JPH07183228A - 堆積膜形成装置 - Google Patents

堆積膜形成装置

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JPH07183228A
JPH07183228A JP32724093A JP32724093A JPH07183228A JP H07183228 A JPH07183228 A JP H07183228A JP 32724093 A JP32724093 A JP 32724093A JP 32724093 A JP32724093 A JP 32724093A JP H07183228 A JPH07183228 A JP H07183228A
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JP
Japan
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gas
deposited film
film forming
forming apparatus
discharge nozzle
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JP32724093A
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English (en)
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Junichiro Hashizume
淳一郎 橋爪
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Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 マイクロ波プラズマCVD法を用いた堆積膜
形成装置において、基体全面に渡って均一な特性、膜厚
の堆積膜を高速で歩留まり良く形成する。 【構成】 減圧にし得る反応容器101内に放電空間1
06を取り囲むように複数の円筒状基体105を配置
し、前記放電空間内にガス状の原料物質を導入するため
のガス放出ノズル108、及び放電空間の母線方向2ヵ
所から対向してマイクロ波エネルギーを導入する手段1
03を設け、前記ガス放出ノズルと前記の各円筒状基体
との間にバイアス電圧を印加する手段111を設けた堆
積膜形成装置であって、前記ガス放出ノズルに接続され
るガス配管112,113を放電空間内において上下対
称形にする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、円筒状基体上に堆積
膜、とりわけ機能性膜、特に半導体デバイス、電子写真
用感光体デバイス、画像入力用ラインセンサー、撮像デ
バイス、光起電力デバイス等に用いるアモルファス堆積
膜をマイクロ波プラズマCVD法により形成する堆積膜
形成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体デバイス、電子写真用感光
体デバイス、画像入力用ラインセンサー、撮像デバイ
ス、光起電力デバイス、その他各種エレクトロニクス素
子、光学素子等に用いる素子部材として、アモルファス
シリコン、例えば水素又は/及びハロゲン(例えば弗
素、塩素等)で補償したアモルファスシリコン等のアモ
ルファス堆積膜が提案され、その幾つかは実用に供され
ている。
【0003】こうした堆積膜の形成方法として従来、ス
パッタリング法、熱により原料ガスを分解する方法(熱
CVD法)、光により原料ガスを分解する方法(光CV
D法)、プラズマにより原料ガスを分解する方法(プラ
ズマCVD法)等、多数知られている。中でも、プラズ
マCVD法、すなわち、原料ガスを直流または高周波、
マイクロ波グロー放電等によって分解し、ガラス、石
英、耐熱性合成樹脂フイルム、ステンレス、アルミニウ
ムなどの基体上に薄膜状の堆積膜を形成する方法は、電
子写真用アモルファスシリコン堆積膜への応用など、現
在実用化が非常に進んでおり、そのための装置も各種提
案されている。特に、近年堆積膜形成方法としてマイク
ロ波グロー放電分解を用いたプラズマCVD法すなわち
マイクロ波プラズマCVD法が工業的にも注目されてい
る。
【0004】マイクロ波プラズマCVD法は、他の方法
に比べ高いデポジション速度と原料ガスの高い利用効率
という利点を有している。こうした利点を生かしたマイ
クロ波プラズマCVD技術の1つの例が、米国特許4,
504,518号明細書に記載されている。この特許に
記載の技術は、0.1Torr以下の低圧によりマイク
ロ波プラズマCVD法により高速の堆積速度で良質の堆
積膜を得るというものである。
【0005】更に、マイクロ波プラズマCVD法により
原料ガスの利用効率を改善するための技術が特開昭60
−186849号公報に記載されている。この公報に記
載の技術は、概要、マイクロ波エネルギーの導入手段を
取り囲むように基体を配置して内部チャンバー(すなわ
ち放電空間)を形成するようにして、原料ガスの利用効
率を非常に高めるようにしたものである。
【0006】また、特開昭61−283116号公報に
は、半導体部材製造用の改良形マイクロ波技術が開示さ
れている。すなわち、この公報は、放電空間中にプラズ
マ電位制御として電極(バイアス電極)を設け、このバ
イアス電極に所望の電圧(バイアス電圧)を印加して堆
積膜へのイオン衝撃を制御しながら膜堆積を行なうよう
にして、堆積膜の特性を向上させる技術を開示してい
る。
【0007】こうしたマイクロ波プラズマCVD装置に
おいて、原料ガス導入部の改良が、特開昭63−230
880号公報に記載されている。これらは、円筒状基体
の間から放電空間へ原料ガスを導入する方法であり、原
料ガス導入部の形状をくし形又は三角柱状にすることに
より、原料ガスをプラズマ発生領域に効率的に導入し、
堆積膜の堆積速度を向上させることを可能としたもので
ある。
【0008】特開平3−219081号公報では、原料
ガス導入部の改良が記載されている。すなわち、この公
報には、原料ガス導入部がバイアス電極を兼用すること
により分解種に効果的にバイアスエネルギーを印加し堆
積膜の特性向上を図っている。
【0009】更に特開平4−26764号公報には、原
料ガス導入部の更なる改良として、原料ガス導入部を放
電空間の内部に設け、かつ多重管構造とすることによ
り、基体の軸方向の膜厚ムラを改善する堆積膜形成装置
が開示されている。
【0010】これらの従来の技術により比較的厚い光導
電性材料を、ある程度高速の堆積速度と原料ガスの利用
効率で製造することが可能となった。この様にして改良
された従来の堆積膜形成装置は、図5の断面図で示され
ている電子写真感光ドラムの生産用の堆積膜形成装置と
して、以下の様に実施されている。
【0011】図5に於て501は、反応容器であり、真
空気密化構造を成している。また、502は、マイクロ
波電力を反応容器内に効率よく透過し、かつ真空気密を
保持し得るような材料(例えば石英ガラス、アルミナセ
ラミックス等)で形成されたマイクロ波導入誘電体窓で
ある。503は、マイクロ波電力の伝送を行なう導波管
であり、マイクロ波電源から反応容器近傍までの矩形の
部分と、反応容器に挿入された円筒形の部分から成って
いる。導波管503は、スタブチューナー(図示せ
ず)、アイソレーター(図示せず)とともにマイクロ波
電源(図示せず)に接続されている。誘電体窓502は
反応容器内の雰囲気を保持するために導波管503の円
筒形の部分、内壁に気密封止されている。504は、一
端が反応容器501内に開口し、他端が排気装置(図示
せず)に連通している排気管である。506は、基体5
05により囲まれた放電空間を示す。
【0012】こうした従来の堆積膜形成装置による電子
写真感光体の堆積膜形成は以下の様にして行なわれる。
まず真空ポンプ(図示せず)により排気管504を介し
て、反応容器501を排気し、反応容器501内の圧力
を1×10-6Torr以下に調整する。ついでヒーター
507により、基体505の温度を膜堆積に好適に温度
に加熱保持する。そこでガス放出ノズル508より、例
えばアモルファスシリコン堆積膜を形成する場合であれ
ばシランガス等の原料ガスが枝管512、ガス放出ノズ
ル508を介して反応容器501内に導入される。ガス
放出ノズル508にはバイアス電源511からバイアス
電圧が印加される。それと同時並行的にマイクロ波電源
(図示せず)により周波数500MHz以上の好ましく
は2.45GHzのマイクロ波を発生させ、導波管50
3を通じ、誘電体窓502を介して反応容器501内に
マイクロ波エネルギーが導入される。かくして基体50
5により囲まれた放電空間506に於て、原料ガスはマ
イクロ波のエネルギーにより励起されて解離し、更にガ
ス放出ノズル508と基体505の間の電界により定常
的に基体505上にイオン衝撃を受けながら、基体50
5表面に堆積膜が形成される。この時、基体505が設
置された回転軸509をモーター510により回転さ
せ、基体505を基体母線方向中心軸の回りに回転させ
ることにより、基体505の全周に渡って均一に堆積膜
が形成される。
【0013】このような従来の堆積膜形成方法より、あ
る程度の堆積速度では実用的な特性と均一性の堆積膜を
得ることが可能になった。しかし、これら従来の堆積膜
形成方法では、電子写真感光体の各々の特性は成膜パラ
メータを最適に設定することによって満足させることが
できたが、1回の成膜で多数本の感光体を同時に成膜す
るバッチ方式で生産される場合、電子写真感光体全てを
満足させる成膜パラメータの設定が困難であった。特に
堆積速度の速い領域で、かつ、電子写真感光体のように
大面積の比較的厚い堆積膜が要求される製品の製造につ
いては、1バッチ内で各々の感光体間で特性のバラツキ
が見られることがしばしば在った。この為、従来の生産
装置では、1バッチ内の電子写真感光体の特性が規格内
に納るように製造条件を微調整し、ある程度のところで
妥協しているのが現実であった。この為、均一膜質で光
学的及び電気的諸特性の要求を満足し、かつ電子写真プ
ロセスにより画像形成時に画像欠陥の少ない堆積膜を定
常的に安定して高収率(高歩留まり)で得るのは難しい
という解決すべき問題点が残存していた。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、上述
のごとき従来のマイクロ波プラズマCVD法による堆積
膜形成装置に於ける諸問題を克服して、半導体デバイ
ス、電子写真用感光体デバイス、画像入力用ラインセン
サー、撮像デバイス、光起電力デバイス、その他各種エ
レクトロニクス素子、光学素子に用いる素子部材として
特性の良い堆積膜を、マイクロ波プラズマCVD法によ
り、安価に安定して歩留まり良く高速形成し得る堆積膜
形成装置を提供することにある。
【0015】本発明の目的は、特に10ミクロン以上の
比較的厚いアモルファスシリコン堆積膜形成時に高品質
の堆積膜を、マイクロ波プラズマCVD法により、高速
形成し得る堆積膜形成装置を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は、減圧にし得る
反応容器に放電空間を取り囲むように複数の円筒状基体
を前記反応容器内に配置し、前記反応容器内の放電空間
内にガス状の原料物質を導入するためのガス放出ノズル
を設置し、前記円筒状基体によって形成された放電空間
の母線方向2ヵ所から対向する形でマイクロ波エネルギ
ーを導入する手段を設け、前記ガス放出ノズルと前記円
筒状基体との間にバイアス電圧を印加する手段を設けた
堆積膜形成装置であって、前記ガス放出ノズルにガス状
原料物質を該ガス放出ノズルまで導びくガス配管が接続
され、さらに該ガス配管が放電空間内において上下対称
の形状を成すことを特徴とする堆積膜形成装置を提供す
る。
【0017】本発明の堆積膜形成装置は、前記ガス放出
ノズル及び前記ガス配管が導電性の材料で構成されてい
ても良く、また、前記ガス放出ノズルを前記基体に囲ま
れた放電空間の中央に配しても良い。
【0018】
【作用】本発明者らは従来の堆積膜形成装置における前
述の問題を克服して、本発明の目的を達成すべく鋭意研
究を重ねたところ、以下に述べるような知見を得た。
【0019】従来の図5に示すマイクロ波プラズマCV
D法による堆積膜形成装置のように、放電空間中にガス
放出ノズルを配置する堆積装置の場合、ガス放出ノズル
508に接続されてガス状原料物質を導びくガス配管5
12(以下、このガス配管を“枝管”と呼ぶ)が必須構
成要件である。この従来の堆積膜形成装置では、円筒状
基体505を同心円状に並べ、これら円筒状基体に囲ま
れた空間の上下から導波管503を介してマイクロ波電
力を導入する構成となっている。この時、円筒状基体の
母線方向に均一な堆積膜を形成するために、ガス放出ノ
ズル508は円筒状基体の母線方向に平行に、かつ複数
の円筒状基体全てに均一に膜を堆積させるために放電空
間の中心に設置することが必要であった。この為、放電
空間の中心部に配置されたガス放出ノズルにガスを供給
すべき枝管512は、放電空間内で非対称の構成となら
ざるを得なかった。
【0020】一方、電子写真感光体の様に大面積の円筒
状基体に堆積膜を形成する場合、各部分の特性のバラツ
キを抑えることが画像の濃度ムラを抑える上で重要にな
ってくる。特に図5に示した、円筒状基体の上下方向か
らマイクロ波電力を投入する構造の堆積膜形成装置で
は、母線方向の特性ムラが問題となる。この様な母線方
向の特性ムラを防ぐための1つの方法としては、反応炉
内の構造物を上下対称とし、原料ガスの流れやマイクロ
波電力の分布が上下で非対称にならないようにすること
が重要である。
【0021】ところが、従来の枝管は上で述べたように
上下方向に非対称の形状をしていた。この為、一回の成
膜で複数本製造される感光体の内、枝管に隣接していな
い感光体と隣接している感光体の間で、最適な成膜条件
にずれが生じてしまうことが有った。この結果、枝管に
隣接していない感光体に関して、母線方向の特性が良好
な条件に成膜パラメータを設定すると、枝管に隣接して
いる感光体に関しては母線方向の特性に変化が見られ、
成膜条件如何によっては実用に供し得ない感光体となる
ことがしばしば発生した。また、逆に枝管に隣接してい
る感光体に対して最適な成膜パラメータを設定すると、
逆に隣接していない感光体について不具合が発生する場
合が有った。この為、これらの兼ね合いから、ある程度
両者の特性が両立する成膜条件に妥協せざるを得ず、こ
の為、わずかな条件の狂いや変動が良品率を大きく左右
するという不安定な状況を避けることが出来なかった。
【0022】この枝管の影響は、電子写真感光体におけ
る帯電能、残留電位等の表面電位の電位ムラをもたら
し、特にハーフトーン電位のバラツキによる濃度ムラ
が、近年の高画質化を目指した複写機において非常に問
題となってきた。
【0023】この母線方向の不均一の原因として考えら
れるのは次の点である。 枝管に隣接している円筒状基体では、原料ガスの流れ
が他の位置の円筒状基体と異なってしまう。一般に枝管
に隣接している領域は、ガスの流れが悪くなるため、堆
積速度が下がり、膜厚が減少してしまう。この為、電子
写真感光体のように厚膜化が必要なデバイスでは枝管に
隣接した領域の電気特性が悪化してしまう。 ガス放出ノズルを放電空間の中央に設置する場合、枝
管の一部は必ずマイクロ波導入窓の直前を横切ることに
なる。枝管の少なくとも一部はバイアス電圧を印加する
ために導電体で構成されているために、マイクロ波の反
射面を形成してしまう。この為、枝管が横切っている側
と枝管の無い側でインピーダンスの差を生じ、母線方向
ムラの原因となる。
【0024】以上、二点の理由から、枝管に隣接してい
る感光体は、枝管に隣接していない感光体に比べて母線
方向の特性が悪化しやすく、成膜条件によっては実用に
供し得ない程度に母線方向ムラが悪化する場合がある。
【0025】以上の研究結果から、枝管に隣接する感光
体においても母線方向の特性を均一にするためには、枝
管を上下対称な形状にすることが技術的にもコスト的に
も最も効果のある解決手段であるという結論に達した。
すなわち、 枝管による原料ガスの流れが上下方向で対称となるた
め、堆積速度が母線方向で均一となり、膜厚ムラが無く
なる。また、活性種の種類、量も均一となるため膜質の
点においてもムラが無くなる。 上下対称な枝管とすることにより、上下のマイクロ波
導入窓から見た炉内の構造物の配置が同等となり、上下
のインピーダンスが一致する。この為、マイクロ波の導
入効率が上下で一致し、原料ガスに与えるエネルギーが
均一化し、活性種の種類、量の分布も一定となるため膜
質が均一となり、母線方向の電気的なムラが減少する。 ということである。この場合、上下対称にしなければな
らないのは、プラズマ状態であるため、枝管は放電空間
内においてのみ対称形であれば本発明の効果が得られ
る。
【0026】
【実施例】先ず、本発明の堆積膜形成装置に用いて好適
なガス放出ノズルとその接続枝管から成るガス供給手段
について説明する。
【0027】図2に、本発明のガス供給手段の1具体例
を示す。本具体例では、枝管201はガス放出ノズル2
00の中央に接続されており、反応容器上部に設けられ
たガス導入口204に接続されている。本発明によると
ころの対称形枝管は202で示されており、放電空間2
07内で枝管201と対称形を成している。枝管202
及びガス放出ノズル200には反応容器外から原料ガス
206が供給され、更にバイアス電源205からバイア
ス電圧が供給される。
【0028】本発明によるところの対称形枝管では、ガ
ス放出ノズルと平行に配置されているA部分はガス放出
ノズル全長に渡っているため、枝管に隣接している感光
ドラムの上半分と下半分での原料ガスや分解種の流れを
揃え、堆積速度を揃えることができ、この結果、膜厚、
膜質共に均一にする効果がある。
【0029】図3に本発明の他のガス供給手段の別の具
体例を示す。本具体例では、枝管301はガス放出ノズ
ル300の上端に接続されている。本発明によるところ
の対称形枝管は302で示されており、放電空間307
内で枝管301と対称形を成している。この場合、図2
の具体例とは異なり、ガス放出ノズル300と平行にな
るA部分が存在しない。しかし、導波管303を横切
り、反射面を形成するB部分が存在する。この場合、対
称形枝管302の役割はもっぱら上下の導波管303に
対して同等の反射面を形成し、上下のインピーダンスマ
ッチングを取ることとなる。
【0030】図4に、本発明のガス供給手段の更に他の
具体例を示す。本具体例では、枝管401はガス放出ノ
ズル400の中央に接続されており、反応容器上部に設
けられたガス導入口404に接続されている。本具体例
の枝管では、ガス放出ノズルと平行に走るA部分と、導
波管403を横切るB部分を同時に持っている。
【0031】本発明によるところの対称形枝管により、
ガス放出ノズルと平行に設置されているA部分はガス放
出ノズル全長に渡っているため、枝管に隣接している感
光ドラムの上半分と下半分での原料ガスや分解種の流れ
を揃え、堆積速度を揃えるため、膜厚、膜質共に均一に
する効果がある。また、導波管403を横切り、反射面
となるB部分は上下の導波管で同様に設定されており、
上下のマイクロ波のインピーダンスマッチングを同等に
する結果、上下方向のマイクロ波電力を均一にする効果
がある。
【0032】いずれの場合も対称形枝管は、材質、太さ
なども上下揃えた方がより本発明の効果を得やすいが最
低限、電気を通す材質であれば本発明の効果は得られ
る。また、ガス溜まりが形成されることを防ぐために対
称形枝管は中空ではない方が電気特性上望ましい。
【0033】本発明のガス供給手段を用いた堆積膜形成
装置のその他の効果としては、帯電能の改善が見られた
点がある。この時、残留電位に関しては変化が見られな
いので、実質的に明暗部のコントラストが向上してお
り、電子写真感光ドラムとしての完成度が更に高まった
と考えられる。
【0034】現在、この理由の明確な説明は困難である
が、放電空間の中心に存在するガス放出ノズルの枝管を
上下対称とすることにより、上下方向のプラズマが均一
となり、ガス放出ノズルから放出される原料ガスの吹出
しムラが少なくなり、電気特性に関する成膜パラメータ
のラチチュードが広がったためではないかと考えてい
る。
【0035】これまでのガス供給手段によって、本発明
の堆積膜形成装置の実施例は構成される。その代表例と
して、図2に示すガス供給手段を用いた実施例を図1
(a)、図1(b)に示す。
【0036】図1(a)、(b)において、101は、
真空気密化構造をした反応容器である。102はマイク
ロ波導入のための誘電体窓で、103はマイクロ波電力
の伝送を行なう導波管であり、誘導体窓102は反応容
器内の雰囲気を保持するために導波管103の円筒形の
部分の内壁に気密封止されている。104は一端が反応
容器101内に開口し、他端が排気装置に連通している
排気管である。105は、その表面に堆積膜が形成され
る円筒状基体で、図1(b)のとおり、同心円状に6本
並べられ、各基体は回転軸109を介してモータ110
によって回転する。またこれら円筒状基体105に囲ま
れた放電空間106の上下に、対向する形でそれぞれ導
波管103を設け、マイクロ波電力を導入する構成とな
っている。108はガス放出ノズルで、前記円筒状基体
105に囲まれた放電空間106の中央に配置される。
またガス放出ノズル108の中央に、枝管112と対称
形枝管113とが対称形に配管されている。枝管112
及びガス放出ノズル108には反応容器101外から原
料ガスが供給され、更に、バイアス電源111からバイ
アス電圧が供給される。
【0037】本発明の堆積膜形成装置により堆積膜を実
際に形成する場合を例に、以下に説明する。
【0038】まず真空ポンプ(図示せず)により排気管
104を介して、反応容器101を排気し、反応容器1
01内の圧力を1×10-6Torr以下に調整する。つ
いでヒーター107により、基体105の温度をドラム
形成に最適な温度に加熱保持する。そこで原料ガスをガ
ス放出ノズル108を介して、アモルファスシリコンの
原料ガスとしてシランガス、希釈ガスとして、水素ガス
等の原料ガスが反応容器101内に導入される。それと
同時並行的にマイクロ波電源(不図示)により周波数
2.45GHzのマイクロ波を発生させ、導波管103
を通じ、誘電体窓102を介して反応容器101内に導
入される。更に枝管112に電気的に接続されたバイア
ス電源111によりガス放出ノズル108に基体105
に対して直流電圧を印加する。かくして基体105によ
り囲まれた放電空間106に於て、原料ガスはマイクロ
波のエネルギーにより励起されて解離し、更にガス放出
ノズル108と基体105の間の電界により定常的に基
体105上にイオン衝撃を受けながら、基体105表面
に堆積膜が形成される。この時、基体105が設置され
た回転軸109をモーター110により回転させ、基体
105を基体母線方向の中心軸の回りに回転させること
により、基体105全周に渡って均一に堆積膜が形成さ
れる。
【0039】ガス放出ノズルの形状としては特に制限は
ないが、鋭いエッジ部があると外側に付着した堆積膜の
膜剥れが発生するため、本発明では円筒状かまたはそれ
に近似したものが最適であり、断面の直径は大きいとガ
ス管の外部の堆積膜が形成される部分の表面積が大きく
なり原料ガスの利用効率が低下する為、放電空間の直径
に対して1%以上、30%以下とすることが好ましく、
特に3%以上、20%以下とすることがより好ましいも
のである。なお、この時、放電空間の直径とは、放電空
間の中心から放電に曝されるすべての基体表面までの距
離の平均を言う。
【0040】ガス放出ノズルの長さについては特に制限
はないが、円筒状基体と同等の長さ又は円筒状基体の9
0%以上、110%以下の長さとするのが好ましい。
【0041】ガス放出ノズル及び枝管の材質としては、
表面が導電性であり高温に耐える材質ならばいずれでも
良く例えば、ステンレス、Ni、Al、Cr、Mo、A
u、In、Nb、Te、V、Ti、Pt、Pd、Fe等
の金属、これらの合金または表面を導電処理したガラ
ス、セラミックス等が本発明では通常使用される。
【0042】ガス放出ノズルのガス放出孔は、放出の方
向として複数の方向を有しているものが良く、好ましく
は円筒状基体の方向を又は円筒状基体の間の隙間を向い
ているものがよい。更に放電空間全体に広がる方向を向
いているものが適している。
【0043】ガス放出ノズルのガス放出孔の形状はいず
れでも良いが、作製の容易さから円形が実用的には好ま
しい。ガス放出孔の大きさは、小さいと堆積膜形成中に
塞がってしまい、大きいとガス放出ノズル内外の差圧が
取れず、基体の上下方向で堆積膜の膜厚の均一性が低下
するため、0.4mm2 以上、2.5mm2 以下が好ま
しい。更に最適には0.6mm2 以上、1.5mm2 以
下が好ましい。ガス放出孔の密度は、0.2個/cm2
以上、2個/cm2 以下が好ましい。
【0044】ガス放出ノズルの平面における位置は、放
電空間の中心からガス放出ノズルの中心までの距離が、
放電空間の中心から円筒状基体までの最短距離の20%
以内の範囲ならばいずれの所に設定されても良いが、好
ましくは放電空間の中心位置に設置されるのが望まし
い。
【0045】ガス放出ノズルの数としては、放電を乱さ
ない範囲で有れば特に1本に制限されるものではなく、
目的に応じて複数設置することも可能である。この場
合、好ましくは10本以下とすることが実用上好ましい
ものである。
【0046】本発明における円筒状基体の加熱方法は、
真空仕様である発熱体であればよく、より具体的にはシ
ース状ヒーターの巻き付けヒーター、板状ヒーター、セ
ラミックスヒーター等の電気抵抗発熱体、ハロゲンラン
プ、赤外線ランプ等の熱放射ランプ発熱体、液体、気体
等を温媒とし熱交換手段による発熱体等が挙げられる。
加熱手段の表面材質は、ステンレス、ニッケル、アルミ
ニウム、銅等の金属類、セラミックス、耐熱性高分子樹
脂等を使用することができる。また、それ以外にも、反
応容器以外に加熱専用の容器を設け、加熱した後、反応
容器内に真空中で基体を搬送する等の方法も使用するこ
とができる。更にこれらの手段と併用して又は単独で、
放電に使用するマイクロ波自身により(例えば、必要に
応じて強度を変えることにより)基体温度を制御する事
も可能である。
【0047】本発明では、堆積膜の原料ガスとしては、
例えばシラン(SiH4 )、ジシラン(Si2 H6 )等
のアモルファスシリコン形成原料ガス、ゲルマン(Ge
H4)、メタン(CH4 )等の他の機能性堆積膜形成原
料ガス又はそれらの混合ガスが挙げられる。
【0048】希釈ガスとしては水素(H2 )、アルゴン
(Ar)、ヘリウム(He)等が挙げられる。
【0049】又、堆積膜のバンドギャップ幅を変化させ
る等の特性改善ガスとして、アンモニア(NH3 )、窒
素(N2 )等の窒素原子を含む元素、酸素(O2 )、酸
化窒素(NO)、酸化二窒素(N2 O)等の酸素原子を
含む元素、メタン(CH4 )、エタン(C2 H6 )、エ
チレン(C2 H4 )、アセチレン(C2 H2 )、プロパ
ン(C3 H8 )等の炭化水素、四弗化硅素(SiF
4 )、六弗化二硅素(Si 2 F6 )、四弗化ゲルマニウ
ム(GeF4 )等の弗素化合物又はこれらの混合ガスが
挙げられる。
【0050】ドーピングを目的としてジボラン(B2 H
6 )、フッ化ほう素(BF3 )、ホスフィン(PH3 )
等のドーパントガスを同時に放電空間に導入しても本発
明は同様に有効である。
【0051】本発明に於て、マイクロ波導入のための誘
電体窓の材質としてはアルミナ(Al2 O3 )、窒化ア
ルミニウム(AlN)、窒化ボロン(BN)、窒化硅素
(SiN)、炭化硅素(SiC)、酸化硅素(SiO
2 )、酸化ベリリウム(BeO)、テフロン、ポリスチ
レン等マイクロ波の損失の少ない材料が通常使用され
る。
【0052】本発明では、放電空間の圧力がいずれの領
域でも効果が現われたが、特に100mTorr以下、
好ましくは50mTorr以下で特に良好な結果が再現
良く得られた。
【0053】円筒状基体材料としては、例えば、ステン
レス、Al、Cr、Mo、Au、In、Nb、Te、
V、Ti、Pt、Pd、Fe等の金属、これらの合金ま
たは表面を導電処理したポリカーボネート等の合成樹
脂、ガラス、セラミックス、紙等が本発明では通常使用
される。
【0054】円筒状基体の大きさには特に制限はないが
実用的には直径20mm以上、500mm以下、長さ1
00mm以上、1000mm以下が好ましい。
【0055】円筒状基体の間隔は1mm以上、50mm
以下が好ましい。基体の数は放電空間を形成できるなら
ばいずれでも良いが3本以上、より好ましくは4本以上
が適当である。
【0056】さらに本発明は、阻止型アモルファスシリ
コン感光体、高抵抗型アモルファスシリコン感光体等、
複写機、またはプリンター用感光体の作製にも応用が可
能である。
【0057】放電空間を囲むように円筒状基体を設け、
少なくとも円筒状基体の一端側から導波管によりマイク
ロ波を導入する構成の装置に対して大きな効果がある。
【0058】以下、実施例の堆積膜形成装置を用い、実
験した結果について説明するが、本発明は、これらによ
り何ら限定されるものではない。
【0059】[実験例1]図1(a)、及び、図1
(b)で示す堆積膜形成装置に図2の本発明によるガス
供給手段を設置し、前記の成膜方法で表1に示す条件に
より、下から電荷注入阻止層、感光層、表面層の3層か
らなるアモルファスシリコン電子写真用感光体を作製し
た。1回の成膜で作製される電子写真感光体は6本であ
り、各々について帯電能、残留電位、ハーフトーン電位
の母線方向のムラ、及びコントラスト電位(=帯電能−
残留電位)を当社製品NP6650を実験用に改造した
ものに装着し、測定した。帯電能、残留電位、ハーフト
ーン電位の評価方法は次の通りである。
【0060】
【表1】 帯電能 …複写機に堆積膜が形成された感光体を搭載
し、感光体を回転させながら一定帯電電流の元での感光
体の暗部表面電位を現像器位置で測定する。
【0061】残留電位…感光体を一定の暗部表面電位に
なるように帯電させ、ただちに画像露光を照射する。光
源はキセノンランプを用い、フィルターを用いて550
nm以下の波長域の光を除いた光を一定量照射した。こ
の時の表面電位を測定する。
【0062】ハーフトーン電位…残留電位と同様の手順
により感光体の表面電位が50Vになる光量を見つけ、
この光量の1/2を照射した時の表面電位を測定する。
【0063】ムラに関しては、母線方向の画像部の表面
電位の最大値に対する最小値の差で定義し、次のランク
に区分した。
【0064】◎…非常に良好 〇…良好 △…実用上差し支えなし ×…実用上において支障有り 更に、各々の感光体について、母線方向の膜厚を測定し
た。周方向に3ヵ所測定した値の平均値を膜厚とし、母
線方向に1cm刻みに測定した。ムラの評価としては膜
厚の最大値と最小値の差で定義し、次のランクに区分し
た。
【0065】◎…2μm以下 〇…2〜3μm △…3〜4μm ×…4μm以上 評価結果を表2に示す。ここで、表中の「反応容器中の
位置〜」は、図1(b)中の位置〜であること
を示す。本発明の対称形枝管を持ったガス放出ノズルを
用いると、枝管に隣接した感光体においても母線ムラは
悪化していない。
【0066】
【表2】 [比較例1]図5に示す従来ガス供給手段を設置した堆
積膜形成装置に前記の成膜方法で表1に示す条件によ
り、下から電荷注入阻止層、感光層、表面層の3層から
なるアモルファスシリコン電子写真用感光体を作製し
た。1回の成膜で作製される電子写真感光体は6本であ
り、各々について帯電能、残留電位、ハーフトーン電位
の母線方向のムラ、及びコントラスト電位を測定した。
更に母線方向の膜厚ムラも測定した。評価方法は実験例
1と同様に行った。結果を表3に示した。ここで反応容
器中の位置は実験例1と同様に示した。枝管に隣接した
感光体の母線ムラが悪化している。
【0067】また、コントラスト電位に関しては、実験
例1は比較例1に関して改善が認められる。
【0068】
【表3】 [実験例2]図1(a)、及び、図1(b)で示す堆積
膜形成装置に図3の本発明によるガス供給手段を設置
し、前記の成膜方法で表1に示す条件により、下から電
荷注入阻止層、感光層、表面層の3層からなるアモルフ
ァスシリコン電子写真用感光体を作製した。1回の成膜
で作製される電子写真感光体は6本であり、各々につい
て帯電能、残留電位、ハーフトーン電位の母線方向のム
ラ、及びコントラスト電位を当社製品NP6650を実
験用に改造したものに装着し、測定した。更に母線方向
の膜厚ムラも測定した。測定方法は実験例1と同様に行
った。
【0069】評価結果を表4に示す。本発明の対称形枝
管を持ったガス放出ノズルを用いると、枝管に隣接した
感光体においても母線ムラは悪化していない。
【0070】
【表4】 [比較例2]図5に示す従来の堆積膜形成装置に図6に
示す従来ガス供給手段を設置し、前記の成膜方法で表1
に示す条件により、下から電荷注入阻止層、感光層、表
面層の3層からなるアモルファスシリコン電子写真用感
光体を作製した。1回の成膜で作製される電子写真感光
体は6本であり、各々について帯電能、残留電位、ハー
フトーン電位の母線方向のムラ、及びコントラスト電位
を測定した。更に母線方向の膜厚ムラも測定した。評価
方法は実験例1と同様に行った。結果を表5に示した。
表中、反応容器中の位置は実験例1と同様に示した。枝
管に隣接した感光体の母線ムラが悪化している。
【0071】また、コントラスト電位に関しては、実験
例2は比較例2に関して改善が認められる。
【0072】
【表5】 [実験例3]図1(a)、及び、図1(b)で示す堆積
膜形成装置に図4の本発明によるガス供給手段を設置
し、前記の成膜方法で表1に示す条件により、下から電
荷注入阻止層、感光層、表面層の3層からなるアモルフ
ァスシリコン電子写真用感光体を作製した。1回の成膜
で作製される電子写真感光体は6本であり、各々につい
て帯電能、残留電位、ハーフトーン電位の母線方向のム
ラ、及びコントラスト電位を当社製品NP6650を実
験用に改造したものに装着し、測定した。更に母線方向
の膜厚ムラも測定した。測定方法は実験例1と同様に行
った。
【0073】評価結果を表6に示す。本発明の対称形枝
管を持ったガス放出ノズルを用いると、枝管に隣接した
感光体においても母線ムラは悪化していない。
【0074】
【表6】 [比較例3]図5に示す従来の堆積膜形成装置に図7に
示す従来ガス供給手段を設置し、前記の成膜方法で表1
に示す条件により、下から電荷注入阻止層、感光層、表
面層の3層からなるアモルファスシリコン電子写真用感
光体を作製した。1回の成膜で作製される電子写真感光
体は6本であり、各々について帯電能、残留電位、ハー
フトーン電位の母線方向のムラ、及びコントラスト電位
を測定した。更に母線方向の膜厚ムラも測定した。評価
方法は実験例1と同様に行った。結果を表7に示した。
表中、反応容器中の位置は実験例1と同様に示した。枝
管に隣接した感光体の母線ムラが悪化している。
【0075】また、コントラスト電位に関しては、実験
例3は比較例3に関して改善が認められる。
【0076】
【表7】 [実験例4]図1(a)、及び、図1(b)で示す堆積
膜形成装置に図4の本発明によるガス供給手段を設置
し、前記の成膜方法で表8に示す条件により、下から電
荷輸送層、電荷発生層、表面層の3層からなる機能分離
型アモルファスシリコン電子写真用感光体を作製した。
1回の成膜で作製される電子写真感光体は6本であり、
各々について帯電能、残留電位、ハーフトーン電位、膜
厚の母線方向のムラ、及びコントラスト電位を実験例1
と同様に評価したところ、実験例1と同様に6本とも母
線ムラの非常に良好な感光体が得られた。また、コント
ラスト電位についても良好な感光体が得られた。
【0077】
【表8】 [実験例5]図1(a)、及び、図1(b)で示す堆積
膜形成装置に図4の本発明によるガス供給手段を設置
し、前記の成膜方法で表9に示す条件により、下から感
光層、表面層の2層からなる全層変化型アモルファスシ
リコン電子写真用感光体を作製した。1回の成膜で作製
される電子写真感光体は6本であり、各々について帯電
能、残留電位、ハーフトーン電位、膜厚の母線方向のム
ラ、及びコントラスト電位を実験例1と同様に評価した
ところ、実験例1と同様に6本とも母線ムラの非常に良
好な感光体が得られた。また、コントラスト電位につい
ても良好な感光体が得られた。
【0078】
【表9】
【0079】
【発明の効果】円筒状基体を同心円状に並べ、円筒状基
体に囲まれた放電空間の上下からマイクロ波電力を投入
する堆積膜形成装置において、本発明はガス放出ノズル
の枝管を上下対称にすることにより円筒状基体のあらゆ
る位置で均一な膜厚、膜質を得ることが出来るようにな
る。特に電子写真感光体のように比較的大型の円筒状基
体を用いるデバイスにおいては、母線方向の電気特性の
均一化が図れる。
【0080】特に従来枝管に近接している感光体におい
て、わずかな成膜パラメータのずれにより実用に供し得
ない程度に母線方向ムラが発生し、良品率が悪化する場
合が有ったが、本発明の堆積装置を用いることにより枝
管に隣接した感光体の母線方向ムラを改善し、成膜パラ
メータのラチチュードを広げ、良品率を向上させること
が出来る。
【0081】更に他の効果としては、本発明の堆積膜形
成装置によると残留電位を増加させずに帯電能を改善す
ることができ、電子写真感光体の完成度をより高めると
共に製造に於けるラチチュードが広がり、良品率を向上
させることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例である堆積膜形成装置の断面図
(a)及びA−A断面図(b)。
【図2】本発明の堆積膜形成装置におけるガス供給手段
の詳細図。
【図3】本発明の堆積膜形成装置におけるガス供給手段
の詳細図。
【図4】本発明の堆積膜形成装置におけるガス供給手段
の詳細図。
【図5】従来の堆積膜形成装置の断面図。
【図6】従来の堆積膜形成装置におけるガス供給手段の
詳細図。
【図7】従来の堆積膜形成装置におけるガス供給手段の
詳細図。
【符号の説明】
101,501 反応容器 102,502 誘電体窓 103,503 導波管 104,504 排気管 105,505 基体 106,506 放電空間 107,507 ヒーター 108,508 ガス放出ノズル 109,509 回転軸 110,510 モーター 111,511 バイアス電源 112,512 枝管 200,300,400,600,700 ガス放出
ノズル 201,301,401,601,701 枝管 202,302,402 対称形枝管 203,303,403,603,703 導波管 204,304,404 ガス導入口 205,305,405 バイアス電源 206,306,406 原料ガス 207,307,407 放電空間 208,308,408 基体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G03G 5/08 360 H01L 21/31

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 減圧にし得る反応容器内に放電空間を取
    り囲むように複数の円筒状基体を配置し、前記放電空間
    内にガス状の原料物質を導入するためのガス放出ノズル
    を設置し、前記円筒状基体によって形成された放電空間
    の両端2ヵ所から対向する形でマイクロ波エネルギーを
    導入する手段を設け、前記ガス放出ノズルと前記円筒状
    基体との間にバイアス電圧を印加する手段を設けた堆積
    膜形成装置であって、前記ガス放出ノズルにガス状原料
    物質を該ガス放出ノズルまで導びくガス配管が接続さ
    れ、さらに該ガス配管が放電空間内において実質的に上
    下対称の形状を成すことを特徴とする堆積膜形成装置。
  2. 【請求項2】 前記円筒状基体が回転手段を有する請求
    項1記載の堆積膜形成装置。
  3. 【請求項3】 前記ガス放出ノズルを前記円筒状基体に
    囲まれた放電空間の中央に配した請求項1乃至2記載の
    堆積膜形成装置。
  4. 【請求項4】 前記ガス放出ノズル及び前記ガス配管が
    導電性の材料で構成されていることを特徴とする請求項
    1乃至3記載の堆積膜形成装置。
  5. 【請求項5】 アモルファスシリコン電子写真感光体の
    製造に用いられることを特徴とする請求項1乃至4記載
    の堆積膜形成装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180057537A (ko) * 2016-11-21 2018-05-30 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 처리 장치
WO2020008682A1 (ja) * 2018-07-05 2020-01-09 株式会社Kokusai Electric 半導体装置の製造方法、基板処理装置、およびプログラム

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JPWO2020008682A1 (ja) * 2018-07-05 2021-06-24 株式会社Kokusai Electric 半導体装置の製造方法、基板処理装置、およびプログラム

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