JPH07183232A - 気相成長用炉芯管 - Google Patents

気相成長用炉芯管

Info

Publication number
JPH07183232A
JPH07183232A JP34569093A JP34569093A JPH07183232A JP H07183232 A JPH07183232 A JP H07183232A JP 34569093 A JP34569093 A JP 34569093A JP 34569093 A JP34569093 A JP 34569093A JP H07183232 A JPH07183232 A JP H07183232A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
furnace core
core tube
tube
main body
gas
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP34569093A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Honma
浩幸 本間
Shigeru Yamamura
茂 山村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Coorstek KK
Original Assignee
Toshiba Ceramics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Ceramics Co Ltd filed Critical Toshiba Ceramics Co Ltd
Priority to JP34569093A priority Critical patent/JPH07183232A/ja
Publication of JPH07183232A publication Critical patent/JPH07183232A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 キャリアガスの流れを均一にし、しかも炉芯
管の内側においてキャリアガスの温度分布を均一にし
て、不純物層の厚さや濃度を均一にすることができ、し
かも低コストで容易に製造することができる気相成長用
炉芯管を提供する。 【構成】 中空の管形状の炉芯管本体を備え、ガスを導
くための少なくとも4本の通路をそれぞれ炉芯管本体の
外側にその外周面に沿って形成し、各通路の一端と炉芯
管本体の一端を互いに連通させる気相成長用炉芯管。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、気相成長用炉芯管に関
する。
【0002】
【従来の技術】気相成長用炉芯管は、半導体ウエハの表
面に不純物を拡散する際に用いられる。このタイプの炉
芯管は、不純物を含むキャリアガス(拡散用ガスともい
う)、たとえばO(酸素)ガスやN(窒素)ガスを
導入するための1本の導入管を備えている。もしくは、
この炉芯管は半導体ウエハの表面に酸化膜を形成する際
に用いられる。
【0003】導入管によって導入されたキャリアガス
は、炉芯管内に設定された半導体ウエハの表面を通るこ
とにより、表面に不純物を拡散させる。
【0004】また、前述の炉芯管とは別に、二重管型炉
芯管が提案されている。図12を参照すると、この二重
管型炉芯管は、内管21および外管22を備えている。
内管21は外管22に同軸状に内挿されており、内管2
1と外管22の間に筒状流路23が形成されている。キ
ャリアガスは、矢印24に沿って筒状流路23を流れて
内管21の内側に導入される。キャリアガスは、筒状流
路23を通る時に予熱される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前述の1本
の導入管を有する炉芯管においては、1本の導入管から
キャリアガスが導入されて、半導体ウエハのところを通
り、炉芯管に設けられた排気管側に流れるため、炉芯管
内において均一なキャリアガスの流れを得がたい。した
がって、半導体ウエハ間では拡散された不純物層の厚さ
や濃度がばらつく結果となり、半導体ウエハの品質の向
上が図れないという問題がある。
【0006】しかも、導入管によって炉芯管内に導入さ
れるキャリアガスの温度が常温であり炉芯管内の温度よ
り低いので、炉芯管内の温度分布が不均一になり易い。
それによって、半導体ウエハの歩留りが悪化するという
問題がある。
【0007】また、前述の二重管型炉芯管においては、
炉芯管として使用し得る比較的太い石英ガラス管を2本
用意する必要がある。この比較的太い石英ガラス管の製
造においてはクラック発生の問題が生じ易く、それを防
ぐためには炉芯管の全体のコストが高くなるという問題
がある。
【0008】しかも、筒状流路23において、キャリア
ガスの流れに乱流が生じ易い。そのため、半導体ウエハ
の表面に形成される不純物層の厚さや濃度がばらつき易
い。そのため、半導体ウエハの品質の向上が図れないと
いう問題がある。
【0009】本発明は、前述の問題点を解決するために
なされたものであり、キャリアガスの流れを均一にし、
しかも炉芯管の内側においてキャリアガスの温度分布を
均一にして、不純物層の厚さや濃度を均一にすることが
でき、しかも低コストで容易に製造することができる気
相成長用炉芯管を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
めに、本願の第一発明は、中空の管形状の炉芯管本体を
備え、ガスを導くための少なくとも4本の通路をそれぞ
れ炉芯管本体の外側にその外周面に沿って形成し、各通
路の一端と炉芯管本体の一端を互いに連通させたことを
特徴とする気相成長用炉芯管を要旨とする。
【0011】また、本願の第二発明は、中空の管形状の
炉芯管本体の外側に少なくとも4本の中空の管形状のガ
ス導入管を備え、各ガス導入管の一端と炉芯管本体の一
端を互いに連通させ、各ガス導入管の所定の部分を炉芯
管本体の外周面に沿って配置したことを特徴とする気相
成長用炉芯管を要旨とする。
【0012】また、本願の第三発明は、中空の管形状の
炉芯管本体と、中空の管形状のガス導入手段とを備え、
炉芯管本体をガス導入手段に同軸状に内挿し、炉芯管本
体の外周面とガス導入手段の内周面との間に少なくとも
4本の通路を形成して、炉芯管本体の外周面とガス導入
手段の内周面を少なくとも4箇所において密接させ、各
通路の一端と炉芯管本体の一端を互いに連通させたこと
を特徴とする気相成長用炉芯管。を要旨とする。
【0013】
【実施例】第一実施例 本発明の第一実施例による気相成長用炉芯管について説
明する。
【0014】この気相成長用炉芯管は、縦型炉に備えら
れている。縦型炉は、例えば半導体用の熱処理炉であ
る。
【0015】図1を参照すると、この気相成長用炉芯管
1は、少なくとも4本のガス導入管2、炉芯管本体3お
よびキャップ4から構成されている。図示例において
は、ガス導入管2の数は、24本である。なお、図1に
おいては、ガス導入管2などの寸法が誇張して示されて
おり、実際の寸法と異なっている。
【0016】ガス導入管2、炉芯管本体3およびキャッ
プ4のそれぞれの材質は、石英ガラスである。
【0017】炉芯管本体3には挿入管(図示せず)が挿
入されている。この挿入管には温度測定器具(図示せ
ず)、たとえば棒状の熱伝対測温計が挿入できるように
なっている。 炉芯管本体3は、中空の円管であり、上
下方向の直線に沿った形状である。炉芯管本体3の寸法
については、従来の炉芯管、たとえば前述の二重管型炉
芯管の内管と同様の寸法に設定することができる。図示
例においては、炉芯管本体3の外周の直径は、250m
mである。
【0018】キャップ4は、球面の一部分に沿って曲が
った円板形状の部材であり、炉芯管本体3の上端に固定
されている。
【0019】キャップ4には、ガス導入管2と同じ数の
円形の貫通孔が形成されている。それらの貫通孔は、炉
芯管本体3と同心の円周に沿って互いに等間隔に形成さ
れており、それぞれ上下方向に貫通している。図示例に
おいては、貫通孔の数は24個であり、炉芯管本体3の
内周面に近い位置に形成されている。貫通孔の位置は、
球面状のキャップのより外周側に形成されることが好ま
しい。このことにより、より均一なガス流を得ることが
できる。
【0020】各ガス導入管2は、中空の円管である。
【0021】各ガス導入管2の一端2aは、キャップ4
の各貫通孔に挿入されており、レーザーによってキャッ
プ4に溶接されて固定されている。各ガス導入管2の一
端2aは、キャップ4の凹状の下面において下向きに開
口している。
【0022】各ガス導入管2は、キャップ4の凸状の上
面から上方に立ち上がって、略U字形を上下方向に逆さ
にした形状に沿って半径方向に延びる形状の曲線部分2
bと、この曲線部分2bからさらに直線に沿って下方に
向かって延びるような形状の所定の部分2cを有してい
る。
【0023】この所定の部分2cは、炉芯管本体3の外
周面に沿って配置されている。所定の部分2cは、炉芯
管本体3の外周面に接触しているか、あるいは炉芯管本
体3の外周面から外側に間隔をおいて離れている。図示
例においては、炉芯管本体3の外周面から外側に向かっ
て1mmの間隔をおいて離れている。この間隔は、でき
る限りせまいほうが好ましい 炉芯管本体3の内側には、多数の半導体ウエハを載せた
ウエハボ―ト5が収容されるようになっている。また、
縦型炉は、気相成長用炉芯管を支持するためのベース6
を備えている。気相成長用炉芯管1はベース6に固定さ
れている。また、気相成長用炉芯管1の外側には、加熱
手段(図示せず)が配置されている。気相成長用炉芯管
1は、加熱手段によって加熱される。
【0024】縦型炉は、気相成長炉芯管1を除いて、従
来と同様の構成にすることができる。例えば、ウエハボ
ート5、ベース6および加熱手段は、従来と同様のもの
を採用できる。
【0025】半導体ウエハがたとえばシリコンウエハで
ある場合、不純物たとえばリンを含むキャリアガスであ
るOガスやNガスが、ガス供給手段(図示せず)に
よって各ガス導入管2の他端に導入され、矢印7に沿っ
てガス導入管2の内側を流れ、ガス導入管2の一端を経
てキャップ4および炉芯管本体3の内側に導入される。
ガス供給手段は、従来と同様のものを採用できる。
【0026】このように、少なくとも4本のガス導入管
2によってキャリアガスがほぼ整流された状態でキャッ
プ4および炉芯管本体3の内側に導入されるので、導入
されたキャリアガスは、多数の半導体ウエハにほぼ均一
に行きわたる。しかも、隣接する半導体ウエハの隙間の
空間にも均一にキャリアガスが行きわたる。したがっ
て、各半導体ウエハの表面には、均一で良質なリンの拡
散層が形成されることになる。このあとキャリアガスは
排出口(図示せず)を通って炉芯管本体3から排出され
る。
【0027】しかも、キャリアガスは、ガス導入管2の
内側をながれる時に予熱される。そのため、炉芯管本体
3およびキャップ4の内側においてキャリアガスの温度
分布が均一になる。キャリアガスが充分に予熱されるよ
うに、ガス導入管2の寸法が設定される。図示例におい
ては、ガス導入管2の外周の直径は、8mmであり、内
周の直径は、6mmであり、軸線に沿った長さは、10
00mmである。
【0028】キャップ4の貫通孔は、たとえばレ―ザ―
加工により形成される。レ―ザ―加工による場合、開口
部分に欠けやバリ等が残らず、不純物を含むキャリアガ
スが炉芯管本体3およびキャップ4の内側にスム―ズに
導入される。
【0029】次に、図2ないし図6を参照して、気相成
長用炉芯管1の製造方法について説明する。
【0030】まず、円管素材2´、炉芯管本体3および
キャップ4をそれぞれ別々に用意する。
【0031】円管素材2´は、直線に沿った形状の中空
の円管であり、後述のようにキャップ4に固定された後
で折り曲げられてガス導入管2を構成するものである。
つまり、円管素材2´はガス導入管2の材料であり、ガ
ス導入管2と対応する部分には同じ符号が付してある。
【0032】その後、図2および図3に示すように、キ
ャップ4の各貫通孔に各円管素材2´の一端2aを上方
から挿入して、各円管素材2´の一端2aをキャップ4
の凹状の下面において下向きに開口させる。そして、レ
ーザーによって円管素材2´とキャップ3を互いに溶接
して固定する。
【0033】その後、図4に示すように、キャップ4を
炉芯管本体3の上端の上に配置し、レーザーによってキ
ャップ4と炉芯管本体3を互いに溶接して固定する。
【0034】その後、図5および図6に示すように、円
管素材2´を折り曲げて、曲線部分2bおよび直線部分
2cを形成する。その結果、円管素材2´が前述のガス
導入管2を構成する。
【0035】このようにして、気相成長用炉芯管1が製
造される。
【0036】次に、表1を参照して、この気相成長用炉
芯管1の製作難度、製造コスト、膜均一性について、前
述の従来の二重管型炉芯管と比較して順に説明する。
【0037】
【表1】 まず、製作難度について説明する。この第一実施例の気
相成長用炉芯管1は、前述の従来の二重管型炉芯管と比
較して、製作過程においてクラックが発生しにくい。し
たがって、表1に示すように、この第一実施例の気相成
長用炉芯管1の製作は、前述の従来の二重管型炉芯管の
製作と比較して容易である。
【0038】なお、表1に示すように、この第一実施例
の気相成長用炉芯管1の製作難度は、隣接するガス導入
管2の接続部分の間隔によって異なり、その間隔が0.
1mm以上の場合に特に容易である。
【0039】次に、製造コストについて説明する。この
第一実施例においては、各ガス導入管2が炉芯管本体3
より細いので、表1に示すように、太管(炉芯管本体3
の太さ以上の太さの管)の数は、1本(炉芯管本体3)
である。それに対して、前述の従来の二重管型炉芯管の
太管(内管21の太さ以上の太さの管)の数は、2本
(内管21および外管22)である。ガス導入管2は太
管と比較して安価に製造することができるので、従来の
二重管型炉芯管と比較して、製造コストを低くすること
ができる。
【0040】次に、被膜の膜均一性について説明する。
この第一実施例においては、前述のように少なくとも4
本のガス導入管2によってキャリアガスがほぼ整流され
るので、表1に示すように、拡散層の膜均一性は、前述
の従来の二重管型炉芯管と比較して良好である。隣接す
るガス導入管2の接続部分の相互の間隔がガス導入管2
の直径以下の場合に、特に良好である。
【0041】第二実施例 図7を参照して、本発明の第二実施例による気相成長用
炉芯管について説明する。
【0042】この気相成長用炉芯管の構成は、キャップ
10を除いて、前述の第一実施例の気相成長用炉芯管の
構成と同様であるので、その説明は省略する。図7にお
いては、前述の第一実施例のものと同様のものに、それ
と同じ符号を付す。
【0043】キャップ10は、炉芯管本体3の上端の上
に配置されている。キャップ10と炉芯管本体3は、レ
ーザーによって互いに溶接されて固定されている。キャ
ップ10は、炉芯管本体3の上端を塞ぐような形状であ
り、ほぼ円板形状である。
【0044】キャップ10の円板部分には、ガス導入管
2と同じ数の円形の貫通孔が形成されている。それらの
貫通孔は、炉芯管本体3と同心の円周に沿って互いに等
間隔に形成されており、それぞれ上下方向に貫通してい
る。図示例においては、貫通孔の数は24個であり、炉
芯管本体3の内周面に近い位置に形成されている。
【0045】各ガス導入管2の一端2aは、キャップ1
0の各貫通孔に挿入されており、レーザーによってキャ
ップ10に溶接されて固定されている。各ガス導入管2
の一端2aは、キャップ10の下面において下向きに開
口している。
【0046】第三実施例 図8ないし図11を参照して、本発明の第三実施例によ
る気相成長用炉芯管について説明する。
【0047】図10および図11を参照すると、この気
相成長用炉芯管11は、炉芯管本体12、ガス導入手段
13およびキャップ14から構成されている。
【0048】炉芯管本体12ガス導入手段13およびキ
ャップ14のそれぞれの材質は、石英ガラスである。
【0049】炉芯管本体12は、前述の第一実施例の炉
芯管本体と同様の構成である。
【0050】ガス導入手段13は、中空の管形状であ
る。その軸線方向の長さは、炉芯管本体12と同じであ
る。ガス導入手段13の断面形状は、円周を半径方向に
起伏させて波形にしたような形状、いわゆる花形の形状
である。
【0051】炉芯管本体12は、ガス導入手段13に同
軸状に内挿されている。炉芯管本体12の外周面とガス
導入手段13の内周面は、少なくとも4箇所の密接部1
3aにおいて互いに軸線方向の全長にわたって密接して
いる。それらの密接部13aは、円周方向に等間隔に設
けられている。図示例においては、密接部13aの数
は、8箇所である。
【0052】隣接する密接部13aの間において、ガス
導入手段13の内周面が軸線方向の全長にわたって炉芯
管本体12の外周面から半径方向に離れており、ガス導
入路15が形成されている。ガス導入路15は、ガスを
導入するための通路であり、炉芯管本体12の外周面に
沿って等間隔に形成されている。図示例においては、ガ
ス導入路15の数は8本である。
【0053】キャップ14は、中空の管形状であり、そ
の断面形状は、ガス導入手段13の断面形状に対応して
いる。キャップ14の上端は閉じており、下端は開口し
ている。キャップ14の下端とガス導入手段13の上端
は、レーザーによって互いに溶接されて固定されてお
り、路芯管本体12の内側とガス導入路15は、キャッ
プ14を介して互いに連通している。
【0054】キャリアガスは、ガス供給手段(図示せ
ず)によって各ガス導入路15の下端に導入され、ガス
導入路15を上方に向かって流れ、矢印16に沿ってキ
ャップ14を介して炉芯管本体12の内側に導入され
る。
【0055】ところで、本発明は前述の第一実施例ない
し第三実施例に限定されるものではない。
【0056】例えば、炉芯管本体、ガス導入管、キャッ
プ、ガス導入手段などの形状は、前述の形状に限らず、
その他の形状でもよい。また、それらの材質も、石英ガ
ラスに限らず、その他の材質でもよい。
【0057】また、前述の第一実施例の製造方法に限ら
ず、その他の製造方法によって気相成長用炉芯管を製造
してもよい。例えば、前述の第一実施例の製造方法にお
いて、円管素材をキャップに固定する前に折り曲げ、そ
の後でキャップに固定してもよい。
【0058】
【発明の効果】本発明によれば、ガスを導くための少な
くとも4本の通路をそれぞれ炉芯管本体の外側にその外
周面に沿って形成し、各通路の一端と炉芯管本体の一端
を互いに連通させるので、炉芯管本体の内側に半導体ウ
エハを収容し、キャリアガスを各通路の他端から一端に
向かって流し、さらにその一端を経て炉芯管本体の内側
に導入することができ、この場合、キャリアガスの流れ
が、少なくとも4本の通路によって整流されるので、複
数の半導体ウエハおよび半導体ウエハ間の隙間の空間に
均一にキャリアガスが行きわたり、複数の半導体ウエハ
の不純物層の厚さや濃度が均一で良質な拡散層が得ら
れ、半導体ウエハの品質向上を図れる。
【0059】また、炉芯管本体の外側に配置された少な
くとも4本の中空管状のガス導入管を備えるので、前述
の二重管型炉芯管と比較して炉芯管の製作が容易であ
る。しかも、各ガス導入管を炉芯管本体より細くするこ
とができる。この場合、前述の二重管型炉芯管と比較し
て製造コストを安くすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施例による気相成長用炉芯管を
備えた縦型炉を部分的に示す断面図。
【図2】キャップおよび円管素材を示す平面図。
【図3】図2に示したキャップおよび円管素材のA−A
断面図。
【図4】キャップ、円管素材および炉芯管本体を示す断
面図。
【図5】図1に示した気相成長用炉芯管を示す断面図。
【図6】図5に示した気相成長用炉芯管を示す斜視図。
【図7】本発明の第二実施例による気相成長用炉芯管を
示す断面図。
【図8】炉芯管本体を示す断面図
【図9】ガス導入手段を示す断面図
【図10】本発明の第三実施例による気相成長用炉芯管
を示す断面図
【図11】図10に示した気相成長用炉芯管のB−B断
面図。
【図12】従来の二重管型炉芯管を示す断面図
【符号の説明】
1,11 気相成長用炉芯管 2 ガス導入管 3,12 炉芯管本体 4,14 キャップ 5 ウエハボート 13 ガス導入手段

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】中空の管形状の炉芯管本体を備え、ガスを
    導くための少なくとも4本の通路をそれぞれ炉芯管本体
    の外側にその外周面に沿って形成し、各通路の一端と炉
    芯管本体の一端を互いに連通させたことを特徴とする気
    相成長用炉芯管。
  2. 【請求項2】中空の管形状の炉芯管本体の外側に少なく
    とも4本の中空の管形状のガス導入管を備え、各ガス導
    入管の一端と炉芯管本体の一端を互いに連通させ、各ガ
    ス導入管の所定の部分を炉芯管本体の外周面に沿って配
    置したことを特徴とする気相成長用炉芯管。
  3. 【請求項3】中空の管形状の炉芯管本体と、中空の管形
    状のガス導入手段とを備え、炉芯管本体をガス導入手段
    に同軸状に内挿し、炉芯管本体の外周面とガス導入手段
    の内周面との間に少なくとも4本の通路を形成して、炉
    芯管本体の外周面とガス導入手段の内周面を少なくとも
    4箇所において密接させ、各通路の一端と炉芯管本体の
    一端を互いに連通させたことを特徴とする気相成長用炉
    芯管。
JP34569093A 1993-12-22 1993-12-22 気相成長用炉芯管 Pending JPH07183232A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34569093A JPH07183232A (ja) 1993-12-22 1993-12-22 気相成長用炉芯管

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP34569093A JPH07183232A (ja) 1993-12-22 1993-12-22 気相成長用炉芯管

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07183232A true JPH07183232A (ja) 1995-07-21

Family

ID=18378309

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP34569093A Pending JPH07183232A (ja) 1993-12-22 1993-12-22 気相成長用炉芯管

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07183232A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008041915A (ja) * 2006-08-04 2008-02-21 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置及び熱処理方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008041915A (ja) * 2006-08-04 2008-02-21 Tokyo Electron Ltd 熱処理装置及び熱処理方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6413884B1 (en) Method of producing thin films using current of process gas and inert gas colliding with each other
JP5386046B1 (ja) サセプタ支持部およびこのサセプタ支持部を備えるエピタキシャル成長装置
US6203622B1 (en) Wafer support system
US6692576B2 (en) Wafer support system
JP3696632B2 (ja) ウェハ処理チャンバ用ガス入口
US20030205324A1 (en) Wafer holder with stiffening rib
US3314393A (en) Vapor deposition device
US20240209544A1 (en) Chamber architecture for epitaxial deposition and advanced epitaxial film applications
JP2002521817A (ja) 赤外線透過性熱リアクタカバー部材
US5573566A (en) Method of making a quartz dome reactor chamber
JPH07183232A (ja) 気相成長用炉芯管
JP3173697B2 (ja) 縦型熱処理装置
WO2022240560A1 (en) Chamber architecture for epitaxial deposition and advanced epitaxial film applications
JPH0588537B2 (ja)
US4203387A (en) Cage for low pressure silicon dioxide deposition reactors
JP4031601B2 (ja) 縦型熱処理装置
JPH07193012A (ja) 気相成長用炉芯管
JPH07183233A (ja) 気相成長用炉芯管
US5792701A (en) Conical baffle for semiconductor furnaces
JP2646079B2 (ja) 半導体デバイスの製造方法及び製造装置
JPH02174114A (ja) サセプタ
US5961725A (en) Conical baffle for semiconductor furnaces
KR920000710B1 (ko) 반도체 기판의 열처리 장치
JP4159066B2 (ja) プロセスチューブ
JPS63181315A (ja) 熱処理装置