JPH07162072A - 半導体異種構造レーザー - Google Patents

半導体異種構造レーザー

Info

Publication number
JPH07162072A
JPH07162072A JP5332175A JP33217593A JPH07162072A JP H07162072 A JPH07162072 A JP H07162072A JP 5332175 A JP5332175 A JP 5332175A JP 33217593 A JP33217593 A JP 33217593A JP H07162072 A JPH07162072 A JP H07162072A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
light
semiconductor substrate
waveguide
active
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5332175A
Other languages
English (en)
Inventor
Alexander A Chelny
アレクサンダ エー チェルニ
Se-Yang Park
セ−ヤン パク
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Samsung Electronics Co Ltd filed Critical Samsung Electronics Co Ltd
Publication of JPH07162072A publication Critical patent/JPH07162072A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/026Monolithically integrated components, e.g. waveguides, monitoring photo-detectors, drivers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/35Non-linear optics
    • G02F1/37Non-linear optics for second-harmonic generation
    • G02F1/377Non-linear optics for second-harmonic generation in an optical waveguide structure
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/14External cavity lasers
    • H01S5/141External cavity lasers using a wavelength selective device, e.g. a grating or etalon
    • H01S5/143Littman-Metcalf configuration, e.g. laser - grating - mirror
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/20Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers
    • H01S5/22Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure
    • H01S5/2205Structure or shape of the semiconductor body to guide the optical wave ; Confining structures perpendicular to the optical axis, e.g. index or gain guiding, stripe geometry, broad area lasers, gain tailoring, transverse or lateral reflectors, special cladding structures, MQW barrier reflection layers having a ridge or stripe structure comprising special burying or current confinement layers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/0604Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium comprising a non-linear region, e.g. generating harmonics of the laser frequency
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/183Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
    • H01S5/18308Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] having a special structure for lateral current or light confinement
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/10Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
    • H01S5/18Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities
    • H01S5/183Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL]
    • H01S5/18344Surface-emitting [SE] lasers, e.g. having both horizontal and vertical cavities having only vertical cavities, e.g. vertical cavity surface-emitting lasers [VCSEL] characterized by the mesa, e.g. dimensions or shape of the mesa
    • H01S5/18352Mesa with inclined sidewall
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/32Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
    • H01S5/3202Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures grown on specifically orientated substrates, or using orientation dependent growth
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/30Structure or shape of the active region; Materials used for the active region
    • H01S5/32Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures
    • H01S5/3211Structure or shape of the active region; Materials used for the active region comprising PN junctions, e.g. hetero- or double- heterostructures characterised by special cladding layers, e.g. details on band-discontinuities

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 基本光の周波数の2倍の周波数を有する光を
効率的に発生させる。 【構成】 半導体異種構造レーザーは、半導体基板と、
多層光出力部と、活性非線形導波部とを含む。多層光出
力部は、基本周波数の基本光を出力する光源として作用
する。活性非線形導波部は、基本光を吸収し、基本光の
周波数を2倍として結局2倍周波数光を出力する多数の
多層異種構造を含む。多層異種構造は発振器構造を有す
る。効率的な動作のため、第1屈折的ミラーが半導体基
板と多層光出力部との間に形成され、第2屈折的ミラー
が多層光出力部と活性非線形導波部との間に形成され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置、特に、高
周波数レーザービームを発生する半導体異種構造レーザ
ーに関する。
【0002】
【従来の技術】最近、可視光領域において高周波数レー
ザービームを得るため、レーザーダイオードのような光
源から発生されたレーザービームの周波数を2倍にする
技術が使われている。従来より、周波数を2倍にするた
めの構造としては光学的非線形結晶が使われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】光学的非線形結晶は、
光源と光学的非線形結晶との間の不整合により効率的に
周波数逓倍を行うことができない。本発明の目的は、基
本光の周波数の2倍の周波数を有する光を効率的に発生
させることにある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明に係る半導体異種
構造レーザーは、半導体基板と、基本周波数の基本光を
発生するために前記半導体基板上に形成されている多層
光出力部と、少なくとも一つの多層異種構造を含み、多
層異種構造は発振器構造を有し、前記基本光を吸収して
その周波数を2倍にして2倍の周波数光を出力する活性
非線形導波部とを備えている。
【0005】半導体異種構造レーザーは、好適には、前
記半導体基板と前記多層光出力部との間に形成され、前
記多層光出力部から前記半導体基板への前記基本光の伝
播を防ぐ第1屈折的ミラーと、前記活性非線形導波部か
ら前記多層光出力部に2倍周波数光の伝播を防ぐために
前記多層光出力部と前記活性非線形導波部との間に形成
されている第2屈折的ミラーとをさらに備える。
【0006】前記第1屈折的ミラーは、それぞれ第1ア
ルミニウム成分比を有し、第1導電型である多数の第1
AlGaAs層の群と、それぞれ前記第1アルミニウム
成分比より低い第2アルミニウム成分比を有し、第1導
電型である多数の第2AlGaAs層の群とを備え、前
記第1AlGaAs層群及び前記第2AlGaAs群は
前記半導体基板上に超格子状態でかつ交互的に形成され
ているのが好ましい。
【0007】前記第2屈折的ミラーは、それぞれ第3ル
ミニウム成分比を有する多数の第3AlGaAs層の群
と、それぞれ前記第3アルミニウム成分比より高い第4
アルミニウム成分比を有する多数の第4AlGaAs層
の群とを備え、前記第3AlGaAs層群及び前記第4
AlGaAs群は前記多層光出力部上に超格子状態でか
つ交互的に形成されているのが好ましい。
【0008】前記多層光出力部は、第1導電型の不純物
がドーピングされている少なくとも一つの下部クラッデ
ィング層と、基本周波数の基本光を発生する少なくとも
一つの光出力活性層と、第2導電型の不純物がドーピン
グされているそれぞれ前記基本光を伝送するために前記
光出力活性層のバンドギャップより大きいバンドギャッ
プを有する少なくとも一つの上部クラッディング層とを
備え、前記下部クラッディング層、前記光出力活性層及
び前記上部クラッディング層が前記半導体基板の上部に
順次的にかつ交換的に形成されているのが好ましい。こ
こで、前記下部クラッディング層、前記光出力活性層及
び前記上部クラッディング層はそれぞれAlGaAsよ
り構成されるのが好ましい。前記多層光出力部は、ドー
ピング濃度が前記上部クラッディング層のドーピング濃
度より低く、第2導電型の不純物がドーピングされてい
るコンタクト層をさらに含むのが好ましい。多層光出力
部は、AlGaAs/GaAs−ストレインド(strain
ed) InGaAs物質より構成されることもできる。
【0009】前記活性非線形導波部に含まれる前記多層
異種構造は、第1屈折率の第1導波層と、前記第1導波
層上に形成されており、前記多層光出力部から放出され
る前記基本光を吸収するに適合したバンドギャップを有
するレージング活性層と、前記レージング活性層上に形
成されており、前記第1屈折率と等しい第2屈折率を有
する第2導波層と、前記第2導波層上に形成されてお
り、前記第1屈折率より低い第3屈折率を有する第3導
波層とを備えているのが好ましい。
【0010】前記活性非線形導波部に含まれる多層光出
力部は、第1屈折率の第1導波層と、前記第1導波層上
に形成されており、前記第1屈折率より高い第2屈折率
を有する第2導波層と、前記第2導波層上に形成されて
おり、前記多層光出力部から放出される前記基本光を吸
収するに適合したバンドギャップを有するレージング活
性層と、前記レージング活性層上に形成されており、前
記第2屈折率と等しい第3屈折率を有する第3導波層
と、前記第3導波層上に形成されており、前記第1屈折
率と等しい第4屈折率を有する第4導波層とを含んでい
てもよい。ここで、前記第1、第2、第3、第4導波層
はAlGaAsより構成され、前記レージング活性層は
InGaAsより構成されるのが好ましい。
【0011】前記半導体基板は(111)である面指数
を有するのが好ましく、前記活性非線形導波部は前記基
本光を反射するためにそれぞれ誘電的多層のミラーによ
りコーティングされた前面及び背面を有するのが好まし
い。本発明による半導体異種構造レーザーにおいて、次
のような変形も可能である。 (1)第2屈折的ミラー及び活性非線形導波部はリッジ
構造で形成されており、非反射誘電的コーティング層が
前記活性非線形導波部の上部表面上に形成されており、
オーミックコンタクト層が半導体基板の下部表面上に形
成されている。 (2)電流遮断層はグルーブ状のチャンネルを形成する
ために、前記半導体基板上に選択的に位置し、第1屈折
的ミラー及び多層光出力部が前記チャンネルのグルーブ
状を保ちながら順次的に形成されている。第2屈折的ミ
ラー及び活性非線形導波部はリッジを形成すると共に、
チャンネルのグルーブ状を保ちながら順次に形成されて
いる。半導体基板の下部表面は第1オーミックコンタク
ト層によりコーティングされる反面、多層光出力部は第
2オーミックコンタクト層によりコーティングされる。
活性非線形導波部の上部表面は非反射誘電層によりコー
ティングされる。 (3)電流遮断層はチャンネルを形成するために半導体
基板内に選択的に形成されており、第1屈折的ミラーは
前記チャンネルを上部に位置したグルーブ状を有し、多
層光出力部、第2屈折的ミラー及び活性非線形導波部は
前記第1屈折的ミラーのグルーブ構造の形態を保ちなが
ら順次的に形成されている。非反射誘電コーティング層
は活性非線形導波部の表面上に形成されている。ここ
で、第2屈折的ミラー活性非線形導波部及び非反射誘電
コーティング層はリッジを形成する。ひいては、第1オ
ーミックコンタクト層が半導体基板の下部に形成されて
おり、第2オーミックコンタクト層が多層光出力部の上
部表面上の残り部位上に形成されている。 (4)第1オーミックコンタクト層は半導体基板の下部
表面上に形成されており、電流遮断層はグルーブ状のチ
ャンネルを形成するために半導体基板の上部表面上に選
択的に形成されており、第1屈折的ミラー及び多層光出
力部はチャンネルのグルーブ状を保ちながら順次に形成
されており、中間媒介層が多層光出力部の上部表面上に
選択的に形成され、第2屈折的ミラー活性非線形導波部
及び非反射誘電的コーティング層よりなされたリッジの
一部分をなす。
【0012】
【作用】本発明は基本光を生じる光出力部と基本光の周
波数を逓倍する活性非線形導波部がモノリシックに形成
され、基本光の周波数の2倍の周波数を有する高周波数
可視光レーザービームを効率的に生じさせる。
【0013】
【実施例】図1において、本発明の一実施例としての半
導体異種構造レーザーは半導体基板101、多層光出力
部102及び活性非線形導波部103を備えている。半
導体基板101は(111)面指数を有し、不純物(例
えばn型不純物)が1018dopants /cm3 濃度でドーピ
ングされている。半導体基板101はA3 5 またはA
2 6 より構成されたものである。なお、A3 は周期律
表において第3族に含まれる物質を示し、B5 は周期律
表において第5族に含まれる物質を示し、A2 は周期律
表において第2族に含まれる物質を示し、B6 は周期律
表において第6族に含まれる物質を示す。
【0014】多層光出力部102は半導体基板101の
上部表面上に設けられており、基本周波数の基本光を発
生する光出力活性層を含む多数の層により構成される。
多層光出力部102は従来のLED構造、特に従来のS
ELED(surface-emittingLED)と等価である。従っ
て、基本光は多層光出力部102の表面上を通じて放出
される。活性非線形導波部103は多層光出力部102
の上部表面上に設けられており、レージング活性層を含
む多数の層により構成される。ここで、活性非線形導波
部103に含まれるレージング活性層は、多層光出力部
102の上部表面を通じて伝達される基本光を吸収する
ことができる。吸収された基本光は、活性非線形導波部
103に含まれるレージング活性層に従ってガイドされ
る。活性非線形導波部103は発振器構造(すなわち壁
開されたミラー)を有するもので、それによりガイドさ
れた基本光が壁開されたミラー上で反射される。従っ
て、レージング活性層にはTE(Transverse Electric
)またはTM(Transverse Magnetic )型の、二つの
相互反対方向に伝播される波が存する。相互反対方向に
進む波は結局、導波の表面の垂直方向(すなわち成長方
向)に伝播される2倍周波数光を放出することになる。
【0015】基本光を2倍周波数光に効率的に変換させ
るため、活性非線形導波部103の各層は準位相整合条
件を満たす厚さを有するべきである。言い換えれば、層
の厚さがλ2 ω/2nとなるべきである(ここで、λ2
ωは2倍周波数光の波長を示し、nは各層の屈折率を示
す)。図2は、本発明の他の実施例による半導体異種構
造レーザーを示している。この半導体異種構造レーザー
は、図1に示した半導体異種構造レーザーの構成要素の
他、半導体基板101と多層光出力部102との間に位
置した第1屈折的ミラー104をさらに含む。
【0016】第1屈折的ミラー104は、多層光出力部
102から半導体基板101に基本光が伝播されること
を防ぐことになる。その結果、第1屈折的ミラー104
は基本光のポンピング効率を増加させる。図3は、本発
明のさらに他の実施例による半導体異種構造レーザーを
示している。この半導体異種構造レーザーは、図1に示
した半導体異種構造レーザーの構成要素の他、第1屈折
的ミラー104及び第2屈折的ミラー105をさらに含
む。
【0017】図3において、第1屈折的ミラー104は
半導体基板101と多層光出力部102との間に位置
し、第2屈折的ミラー105は多層光出力部102及び
活性非線形導波部103との間に位置する。前述した通
り、第1屈折的ミラー104は多層光出力部102から
半導体基板101に基本光が伝播されることを防ぐ。第
2屈折的ミラー105は活性非線形導波部103から多
層光出力部102に2倍周波数光が伝播されることを防
ぐことになるが、多層光出力部102から活性非線形導
波部103への伝播は防がない。その結果、第2屈折的
ミラー105は、レージング効率及び2倍周波数光の出
力効率を増加させる。
【0018】図4は、図1ないし図3に示した多層光出
力部102の一実施例を示している。この多層光出力部
102は、下部クラッディング層201、光出力活性層
202及び上部クラッディング層203を含む。光出力
活性層202は下部クラッディング層201の上部表面
上に成長しており、上部クラッディング層203は光出
力活性層202の上部表面上に形成されている。下部ク
ラッディング層201及び上部クラッディング層203
には、それぞれ相異なる導電型の不純物がドーピングさ
れている。さらに、光出力活性層202と二つのクラッ
ディング層201、203との間にはバンドギャップ不
連続が存する。バンドギャップ不連続は光出力活性層2
02からの電流の漏れを防ぐ。
【0019】かかる多層光出力部102は、一般の二重
異種構造の場合のように、電子及び正孔の再結合による
基本周波数の基本光を発生する。基本光は上部クラッデ
ィング層203を通じて伝達されるもので、上部クラッ
ディング層203は基本光を通過(transparent )させ
ることになる。即ち、バンドギャップが光出力活性層の
バンドギャップより高くなる。
【0020】例えば、下部クラッディング層201はn
型不純物が5×1017dopants /cm 3 濃度でドーピング
されているAl0.3 Ga0.7 Asより構成され、光出力
活性層202はドーパントのないAl0.15Ga0.85As
より構成されている。上部クラッディング層203は、
p型不純物が5×1017dopants /cm3 濃度でドーピン
グされているAl0.3 Ga0.7 Asより構成されてい
る。
【0021】さらに、多層光出力部102は、電流分布
が全体的に均一になるのに適合した厚さ及びドーピング
レベルを有するべきである。特に、光出力活性層202
の厚さは、多層光出力部102のp−n接合においてレ
ージングの発生を防ぐために1μmより大きくあるべき
である。例えば、下部クラッディング層201及び上部
クラッディング層203の全てが1μmより大きく、光
出力活性層202が0.5μm〜1μmの範囲の厚さを
有する場合もある。
【0022】図5は、図1ないし図3に示した多層光出
力部102の他の実施例を示している。この多層光出力
部102は、図4に示した多層光出力部102の構成要
素のほか、コンタクト層204をさらに含んでいる。図
5において、コンタクト層204は上部クラッディング
層203の上部表面上に成長している。コンタクト層2
04は、上部クラッディング層203の導電型と等しい
導電型を有する不純物がさらに低い濃度でドーピングさ
れている。例えば、p型不純物が2×1019dopants /
cm3 濃度でドーピングされているAl 0.3 Ga0.7 As
からなる。
【0023】次に、図1ないし図3に示した活性非線形
導波部103について説明するが、その前に、理解の便
宜のため、一般の非活性的な周波数逓倍構造を用いて周
波数逓倍動作を説明する。図6において、一般の非活性
的な周波数の逓倍構造は、GaAs基板601と、多数
のAl0.7 Ga0.3 As層602、604と、多数のA
0.9 Ga0.1 As層603、605とを含む。ここ
で、多数のAl0.7 Ga0.3 As層602、604及び
多数のAl0.9 Ga0.1 As層603、605は、Ga
As基板601の上部表面上に交互的に成長している。
かかる構造において、YAG:Ndレーザーの相互反対
方向に進む光が入射される。もし、相互反対方向に進む
光が会えば周波数逓倍が行われ、その結果相互反対方向
に進む光の垂直の伝播方向を有する2倍周波数光が発生
する。ここで、GaAs基板601の面指数が(11
1)なら、二つのTEモード波が相互反対方向に進む光
として使える。一方、GaAs基板601の面指数が1
00の場合は、相互反対方向に進む光のうち一つはTE
モード波となり、もう一つは−TMモード波となる。
【0024】図7は、図1ないし図3に示した活性非線
形導波部103の一実施例を示している。この活性非線
形導波部103は多数の多層異種構造300を含む。図
7において、一つの多層異種構造300は、導波層30
1、レージング活性層302及び導波層303より構成
される。レージング活性層302は導波層301及び導
波層303との間に形成されている。即ち、導波層30
1、レージング活性層302及び導波層303がドーピ
ングされずに順次成長して形成されている。ここで、導
波層301は導波層303の屈折率と等しい屈折率を有
し、レージング活性層302は多層光出力部102から
放出される基本光を吸収するに適合したバンドギャップ
を有する。
【0025】さらに、導波層301、303は、基本光
を伝達するため、多層光出力部102に含まれる光出力
活性層202のバンドギャップより大きいバンドギャッ
プを有する。図8は、図1ないし図3に示した活性非線
形導波部103の他の実施例を示している。この活性非
線形導波部103は多数の多層異種構造300を含む。
【0026】図8において、活性非線形導波部103に
含まれる一つの多層異種構造300は、導波層304、
305、306及びレージング活性層302より構成さ
れる。レージング活性層302は導波層304の上部表
面上に成長して形成されており、導波層305、306
はレージング活性層302の上部表面上に順次成長して
形成されている。ここで、導波層304は導波層305
の屈折率と等しい屈折率を有し、導波層306は導波層
305の屈折率より低い屈折率を有する。また、図7の
場合と同様に、レージング活性層は多層光出力部102
から放出される基本光を吸収するのに適合したバンドギ
ャップを有する。
【0027】導波層304、305、306は、図7の
場合と同様に、多層光出力部102に含まれる光出力活
性層202のバンドギャップより大きいバンドギャップ
を有する。図9は、図1ないし図3に示した活性非線形
導波部103のさらに他の実施例を示している。この活
性非線形導波部103は順次に成長されている多数の多
層異種構造300を含む。
【0028】図9において、一つの多層異種構造は四つ
の導波層307、308、309、310及びレージン
グ活性層302より構成される。導波層307の上部表
面上には、導波層308、レージング活性層302、導
波層309及び導波層310が順次成長して形成されて
いる。ここで、導波層307は導波層310の屈折率と
等しい屈折率を有し、導波層308は導波層309の屈
折率と等しい屈折率を有する。しかし、導波層307の
屈折率は導波層308の屈折率より低い。言い換えれ
ば、導波層310の屈折率が導波層309の屈折率より
低い。
【0029】活性非線形導波部103のための物質とし
て、導波層307、310はドーピングされていないA
0.9 Ga0.1 Asより構成され、導波層308、30
9はドーピングされていないAl0.7 Ga0.3 Asより
構成される。この場合、レージング活性層302はドー
ピングされていないIn0.25Ga0.75Asより構成され
得る。
【0030】また、導波層307、308、309、3
10は、多層光出力部102に含まれる光出力活性層2
02のバンドギャップより高いバンドギャップを有す
る。図10は、図2及び図3に示した第1屈折的ミラー
104を示している。この第1屈折的ミラーは超格子を
なしている多数の第1二重層ミラー400を含む。図1
0において、第1二重層ミラー400はできるだけ大き
く相異なる屈折率を有する二つの層401、402より
構成される。さらに、層401、402はそれぞれλB
/ni の厚さを有する。ここで、λB は多層光出力部1
02から放出される基本光の波長を示し、ni は基本光
の波長に対する各層の屈折率を示す。
【0031】屈折率の差は物質構成成分比の差による。
物質の例として、層401はn型不純物1018dopants
/cm3 濃度でドーピングされているAl0.7 Ga0.3
sより構成され、層402はn型不純物が10 18dopant
s /cm3 濃度でドーピングされているAl0.12Ga0.88
Asより構成される。ここで、ドーパントは、たとえば
Si、Te、Se、Sまたはその等価物のうちから選択
された一つである。
【0032】ここで、第1二重層ミラーの数が増加する
ほど、第1屈折的ミラー104の反射係数が増加するこ
とになる。さらに詳しい例では、12個の二重層ミラー
は76%の反射率を示し、40個の二重層ミラーは99
・99%の反射率を有する。図11は、図3に示した第
2屈折的ミラー105を示している。この第2屈折的ミ
ラー105は、できるだけ大きく相異なる屈折率を有す
る層501、502よりなされた多数の第2二重層ミラ
ー500を含む。また、第2二重層ミラー500は超格
子状態に形成されている。
【0033】図11において、例えば、層501はドー
ピングされていないAl0.7 Ga0. 3 Asより構成さ
れ、層502はドーピングされていないAl0.9 Ga
0.1 Asより構成される。かかる第2屈折的ミラー10
5は0.53μmの光を反射することになる。第1屈折
率ミラーの場合と同様に、第2二重層ミラーの数が多い
ほど第2屈折的ミラー105の反射率が高くなる。ここ
で、厚さはλ2 ω/4nとなるべきである(λ2 ωは2
倍周波数光の波長を示し、nは各層の屈折率を示す)。
従って、この二重層ミラーは、λ2 ω/4nと関連のな
い基本光を通過させ、2倍周波数光を反射する。
【0034】前記例とは異なり、第1及び第2屈折的ミ
ラー104、105はAlInGaP/AlInP/G
aAs層より構成されうる。その他、これらはGaA
s,InP,GaP,GaAsP,InGaAs,In
GaAsP,GaN,AlN,InN,InGaP,I
nGaAlP,AlGaAs,GaAlAsP,GaA
lN,InGaAlN,ZnSe,ZnSeSTeまた
はその等価物より構成され得る。
【0035】スレショルド電流を低め、活性非線形導波
部上の多層光出力部から放出される基本光をフォーカシ
ングするため、半導体異種構造レーザーのための特別な
構造を使用し得る。図12ないし図15を参照して、そ
の実施例を説明する。図12は、本発明の第1形態学的
実施例による半導体異種構造レーザーを示す。
【0036】この半導体異種構造レーザーは、半導体基
板101、第1屈折的ミラー104、多層光出力部10
2、第2屈折的ミラー105及び活性非線形導波部10
3を含む。さらに、金属層のようなオーミックコンタク
ト層106が半導体基板101の下部表面上に形成され
ており、非反射誘電的コーティング層107が活性非線
形導波部103の上部表面上に形成されている。非反射
誘電的コーティング層107は、最上部表面の反射を減
少させて素子の全体的な出力効率を改善する。
【0037】また、前面及び背面は、ファブリパロット
(Fabri-Parrot) 発振器を形成するために、壁開(clea
ving) により作られる。かかる壁開された表面は光の外
部放出を減少させ、結果的にレージングのためのスレシ
ョルド電流を減少させる。かかる発振器の壁開された表
面は、反射誘電ミラーによりコーティングされる。この
形態学的な構成は、たとえば次の順により形成される。
【0038】第1屈折的ミラー104、多層光出力部1
02、第2屈折的ミラー105及び活性非線形導波部1
03が、面指数が(111)の半導体基板101の上部
に分子線成長法(MBE:molecular beam epitaxy) ,
金属有機分子線成長法(MOMBE:metal organic MB
E)または金属有機化学気相蒸着法(MOCVD:metalor
ganic chemical vapor deposition) により順次成長し
て形成される。その後、非反射誘電的コーティング層1
07が、活性非線形導波部103の上部表面上に選択的
に形成される。より詳細には、ストライプ状の非反射誘
電的コーティング層107がリソグラフィ工程により形
成される。
【0039】次いで、非反射誘電的コーティング層10
7をエッチング保護マスクとして使い、第2屈折的ミラ
ー105及び活性非線形導波部103が、湿式エッチン
グ、イオン反応エッチングまたはそれと同等なエッチン
グ工程により選択的に除去される。結局、かかるエッチ
ングによりリッジ構造が形成される。半導体異種構造レ
ーザーを製造するための他の方法において、多層光出力
部102を成長させた後、リッジ構造を形成するために
多層光出力部102の上部表面上に第2屈折的ミラー1
05及び活性非線形導波部103を所望の成長−防止マ
スクを用いて選択的に成長させる。その後、非反射誘電
的コーティング層107を活性非線形導波部103の上
部表面上に形成する。
【0040】図13は、本発明の第2形態学的実施例に
よる半導体異種構造レーザを示しており、かかる形態学
的構造は電流制限性を増加させる。図13の半導体異種
構造レーザーは、グルーブ状のチャンネルを形成するた
めに半導体基板101の上部表面上に選択的に形成され
るオーミックコンタクト層109及び電流遮断層108
をさらに備える。さらに、第1屈折的ミラー104、多
層光出力部102、第2屈折的ミラー105、活性非線
形導波部103及び非反射誘電的コーティング層107
が、チャンネルのグルーブ状を保ちながら順次成長して
形成されている。そのチャンネルは、外部的に注入され
る電流を効率的に制限する。
【0041】図12の場合と同様に、この半導体異種構
造レーザーは、第2屈折的ミラー105、活性非線形導
波部103及び非反射誘電的コーティング層107より
構成されるリッジ構造を有する。また、多層光出力部1
02の上部表面のうち残りの部位は、金属層のようなオ
ーミックコンタクト層109により覆われる。かかる形
態学的な構造において、第1屈折的ミラー104及び多
層光出力部102を通じて伝達される電流は、電流遮断
層108の妨害によりオーミックコンタクト層109の
下部を通過できない。電流遮断層108は半導体基板1
01の導電型と異なる形態の導電型を有する。
【0042】図14は、本発明の第3形態学的な実施例
による半導体異種構造レーザーを示している。この半導
体異種構造レーザーは、電流遮断層108が半導体基板
101上に選択的に形成されるものではなく、半導体基
板101内に選択的に形成されたグルーブが第1屈折的
ミラー104内に形成されている点以外は類似した形態
学的な構造を有する。
【0043】図15は、本発明の第4形態学的な実施例
による半導体異種構造レーザーを示している。この半導
体異種構造レーザーは、半導体基板101、電流遮断層
108、第1屈折的ミラー104、多層光出力部10
2、中間媒介層110、オーミックコンタクト層10
6、109、非反射誘電的コーティング層107、第2
屈折的ミラー105及び活性非線形導波部103を含
む。
【0044】図15において、電流遮断層108は、電
流制限のためのグルーブ状のチャンネルを形成するた
め、半導体基板101の上部表面上に選択的に形成され
ている。電流遮断層108及び半導体基板101よりな
る表面上には、第1屈折的ミラー104及び多層光出力
部102がチャンネルのグルーブ状を保ちながら順次形
成されている。中間媒介層110は多層光出力部102
の上部表面上に選択的に形成されており、第2屈折的ミ
ラー105、活性非線形導波部103及び非反射誘電的
コーティング層107は中間媒介層110の表面上に順
次に形成されている。この結果、リッジ構造が構成され
るが、このリッジ構造は中間媒介層110、第2屈折的
ミラー105、活性非線形導波部103及び非反射誘電
的コーティング層107により構成される。一方、多層
光出力部102の表面層の残り部位上には金属層のよう
なオーミックコンタクト層109が形成されており、半
導体基板101の下部表面はオーミックコンタクト層1
06により覆われる。
【0045】以上において、本発明は幾つかの特定実施
例と関連して説明されたが、これに限らず本発明の思想
から逸脱しない範囲内で多くの変形が可能である。
【0046】
【発明の効果】半導体異種構造レーザーはモノリシック
でありコンパクトな半導体装置で具現できるもので、基
本光を効果的に2倍周波数光に変換させる。このレーザ
ーは効率的に高周波数の可視光を生ずる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一類型による半導体異種構造レーザー
の概略的な断面図。
【図2】本発明の他の類型による半導体異種構造レーザ
ーの概略的な断面図。
【図3】本発明のさらに他の類型による半導体異種構造
レーザーの概略的な断面図。
【図4】図1ないし図3に示した多層光出力部の一実施
例による概略的な断面図。
【図5】図1ないし図3に示した多層光出力部の他の実
施例による概略的な断面図。
【図6】従来の非活性的な周波数逓倍構造を説明するた
めの概略図。
【図7】図1ないし図3に示した活性非線形導波部の一
実施例による概略的な断面図。
【図8】図1ないし図3に示した活性非線形導波部の他
の実施例による概略的な断面図。
【図9】図1ないし図3に示した活性非線形導波部のさ
らに他の実施例による概略的な断面図。
【図10】図2及び図3に示した第1屈折的ミラーの概
略的な断面図。
【図11】図3に示した第2屈折的ミラーの概略的な断
面図。
【図12】本発明の第1形態学的な実施例による半導体
異種構造レーザーの概略的な断面図。
【図13】本発明の第2形態学的な実施例による半導体
異種構造レーザーの概略的な断面図。
【図14】本発明の第3形態学的な実施例による半導体
異種構造レーザーの概略的な断面図。
【図15】本発明の第4形態学的な実施例による半導体
異種構造レーザーの概略的な断面図。
【符号の説明】 101 半導体基板 102 多層光出力部 103 活性非線形導波部 104 第1屈折的ミラー 105 第2屈折的ミラー 201 下部クラッディング層 202 光出力活性層 203 上部クラッディング層 204 コンタクト層 300 多層異種構造 301、303、305、306 導波層 302 レージング活性層 400 第1二重層ミラー

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体基板と、 基本周波数の基本光を発生するために前記半導体基板上
    に形成されている多層光出力部と、 少なくとも一つの多層異種構造を含み、多層異種構造は
    発振器構造を有し、前記基本光を吸収してその周波数を
    2倍にして2倍の周波数光を出力する活性非線形導波部
    と、 を備えた半導体異種構造レーザー。
  2. 【請求項2】前記半導体基板と前記多層光出力部との間
    に形成され、前記多層光出力部から前記半導体基板への
    前記基本光の伝播を防ぐ第1屈折的ミラーをさらに備え
    た請求項1に記載の半導体異種構造レーザー。
  3. 【請求項3】前記第1屈折的ミラーは、それぞれ第1ア
    ルミニウム成分比を有し、第1導電型である多数の第1
    AlGaAs層の群と、それぞれ前記第1アルミニウム
    成分比より低い第2アルミニウム成分比を有し、第1導
    電型である多数の第2AlGaAs層の群とを備え、 前記第1AlGaAs層の群及び前記第2AlGaAs
    層の群は、前記半導体基板上に超格子状態でかつ交互的
    に形成されている、 請求項2に記載の半導体異種構造レーザー。
  4. 【請求項4】前記活性非線形導波部から前記多層光出力
    部に2倍周波数光が伝播するのを防ぐために、前記多層
    光出力部と前記活性非線形導波部との間に形成されてい
    る第2屈折的ミラーをさらに備えた請求項1〜3のいず
    れかに記載の半導体異種構造レーザー。
  5. 【請求項5】前記第2屈折的ミラーは、それぞれ第3ア
    ルミニウム成分比を有する多数の第3AlGaAs層の
    群と、それぞれ前記第3アルミニウム成分比より高い第
    4アルミニウム成分比を有する多数の第4AlGaAs
    層の群とを備え、 前記第3AlGaAs層の群及び前記第4AlGaAs
    層の群は、前記多層光出力部上に超格子状態でかつ交互
    的に形成されている、 請求項4に記載の半導体異種構造レーザー。
  6. 【請求項6】前記多層光出力部は、第1導電型の不純物
    がドーピングされている少なくとも一つの下部クラディ
    ング層と、基本周波数の基本光を発生する少なくとも一
    つの光出力活性層と、第2導電型の不純物がドーピング
    されており、それぞれ前記基本光を伝送するために前記
    光出力活性層のバンドギャップより大きいバンドギャッ
    プを有する少なくとも一つの上部クラッディング層とを
    備え、 前記下部クラッディング層、前記光出力活性層及び前記
    上部クラッディング層が、前記半導体基板の上部に順次
    的にかつ交互的に形成されている、 請求項1〜5のいずれかに記載の半導体異種構造レーザ
    ー。
  7. 【請求項7】前記下部クラッディング層、前記光出力活
    性層及び前記上部クラッディング層はそれぞれAlGa
    Asより構成される、請求項6に記載の半導体異種構造
    レーザー。
  8. 【請求項8】前記多層光出力部は第2導電型の不純物が
    ドーピングされているコンタクト層をさらに備え、前記
    コンタクト層のドーピング濃度は前記上部クラッディン
    グ層のドーピング濃度より低い、請求項6に記載の半導
    体異種構造レーザー。
  9. 【請求項9】前記活性非線形導波部に含まれる前記多層
    異種構造は、 第1屈折率の第1導波層と、 前記第1導波層上に形成されており、前記多層光出力部
    から放出される前記基本光を吸収するに適合したバンド
    ギャップを有するレージング活性層と、 前記レージング活性層上に形成されており、前記第1屈
    折率と等しい第2屈折率を有する第2導波層と、 前記第2導波層上に形成されており、前記第1屈折率よ
    り低い第3屈折率を有する第3導波層と、 を備えている請求項1〜8のいずれかに記載の半導体異
    種構造レーザー。
  10. 【請求項10】前記活性非線形導波部に含まれる前記多
    層異種構造は、 第1屈折率の第1導波層と、 前記第1導波層上に形成されており、前記第1屈折率よ
    り高い第2屈折率を有する第2導波層と、 前記第2導波層上に形成されており、前記多層光出力部
    から放出される前記基本光を吸収するに適合したバンド
    ギャップを有するレージング活性層と、 前記レージング活性層上に形成されており、前記第2屈
    折率と等しい第3屈折率を有する第3導波層と、 前記第3導波層上に形成されており、前記第1屈折率と
    等しい第4屈折率を有する第4導波層と、 を備えている請求項1〜8のいずれかに記載の半導体異
    種構造レーザー。
  11. 【請求項11】前記第1、第2、第3、第4導波層はA
    lGaAsより構成され、前記レージング活性層はIn
    GaAsより構成されている、請求項10に記載の半導
    体異種構造レーザー。
  12. 【請求項12】前記半導体基板は(111)である面指
    数を有する、請求項1〜11のいずれかに記載の半導体
    異種構造レーザー。
  13. 【請求項13】前記活性非線形導波部は、前記基本光を
    反射するためにそれぞれ誘電的多層のミラーによりコー
    ティングされた前面及び背面を有する、請求項1〜12
    のいずれかに記載の半導体異種構造レーザー。
  14. 【請求項14】前記多層光出力部から前記半導体基板に
    前記基本光が伝播されることを防ぐために、前記半導体
    基板と前記多層光出力部との間に位置した第1屈折的ミ
    ラーと、 前記2倍周波数光が前記活性非線形導波部から前記多層
    光出力部に伝播されることを防ぐために前記多層光出力
    部と前記活性非線形導波部との間に位置した第2屈折的
    ミラーとをさらに備え、 前記第2屈折的ミラー及び前記活性非線形導波部がリッ
    ジ構造をなす、 請求項1に記載の半導体異種構造レーザー。
  15. 【請求項15】前記活性非線形導波部の上部表面上に形
    成されている非反射絶縁コーティング層と、 前記半導体基板の下部に形成されているオーミックコン
    タクト層と、 をさらに備えた請求項14に記載の半導体異種構造レー
    ザー。
  16. 【請求項16】半導体基板と、 グルーブ状のチャンネルを形成するために前記半導体基
    板上に選択的に位置する電流遮断層と、 前記電流遮断層及び前記半導体基板よりなされた表面上
    に形成されている第1屈折的ミラーと、 基本周波数の基本光を発生するために前記第1屈折的ミ
    ラー上に形成されている多層光出力部と、 前記多層光出力部上に形成されている第2屈折的ミラー
    と、 少なくとも一つの多層異種構造を有し、前記多層異種構
    造は発振器構造を有し、前記基本光を吸収しその周波数
    を2倍して2倍周波数光を出力する活性非線形導波部と
    を備え、 前記第1屈折的ミラーは前記多層光出力部から前記半導
    体基板に基本光が伝播されることを防ぎ、前記第2屈折
    的ミラーは前記活性非線形導波部から前記多層光出力部
    に前記2倍周波数光が伝播されることを防ぎ、前記第2
    屈折的ミラー及び前記活性非線形導波部はリッジ構造を
    なす、 半導体異種構造レーザー。
  17. 【請求項17】前記活性非線形導波部の上部表面上に形
    成されている非反射誘電的コーティング層と、 前記半導体基板の下部に形成されている第1オーミック
    コンタクト層と、 前記多層光出力部の表面上に選択的に形成されている第
    2オーミックコンタクト層と、 をさらに備えた請求項16に記載の半導体異種構造レー
    ザー。
  18. 【請求項18】半導体基板と、 チャンネルを形成するために前記半導体基板内に選択的
    に形成されている電流遮断層と、 前記チャンネルの上部に位置したグルーブ構造を有し、
    前記電流遮断層及び前記半導体基板よりなされた表面上
    に形成されている第1屈折的ミラーと、 基本周波数の基本光を発生するために前記第1屈折的ミ
    ラー上に形成されている多層光出力部と、 前記多層光出力部上に形成されている第2屈折的ミラー
    と、 少なくとも一つの多層異種構造を含み、多層異種構造は
    発振器構造を有し、前記基本光を吸収しその周波数を2
    倍して2倍周波数光を出力する活性非線形導波部とを備
    え、 前記第1屈折的ミラーは前記多層光出力部から前記半導
    体基板に前記基本光が伝播されることを防ぎ、前記第2
    屈折的ミラーは前記活性非線形導波部から前記多層光出
    力部に前記2倍周波数光が伝播されることを防ぎ、前記
    第2屈折的ミラー及び前記活性非線形導波部はリッジ構
    造をなす、 半導体異種構造レーザー。
  19. 【請求項19】前記活性非線形導波部の上部表面上に形
    成されている非反射誘電的コーティング層と、 前記半導体基板の下部に形成されている第1オーミック
    コンタクト層と、 前記多層光出力部の表面上に選択的に形成されている第
    2オーミックコンタクト層と、 をさらに備えた請求項18に記載の半導体異種構造レー
    ザー。
  20. 【請求項20】半導体基板と、 前記半導体基板の下部表面上に形成されている第1オー
    ミックコンタクト層と、 グルーブ状のチャンネルを形成するために前記半導体基
    板の上部表面上に選択的に形成されている電流遮断層
    と、 前記チャンネルのグルーブ状を保ちながら前記電流遮断
    層及び前記半導体基板よりなされた表面上に形成されて
    いる第1屈折的ミラーと、 基本周波数の基本光を発生するために前記第1屈折的ミ
    ラー上に前記チャンネルのグルーブ状を保ちながら形成
    されている多層光出力部と、 前記多層光出力部の上部表面の中央に選択的に形成され
    ている中間媒介層と、 前記多層光出力部の上部表面の残り部位上に選択的に形
    成されている第2オーミックコンタクト層と、 前記中間媒介層の上部表面上に形成されている第2屈折
    的ミラーと、 少なくとも一つの多層異種構造を含み、多層異種構造は
    発振器構造を有し、前記基本光を吸収しその周波数を2
    倍して2倍周波数光を出力する活性非線形導波部と、 前記活性非線形導波部の上部表面上に形成されている非
    反射誘電的コーティング層とを備え、 前記第1屈折的ミラーは前記多層光出力部から前記半導
    体基板に前記基本光が伝播されることを防ぎ、前記第2
    屈折的ミラーは前記活性非線形導電波部から前記多層光
    出力部に前記2倍周波数光が伝播されることを防ぎ、前
    記中間媒介層、前記第2屈折的ミラー及び前記活性非線
    形導波部はリッジ構造をなす、 半導体異種構造レーザー。
JP5332175A 1993-10-30 1993-12-27 半導体異種構造レーザー Pending JPH07162072A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1993-22947 1993-10-30
KR1019930022947A KR970004500B1 (ko) 1993-10-30 1993-10-30 반도체 레이저 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07162072A true JPH07162072A (ja) 1995-06-23

Family

ID=19367073

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5332175A Pending JPH07162072A (ja) 1993-10-30 1993-12-27 半導体異種構造レーザー

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5406575A (ja)
JP (1) JPH07162072A (ja)
KR (1) KR970004500B1 (ja)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2736168B1 (fr) * 1995-06-30 1997-07-25 Thomson Csf Convertisseur de frequence comprenant un guide semiconducteur a heterostructure
TW456052B (en) * 1995-11-14 2001-09-21 Sumitomo Chemical Co Process for producing group III-V compound semiconductor
KR100459888B1 (ko) * 1999-02-11 2004-12-03 삼성전자주식회사 반도체 레이저 다이오드 및 그 제조방법
RU2153745C1 (ru) * 1999-03-19 2000-07-27 Безотосный Виктор Владимирович Полупроводниковый лазер
US6786390B2 (en) * 2003-02-04 2004-09-07 United Epitaxy Company Ltd. LED stack manufacturing method and its structure thereof
US7888686B2 (en) * 2005-12-28 2011-02-15 Group Iv Semiconductor Inc. Pixel structure for a solid state light emitting device
US7433374B2 (en) * 2006-12-21 2008-10-07 Coherent, Inc. Frequency-doubled edge-emitting semiconductor lasers
WO2011106860A1 (en) 2010-03-01 2011-09-09 Group Iv Semiconductor, Inc. Deposition of thin film dielectrics and light emitting nano-layer structures

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4866489A (en) * 1986-07-22 1989-09-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor device
US5185752A (en) * 1992-02-18 1993-02-09 Spectra Diode Laboratories, Inc. Coupling arrangements for frequency-doubled diode lasers

Also Published As

Publication number Publication date
US5406575A (en) 1995-04-11
KR970004500B1 (ko) 1997-03-28
KR950012951A (ko) 1995-05-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2012229C (en) Amplifier device with coupled surface emitting grating
US6714574B2 (en) Monolithically integrated optically-pumped edge-emitting semiconductor laser
JPH1012959A (ja) 半導体発光素子、発光素子モジュールおよび半導体発光素子の製造方法
JPH06224521A (ja) 集積化短キャビティ・レーザ
JP2009540593A (ja) 光電子デバイスおよびその製造方法
US5675601A (en) Semiconductor laser device
JP2004535679A (ja) ジグザグレーザおよび光増幅器のための半導体
JPH08130348A (ja) 集積導波レンズを有する半導体レーザ装置
JPH06112591A (ja) 半導体レーザ装置および光接続装置
JP2010192603A (ja) 発光装置
KR100413708B1 (ko) 광자리사이클링을지닌마이크로공동발광다이오드
US5406575A (en) Semiconductor heterostructure laser
JP3299056B2 (ja) 表面放射型のInGaAlN系半導体レーザ
JPS5939083A (ja) 面発光型半導体レ−ザ
US5379314A (en) Semiconductor laser and method of manufacturing semiconductor laser
CN119447984A (zh) 一种多结面发射激光器及发光模组
CN1088933C (zh) 高功率高亮度激光器
JP2004063972A (ja) 半導体レーザおよびその製造方法
US4737959A (en) Semiconductor laser array device
JPH09298337A (ja) 半導体分布ブラッグ反射鏡及びそれを用いた面発光型半導体レーザ
JP2967757B2 (ja) 半導体レーザ装置及びその製造方法
KR100576299B1 (ko) 반도체 레이저 및 광통신용 소자
US4811351A (en) Semiconductor laser array device
CN117791306A (zh) 一种面发射激光器及其制备方法
US7787508B2 (en) Injector laser