JPH07167762A - 数本のサンプルストリップのそれぞれの延びを測定するための装置 - Google Patents
数本のサンプルストリップのそれぞれの延びを測定するための装置Info
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- JPH07167762A JPH07167762A JP4088493A JP8849392A JPH07167762A JP H07167762 A JPH07167762 A JP H07167762A JP 4088493 A JP4088493 A JP 4088493A JP 8849392 A JP8849392 A JP 8849392A JP H07167762 A JPH07167762 A JP H07167762A
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Abstract
(57)【要約】
いくつかのサンプルストリップ(13)のそれぞれの延
びを測定するための装置は、ストリップ(13)の各々
を維持するための固定された上つかみあご部(27)お
よび移動下つかみあご部(15)を設けられる垂直方向
のフレーム(51)を含み、下つかみあご部(15)は
重力効果によってストリップを延ばし、各下つかみあご
部(15)に関連する電子変位センサ(33、35)を
さらに含む。各つかみあご部は、台と台上に関節接続さ
れるプレートとを含む。磁石(11)は磁気引きつけ力
によって接触面に向かってプレートを押し進めるため
に、台の接触面と同じ高さで台に載置される。
びを測定するための装置は、ストリップ(13)の各々
を維持するための固定された上つかみあご部(27)お
よび移動下つかみあご部(15)を設けられる垂直方向
のフレーム(51)を含み、下つかみあご部(15)は
重力効果によってストリップを延ばし、各下つかみあご
部(15)に関連する電子変位センサ(33、35)を
さらに含む。各つかみあご部は、台と台上に関節接続さ
れるプレートとを含む。磁石(11)は磁気引きつけ力
によって接触面に向かってプレートを押し進めるため
に、台の接触面と同じ高さで台に載置される。
Description
【0001】
【発明の背景】この発明は、湿度および温度が調整され
ている大気中に置かれる紙のストリップの延びを測定す
るための装置に関するものである。
ている大気中に置かれる紙のストリップの延びを測定す
るための装置に関するものである。
【0002】紙の特性の1つは一定温度における空気の
湿度の関数としてのその膨張率である。この特性を測定
するために、一連の紙のサンプルストリップがその中に
配置される装置が存在する。これらのサンプルストリッ
プは気密チャンバにおいて予め定められた異なる湿度の
大気下にあり、それらの長さの変化が測定される。スト
リップの長さを測定するための従来の装置は、ストリッ
プの末端がそこに保持される上および下つかみあご部を
各ストリップについて含む。上または下つかみあご部の
各々は変位測定器具およびその測定器具のためのゼロ設
定装置に結合される。
湿度の関数としてのその膨張率である。この特性を測定
するために、一連の紙のサンプルストリップがその中に
配置される装置が存在する。これらのサンプルストリッ
プは気密チャンバにおいて予め定められた異なる湿度の
大気下にあり、それらの長さの変化が測定される。スト
リップの長さを測定するための従来の装置は、ストリッ
プの末端がそこに保持される上および下つかみあご部を
各ストリップについて含む。上または下つかみあご部の
各々は変位測定器具およびその測定器具のためのゼロ設
定装置に結合される。
【0003】テクニダイン(Technidyne)から入手可能
な「ニーナ(Neenah)」型の装置では、上つかみあご部
に結合され、この装置の頂上部から近づきやすいローラ
を有するマイクロメータによって測定が行なわれる。下
あご部は関節レバーに結合され、その水平位置は水位に
よって視覚的に調整される。まず、各マイクロメータの
ローラは、関連のレベルの気泡のセンタリングによって
示される、対応するレバーの水平位置が得られるまで、
関連のストリップを垂直方向に移動するように起動され
る。長さの変化を測定するために、各マイクロメータの
ローラはレバーを水平にするように再度起動され、そこ
でローラの回転から延びが計算される。
な「ニーナ(Neenah)」型の装置では、上つかみあご部
に結合され、この装置の頂上部から近づきやすいローラ
を有するマイクロメータによって測定が行なわれる。下
あご部は関節レバーに結合され、その水平位置は水位に
よって視覚的に調整される。まず、各マイクロメータの
ローラは、関連のレベルの気泡のセンタリングによって
示される、対応するレバーの水平位置が得られるまで、
関連のストリップを垂直方向に移動するように起動され
る。長さの変化を測定するために、各マイクロメータの
ローラはレバーを水平にするように再度起動され、そこ
でローラの回転から延びが計算される。
【0004】ソデキシム S.A.(Sodexim S.A.)か
ら入手可能な68936型の装置では、下つかみあご部
の位置を測定するコンパレータによって長さが測定され
る。まず、上つかみあご部に結合され、この装置の頂上
部から近づきやすいねじによって関連のストリップを垂
直方向に移動させることによって、各コンパレータがリ
セットされる。延びはそれからコンパレータで直接読み
取られることができる。
ら入手可能な68936型の装置では、下つかみあご部
の位置を測定するコンパレータによって長さが測定され
る。まず、上つかみあご部に結合され、この装置の頂上
部から近づきやすいねじによって関連のストリップを垂
直方向に移動させることによって、各コンパレータがリ
セットされる。延びはそれからコンパレータで直接読み
取られることができる。
【0005】したがって、既知の装置において、各スト
リップについて関連の測定器具のゼロを設定すること
と、手動(マイクロメータ)か、または視覚的に(コン
パレータ)かのいずれかで測定結果を書き留めることと
が必要であり、もし多数のストリップがあればあきあき
する作業である。さらに、従来のつかみあご部は様々な
欠点を有する。
リップについて関連の測定器具のゼロを設定すること
と、手動(マイクロメータ)か、または視覚的に(コン
パレータ)かのいずれかで測定結果を書き留めることと
が必要であり、もし多数のストリップがあればあきあき
する作業である。さらに、従来のつかみあご部は様々な
欠点を有する。
【0006】第1の既知のタイプのつかみあご部はばね
クリップである。ばねクリップは容易に取り扱うことが
できるが、一般に紙のストリップを均一に強圧すること
ができない。その結果、紙のストリップは位置決めされ
ている間か、またはその後に斜めに摺動し得る。この欠
点を避けるために、クリップのばねが堅くされ得るが、
これらのクリップの使用はそれによって、特にもし多数
のクリップがあるとそれらを開く実質的な努力が必要な
ため、より不快なものになる。
クリップである。ばねクリップは容易に取り扱うことが
できるが、一般に紙のストリップを均一に強圧すること
ができない。その結果、紙のストリップは位置決めされ
ている間か、またはその後に斜めに摺動し得る。この欠
点を避けるために、クリップのばねが堅くされ得るが、
これらのクリップの使用はそれによって、特にもし多数
のクリップがあるとそれらを開く実質的な努力が必要な
ため、より不快なものになる。
【0007】より信頼性の高い第2の既知の型のつかみ
あご部は金属シートと支持部との間にストリップをぴん
と張る間この金属シートを加圧する偏心輪を含む。しか
し、このようなつかみあご部は薄すぎるか、または厚す
ぎるストリップを十分に張ることができない。さらに、
この張る努力はむしろ高く、張る動作は容易ではなく、
もしこれらのつかみあご部が多数であればその使用を不
快なものにする。
あご部は金属シートと支持部との間にストリップをぴん
と張る間この金属シートを加圧する偏心輪を含む。しか
し、このようなつかみあご部は薄すぎるか、または厚す
ぎるストリップを十分に張ることができない。さらに、
この張る努力はむしろ高く、張る動作は容易ではなく、
もしこれらのつかみあご部が多数であればその使用を不
快なものにする。
【0008】垂直平面上に正方形のシートを固定するの
に使用される、特許DE−B−2943691号に説明
されるような磁気つかみあご部もまた既知である。
に使用される、特許DE−B−2943691号に説明
されるような磁気つかみあご部もまた既知である。
【0009】
【発明の概要】この発明の目的は、つかみあご部へのサ
ンプルストリップの挿入が特に容易な、サンプルストリ
ップの延びを測定するための新しい装置を提供すること
である。
ンプルストリップの挿入が特に容易な、サンプルストリ
ップの延びを測定するための新しい装置を提供すること
である。
【0010】この発明の別の目的は、測定器具を何回も
リセットすることを必要としない、サンプルストリップ
の延びを測定するための新しい装置を提供することであ
る。
リセットすることを必要としない、サンプルストリップ
の延びを測定するための新しい装置を提供することであ
る。
【0011】この発明のさらなる目的は、サンプルスト
リップの挿入をさらに簡単にするための下つかみあご部
の案内手段を提供することである。
リップの挿入をさらに簡単にするための下つかみあご部
の案内手段を提供することである。
【0012】この発明は、基部と、垂直フレームとを含
み、各ストリップについて、ストリップの上端部をぴん
と張るための固定上つかみあご部と、ストリップの下端
部をぴんと張り、それを重力によって延ばすための移動
下つかみあご部と、下つかみあご部のための変位センサ
とを含む、数本のサンプルストリップのそれぞれの延び
を測定するための装置を提供する。つかみあご部は磁気
あご部であり、その各々は台とその台上に関節プレート
とを含み、磁石は台上に載置されて磁気引のつけ力によ
って台に対してプレートを押し進め、下つかみあご部の
台はフレームに関して垂直方向に案内される。
み、各ストリップについて、ストリップの上端部をぴん
と張るための固定上つかみあご部と、ストリップの下端
部をぴんと張り、それを重力によって延ばすための移動
下つかみあご部と、下つかみあご部のための変位センサ
とを含む、数本のサンプルストリップのそれぞれの延び
を測定するための装置を提供する。つかみあご部は磁気
あご部であり、その各々は台とその台上に関節プレート
とを含み、磁石は台上に載置されて磁気引のつけ力によ
って台に対してプレートを押し進め、下つかみあご部の
台はフレームに関して垂直方向に案内される。
【0013】この発明の実施例に従って、各下つかみあ
ご部の台は非磁性体から成り、あご部はフレームと一体
化された強磁性体部分に作られた溝によって案内され、
このあご部はその磁気引きつけ力によってのみ溝に案内
されて維持される。
ご部の台は非磁性体から成り、あご部はフレームと一体
化された強磁性体部分に作られた溝によって案内され、
このあご部はその磁気引きつけ力によってのみ溝に案内
されて維持される。
【0014】この発明の実施例に従って、各下つかみあ
ご部は磁気つかみ装置によって関連の変位センサに結合
される。
ご部は磁気つかみ装置によって関連の変位センサに結合
される。
【0015】この発明の実施例に従って、各つかみあご
部は接触面に垂直なクリアランスを有する台上に関節プ
レートを含む。
部は接触面に垂直なクリアランスを有する台上に関節プ
レートを含む。
【0016】この発明の実施例に従って、各つかみあご
部の台は紙のストリップをぴんと張られるように案内す
るために働く横方向の壁を含む。
部の台は紙のストリップをぴんと張られるように案内す
るために働く横方向の壁を含む。
【0017】この発明の実施例に従って、変位センサは
差動変圧器を含むソレノイドプランジャであり、ソレノ
イドプランジャは関連の下つかみあご部に結合される。
差動変圧器を含むソレノイドプランジャであり、ソレノ
イドプランジャは関連の下つかみあご部に結合される。
【0018】この発明の実施例に従って、この装置は下
つかみあご部上に負荷を加えることによって各ストリッ
プの延びを増加するための手段を含む。
つかみあご部上に負荷を加えることによって各ストリッ
プの延びを増加するための手段を含む。
【0019】この発明の実施例に従って、変位センサは
本体に固定され、この装置は本体に関して高位置および
低位置へフレームを位置決めするための手段を含む。
本体に固定され、この装置は本体に関して高位置および
低位置へフレームを位置決めするための手段を含む。
【0020】この発明の実施例に従って、この装置は上
および下つかみあご部間に配設される水平定規を含み、
定規は下つかみあご部が垂直方向に自由に摺動する横方
向の位置と、下つかみあご部が規定に当接する別の位置
とを有する。
および下つかみあご部間に配設される水平定規を含み、
定規は下つかみあご部が垂直方向に自由に摺動する横方
向の位置と、下つかみあご部が規定に当接する別の位置
とを有する。
【0021】この発明の前述および他の目的、特徴およ
び利点は、添付の図面に説明されるような好ましい実施
例の次の詳細な説明から明らかであろう。
び利点は、添付の図面に説明されるような好ましい実施
例の次の詳細な説明から明らかであろう。
【0022】
【好ましい実施例の詳細な説明】図1Aはこの発明に従
って使用されるつかみあご部の簡略化された実施例の斜
視図である。つかみあご部は非磁性体から成る台1を含
み、その上で台の上面に平面に沿って当接するプレート
3が関節接続される。台1は横方向にプレート3を維持
する横方向の上昇壁5を含む。横方向の壁5はその前方
部で垂直方向の溝7を含み、その中で軸9が調節され、
プレート3の端部に横方向に固定される。永久磁石11
は台1の窪み内に載置され、台の上部面と同一平面にあ
る。プレート3は強磁性体から成り、したがってプレー
ト3と台1との間に置かれる平らな対象物を十分につか
むことを確実にする一方、磁石11に対して押し進めら
れることができる。
って使用されるつかみあご部の簡略化された実施例の斜
視図である。つかみあご部は非磁性体から成る台1を含
み、その上で台の上面に平面に沿って当接するプレート
3が関節接続される。台1は横方向にプレート3を維持
する横方向の上昇壁5を含む。横方向の壁5はその前方
部で垂直方向の溝7を含み、その中で軸9が調節され、
プレート3の端部に横方向に固定される。永久磁石11
は台1の窪み内に載置され、台の上部面と同一平面にあ
る。プレート3は強磁性体から成り、したがってプレー
ト3と台1との間に置かれる平らな対象物を十分につか
むことを確実にする一方、磁石11に対して押し進めら
れることができる。
【0023】図1Bは閉じられた位置における図1のつ
かみあご部の側面断面図である。図示されるように、紙
のストリップ13はプレート3と台1の上部面との間に
強圧される。ストリップの横方向の位置決めまたは案内
は、横方向の壁5によって確実にされる。
かみあご部の側面断面図である。図示されるように、紙
のストリップ13はプレート3と台1の上部面との間に
強圧される。ストリップの横方向の位置決めまたは案内
は、横方向の壁5によって確実にされる。
【0024】つかみあご部が様々な厚さの紙のストリッ
プを平面に沿って維持する一方、これらのストリップを
受けるように適応されることが注目されるであろう。実
際に、ストリップの厚さに従って、軸9は溝7内で多少
上方向に移動し、プレート3は台1の上部面と平行に維
持されるであろう。ストリップ13をその厚さが極めて
著しいとき有効に維持するために、プレート3と台1と
の接触面は横断方向に引っ掻かれ、粗くされるか、また
は粘着材料で被覆され得る。また、一方の接触面は他方
の接触面の穴と揃えて切欠を設けられ得る。
プを平面に沿って維持する一方、これらのストリップを
受けるように適応されることが注目されるであろう。実
際に、ストリップの厚さに従って、軸9は溝7内で多少
上方向に移動し、プレート3は台1の上部面と平行に維
持されるであろう。ストリップ13をその厚さが極めて
著しいとき有効に維持するために、プレート3と台1と
の接触面は横断方向に引っ掻かれ、粗くされるか、また
は粘着材料で被覆され得る。また、一方の接触面は他方
の接触面の穴と揃えて切欠を設けられ得る。
【0025】図2Aおよび図2Bはこの発明に従って使
用され、図1Aおよび図1Bのつかみあご部と同一のエ
レメントを含む下つかみあご部の好ましい実施例の2つ
の異なる図である。図2Aは軸A−Aに沿ったつかみあ
ご部の側面断面図である。図2Bは2つの1/2上面図
としてつかみあご部を表わし、一方の1/2図はつかみ
あご部全体を表わし、他方の1/2図はむきだしのつか
みあご部を表わす。プレート3は図2Aで一点鎖線で示
される。
用され、図1Aおよび図1Bのつかみあご部と同一のエ
レメントを含む下つかみあご部の好ましい実施例の2つ
の異なる図である。図2Aは軸A−Aに沿ったつかみあ
ご部の側面断面図である。図2Bは2つの1/2上面図
としてつかみあご部を表わし、一方の1/2図はつかみ
あご部全体を表わし、他方の1/2図はむきだしのつか
みあご部を表わす。プレート3は図2Aで一点鎖線で示
される。
【0026】溝7は横方向の壁5の上部で終端し、横方
向の壁上にねじ止めされたプレート17で覆われる。プ
レート17は図2Bに示されるように屈曲して切断さ
れ、プレート3が台1にほぼ垂直な位置に立つことを可
能にする。軸9はプレート3を長手方向に延びる横方向
のはとめ19に強圧されるか、またはこれに貼り合わさ
れる。つかみあご部の扱いを容易にするために、プレー
ト3はその後部で、上昇つまみ21を設けられる。
向の壁上にねじ止めされたプレート17で覆われる。プ
レート17は図2Bに示されるように屈曲して切断さ
れ、プレート3が台1にほぼ垂直な位置に立つことを可
能にする。軸9はプレート3を長手方向に延びる横方向
のはとめ19に強圧されるか、またはこれに貼り合わさ
れる。つかみあご部の扱いを容易にするために、プレー
ト3はその後部で、上昇つまみ21を設けられる。
【0027】台1はその下部で、後に見られるように強
磁性体からなる部分の溝に沿ってつかみあご部を案内す
るための長手方向のリブ23を含む。つかみあご部は垂
直方向に摺動するように意図されているので、リブ23
は溝内に維持されねばならない。この目的を達成するた
めに、磁石11の底は台1の下部に十分に近づけられ、
それによって磁石11と溝を含む部分との間に僅かな磁
気引きつけ力が生じる。したがって、容易な摺動を許容
する一方、溝内につかみあご部を維持するための特に単
純な手段が得られることができる。
磁性体からなる部分の溝に沿ってつかみあご部を案内す
るための長手方向のリブ23を含む。つかみあご部は垂
直方向に摺動するように意図されているので、リブ23
は溝内に維持されねばならない。この目的を達成するた
めに、磁石11の底は台1の下部に十分に近づけられ、
それによって磁石11と溝を含む部分との間に僅かな磁
気引きつけ力が生じる。したがって、容易な摺動を許容
する一方、溝内につかみあご部を維持するための特に単
純な手段が得られることができる。
【0028】台1の後方面は、特定の応用において後に
見られるであろうように変位センサにつかみあご部を接
続することを意図される長手方向の内部ねじれ25を含
む厚くされた上昇部分を設けられる。
見られるであろうように変位センサにつかみあご部を接
続することを意図される長手方向の内部ねじれ25を含
む厚くされた上昇部分を設けられる。
【0029】このようなつかみあご部は取扱が特に単純
である。これらはストリップ形状の対象物の位置決めお
よび案内を確実にする。ストリップは両側からつかみあ
ご部に導入されることができる。磁石は二重機能、すな
わちストリップをぴんと張ることと、強磁性体からなる
支持部に当接してつかみあご部を維持することとを確実
にする。
である。これらはストリップ形状の対象物の位置決めお
よび案内を確実にする。ストリップは両側からつかみあ
ご部に導入されることができる。磁石は二重機能、すな
わちストリップをぴんと張ることと、強磁性体からなる
支持部に当接してつかみあご部を維持することとを確実
にする。
【0030】図3および図4はそれぞれ、この発明に従
った装置の実施例の正面図および側面図を示す。いくつ
かのエレメントはそれらの構成をよりよく表わすために
断面図または外部の一部を切取った図によって表わされ
る。この装置は一連のサンプルストリップの延びを測定
することを意図され、各々、上つかみあご部と下つかみ
あご部との間に垂直方向に引っかけられ、調整された湿
度および温度での空気のような条件付けされた大気下に
置かれる。この装置は後に示されるであろうように、前
述のつかみあご部の使用以外の様々な新規な発明の局面
を含む。
った装置の実施例の正面図および側面図を示す。いくつ
かのエレメントはそれらの構成をよりよく表わすために
断面図または外部の一部を切取った図によって表わされ
る。この装置は一連のサンプルストリップの延びを測定
することを意図され、各々、上つかみあご部と下つかみ
あご部との間に垂直方向に引っかけられ、調整された湿
度および温度での空気のような条件付けされた大気下に
置かれる。この装置は後に示されるであろうように、前
述のつかみあご部の使用以外の様々な新規な発明の局面
を含む。
【0031】図3および図4は、その両端で下つかみあ
ご部15および上つかみあご部27によって維持される
1本のストリップ13を示す。上および下つかみあご部
の4つの追加位置28が表わされる。
ご部15および上つかみあご部27によって維持される
1本のストリップ13を示す。上および下つかみあご部
の4つの追加位置28が表わされる。
【0032】下つかみあご部15は上述のリブ23のよ
うなリブを設けられ、これは強磁性体からなる固定され
た下方水平定規31の垂直方向の溝29に沿って摺動す
る。各つかみあご部15は後に説明される磁気つかみ装
置によって変位センサ35の移動エレメント33に接続
される。好ましくは、変位センサ35はセンソレックス
(Sensorex)から入手可能な、差動変圧器を有するソレ
ノイドプランジャセンサ33のような電子センサであ
る。
うなリブを設けられ、これは強磁性体からなる固定され
た下方水平定規31の垂直方向の溝29に沿って摺動す
る。各つかみあご部15は後に説明される磁気つかみ装
置によって変位センサ35の移動エレメント33に接続
される。好ましくは、変位センサ35はセンソレックス
(Sensorex)から入手可能な、差動変圧器を有するソレ
ノイドプランジャセンサ33のような電子センサであ
る。
【0033】上つかみあご部27は固定され、後に説明
されるであろうように共通の台を有することを除いて下
つかみあご部15と類似している。台は上方水平定規3
7と置き換えられ、定規の前方面で現われる磁石11が
その中で長手方向に載置される。横方向の案内壁5は定
規37上にねじ止めされる水平定規41の垂直方向の溝
39と置き換えられる。溝39は定規37の各磁石11
が現われるようにし、各溝は定規41の分岐タイププレ
ート42によってその下末端で止められる。図4に表わ
されるように、この分岐タイププレート42はストリッ
プ13が下方向に通ることができるように溝39の末端
を完全に閉ざさない。各溝39はつかみあご部プレート
3を、上部をつまみ21で、下部を関節軸9で受ける。
関節軸9は定規41の水平方向の溝43において調節さ
れ、定規37に面し、分岐タイププレート42に近い溝
39の横方向の壁において終端する。
されるであろうように共通の台を有することを除いて下
つかみあご部15と類似している。台は上方水平定規3
7と置き換えられ、定規の前方面で現われる磁石11が
その中で長手方向に載置される。横方向の案内壁5は定
規37上にねじ止めされる水平定規41の垂直方向の溝
39と置き換えられる。溝39は定規37の各磁石11
が現われるようにし、各溝は定規41の分岐タイププレ
ート42によってその下末端で止められる。図4に表わ
されるように、この分岐タイププレート42はストリッ
プ13が下方向に通ることができるように溝39の末端
を完全に閉ざさない。各溝39はつかみあご部プレート
3を、上部をつまみ21で、下部を関節軸9で受ける。
関節軸9は定規41の水平方向の溝43において調節さ
れ、定規37に面し、分岐タイププレート42に近い溝
39の横方向の壁において終端する。
【0034】上つかみあご部27の取扱いは特に簡単で
ある。それらを開けるとき、プレート3は分岐タイププ
レート42に当接し、オペレータは手を自由にしてスト
リップを挿入する。
ある。それらを開けるとき、プレート3は分岐タイププ
レート42に当接し、オペレータは手を自由にしてスト
リップを挿入する。
【0035】横方向に摺動する定規45は下あごつかみ
部に関連の定規31の上部に接触して配設される。定規
45はその前方面に下あごつかみ部より広い垂直方向の
溝47を含む。図3に示される定規45の位置におい
て、下つかみあご部15は溝47に沿って垂直方向に自
由に摺動できる。この定規はサンプルストリップの最初
の長さを調整するのに有用である。
部に関連の定規31の上部に接触して配設される。定規
45はその前方面に下あごつかみ部より広い垂直方向の
溝47を含む。図3に示される定規45の位置におい
て、下つかみあご部15は溝47に沿って垂直方向に自
由に摺動できる。この定規はサンプルストリップの最初
の長さを調整するのに有用である。
【0036】ストリップの長さの調整はこれが挿入され
るとき行なわれる。ストリップの挿入および調整は特に
容易である。ストリップの末端は上つかみあご部27に
挿入される。定規45は横方向に摺動され、それによっ
てその中実部分49が溝29に面する。ストリップの他
方の末端は定規45下の下つかみあご部15に挿入さ
れ、下つかみあご部はそこで自動調整され、その磁石に
よって溝29内に強圧される。上つかみあご部27は開
かれ、ストリップは下つかみあご部15が後に説明され
る磁気つかみ装置によってその変位センサを接続するま
で下げられる。ストリップはつかみあご部15が定規4
5の中実部分49に当接するまで上方向に引き上げられ
る。上つかみあご部は閉じられ、定規45は図示される
ようにその最初の位置に摺動される。下つかみあご部は
そこで上方向または下方向に自由に移動することができ
る。
るとき行なわれる。ストリップの挿入および調整は特に
容易である。ストリップの末端は上つかみあご部27に
挿入される。定規45は横方向に摺動され、それによっ
てその中実部分49が溝29に面する。ストリップの他
方の末端は定規45下の下つかみあご部15に挿入さ
れ、下つかみあご部はそこで自動調整され、その磁石に
よって溝29内に強圧される。上つかみあご部27は開
かれ、ストリップは下つかみあご部15が後に説明され
る磁気つかみ装置によってその変位センサを接続するま
で下げられる。ストリップはつかみあご部15が定規4
5の中実部分49に当接するまで上方向に引き上げられ
る。上つかみあご部は閉じられ、定規45は図示される
ようにその最初の位置に摺動される。下つかみあご部は
そこで上方向または下方向に自由に移動することができ
る。
【0037】定規31、37および45はフレーム51
上に載置される。上方定規37は所望のストリップの長
さに従ってフレーム51上のいくつかの垂直位置にねじ
止めされることができる。フレーム51は可動であり、
測定が第1のフレームとともに行なわれている間、一連
のサンプルストリップを予め取付けることができる第2
の同一のフレームを設けることを許容する。ストリップ
13における大気がよりよく流れるために、スロット5
3は各ストリップ13の位置でフレーム内に設けられる
が、フレームは剛性フレームによって形成されることも
できる。
上に載置される。上方定規37は所望のストリップの長
さに従ってフレーム51上のいくつかの垂直位置にねじ
止めされることができる。フレーム51は可動であり、
測定が第1のフレームとともに行なわれている間、一連
のサンプルストリップを予め取付けることができる第2
の同一のフレームを設けることを許容する。ストリップ
13における大気がよりよく流れるために、スロット5
3は各ストリップ13の位置でフレーム内に設けられる
が、フレームは剛性フレームによって形成されることも
できる。
【0038】フレームは基部上に載置され、その横方向
の柱55は図3に示され、別の横方向の柱57は図4に
示される。横方向の柱55および57は上部スペーサ5
9および下部スペーサ61上にねじ止めされ、水平基部
63上に順にねじ止めされる。フレームのよりよい剛さ
を補償するために、柱65はスペーサ59および61上
に中心からはずされて後ろにねじ止めされる。柱55お
よび57の上部は軸67によって交差される。フレーム
51の上部に横支持部69は載置され、その1つは図4
に示され、それらはフレーム51を支持し、軸67の末
端に固定される偏心輪71上に置かれる。支持部は表わ
されるように、フレーム51がフレームを上昇させるこ
とによって基部から分離され得るように配置される。
の柱55は図3に示され、別の横方向の柱57は図4に
示される。横方向の柱55および57は上部スペーサ5
9および下部スペーサ61上にねじ止めされ、水平基部
63上に順にねじ止めされる。フレームのよりよい剛さ
を補償するために、柱65はスペーサ59および61上
に中心からはずされて後ろにねじ止めされる。柱55お
よび57の上部は軸67によって交差される。フレーム
51の上部に横支持部69は載置され、その1つは図4
に示され、それらはフレーム51を支持し、軸67の末
端に固定される偏心輪71上に置かれる。支持部は表わ
されるように、フレーム51がフレームを上昇させるこ
とによって基部から分離され得るように配置される。
【0039】図4に示される偏心輪71はその限界位置
を点線で示される。偏心輪71によって、フレーム51
を後に示されるであろう理由のために低位置または高位
置にセットすることが可能である。
を点線で示される。偏心輪71によって、フレーム51
を後に示されるであろう理由のために低位置または高位
置にセットすることが可能である。
【0040】説明されているすべてのエレメントは好ま
しくは透明な、基部63上に固定された座75上に置か
れるフッド73の内側に取囲まれた気密チャンバ内に置
かれる。シール77はフッドと座との間に設けられる。
座75は調整された空気または他の気体の入口および出
口のための2つの流路79を裏に含む。変位センサ35
は基部63上に固定される定規81内に載置され、基部
下で調整される電子回路に結合される。柱55および5
7は、フレーム51の下部がこれらの柱に当接する位置
で摩擦および調整プレート82を設けられる。
しくは透明な、基部63上に固定された座75上に置か
れるフッド73の内側に取囲まれた気密チャンバ内に置
かれる。シール77はフッドと座との間に設けられる。
座75は調整された空気または他の気体の入口および出
口のための2つの流路79を裏に含む。変位センサ35
は基部63上に固定される定規81内に載置され、基部
下で調整される電子回路に結合される。柱55および5
7は、フレーム51の下部がこれらの柱に当接する位置
で摩擦および調整プレート82を設けられる。
【0041】図5は、この装置のフレームの部分正面図
を示す。軸67は柱55および57のベアリング83内
を通り、その末端でローラ85を含み、オペレータがそ
の正規の低位置または高位置にフレーム51を位置決め
することを可能にする。高位置はセンサを校正するのに
有用であり、校正はその正規の位置から高位置へフレー
ムを移動させることと、センサの電子回路に接続される
測定捕捉システムによって示される値が既知の変位に精
密に対応するかを検査することとによって行なわれる。
もし示される値が一致しなければ、測定捕捉システムは
調整し直される。
を示す。軸67は柱55および57のベアリング83内
を通り、その末端でローラ85を含み、オペレータがそ
の正規の低位置または高位置にフレーム51を位置決め
することを可能にする。高位置はセンサを校正するのに
有用であり、校正はその正規の位置から高位置へフレー
ムを移動させることと、センサの電子回路に接続される
測定捕捉システムによって示される値が既知の変位に精
密に対応するかを検査することとによって行なわれる。
もし示される値が一致しなければ、測定捕捉システムは
調整し直される。
【0042】高位置および低位置は図示されるように支
持部69の水平部分に押し進められる偏心輪71によっ
て得られる。これらの2つの位置に対応する偏心輪71
の回転は、軸67と一体化された円板91内に軸方向に
載置される2つの当接87および89によって決定され
る。当接87および89はそれぞれ上部スペーサ59上
に載置される部分93の前方および後方面に押し進めら
れる。
持部69の水平部分に押し進められる偏心輪71によっ
て得られる。これらの2つの位置に対応する偏心輪71
の回転は、軸67と一体化された円板91内に軸方向に
載置される2つの当接87および89によって決定され
る。当接87および89はそれぞれ上部スペーサ59上
に載置される部分93の前方および後方面に押し進めら
れる。
【0043】調整された空気の入口および出口のための
流路79は管95に結合される。管95は装置の上部に
上昇し、そこで水平方向に延び、かつ開口を含む。他方
の流路(図示されない)に結合される管97はこの装置
の下部で貫通された水平部分を含む。
流路79は管95に結合される。管95は装置の上部に
上昇し、そこで水平方向に延び、かつ開口を含む。他方
の流路(図示されない)に結合される管97はこの装置
の下部で貫通された水平部分を含む。
【0044】図6は、下つかみあご部15のその対応す
る変位センサ35への固定をより詳細に、かつサンプル
ストリップのための追加のバラスト装置を概略的に表わ
す。
る変位センサ35への固定をより詳細に、かつサンプル
ストリップのための追加のバラスト装置を概略的に表わ
す。
【0045】つかみあご部のセンサへの固定は磁気つか
み装置によって達成される。強磁性体からなるボール1
01はセンサ35のソレノイドプランジャ33に接続さ
れる棒99の端部に固定される。非磁性体からなる中空
の垂直シリンダ103はつかみあご部の内部ねじ山25
にねじ止めされる。シリンダ103において磁石105
はシリンダの下部と同じ高さに調整される。したがっ
て、ソレノイドプランジャ33をつかみあご部15に固
定することが所望されるとき、ボール101の近くにシ
リンダ103を引くことが単に必要であるか、逆にボー
ルがシリンダの内部に中心を置かれる一方、シリンダの
下部に向かって押し進められることか必要である。
み装置によって達成される。強磁性体からなるボール1
01はセンサ35のソレノイドプランジャ33に接続さ
れる棒99の端部に固定される。非磁性体からなる中空
の垂直シリンダ103はつかみあご部の内部ねじ山25
にねじ止めされる。シリンダ103において磁石105
はシリンダの下部と同じ高さに調整される。したがっ
て、ソレノイドプランジャ33をつかみあご部15に固
定することが所望されるとき、ボール101の近くにシ
リンダ103を引くことが単に必要であるか、逆にボー
ルがシリンダの内部に中心を置かれる一方、シリンダの
下部に向かって押し進められることか必要である。
【0046】このようなつかみ装置はいくつかの利点を
有する。そのシリンダ103に向かって押し進められる
ボール101のアセンブリは、センサ35内でソレノイ
ドプランジャ33の十分なセンタリングを確実にするピ
ボット結合である。磁気引きつけ力は、前述のストリッ
プの挿入中、下つかみあご部15が挿入中作用されずに
そのセンサに結合されるのに十分に高いものであり得
る。機構的結合がないことによって、たとえばつかみあ
ご部15がセンサから前もって移動されずにフレーム5
1が移動されるとき、脆いセンサ35、特に棒99およ
びソレノイドプランジャ33の簡単な操作および保護が
確実にされる。
有する。そのシリンダ103に向かって押し進められる
ボール101のアセンブリは、センサ35内でソレノイ
ドプランジャ33の十分なセンタリングを確実にするピ
ボット結合である。磁気引きつけ力は、前述のストリッ
プの挿入中、下つかみあご部15が挿入中作用されずに
そのセンサに結合されるのに十分に高いものであり得
る。機構的結合がないことによって、たとえばつかみあ
ご部15がセンサから前もって移動されずにフレーム5
1が移動されるとき、脆いセンサ35、特に棒99およ
びソレノイドプランジャ33の簡単な操作および保護が
確実にされる。
【0047】柱55および57上に固定されるブラケッ
ト107はセンサ35の棒99がその中を通る垂直方向
の穴109を含む。各棒99はその上部で棒が対応する
穴109を通って落下することを妨げるショルダーを含
む。つかみあご部15をセンサから移動させるために、
棒99を下方向に引くことによってボールを手動で分離
することができる。軸67に対してフレーム51を僅か
に傾けることも可能であり、それによって棒99は穴1
09において保持され、ボール101はフレームの動き
によって分離されるであろう。
ト107はセンサ35の棒99がその中を通る垂直方向
の穴109を含む。各棒99はその上部で棒が対応する
穴109を通って落下することを妨げるショルダーを含
む。つかみあご部15をセンサから移動させるために、
棒99を下方向に引くことによってボールを手動で分離
することができる。軸67に対してフレーム51を僅か
に傾けることも可能であり、それによって棒99は穴1
09において保持され、ボール101はフレームの動き
によって分離されるであろう。
【0048】この装置はさらに、たとえば様々な湿度条
件下の各ストリップの弾性係数を決定するために働くサ
ンプルストリップのための追加のバラスト装置を含む。
この装置は各ストリップについて、ストリップをさらに
載せることが所望されるときシリンダ103のシムリン
グ113に当接する水平方向のフォーク111を含む。
フォーク111はフレームに固定され、負荷として働く
ボールソケット117に沿って摺動する垂直方向の軸1
15の下端部に固定される。フォーク111はブラケッ
ト107の垂直方向の溝119によって案内される。軸
115の上部で、追加のバラスト121を加えることが
できる。軸115の下部は2つの複動シリンダ125
(1つのシリンダが図5に示され得る)の上ピストン部
分に固定される水平定規123上に横たわる。待機位置
において、シリンダ125のピストンは、フォーク11
1がシリンダのピストンの低位置および基部63の間に
当接する2つのばね127によってシムリング113に
接触しない高位置に維持される。サンプルストリップを
載せることが所望するとき、シリンダ125は起動さ
れ、それらのピストンはばね127上に強圧する間引き
下げられ、フォーク111はストリップの延びが増加す
る間解放され、かつシムリング113に当接する。
件下の各ストリップの弾性係数を決定するために働くサ
ンプルストリップのための追加のバラスト装置を含む。
この装置は各ストリップについて、ストリップをさらに
載せることが所望されるときシリンダ103のシムリン
グ113に当接する水平方向のフォーク111を含む。
フォーク111はフレームに固定され、負荷として働く
ボールソケット117に沿って摺動する垂直方向の軸1
15の下端部に固定される。フォーク111はブラケッ
ト107の垂直方向の溝119によって案内される。軸
115の上部で、追加のバラスト121を加えることが
できる。軸115の下部は2つの複動シリンダ125
(1つのシリンダが図5に示され得る)の上ピストン部
分に固定される水平定規123上に横たわる。待機位置
において、シリンダ125のピストンは、フォーク11
1がシリンダのピストンの低位置および基部63の間に
当接する2つのばね127によってシムリング113に
接触しない高位置に維持される。サンプルストリップを
載せることが所望するとき、シリンダ125は起動さ
れ、それらのピストンはばね127上に強圧する間引き
下げられ、フォーク111はストリップの延びが増加す
る間解放され、かつシムリング113に当接する。
【0049】この発明に従った装置は出願人によって開
発された電子的に調整された湿度での空気源とともに使
用されるために提供される。したがって、この発明に従
った装置全体および空気源はコンピュータによって完全
制御され、これは十分な期間維持される段階ごとにチャ
ンバ内の湿度を調整し、延びを決定する一方で変位セン
サの指示を記憶し、もし必要ならばシリンダ125を起
動して、サンプルストリップに追加の負荷を加え、それ
らの追加の延びに従ってストリップの弾性係数を決定す
る。
発された電子的に調整された湿度での空気源とともに使
用されるために提供される。したがって、この発明に従
った装置全体および空気源はコンピュータによって完全
制御され、これは十分な期間維持される段階ごとにチャ
ンバ内の湿度を調整し、延びを決定する一方で変位セン
サの指示を記憶し、もし必要ならばシリンダ125を起
動して、サンプルストリップに追加の負荷を加え、それ
らの追加の延びに従ってストリップの弾性係数を決定す
る。
【0050】当業者には明らかなように、様々な変化お
よび修正が延びを測定するための上に開示された装置に
行なわれることが可能である。たとえば、この装置はク
リップまたは偏心輪を設けられた従来のつかみあご部を
設けられることが可能である。取外すために考案されな
い様々なエレメントがねじ止めされる代わりに溶接され
ることが可能である。この装置は異なる型の大気ととも
にいかなる型のストリップのためにも使用されることが
可能である。
よび修正が延びを測定するための上に開示された装置に
行なわれることが可能である。たとえば、この装置はク
リップまたは偏心輪を設けられた従来のつかみあご部を
設けられることが可能である。取外すために考案されな
い様々なエレメントがねじ止めされる代わりに溶接され
ることが可能である。この装置は異なる型の大気ととも
にいかなる型のストリップのためにも使用されることが
可能である。
【図1】この発明に従って使用されるつかみあご部の簡
略化された斜視図および断面図である。
略化された斜視図および断面図である。
【図2】この発明に従って使用されるつかみあご部の好
ましい実施例の側面図および上面図である。
ましい実施例の側面図および上面図である。
【図3】この発明に従ったサンプルストリップの延びを
測定するための装置の実施例の正面図である。
測定するための装置の実施例の正面図である。
【図4】この発明に従ったサンプルストリップの延びを
測定するための装置の実施例の側面図である。
測定するための装置の実施例の側面図である。
【図5】図3Aおよび図3Bの装置のフレームの部分的
正面図である。
正面図である。
【図6】変位センサへ下つかみあご部を固定するための
固定手段と、概略的にサンプルストリップの延びを増加
するための装置を示す図である。
固定手段と、概略的にサンプルストリップの延びを増加
するための装置を示す図である。
13:ストリップ 27:上つかみあご部 15:下つかみあご部 33,35:変位センサ 3:プレート 11:磁石
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (71)出願人 591264614 ジャン・マリー・セラ・トシオ フランス・38240・メイラン・シャメン・ デ・レグリス・70 (71)出願人 591264625 イブ・シャブ フランス・38610・ジェレ・アレ・デ・ミ オソティ・18 (72)発明者 ジャン−マリー・セラ−トシオ フランス国、38240 メイラン、シュマ ン・ド・レグリース、70 (72)発明者 イブ・シャブ フランス国、38610 ジーレ、アレ・デ・ ミオソティ、18
Claims (9)
- 【請求項1】 基部(63)と、垂直方向のフレーム
(51)とを含み、各ストリップについて、 ストリップの上末端をぴんと張るための固定された上つ
かみあご部(27)と、 ストリップの下末端をぴんと張り、重力効果によってそ
れを延ばす可動下つかみあご部(15)と、 下つかみあご部のための変位センサとをさらに含み、 つかみあご部は磁気つかみあご部であり、その各々は台
(1)と台上に関節接続されるプレート(3)とを含
み、磁石(11)は磁気引きつけ力によって台に向かっ
てプレートを押し進めるために台に載置され、下つかみ
あご部の台はフレームに関して垂直方向に案内される、
数本のサンプルストリップ(13)のそれぞれの延びを
測定するための装置。 - 【請求項2】 各下つかみあご部(15)の台(1)は
非磁性体からなり、つかみあご部は前記フレーム(5
1)に固定される強磁性体からなる一片に達成される溝
(29)によって案内され、つかみあご部はその磁石の
引きつけ力によってのみ前記溝内に維持され、案内され
る、請求項1に記載の装置。 - 【請求項3】 各下つかみあご部(15)は磁気つかみ
手段によって対応する変位センサ(33、35)に結合
される、請求項1に記載の装置。 - 【請求項4】 各つかみあご部は前記接触面に垂直なク
リアランスを有する台(1)上の前記プレート(3)の
関節(7、9)を含む、請求項1に記載の装置。 - 【請求項5】 各つかみあご部の台(1)はストリップ
をぴんと張られるように案内するための横方向の壁
(5)を含む、請求項1に記載の装置。 - 【請求項6】 前記変位センサは変位センサ(35)を
含むソレノイドプランジャセンサ(33)であり、前記
ソレノイドプランジャは前記対応する下つかみあご部
(15)に結合される、請求項1または3のいずれかに
記載の装置。 - 【請求項7】 前記下つかみあご部(15)上に負荷を
加えることによって前記ストリップの延びを増加するた
めの手段を含む、請求項1に記載の装置。 - 【請求項8】 前記変位センサは前記基部(63)に固
定され、前記装置は前記フレーム(51)を前記基部に
関して高位置および低位置へ位置決めするための手段
(71)を含む、請求項1に記載の装置。 - 【請求項9】 前記上(27)および下(15)つかみ
あご部の間に配設される水平定規(45)を含み、前記
定規は前記下つかみあご部(15)が垂直方向に沿って
自由に摺動する横方向の位置と、前記下つかみあご部が
前記定規に当接する別の位置とを有する、請求項1に記
載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9104664A FR2675217B1 (fr) | 1991-04-10 | 1991-04-10 | Machoire de maintien de bande et appareil de mesure d'allongement de bandes echantillon. |
| FR9104664 | 1991-04-10 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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