JPH07182938A - 超電導撚線の性能評価方法及び超電導導体 - Google Patents
超電導撚線の性能評価方法及び超電導導体Info
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- JPH07182938A JPH07182938A JP32348793A JP32348793A JPH07182938A JP H07182938 A JPH07182938 A JP H07182938A JP 32348793 A JP32348793 A JP 32348793A JP 32348793 A JP32348793 A JP 32348793A JP H07182938 A JPH07182938 A JP H07182938A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】製作された導体が設計通り示すかどうか、短尺
の実導体を用いた簡単な試験を行うだけで性能を評価す
ることにある。 【構成】複数本の超電導線を撚合わせて構成される超電
導導体１を一定長に切断し、その片端から取出された少
なくとも任意の２本の超電導線または２つの超電導線束
をパルス電源３に接続してＬＲ回路を形成し、パルス電
源３よりパルス電流またはパルス電圧を冷媒中の超電導
導体１に与え、この時超電導線間または超電導線束間に
発生する電圧またはＬＲ回路に流れる電流を測定するこ
とで、その位相の遅れから任意の周波数に対するＬＲ回
路の抵抗成分及びインダクタンス成分の各値を決定して
超電導撚線の性能を評価する。
の実導体を用いた簡単な試験を行うだけで性能を評価す
ることにある。 【構成】複数本の超電導線を撚合わせて構成される超電
導導体１を一定長に切断し、その片端から取出された少
なくとも任意の２本の超電導線または２つの超電導線束
をパルス電源３に接続してＬＲ回路を形成し、パルス電
源３よりパルス電流またはパルス電圧を冷媒中の超電導
導体１に与え、この時超電導線間または超電導線束間に
発生する電圧またはＬＲ回路に流れる電流を測定するこ
とで、その位相の遅れから任意の周波数に対するＬＲ回
路の抵抗成分及びインダクタンス成分の各値を決定して
超電導撚線の性能を評価する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、超電導線を複数本束ね
たものを一括して撚線して構成する大容量ケーブル、パ
ルスケーブル等の超電導撚線の性能評価方法及び超電導
導体に関するものである。
たものを一括して撚線して構成する大容量ケーブル、パ
ルスケーブル等の超電導撚線の性能評価方法及び超電導
導体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種の大容量ケーブル、パルス
ケーブル等では、変動磁界によって生じる素線間の結合
損失を低減するため、複数本の素線を互いに撚合せた構
成としている。さらには、素線表面にホルマール等の絶
縁体あるいはＣｕＮｉ、Ｃｒ等の高抵抗体を配してその
効果を高めてきた。
ケーブル等では、変動磁界によって生じる素線間の結合
損失を低減するため、複数本の素線を互いに撚合せた構
成としている。さらには、素線表面にホルマール等の絶
縁体あるいはＣｕＮｉ、Ｃｒ等の高抵抗体を配してその
効果を高めてきた。
【０００３】一方、超電導ケーブルが超電導状態を維持
するためには、何らかの外乱によって超電導素線の一部
が常電導状態に転移した際、素早く他の超電導状態を維
持している素線に電流が移れることが重要となる。
するためには、何らかの外乱によって超電導素線の一部
が常電導状態に転移した際、素早く他の超電導状態を維
持している素線に電流が移れることが重要となる。
【０００４】そこで、実導体規模で上述のような性能を
評価すればよいが、いまのところ有効な評価方法がない
ため、現在では実際に使用する導体よりスケールダウン
した縮小導体を製作し、この通電特性を調べることで評
価をしていた。
評価すればよいが、いまのところ有効な評価方法がない
ため、現在では実際に使用する導体よりスケールダウン
した縮小導体を製作し、この通電特性を調べることで評
価をしていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上述したホルマール絶
縁素線等では、この電流移動が電気的に結合されている
電極からしか行われず、その導体の長さによっては素早
い電流移動に期待できないため、超電導ケーブルは容易
にクエンチしてしまう。
縁素線等では、この電流移動が電気的に結合されている
電極からしか行われず、その導体の長さによっては素早
い電流移動に期待できないため、超電導ケーブルは容易
にクエンチしてしまう。
【０００６】そこで、導体長さと電流移行の早さの関係
を知るためには、迂回電流によって形成される電気回路
の回路パラメータを知る必要がある。さらにはＣｕＮ
ｉ、Ｃｒ等の高抵抗体を配した場合でも、その導体の撚
線構成あるいは成形圧縮率（特にケーブル・イン・コン
ジット導体にあってはそのボイド率）より、素線間の接
触抵抗は大きく変化する上、一部の超電導線が何らかの
原因で常電導状態に転移したとき、この部分を迂回して
流れる電流によって構成される電気回路の有効接触抵抗
及び有効インダクタンス（どの程度素早く他の超電導状
態を維持している素線に電流が移れるかを決定するパラ
メータ）を知る必要がある。
を知るためには、迂回電流によって形成される電気回路
の回路パラメータを知る必要がある。さらにはＣｕＮ
ｉ、Ｃｒ等の高抵抗体を配した場合でも、その導体の撚
線構成あるいは成形圧縮率（特にケーブル・イン・コン
ジット導体にあってはそのボイド率）より、素線間の接
触抵抗は大きく変化する上、一部の超電導線が何らかの
原因で常電導状態に転移したとき、この部分を迂回して
流れる電流によって構成される電気回路の有効接触抵抗
及び有効インダクタンス（どの程度素早く他の超電導状
態を維持している素線に電流が移れるかを決定するパラ
メータ）を知る必要がある。
【０００７】しかしながら、数百メートルにも及ぶ超電
導ケーブルによって構成される複雑な分布定数回路の抵
抗値やインダクタンス、あるいは絶縁線においては、そ
の長さとインダクタンスの関係等を調べる有効な手段が
これまでなかった。また、縮小導体による通電試験を行
っても、その結果が実際の導体と一致しないことがよく
あった。
導ケーブルによって構成される複雑な分布定数回路の抵
抗値やインダクタンス、あるいは絶縁線においては、そ
の長さとインダクタンスの関係等を調べる有効な手段が
これまでなかった。また、縮小導体による通電試験を行
っても、その結果が実際の導体と一致しないことがよく
あった。
【０００８】本発明は上記のような事情に鑑みてなされ
たもので、製作された導体が設計通り示すかどうか、短
尺の実導体を用いた簡単な試験を行うだけで性能を評価
することができる超電導撚線の性能評価方法及び超電導
導体を提供することを目的とする。
たもので、製作された導体が設計通り示すかどうか、短
尺の実導体を用いた簡単な試験を行うだけで性能を評価
することができる超電導撚線の性能評価方法及び超電導
導体を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、次のような手段を講じるものである。 （１）複数本の超電導線を撚合わせて構成される超電導
撚線を一定長に切断し、その片端から取出された少なく
とも任意の２本の超電導線または２つの超電導線束をパ
ルス電源に接続してＬＲ回路を形成し、前記パルス電源
より前記ＬＲ回路が形成された冷媒中の超電導撚線にパ
ルス電流またはパルス電圧を与え、この時前記超電導線
間または超電導線束間に発生する電圧または前記ＬＲ回
路に流れる電流を測定することで、その位相の遅れから
前記ＬＲ回路の抵抗成分及びインダクタンス成分の各値
を決定する。 （２）ホルマール等の電気絶縁物あるいは高抵抗体で被
覆された複数本の超電導線を撚合わせて構成される超電
導撚線を一定長に切断し、その一端から取出された少な
くとも任意の２本の超電導線または２つの超電導線束を
パルス電源に接続すると共に、他端の各素線を半田等の
電気的に抵抗の小さい金属により短絡してＬＲ回路を形
成し、前記パルス電源より前記ＬＲ回路が形成された冷
媒中の超電導撚線にパルス電流またはパルス電圧を与
え、この時前記素線間または２素線束間に発生する電圧
または前記ＬＲ回路に流れる電流を測定することでその
位相の遅れから前記ＬＲ回路の抵抗成分及びインダクタ
ンス成分の各値を決定する。 （３）上記（１）又は（２）の評価方法によって決定さ
れたＬＲ回路の抵抗値及びインダクタンスの内、抵抗値
を超電導線または超電導線束が常電導状態に転移した時
の発生抵抗よりも小さい超電導導体とする。
成するため、次のような手段を講じるものである。 （１）複数本の超電導線を撚合わせて構成される超電導
撚線を一定長に切断し、その片端から取出された少なく
とも任意の２本の超電導線または２つの超電導線束をパ
ルス電源に接続してＬＲ回路を形成し、前記パルス電源
より前記ＬＲ回路が形成された冷媒中の超電導撚線にパ
ルス電流またはパルス電圧を与え、この時前記超電導線
間または超電導線束間に発生する電圧または前記ＬＲ回
路に流れる電流を測定することで、その位相の遅れから
前記ＬＲ回路の抵抗成分及びインダクタンス成分の各値
を決定する。 （２）ホルマール等の電気絶縁物あるいは高抵抗体で被
覆された複数本の超電導線を撚合わせて構成される超電
導撚線を一定長に切断し、その一端から取出された少な
くとも任意の２本の超電導線または２つの超電導線束を
パルス電源に接続すると共に、他端の各素線を半田等の
電気的に抵抗の小さい金属により短絡してＬＲ回路を形
成し、前記パルス電源より前記ＬＲ回路が形成された冷
媒中の超電導撚線にパルス電流またはパルス電圧を与
え、この時前記素線間または２素線束間に発生する電圧
または前記ＬＲ回路に流れる電流を測定することでその
位相の遅れから前記ＬＲ回路の抵抗成分及びインダクタ
ンス成分の各値を決定する。 （３）上記（１）又は（２）の評価方法によって決定さ
れたＬＲ回路の抵抗値及びインダクタンスの内、抵抗値
を超電導線または超電導線束が常電導状態に転移した時
の発生抵抗よりも小さい超電導導体とする。
【００１０】
【作用】上記（１）の超電導撚線の性能評価方法にあっ
ては、評価される導体が絶縁素線を用いていない場合、
ＬＲ回路によって各種電圧あるいは電流波形に対する回
路の電気抵抗、インダクタンスを容易に求めることがで
き、様々な形態の外乱に対する移行電流値、移行スピー
ドを計算することができ、これと従来の導体安定性評価
方法と組合わせることで、精度よくその導体性能を評価
することが可能となる。
ては、評価される導体が絶縁素線を用いていない場合、
ＬＲ回路によって各種電圧あるいは電流波形に対する回
路の電気抵抗、インダクタンスを容易に求めることがで
き、様々な形態の外乱に対する移行電流値、移行スピー
ドを計算することができ、これと従来の導体安定性評価
方法と組合わせることで、精度よくその導体性能を評価
することが可能となる。
【００１１】また、上記（２）の超電導撚線の性能評価
方法にあっては、超電導線の各素線がホルマール等の電
気絶縁物あるいは高抵抗体で被覆され、ＬＲ回路が開放
状態あるいはそれに近い高抵抗を有する場合でも、上記
と同様に精度よくその導体性能を評価することができ
る。さらに、上記（３）の超電導導体とすれば、冷却能
力が十分大きく保持でき、安定性の高い超電導撚線を得
ることができる。
方法にあっては、超電導線の各素線がホルマール等の電
気絶縁物あるいは高抵抗体で被覆され、ＬＲ回路が開放
状態あるいはそれに近い高抵抗を有する場合でも、上記
と同様に精度よくその導体性能を評価することができ
る。さらに、上記（３）の超電導導体とすれば、冷却能
力が十分大きく保持でき、安定性の高い超電導撚線を得
ることができる。
【００１２】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を参照して説明
する。図１は本発明による超電導撚線の性能評価方法を
説明するための超電導導体評価装置の構成例を示すもの
である。図１において、１はケーブル・イン・コンジッ
ト型の短尺超電導導体、２はこの短尺超電導導体１を構
成する複数の超電導線から選択された電源接続用超電導
線、３はこの電源接続用超電導線２の電圧タップ４に接
続されたパルス電源、５はこのパルス電源３より電源接
続用超電導線２の電圧タップ４に流れる電流を計測する
電流計、６は電源接続用超電導線２の電圧タップ４間の
電圧を計測する電圧計である。
する。図１は本発明による超電導撚線の性能評価方法を
説明するための超電導導体評価装置の構成例を示すもの
である。図１において、１はケーブル・イン・コンジッ
ト型の短尺超電導導体、２はこの短尺超電導導体１を構
成する複数の超電導線から選択された電源接続用超電導
線、３はこの電源接続用超電導線２の電圧タップ４に接
続されたパルス電源、５はこのパルス電源３より電源接
続用超電導線２の電圧タップ４に流れる電流を計測する
電流計、６は電源接続用超電導線２の電圧タップ４間の
電圧を計測する電圧計である。
【００１３】なお、短尺超電導導体１の長さとしては撚
線の最大撚ピッチ長さ以上にしてある。また、電源側と
は反対側の端部の各素線間は電気的に絶縁されている。
さらに、電圧タップ４は撚線導体の撚りを戻さない位置
に取付け、撚戻しによるインダクタンス値の変化を抑え
ている。
線の最大撚ピッチ長さ以上にしてある。また、電源側と
は反対側の端部の各素線間は電気的に絶縁されている。
さらに、電圧タップ４は撚線導体の撚りを戻さない位置
に取付け、撚戻しによるインダクタンス値の変化を抑え
ている。
【００１４】次に超電導撚線の性能評価方法について述
べる。評価される導体が絶縁素線を用いていない場合に
は、複数本の超電導線を撚合わせて構成される超電導撚
線を一定長に切断したケーブル・イン・コンジット型の
短尺超電導導体１の片端から取出された２本の電源接続
用超電導線２を電圧タップ４を介してパルス電源３に接
続してＬＲ回路を形成し、パルス電源３よりＬＲ回路が
形成された液体ヘリウム中の短尺超電導導体１にパルス
電流またはパルス電圧を与え、この時電源接続用超電導
線２間に発生する電圧またはＬＲ回路に流れる電流を測
定することで、その位相の遅れからＬＲ回路の抵抗成分
及びインダクタンス成分の各値を決定する。
べる。評価される導体が絶縁素線を用いていない場合に
は、複数本の超電導線を撚合わせて構成される超電導撚
線を一定長に切断したケーブル・イン・コンジット型の
短尺超電導導体１の片端から取出された２本の電源接続
用超電導線２を電圧タップ４を介してパルス電源３に接
続してＬＲ回路を形成し、パルス電源３よりＬＲ回路が
形成された液体ヘリウム中の短尺超電導導体１にパルス
電流またはパルス電圧を与え、この時電源接続用超電導
線２間に発生する電圧またはＬＲ回路に流れる電流を測
定することで、その位相の遅れからＬＲ回路の抵抗成分
及びインダクタンス成分の各値を決定する。
【００１５】この場合、パルス電源３より電圧タップ４
を通して電源接続用超電導線２に流れる電流、例えばサ
イン波の周波数によって合成抵抗Ｒｃｔ及び合成インダ
クタンスＺｔは図２のように変化する。
を通して電源接続用超電導線２に流れる電流、例えばサ
イン波の周波数によって合成抵抗Ｒｃｔ及び合成インダ
クタンスＺｔは図２のように変化する。
【００１６】通常、外乱等によって超電導線が常電導状
態に転移した場合、常電導状態に転移した素線に流れて
いた電流は凡そ１ms程度以下の短い時間で他の超電導線
へ移行できるかが問題となる。この時間は上述した試験
方法によって求められた回路の各パラメータ（Ｚｔ，Ｒ
ｃｔ）及び常電導領域において発生する常電導電圧Ｖｎ
を用いることによって容易に計算でき、回路時定数τと
して得られる。
態に転移した場合、常電導状態に転移した素線に流れて
いた電流は凡そ１ms程度以下の短い時間で他の超電導線
へ移行できるかが問題となる。この時間は上述した試験
方法によって求められた回路の各パラメータ（Ｚｔ，Ｒ
ｃｔ）及び常電導領域において発生する常電導電圧Ｖｎ
を用いることによって容易に計算でき、回路時定数τと
して得られる。
【００１７】上記撚線導体がステンレスコンジット等に
納められ、超臨界圧ヘリウムによって冷却される場合、
回路時定数τは少なくとも１０ms以下にすることが望ま
しい。これは超電導線の周囲に存在する冷媒（ヘリウ
ム）の冷却能力を十分大きく維持できる時間が１０ms以
下であることによる。より厳密には上述の試験によって
決定される各パラメータを用いて完成する回路方程式と
超電導導体の冷却を決定する熱伝導方程式を連成させて
解くことにより、実物の導体の性能を見積もることがで
きる。
納められ、超臨界圧ヘリウムによって冷却される場合、
回路時定数τは少なくとも１０ms以下にすることが望ま
しい。これは超電導線の周囲に存在する冷媒（ヘリウ
ム）の冷却能力を十分大きく維持できる時間が１０ms以
下であることによる。より厳密には上述の試験によって
決定される各パラメータを用いて完成する回路方程式と
超電導導体の冷却を決定する熱伝導方程式を連成させて
解くことにより、実物の導体の性能を見積もることがで
きる。
【００１８】次に本発明の他の実施例について説明す
る。超電導撚線の各素線がホルマール等の電気絶縁物あ
るいは高抵抗体で被覆され、電気回路が開放状態あるい
はそれに近い高抵抗を有する場合には、上述の方法では
導体内の各パラメータを得ることはできない。また、実
際の導体では導体胆部に電極が取付けられ、この部分に
おいて全ての素線が電気的に短絡されている。
る。超電導撚線の各素線がホルマール等の電気絶縁物あ
るいは高抵抗体で被覆され、電気回路が開放状態あるい
はそれに近い高抵抗を有する場合には、上述の方法では
導体内の各パラメータを得ることはできない。また、実
際の導体では導体胆部に電極が取付けられ、この部分に
おいて全ての素線が電気的に短絡されている。
【００１９】そこで、このような絶縁素線等において
は、超電導撚線の電源取付端部と反対に位置する端部の
各素線が半田等の電気的に抵抗の小さい金属により電気
的に短絡させることにより、ＬＲ回路を構成することが
でき、これに上述のようにパルス電流等を加えることで
本回路の接続抵抗及びインダクタンス成分を求めること
ができる。
は、超電導撚線の電源取付端部と反対に位置する端部の
各素線が半田等の電気的に抵抗の小さい金属により電気
的に短絡させることにより、ＬＲ回路を構成することが
でき、これに上述のようにパルス電流等を加えることで
本回路の接続抵抗及びインダクタンス成分を求めること
ができる。
【００２０】また、本回路において、抵抗成分及びイン
ダクタンス成分は導体長が決まった段階で一意的に決定
され、周波数の依存性はない。実際の導体長さは通常数
１０msに及ぶため実物そのものを試験することは非常に
困難であるが、インダクタンス成分は図３に示すように
長さに比例して増加していくので、少なくとも撚線の最
大撚りピッチより長い２種類以上の長さの導体について
試験を行えば、実際の導体のインダクタンス成分の値を
求めることができる。
ダクタンス成分は導体長が決まった段階で一意的に決定
され、周波数の依存性はない。実際の導体長さは通常数
１０msに及ぶため実物そのものを試験することは非常に
困難であるが、インダクタンス成分は図３に示すように
長さに比例して増加していくので、少なくとも撚線の最
大撚りピッチより長い２種類以上の長さの導体について
試験を行えば、実際の導体のインダクタンス成分の値を
求めることができる。
【００２１】このような方法によれば、上述の絶縁導体
等においてもその導体内で構成されるＬＲ回路の各値を
求めることができ、これにより上述した実施例と同様の
方法で導体性能を評価することが可能となる。
等においてもその導体内で構成されるＬＲ回路の各値を
求めることができ、これにより上述した実施例と同様の
方法で導体性能を評価することが可能となる。
【００２２】また、安定な超電導導体を得るためには、
上記抵抗値Ｒｃｔは少なくとも常電導転移時に発生する
常電導部抵抗値よりも小さく維持される必要がある。実
際のケーブル・イン・コンジット型導体では、この値は
単位長さ当りの常電導抵抗値Ｒｎ０（Ω／ｍ）と（外乱
入熱開始後）ｔｉ（外乱の最大入熱時間：１ms）経過後
の熱拡散距離ｌｄ（ｌｄ＝（ｋ／ρＣ）＊ｔｉ）との積
の値Ｒｎで決まり、Ｒｃｔはこれよりも小さい値に決定
する。
上記抵抗値Ｒｃｔは少なくとも常電導転移時に発生する
常電導部抵抗値よりも小さく維持される必要がある。実
際のケーブル・イン・コンジット型導体では、この値は
単位長さ当りの常電導抵抗値Ｒｎ０（Ω／ｍ）と（外乱
入熱開始後）ｔｉ（外乱の最大入熱時間：１ms）経過後
の熱拡散距離ｌｄ（ｌｄ＝（ｋ／ρＣ）＊ｔｉ）との積
の値Ｒｎで決まり、Ｒｃｔはこれよりも小さい値に決定
する。
【００２３】なお、ｋは素線の熱伝導率、ρは密度、Ｃ
は比熱である。さらに、十分早い電流移行のために前述
の方法で決定される回路パラメータ（抵抗成分とインダ
クタンス成分）及び上述の方法で決まる常電導転移時の
発生抵抗Ｒｎから得られる回路時定数τが１０ms以下と
し、冷却能力が十分大きく保持できる超電導導体を構成
する必要があり、本条件を満たす構成の導体を製作する
ことで安定な超電導導体を得ることができる。
は比熱である。さらに、十分早い電流移行のために前述
の方法で決定される回路パラメータ（抵抗成分とインダ
クタンス成分）及び上述の方法で決まる常電導転移時の
発生抵抗Ｒｎから得られる回路時定数τが１０ms以下と
し、冷却能力が十分大きく保持できる超電導導体を構成
する必要があり、本条件を満たす構成の導体を製作する
ことで安定な超電導導体を得ることができる。
【００２４】なお、上記各実施例ではケーブル・イン・
コンジット型の短尺超電導導体から２本の素線を取出し
て電源接続用超電導線２としたが、２本以上の素線を束
にしたものを２束以上取出して電源接続用超電導体とし
てもよい。
コンジット型の短尺超電導導体から２本の素線を取出し
て電源接続用超電導線２としたが、２本以上の素線を束
にしたものを２束以上取出して電源接続用超電導体とし
てもよい。
【００２５】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、実際
の導体をコイルに巻き製作することなく、数ｍの短尺導
体の試験を行うだけで導体の性能を評価することがで
き、また前述した時定数τを管理することで安定性の高
い超電導撚線を得ることができる超電導撚線の性能評価
方法及び超電導導体を提供できる。
の導体をコイルに巻き製作することなく、数ｍの短尺導
体の試験を行うだけで導体の性能を評価することがで
き、また前述した時定数τを管理することで安定性の高
い超電導撚線を得ることができる超電導撚線の性能評価
方法及び超電導導体を提供できる。
【図１】本発明よる超電導撚線の性能評価方法を説明す
るための一実施例を示す評価装置の回路図。
るための一実施例を示す評価装置の回路図。
【図２】同実施例において、パルス電源の周波数と導体
内のＬＲ回路の合成抵抗値及び合成インダクタンスとの
関係を示す図。
内のＬＲ回路の合成抵抗値及び合成インダクタンスとの
関係を示す図。
【図３】絶縁線を用いた撚線導体の長さと合成インダク
タンスＺｔの関係を示す図。
タンスＺｔの関係を示す図。
１…超電導導体、２…電源接続用超電導線、３…パルス
電源、４…電圧タップ、５…電流計、６…電圧計。
電源、４…電圧タップ、５…電流計、６…電圧計。
Claims (6)
- 【請求項１】 複数本の超電導線を撚合わせて構成され
る超電導撚線を一定長に切断し、その片端から取出され
た少なくとも任意の２本の超電導線または２つの超電導
線束をパルス電源に接続してＬＲ回路を形成し、前記パ
ルス電源より前記ＬＲ回路が形成された冷媒中の超電導
撚線にパルス電流またはパルス電圧を与え、この時前記
超電導線間または超電導線束間に発生する電圧または前
記ＬＲ回路に流れる電流を測定することで、その位相の
遅れから前記ＬＲ回路の抵抗成分及びインダクタンス成
分の各値を決定することを特徴とする超電導撚線の性能
評価方法。 - 【請求項２】 ホルマール等の電気絶縁物あるいは高抵
抗体で被覆された複数本の超電導線を撚合わせて構成さ
れる超電導撚線を一定長に切断し、その一端から取出さ
れた少なくとも任意の２本の超電導線または２つの超電
導線束をパルス電源に接続すると共に、他端の各素線を
半田等の電気的に抵抗の小さい金属により短絡してＬＲ
回路を形成し、前記パルス電源より前記ＬＲ回路が形成
された冷媒中の超電導撚線にパルス電流またはパルス電
圧を与え、この時前記超電導線間または超電導線束間に
発生する電圧または前記ＬＲ回路に流れる電流を測定す
ることで、その位相の遅れから前記ＬＲ回路の抵抗成分
及びインダクタンス成分の各値を決定することを特徴と
する超電導撚線の性能評価方法。 - 【請求項３】 複数本の超電導線を撚合わせて構成され
る超電導撚線を一定長に切断し、その片端から取出され
た少なくとも任意の２本の超電導線または２つの超電導
線束をパルス電源に接続してＬＲ回路を形成し、前記パ
ルス電源より前記ＬＲ回路が形成された冷媒中の超電導
撚線にパルス電流またはパルス電圧を与え、この時前記
超電導線間または超電導線束間に発生する電圧または前
記ＬＲ回路に流れる電流を測定し、その位相の遅れから
決定されたＬＲ回路の抵抗値及びインダクタンスの内、
抵抗値を超電導線または超電導線束が常電導状態に転移
した時の発生抵抗よりも小さくしたことを特徴とする超
電導導体。 - 【請求項４】 ホルマール等の電気絶縁物あるいは高抵
抗体で被覆された複数本の超電導線を撚合わせて構成さ
れる超電導撚線を一定長に切断し、その一端から取出さ
れた少なくとも任意の２本の超電導線または２つの超電
導線束をパルス電源に接続すると共に、他端の各素線を
半田等の電気的に抵抗の小さい金属により短絡してＬＲ
回路を形成し、前記パルス電源より前記ＬＲ回路が形成
された冷媒中の超電導撚線にパルス電流またはパルス電
圧を与え、この時前記超電導線間または超電導線束間に
発生する電圧または前記ＬＲ回路に流れる電流を測定
し、その位相の遅れから決定されたＬＲ回路の抵抗値及
びインダクタンスの内、抵抗値を超電導線または超電導
線束が常電導状態に転移した時の発生抵抗よりも小さく
したことを特徴とする超電導導体。 - 【請求項５】 請求項３又は請求項４に記載の超電導導
体において、位相の遅れから決定されたＬＲ回路の合成
インダクタンスＺと電気抵抗値Ｒｃ及び超電導線あるい
は超電導線束が常電導状態に転移した時に発生する常電
導部の電気抵抗Ｒｎから求められる回路時定数τ（＝ｚ
／（Ｒｃ＋Ｒｎ））を定常的な冷却状態に達する時間よ
り十分短くしたことを特徴とする超電導導体。 - 【請求項６】 請求項５に記載の超電導導体において、
超電導線及び超電導線束が常電導状態に転移した時に発
生する常電導部の電気抵抗Ｒｎを超電導線及び超電導線
束の単位長さ当りの常電導抵抗Ｒｎ０（Ω／ｍ）と外乱
入熱開始の一定時間ｔｉ経過後の熱拡散距離ｌｄ（ｍ）
または撚線の最小撚ピッチ長さとの積以下にしたことを
特徴とする超電導導体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32348793A JPH07182938A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 超電導撚線の性能評価方法及び超電導導体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32348793A JPH07182938A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 超電導撚線の性能評価方法及び超電導導体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07182938A true JPH07182938A (ja) | 1995-07-21 |
Family
ID=18155243
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32348793A Pending JPH07182938A (ja) | 1993-12-22 | 1993-12-22 | 超電導撚線の性能評価方法及び超電導導体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07182938A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100470895B1 (ko) * | 2002-10-30 | 2005-03-10 | 한국전력공사 | 초전도 선재를 이용한 고온초전도 케이블의 상변화 전압검출시스템 |
| CN102004207A (zh) * | 2010-10-28 | 2011-04-06 | 江苏通鼎光电股份有限公司 | 一种多芯电缆错位接续检测方法 |
-
1993
- 1993-12-22 JP JP32348793A patent/JPH07182938A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100470895B1 (ko) * | 2002-10-30 | 2005-03-10 | 한국전력공사 | 초전도 선재를 이용한 고온초전도 케이블의 상변화 전압검출시스템 |
| CN102004207A (zh) * | 2010-10-28 | 2011-04-06 | 江苏通鼎光电股份有限公司 | 一种多芯电缆错位接续检测方法 |
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