JPH07182006A - Method for recovering test results in automatic thin plate mechanical testing - Google Patents

Method for recovering test results in automatic thin plate mechanical testing

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Publication number
JPH07182006A
JPH07182006A JP34551693A JP34551693A JPH07182006A JP H07182006 A JPH07182006 A JP H07182006A JP 34551693 A JP34551693 A JP 34551693A JP 34551693 A JP34551693 A JP 34551693A JP H07182006 A JPH07182006 A JP H07182006A
Authority
JP
Japan
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test
computer
test results
thin plate
results
Prior art date
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Pending
Application number
JP34551693A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidetaka Yamashita
英隆 山下
Takeshi Masumitsu
猛 益満
Tetsuya Koseki
哲也 小関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Nippon Steel Texeng Co Ltd
Original Assignee
Nippon Steel Corp
Nittetsu Elex Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp, Nittetsu Elex Co Ltd filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP34551693A priority Critical patent/JPH07182006A/en
Publication of JPH07182006A publication Critical patent/JPH07182006A/en
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 薄板自動機械試験システムにあって、異常事
態からの復帰に際し、試験実績の復旧を迅速に行えるよ
うにする。 【構成】 プロセスコンピュータ(プロコン)及び補助
記憶装置に異常が発生した際、ビジネスコンピュータ
(ビジコン)に対して末送信になっている試験実績をプ
ロコンによって把握し(ステップ101〜104)、更
に、各試験機に対して試験完了ロットを含む試験実績の
提供を要求し(ステップ105,106)、実績の重複
が無いとき(ステップ107)にビジコンで欠落してい
る試験実績を収集し(ステップ108)、これをプロコ
ンからビジコンへ送信する(ステップ109)。
(57) [Summary] [Purpose] In an automatic thin plate mechanical testing system, to recover test results quickly when recovering from an abnormal situation. [Configuration] When an abnormality occurs in the process computer (procedure computer) and the auxiliary storage device, the test result transmitted to the business computer (visicon) is grasped by the process computer (steps 101 to 104). The test machine is requested to provide the test results including the test-completed lots (steps 105 and 106), and when there is no overlap in the results (step 107), the test results missing in the vidicon are collected (step 108). , And transmits it from the computer to the vidicon (step 109).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、薄板製品から試験片を
採取するための薄板自動機械試験システムにあって、そ
のシステムに異常が生じた際の試験実績を試験機を管理
するコンピュータ側で復帰できるようにするための試験
実績復帰方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic thin plate mechanical test system for collecting a test piece from a thin plate product, and a computer side managing a testing machine records test results when an abnormality occurs in the system. The present invention relates to a method for returning test results so that the test results can be restored.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えば製鉄所では、製造された製品(薄
板など)が仕様を満たしているか否か等の試験を行うた
めに試験片の採取が行われる。この試験片の採取を自動
的に行い、更に、これに対する試験を自動的に行うもの
として、薄板自動機械試験システムがある。
2. Description of the Related Art For example, in an iron mill, a test piece is collected in order to test whether or not a manufactured product (such as a thin plate) meets specifications. There is a thin plate automatic mechanical test system that automatically collects this test piece and further automatically tests it.

【0003】この薄板自動機械試験システムは、図9に
示すように、上位コンピュータとしてのビジコン21、
このビジコン21の下位コンピュータとして位置付けら
れるプロセスコンピュータ(以下、「プロコン」とい
う)22、及びこのプロコン22によって制御される複
数の試験装置23,24,25を主体に構成され、更
に、不図示の複数のFA(ファクトリー・オートメーシ
ョン)装置(パンチングプレス装置、パレットスタッカ
ー、各種コンベア、自動試験機、マニュアル試験機等)
を備えて構成されている。
This thin plate automatic mechanical test system, as shown in FIG. 9, has a vidicon 21 as a host computer,
A process computer (hereinafter, referred to as "pro computer") 22 positioned as a subordinate computer of the vidicon 21 and a plurality of test devices 23, 24, 25 controlled by the process computer 22 are mainly configured. FA (Factory Automation) equipment (punching press equipment, pallet stacker, various conveyors, automatic testing machines, manual testing machines, etc.)
It is configured with.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
技術にあっては、最終実績である試験実績を厳格に保証
することは極めて重要であるにもかかわらず、プロコン
の異常、接続回線通信異常等に際し、その復帰に伴って
試験実績を復旧する手段が講じられていないため、試験
実績を復旧することができなかった。
However, in the above-mentioned prior art, although it is extremely important to strictly guarantee the final test result, the abnormality of the process control and the abnormality of the connection line communication are caused. In such cases, it was not possible to restore the test results because no means was taken to restore the test results along with the return.

【0005】そこで、本発明の目的は、異常事態からの
復帰に際し、試験実績の復旧を迅速に行えるようにする
薄板自動機械試験における試験実績復帰方法を提供する
ことにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a method for returning test results in an automatic thin plate mechanical test, which enables quick recovery of the test results when returning from an abnormal situation.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明は、上位コンピュータに接続された下位
コンピュータの管理のもとに複数の試験機を制御して薄
板自動機械試験を行う薄板自動機械試験システムにおい
て、前記下位コンピュータ及び附属する記憶装置に生じ
た異常によりシステムが稼働停止後の復帰に際し、前記
下位コンピュータは、前記上位コンピュータで欠落して
いる末送信試験実績を把握すると共に、前記各試験機か
ら全試験実績の提供を受けて前記末送信試験実績を収集
し、その収集した実績を前記上位コンピュータへ送信す
るようにしている。
In order to achieve the above object, the present invention controls a plurality of testing machines under the control of a lower computer connected to a higher computer to perform an automatic thin plate mechanical test. In the thin plate automatic mechanical test system, when the system is restored after the operation is stopped due to an abnormality that occurs in the subordinate computer and the attached storage device, the subordinate computer grasps the missing transmission test result that is missing in the superordinate computer. The final transmission test results are collected by receiving all the test results from each of the testing machines, and the collected results are transmitted to the host computer.

【0007】[0007]

【作用】上記した手段によれば、下位コンピュータ及び
補助記憶装置に異常が発生した際、上位コンピュータに
対して末送信になっている試験実績を下位コンピュータ
によって把握し、更に、各試験機に対して試験完了ロッ
トを含む試験実績の提供を要求し、実績の重複が無いと
きに上位コンピュータで欠落している試験実績を収集
し、これを下位コンピュータから上位コンピュータへ送
信する。
According to the above-mentioned means, when an abnormality occurs in the lower computer and the auxiliary storage device, the lower computer grasps the test record which has been transmitted to the upper computer, and further Requesting the provision of test results including test-completed lots, collecting the missing test results in the host computer when there is no overlap in the results, and transmitting this from the host computer to the host computer.

【0008】これにより、異常状態で把握ができていな
かった試験実績を速やかに確保でき、システムを短時間
で立ち上げることができる。
As a result, it is possible to promptly secure the test results that could not be grasped in the abnormal state, and to start up the system in a short time.

【0009】[0009]

【実施例】図1は本発明による薄板自動機械試験におけ
る試験実績復帰方法を示すフローチャートであり、図2
は本発明にかかる薄板自動機械試験システムの概要を示
すレイアウト図である。なお、図1のフローの数字の前
に付した“S”は「ステップ」を意味している。
1 is a flow chart showing a method for returning test results in an automatic thin plate mechanical test according to the present invention.
FIG. 1 is a layout diagram showing an outline of an automatic thin plate mechanical testing system according to the present invention. In addition, "S" added before the number in the flow of FIG. 1 means "step".

【0010】図2に示すように、薄板自動機械試験シス
テムは、大別してI〜IVゾーンの4ブロック(工程区
分)から成る。ここで、Iゾーンは「運用上供試材単位
で運用されるゾーン」、IIゾーンは「運用上供試材単
位で運用されるゾーン」+「試片単位で運用されるゾー
ン」、IIIゾーンは「運用上試片がパレット(未加工
試片または加工済試片を収納する1種の容器)単位で運
用されるゾーン」、更にIVゾーンは「運用上試片がパ
レット単位で運用され、実際のパレットは空きパレット
回収状況にあるゾーン」である。
As shown in FIG. 2, the thin plate automatic mechanical test system is roughly divided into four blocks (process sections) of zones I to IV. Here, the I zone is “a zone that is operated in units of test materials”, the II zone is a “zone that is used in units of operation test materials” + “a zone that is operated in sample units”, and a III zone. "Is a zone in which operational specimens are operated in pallets (a type of container that stores unprocessed specimens or processed specimens)", and IV zone is "operational specimens are operated in pallet units, The actual pallet is a zone in the empty pallet collection status.

【0011】ここで、図1におけるFA装置の機能及び
製品(試片)の流れについて説明する。
Here, the function of the FA device and the flow of the product (test piece) in FIG. 1 will be described.

【0012】Iゾーンでは車両1によって供試材(薄
板)が搬入され、この供試材はIIゾーンの複数の台車
2に載置される。台車2上の供試材は、ローダ装置3に
よってパンチングプレス装置4へ搬入され、予め定めら
れた形状の試験片(試片)に打ち抜かれる。パンチング
プレス装置4から搬出された試片はミクロジョイント分
離装置5へ搬入され、ここで複数の方向へ搬送すること
ができる。その搬送先の1つにトラバーサ6及びバーコ
ードラベラー7があり、これらへ試片を移送するために
仕分けロボット8及びパレタイズロボット9が設けられ
ている。
In the I zone, the test material (thin plate) is carried in by the vehicle 1, and the test material is placed on the plurality of trucks 2 in the II zone. The test material on the carriage 2 is carried into the punching press device 4 by the loader device 3 and punched into a test piece (test piece) having a predetermined shape. The test piece carried out from the punching press device 4 is carried into the micro joint separating device 5 and can be carried there in a plurality of directions. A traverser 6 and a bar code labeler 7 are provided as one of the destinations, and a sorting robot 8 and a palletizing robot 9 are provided to transfer the test pieces to these.

【0013】IIIゾーン内には、自走搬送車(AG
V)10が楕円軌道を描くようにして走行できるように
なっており、この自走搬送車10の走行路に沿って搬出
コンベア11、搬入コンベア12、複数の試験機ステー
ション13が配設されている。試験機ステーション13
の各々に対抗させて、全自動試験機14、マニュアル試
験機15、単体自動試験機16の各々が順次配設されて
いる。
In the III zone, a self-propelled carrier (AG
V) 10 is designed to run in an elliptical orbit, and a carry-out conveyor 11, a carry-in conveyor 12, and a plurality of tester stations 13 are arranged along the traveling path of the self-propelled carrier 10. There is. Testing machine station 13
A full-automatic tester 14, a manual tester 15, and a single-unit automatic tester 16 are sequentially arranged in opposition to each other.

【0014】バーコードラベラー7と搬出コンベア11
の間には、割り込みコンベア17及びパレットスタッカ
18が配設され、さらに、割り込みコンベア17の近傍
には加工ロボット19及びアライニング装置20が設置
されている。
Bar code labeler 7 and carry-out conveyor 11
An interrupt conveyor 17 and a pallet stacker 18 are arranged between them, and a processing robot 19 and an aligning device 20 are installed near the interrupt conveyor 17.

【0015】以上のような薄板自動機械試験システムに
おいて、FA装置の全てが正常な場合、試片はミクロジ
ョイント分離装置5からバーコードラベラー7へ搬送さ
れ、バーコードラベルが貼付される。ついで、パレタイ
ズロボット9によってパレットスタッカ18へ移送さ
れ、更に割り込みコンベア17へ移送され、アライニン
グ装置20によって所定の試片形状に加工した後、搬出
コンベア11へ送られる。搬出コンベア11から自走搬
送車10へ搬入され、この自走搬送車10により試験機
ステーション13を介して全自動試験機14へ送り込ま
れ、試片に対する各種の自動試験が行われる。試験の終
了した試片は、自走搬送車10によってトラバーサ6へ
搬入され、仕分けロボット8を介してミクロジョイント
分離装置5へ送られ、更に搬出口へ送り出される。
In the thin plate automatic mechanical testing system as described above, when all FA devices are normal, the sample is conveyed from the micro joint separating device 5 to the bar code labeler 7 and a bar code label is attached. Then, it is transferred to the pallet stacker 18 by the palletizing robot 9, further transferred to the interrupt conveyor 17, processed into a predetermined sample shape by the aligning device 20, and then transferred to the carry-out conveyor 11. From the carry-out conveyor 11 to the self-propelled transport vehicle 10, the self-propelled transport vehicle 10 sends it to the fully-automatic testing machine 14 via the testing machine station 13 to perform various automatic tests on the test pieces. The test piece after the test is carried into the traverser 6 by the self-propelled carrier 10, is sent to the micro joint separating device 5 via the sorting robot 8, and is further sent to the carry-out port.

【0016】このようなシステムにあって、図9に示し
たように、各FA装置はプロコン22に接続されるが、
その接続はインターフェースを介して行っており、回線
の通信異常、或いはプロコンに異常が生じたりすると、
システムを停止し、復旧作業を行うことになる。そし
て、この異常発生により、試験装置による試験実績が消
失する場合がある。そこで、本発明では図1に示す方法
により、試験実績の復旧を図っている。
In such a system, as shown in FIG. 9, each FA device is connected to the process controller 22,
The connection is done via the interface, and if there is a communication error on the line or an abnormality in the programming computer,
The system will be stopped and recovery work will be performed. Then, due to the occurrence of this abnormality, the test results of the test apparatus may disappear. Therefore, in the present invention, the test results are restored by the method shown in FIG.

【0017】図1の説明の前にビジコン、プロコン及び
試験機の各機能及び相互間の通信内容の概略について説
明する。ビジコンにおいては、プロコンに対して供試材
単位で試験指示を行うと共に、プロコンから一品毎の試
験実績を受信し、供試材単位の総合判定を行い、ミルシ
ートを発行する。プロコンでは、試験機に対して試験指
示(パレット積載全試験片一括)を送信すると共に、試
験機側から一品毎の試験実績を受信して二次判定をし、
ビジコンに対して実績を送信する。また、試験機にあっ
ては、試験片に対する試験を実施し、その結果に対して
一次判定をし、プロコンに対して一品毎の試験実績を送
信する。
Prior to the description of FIG. 1, the functions of the vidicon, the process controller, and the tester and the contents of communication between them will be outlined. At the vidicon, the test instruction is given to the procon in units of test materials, and the test results for each product are received from the procon, comprehensive judgment is made in units of test materials, and a mill sheet is issued. In the process control, the test instruction (all the pallet-loaded all test pieces at once) is sent to the tester, and the test results for each product are received from the tester to make a secondary judgment.
Send achievements to the vidicon. Further, in the tester, a test is performed on a test piece, a primary judgment is made with respect to the result, and a test result for each product is transmitted to the process controller.

【0018】次に、図1を参照して本発明による試験実
績復帰方法について説明する。ここでは、プロコンとビ
ジコンには図3に示すような試験実績があるものとす
る。すなわち、ビジコンには「パレット1」に試験片d
が有り、「パレット2」に試験片I,J,K,Lの4片
の試験実績があるものとする。また、プロコンには試験
片a,b,c,dの試験実績があり、試験機には試験片
I,J,K,L及び試験片a,b,c,dの試験実績が
あるものとする。そして、図中の網掛けによる試験片は
試験実績の完了分であり、各システムが把握している実
績状態を示している。
Next, with reference to FIG. 1, a method of returning test results according to the present invention will be described. Here, it is assumed that the test computer and the vidicon have test results as shown in FIG. That is, for vidicons, the test piece d is placed on "Palette 1".
It is assumed that the “pallet 2” has a test record of four test pieces I, J, K and L. Further, it is assumed that the process control has test results of test pieces a, b, c, d, and the tester has test results of test pieces I, J, K, L and test pieces a, b, c, d. To do. The shaded test pieces in the figure represent the completed test results, and show the actual status of each system.

【0019】以下においては、「パレット2」の試験片
Iの実績をプロコンが試験機から受信した時点で、プロ
コンまたは試験機との間の回線接続に異常が発生したも
のとして説明する。そして、異常発生時点から復旧直後
の各システムの状態は次の如くであるものとする。
In the following description, it is assumed that an abnormality has occurred in the line connection between the test piece I of the "pallet 2" and the test computer when the test computer received the result from the test machine. Then, the state of each system immediately after restoration from the time of occurrence of an abnormality is as follows.

【0020】ビジコン:プロコン処置+通信時間差等に
より、前回の「パレット1」分の試験片cまでの実績を
把握しているが、試験片dについては末受信状態にあ
る。また、復旧後に試験片d、試験片Iの実績を受信す
る。
Vidicon: Although the actual results up to the previous test piece c for "pallet 1" are grasped by the procedure control + communication time difference, etc., the test piece d is in the end reception state. Further, after the restoration, the results of the test piece d and the test piece I are received.

【0021】プロコン:プロコン処置+通信時間差等に
より、ビジコンに末送信の試験片d及び試験片Iの実績
が残されている。このプロコンにおいては、附属する補
助記憶装置を含めて異常が発生しており、試験片d、試
験片Iの実績は消滅しているものとする。
Procon: The results of the test piece d and the test piece I, which have not been transmitted, are left in the vidicon due to the processing of the procedure and the difference in communication time. In this computer, it is assumed that an abnormality has occurred including the auxiliary storage device attached thereto, and the test pieces d and I have disappeared.

【0022】試験機:「パレット1」分の試験実績は、
次指示(「パレット2」分)の受信のタイミングで試験
完了ロットファイルにコピーされている。「パレット
2」については、試験片J以降の試験を継続するが、プ
ロコン停止のため通信不可となり、実績のみが蓄積され
る。
Tester: The test results for "pallet 1" are
It is copied to the test completed lot file at the timing of receiving the next instruction (for "Palette 2"). For "Pallet 2", the test on and after the test piece J is continued, but communication is disabled because the process control is stopped, and only the actual results are accumulated.

【0023】次に、図1の処理について説明する。ここ
では、「パレット1」分と「パレット2」分の指示が試
験機に対して送られているいるものとし、また、プロコ
ンにおける欠落データは、図3に示したように試験片
d、試験片I,J,Kの各試験実績であるとする。
Next, the processing of FIG. 1 will be described. Here, it is assumed that the instructions for "pallet 1" and "pallet 2" have been sent to the testing machine, and the missing data in the process control is as shown in FIG. It is assumed that the test results of the pieces I, J, and K are obtained.

【0024】まず、プロコンからビジコンに対し、供試
材単位による総合判定末完了の試験指示(供試材情報)
の再送を要求する(S101)。この要求内容は図4に
示すフォーマットであり、これに対応してビジコンから
図5に示す内容の全試験指示情報がプロコンへ送られる
(S102)。これに基づいてプロコンは、試験指示フ
ァイルを復元する。
First, the test instruction from the process controller to the vidicon for completion of the comprehensive judgment in units of test materials (test material information)
Is requested to be retransmitted (S101). This request content is in the format shown in FIG. 4, and correspondingly, all the test instruction information having the content shown in FIG. 5 is sent from the vidicon to the process computer (S102). Based on this, the process controller restores the test instruction file.

【0025】ついで、ビジコン欠落実績をチェックし、
実績完了区分が末完了か否かを判定し(S103)、完
了であれば終結し、末完了であれば欠落実績の識別処理
を実行すると共に、試験片d以降を識別する(S10
4)。さらに、試験機に対し、図6に示す如きフォーマ
ット内容の全実績についての問い合わせを行う(S10
5)。プロコンは試験機からの試験完了ロット分を含む
図7のようなフォーマットの全試験実績(試験片a〜試
験片d、試験片I〜試験片Kまでの試験実績)を受信す
る(S106)。プロコンでは、「パレット1」及び
「パレット2」内のシーケンスチェックをし、実績の重
複がないか否かを判定する(S107)。
Next, check the vidicon loss record,
It is determined whether or not the result completion classification is the end completion (S103). If the result completion is completed, the process is terminated.
4). Further, the tester is inquired about all the results of the format contents as shown in FIG. 6 (S10).
5). The process controller receives all test results (test results from test piece a to test piece d and test piece I to test piece K) in the format as shown in FIG. 7 from the tester (S106). In the process control, the sequence check in "pallet 1" and "pallet 2" is performed, and it is determined whether or not there is an overlap in the results (S107).

【0026】さらにプロコンにおいてビジコン欠落分の
試験片d、試験片Iと新たな実績試験片J及び試験片K
についての実績収集処理を実行する(S108)。つい
で、ビジコンに対して末送信であった実績を図8に示す
フォーマットで送信(試験片d、試験片I〜試験片K)
し(S109)、試験実績復帰処理を終了する。
Further, in the test computer, the test piece d lacking the vidicon, the test piece I, the new actual test piece J and the test piece K are used.
A performance collecting process is executed (S108). Then, the result of the last transmission to the vidicon was transmitted in the format shown in FIG. 8 (test piece d, test piece I to test piece K).
Then, (S109), the test result return processing is ended.

【0027】[0027]

【発明の効果】以上より明らかな如く、本発明によれ
ば、上位コンピュータに接続された下位コンピュータの
管理のもとに複数の試験機を制御して薄板自動機械試験
を行う薄板自動機械試験システムにおいて、前記下位コ
ンピュータ及び附属する記憶装置に生じた異常によりシ
ステムが稼働停止後の復帰に際し、前記下位コンピュー
タは、前記上位コンピュータで欠落している末送信試験
実績を把握すると共に、前記各試験機から全試験実績の
提供を受けて前記末送信試験実績を収集し、その収集し
た実績を前記上位コンピュータへ送信するようにしたの
で、異常状態で把握ができていなかった試験実績を速や
かに確保でき、システムを短時間で立ち上げることがで
きる。
As is apparent from the above, according to the present invention, an automatic thin plate mechanical testing system for controlling a plurality of testing machines and performing an automatic thin plate mechanical test under the control of a lower computer connected to a higher computer. In the above, when the system is restored after the operation is stopped due to an abnormality that has occurred in the lower-level computer and the attached storage device, the lower-level computer grasps the end transmission test results that are missing in the higher-level computer and All the test results are provided by the company, and the end transmission test results are collected and the collected results are transmitted to the host computer, so it is possible to promptly secure the test results that could not be grasped due to an abnormal state. The system can be started up in a short time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による薄板自動機械試験における試験実
績復帰方法を示すフローチャートである。
FIG. 1 is a flowchart showing a method for returning test results in an automatic thin plate mechanical test according to the present invention.

【図2】本発明の薄板自動機械試験システムの概要を示
すレイアウト図である。
FIG. 2 is a layout diagram showing an outline of an automatic thin plate mechanical testing system of the present invention.

【図3】本発明にかかるプロコンとビジコンに保持され
ている試験実績内容を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing the contents of test results held in the process control and vidicon according to the present invention.

【図4】図1のステップ101においてプロコンからビ
ジコンへ送信される供試材情報再送要求の伝文例を示す
説明図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a message example of a sample material information resend request transmitted from the process controller to the vidicon in step 101 of FIG. 1;

【図5】図1のステップ102においてビジコンからプ
ロコンへ送信される全試験指示情報の伝文例を示す説明
図である。
5 is an explanatory diagram showing a message example of all test instruction information transmitted from the vidicon to the process computer in step 102 of FIG. 1. FIG.

【図6】図1のステップ105においてプロコンから試
験機へ送信される全実績についての問い合わせ伝文の内
容を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing the content of an inquiry message regarding all performances transmitted from the process controller to the testing machine in step 105 of FIG.

【図7】図1のステップ106において試験機からプロ
コンへ送信される全試験実績の伝文例を示す説明図であ
る。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing an example of a message of all test results transmitted from the tester to the process computer in step 106 of FIG.

【図8】図1のステップ109においてプロコンからビ
ジコンへ送信される末送信実績の伝文例を示す説明図で
ある。
FIG. 8 is an explanatory diagram showing an example of a message of the end transmission record transmitted from the process controller to the vidicon in step 109 of FIG. 1;

【図9】薄板自動機械試験システムの概略構成を示すブ
ロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing a schematic configuration of an automatic thin plate mechanical testing system.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 車両 2 台車 3 ローダ装置 4 パンチングプレス装置 5 ミクロジョイント分離装置 6 トラバーサ 7 バーコードラベラー 8 仕分けロボット 9 パレタイズロボット 10 自走搬送車 11 搬出コンベア 12 搬入コンベア 13 試験機ステーション 14 全自動試験機 15 マニュアル試験機 16 単体自動試験機 17 割り込みコンベア 18 パレットスタッカ 19 加工ロボット 20 アライニング装置 21 ビジコン 22 プロセスコンピュータ 23 試験装置 24 試験装置 25 試験装置 1 Vehicle 2 Truck 3 Loader Device 4 Punching Press Device 5 Micro Joint Separation Device 6 Traverser 7 Bar Code Labeler 8 Sorting Robot 9 Palletizing Robot 10 Self-propelled Transport Vehicle 11 Carry-out Conveyor 13 Testing Machine Station 14 Full-automatic Testing Machine 15 Manual Testing machine 16 Single unit automatic testing machine 17 Interruption conveyor 18 Pallet stacker 19 Processing robot 20 Aligning device 21 Visicon 22 Process computer 23 Testing device 24 Testing device 25 Testing device

フロントページの続き (72)発明者 小関 哲也 千葉県君津市君津1番地 株式会社日鉄エ レックス君津支店内Front page continuation (72) Inventor Tetsuya Ozeki 1 Kimitsu, Kimitsu-shi, Chiba Nittetsu Elex Kimitsu Branch

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 上位コンピュータに接続された下位コン
ピュータの管理のもとに複数の試験機を制御して薄板自
動機械試験を行う薄板自動機械試験システムにおいて、
前記下位コンピュータ及び附属する記憶装置に生じた異
常によりシステムが稼働停止後の復帰に際し、前記下位
コンピュータは、前記上位コンピュータで欠落している
末送信試験実績を把握すると共に、前記各試験機から全
試験実績の提供を受けて前記末送信試験実績を収集し、
その収集した実績を前記上位コンピュータへ送信するこ
とを特徴とする薄板自動機械試験における試験実績復帰
方法。
1. An automatic thin plate mechanical testing system for controlling a plurality of testing machines under the control of a lower computer connected to a higher computer to perform an automatic thin plate mechanical test,
When the system is restored after the system is stopped due to an abnormality that has occurred in the lower-level computer and the attached storage device, the lower-level computer grasps the missing transmission test results that are missing in the upper-level computer and After receiving the test results, we collect the last transmission test results,
A method for returning test results in an automatic thin plate mechanical test, characterized in that the collected results are transmitted to the host computer.
JP34551693A 1993-12-22 1993-12-22 Method for recovering test results in automatic thin plate mechanical testing Pending JPH07182006A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010061482A1 (en) * 2008-11-28 2010-06-03 株式会社アドバンテスト Testing apparatus, serial transmission system, program, and recording medium

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