JPH07190755A - 測距装置 - Google Patents
測距装置Info
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- JPH07190755A JPH07190755A JP33206393A JP33206393A JPH07190755A JP H07190755 A JPH07190755 A JP H07190755A JP 33206393 A JP33206393 A JP 33206393A JP 33206393 A JP33206393 A JP 33206393A JP H07190755 A JPH07190755 A JP H07190755A
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- Japan
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- light
- lens
- light receiving
- distance
- macro
- Prior art date
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- Focusing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測距装置の測距可能距離範囲を広げる。
【構成】 光を投射する投光手段と、前記投射された光
の反射光を受光し、受光面上の受光位置に応じて距離を
測定する受光手段と、前記投光手段及び前記受光手段の
少なくともいずれか一方を可動にする可動手段とを有す
る測距装置。
の反射光を受光し、受光面上の受光位置に応じて距離を
測定する受光手段と、前記投光手段及び前記受光手段の
少なくともいずれか一方を可動にする可動手段とを有す
る測距装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はカメラの測距装置の改良
に関するものである。
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、三角測量原理により距離を測定す
る測距装置において、接写距離から遠距離までの距離範
囲を測距する場合、受光素子面上を移動する、被写体か
らの信号、光の受光位置の移動量は、基線長及び受光レ
ンズの焦点距離に依存するがカメラの形態及び容積によ
って、基線長及び投受光レンズの焦点距離はおのずと限
定された値となる。この限定された値の為に、受光素子
面上の信号光の受光位置の移動量は、受光素子の電気特
性及びスペース量をはるかに越えてしまうのが通例であ
る。
る測距装置において、接写距離から遠距離までの距離範
囲を測距する場合、受光素子面上を移動する、被写体か
らの信号、光の受光位置の移動量は、基線長及び受光レ
ンズの焦点距離に依存するがカメラの形態及び容積によ
って、基線長及び投受光レンズの焦点距離はおのずと限
定された値となる。この限定された値の為に、受光素子
面上の信号光の受光位置の移動量は、受光素子の電気特
性及びスペース量をはるかに越えてしまうのが通例であ
る。
【０００３】ここでこの問題を補う従来例として、特開
平３−１５５５３０号公報がある。これはマクロ距離撮
影時２つの反射面をもつプリズムと、マスクを受光レン
ズの前面に進出させることにより、基線長を光学的に変
え、かつ、受光レンズの光軸をずらすことにより広い距
離範囲からの信号光が素子面上に結像するようになって
いる。
平３−１５５５３０号公報がある。これはマクロ距離撮
影時２つの反射面をもつプリズムと、マスクを受光レン
ズの前面に進出させることにより、基線長を光学的に変
え、かつ、受光レンズの光軸をずらすことにより広い距
離範囲からの信号光が素子面上に結像するようになって
いる。
【０００４】
【発明が解決しようとしている課題】しかしながら、上
記従来例では、受光レンズの光軸から離れた受光レンズ
の周辺部を信号光が通過することになりレンズの周辺部
の収差によって、信号光の結像が歪み、かつマスク部で
の絞り効果、２つのプリズムの反射面で、信号光が減衰
すること等により、被写体が低反射率であった場合、回
路のＳ／Ｎが下がり、誤測距を誘発する。また、受光レ
ンズと外装カバーの間に他の部品を配置することはカメ
ラの外形が大きくなり、かつ外装カバーにかかる外圧に
よってマスク及びプリズムの精度が変ってしまうという
欠点がある。
記従来例では、受光レンズの光軸から離れた受光レンズ
の周辺部を信号光が通過することになりレンズの周辺部
の収差によって、信号光の結像が歪み、かつマスク部で
の絞り効果、２つのプリズムの反射面で、信号光が減衰
すること等により、被写体が低反射率であった場合、回
路のＳ／Ｎが下がり、誤測距を誘発する。また、受光レ
ンズと外装カバーの間に他の部品を配置することはカメ
ラの外形が大きくなり、かつ外装カバーにかかる外圧に
よってマスク及びプリズムの精度が変ってしまうという
欠点がある。
【０００５】本発明は、以上の従来の欠点を解決する測
距装置を提供しようとするものである。
距装置を提供しようとするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、投受光
素子、投受光レンズの少なくとも１つに可動機構を設
け、該可動機構は鏡筒部の移動と連動し、投光レンズあ
るいは受光レンズの光軸を投受光素子に対して、移動さ
せる測距装置とするものである。
素子、投受光レンズの少なくとも１つに可動機構を設
け、該可動機構は鏡筒部の移動と連動し、投光レンズあ
るいは受光レンズの光軸を投受光素子に対して、移動さ
せる測距装置とするものである。
【０００７】
【実施例】図１は本発明の第１の実施例のカメラの内部
機構の斜視図である。図１に於いて、１は受光レンズ、
２は投光レンズで双方とも不図示のファインダーブロッ
クに保持されている。３はレンズ群３ａを内部に保持し
たズーミング機構のための鏡筒部である。３ｂは該鏡筒
部に形成された鏡筒ギヤである。４は導電性を持つ接触
子で、前記鏡筒部に貼付してある鏡筒パターンに接触す
る。
機構の斜視図である。図１に於いて、１は受光レンズ、
２は投光レンズで双方とも不図示のファインダーブロッ
クに保持されている。３はレンズ群３ａを内部に保持し
たズーミング機構のための鏡筒部である。３ｂは該鏡筒
部に形成された鏡筒ギヤである。４は導電性を持つ接触
子で、前記鏡筒部に貼付してある鏡筒パターンに接触す
る。
【０００８】５ａは該鏡筒パターン上に設けられた、マ
クロパターンで前記接触子による接地パターン５ｂとの
導通により前記モータを停止させ前記レンズ群を近接撮
影距離時のズーミング位置とする。６は公知のモータで
前記鏡筒部を回転させるための駆動源である。６ａはモ
ータピニオンギヤ、６ｂはモータ６のリード線でモータ
６の不図示の駆動回路に接続される。７は第１の伝達ギ
ヤ、８は伝達ギヤ７と軸部で結合されている第２の伝達
ギヤで鏡筒ギヤ３ｂと噛合している。９は鏡筒ギヤ３ｂ
と噛合している第１ギヤでウォームギヤ１０と軸部で結
合されている。１１は前記ウォームギヤ１０と噛合して
いるマクロギヤ、１２はマクロギヤ１１の軸部に挿入さ
れているトーションバネで、その一端は、マクロギヤ１
１に停止され他端はマクロ円盤１３に係止され、マクロ
円盤１１を反時計方向に付勢する。マクロ円盤１３はマ
クロギヤ１１の軸部に回転可能に嵌合して結合してい
る。Ｂａはマクロ円盤１３の上面に突起して形成された
レバー押しである。１４は受光レバーで二方向に腕部を
持ち、腕部の一端は直角に立ち曲げられ、その先端は穴
が形成されており、公知の位置検出センサーであるＰＳ
Ｄ２２が挿入されている。受光レバー１４の腕部の他端
はマクロ円盤１３の回転によって、レバー押し１３と係
合する。受光レバー１４は回転中心部の軸穴に、ネジ部
が形成された回転軸１５が嵌合し、座金１７をはさんで
調整ネジ１６で保持され受光レバーバネ１８によって上
方及び時計回り方向に付勢されて回動、及び上下の移動
可能である。１９は前記受光レバーバネ１８の係止用ダ
ボで不図示のカメラ本体に形成されている。２０は前記
受光レバー１４の位置決めのための第１のストッパで、
２１は前記受光レバー１４の位置決めのための第２のス
トッパであり、これらは前記受光レバー１４をはさんで
対向して配置され、双方とも２ヶ所の長欠部を有し後述
する調整工程後にビスでカメラ本体に固定される。２２
ａは前記ＰＳＤ２２からの信号を不図示のデータ処理回
路へ接続する公知のフレキシブルパターン、２３は投光
ホルダで直角に折り曲げられた先端部に設けられた穴部
に公知の投光素子であるＩＲＥＤ２４が圧入されてお
り、底部は長穴部を有していて、後述する調整工程を経
てビスで本体に固定される。２４ａはＩＲＥＤ２４用の
リード線で不図示のＩＲＥＤ駆動回路に接続されてい
る。２５は通常撮影距離測距（以下、通常測距とす
る）、近接撮影距離測距（以下、マクロ測距とする）を
選択するトグルＳＷ、２５ａはトグルＳＷ２５用のリー
ド線で不図示の制御回路に接続されている。２６は公知
のアルバタ式ファインダーユニット、２６ａはファンダ
ーユニット２６の接眼部に設けられた測距位置を示す測
距マークである。
クロパターンで前記接触子による接地パターン５ｂとの
導通により前記モータを停止させ前記レンズ群を近接撮
影距離時のズーミング位置とする。６は公知のモータで
前記鏡筒部を回転させるための駆動源である。６ａはモ
ータピニオンギヤ、６ｂはモータ６のリード線でモータ
６の不図示の駆動回路に接続される。７は第１の伝達ギ
ヤ、８は伝達ギヤ７と軸部で結合されている第２の伝達
ギヤで鏡筒ギヤ３ｂと噛合している。９は鏡筒ギヤ３ｂ
と噛合している第１ギヤでウォームギヤ１０と軸部で結
合されている。１１は前記ウォームギヤ１０と噛合して
いるマクロギヤ、１２はマクロギヤ１１の軸部に挿入さ
れているトーションバネで、その一端は、マクロギヤ１
１に停止され他端はマクロ円盤１３に係止され、マクロ
円盤１１を反時計方向に付勢する。マクロ円盤１３はマ
クロギヤ１１の軸部に回転可能に嵌合して結合してい
る。Ｂａはマクロ円盤１３の上面に突起して形成された
レバー押しである。１４は受光レバーで二方向に腕部を
持ち、腕部の一端は直角に立ち曲げられ、その先端は穴
が形成されており、公知の位置検出センサーであるＰＳ
Ｄ２２が挿入されている。受光レバー１４の腕部の他端
はマクロ円盤１３の回転によって、レバー押し１３と係
合する。受光レバー１４は回転中心部の軸穴に、ネジ部
が形成された回転軸１５が嵌合し、座金１７をはさんで
調整ネジ１６で保持され受光レバーバネ１８によって上
方及び時計回り方向に付勢されて回動、及び上下の移動
可能である。１９は前記受光レバーバネ１８の係止用ダ
ボで不図示のカメラ本体に形成されている。２０は前記
受光レバー１４の位置決めのための第１のストッパで、
２１は前記受光レバー１４の位置決めのための第２のス
トッパであり、これらは前記受光レバー１４をはさんで
対向して配置され、双方とも２ヶ所の長欠部を有し後述
する調整工程後にビスでカメラ本体に固定される。２２
ａは前記ＰＳＤ２２からの信号を不図示のデータ処理回
路へ接続する公知のフレキシブルパターン、２３は投光
ホルダで直角に折り曲げられた先端部に設けられた穴部
に公知の投光素子であるＩＲＥＤ２４が圧入されてお
り、底部は長穴部を有していて、後述する調整工程を経
てビスで本体に固定される。２４ａはＩＲＥＤ２４用の
リード線で不図示のＩＲＥＤ駆動回路に接続されてい
る。２５は通常撮影距離測距（以下、通常測距とす
る）、近接撮影距離測距（以下、マクロ測距とする）を
選択するトグルＳＷ、２５ａはトグルＳＷ２５用のリー
ド線で不図示の制御回路に接続されている。２６は公知
のアルバタ式ファインダーユニット、２６ａはファンダ
ーユニット２６の接眼部に設けられた測距位置を示す測
距マークである。
【０００９】以上構成において、予め行う必要のある調
整は、前記ＩＲＥＤの所定の有限距離でのピント位置
と、前記測距マークとの合致が、所定の条件を満たすよ
うに前記投光ホルダ２４を前記投光レンズに対して、前
後左右方向に移動させて適正な位置でビスによりカメラ
本体に固定することである。その後所定の有限距離にお
かれた被写体からのＩＲＥＤ２４の反射光が受光レンズ
１を通過後、ＰＳＤ２２面上の所定の位置に結像するよ
うに受光レバー２４を第１のストッパ２０に圧接した状
態で第１のストッパ２０の位置を前記調整ネジによって
調整する。次に予め設定された、近接の有限距離におか
れた被写体からのＩＲＥＤ２４の反射光が受光レンズ１
を通過後、ＰＳＤ２２面上の所定の位置に結像するよう
に受光レバー１４を第２のストッパー２１に圧接した状
態で第２のストッパ２１を受光レンズ１に対して左右方
向に移動させて調整を行う。
整は、前記ＩＲＥＤの所定の有限距離でのピント位置
と、前記測距マークとの合致が、所定の条件を満たすよ
うに前記投光ホルダ２４を前記投光レンズに対して、前
後左右方向に移動させて適正な位置でビスによりカメラ
本体に固定することである。その後所定の有限距離にお
かれた被写体からのＩＲＥＤ２４の反射光が受光レンズ
１を通過後、ＰＳＤ２２面上の所定の位置に結像するよ
うに受光レバー２４を第１のストッパ２０に圧接した状
態で第１のストッパ２０の位置を前記調整ネジによって
調整する。次に予め設定された、近接の有限距離におか
れた被写体からのＩＲＥＤ２４の反射光が受光レンズ１
を通過後、ＰＳＤ２２面上の所定の位置に結像するよう
に受光レバー１４を第２のストッパー２１に圧接した状
態で第２のストッパ２１を受光レンズ１に対して左右方
向に移動させて調整を行う。
【００１０】以上の調整を経て測距動作可能となるが、
以下測距原理について図３を参照して説明する。受光レ
ンズ１の主点から被写体３０までの距離をＲ1 、被写体
３１までの距離をＲ2 、基線長Ｄ、受光レンズ１の焦点
距離をｆとし、ＰＳＤ２２面上でのＩＲＥＤ２４より投
光された近赤外光が被写体３０、３１によって反射され
た像の基線長方向の移動量をＳとすると、三角測距方式
の公知の次式となる。
以下測距原理について図３を参照して説明する。受光レ
ンズ１の主点から被写体３０までの距離をＲ1 、被写体
３１までの距離をＲ2 、基線長Ｄ、受光レンズ１の焦点
距離をｆとし、ＰＳＤ２２面上でのＩＲＥＤ２４より投
光された近赤外光が被写体３０、３１によって反射され
た像の基線長方向の移動量をＳとすると、三角測距方式
の公知の次式となる。
【００１１】Ｓ＝（１／Ｒ1 −１／Ｒ2 ）Ｄ．ｆ このＰＳＤ２２面上の像の移動量を、ＰＳＤ２２の公知
の特性の結像点を分岐点としてＰＳＤ２２の両端のアノ
ード側に流れる電流の和である（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）と一端に
流れる電流であるＩ1 を不図示の公知のミラー積分回路
により積分し、その積分時間の変化を図４に示すｔ1 に
変換することにより、ｔ1 と被写体距離の一義的な関係
により被写体距離が得られる。これにより前記レンズ群
の繰り出し量が決定され適正なフォーカシングを行うも
のである。図４において、基準電圧であるＶc より高く
設定されているしきい値ＶM をＴ（秒間）積分による積
分電圧値Ｖ1NT が超えなかった場合、インターバル時間
ｄの初期で測距動作を停止する。次に図２のフローチャ
ートに従って撮影時の測距動作について説明する。撮影
者がＳＷ１を押すことによりＳＴ１の電源確認モードに
入り、電源電圧が規格値以上であればＳＴ２のマクロＳ
Ｗ判定を行う。マクロＳＷのＯＮ１でモータ６が回転し
６ａ〜８の伝達機構を介して鏡筒部３が前記レンズ群の
ズーミングを行い９〜１３ａの伝達機構によって受光レ
バー１４は第２のストッパ２１に圧接されて、図３の１
４ａの状態となり、マクロパターン５ａと、接地パター
ン５ｂが接触子４によって、導通されていれば、撮影者
が近接撮影を意図していると判断してＳＴ６のマクロ測
距を行い、適正な測距データが得られればＳＴ４に進行
して、その測距データに対応して前記レンズ群のフォー
カシングを行った後ＳＴ７のＡＥ制御へと進行する。適
正な測距データが得られなければＳＴ８の警告表示を行
う。ＳＴ２でマクロＳＷ ＯＦＦであればＳＴ３に進行
して通常測距を行い、適正な測距データが得られれば前
記ＳＴ４に進行してその測距データに対応して前記レン
ズ群のフォーカシング行った後、前記ＳＴ７へと進行す
る。前記ＳＴ３で適正な測距データが得られない場合、
撮影距離が近接していると判断してＳＴ５でモータを駆
動し、６ａ〜１３ａの伝達機構を介して受光レバー１４
を、図３の１４ａの状態、即ち第２のストッパ２１に圧
接した状態として、前記レンズ群を繰り出してズーミン
グを行い、前記ＳＴ６でマクロ測距を行う。ここで適正
な測距データ１が得られれば、その測距データに対応し
て前記レンズ群のフォーカシングを行い、前記ＳＴ７へ
進行し、適正な測距データが得られない場合は、前記Ｓ
Ｔ５のモータ駆動へと進行し、鏡筒部３の回転を前記レ
ンズ群を繰り込む方向にして、レンズ群を∞ピントにフ
ォーカシングして、前記ＳＴ７へと進行する。つまり、
通常測距、マクロ測距の双方のモードでも適正測距デー
タが得られなかった場合、被写体距離は∞ピントの位置
と判断する。また前記ＳＴ１、ＳＴ４、ＳＴ６でのトラ
ブルは総て前記ＳＴ８へと進行して警告表示される。
の特性の結像点を分岐点としてＰＳＤ２２の両端のアノ
ード側に流れる電流の和である（Ｉ1 ＋Ｉ2 ）と一端に
流れる電流であるＩ1 を不図示の公知のミラー積分回路
により積分し、その積分時間の変化を図４に示すｔ1 に
変換することにより、ｔ1 と被写体距離の一義的な関係
により被写体距離が得られる。これにより前記レンズ群
の繰り出し量が決定され適正なフォーカシングを行うも
のである。図４において、基準電圧であるＶc より高く
設定されているしきい値ＶM をＴ（秒間）積分による積
分電圧値Ｖ1NT が超えなかった場合、インターバル時間
ｄの初期で測距動作を停止する。次に図２のフローチャ
ートに従って撮影時の測距動作について説明する。撮影
者がＳＷ１を押すことによりＳＴ１の電源確認モードに
入り、電源電圧が規格値以上であればＳＴ２のマクロＳ
Ｗ判定を行う。マクロＳＷのＯＮ１でモータ６が回転し
６ａ〜８の伝達機構を介して鏡筒部３が前記レンズ群の
ズーミングを行い９〜１３ａの伝達機構によって受光レ
バー１４は第２のストッパ２１に圧接されて、図３の１
４ａの状態となり、マクロパターン５ａと、接地パター
ン５ｂが接触子４によって、導通されていれば、撮影者
が近接撮影を意図していると判断してＳＴ６のマクロ測
距を行い、適正な測距データが得られればＳＴ４に進行
して、その測距データに対応して前記レンズ群のフォー
カシングを行った後ＳＴ７のＡＥ制御へと進行する。適
正な測距データが得られなければＳＴ８の警告表示を行
う。ＳＴ２でマクロＳＷ ＯＦＦであればＳＴ３に進行
して通常測距を行い、適正な測距データが得られれば前
記ＳＴ４に進行してその測距データに対応して前記レン
ズ群のフォーカシング行った後、前記ＳＴ７へと進行す
る。前記ＳＴ３で適正な測距データが得られない場合、
撮影距離が近接していると判断してＳＴ５でモータを駆
動し、６ａ〜１３ａの伝達機構を介して受光レバー１４
を、図３の１４ａの状態、即ち第２のストッパ２１に圧
接した状態として、前記レンズ群を繰り出してズーミン
グを行い、前記ＳＴ６でマクロ測距を行う。ここで適正
な測距データ１が得られれば、その測距データに対応し
て前記レンズ群のフォーカシングを行い、前記ＳＴ７へ
進行し、適正な測距データが得られない場合は、前記Ｓ
Ｔ５のモータ駆動へと進行し、鏡筒部３の回転を前記レ
ンズ群を繰り込む方向にして、レンズ群を∞ピントにフ
ォーカシングして、前記ＳＴ７へと進行する。つまり、
通常測距、マクロ測距の双方のモードでも適正測距デー
タが得られなかった場合、被写体距離は∞ピントの位置
と判断する。また前記ＳＴ１、ＳＴ４、ＳＴ６でのトラ
ブルは総て前記ＳＴ８へと進行して警告表示される。
【００１２】前述した測距デーダが得られない場合と
は、被写体までの距離が遠く、前記ＩＲＥＤから投光さ
れた信号光の被写体からの反射光が弱い場合、あるいは
ＰＳＤ２２面上に反射光が結像しない場合、つまり被写
体距離に対して前記受光レバー１４適切な位置にない時
であり、これを利用して、通常測距、マクロ測距の判断
を行うが、その方法は図４で示す。しきい値ＶM を積分
電圧値ＶINT がＴ秒間の間に超えられるか否かで判定す
るものである。また、マクロ測距時に受光レバー１４
が、第２のストッパ２０に圧接された時、ＰＳＤ２２と
受光レンズ１の間隔である図３のｄｆが近接撮影距離範
囲の前記受光レンズピントのほぼ中間に設定されるよう
に受光レバー１４の比及び前記回転軸の位置を設定し、
近接撮影距離での受光レンズ１のピント位置補正を行っ
ている。また前述したＳＴ４での前記レンズ群のフォー
カシングの駆動源は、該レンズ群部に取り付けられた不
図示のモータで行う。
は、被写体までの距離が遠く、前記ＩＲＥＤから投光さ
れた信号光の被写体からの反射光が弱い場合、あるいは
ＰＳＤ２２面上に反射光が結像しない場合、つまり被写
体距離に対して前記受光レバー１４適切な位置にない時
であり、これを利用して、通常測距、マクロ測距の判断
を行うが、その方法は図４で示す。しきい値ＶM を積分
電圧値ＶINT がＴ秒間の間に超えられるか否かで判定す
るものである。また、マクロ測距時に受光レバー１４
が、第２のストッパ２０に圧接された時、ＰＳＤ２２と
受光レンズ１の間隔である図３のｄｆが近接撮影距離範
囲の前記受光レンズピントのほぼ中間に設定されるよう
に受光レバー１４の比及び前記回転軸の位置を設定し、
近接撮影距離での受光レンズ１のピント位置補正を行っ
ている。また前述したＳＴ４での前記レンズ群のフォー
カシングの駆動源は、該レンズ群部に取り付けられた不
図示のモータで行う。
【００１３】以上の実施例によれば、 １．近接撮影距離において、受光レンズのピント補正が
可能になり測距精度が向上する。 ２．自動及び手動での通常測距、マクロ測距切換が行わ
れることにより受光素子が小さくても測距可能距離が長
くなる。
可能になり測距精度が向上する。 ２．自動及び手動での通常測距、マクロ測距切換が行わ
れることにより受光素子が小さくても測距可能距離が長
くなる。
【００１４】図５は本発明の第２の実施例で１０１は投
光レンズ、１０２は投光レバー、１０３はＩＲＥＤ、１
０４は第１のストッパ、１０５は第２のストッパ、１０
６は回転軸、１０７は調整ビス、１０８は座金、１０９
は投光レバーバネ、１１０はレバー押し、１１１はマク
ロ盤、１１１ａはマクロ盤上に形成されたダボ、１１２
はマクロ盤バネ、１１３はマクロ盤１１１と軸で結合さ
れたマクロギヤ、１１４はウォームギヤ、１１５はウォ
ームギヤ１１４と軸で結合された第１のギヤ、１１６は
公知のアルバタ式ファインダ、１１６ａはファインダ１
１６の接眼部に設けられた測距マークである。上記構成
において、通常測距時はマクロ盤１１の時計方向への付
勢によりダボ１１ａによって投光レバー１０９は第２の
ストッパ５に圧接されており、前記投光レンズ１を通過
するＩＲＥＤ３の光軸と、不図示の受光レンズの光軸は
基線長を隔てて、平行であり、マクロ測距時は、不図示
のモータＡを駆動源として、不図示の鏡筒部の回転が第
１のギヤ１１５から、ウォームギヤ１１４、マクロ１１
３、マクロ盤１１１と伝達され、それによって、マクロ
盤１１１は反時計方向に回転し、ダボ１１１ａと投光レ
バー１０９は離れる。このことにより投光レバー１０９
は投光レバーバネ１０９に付勢されて、第１のストッパ
ー１０４に圧接されることにより、前記ＩＲＥＤの光軸
は、投光レンズ１０１を通過後基線長側つまり受光レン
ズ側へと移動する。このことによりマクロ測距時、つま
り近接撮影時でも、不図示の受光部ＰＳＤの範囲内に被
写体からの、ＩＲＥＤ１０３の反射光が入射する。
光レンズ、１０２は投光レバー、１０３はＩＲＥＤ、１
０４は第１のストッパ、１０５は第２のストッパ、１０
６は回転軸、１０７は調整ビス、１０８は座金、１０９
は投光レバーバネ、１１０はレバー押し、１１１はマク
ロ盤、１１１ａはマクロ盤上に形成されたダボ、１１２
はマクロ盤バネ、１１３はマクロ盤１１１と軸で結合さ
れたマクロギヤ、１１４はウォームギヤ、１１５はウォ
ームギヤ１１４と軸で結合された第１のギヤ、１１６は
公知のアルバタ式ファインダ、１１６ａはファインダ１
１６の接眼部に設けられた測距マークである。上記構成
において、通常測距時はマクロ盤１１の時計方向への付
勢によりダボ１１ａによって投光レバー１０９は第２の
ストッパ５に圧接されており、前記投光レンズ１を通過
するＩＲＥＤ３の光軸と、不図示の受光レンズの光軸は
基線長を隔てて、平行であり、マクロ測距時は、不図示
のモータＡを駆動源として、不図示の鏡筒部の回転が第
１のギヤ１１５から、ウォームギヤ１１４、マクロ１１
３、マクロ盤１１１と伝達され、それによって、マクロ
盤１１１は反時計方向に回転し、ダボ１１１ａと投光レ
バー１０９は離れる。このことにより投光レバー１０９
は投光レバーバネ１０９に付勢されて、第１のストッパ
ー１０４に圧接されることにより、前記ＩＲＥＤの光軸
は、投光レンズ１０１を通過後基線長側つまり受光レン
ズ側へと移動する。このことによりマクロ測距時、つま
り近接撮影時でも、不図示の受光部ＰＳＤの範囲内に被
写体からの、ＩＲＥＤ１０３の反射光が入射する。
【００１５】以上の実施例によれば、 １．受光素子を小さくできる。 ２．投光レバーを円弧状に移動することにより投光レン
ズのピント補正ができる。 ３．測距マークと投光位置のパララックスの補正ができ
る。
ズのピント補正ができる。 ３．測距マークと投光位置のパララックスの補正ができ
る。
【００１６】図６は本発明の第３の実施例で２０１は投
光レンズ、２０１ａは投光レンズ２０１の下部に一体に
形成されたラックギヤ、２０２は投光レバー、２０３は
ＩＲＥＤ、２０４は第１のストッパー、２０５は第２の
ストッパー、２０６はラックギヤ２０１と噛合している
第１のギヤ、２０７は第１のギヤ２０６と軸で結合して
いるヘルカルギヤ、２０８はヘルカルギヤ２０７と噛合
しているウォームギヤ、２０９は第２のギヤでウォーム
ギヤ２０８と軸で結合しており、不図示の鏡筒ギヤと噛
合している。
光レンズ、２０１ａは投光レンズ２０１の下部に一体に
形成されたラックギヤ、２０２は投光レバー、２０３は
ＩＲＥＤ、２０４は第１のストッパー、２０５は第２の
ストッパー、２０６はラックギヤ２０１と噛合している
第１のギヤ、２０７は第１のギヤ２０６と軸で結合して
いるヘルカルギヤ、２０８はヘルカルギヤ２０７と噛合
しているウォームギヤ、２０９は第２のギヤでウォーム
ギヤ２０８と軸で結合しており、不図示の鏡筒ギヤと噛
合している。
【００１７】以上の構成において通常測距時は投光レン
ズ２０１は第１のストッパ２０４に圧接されており、Ｉ
ＲＥＤ２０３の投光レンズ２０１を通過後の光軸は、基
線長を隔てて、不図示の受光レンズの光軸と平行となっ
ている。マクロ測距時は不図示の鏡筒部の回転により第
２のギヤ２０９、ウォームギヤ２０８、ヘルカルギヤ２
０７、第１の２０６を介して伝達された回転が前記ラッ
クギヤ２０１ａの左右運動となり、投光レンズ２０１は
ＩＲＥＤ２０３に対して、間隔を長くする方向に斜走し
て第２のストッパ２０５に圧接する。
ズ２０１は第１のストッパ２０４に圧接されており、Ｉ
ＲＥＤ２０３の投光レンズ２０１を通過後の光軸は、基
線長を隔てて、不図示の受光レンズの光軸と平行となっ
ている。マクロ測距時は不図示の鏡筒部の回転により第
２のギヤ２０９、ウォームギヤ２０８、ヘルカルギヤ２
０７、第１の２０６を介して伝達された回転が前記ラッ
クギヤ２０１ａの左右運動となり、投光レンズ２０１は
ＩＲＥＤ２０３に対して、間隔を長くする方向に斜走し
て第２のストッパ２０５に圧接する。
【００１８】この時、ＩＲＥＤ２０３の投光レンズ２０
１を通過後の光軸は、基線長方向つまり、受光レンズ光
軸寄りに移動する。
１を通過後の光軸は、基線長方向つまり、受光レンズ光
軸寄りに移動する。
【００１９】以上の実施例によれば、 １．受光素子を小さくできる。 ２．投光レンズを斜走しながら移動することにより投光
レンズのピント補正ができる。 ３．測距マークと投光位置のパララックス補正が出来
る。
レンズのピント補正ができる。 ３．測距マークと投光位置のパララックス補正が出来
る。
【００２０】
【発明の効果】以上説明した様に本発明によれば、撮影
距離に応じて、投光素子、受光素子、投光レンズ、受光
レンズの少なくともいずれか１つを移動することにより １．受光素子を小さくでき、そのことにより処理回路の
Ｓ／Ｎの向上が図れる。 ２．常に投受光レンズの光軸を通過した信号光で結像さ
れるため、結像がシャープとなり、測距精度が向上す
る。 ３．測距可能な撮影距離が伸びる。 等の効果を有するものである。
距離に応じて、投光素子、受光素子、投光レンズ、受光
レンズの少なくともいずれか１つを移動することにより １．受光素子を小さくでき、そのことにより処理回路の
Ｓ／Ｎの向上が図れる。 ２．常に投受光レンズの光軸を通過した信号光で結像さ
れるため、結像がシャープとなり、測距精度が向上す
る。 ３．測距可能な撮影距離が伸びる。 等の効果を有するものである。
【図１】本発明の第１の実施例のカメラの斜視図。
【図２】本発明の第１の実施例のフローチャート。
【図３】本発明の第１の実施例の上面図及び光路図。
【図４】本発明の第１の実施例の測距回路の出力波形
図。
図。
【図５】本発明の第２の実施例のカメラの斜視図。
【図６】本発明の第３の実施例のカメラの斜視図。
１ 受光レンズ ２ 投光レンズ ３ 鏡筒部 ３ａ レンズ群 ３ｂ 鏡筒ギヤ ４ 接触子 ５ 鏡筒パターン ５ａ マクロパターン ５ｂ ＧＮＤパターン ６ モータ ６ａ モータピニオンギヤ ６ｂ モータリード線 ７ 第１の伝達ギヤ ８ 第２の伝達ギヤ ９ 第１のギヤ１ １０ ウォームギヤ １１ マクロギヤ １２ トーションバネ １３ マクロ円盤 １３ａ レバー押し １４ 受光レバー １５ 回転軸 １６ 調整ネジ １７ 座金 １８ 受光レバーバネ １９ ダボ ２０ 第１のストッパ ２１ 第２のストッパ ２２ ＰＳＤ ２２ａ フレキシブルパターン ２３ 投光レバー ２４ ＩＲＥＤ ２４ａ ＩＲＥＤリード線 ２５ トルグＳＷ ２５ａ トルグＳＷリード線 ２６ ファインダー ２６ａ 測距マーク
Claims (1)
- 【請求項１】 光を投射する投光手段と、前記投射され
た光の反射光を受光し、受光面上の受光位置に応じて距
離を測定する受光手段と、前記投光手段及び前記受光手
段の少なくともいずれか一方を可動にする可動手段とを
有することを特徴とする測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33206393A JPH07190755A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP33206393A JPH07190755A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 測距装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07190755A true JPH07190755A (ja) | 1995-07-28 |
Family
ID=18250736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP33206393A Withdrawn JPH07190755A (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07190755A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112857307A (zh) * | 2021-03-16 | 2021-05-28 | 贵州联建土木工程质量检测监控中心有限公司 | 一种便携式陡倾斜建构筑物测距装置 |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP33206393A patent/JPH07190755A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112857307A (zh) * | 2021-03-16 | 2021-05-28 | 贵州联建土木工程质量检测监控中心有限公司 | 一种便携式陡倾斜建构筑物测距装置 |
| CN112857307B (zh) * | 2021-03-16 | 2024-03-29 | 贵州联建土木工程质量检测监控中心有限公司 | 一种便携式陡倾斜建构筑物测距装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010306 |