JPH07161921A - 使用環境温度監視半導体装置 - Google Patents
使用環境温度監視半導体装置Info
- Publication number
- JPH07161921A JPH07161921A JP5309020A JP30902093A JPH07161921A JP H07161921 A JPH07161921 A JP H07161921A JP 5309020 A JP5309020 A JP 5309020A JP 30902093 A JP30902093 A JP 30902093A JP H07161921 A JPH07161921 A JP H07161921A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- operating environment
- environment temperature
- ring oscillator
- oscillation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体素子自体が使用環境温度を検出し、動
作保証温度範囲外の場合、検出信号を出力する。 【構成】 リングオシレータ１、水晶発振回路２、周波
数比較回路３で構成される。リングオシレータは、使用
環境温度の変化と共に発振周波数が大きく変化する。水
晶発振回路は、使用環境温度が変化しても発振周波数の
変化が小さい。あらかじめ、リングオシレータと水晶発
振回路からの発振周波数の差の許容範囲を設定してお
く。リングオシレータ１から出力される発振周波数と、
水晶発振回路２から出力される発振周波数を、それぞれ
カウンタ５、カウンタ６で測定し、カウンタでの測定結
果を比較論理回路７で比較する。比較結果から、使用環
境温度が動作保証温度範囲外と推測した場合、検出信号
を出力する。
作保証温度範囲外の場合、検出信号を出力する。 【構成】 リングオシレータ１、水晶発振回路２、周波
数比較回路３で構成される。リングオシレータは、使用
環境温度の変化と共に発振周波数が大きく変化する。水
晶発振回路は、使用環境温度が変化しても発振周波数の
変化が小さい。あらかじめ、リングオシレータと水晶発
振回路からの発振周波数の差の許容範囲を設定してお
く。リングオシレータ１から出力される発振周波数と、
水晶発振回路２から出力される発振周波数を、それぞれ
カウンタ５、カウンタ６で測定し、カウンタでの測定結
果を比較論理回路７で比較する。比較結果から、使用環
境温度が動作保証温度範囲外と推測した場合、検出信号
を出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体素子の使用環境
温度が動作保証温度範囲内であるかを監視し、動作保証
温度範囲外に達した場合には、使用環境温度が動作保証
温度範囲外であることを検出し、信号を出力する半導体
回路に関するものである。
温度が動作保証温度範囲内であるかを監視し、動作保証
温度範囲外に達した場合には、使用環境温度が動作保証
温度範囲外であることを検出し、信号を出力する半導体
回路に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】通常、半導体素子は、製品規格書に記載
している動作保証温度範囲内での使用を前提としている
ため、動作保証温度範囲外での動作については、考慮さ
れていない。使用環境温度が動作保証温度範囲外であっ
ても、動作保証温度範囲外で使用されていることを検出
するような機能は付いていない。
している動作保証温度範囲内での使用を前提としている
ため、動作保証温度範囲外での動作については、考慮さ
れていない。使用環境温度が動作保証温度範囲外であっ
ても、動作保証温度範囲外で使用されていることを検出
するような機能は付いていない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来で
は、半導体素子が動作保証温度範囲外で使用されたこと
により半導体素子が誤動作をしていても、使用者に警告
がなされないという欠点を有していた。
は、半導体素子が動作保証温度範囲外で使用されたこと
により半導体素子が誤動作をしていても、使用者に警告
がなされないという欠点を有していた。
【０００４】本発明は、前記従来の問題を解決するため
のもので、半導体素子自体が、使用環境温度をチェック
し、動作保証温度範囲外にある場合、異常を示す信号を
出力することを目的とする。
のもので、半導体素子自体が、使用環境温度をチェック
し、動作保証温度範囲外にある場合、異常を示す信号を
出力することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の使用環境温度監視半導体装置は、リングオシ
レータ、水晶発振回路、周波数比較回路からなる。本発
明の使用環境温度監視半導体装置の使用環境温度の監視
方法は、リングオシレータの使用温度による発振周波数
特性の変化が大きいことと、水晶発振回路の使用環境温
度による発振周波数特性の変化が小さいことを利用し
て、リングオシレータおよび水晶発振回路から出力され
る発振周波数を周波数比較回路で比較することで、使用
環境温度を推測し、検出信号を出力する。
に本発明の使用環境温度監視半導体装置は、リングオシ
レータ、水晶発振回路、周波数比較回路からなる。本発
明の使用環境温度監視半導体装置の使用環境温度の監視
方法は、リングオシレータの使用温度による発振周波数
特性の変化が大きいことと、水晶発振回路の使用環境温
度による発振周波数特性の変化が小さいことを利用し
て、リングオシレータおよび水晶発振回路から出力され
る発振周波数を周波数比較回路で比較することで、使用
環境温度を推測し、検出信号を出力する。
【０００６】
【作用】この構成によって、リングオシレータから出力
される周波数と水晶発振回路から出力される発振周波数
の比較を行う。水晶発振回路は、使用環境温度による発
振特性の変化が小さい。一方、リングオシレータは、使
用環境温度による発振周波数特性の変化が大きい。予め
リングオシレータと水晶発振回路との発振周波数差の許
容範囲を設定しておくことで、リングオシレータから出
力される発振周波数と水晶発振回路から出力される発振
周波数の比較結果から半導体素子の使用環境温度を推測
することができ、検出信号を出力することができる。
される周波数と水晶発振回路から出力される発振周波数
の比較を行う。水晶発振回路は、使用環境温度による発
振特性の変化が小さい。一方、リングオシレータは、使
用環境温度による発振周波数特性の変化が大きい。予め
リングオシレータと水晶発振回路との発振周波数差の許
容範囲を設定しておくことで、リングオシレータから出
力される発振周波数と水晶発振回路から出力される発振
周波数の比較結果から半導体素子の使用環境温度を推測
することができ、検出信号を出力することができる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図１のブ
ロック図を参照しながら説明する。
ロック図を参照しながら説明する。
【０００８】図１において、１はリングオシレータ、２
は水晶発振回路、３は周波数比較回路、４は検出信号出
力端子、５はリングオシレータ１の発振周波数測定用カ
ウンタ、６は水晶発振回路２の発振周波数測定用カウン
タ、７は比較論理回路である。
は水晶発振回路、３は周波数比較回路、４は検出信号出
力端子、５はリングオシレータ１の発振周波数測定用カ
ウンタ、６は水晶発振回路２の発振周波数測定用カウン
タ、７は比較論理回路である。
【０００９】半導体素子の電源が入るとリングオシレー
タ１と水晶発振回路２は、発振を始める。リングオシレ
ータ１と水晶発振回路からのそれぞれの発振周波数は、
それぞれカウンタ５およびカウンタ６により、測定され
る。次に、カウンタ５およびカウンタ６で測定された結
果は、比較論理回路７によって、比較される。このと
き、リングオシレータ１からの周波数を測定しているカ
ウンタからの信号の遅れは、設定した許容範囲を持たさ
れて、水晶発振回路からの周波数を測定しているカウン
タ６からの信号と比較される。
タ１と水晶発振回路２は、発振を始める。リングオシレ
ータ１と水晶発振回路からのそれぞれの発振周波数は、
それぞれカウンタ５およびカウンタ６により、測定され
る。次に、カウンタ５およびカウンタ６で測定された結
果は、比較論理回路７によって、比較される。このと
き、リングオシレータ１からの周波数を測定しているカ
ウンタからの信号の遅れは、設定した許容範囲を持たさ
れて、水晶発振回路からの周波数を測定しているカウン
タ６からの信号と比較される。
【００１０】動作保証温度範囲内では、リングオシレー
タ１と水晶発振回路２からのそれぞれの発振周波数の差
は、設定許容範囲内にあるため、周波数比較回路３は、
正常な使用環境温度を示す信号を出力する。
タ１と水晶発振回路２からのそれぞれの発振周波数の差
は、設定許容範囲内にあるため、周波数比較回路３は、
正常な使用環境温度を示す信号を出力する。
【００１１】動作保証温度範囲外では、リングオシレー
タ１と水晶発振回路２からのそれぞれの発振周波数の差
は、設定許容範囲外になるため、異常と判断され、周波
数比較回路３は、使用環境が異常であることを示す信号
を出力する。
タ１と水晶発振回路２からのそれぞれの発振周波数の差
は、設定許容範囲外になるため、異常と判断され、周波
数比較回路３は、使用環境が異常であることを示す信号
を出力する。
【００１２】
【発明の効果】本発明は、リングオシレータ、水晶発振
回路、周波数比較回路を設けることにより、半導体素子
の使用環境温度が、動作保証温度範囲外の場合、検出信
号を出力することができる使用環境温度監視半導体装置
を実現するものである。
回路、周波数比較回路を設けることにより、半導体素子
の使用環境温度が、動作保証温度範囲外の場合、検出信
号を出力することができる使用環境温度監視半導体装置
を実現するものである。
【図１】本発明の一実施例におけるブロック構成図
１ リングオシレータ ２ 水晶発振回路 ３ 周波数比較回路 ４ 検出信号出力端子 ５ カウンタ ６ カウンタ ７ 比較論理回路
Claims (1)
- 【請求項１】 リングオシレータと、水晶発振回路と、
前記リングオシレータから出力される周波数と水晶発振
回路から出力される周波数を比較する比較回路からなる
使用環境温度監視半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5309020A JPH07161921A (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | 使用環境温度監視半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5309020A JPH07161921A (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | 使用環境温度監視半導体装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07161921A true JPH07161921A (ja) | 1995-06-23 |
Family
ID=17987918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5309020A Pending JPH07161921A (ja) | 1993-12-09 | 1993-12-09 | 使用環境温度監視半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07161921A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003108241A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 温度検知回路 |
| US7066643B2 (en) * | 2003-12-22 | 2006-06-27 | Sunplus Technology Co,Ltd. | Radio frequency temperature sensor and method of calibrating temperature therefor |
| JP2007134031A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Hynix Semiconductor Inc | 温度検出装置 |
| KR100800470B1 (ko) * | 2006-01-11 | 2008-02-01 | 삼성전자주식회사 | 링 오실레이터로 구현된 온도 센서 및 이를 이용한 온도검출 방법 |
-
1993
- 1993-12-09 JP JP5309020A patent/JPH07161921A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003108241A (ja) * | 2001-09-27 | 2003-04-11 | Sanyo Electric Co Ltd | 温度検知回路 |
| US7066643B2 (en) * | 2003-12-22 | 2006-06-27 | Sunplus Technology Co,Ltd. | Radio frequency temperature sensor and method of calibrating temperature therefor |
| JP2007134031A (ja) * | 2005-11-09 | 2007-05-31 | Hynix Semiconductor Inc | 温度検出装置 |
| KR100800470B1 (ko) * | 2006-01-11 | 2008-02-01 | 삼성전자주식회사 | 링 오실레이터로 구현된 온도 센서 및 이를 이용한 온도검출 방법 |
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