JPH0715929B2 - Electronic component carrier - Google Patents

Electronic component carrier

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JPH0715929B2
JPH0715929B2 JP2321159A JP32115990A JPH0715929B2 JP H0715929 B2 JPH0715929 B2 JP H0715929B2 JP 2321159 A JP2321159 A JP 2321159A JP 32115990 A JP32115990 A JP 32115990A JP H0715929 B2 JPH0715929 B2 JP H0715929B2
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chute
cross
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electronic components
electronic component
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Inventor
隆司 斉藤
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株式会社テセツク
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、IC、コンデンサ、ディスクリートデバイス等
の電子部品の検査、選別、捺印装置等に使用して好適な
電子部品の搬送装置に関するものである。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an electronic component carrying device suitable for use in inspection, sorting, marking devices, etc. of electronic components such as ICs, capacitors, and discrete devices. is there.

[従来の技術] 従来から、IC、コンデンサ、ディスクリートデバイス等
のモールド型電子部品(以下総称して電子部品と云う)
の検査、選別、捺印等を行う装置においては、未検査の
電子部品を一端が開放するスティック、マガジン等の収
納容器内に所定個数収納している。デバイスを収納した
スティックはストッカ内に積層待機されており、検査時
に最下段のものから順次デバイス供給位置に移動されて
開口端側を下方に向けて所定角度傾斜される。すると、
スティック内の電子部品は自重によってシュート上に順
次排出供給され、シュート上を滑動して測定部へ導かれ
る。
[Prior Art] Conventionally, molded electronic parts such as ICs, capacitors, and discrete devices (collectively, electronic parts)
In the apparatus for inspecting, sorting, marking, etc., a predetermined number of uninspected electronic components are stored in a storage container such as a stick or a magazine whose one end is open. The sticks containing the devices are stacked and waiting in the stocker, and at the time of inspection, the sticks are sequentially moved from the bottommost one to the device supply position and tilted at a predetermined angle with the opening end side facing downward. Then,
The electronic components in the stick are sequentially discharged and supplied onto the chute by their own weight, and slide on the chute to be guided to the measuring unit.

第5図はこのような電子部品の検査装置の従来例を示す
もので、1は多数の電子部品2を整列収納するスティッ
ク、はローディング部4に設置され多数のスティック1
を収納するストッカ(デバイス収納部)、5はデバイス
2を搬送するシュートである。ストッカ3内のスティッ
ク1は開口端が下に向くように反時計方向に回動されて
シュート5と同一傾斜角度に設定保持されることによ
り、電子部品2をシュート5上に排出する。電子部品2
はリードを下に向けてシュート5上に排出され、自重に
よって滑動して略垂直な測定部6に一個ずつ順次導か
れ、テスタ7によって特性測定される。測定部6の上方
には上下方向に回動自在な反転装置8が設けられてお
り、これによって電子部品2の前後を逆にし、リードを
テスタ7側に向けることでテスタ7による測定を容易に
すると共に、アンローディング時の上下方向の向きがロ
ーディング時と同じになるようにしている。
FIG. 5 shows a conventional example of such a device for inspecting electronic parts, 1 is a stick for aligning and storing a large number of electronic parts 2, and a large number of sticks 1 are installed in a loading section 4.
A stocker (device storage unit) 5 for storing the device 2 is a chute for conveying the device 2. The stick 1 in the stocker 3 is rotated counterclockwise so that the opening end faces downward and is set and held at the same inclination angle as the chute 5, so that the electronic component 2 is ejected onto the chute 5. Electronic component 2
Are discharged onto the chute 5 with their leads facing downward, are slid by their own weight, are sequentially guided one by one to the substantially vertical measuring unit 6, and are characteristic-measured by the tester 7. A reversing device 8 which is rotatable in the vertical direction is provided above the measuring section 6, whereby the front and rear of the electronic component 2 are reversed and the leads are directed to the tester 7 side, thereby facilitating the measurement by the tester 7. In addition, the vertical direction during unloading is the same as that during loading.

テスタ7によって特性測定された電子部品2は各カテゴ
リへその性能に応じて分類され、選別シュート9を通っ
てアンローディグ部10に設置された空のスティック11に
順次収納され、次工程に搬送される。
The electronic components 2 whose characteristics have been measured by the tester 7 are classified into respective categories according to their performances, passed through the sorting chute 9 and sequentially stored in the empty stick 11 installed in the unloading section 10, and transported to the next process. .

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、このような従来の電子部品の検査装置に
おいては、アンローディング時の電子部品2の上下方向
をローディング時と同じにするため、反転装置8によっ
て電子部品2を一個ずつ前後反転させる必要があるた
め、それに時間を要し、電子部品2の搬送、測定速度を
早くすることができず、またデバイスジャム、摩耗など
により装置の稼働率および信頼性を低下させると云う問
題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, in such a conventional electronic component inspection apparatus, since the up-down direction of the electronic component 2 at the time of unloading is the same as that at the time of loading, the electronic component 2 is reversed by the reversing device 8. Since it is necessary to invert back and forth one by one, it takes time, it is not possible to speed up the transportation and measurement speed of the electronic component 2, and device jamming, abrasion, etc. reduce the operating rate and reliability of the device. There was a problem called.

したがって、本発明は上記したような従来の問題点に鑑
みてなされたもので、その目的とするところは、比較的
簡単な構成で搬送途中において電子部品を前後反転させ
る必要がなく、迅速に搬送、測定することができ、また
電子部品のジャム、摩擦による停止等を防止し得、装置
の稼働率および信頼性を向上させるようにした電子部品
の搬送装置を提供することにある。
Therefore, the present invention has been made in view of the above-described conventional problems, and an object of the present invention is to relatively quickly transport an electronic component without having to reverse the electronic component in the middle of transportation with a relatively simple configuration. An object of the present invention is to provide an electronic component conveying device that can perform measurement and can prevent jamming of electronic components, stoppage due to friction, etc., and improve the availability and reliability of the device.

[課題を解決するための手段] 本発明は上記目的を達成するため、多数の電子部品を収
納するデバイス収納部と、回動軸に設けられ該回動軸の
間欠的回動に伴い一方がデバイス受取位置に移動される
と他方がデバイス排出位置に移動されて交互にその位置
を入れ替え、前記デバイス受取位置に移動されると前記
デバイス収納部から所定数の電子部品の供給を受け、デ
バイス排出位置に移動されると前記デバイス収納部から
受け取った電子部品を排出する2本のクロスシュート
と、前記クロスシュートから排出される電子部品を受け
取り測定部に薄くシュートとを備え、前記2本のクロス
シュートは、一端開口部がデバイス入口兼出口を形成し
て前記回動軸にその軸線を挟んで両側に、且つ垂直面内
にて前記軸線と略同一角度で交叉するよう点対称に配設
され、デバイス受取位置に移動されると前記開口端側を
上に向けて傾斜され、デバイス排出位置に移動されると
前記開口端側を下に向けて傾斜されるようにしたもので
ある。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention provides a device housing portion for housing a large number of electronic components, and one of the device housing portions provided on the rotary shaft in response to intermittent rotation of the rotary shaft. When the device is moved to the device receiving position, the other is moved to the device discharging position and the positions thereof are alternately exchanged. When the device is moved to the device receiving position, a predetermined number of electronic components are supplied from the device storing portion and the device is discharged. Two cross chutes for discharging the electronic components received from the device storage portion when moved to a position, and a thin chute for receiving the electronic components discharged from the cross chutes in the measuring portion are provided. The chute has a point that one end of the chute forms a device inlet / outlet and intersects with the rotation axis on both sides of the axis and at a substantially same angle as the axis in a vertical plane. Arranged symmetrically, the opening end side is inclined upward when moved to the device receiving position, and the opening end side is inclined downward when moved to the device discharging position Is.

[作用] 本発明において、回動軸は一回の間欠的回動により、2
つのクロスシュートを反転させてその位置関係を入れ替
え、一方をデバイス受取位置からデバイス排出位置に、
他方をデバイス排出位置からデバイス受取位置へ移動さ
せる。次の間欠的回動により元の状態に戻す。デバイス
受取位置に移動されたクロスシュートは、開口端部を上
に向けて傾斜され、デバイス供給部より電子部品の供給
を受ける。デバイス排出位置に移動されたクロスシュー
トは、開口部を下に向けて反転され、内部の電子部品を
シュート上に排出する。
[Operation] In the present invention, the rotating shaft is rotated two times by one intermittent rotation.
Invert the two cross chutes and swap the positional relationship, one from the device receiving position to the device discharging position,
The other is moved from the device ejection position to the device reception position. Return to the original state by the next intermittent rotation. The cross chute, which has been moved to the device receiving position, is inclined with its opening end facing upward, and receives the supply of electronic components from the device supply unit. The cross chute that has been moved to the device ejection position is turned upside down and ejects the internal electronic components onto the chute.

[実施例] 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
[Examples] Hereinafter, the present invention will be described in detail based on Examples shown in the drawings.

第1図は本発明に係る電子部品の搬送装置の一実施例を
示す要部正面図、第2図は第1図のA矢視図、第3図は
第1図のB矢視図、第4図は同装置の正面図である。な
お、図中第5図と同一構成部品のものに対しては同一符
号を以て示す。これらの図において、15は検査装置本
体、16は内部が所定温度(例:+150℃〜−50℃)に保
持された恒温槽、17はオペレーションボックス、18は空
のスティック11の収納容器、19はデバイス供給位置20に
配設された供給シュート、21、22は供給シュート19に対
応して配設されたクロスシュートである。
FIG. 1 is a front view of a main part showing an embodiment of an electronic component carrying device according to the present invention, FIG. 2 is a view taken in the direction of arrow A in FIG. 1, and FIG. 3 is a view taken in the direction of arrow B in FIG. FIG. 4 is a front view of the device. The same components as those shown in FIG. 5 are designated by the same reference numerals. In these figures, 15 is an inspection apparatus main body, 16 is a thermostatic chamber whose inside is kept at a predetermined temperature (eg, + 150 ° C to -50 ° C), 17 is an operation box, 18 is an empty stick 11 storage container, 19 Is a supply chute arranged at the device supply position 20, and 21 and 22 are cross chutes arranged corresponding to the supply chute 19.

前記恒温槽16は、低温テストや高温テストを行うために
設けられるもので、内部の空気温度を一定に保ち、前記
クロスシュート21、22から常温で送られてくるデバイス
2を所定温度に冷却したり、加熱したりする。電子部品
2は、シュート5を通って前記恒温槽16内のマルチシュ
ート(図示せず)に導かれ、所定温度に加熱もしくは冷
却される。なお、デバイスサイズが小さく熱容量が小さ
い電子部品の場合は短時間で冷却もしくは加熱されるた
め、マルチシュートにする必要がない。いずれにして
も、所定温度に達した電子部品2は、一個ずつ分離され
て測定部6へ送られてテスタ7により特性測定され、し
かる後分類シャトル(図示せず)によって測定結果に基
づいて収納容器18内の指定された分類カテゴリのスティ
ック11内に収納されることは従来装置と同様である。
The constant temperature chamber 16 is provided to perform a low temperature test and a high temperature test, keeps the internal air temperature constant, and cools the device 2 sent from the cross chutes 21, 22 at room temperature to a predetermined temperature. Or heating. The electronic component 2 is guided through a chute 5 to a multi-chute (not shown) in the constant temperature bath 16 and heated or cooled to a predetermined temperature. In the case of an electronic component having a small device size and a small heat capacity, it can be cooled or heated in a short time, and thus it is not necessary to use a multi-shoot. In any case, the electronic components 2 that have reached the predetermined temperature are separated one by one and sent to the measurement unit 6 and the characteristics are measured by the tester 7, and then stored based on the measurement results by the classification shuttle (not shown). It is similar to the conventional device that it is stored in the stick 11 of the designated classification category in the container 18.

前記2本のクロスシュート21、22は同一形状で、同一長
さに形成され、前記供給シュート19側端がそれぞれ開口
してデバイス入口兼出口24、25を形成している。また、
クロスシュート21、22は、前記デバイス供給位置20に配
設された水平な回動軸26にその軸線Lを挟んで両側に、
且つ垂直面内にて前記軸線Lと略同一角度で交叉するよ
う点対称に配設されている。したがって、これらのクロ
スシュート21、22が軸線Lを中心として回転すると、前
記デバイス入口兼出口24、25は、同一の運動軌跡を描
く。また、前記シュート5の上端開口部は、前記軸線L
を挟んで前記供給シュート19の下端開口部と対称な位置
にある。但し、シュート5と供給シュート19とは、クロ
スシュート21、22と同一の間隔だけ軸線Lを挟んで前後
方向にずれている。
The two cross chutes 21 and 22 have the same shape and the same length, and the ends on the side of the supply chute 19 are opened to form device inlets / outlets 24 and 25, respectively. Also,
The cross chutes 21 and 22 are provided on both sides of the horizontal rotation shaft 26 disposed at the device supply position 20 with the axis L interposed therebetween.
Moreover, they are arranged point-symmetrically so as to intersect with the axis L at substantially the same angle in the vertical plane. Therefore, when these cross chutes 21 and 22 rotate about the axis L, the device inlet / outlet 24 and 25 draw the same motion locus. Further, the upper end opening of the chute 5 has the axis L
It is located at a position symmetrical with the lower end opening of the supply chute 19 with respect to. However, the chute 5 and the supply chute 19 are offset in the front-rear direction with the same interval as the cross chutes 21 and 22 with the axis L interposed therebetween.

前記回動軸26は、ロータリーアクチュエータ27によって
時計および反時計方向に交互に180度だけ間欠的に回動
されるもので、これによって前記クロスシュート21、22
を上下反転させると共に、その位置関係を交互に入れ替
え、デバイス受取位置28とデバイス排出位置29に移動さ
せるようにしている。
The rotary shaft 26 is intermittently rotated by 180 degrees alternately in the clockwise and counterclockwise directions by the rotary actuator 27, whereby the cross shoots 21, 22 are rotated.
Is turned upside down, and the positional relationship is alternately changed so that the device is moved to the device receiving position 28 and the device discharging position 29.

第1図、第2図および第4図は一方のクロスシュート21
をデバイス受取位置28に、他方のクロスシュート22をデ
バイス排出位置29に移動させた状態を示す。この時、一
方のクロスシュート21は、前記供給シュート19と中心を
一致させて同一傾斜角度で右下がりに傾斜されてデバイ
ス入口兼出口24が前記供給シュート19の下端開口部と近
接対向し、スティック1より排出された電子部品2がリ
ードを下にして前記供給シュート19を通って収納され
る。他方のクロスシュート22は、上下反転されてシュー
ト5と中心を一致させて同一角度で左下がりに傾斜さ
れ、デバイス入口兼出口25がシュート21の始端側開口部
と近接対向することにより、内部に収納されている電子
部品2を前記シュート5上に排出する。また、各クロス
シュート21、22の下面、すなわちデバイス受取位置28に
設定保持されている際下となる面で前記デバイス入口兼
出口24、25端部寄りには、クロスシュートの長手方向に
長いセンサ用スリット33、34がそれぞれ形成されてい
る。そして、このような構成からなるクロスシュート2
1、22は、前記回動軸26に設けられたホルダ35にL字状
に取付金具36、37を介してそれぞれ取り付けられてい
る。
1, 2 and 4 show one cross shoot 21
To the device receiving position 28 and the other cross chute 22 to the device discharging position 29. At this time, one cross chute 21 is tilted to the right at the same tilt angle with the center aligned with the supply chute 19 so that the device inlet / outlet 24 closely faces the lower end opening of the supply chute 19 and sticks. The electronic component 2 ejected from 1 is accommodated through the supply chute 19 with the lead down. The other cross chute 22 is turned upside down, is tilted downward at the same angle with the center of the chute 5 aligned, and the device inlet / outlet 25 closely faces the opening on the start end side of the chute 21 so that the inside of The stored electronic component 2 is discharged onto the chute 5. Further, a sensor long in the longitudinal direction of the cross chute is located near the end of the device entrance / exit 24, 25 on the lower surface of each cross chute 21, 22, that is, the surface which is the lower side when set and held at the device receiving position 28. Slits 33, 34 are formed respectively. And a cross shoot 2 with such a configuration
The reference numerals 1 and 22 are attached to a holder 35 provided on the rotary shaft 26 through L-shaped attachment fittings 36 and 37, respectively.

なお、クロスシュート21、22のデバイス入口兼出口24、
25とは反対側端は当然のことながら閉鎖されている。
In addition, the device entrance and exit 24 of the cross chute 21, 22,
The opposite end from 25 is naturally closed.

前記回動軸26の前記クロスシュート21、22側とは反対側
端にはレバー41が設けられており、このレバー41に対応
して基台42上に前記ロータリーアクチュエータ27の回転
の衝撃を吸収する前後一対からなるショックアブソーバ
43a、43bと、回動軸26の回動角度を規制する一対のスト
ッパ44a、44bが設けられている。また、前記基台42には
前記ロータリーアクチュエータ27が設置されている。
A lever 41 is provided at an end of the rotating shaft 26 opposite to the cross shoots 21 and 22, and a shock of rotation of the rotary actuator 27 is absorbed on a base 42 corresponding to the lever 41. Shock absorber consisting of a pair of front and rear
43a, 43b and a pair of stoppers 44a, 44b for restricting the turning angle of the turning shaft 26 are provided. Further, the rotary actuator 27 is installed on the base 42.

前記ローディング部4の下方(デバイス供給位置20の上
方)には、個別送り装置45が配設されており、この個別
送り装置45は、スティック1より供給シュート19内に落
下する電子部品2を1個ずつデバイス受取位置28に待機
しているクロスシュート21内に送り込むように構成され
ている。この時、前記デバイス供給位置20に配設された
光センサ47がクロスシュート21に送り込まれる電子部品
2を検出し、所定個数の電子部品2が収納されると、光
を遮られることで、検出信号を制御部に送出する。そし
て、クロスシュート21と供給シュート19との接続部間に
電子部品2がないことを別のセンサ48a、48bで検出する
と、制御部からの信号によってロータリーアクチュエー
タ27を駆動して回動軸26を180度回動させ、クロスシュ
ート21、22の位置関係を上下逆にし、デバイス受取位置
28にあるクロスシュート21をデバイス排出位置29に、デ
バイス排出位置29にあるクロスシュート22をデバイス受
取位置28に移動させる。なお、前記回動軸26の回動角度
は、センサディスク50に設けた切り込みの数をセンサ52
によって計数することで制御される。
Below the loading section 4 (above the device supply position 20), an individual feeding device 45 is arranged, and the individual feeding device 45 drops the electronic component 2 falling from the stick 1 into the feeding chute 19 It is configured to feed the individual pieces into the cross chute 21 waiting at the device receiving position 28. At this time, the optical sensor 47 arranged at the device supply position 20 detects the electronic components 2 sent to the cross chute 21, and when a predetermined number of electronic components 2 are stored, the light is blocked, so that the detection is performed. The signal is sent to the control unit. Then, when the other sensors 48a and 48b detect that there is no electronic component 2 between the connecting portion between the cross chute 21 and the supply chute 19, the rotary actuator 27 is driven by the signal from the control unit to move the rotary shaft 26. Rotate it 180 degrees and reverse the position of the cross chutes 21 and 22 to get the device receiving position.
The cross chute 21 at 28 is moved to the device discharging position 29, and the cross chute 22 at the device discharging position 29 is moved to the device receiving position 28. The rotation angle of the rotation shaft 26 is determined by the number of cuts provided in the sensor disk 50.
It is controlled by counting by.

前記各クロスシュート21、22の開口端部には内部に取り
込んだ電子部品2がクロスシュートの回転中に落下する
のを防止するストッパ55、56がそれぞれ配設されてお
り、またこれらのストッパ55、56に対応して前記デバイ
ス供給位置20に該ストッパ55、56をON、OFFさせる一対
のシリンダ57、58が前記クロスシュート21、22を挟んで
その上下に配設されている。ストッパ55、56は通常不図
示のスプリングによって付勢されることによりクロスシ
ュート21、22内に突出してデバイス入口兼出口24、25を
それぞれ閉鎖しており、電子部品2の収納、排出時に前
記シリンダ57、58によって動作されることによりデバイ
ス入口兼出口24、25をそれぞれ開放する。すなわち、今
第1図に示すクロスシュート21内に電子部品2を収納
し、クロスシュート22内の電子部品2を排出する場合に
ついて説明すると、上下のシリンダ57、58は、同時に動
作してストッパ55、56をそれぞれスプリングに抗して押
圧し、クロスシュート21、22から退出させる。したがっ
て、各シュート21、22のデバイス入口兼出口24、25が開
き、スティック1内の電子部品2が供給シュート19を通
ってクロスシュート21内に落下収納される一方、クロス
シュート22内の電子部品2が自重によってシュート5上
に排出され恒温槽16に導かれる。クロスシュート21内へ
の電子部品2の収納と、クロスシュート22からの電子部
品2の排出が終了すると、シリンダ57、58はOFFになっ
てストッパ55、56の押圧を解除するため、ストッパ55、
56はスプリングの力によって復帰してクロス−シュート
21、22内に進入し、デバイス入口兼出口24、25を閉じ
る。しかる後、回動軸26の半回転によりクロスシュート
21、22を反転させ、上記と同様な動作が繰り返される。
Stoppers 55 and 56 are provided at the open ends of the cross chutes 21 and 22, respectively, for preventing the electronic component 2 taken inside from falling during rotation of the cross chutes, and these stoppers 55 are also provided. , 56, a pair of cylinders 57, 58 for turning ON / OFF the stoppers 55, 56 at the device supply position 20 are arranged above and below the cross chute 21, 22. The stoppers 55 and 56 are normally biased by a spring (not shown) to project into the cross chutes 21 and 22 to close the device inlet / outlets 24 and 25, respectively, and to store and discharge the electronic component 2, the cylinder The device inlet / outlet 24, 25 is opened by being operated by 57, 58, respectively. That is, the case where the electronic component 2 is housed in the cross chute 21 shown in FIG. 1 and the electronic component 2 in the cross chute 22 is discharged will now be described. The upper and lower cylinders 57 and 58 operate simultaneously and the stopper 55. , 56 are pressed against the springs respectively to cause the cross shoots 21, 22 to exit. Therefore, the device inlets / outlets 24, 25 of the chutes 21, 22 are opened, and the electronic component 2 in the stick 1 is dropped and stored in the cross chute 21 through the supply chute 19 while the electronic components in the cross chute 22 are stored. 2 is discharged onto the chute 5 by its own weight and guided to the constant temperature bath 16. When the storage of the electronic component 2 in the cross chute 21 and the discharge of the electronic component 2 from the cross chute 22 are completed, the cylinders 57 and 58 are turned off to release the pressing of the stoppers 55 and 56.
56 is a cross-shoot by returning by the force of the spring
Enter inside 21, 22 and close the device entrance / exit 24, 25. After that, cross-shooting is performed by half rotation of the rotating shaft 26.
21 and 22 are reversed, and the same operation as above is repeated.

ここで、重要なことはクロスシュート21、22の反転によ
りシュート5に排出される電子部品2が収納時とは反対
に上下反転されて、つまりリードを上に向けて排出され
ることで、以後この状態(第4図参照)を保ちつつ恒温
槽16を通過し、恒温槽通過後下方に方向転換されて垂直
な測定部6に移ることにより、リードが測定部7に向
き、所定の特性測定が行われる。したがって、測定部6
の手前に電子部品2の反転装置を設けて電子部品2を一
つずつ反転させる必要がなく、電子部品2の連続的搬送
を可能にし、搬送および測定時間を短縮することがきる
利点を有している。
Here, the important thing is that the electronic parts 2 ejected to the chute 5 by reversing the cross chutes 21 and 22 are inverted upside down, that is, ejected with the leads facing upward, While keeping this state (see FIG. 4), the lead passes toward the measuring unit 7 by passing through the constant temperature chamber 16, and after passing through the constant temperature chamber, the direction is changed downward to move to the vertical measuring unit 6, and a predetermined characteristic measurement is performed. Is done. Therefore, the measuring unit 6
It is not necessary to provide a reversing device for the electronic components 2 in front of the electronic components 2 to reverse the electronic components 2 one by one, and it is possible to continuously convey the electronic components 2 and to shorten the conveyance and measurement time. ing.

なお、上記実施例は測定部6とデバイス供給位置20との
間に恒温槽16を設置した場合について説明したが、本発
明はこれに特定されるものではなく、恒温槽16を備えな
いものに対してもそのまま適用することができることは
勿論である。
In addition, although the above-mentioned embodiment explained the case where the thermostat 16 was installed between the measurement part 6 and the device supply position 20, the present invention is not limited to this, and the thermostat 16 is not provided. Of course, it can be applied as it is.

[発明の効果] 以上説明したように本発明に係る電子部品の搬送装置
は、デバイス供給位置に2つのクロスシュートを配設
し、これらを間欠的に所定角度回動させて上下反転さ
せ、デバイス受取位置とデバイス排出位置とに交互に移
動させるように構成したので、クロスシュートから排出
される電子部品をシュート上に上下反転させて排出する
ことができる。したがって、従来必要とされていた反転
装置が不要となり、電子部品の連続的搬送を可能にし、
搬送、測定時間を短縮すると共にデバイスジャム、停止
等を防止でき、装置の稼働率および信頼性の向上を図る
ことができる。
[Effects of the Invention] As described above, the electronic component carrying apparatus according to the present invention is provided with two cross chutes at a device supply position, and these are intermittently rotated by a predetermined angle to be turned upside down. Since it is configured to be alternately moved to the receiving position and the device discharging position, the electronic components discharged from the cross chute can be vertically inverted and discharged onto the chute. Therefore, the reversing device, which was required in the past, is no longer necessary, enabling continuous transfer of electronic parts,
It is possible to reduce transportation and measurement time, prevent device jamming, stoppage, etc., and improve the operating rate and reliability of the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明に係る電子部品の搬送装置の一実施例を
示す要部正面図、第2図は第1図のA矢視図、第3図は
第1図のB矢視図、第4図は同装置の正面図、第5図は
従来の電子部品の検査装置を示す概略図である。 1……スティック、2……デバイス、3……ストッカ
(デバイス収納部)、4……ローディング部、5……シ
ュート、6……測定部、7……テスタ、8……反転装
置、10……アンローディング部、20……デバイス供給位
置、21、22……クロスシュート、24、25……デバイス入
口兼出口、26……回動軸、28……デバイス受取位置、29
……デバイス排出位置。
FIG. 1 is a front view of a main part showing an embodiment of an electronic component carrying device according to the present invention, FIG. 2 is a view taken in the direction of arrow A in FIG. 1, and FIG. 3 is a view taken in the direction of arrow B in FIG. FIG. 4 is a front view of the apparatus, and FIG. 5 is a schematic diagram showing a conventional inspection apparatus for electronic components. 1 ... Stick, 2 ... Device, 3 ... Stocker (device storage section), 4 ... Loading section, 5 ... Chute, 6 ... Measuring section, 7 ... Tester, 8 ... Reversing device, 10 ... … Unloading part, 20 …… Device supply position, 21,22 …… Cross chute, 24,25 …… Device inlet / outlet, 26 …… Rotating axis, 28 …… Device receiving position, 29
...... Device ejection position.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】多数の電子部品を収納するデバイス収納部
と、回動軸に設けられ該回動軸の間欠的回動に伴い一方
がデバイス受取位置に移動されると他方がデバイス排出
位置に移動されて交互にその位置を入れ替え、前記デバ
イス受取位置に移動されると前記デバイス収納部から所
定数の電子部品の供給を受け、デバイス排出位置に移動
されると前記デバイス収納部から受け取った電子部品を
排出する2本のクロスシュートと、前記クロスシュート
から排出される電子部品を受け取り測定部に導くシュー
トとを備え、前記2本のクロスシュートは、一端開口部
がデバイス入口兼出口を形成して前記回動軸にその軸線
を挟んで両側に、且つ垂直面内にて前記軸線と略同一角
度で交叉するよう点対称に配設され、デバイス受取位置
に移動されると前記開口端側を上に向けて傾斜され、デ
バイス排出位置に移動されると前記開口端側を下に向け
て傾斜されることを特徴とする電子部品の搬送装置。
1. A device accommodating portion for accommodating a large number of electronic components, and one of which is provided on a rotary shaft and is moved to a device receiving position due to intermittent rotation of the rotary shaft, and the other is at a device ejecting position. When moved to the device receiving position, the electronic parts received from the device storing part are supplied with a predetermined number of electronic components when the device receiving position is moved to the device receiving position. It is provided with two cross chutes for discharging components and a chute for receiving the electronic components discharged from the cross chutes and guiding them to the measuring section. The two cross chutes have an opening at one end forming a device inlet / outlet. Are arranged point-symmetrically on both sides of the axis of rotation about the axis and intersect at substantially the same angle as the axis in a vertical plane, and when moved to the device receiving position, The open end side is inclined toward the top, conveying apparatus of electronic components, characterized in that it is inclined toward the bottom of the opening end side is moved to the device discharge position.
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