイバ12を等し
いファイバ長を有する2つの供給元スプールに分割し、
各連続した二重層のために供給元スプールを交互に替え
てリールに巻きつけることにより達成される。二重層
は、(フランジ付き心棒が用いられる場合には)同じフ
ランジから始まって終わる、外被を備えた2つの層から
なる。第1の層は単独に巻きつけられ、コイルの内層を
形成する。その後、2つの供給リールから交互する対の
状態の層が巻きつけられる。このような配置は図2に示
される。図に見られるように、光ファイバ12は、供給
リール18及び20からセンサスプール16に巻きつけ
られる。ファイバ12は一度に1つの供給スプールから
巻きつけられ、他方の供給スプールは、前に形成される
層がほどけるのを防止するために巻取スプールすなわち
センサスプールと共に回転させられる。したがって、図
2では、ファイバ12の層は供給スプール18からセン
サスプール16に巻きつけられる。供給スプール20
は、共通軸22によってセンサスプール16と共に回転
させるために取り付けられる。供給スプール18及び2
0は交互に軸22に取り付けられ、ファイバ12が残り
の供給スプールすなわち予備スプールからセンサスプー
ル16に巻きつけられる時センサスプール16と共に回
転する。
【0009】4極巻線パターンはファイバの中心に対し
て対称を保ち、その結果、さもなければ熱状態の変化に
より引き起こされる位相エラーを減少させる。シュープ
効果として知られる、変化する熱勾配の位相エラーへの
影響は、例えばエヌ・ジェイ・フリゴ(N.J.Frigo) によ
る“Compensation of Linear Sources of Non-reciproc
ity in Signal Interferometers ”, SPIE Proceeding
s, Fiber Optic and Laser Sensors, Vol.412(Arlingto
n VA, April 5 through 7, 1983) at pages 268-271に
論じられている。図2の装置を図3A乃至3Cと共に参
照すると、4極巻線方法は、向かい合ったフランジ26
及び28の一方の近くのセンサスプール16の心棒24
上にファイバ12の中点を位置決めすることにより始め
られる。これは巻線パターンの中点を限定する。
【0010】方向30に沿って供給スプールのうちの最
初の供給スプールから巻き付けると、図3Aに示される
ように、コア24の頂上に第1の層が形成される。(フ
ァイバ12の各断面はコイル巻線の1ターンを示す。2
つの供給スプールから巻きつけられるターンは、内部点
描の有無によって識別される。)最初の層がセンサスプ
ール16に巻きつけられた後、次に、2つの供給スプー
ルリード32、34が、図示のようにフランジ26及び
28に接して位置決めされる。この最初の層の形成は最
初の組立の一部とみなされるが、再び行なわれることは
ない。
【0011】次いで、(図2の配置に従って)供給スプ
ールの相対的位置は、図3Aで形成される層が維持され
ると共に、図3Bに示されるように第2の供給スプール
の“ホーム”(左側)フランジ26から離れてフランジ
28の方へ巻きつけることによって第2の層が第2の供
給スプールから形成されるように回転する。(リード3
4は同時に図示のように“ポップアップする”。)これ
に続いて、第2の供給スプールからのファイバ12の巻
きつけ方向の反転が行なわれ、図3Cに示されるように
第3の(点描された)層を作り出す。
【0012】リード34は、図3B及び3Cに示される
ように、他の供給スプールの点描された層の下への“埋
葬”を避けて、第1の供給スプールからそれの上に一対
の(点描されていない)層を形成できるように、上向き
に向けられる。38で示される前記層のうちの最初の層
はリード34から方向40に巻きつけることにより形成
され、上にある第2の層42は逆方向44に巻きつける
ことにより形成される。言及したように、リード32
は、フランジ26に隣接するこれらの層の縁から上向き
に突出して、第2の供給スプールから一対の層を形成で
きるようにする。対の層を形成するための前記工程が繰
り返され、供給スプールは、図3Cの対照をなすターン
模様で示されるような2つの層毎に交互に替えられ、こ
の手順は、必要な数の4極層が供給スプールからセンサ
スプール16に巻きつけられるまで続けられる。
【0013】でき上がったコイルは、心棒の中心から等
距離の複数本のファイバ12が密着し、したがって、心
棒及びコイルの構造に関して対称的な温度分布すなわち
温度フィールドによって実質的に同じ程度に影響を受け
る特性を持つ。このような場合、温度勾配は、巻かれた
コイルの中点に対して比較的対称になるだろう。このよ
うな場合、シュープ効果による位相エラーもファイバの
中点に対して同様に対称的になりしたがって実質的に相
殺され得ることが、このことから結果として起こる。4
極ファイバ式光検知コイルを巻き上げる他の構造及び方
法は、“4極巻線型ファイバ式光検知コイル及びその製
造方法”と題するミルコ イバンセビク(Mirko Ivancev
ic) の米国特許第4,856,900 号に開示されている。前記
の方法は図4A乃至4Cに示される。前のように、一対
の供給スプールにより精密に巻き付けられるファイバ1
2の中点は、フランジ26の内側表面に接するセンサス
プール16の中心コア上に位置決めされる。また、前の
ように、1つの内層が、フランジ26からフランジ28
の方へ(方向30に)供給スプールからファイバ12を
巻きつけることにより心棒24に接して形成される。
【0014】3ターン46、48及び50は、第1の層
の“最終”ターン52(フランジ28に隣接したター
ン)と同心に巻きつけられる。ターン46、48及び5
0は、フランジ28の内側の適当な粘着性コーティング
53によりフランジ28に保持される。その後、図4B
に示されるように、1つの層が同一方向30に他の供給
スプールから巻きつけられる。しかしながら、層58の
最終ターン56は、前に巻かれた層のリード36の長さ
伝いに押圧及び緊張を加えることはない。むしろ、この
最終ターンは、同心のターン48及び50と共にフラン
ジ28に接するファイバ“防壁”を形成するターン46
に接する。
【0015】次いで、第2の供給スプールから第2の4
極ファイバ層がフランジ26の方へ反対方向60に巻き
つけられる。図4Cに示されるように、3ターン60、
62及び64が、形成されたばかりの4極巻線層対の最
終ターン66と同心にリード32から巻きつけられる。
その層の頂上にある点描された層対は、最初の層の最終
ターン52と同心に前に巻きつけられた最上のターン5
0で始まって、前のように第1の供給スプールから巻き
つけられ、層対の巻きつけ完了により、同心のターン6
8、70及び72は、その層の最終ターン74と同心に
巻きつけられる。この発明に従って形成された4極巻線
型コイルの全体巻線パターンは図5に概略的に示され
る。供給スプール18及び20と関連したリード32及
び34の進行経路は、それぞれ用意された表示より示さ
れる。
【0016】他の4極巻線形態は、ポップアップセグメ
ントのあたりに発生する微小な曲がり、ファイバターン
半径の一貫性、及びリードのはさみつぶしにより生じる
位相シフトの好ましくない発生の消去を含む多くの利点
を提供する。上述した両コイル巻線方法は、例えば、巻
線パターンが8層毎に繰り返される8極巻線形態を含む
同じ対称巻線方法に容易に拡張できる。
【0017】発明者は、対称巻線パターンは温度変化か
ら生じるシュープ効果バイアスエラーを減少させるのに
役立つが、いまだ受け入れできないほど大きなエラーが
観測されることがあるのを見出だした。発明者は、さら
に、前記残留バイアスエラーはセンサコイルの有効中点
を注意深く調整することで最小にすることができること
を見出した。これは、巻かれたコイルの2つの端部を差
動的に調整して新しい中点に対して前記コイルを再均衡
させることにより達成される。
【0018】図6は、前記の“残留”(だが、本質的に
小さくはない)バイアスエラー感度に関して巻かれたセ
ンサコイルを最適化するための検査装置の概略図であ
る。見られるように、この検査装置は、本特許出願の背
景部分に説明されたような完全な干渉計を含む。これは
光源76を含み、その出力はファイバ光学方向結合器7
8に向けられ、該結合器78は偏光器82に結合され、
偏光器82の出力は、性能が評価されるべきセンサコイ
ル80に結合された第2のファイバ光学方向結合器79
に向けられる。干渉計の出力は、結合器79を介して偏
光器82に結合され、結合器78を介して検出器84に
結合される。前記装置の動作及び配置は周知であり、本
出願の背景に開示されている。
【0019】センサコイル80のシュープ(温度率)効
果を指示するデータを発生して測定する手段が提供され
る。前記手段は熱源86を含み、その出力は熱源制御装
置88で調整される。温度検出器90は、センサコイル
80の近辺に配置されて、コイル80近辺の温度及びそ
れの変化率の指示を提供する。温度検出器90は検査デ
ータ蓄積装置92に接続され、蓄積装置92には、温度
検出器90の(温度)読取値と検出器84からの干渉計
出力が入力される。センサコイル80は、上述のように
それの中点を調整することにより残留シュープバイアス
エラー感受性に関して最適化される。ファイバセグメン
ト94及び96は、センサコイル巻線の中点の位置を調
整するために、巻かれたコイル80の(二者択一的に)
両端に用意される。前記セグメント94、96は各々、
それぞれ第1の重ね合わせ接合部98、100で結合器
79の末端すなわちピグテールに重ね合わせ接合される
が、反対の端部は、第2の重ね合わせ接合部102、1
04により、巻かれたコイル80に、該コイル80の一
部として動作させるために重ね合わせ接合される。実際
に実施する際には、一度に1つのセグメント94または
96のみが、コイル80を構成するファイバの当初等し
い“半分”の長さに差をもたせるために用いられる。
(巻線構造にかかわらず)巻かれたファイバコイルの中
心を効果的に動かすすなわち転置することが、この“不
均衡”になる。
【0020】発明者は、センサコイル80が完成してい
ても、コイルの巻線構造の中点を巻かれたコイル80の
両端に関して移動させる“再均衡”方法によりまだそれ
を最適化することができることを見出した。すなわち、
発明者は、既存のセンサコイルを採用し、それの一方の
端部を他方の端部に関して“トリミング”(実際には追
加)することによって、シュープ温度効果に関するコイ
ル感度を変えることができることを見出した。実際には
反復手順が用いられ、ここでは、ファイバセグメント9
4または96はそれぞれ第1及び第2の重ね合わせ接合
部98、102または100、104間に取り付けら
れ、それにより、コイル80の一方の端部に効果的に付
加され、巻線構造の原中点からのコイルの光ファイバの
長さに差をもたせる。(これは、巻線構造の中点をシフ
トさせる代替方法に見ることができる。)次に、干渉計
検査装置の性能が、センサコイルの温度が循環してシュ
ープ効果係数が確認されるにしたがって測定される。そ
の後、ファイバセグメント94または96の長さが変え
られ、図6の検査装置に再重ね合わせ接合される。再
び、センサ温度がもう一度循環するにつれて、干渉計性
能が確認され、シュープ効果感度が確認される。
【0021】コイル80の一方の端部に重ね合わせ接合
されるセグメント94または96の長さが連続的に短く
され、十分に良好ではないバイアスエラー性能の改善が
観測される場合には、コイル80のその端部は結合器7
8に直接重ね合わせ接合され、他のセグメント94また
は96が、だんだん長くなるセグメント状態でコイル8
0の他方の端部に連続的に重ね合わせ接合される。コイ
ル端部間の明瞭な差によって特徴付けられる連続的温度
循環中のコイルの作用の観測により、発明者は、上述の
トリミング方法は大いに増強されたシュープ効果性能を
有する“調整済”コイルをもたらすだろうということを
見出した。ファイバセグメント94または96を付加し
て巻かれたコイルの原中点からの光ファイバの長さに差
を持たせる代替方法として、このような差は、もちろ
ん、受け入れ可能な低レベルの感度を生じる長さの差が
得られるまで当初の巻かれたコイルの一方の端部または
両端部を切り取ることを含む、上述のような手探り方法
によっても得ることができる。前記代替方法はセンサコ
イルを短くすることにより正確さを減少させるが、この
ような減少は、一般に、当初のコイルのファイバのトリ
ミングしなければならない割合が比較的小さいため無視
できるだろう。トリミングされるファイバの長さは、シ
ュープエラー感度を減少させる4極巻線のような対称巻
線パターンの使用によりさらに減少するだろう。
【0022】セグメントを付加するよりむしろ切り取る
ことによって、この代替方法は、1つまたは2つの追加
のファイバ重ね合わせ接合部を導入する必要性をなくす
る。重ね合わせ接合部は偏光相反性エラーを持ち込むこ
とがあるので、各接合部が“除去”されてでき上がった
センサコイルは性能改善に至るだろう。これと同じ理由
で、セグメント94または96を付加してコイル中点の
最適な差すなわち偏差を確認する場合でさえ、切り取り
工程を調整後に用いることができる。これは、最適な結
果を与えるべく見出されたセグメント94または96の
長さだけセグメントが付加されなかった巻かれたコイル
の半分の長さを減少させ、調整済コイルの他方の端部か
らセグメントを分離することにより達成することができ
る。このようにして、最適のファイバ長の差は追加の重
ね合わせ接合部なしに得られる。さらに、巻かれたコイ
ルの一方の端部から切り取る前に最適な差を確認するこ
とによって、コイル長の必要とされる短縮により失われ
るだろう正確さの度合いはどんなコイル改造にも先んじ
てわかる。したがって、設計者には、コイル80がもと
のままの状態になっている限り選択が残されるだろう。
【0023】図7は、本発明の上述のコイルトリミング
方法にしたがって得られたデータのグラフである。デー
タ点は、トリミングされたファイバ長(メートル)対相
関関係にある正規化されたシュープ係数値(縦座標)を
プロットした。データは、1キロメートルの165ミク
ロンPM光ファイバからなるセンサコイルの一方の端部
からの連続的切り取りにより得られた。シュープエラー
感度の測定は、室温(摂氏22.5度)で行なわれ、分
あたり摂氏0.5及び1.0の温度勾配が用いられた。
【0024】データは、ファイバの一方の端部から取ら
れた、巻きつけ時の感度と3つの異なるコイルトリミン
グとを反映し、トリミングされたファイバ長と正規化さ
れたシュープ感度間の実質的にリニアな関係示してい
る。正規化されたシュープ感度は、コイルからの10メ
ートルのトリミングによって無視できる量まで減少し
た。これは、全コイル長のほんの1パーセントの減少に
相当する。したがって、測定の正確さは維持されると同
時に、シュープ感度は大いに減少する。したがって、本
発明は、残留シュープエラー感度を減少するようにファ
イバ式光センサコイルを調整するための効果的な方法を
提供することがわかる。本発明の教示を用いることによ
り、多くのケースにおける残留エラーを無視できる量ま
で減少させることができる。コイルトリミング方法を4
極巻線型コイルのような対称型コイルと共に用いること
によって、非常に正確な調整を達成することができる。
本発明は目下好適な実施例を参照して説明されたが、そ
れに限らない。むしろ、本発明は、特許請求の範囲で定
義される限りにおいてのみ制限され、それの全ての同等
物をその範囲内に包含する。
【図面の簡単な説明】
【図1】ファイバ光学ジャイロ用センサコイルの斜視図
である。
【図2】対称型センサコイルを巻き上げるための配置の
斜視図である。
【図3】A乃至Cは、4極巻線パターンの進展を例示す
る、センサコイルの一連の断面図である。
【図4】A乃至Cは、他の4極巻線パターンの進展を例
示する、センサコイルの一連の断面図である。
【図5】上記図面の他の実施例による4極巻線センサコ
イルを形成する巻線パターンの概略図である。
【図6】本発明の方法を実施する検査装置の概略図であ
る。
【図7】シュープ係数に基づいてトリミングするコイル
の効果を例示するデータのグラフである。
【符号の説明】
76 光源 80 センサコイル 82 偏光器
フロントページの続き (72)発明者 ジョン デー.ワイルド アメリカ合衆国,91364 カリフォルニア, ウッドランド ヒルス,シー−214,ヴィ クトリー ブーレバード 22110

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 巻線パターン内に配置される既知の長さ
    を有する光ファイバを含むタイプのセンサコイルの調整
    方法であって、 a)前記巻線パターンの中点と前記巻線コイルの一方の
    端部の間のファイバ長が、前記中点と他方の端部との間
    のファイバ長と既知の長さだけ異なるように、前記一方
    の端部を他方の端部に関して前記の長さだけ調整する工
    程と、 b)干渉計における前記コイルの性能を確かめることが
    できるように配置された検査装置に前記調整済コイルを
    取り付ける工程と、 c)前記装置における前記調整済コイルの性能を観測す
    る工程と、 d)受け入れ可能なレベルのバイアスエラーが観測され
    るまで工程a乃至cを繰り返す工程と、 前記検査装置から前記調整済コイルを取りはずす工程と
    からなることを特徴とする調整方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の調整方法において、前記
    調整済コイルの性能を観測する工程は、さらに、 a)前記コイルの温度を予め決められた割合で変化させ
    る工程と、 b)前記検査装置の出力中のバイアスエラーを測定する
    工程と、 c)前記調整済コイルのシュープ効果係数を確認する工
    程とを含む調整方法。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の調整方法において、前記
    コイルを調整する工程は、予め決められた長さのファイ
    バセグメントの第1の端部を前記巻線コイルの一方の端
    部に重ね合わせ接合する工程を追加的に含む調整方法。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の調整方法において、前記
    調整済コイルを前記検査装置に取り付ける工程は、さら
    に、 a)前記ファイバセグメントの他方の端部を前記検査装
    置に重ね合わせ接合する工程と、 b)前記巻線コイルの他方の端部を前記検査装置に重ね
    合わせ接合する工程とを含む調整方法。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の調整方法において、前記
    検査装置は、逆伝播ビーム対を前記調整済コイル内に放
    射して結果的に生じる位相シフトを測定する手段を含む
    調整方法。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の調整方法において、繰り
    返し工程は、さらに、 a)予め決められた長さの前記ファイバセグメントを前
    記巻線コイルの前記端部に重ね合わせ接合する工程と、 b)前記検査装置の性能を観測する工程と、 c)前記ファイバセグメントを取りはずす工程と、 d)予め決められた異なる長さのファイバセグメントを
    用いて工程a乃至cを繰り返す工程とを含む調整方法。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の調整方法において、追加
    的に、 a)前記ファイバコイルの前記端部を直接前記検査装置
    に重ね合わせ接合する工程と、 b)予め決められた長さの第2のファイバセグメントを
    前記巻線コイルの他方の端部に重ね合わせ接合する工程
    と、 c)前記検査装置の性能を観測する工程と、 d)前記第2のファイバセグメントを取りはずす工程
    と、 e)予め決められた異なる長さの第2のファイバセグメ
    ントを用いて工程a乃至dを繰り返す工程とを含む調整
    方法。
  8. 【請求項8】 請求項7記載の調整方法において、前記
    巻線コイルは非対称巻線パターンで配置される調整方
    法。
  9. 【請求項9】 請求項7記載の調整方法において、前記
    巻線コイルは対称巻線パターンで配置される調整方法。
  10. 【請求項10】 請求項9記載の調整方法において、前
    記対称巻線パターンは4極パターンである調整方法。
  11. 【請求項11】 請求項2記載の調整方法において、前
    記調整工程は、追加的に、前記巻線コイルの一方の端部
    から予め決められた長さのファイバのセグメントを切り
    取る工程を含む調整方法。
  12. 【請求項12】 請求項11記載の調整方法において、
    前記繰り返し工程は、さらに、 a)前記巻線コイルの一方の端部から予め決められた長
    さのファイバのセグメントを切り取る工程と、 b)前記検査装置の性能を観測する工程と、 c)予め決められた異なる長さのファイバセグメントを
    切り取りながら工程a及びbを繰り返す工程とを含む調
    整方法。
  13. 【請求項13】 請求項12記載の調整方法において、
    追加的に、 a)前記ファイバコイルを直接前記検査装置に重ね合わ
    せ接合する工程と、 b)前記巻線コイルの他方の端部から予め決められた長
    さのファイバを切り取る工程と、 c)前記検査装置の性能を観測する工程と、 d)予め決められた異なる長さのセグメントを切り取り
    ながら工程a乃至cを繰り返す工程とを含む調整方法。
  14. 【請求項14】 請求項13記載の調整方法において、
    前記巻線コイルは非対称巻線パターンで配置される調整
    方法。
  15. 【請求項15】 請求項13記載の調整方法において、
    前記巻線コイルは対称巻線パターンで配置される調整方
    法。
  16. 【請求項16】 請求項15記載の調整方法において、
    前記対称巻線パターンは4極パターンである調整方法。
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