JPH07182793A - 光学デイスクの収納及び検索システム及び光学デイスクのスペア・セクタの過剰使用を決定する方法 - Google Patents

光学デイスクの収納及び検索システム及び光学デイスクのスペア・セクタの過剰使用を決定する方法

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JPH07182793A
JPH07182793A JP6206370A JP20637094A JPH07182793A JP H07182793 A JPH07182793 A JP H07182793A JP 6206370 A JP6206370 A JP 6206370A JP 20637094 A JP20637094 A JP 20637094A JP H07182793 A JPH07182793 A JP H07182793A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光学式媒体上のスペア・セクタの使用と、フ
ラグの過剰な使用とを追跡し分析すること。 【構成】 読み取り／書き込み動作の間で、デイスク上
の欠陥セクタと置換するために使用されるスペア・セク
タの数と、フオーマツト動作中における欠陥セクタと置
換するのに使用されるスペア・セクタの数とが所定の限
界値を越えたか否かに関する決定が行なわれる。この限
界値は、使用されるデイスクのタイプ、即ち書き込み可
能デイスクか、一回だけしか書き込めないデイスク（Ｗ
ＯＲＭ）かに依存して異なつている。若しこの限界値を
超過したならば、過剰な使用の原因を確かめるために、
診断手順が実行され、そして、デイスクや、ドライブ・
レンズなどの清掃を要求する適当な訂正動作が開始され
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学デイスク、より詳
細に言えば、レンズ、またはデイスクの汚染、媒体の劣
化、またはハードウエアの誤動作に起因する光学デイス
クのスペア（予備）セクタの過剰な消耗を回避すること
に関する。
【０００２】
【従来の技術】標準的な消去可能な光学デイスク及び一
回書き込み（write once-ＷＯＲＭ）式の光学デイスク
は１つの記録面毎に数千個のスペア・セクタでフオーマ
ツトすることができる。スペア・セクタの目的は、媒体
中の汚染物や、媒体またはレンズ上の塵埃や、または間
欠的に生じる誤動作や、マージナルなハードウエアの誤
動作によつて読み取り及び書き込みデータの信頼性を損
なうことが生じた時に、データを記録するための位置を
与えることである。光学デイスクの技術において、デー
タが書き込まれた時にデイスク上に置かれたマークは１
ミクロンよりも小さいので、デイスク上の小さな欠陥
や、塵埃の小さな粒子は、データを読み取り、または書
き込む時にエラーを導入することがある。
【０００３】光学デイスクの欠陥は、通常、２つのタイ
プがある。第１のタイプは、デイスクそれ自身の構造中
にあり、光学デイスクの製造過程で生じたものであつ
て、永久的欠陥と言われる。消去可能な磁気光学（magn
eto-optical-ＭＯ）デイスクはテルビウム、鉄及びコバ
ルトのような反応性材料の層で製造されているので、Ｍ
Ｏデイスクは、多くの他の媒体タイプよりも上述の永久
的欠陥を生じ易い傾向が強い。これらの活性層は、活性
層に触れたならば永久的欠陥を生じる酸素及び湿気を通
さないように設計された透明プラスチツク材料で被覆さ
れている。このような永久的欠陥は、通常、製造過程で
発生するけれども、若し酸素または湿気がデイスクの使
用中に活性層に通つたならば、製造後でもデイスクの使
用中に永久的欠陥が生じ得る。更に、このような永久的
欠陥は、時間と共に成長する傾向がある。その結果、１
つのセクタ中のデータの僅か１ビツトだけが影響するよ
うな欠陥が活性層に最初から存在しているならば、その
ような欠陥は、時間の経過と共に成長して、そのセク
タ、または隣接したセクタの他のビツトに影響すること
になる。
【０００４】データを読み取りまたは書き込む際に欠陥
を生じる問題の第２のタイプは、塵埃とか、汚染物によ
る汚染であり、これは臨時的欠陥と呼ばれる。充分に大
きな塵埃がデイスクの表面か、またはドライブ・レンズ
面に照射された時、レーザ・ビームは拡散、または阻止
され、デイスクは、その特定の場所において完全に書き
込まれ、または完全に読み取られないとは限らないが、
少なくとも信頼性ある書き込み、または読み取りができ
ない。塵埃の粒子によつて生じた臨時的欠陥は、通常、
大きさが成長しないけれども、塵埃の粒子が動いた時、
時間と共にデイスク面上を移動することがある。また、
このような臨時的欠陥は、多くの場合、デイスク面、ま
たはレンズ面を清掃することによつて除去することがで
きる。
【０００５】間欠的で、マージナルなハードウエア問題
は、アクセスされたデータの信頼性を失なわせる。例え
ば、ドライブ・システムの書き込みチヤネル中の間欠的
な回路の誤動作は、誤つたデータを発生することがあ
り、この誤りのデータはデイスクにストアされる。エラ
ー訂正コード（ＥＣＣ）がこのようなデータを訂正する
ことができるが、これは、データの訂正に対する非常に
高い基準を必ずしも満足させるものではなく、従つて最
高の信頼性を持つものとは言えない。同様に、読み取り
チヤネルからの低い出力信号をＥＣＣにより訂正するこ
とはできるけれども、これもまたマージナルなデータを
作る可能性がある。
【０００６】デイスクの欠陥の影響は、活性層中の永久
的欠陥によるものであろうと、塵埃による臨時的欠陥、
またはハードウエアによる臨時的欠陥によるものであろ
うと同じである。通常の光学デイスク・システムは、エ
ラーの存在を検出するだけであり、エラー発生の原因を
決定することはできない。更に、エラーが検出されたと
しても、そのエラーは、エラー訂正コードによつてデイ
スク上に書き込まれたデータを訂正することを困難にす
るか、または不可能にすることがある。従つて、スペア
のセクタを含むデイスク上に設けられた領域にデータを
移動させて、元のセクタを欠陥セクタとしてマーク付け
することが必要である。また、若しスペア・セクタが欠
陥を持つか、または塵埃によつて汚染されているなら
ば、依然として他のスベア・セクタにデータを移動する
ことが必要である。塵埃による汚染及び媒体の欠陥は急
速にスペア・セクタを消費することになるのは明らかで
ある。また、スペア・セクタの数が或る数に限られてい
ることと、各エラーが１つ、またはそれ以上のスペア・
セクタの使用を必要とすることとによつて、スペア・セ
クタは急速に枯渇することになるのも明らかである。明
らかに、光学デイスクは、若しすべてのスペア・セクタ
か、あるいは殆どのスペア・セクタが使用されたなら
ば、光学デイスクは信頼性を失うか、または使用不能に
なる。
【０００７】なお、本発明に関連して、１９９１年９月
９日に出願された発明の名称「光学デイスク装置におけ
る塵埃で汚染されたセクタの再生」の米国特許出願第０
７／７５６７２９号があることを付記する。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述した技術的な背景
において、本発明の目的は光学式媒体上のスペア・セク
タの使用と、フラグの過剰な使用とを追跡し分析するこ
とにある。
【０００９】本発明の他の目的は、スペア・セクタの使
用と、フラグの過剰使用とを追跡し分析することにあ
る。
【００１０】本発明の他の目的は、スペア・セクタの使
用を追跡し分析し、その過剰使用の原因を決定し、か
つ、適正な訂正動作を開始することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上述の目的及びその他の
目的は、デイスク毎で、かつデイスク駆動装置毎にエラ
ーの結果として使用される永久的エラーの数及び臨時的
エラーの数と、スペア・セクタの数とを追跡するための
本発明の装置及び方法によつて達成することができる。
読み取り／書き込み動作の間で、デイスク上の欠陥セク
タと置換するために使用されるスペア・セクタの数と、
フオーマツト動作中における欠陥セクタと置換するのに
使用されるスペア・セクタの数とが所定の限界値を越え
たか否かに関する決定が行なわれる。この限界値は、使
用されるデイスクのタイプ、即ち再書き込み可能デイス
クか、一回だけしか書き込めないデイスク（ＷＯＲＭ）
かに依存して異なつている。若しこの制限値を超過した
ならば、過剰な使用の原因を確かめるために、診断手順
が実行され、そして、デイスクや、ドライブ・レンズな
どの清掃を要求する適当な訂正動作が開始される。更
に、再書き込み可能なデイスク上のスペア・セクタを使
用する試みも行なうことができる。
【００１２】
【実施例】図１を参照すると、ホスト・プロセツサ１４
と内部的に接続された光学デイスク駆動装置１２のよう
な周辺装置のためのコントローラ１０のブロツク図が示
されている。コントローラ１０は、ターゲツト・インタ
ーフエース・ロジツク１６、光学デイスク・コントロー
ラ１８及びマイクロプロセツサ２０を含んでいる。読取
専用メモリ（ＲＯＭ）２２はマイクロプロセツサ２０と
関連付けられている。ラン・レングス制限（ＲＬＬ）回
路２６は駆動装置１２からデータを受け取り、または駆
動装置１２へデータを送る。バツフア２８はデータ用の
ストレージ装置を与え、そして、エラー訂正コード（Ｅ
ＣＣ）ロジツク回路３０はバツフア２８にストアされて
いるデータに訂正を与える。光学デイスク３２は、デー
タをアクセスするために駆動装置１２の中に装荷され
る。
【００１３】マイクロプロセツサ２０はコントローラ１
０のためのシステム・マネージヤである。マイクロプロ
セツサ２０は、光学デイスク・コントローラ１８を制御
して、光学デイスク・コントローラ１８を通してＥＣＣ
ロジツク３０を監視する。光学デイスク・コントローラ
１８はＥＣＣエンコード／デコード動作と、データ・バ
ツフア処理とを制御する。ＲＯＭ２２は、マイクロプロ
セツサ２０のためのローカル・コントロール・ストレー
ジを与えており、他方、ＲＡＭ２４は、マイクロプロセ
ツサ２０に対するワーキング・ストレージを与えてい
る。ターゲツト・インターフエース・ロジツク１６はホ
スト・プロセツサ１４からコマンド及びデータを受け取
る。
【００１４】コントローラ１０及び駆動装置１２はホス
ト・プロセツサ１４に直接に接続することができ、ある
いは、図１に示されているように、自動式ストレージ及
び検索ライブラリ・システムに組み込むことができる。
コントローラ１０及び駆動装置１２に加えて、上述のラ
イブラリ・システムは、ライブラリ・コントローラ３８
を介してホスト・コンピユータに相互接続された１台以
上の付加的なドライブ・コントローラのグループ３４及
び駆動装置バンク３６を含んでいる。ライブラリ・コン
トローラ３８は、ホスト・プロセツサ１４からのデータ
・アクセス・インストラクシヨンを処理し、そして、貯
蔵されているデイスク４２のアレイから所望のデイスク
を検索し、かつ駆動装置バンク３６の中の選択された駆
動装置中にデイスクを挿抜するために、デイスク・アク
セツサ４０を管理する。データ・アクセスが完了する
と、ライブラリ・コントローラ３８は、選択された駆動
装置３６からデイスクを取り外し、そしてデイスク・ア
レイ４２の中に、取り外したデイスクを置き換えるため
に、アクセツサ４０を管理する。
【００１５】図２は、図１に示したコントローラ１０と
相互接続されたデイスク駆動装置１２において使用する
ための光学デイスク・カートリツジを示す図である。カ
ートリツジのハウジング４４はハブ４８上に装着された
光学デイスク３２を含んでいる。カートリツジ４４上の
シヤツタ式扉５０は、デイスク３２を露出するように開
かれている状態が示されている。シヤツタ式扉５０が閉
じた位置にある時、塵埃はカートリツジ４４の中に入れ
ず、かつ光線はデイスク３２上に入ることはできない
が、シヤツタ式扉５０が開かれている時には、読み取り
／書き込みヘツドがデイスク３２上のデータをアクセス
しなければならず、デイスク３２の表面を汚染する。
【００１６】図３は光学デイスクのトラツクとセクタの
構成を説明するための模式図である。トラツクＴ０はデ
イスク３２上の最内側トラツクとして示されており、デ
イスク・ハブ４８に近い位置にある。トラツクの番号付
けは、最内側トラツクＴ０から最外側トラツクＴｎまで
外側に向けて増加している。光学デイスク技術におい
て、連続した渦巻状にトラツクを与えるのが普通である
けれども、トラツクは相互に同心円状にすることもでき
る。デイスク３２は、セクタＳ０及びＳ１のような複数
のセクタに分けることができる。通常、各トラツクに沿
つて等しい角度で分けられた１７個のセクタが与えられ
ている。
【００１７】図４及び図５は、デイスク３２上のトラツ
ク及びセクタを図表的に示す図である。デイスク３２上
に書き込まれたマーク、またはデイスクから読み取られ
るマークは、代表的例において、１ミクロンの大きさを
持ち、そして、隣のマークから約１ミクロンだけ離れて
いる。通常、各トラツクに沿つたセクタ中に数千のマー
クがある。図４は、トラツクＴ１上のセクタＳ２におけ
る臨時的欠陥６０と、トラツクＴ２上のセクタＳ４にお
ける永久的欠陥６２とを示している。データがデイスク
３２に書き込まれた時、その後時間が経過したとしても
信頼性をもつてデータを読み取ることができるのを保証
するために、データは、高い基準で読み取られる。同様
に、読み取り動作の間で、データの完全さが検査され
る。欠陥６０または６２が充分に大きいために、若しデ
ータがテスト基準を満たさなければ、これらの欠陥セク
タ上のデータ、または、これらの欠陥セクタ上に書き込
まれるであろうデータは、スペア・セクタに移動され
る。
【００１８】図５は、図４と同じような図であつて、時
間の経過と共にしばしば発生する２つのタイプの欠陥を
説明するための図である。臨時的欠陥６０はセクタＳ
２、トラツクＴ１にはなくなつているが、その欠陥は、
トラツクＴ３の異なつたセクタＳ２に移動していること
には注意されたい。欠陥６０のような移動する欠陥は、
デイスク３２の表面上を移動する塵埃粒子に起因するも
のである。
【００１９】トラツクＴ２のセクタＳ４にある欠陥６２
は、図４に示した小さな永久的欠陥であり、この欠陥は
最初のフオーマツトの時点ではデータを喪失させるには
余りにも小さい欠陥であつた。然しながら、図５に示し
たように、欠陥６２は時間の経過と共に大きさが成長し
て、セクタＳ４に隣接したトラツクＴ１中に問題を生じ
るに至つている。成長した欠陥６２はデイスク６２の反
応層中の代表的な欠陥である。光学デイスクは、大容量
ストレージに用いられるので、光学デイスクは長く寿命
を保つよう期待されており、永久的欠陥が成長すること
に幅広い機会を与える。既に述べたように、駆動装置１
２の内部にある光学レンズ上の塵埃粒子及びハードウエ
ア欠陥もまた信頼性のないセクタを発生する。
【００２０】本発明は、塵埃によつて汚染されたセクタ
と、反応型欠陥によつて影響されているセクタとを識別
する。ＭＯ媒体の欠陥を決めるために、ＭＯデイスクが
駆動装置中に先ず挿入されてフオーマツトされる時に、
最初に欠陥が検出される。フオーマツト動作において、
デイスク上の各データ・セクタに対して、テスト・デー
タが書き込まれ、次に、テスト・データを読み取る。従
つて、最初のＭＯの装着の間で、どのセクタが欠陥を持
つているかを確定することができる。デイスク・カート
リツジは、最初の使用の前には密閉されているから、こ
れらの欠陥セクタは、塵埃ではなくデイスクの活性材料
の欠陥に起因するものであると想定される。また、これ
らの欠陥の内のあるものは時間の経過と共に成長するこ
とが想定される。このような成長はすべての方向に成長
する、つまり、この種の欠陥はビツト位置からビツト位
置へ元のトラツクに沿つて成長することがあるし、ある
いは、隣のトラツク上のセクタに拡大することもある。
【００２１】ＷＯＲＭ媒体がフオーマツトされる時、ス
ペア・セクタを含むデイスク上の領域は識別することが
できるけれども、ＷＯＲＭの再書き込み不能の性質のた
めに、テスト・データは書き込むことはできない。従つ
て、フオーマツトの間で、欠陥は検出されない。然しな
がら、欠陥は実際の書き込み動作の間で検出される。書
き込みに続く検査の間で若しセクタが悪いと見出された
ならば、データは、スペア・セクタの領域中で使用可能
な第１のスペア・セクタ中に再書き込みされる。
【００２２】図６はＭＯデイスクのオリジナルのフオー
マツト処理において使用されるデイスク表面の分析手順
を示す流れ図である。ステツプ５００において、フオー
マツト・コマンドがホスト・コンピユータ１４からコン
トローラ１０により受け取られ、ステツプ５０２におい
て、デイスク面毎にフオーマツトされるセクタの数に等
しい変数ｍがセツトされる。ステツプ５０４において、
デイスク面のすべてのセクタは消去され、そしてステツ
プ５０６において、各セクタに対して特別のパターン・
データが書き込まれる。ステツプ５０８において、変数
ｎがゼロにセツトされ、ステツプ５１０においてセクタ
ｎが読み取られる。ステツプ５１２において、セクタｎ
に書き込まれたパターン・データは正しく読み取られた
か否かに関する問い合せに対して答えが戻される。若し
答えが肯定的ならば、ステツプ５１４において、すべて
のセクタが読み取られたか否かが決定される。若しこの
応答が否定的ならば、ステツプ５１６において、変数ｎ
は＋１が加算され、そしてステツプ５１０に戻されて、
セクタを読み取り、そして次の検査が行なわれる。ステ
ツプ５１２において欠陥セクタが見出された時、次のセ
クタを検査するステツプ５１０に戻る前に、ステツプ５
１８において、欠陥を持つセクタのアドレスがＲＡＭ２
４の中にストアされる。パターン・データがすべてのセ
クタに書き込まれ、そして検査された時に、表面分析は
ステツプ５１４において終了される。
【００２３】デイスク３２が若しＭＯであれば、デイス
ク３２は「デイスク定義構造（ＤＤＳ）」、「一次欠陥
構造（ＰＤＬ）」及び「二次欠陥リスト（ＳＤＬ）」を
含む「デイスク管理領域（ＤＭＡ）」を含んでいる。カ
ートリツジは、デイスクの初めてのフオーマツトの前で
は密閉されており、塵埃による汚染はなく、そして、最
初のフオーマツトの間で見出されたすべてのエラーは永
久的な媒体欠陥によつて生じたものと仮定される。ステ
ツプ５１４において、デイスク表面の分析が終了した時
に、欠陥セクタは、置換されるスペア・セクタに割り当
てられる。ステツプ５２０において、欠陥セクタのアド
レス及び対応して割り当てられたスペア・セクタはＤＭ
Ａ（デイスク管理領域）構造のＰＤＬ（一次欠陥構造）
領域中にストアされる。（代案として、スペア・セクタ
は割り当てることができ、そして、ＰＤＬの中に欠陥と
してストアされたアドレスは、フオーマツト処理の検定
部分の間で検出される。）
【００２４】ステツプ５２２において、下記の表に示さ
れているように、デイスク３２をフオーマツトするのに
用いられる特定の光学デイスク駆動装置用のＲＡＭ２４
の中にコンパイルされる。
【００２５】
【表１】
【００２６】この例において、デイスク・ボリユーム標
識ＸＸＸＸを持つ光学ＭＯデイスクの３１８７６７個の
書き込み可能なすべてのデータ・セクタ及びスペア・セ
クタは駆動装置＃２３４５１においてフオーマツトされ
ている。（ＭＯデイスクの３１８７６７個の書き込み可
能セクタは３１６７１９個のデータ・セクタと２０４８
個のスペア・セクタとを含んでいる。）１６個の永久的
エラー（媒体の欠陥）が検出されており、４８個のスペ
ア・セクタに割り当てられている。
【００２７】光学ライブラリ・システム中のすべての新
しいデイスクをフオーマツトする処理のステツプ５２４
において取り出しと決定される時点で、若しこのデイス
クだけがフオーマツトされるものならば、ステツプ５２
６において、上述の表１からのデータは、すべてのデイ
スク及びすべての駆動装置（ライブラリ環境において）
のためのエラーの統計を保持した別個の表に転送され
る。従つて、表１のデータは削除され、そして、他のデ
イスクが駆動装置中に装着された時に新しいデータが付
加される。下記の表２は、駆動装置＃２３４５１中のフ
オーマツト・デイスクＸＸＸＸから生じた単一の記入項
目のみを持つ新しく設定された表を示している。
【００２８】
【表２】
【００２９】表１及び表２は、ライブラリ・コントロー
ラ３８か、またはホスト・コンピユータ１４の何れかに
関連したハード・デイスクのような不揮発性メモリ中に
保持することができる。表２の設定、または更新の後
に、他のデイスクをフオーマツトするか、処理を終了す
るか、あるいは、デイスク３２に対して実際のデータを
記録することができる。
【００３０】ＭＯ媒体またはＷＯＲＭ媒体に対して、若
し実際のデータがデイスク３２に記録されることになれ
ば、ステツプ５２４においてデイスク３２の取り外しは
行なわれない。デイスク３２に対してデータを記録する
か、または、前にフオーマツトされたデイスクに記録す
るか、または、読み取りを行なうために、図６のＡに向
かう矢印によつて表示された新しい手順が呼び出され
る。この新しい処理手順は図７の流れ図を参照して説明
される。デイスク媒体のタイプ及びボリユーム識別コー
ドは図７のステツプ６００において得られ、そして、ス
ペア・セクタの閾値の限界が計算される。
【００３１】ステツプ６０２において、若しデイスクが
ＷＯＲＭであると決定されたならば、二次スペア・セク
タ（ＭＳＲ）の使用の受容可能な最大の割合は、ステツ
プ６０３で計算される。この割合（率）は二次スペア・
セクタの最大数（１トラツク毎に１６個の一次スペア・
セクタが 各デイスク面上の２５６個のセクタの１１５
６個のグループの各々において用いられた後の数）に関
連しており、この最大数に対して、スペア・セクタの過
剰な使用がフラグされる前に、使用可能なデータ・セク
タの合計数に関して、欠陥セクタをマツプするのが許容
される。ＷＯＲＭ媒体に対しては、下記の数式が適用さ
れる。
【数１】ＭＳＲ＝（Ｋ×使用可能な二次スペアの数）／
使用可能なセクタの数
【００３２】若し必要ならば、例えば、使用可能な二次
スペア・セクタ数の半分が使用された時に（つまり、Ｋ
＝５０％）、二次スペア・セクタの過剰な使用が表示さ
れ、媒体は約３０５Ｋ個のデータ・セクタと、３４０個
のスペア・セクタとを持ち、ＭＳＲは下記のようにな
る。 ＭＳＲ＝（０．５×３４０）／３０５Ｋ＝０．０００５
５
【００３３】ステツプ６０２において決定されるデイス
クがＭＯならば、スペア・セクタ（ＥＡＬ）の消去可能
な受容可能使用限度はステツプ６０４において決定され
る。この限界は、二次スペア・セクタの最大数であり、
過剰使用がフラグされる前に、マツプされるのが許容さ
れる欠陥セクタの最大数である。ＭＯに対しては下記の
数式が適用される。
【数２】ＥＡＬ＝Ｋ×利用可能なスペア・セクタの数
【００３４】再言すると、利用可能なスペア・セクタ数
の半分が使用されてしまつた時に、二次スペア・セクタ
の過剰使用が表示されるのが好ましく、そして、媒体が
最大２０４８個のスペア・セクタを持つているならば、
ＥＡＬ＝０．５×２０４８＝１０２４個である。
【００３５】ステツプ６０３、またはステツプ６０４に
おける許容されるスペア・セクタの使用の計算に続い
て、ステツプ６０５において、デイスクは「外部」デイ
スク、即ち「表２」に未だリストされていないデイスク
であるか否かの決定が行なわれる。若しそのデイスクが
外部デイスクであれば、デイスク媒体の走査を行なうこ
とによつて、デイスクに対して既に書き込まれたセクタ
の数（ＳＷ）と、既に用いられたスペア・セクタの数
（ＳＳ）とがステツプ６０６及び６０８において得られ
る。若しデイスクが外部デイスクでなければ、ステツプ
６１０において、そのデイスク・ボリユームに対して書
き込まれたセクタの数、ＳＷ及び既に用いられたセクタ
の数、ＳＳのエラーの統計が得られる。
【００３６】ステツプ６０８か、ステツプ６１０の何れ
かにおいてＳＷか、ＳＳが受け取られた時、所望の読み
取り、または書き込み動作がステツプ６１２において遂
行され、そして、ステツプ６１４及び６１６において、
この動作の間で書き込まれたセクタの数Ｗが得られ、表
１の中にストアされる。また、ステツプ６１８におい
て、この動作の間で読み取りエラー、または書き込みエ
ラーが発生したか否かが決定される。デイスクが充分に
長い時間の間使用された後には、欠陥セクタの数は顕著
に増加する。デイスク媒体のセクタから永久的欠陥が成
長するばかりでなく、使用中においてカートリツジに侵
入した塵埃粒子もまた、永久的エラーと物理的には関連
しない領域中に臨時的エラーを発生することがあり得
る。
【００３７】ステツプ６１８において、若し新しいエラ
ー（または、新しく拡大したエラー）が検出されなけれ
ば、ステツプ６２０において、デイスクは取り去られる
か否かが決定される。若しデイスクが取り出されるなら
ば、ステツプ６２２において、「表２」は「表１」から
すべての新しい統計により更新され、そして、処理は終
了する。若しデイスクが取り外されず、さらに読み取
り、または書き込み動作に向けられるのならば、処理は
ステツプ６１２に戻る。
【００３８】他方、ステツプ６１８において、若し新し
いエラーがＭＯ媒体中に検出されたならば、欠陥セクタ
の位置のアドレスと共に、それらに関連した夫々のセク
タとのアドレスとがＤＭＡ（デイスク管理領域）の構造
中のＳＤＬ（二次欠陥リスト）の領域中にストアされ
る。加えて、ステツプ６２４及び６２６において、用い
られたスペア・セクタの数Ｓが計算され、エラー数Ｅと
共に「表１」の中にストアされる。デイスクが駆動装置
中に装着される毎に別個の「表１」がライブラリ環境に
ある各駆動装置のために作成され、そして、新しいエラ
ーが検出される毎に項目の記入が行なわれる。駆動装置
＃２３４５１のための更新された「表１」は、デイスク
・ボリユームＸＸＸＸの読み出し／書き込み動作の後に
下記に示す表３のようになる。
【００３９】
【表３】
【００４０】ステツプ６２７において、使用されたスペ
ア・セクタの数ＳＳ及び書き込まれたセクタの数ＳＷは
「表１」及び「表２」中に蓄積されたデータから計算さ
れる。ステツプ６２８において、若し媒体がＷＯＲＭで
あると決定されたならば、ステツプ６３０において、ス
ペア・セクタの実際の使用率が下記の数式に従つて計算
される。
【数３】ＡＳＲ＝ＳＳ／ＳＷ
【００４１】加えて、若し１動作で多数のセクタが書き
込まれたならば、ＡＳＲは、下記の数式に従つて、「表
１」の最小のエントリだけを用いて計算することができ
る。
【数４】ＡＳＲ'＝Ｓ／Ｗ
【００４２】これは、ＡＳＲが「表１」及び「表２」
（数３）からの計算データで計算される前に特定の駆動
装置に関連するスペア・セクタの過剰使用の警告をトリ
ガすることができる。
【００４３】次に、ステツプ６３２において、実際の割
合ＡＳＲが最大許容率ＭＳＲを超過したか否かを決定す
る。ステツプ６３２において、若しＡＳＲがＭＳＲを超
過したことが決定されたならば、図７の処理手順は図７
に示されたＢへの矢印によつて示された診断手順に飛び
越えるが、この診断手順については図８の流れ図を参照
して説明する。若しＡＳＲがＭＳＲよりも小さければ、
処理手順は、デイスクの取り出しのステツプ６２０に戻
る。
【００４４】若しデイスクが取り出されるのならば、ス
テツプ６２２において、「表２」は「表１」の情報によ
つて更新される。更新された「表２」は、デイスク・ボ
リユームＸＸＸＸ／駆動装置＃２３４５１の「表１」か
らのデータを転送した後で、かつ、他のデイスク及び駆
動装置の読み取り／書き込み動作の後に（デイスクＸＸ
ＸＸが駆動装置＃３３２４６中に装着された動作を含ん
で）下記の「表４」に近似した内容を持つことになる。
【００４５】
【表４】
【００４６】ステツプ６２８において、若し媒体がＷＯ
ＲＭでなく、ＭＯであれば、ステツプ６３４において、
使用されたスペア・セクタの合計の数ＳＳは限界値ＥＡ
Ｌを超過しているか否かが決定される。再言すると、付
加的に若し多数のセクタが書き込まれたならば、最近の
動作のみの間で書き込まれたセクタに関して使用された
スペア・セクタの数ＳをＥＡＬと比較することができ
る。若し制限値ＥＡＬを超過しているならば、図７の処
理手順は、図８の診断手順に飛び越す。そうでなけれ
ば、ステツプ６２０において、この処理手順は前述のよ
うに、デイスクの取り外しを決めるステツプ６２０に戻
る。
【００４７】図７に示したステツプ６３２及び６３４に
おいて、使用されたスペア・セクタの数が許容限界値を
超過したことが決定された時、図８のステツプ７００に
おいてホスト・コンピユータにこの旨を通知し、ステツ
プ７０２において、駆動装置の診断動作が実行される。
ステツプ７０４において、若しスペア・セクタの過剰な
使用の原因がハードウエアの誤動作ならば、ステツプ７
０６において、誤動作を生じたハードウエア素子が識別
される。若し大多数のエラーがライブラリ中の１つの駆
動装置中の複数のデイスクに跨がつて発生したならば
（ステツプ７０７）、ステツプ７０８において、ホスト
・コンピユータは、適当な修理を行なわれるべきことが
通知される。若し問題がハードウエアの誤動作でなけれ
ば、デイスク、またはドライブ・レンズか、またはそれ
ら両方の清掃を必要とすることが最初に想定され、ステ
ツプ７１０及び７１２において、ホスト・コンピユータ
はレンズ及びデイスクの清掃を開始する必要性が通知さ
れる。
【００４８】次の処理ステツプは、どんなタイプの媒体
が関与しているのかに従つて設定される。若しデイスク
がＭＯであれば（ステツプ７１４）、ステツプ７１６に
おいて、欠陥データ・セクタ及び関連したスペア・セク
タを矯正（reclaim）させる試みが行なわれる。セクタ
を矯正するための幾つかの技術が知られているけれど
も、ここでは以下の３つの技術を説明する。第１の技術
は、矯正されるデータ・セクタは新しいスペア・セクタ
であると考えることであり、第２の技術は、スペア・セ
クタからのカストマ・データを、デイスク上のオリジナ
ルで、矯正されるセクタに移動し戻すことであり、第３
の技術は、スペア領域中にユーザのデータを残しておい
て、将来の書き込み動作のために、ユーザの領域に矯正
されるセクタを復帰することである。矯正処理の間で、
データがスペア・セクタから、関連するデータ・セクタ
に書き戻される時に、上述の第２の技術におけると同じ
ように、再書き込みされたデータは検証され、そして、
若し有効ならば、ＳＤＬが訂正され、そして「表１」が
更新される。若し任意の関連データ・セクタに書き込ま
れたデータが無効ならば、その矯正は不成功であると見
做され、その処理は欠陥媒体であると見做されて、ＳＤ
Ｌ、または「表１」に対して変更は行なわれない。ステ
ツプ７１６において、可能な数のスペア・セクタが矯正
された後、ステツプ７１８において「表２」が更新され
る。
【００４９】清掃及び矯正（ＭＯ媒体の場合）動作の
後、ステツプ７２０において、ＳＳ≧ＥＡＬの条件が成
立しているか否かを再度決定することによつて、問題が
依然として残つているか否かが決定される。若し問題が
訂正され、スペア・セクタの使用が許容範囲内にあれ
ば、ステツプ７２６において、処理は次の動作に進む。
若し問題が残つていれば、ステツプ７２２において、ホ
スト・コンピユータは、媒体の性能劣化（永久的欠陥の
成長によつて生じたであろう性能劣化）が生じたことが
通知される。デイスク上のデータを保存するために、そ
のデータは、ステツプ７２４において新しいデイスク上
にコピーされ（必要に応じて、フオーマツトされた後
に）、ステツプ７２６において、処理は再度開始され
る。
【００５０】若しデイスクＷＯＲＭならば（ステツプ７
１４）、欠陥データ・セクタ及び関連したスペア・セク
タは矯正して、再使用することはできない。その代わり
に、ステツプ７１５において、デイスクは既に清掃され
たか否かが決定される。若しデイスクが前に清掃されて
おり、若し読み取り、または書き込みの後に媒体による
問題が続いていれば、デイスク上のデータをコピーする
ことが提案される。従つて、ステツプ７２２乃至７２６
において、ホスト・コンピユータは、デイスクをコピー
することが通知され、処理は再開始される。若しデイス
クが前に清掃されていなければ、処理はステツプ７２６
において再開始される。
【００５１】まとめとして、本発明の構成に関して以下
の事項を開示する。
【００５２】（１）デイスクがデータ・セクタの数に対
する第１の数Ｘと、欠陥を発見されたデータ・セクタを
置き換えるためのスペア・セクタの数に対する第２の数
Ｙとをそれぞれ有する光学デイスクを複数個収納するた
めのセルのアレイと、選択された１枚の光学デイスクに
情報を記録し、または選択された１枚の光学デイスクか
ら情報を再生する駆動装置と、選択された光学デイスク
を上記セルの１つと上記駆動装置との間で移送するため
のアクセツサと、ホスト・プロセツサからの制御インス
トラクシヨンを受け取り、該インストラクシヨンに応答
して上記アクセツサの動作を管理するために接続された
システム・コントローラとからなる光学デイスクの自動
格納及び検索システムにおいて、上記システム・コント
ローラは、過剰使用の表示がなされる前に、特定の光学
デイスク上の欠陥セクタを置き換えるために割り当てる
ことのできる複数個のスペア・セクタに関する限界値Ｚ
を計算する手段と、特定の光学デイスク上に情報が記録
されているセクタの数ＳＷと、特定の光学デイスク上の
欠陥セクタを置き換えるために割り当てられている光学
デイスクに関する別個のセクタの数ＳＳとを含む表を設
定する手段と、若し割り当てられたスペア・セクタの数
ＳＳが過剰になれば、過剰使用の表示を発生する手段と
を含む光学デイスクの収納及び検索システム。 （２）上記システム・コントローラは、特定の光学デイ
スクが再書き込み可能なデイスクか、１回だけ書き込み
可能なデイスクかを決定する手段を含む（１）に記載の
光学デイスクの収納及び検索システム。 （３）若し特定のデイスクが１回だけ書き込み可能なデ
イスクであれば、数値Ｋを０よりも大きく１に等しい数
であるとして、限界値Ｚを計算するための上記手段は、
Ｋ×Ｙ／Ｘである率ＭＳＲを計算する手段を含む（２）
に記載の光学デイスクの収納及び検索システム。 （４）数値ＳＳは割り当てられたスペア・セクタの合計
数であり、かつ数値ＳＷはデータ・セクタの合計数であ
るとして、スペア・セクタの実際の使用率ＡＳＲがＳＳ
／ＳＷであると計算する手段と、数値ＡＳＲと、数値Ｍ
ＳＲとを比較する手段と、若し数値ＡＳＲが数値ＭＳＲ
を超過したならば、過剰使用の標識を発生するための上
記手段は過剰使用の標識を発生する手段を含むこととか
らなる（３）に記載の光学デイスクの収納及び検索シス
テム。 （５）数値Ｓはデイスクのアクセス動作中において割り
当てられたスペア・セクタの数とし、Ｗはデイスクのア
クセス動作中において書き込まれたデータ・セクタの数
として、スペア・セクタの使用率ＡＳＲ'の実際の数値
はＳ／Ｗであるように計算する手段と、数値ＡＳＲ'
と、数値ＭＳＲとを比較する手段と、過剰使用の標識を
発生する上記手段は、若し数値ＡＳＲ'が数値ＭＳＲを
超過したならば、過剰使用の標識を発生する手段を含む
こととからなる（３）に記載の光学デイスクの収納及び
検索システム。 （６）特定のデイスクが再書き込み可能なデイスクの場
合、限界値Ｚを計算する上記手段は、数値Ｋを０よりも
大きく１に等しい数であるとして、ＥＡＬの率をＫ×Ｙ
の値であると計算する手段を含む（２）に記載の光学デ
イスクの収納及び検索システム。 （７）数値ＳＳと、数値ＥＡＬとを比較する手段と、過
剰使用の標識を発生する上記手段は、若し数値ＳＳが数
値ＥＡＬを超過したならば、過剰使用の標識を発生する
手段を含むこととからなる（６）に記載の光学デイスク
の収納及び検索システム。 （８）光学デイスク上のスペア・セクタの過剰使用を決
定する方法において、データ・セクタの数に対する第１
の数Ｘと、欠陥を持つものとして発見されたデータ・セ
クタを置き換えるためのスペア・セクタの数に対する第
２の数Ｙとを有する光学デイスクを光学デイスク駆動装
置の中に装荷するステツプと、スペア・セクタの過剰な
使用が表示される前に、光学デイスク上の欠陥セクタを
置き換えるために割り当てることのできるスペア・セク
タの数に関する限界値Ｚを計算するステツプと、光学デ
イスクにセクタのアクセス動作を遂行するステツプと、
アクセスされたセクタが欠陥を持つているか否かを検出
するステツプと、若し欠陥セクタが検出されたならば、
欠陥セクタを置換するためにスペア・セクタを割り当て
るステツプと、光学デイスク上の欠陥セクタを置き換え
るために割り当てられたスペア・セクタの数を決定する
ステツプと、その数と計算された限界値Ｚとを比較する
ステツプと、若しその数が計算された限界値Ｚを超過し
たならば、過剰使用の標識を発生するステツプとを含む
スペア・セクタの過剰使用を決定する方法。 （９）若し過剰使用の標識が発生されたならば、光学デ
イスク駆動装置中の光学素子を清掃するステツプを含む
（８）に記載のスペア・セクタの過剰使用を決定する方
法。 （１０）光学デイスクが１回だけ書き込み可能なデイス
クか、再書き込み可能なデイスクかを決定するステツプ
を含む（８）に記載のスペア・セクタの過剰使用を決定
する方法。 （１１）光学デイスクが１回だけ書き込み可能なデイス
クの場合、限界値Ｚを計算する上記ステツプは、数値Ｋ
を０よりも大きく１に等しい数として、数値ＭＳＲをＫ
×Ｙ／Ｘの値であるように計算するステツプを含む（１
０）に記載のスペア・セクタの過剰使用を決定する方
法。 （１２）割り当てられたスペア・セクタの数を決定する
上記ステツプは、数値ＳＳを、割り当てられたスペア・
セクタの合計数とし、数値ＳＷを、書き込まれたデータ
・セクタの合計数であるとして、スペア・セクタの実際
の使用率ＡＳＲはＳＳ／ＳＷの値であることを決定する
ステツプを含むことと、上記比較ステツプはＡＳＲとＭ
ＳＲとを比較するステツプを含むこととからなる（１
１）に記載のスペア・セクタの過剰使用を決定する方
法。 （１３）割り当てられたスペア・セクタの数を決定する
上記ステツプは、数値Ｓを、セクタのアクセス動作中で
割り当てられたスペア・セクタの数であるとし、数値Ｗ
を、セクタのアクセス動作中で書き込まれたデータ・セ
クタの数であるとして、スペア・セクタの実際の使用率
ＡＳＲ'は数値Ｓ／Ｗであることを決定するステツプを
含むことと、上記比較ステツプは数値ＡＳＲ'と数値Ｍ
ＳＲとを比較するステツプを含むこととからなる（１
１）に記載のスペア・セクタの過剰使用を決定する方
法。 （１４）セクタのアクセス動作中において書き込まれた
セクタの数を表示する第３の数値と、セクタのアクセス
動作中において割り当てられたスペア・セクタの数を表
示する第４の数値とをメモリ装置中にストアするステツ
プを含む（８）に記載のスペア・セクタの過剰使用を決
定する方法。 （１５）光学デイスク上のスペア・セクタの過剰な使用
を確かめる方法において、スペア・セクタの消費の閾値
を設定するステツプと、光学デイスク上におけるスペア
・セクタの使用を決定するステツプと、不揮発性メモリ
の中にスペア・セクタの使用に関係する情報をストアす
るステツプと、スペア・セクタの使用数と閾値とを比較
して、若し閾値が超過されたならば、光学デイスクを清
掃するステツプとを含むスペア・セクタの過剰使用の確
定方法。 （１６）若し光学デイスクが１回だけ書き込み可能なデ
イスクであり、既に清掃したならば、上記清掃ステツプ
の後に媒体の劣化を表わす信号を発生するステツプを含
む（１５）に記載のスペア・セクタの過剰使用の確定方
法。 （１７）若し光学デイスクが再書き込み可能なデイスク
であり、既に清掃したならば、上記清掃ステツプの後に
割り当てられたスペア・セクタの矯正を試みるステツプ
を含む（１５）に記載のスペア・セクタの過剰使用の確
定方法。 （１８）上記矯正ステツプの後でスペア・セクタの使用
数の第２の決定を行なうステツプと、第２のスペア・セ
クタの使用数と閾値との比較を行なうステツプと、若し
閾値が再度超過されたならば、媒体の劣化を表わす信号
を発生するステツプとを含む（１７）に記載のスペア・
セクタの過剰使用の確定方法。
【００５３】
【発明の効果】光学デイスク上のスペア・セクタの使用
を追跡し、分析することにより、スペア・セクタの過剰
な使用の原因を決定して適正な訂正動作を開始すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用するための光学デイスク駆動装置
のためのコントローラを装着したシステムのブロツク図
である。
【図２】光学デイスク・カートリツジを示す模式図であ
る。
【図３】図２の光学デイスク・カートリツジ中の光学デ
イスクのトラツク及びセクタを説明するための模式図で
ある。
【図４】欠陥を有するトラツク及びセクタの図式的な模
式図である。
【図５】欠陥を有するトラツク及びセクタの図式的な模
式図である。
【図６】フオーマツト動作において、欠陥セクタを識別
するデイスク面の分析手順を説明するための流れ図であ
る。
【図７】スペア・セクタの過剰な使用が発生したか否か
を決定するための手順を説明するための流れ図である。
【図８】スペア・セクタの過剰な使用の原因を決定し、
訂正動作を開始するための処理手順を説明するための流
れ図である。
【符号の説明】
１０ 周辺装置用コントローラ １２ 光学デイスク駆動装置 １４ ホスト・プロセツサ １６ ターゲツト・インターフエース・ロジツク １８ 光学デイスク・コントローラ ２０ マイクロ・プロセツサ ２２ ＲＯＭ（読取専用メモリ） ２４ ＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ） ２６ ＲＬＬ（ランレングス回路） ２８ バツフア ３０ ＥＣＣ（エラー訂正コード）ロジツク回路 ３２ 光学デイスク ３４ ドライブ・コントローラのグループ ３６ 駆動装置バンク ３８ ライブラリ・コントローラ ４０ 光学デイスク・カートリツジのアクセツサ ４２ 光学デイスクのアレイ ４４ 光学デイスクのカートリツジ ４８ デイスク・ハブ ５０ シヤツタ式扉 ６０、６２ 欠陥
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５７２ Ｃ 9074−5Ｄ Ｆ 9074−5Ｄ (72)発明者 ジョン・エドワード・クラコウスキー アメリカ合衆国 アリゾナ州、ツーソン、 イースト・ノールウッド・プレース 7541 (72)発明者 ロドニー・ジェローム・ミーンス アメリカ合衆国 アリゾナ州、ツーソン、 イースト・コーレ・セルカ 6988 (72)発明者 デイビッド・レランド・パットン アメリカ合衆国 アリゾナ州、ツーソン、 イースト・パーム・トリー・ドライブ 9125

Claims (18)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】デイスクがデータ・セクタの数に対する第
    １の数Ｘと、欠陥を発見されたデータ・セクタを置き換
    えるためのスペア・セクタの数に対する第２の数Ｙとを
    それぞれ有する光学デイスクを複数個収納するためのセ
    ルのアレイと、 選択された１枚の光学デイスクに情報を記録し、または
    選択された１枚の光学デイスクから情報を再生する駆動
    装置と、 選択された光学デイスクを上記セルの１つと上記駆動装
    置との間で移送するためのアクセツサと、 ホスト・プロセツサからの制御インストラクシヨンを受
    け取り、該インストラクシヨンに応答して上記アクセツ
    サの動作を管理するために接続されたシステム・コント
    ローラとからなる光学デイスクの自動格納及び検索シス
    テムにおいて、 上記システム・コントローラは、 過剰使用の表示がなされる前に、特定の光学デイスク上
    の欠陥セクタを置き換えるために割り当てることのでき
    る複数個のスペア・セクタに関する限界値Ｚを計算する
    手段と、 特定の光学デイスク上に情報が記録されているセクタの
    数ＳＷと、特定の光学デイスク上の欠陥セクタを置き換
    えるために割り当てられている光学デイスクに関する別
    個のセクタの数ＳＳとを含む表を設定する手段と、 若し割り当てられたスペア・セクタの数ＳＳが過剰にな
    れば、過剰使用の表示を発生する手段とを含む光学デイ
    スクの収納及び検索システム。
  2. 【請求項２】上記システム・コントローラは、特定の光
    学デイスクが再書き込み可能なデイスクか、１回だけ書
    き込み可能なデイスクかを決定する手段を含む請求項１
    に記載の光学デイスクの収納及び検索システム。
  3. 【請求項３】若し特定のデイスクが１回だけ書き込み可
    能なデイスクであれば、数値Ｋを０よりも大きく１に等
    しい数であるとして、限界値Ｚを計算するための上記手
    段は、Ｋ×Ｙ／Ｘである率ＭＳＲを計算する手段を含む
    請求項２に記載の光学デイスクの収納及び検索システ
    ム。
  4. 【請求項４】数値ＳＳは割り当てられたスペア・セクタ
    の合計数であり、かつ数値ＳＷはデータ・セクタの合計
    数であるとして、スペア・セクタの実際の使用率ＡＳＲ
    がＳＳ／ＳＷであると計算する手段と、 数値ＡＳＲと、数値ＭＳＲとを比較する手段と、 若し数値ＡＳＲが数値ＭＳＲを超過したならば、過剰使
    用の標識を発生するための上記手段は過剰使用の標識を
    発生する手段を含むこととからなる請求項３に記載の光
    学デイスクの収納及び検索システム。
  5. 【請求項５】数値Ｓはデイスクのアクセス動作中におい
    て割り当てられたスペア・セクタの数とし、Ｗはデイス
    クのアクセス動作中において書き込まれたデータ・セク
    タの数として、スペア・セクタの使用率ＡＳＲ'の実際
    の数値はＳ／Ｗであるように計算する手段と、 数値ＡＳＲ'と、数値ＭＳＲとを比較する手段と、 過剰使用の標識を発生する上記手段は、若し数値ＡＳ
    Ｒ'が数値ＭＳＲを超過したならば、過剰使用の標識を
    発生する手段を含むこととからなる請求項３に記載の光
    学デイスクの収納及び検索システム。
  6. 【請求項６】特定のデイスクが再書き込み可能なデイス
    クの場合、限界値Ｚを計算する上記手段は、数値Ｋを０
    よりも大きく１に等しい数であるとして、ＥＡＬの率を
    Ｋ×Ｙの値であると計算する手段を含む請求項２に記載
    の光学デイスクの収納及び検索システム。
  7. 【請求項７】数値ＳＳと、数値ＥＡＬとを比較する手段
    と、 過剰使用の標識を発生する上記手段は、若し数値ＳＳが
    数値ＥＡＬを超過したならば、過剰使用の標識を発生す
    る手段を含むこととからなる請求項６に記載の光学デイ
    スクの収納及び検索システム。
  8. 【請求項８】光学デイスク上のスペア・セクタの過剰使
    用を決定する方法において、 データ・セクタの数に対する第１の数Ｘと、欠陥を持つ
    ものとして発見されたデータ・セクタを置き換えるため
    のスペア・セクタの数に対する第２の数Ｙとを有する光
    学デイスクを光学デイスク駆動装置の中に装荷するステ
    ツプと、 スペア・セクタの過剰な使用が表示される前に、光学デ
    イスク上の欠陥セクタを置き換えるために割り当てるこ
    とのできるスペア・セクタの数に関する限界値Ｚを計算
    するステツプと、 光学デイスクにセクタのアクセス動作を遂行するステツ
    プと、 アクセスされたセクタが欠陥を持つているか否かを検出
    するステツプと、 若し欠陥セクタが検出されたならば、欠陥セクタを置換
    するためにスペア・セクタを割り当てるステツプと、 光学デイスク上の欠陥セクタを置き換えるために割り当
    てられたスペア・セクタの数を決定するステツプと、 その数と計算された限界値Ｚとを比較するステツプと、 若しその数が計算された限界値Ｚを超過したならば、過
    剰使用の標識を発生するステツプとを含むスペア・セク
    タの過剰使用を決定する方法。
  9. 【請求項９】若し過剰使用の標識が発生されたならば、
    光学デイスク駆動装置中の光学素子を清掃するステツプ
    を含む請求項８に記載のスペア・セクタの過剰使用を決
    定する方法。
  10. 【請求項１０】光学デイスクが１回だけ書き込み可能な
    デイスクか、再書き込み可能なデイスクかを決定するス
    テツプを含む請求項８に記載のスペア・セクタの過剰使
    用を決定する方法。
  11. 【請求項１１】光学デイスクが１回だけ書き込み可能な
    デイスクの場合、限界値Ｚを計算する上記ステツプは、
    数値Ｋを０よりも大きく１に等しい数として、数値ＭＳ
    ＲをＫ×Ｙ／Ｘの値であるように計算するステツプを含
    む請求項１０に記載のスペア・セクタの過剰使用を決定
    する方法。
  12. 【請求項１２】割り当てられたスペア・セクタの数を決
    定する上記ステツプは、数値ＳＳを、割り当てられたス
    ペア・セクタの合計数とし、数値ＳＷを、書き込まれた
    データ・セクタの合計数であるとして、スペア・セクタ
    の実際の使用率ＡＳＲはＳＳ／ＳＷの値であることを決
    定するステツプを含むことと、 上記比較ステツプはＡＳＲとＭＳＲとを比較するステツ
    プを含むこととからなる請求項１１に記載のスペア・セ
    クタの過剰使用を決定する方法。
  13. 【請求項１３】割り当てられたスペア・セクタの数を決
    定する上記ステツプは、数値Ｓを、セクタのアクセス動
    作中で割り当てられたスペア・セクタの数であるとし、
    数値Ｗを、セクタのアクセス動作中で書き込まれたデー
    タ・セクタの数であるとして、スペア・セクタの実際の
    使用率ＡＳＲ'は数値Ｓ／Ｗであることを決定するステ
    ツプを含むことと、 上記比較ステツプは数値ＡＳＲ'と数値ＭＳＲとを比較
    するステツプを含むこととからなる請求項１１に記載の
    スペア・セクタの過剰使用を決定する方法。
  14. 【請求項１４】セクタのアクセス動作中において書き込
    まれたセクタの数を表示する第３の数値と、セクタのア
    クセス動作中において割り当てられたスペア・セクタの
    数を表示する第４の数値とをメモリ装置中にストアする
    ステツプを含む請求項８に記載のスペア・セクタの過剰
    使用を決定する方法。
  15. 【請求項１５】光学デイスク上のスペア・セクタの過剰
    な使用を確かめる方法において、 スペア・セクタの消費の閾値を設定するステツプと、 光学デイスク上におけるスペア・セクタの使用を決定す
    るステツプと、 不揮発性メモリの中にスペア・セクタの使用に関係する
    情報をストアするステツプと、 スペア・セクタの使用数と閾値とを比較して、若し閾値
    が超過されたならば、光学デイスクを清掃するステツプ
    とを含むスペア・セクタの過剰使用の確定方法。
  16. 【請求項１６】若し光学デイスクが１回だけ書き込み可
    能なデイスクであり、既に清掃したならば、上記清掃ス
    テツプの後に媒体の劣化を表わす信号を発生するステツ
    プを含む請求項１５に記載のスペア・セクタの過剰使用
    の確定方法。
  17. 【請求項１７】若し光学デイスクが再書き込み可能なデ
    イスクであり、既に清掃したならば、上記清掃ステツプ
    の後に割り当てられたスペア・セクタの矯正を試みるス
    テツプを含む請求項１５に記載のスペア・セクタの過剰
    使用の確定方法。
  18. 【請求項１８】上記矯正ステツプの後でスペア・セクタ
    の使用数の第２の決定を行なうステツプと、 第２のスペア・セクタの使用数と閾値との比較を行なう
    ステツプと、 若し閾値が再度超過されたならば、媒体の劣化を表わす
    信号を発生するステツプとを含む請求項１７に記載のス
    ペア・セクタの過剰使用の確定方法。
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