JPH07199385A - Ｘ線撮影装置 - Google Patents
Ｘ線撮影装置Info
- Publication number
- JPH07199385A JPH07199385A JP5336658A JP33665893A JPH07199385A JP H07199385 A JPH07199385 A JP H07199385A JP 5336658 A JP5336658 A JP 5336658A JP 33665893 A JP33665893 A JP 33665893A JP H07199385 A JPH07199385 A JP H07199385A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ray
- optical image
- light
- optical
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
- Radiography Using Non-Light Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光減衰器を設けることにより、光量の強弱に
関係なくＸ線検出が可能なＸ線撮影装置を提供する。 【構成】 透視と撮影の異なる強度のＸ線を被検体に対
して曝射するＸ線管３と、被検体を透過したＸ線透過像
を光学像に変換するＸ線−光学像変換部５と、Ｘ線−光
学像変換部５のＸ線入射面の反対面に設けられ、Ｘ線−
光学像変換部５と略同程度の面積を有し、入射するＸ線
強度に応じて光透過率を可変させ、前記Ｘ線強度に依ら
ず所定の光量の光学像に減衰させる液晶ユニット７と、
液晶ユニット７と略同程度の面積を有し、液晶ユニット
７からの光学像をその光量に応じたアナログ信号に変換
する光センサー部９と、から構成されている。
関係なくＸ線検出が可能なＸ線撮影装置を提供する。 【構成】 透視と撮影の異なる強度のＸ線を被検体に対
して曝射するＸ線管３と、被検体を透過したＸ線透過像
を光学像に変換するＸ線−光学像変換部５と、Ｘ線−光
学像変換部５のＸ線入射面の反対面に設けられ、Ｘ線−
光学像変換部５と略同程度の面積を有し、入射するＸ線
強度に応じて光透過率を可変させ、前記Ｘ線強度に依ら
ず所定の光量の光学像に減衰させる液晶ユニット７と、
液晶ユニット７と略同程度の面積を有し、液晶ユニット
７からの光学像をその光量に応じたアナログ信号に変換
する光センサー部９と、から構成されている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被検体を透視したＸ線
を電気信号に変換し、被検体のＸ線透過像を検出してＸ
線検出を行うＸ線撮影装置に関する。
を電気信号に変換し、被検体のＸ線透過像を検出してＸ
線検出を行うＸ線撮影装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、被検体のＸ線透過像を検出す
るＸ線撮影装置によるＸ線検出は、フィルムと増感紙を
組み合わせたもの、イメージインテンシファイヤー
（Ｉ．Ｉ．）とＴＶカメラを組み合わせたもの、イメー
ジングプレートを用いたものによって行われている。
るＸ線撮影装置によるＸ線検出は、フィルムと増感紙を
組み合わせたもの、イメージインテンシファイヤー
（Ｉ．Ｉ．）とＴＶカメラを組み合わせたもの、イメー
ジングプレートを用いたものによって行われている。
【０００３】また、これらの問題点であるＩ．Ｉ．によ
る糸まきひずみやシェーディング等を改善した固体の薄
型平面Ｘ線検出器が提案されている（Demonstration of
megavoltage and diagnostic x-ray imaging with hyd
rogenated amorphous silicon arrays（Med Phys.19
(6),Nov/Dec 1992 ;P.1455-1466）、特開昭６１−６２
２８３「Ｘ線／電気変換装置」、特開昭６１−２４４１
７６「デジタルラジオグラフイ装置」等）。
る糸まきひずみやシェーディング等を改善した固体の薄
型平面Ｘ線検出器が提案されている（Demonstration of
megavoltage and diagnostic x-ray imaging with hyd
rogenated amorphous silicon arrays（Med Phys.19
(6),Nov/Dec 1992 ;P.1455-1466）、特開昭６１−６２
２８３「Ｘ線／電気変換装置」、特開昭６１−２４４１
７６「デジタルラジオグラフイ装置」等）。
【０００４】図４にその代表的な薄型平面Ｘ線検出器の
断面を示す。
断面を示す。
【０００５】薄型平面Ｘ線検出器１０１は、Ｘ線を吸収
して光学像に変換するＸ線−光学像変換部１０３と、こ
のＸ線−光学像変換部１０３と同程度の面積を有し、か
つ、アモルファスシリコンを材料として作成され、平滑
化部１０５を介して前記Ｘ線−光学像変換部１０３と密
着して設けられ、このＸ線−光学像変換部１０３によっ
て変換された可視光に応じて電荷を蓄積する複数の光セ
ンサー１０７と、前記蓄積された電荷を外部に読み出す
スイッチの役割を果たす電界効果トランジスタ（ＦＥ
Ｔ）１０９とを備えている。
して光学像に変換するＸ線−光学像変換部１０３と、こ
のＸ線−光学像変換部１０３と同程度の面積を有し、か
つ、アモルファスシリコンを材料として作成され、平滑
化部１０５を介して前記Ｘ線−光学像変換部１０３と密
着して設けられ、このＸ線−光学像変換部１０３によっ
て変換された可視光に応じて電荷を蓄積する複数の光セ
ンサー１０７と、前記蓄積された電荷を外部に読み出す
スイッチの役割を果たす電界効果トランジスタ（ＦＥ
Ｔ）１０９とを備えている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Ｘ線撮
影装置は、動画像を撮影する透視モードと、静止画像を
撮影するための撮影モードの２つのモードを有してお
り、透視モードでは長い時間Ｘ線を曝射するため弱いＸ
線が用いられ、撮影モードではノイズの少ない画像得る
ために強いＸ線を曝射する。
影装置は、動画像を撮影する透視モードと、静止画像を
撮影するための撮影モードの２つのモードを有してお
り、透視モードでは長い時間Ｘ線を曝射するため弱いＸ
線が用いられ、撮影モードではノイズの少ない画像得る
ために強いＸ線を曝射する。
【０００７】従来のＸ線の検出方法では、アモルファス
シリコンから成る光センサーのダイナミックレンジが不
十分で弱いＸ線を用いるために弱い光量が光センサーに
入射する透視、強いＸ線を用いるために強い光量が光セ
ンサーに入射する撮影の両方に対応させることは困難で
あるという問題がある。
シリコンから成る光センサーのダイナミックレンジが不
十分で弱いＸ線を用いるために弱い光量が光センサーに
入射する透視、強いＸ線を用いるために強い光量が光セ
ンサーに入射する撮影の両方に対応させることは困難で
あるという問題がある。
【０００８】本発明は上記事情に鑑みて成されたもので
あり、その目的は、固体の薄型平面Ｘ線検出器におい
て、光減衰器を設けることにより、光量の強弱に関係な
くＸ線検出が可能なＸ線撮影装置を提供することにあ
る。
あり、その目的は、固体の薄型平面Ｘ線検出器におい
て、光減衰器を設けることにより、光量の強弱に関係な
くＸ線検出が可能なＸ線撮影装置を提供することにあ
る。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、透視と撮影の異なる強度のＸ線を被検体
に対して曝射するＸ線源と、被検体を透過したＸ線透過
像を光像に変換するＸ線−光学像変換手段と、前記Ｘ線
−光学像変換手段のＸ線入射面の反対面に設けられ、前
記Ｘ線−光学像変換手段と略同程度の面積を有し、入射
するＸ線強度に応じて光透過率を可変させ、前記Ｘ線強
度に依らず所定の光量の光像に減衰させる光減衰器と、
前記光減衰器と略同程度の面積を有し、前記光減衰器か
らの光像をその光量に応じた電気信号に変換する光検出
器と、を備えたことを特徴としている。
めに本発明は、透視と撮影の異なる強度のＸ線を被検体
に対して曝射するＸ線源と、被検体を透過したＸ線透過
像を光像に変換するＸ線−光学像変換手段と、前記Ｘ線
−光学像変換手段のＸ線入射面の反対面に設けられ、前
記Ｘ線−光学像変換手段と略同程度の面積を有し、入射
するＸ線強度に応じて光透過率を可変させ、前記Ｘ線強
度に依らず所定の光量の光像に減衰させる光減衰器と、
前記光減衰器と略同程度の面積を有し、前記光減衰器か
らの光像をその光量に応じた電気信号に変換する光検出
器と、を備えたことを特徴としている。
【００１０】また、前記光減衰器は、複数の領域に区切
られ、前記領域毎に光透過率を可変させ、Ｘ線強度に依
らず所定の光量の光像に減衰させることを特徴としてい
る。
られ、前記領域毎に光透過率を可変させ、Ｘ線強度に依
らず所定の光量の光像に減衰させることを特徴としてい
る。
【００１１】さらに、前記光減衰器は、液晶から成るこ
とを特徴としている。
とを特徴としている。
【００１２】さらに、前記光検出器は、アモルファスシ
リコンを含むことを特徴としている。
リコンを含むことを特徴としている。
【００１３】さらに、前記光検出器は、多結晶シリコン
を含むことを特徴としている。
を含むことを特徴としている。
【００１４】
【作用】上記構成によれば、Ｘ線源から曝射され、被検
体を透過したＸ線透過像をＸ線−光学像変換手段によ
り、光像に変換し、光減衰器により、入射するＸ線強度
に応じて光透過率を可変させ、前記Ｘ線強度に依らず所
定の光量の光像に減衰させ、光検出器により、前記光減
衰器からの光像をその光量に応じた電気信号に変換させ
る。そのため、弱いＸ線を用いるために弱い光量が光セ
ンサーに入射する透視、強いＸ線を用いるために強い光
量が光センサーに入射する撮影に関係なくＸ線検出が可
能となる。
体を透過したＸ線透過像をＸ線−光学像変換手段によ
り、光像に変換し、光減衰器により、入射するＸ線強度
に応じて光透過率を可変させ、前記Ｘ線強度に依らず所
定の光量の光像に減衰させ、光検出器により、前記光減
衰器からの光像をその光量に応じた電気信号に変換させ
る。そのため、弱いＸ線を用いるために弱い光量が光セ
ンサーに入射する透視、強いＸ線を用いるために強い光
量が光センサーに入射する撮影に関係なくＸ線検出が可
能となる。
【００１５】
【実施例】図１は、本発明に係るＸ線撮影装置の一実施
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【００１６】図１に示すように、本実施例のＸ線撮影装
置１は、Ｘ線を被検体に対して曝射するＸ線管３と、Ｘ
線管３から曝射され被検体を透過したＸ線透過像を光学
像に変換するＸ線−光学像変換部５と、Ｘ線−光学像変
換部５のＸ線入射面の反対面に設けられ、Ｘ線−光学像
変換部５と同程度の面積をし、入射するＸ線強度に応
じ、液晶駆動回路７ａからの印加電圧により光透過率を
可変させ、前記Ｘ線強度に依らず所定の光量の光学像に
減衰させる液晶ユニット７と、液晶ユニット７と同程度
の面積を有し、液晶ユニット７からの光学像をその光量
に応じたアナログ信号（電荷）に変換する光センサー部
９と、Ｘ線管３のＸ線の曝射時間とＸ線量を制御するＸ
線制御部１１と、キーボード等の入力部（図示せず）を
備え、Ｘ線制御部１１と液晶駆動回路７ａに対し、オペ
レータから入力される透視または撮影開始の指示によ
り、その旨の命令を出力するシステム制御部１３と、光
センサー部９によって変換されたアナログ信号をデジタ
ル信号に変換するＡ／Ｄ変換部１５と、前記変換された
デジタル信号を一時記憶する画像メモリ１７と、画像メ
モリ１７に蓄積されているデジタル信号に対し、デジタ
ルサブトラクション等のデジタル画像処理を行う画像処
理部１９と、前記デジタル画像処理されたデジタル信号
をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換部２１と、前記ア
ナログ信号を画面表示するＴＶモニタ２３と、を備えて
いる。
置１は、Ｘ線を被検体に対して曝射するＸ線管３と、Ｘ
線管３から曝射され被検体を透過したＸ線透過像を光学
像に変換するＸ線−光学像変換部５と、Ｘ線−光学像変
換部５のＸ線入射面の反対面に設けられ、Ｘ線−光学像
変換部５と同程度の面積をし、入射するＸ線強度に応
じ、液晶駆動回路７ａからの印加電圧により光透過率を
可変させ、前記Ｘ線強度に依らず所定の光量の光学像に
減衰させる液晶ユニット７と、液晶ユニット７と同程度
の面積を有し、液晶ユニット７からの光学像をその光量
に応じたアナログ信号（電荷）に変換する光センサー部
９と、Ｘ線管３のＸ線の曝射時間とＸ線量を制御するＸ
線制御部１１と、キーボード等の入力部（図示せず）を
備え、Ｘ線制御部１１と液晶駆動回路７ａに対し、オペ
レータから入力される透視または撮影開始の指示によ
り、その旨の命令を出力するシステム制御部１３と、光
センサー部９によって変換されたアナログ信号をデジタ
ル信号に変換するＡ／Ｄ変換部１５と、前記変換された
デジタル信号を一時記憶する画像メモリ１７と、画像メ
モリ１７に蓄積されているデジタル信号に対し、デジタ
ルサブトラクション等のデジタル画像処理を行う画像処
理部１９と、前記デジタル画像処理されたデジタル信号
をアナログ信号に変換するＤ／Ａ変換部２１と、前記ア
ナログ信号を画面表示するＴＶモニタ２３と、を備えて
いる。
【００１７】また、Ｘ線−光学像変換部５、液晶ユニッ
ト７および光センサー部９の断面を簡略化して表すと図
２のようになり、Ｘ線入射側（図２の上部側）から順番
に、Ｘ線−光学像変換部５と、Ｘ線−光学像変換部５の
光入射面の反対面に接合させて設けられた上部透明電極
２５と、外部に設けられた液晶駆動回路７ａから上部透
明電極２５と後記する下部透明電極２９に印加された電
圧によって光透過率を変化させる液晶２７と、下部透明
電極２９と、後述の光センサー３３と電界効果トランジ
スタ３５の凹凸を平滑化する例えばポリイミドから成る
平滑化部３１と、アモルファスシリコンによって作成さ
れ、光学像をアナログ信号に変換する光センサー３３
と、前記アモルファスシリコンによって作成され、前記
アナログ信号を読み出す電界効果トランジスタ３５とか
ら構成される。
ト７および光センサー部９の断面を簡略化して表すと図
２のようになり、Ｘ線入射側（図２の上部側）から順番
に、Ｘ線−光学像変換部５と、Ｘ線−光学像変換部５の
光入射面の反対面に接合させて設けられた上部透明電極
２５と、外部に設けられた液晶駆動回路７ａから上部透
明電極２５と後記する下部透明電極２９に印加された電
圧によって光透過率を変化させる液晶２７と、下部透明
電極２９と、後述の光センサー３３と電界効果トランジ
スタ３５の凹凸を平滑化する例えばポリイミドから成る
平滑化部３１と、アモルファスシリコンによって作成さ
れ、光学像をアナログ信号に変換する光センサー３３
と、前記アモルファスシリコンによって作成され、前記
アナログ信号を読み出す電界効果トランジスタ３５とか
ら構成される。
【００１８】なお、下部透明電極２９の下部に偏光フィ
ルター３７を設けて、液晶を通過した光を偏光させるよ
うにしても良い。また、この偏光フィルター３７は設け
なくても良い。
ルター３７を設けて、液晶を通過した光を偏光させるよ
うにしても良い。また、この偏光フィルター３７は設け
なくても良い。
【００１９】さらに、光センサー部９は、光センサー３
３と電界効果トランジスタ３５とにより構成され、それ
を回路上に表すと図３に示すようになり、電界効果トラ
ンジスタ３５をスイッチングすることによって光センサ
ー３３に蓄積されているアナログ信号が順次読み出され
る。
３と電界効果トランジスタ３５とにより構成され、それ
を回路上に表すと図３に示すようになり、電界効果トラ
ンジスタ３５をスイッチングすることによって光センサ
ー３３に蓄積されているアナログ信号が順次読み出され
る。
【００２０】次に、本実施例のＸ線撮影装置１の動作を
図１を用いて説明する。
図１を用いて説明する。
【００２１】まず、オペレータは、動画観察等で弱いＸ
線を長時間曝射する透視、または、記録等で強いＸ線を
短時間曝射する撮影開始の指示をシステム制御部１３の
入力部（図示せず）から入力する。
線を長時間曝射する透視、または、記録等で強いＸ線を
短時間曝射する撮影開始の指示をシステム制御部１３の
入力部（図示せず）から入力する。
【００２２】システム制御部１３では、透視または撮影
を行う旨の命令をＸ線制御部１１と液晶駆動回路７ａに
対して出力する。
を行う旨の命令をＸ線制御部１１と液晶駆動回路７ａに
対して出力する。
【００２３】Ｘ線制御部１１では、Ｘ線管３に対し、前
記命令に応じた透視または撮影に対応する予め決められ
たＸ線の曝射時間とＸ線量を設定する。一方、液晶駆動
回路７ａでは、透視または撮影に対応した光透過率とな
るように上部透明電極２５と下部透明電極２９に印加す
る電圧値を設定する。
記命令に応じた透視または撮影に対応する予め決められ
たＸ線の曝射時間とＸ線量を設定する。一方、液晶駆動
回路７ａでは、透視または撮影に対応した光透過率とな
るように上部透明電極２５と下部透明電極２９に印加す
る電圧値を設定する。
【００２４】例えば、透視の場合は光透過率１００％、
撮影の場合は光透過率１％となるように予め電圧値を決
めておく。なお、この光透過率は前記の値に限らず、例
えば撮影の場合は光透過率０．１％としても良い。
撮影の場合は光透過率１％となるように予め電圧値を決
めておく。なお、この光透過率は前記の値に限らず、例
えば撮影の場合は光透過率０．１％としても良い。
【００２５】また、この電圧値は可変であるため、Ｘ線
検出中でも光透過率を可変させることができ、例えば、
ＴＶモニタ２３に表示される画像状況に応じて光透過率
を変化させることにより、より見易い画像に調整するこ
とができる。
検出中でも光透過率を可変させることができ、例えば、
ＴＶモニタ２３に表示される画像状況に応じて光透過率
を変化させることにより、より見易い画像に調整するこ
とができる。
【００２６】そして、この状態でＸ線管３によるＸ線の
曝射が開始され、Ｘ線−光学像変換部５では、被検体を
透過したＸ線透過像を光学像に変換する。その後、光セ
ンサー部９では、液晶ユニット７を通過した光学像をそ
の光量に応じたアナログ信号に変換する。なお、液晶ユ
ニット７を通過した光学像の光量は、透視の場合はその
まま、撮影の場合は１／１００となる。
曝射が開始され、Ｘ線−光学像変換部５では、被検体を
透過したＸ線透過像を光学像に変換する。その後、光セ
ンサー部９では、液晶ユニット７を通過した光学像をそ
の光量に応じたアナログ信号に変換する。なお、液晶ユ
ニット７を通過した光学像の光量は、透視の場合はその
まま、撮影の場合は１／１００となる。
【００２７】そして、Ａ／Ｄ変換部１５では、光センサ
ー部９によって得られたアナログビデオを信号をデジタ
ル信号に変換し、画像メモリ１７に一時蓄積する。その
後、画像処理部１９では、画像メモリ１７に蓄積されて
いるデジタル信号に対し、デジタルサブトラクション等
のデジタル画像処理を行う。
ー部９によって得られたアナログビデオを信号をデジタ
ル信号に変換し、画像メモリ１７に一時蓄積する。その
後、画像処理部１９では、画像メモリ１７に蓄積されて
いるデジタル信号に対し、デジタルサブトラクション等
のデジタル画像処理を行う。
【００２８】そして、Ｄ／Ａ変換部２１では、デジタル
画像処理されたデジタル信号をアナログ信号に変換す
る。その後、ＴＶモニタ２３にその変換されたアナログ
信号が表示される。
画像処理されたデジタル信号をアナログ信号に変換す
る。その後、ＴＶモニタ２３にその変換されたアナログ
信号が表示される。
【００２９】このように、本実施例のＸ線撮影装置１で
は、液晶ユニット７の液晶２７を通過する光学像の光透
過率を透視の場合は１００％、撮影の場合は１％にして
いるので、弱いＸ線を用いる透視、強いＸ線を用いる撮
影に関係なく安定した画像を得ることができる。
は、液晶ユニット７の液晶２７を通過する光学像の光透
過率を透視の場合は１００％、撮影の場合は１％にして
いるので、弱いＸ線を用いる透視、強いＸ線を用いる撮
影に関係なく安定した画像を得ることができる。
【００３０】なお、本実施例では、液晶ユニット７の液
晶２７の光透過率は、全範囲で同一の値としているがこ
れに限らず、液晶２７、上部透明電極２５、下部透明電
極２９を複数の領域、例えば光センサー部９の光センサ
ー３３の各画素に対応する領域に区切り、この領域毎に
前記上部透明電極２５、下部透明電極２９に印加する電
圧を可変にし、光透過率を前記領域毎に可変させるよう
にしても良い。
晶２７の光透過率は、全範囲で同一の値としているがこ
れに限らず、液晶２７、上部透明電極２５、下部透明電
極２９を複数の領域、例えば光センサー部９の光センサ
ー３３の各画素に対応する領域に区切り、この領域毎に
前記上部透明電極２５、下部透明電極２９に印加する電
圧を可変にし、光透過率を前記領域毎に可変させるよう
にしても良い。
【００３１】この場合、光センサー３３の全画素または
任意の画素に蓄積されるアナログ信号をモニターし（例
えば光センサー３３からアナログ信号が出力されたとき
にそのアナログ信号量をモニターする）、その値が予め
設定したしきい値以上となったときにその画素に対応す
る前記領域の光透過率を低くする。
任意の画素に蓄積されるアナログ信号をモニターし（例
えば光センサー３３からアナログ信号が出力されたとき
にそのアナログ信号量をモニターする）、その値が予め
設定したしきい値以上となったときにその画素に対応す
る前記領域の光透過率を低くする。
【００３２】このため、透視中に一部の範囲で強いＸ線
がＸ線−光学像変換部５に入射することによる光センサ
ー部９の蓄積アナログ信号の飽和を防止することができ
る。
がＸ線−光学像変換部５に入射することによる光センサ
ー部９の蓄積アナログ信号の飽和を防止することができ
る。
【００３３】また、本実施例の光センサー部９は、アモ
ルファスシリコンによって作成されるが、これに限ら
ず、他の薄型平面Ｘ線検出器、例えば多結晶シリコンを
用いた薄型平面Ｘ線検出器を用いても良い。
ルファスシリコンによって作成されるが、これに限ら
ず、他の薄型平面Ｘ線検出器、例えば多結晶シリコンを
用いた薄型平面Ｘ線検出器を用いても良い。
【００３４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、光
減衰器により、入射するＸ線強度に応じて光減衰率を可
変させ、前記Ｘ線強度に依らず所定の光量の光像に減衰
させるようにしているので、弱いＸ線を用いるために弱
い光量が光センサーに入射する透視、強いＸ線を用いる
ために強い光量が光センサーに入射する撮影に関係なく
Ｘ線検出が可能となる。
減衰器により、入射するＸ線強度に応じて光減衰率を可
変させ、前記Ｘ線強度に依らず所定の光量の光像に減衰
させるようにしているので、弱いＸ線を用いるために弱
い光量が光センサーに入射する透視、強いＸ線を用いる
ために強い光量が光センサーに入射する撮影に関係なく
Ｘ線検出が可能となる。
【図１】本発明に係るＸ線撮影装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】液晶ユニットおよび光センサー部の断面を簡略
化して表す説明図である。
化して表す説明図である。
【図３】光センサー部を回路で表す説明図である。
【図４】従来の代表的な薄型平面Ｘ線検出器の断面を示
す説明図である。
す説明図である。
１ Ｘ線撮影装置 ３ Ｘ線管（Ｘ線源） ５ Ｘ線−光学像変換部（Ｘ線−光学像変換手段） ７ 液晶ユニット（光減衰器） ７ａ 液晶駆動回路 ９ 光センサー部（光検出器） １１ Ｘ線制御部 １３ システム制御部 １５ Ａ／Ｄ変換部 １７ 画像メモリ １９ 画像処理部 ２１ Ｄ／Ａ変換部 ２３ ＴＶモニタ ２５ 上部透明電極 ２７ 液晶 ２９ 下部透明電極 ３１ 平滑化部 ３３ 光センサー ３５ 電界効果トランジスタ ３７ 偏光フィルター
Claims (5)
- 【請求項１】 透視と撮影の異なる強度のＸ線を被検体
に対して曝射するＸ線源と、 被検体を透過したＸ線透過像を光像に変換するＸ線−光
学像変換手段と、 前記Ｘ線−光学像変換手段のＸ線入射面の反対面に設け
られ、前記Ｘ線−光学像変換手段と略同程度の面積を有
し、入射するＸ線強度に応じて光透過率を可変させ、前
記Ｘ線強度に依らず所定の光量の光像に減衰させる光減
衰器と、 前記光減衰器と略同程度の面積を有し、前記光減衰器か
らの光像をその光量に応じた電気信号に変換する光検出
器と、 を備えたことを特徴とするＸ線撮影装置。 - 【請求項２】 前記光減衰器は、複数の領域に区切ら
れ、前記領域毎に光透過率を可変させ、Ｘ線強度に依ら
ず所定の光量の光像に減衰させることを特徴とする請求
項１記載のＸ線撮影装置。 - 【請求項３】 前記光減衰器は、液晶から成ることを特
徴とする請求項１又は２記載のＸ線撮影装置。 - 【請求項４】 前記光検出器は、アモルファスシリコン
を含むことを特徴とする請求項１乃至３記載のＸ線撮影
装置。 - 【請求項５】 前記光検出器は、多結晶シリコンを含む
ことを特徴とする請求項１乃至３記載のＸ線撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5336658A JPH07199385A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Ｘ線撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5336658A JPH07199385A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Ｘ線撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07199385A true JPH07199385A (ja) | 1995-08-04 |
Family
ID=18301454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5336658A Pending JPH07199385A (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | Ｘ線撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07199385A (ja) |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP5336658A patent/JPH07199385A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2381747C2 (ru) | Устройство формирования изображения, система формирования изображения, способ ее управления и носитель информации, содержащий ее программу | |
| JP3415348B2 (ja) | Ｘ線撮像装置 | |
| CN110574361B (zh) | 放射线摄像设备、放射线摄像系统、控制方法和存储介质 | |
| US20120001082A1 (en) | Radiographic imaging system | |
| JP3459745B2 (ja) | 画像処理装置、放射線撮影装置及び画像処理方法 | |
| EP0955009B1 (en) | Radiographic apparatus | |
| JPS59118135A (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| JP3466684B2 (ja) | Ｘ線診断装置 | |
| US5402463A (en) | Apparatus and method for radiation imaging | |
| JP2009195612A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
| JPH07171142A (ja) | 放射線診断装置 | |
| JP3454967B2 (ja) | Ｘ線診断装置およびｘ線像検出装置 | |
| JP2013094454A (ja) | 放射線撮影装置、放射線撮影システム及び放射線撮影方法 | |
| EP0914755A2 (en) | Exposure control on the basis of a relevant part of an x-ray image | |
| JPH07199385A (ja) | Ｘ線撮影装置 | |
| JPH08211518A (ja) | 放射線検出器及びｘ線撮影装置 | |
| JP2015213546A (ja) | 放射線画像撮影装置および放射線画像撮影システム | |
| JP4617827B2 (ja) | Ｘ線透視装置 | |
| JP3578378B2 (ja) | Ｘ線装置 | |
| JP3535842B2 (ja) | Ｘ線像検出装置 | |
| JPH07148163A (ja) | Ｘ線画像装置 | |
| JP2005006886A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
| JPH05153496A (ja) | Ｘ線撮影装置，ｘ線透視装置およびこれらに用いるｘ線テレビカメラ装置 | |
| JPH0553108B2 (ja) | ||
| JPH0951890A (ja) | Ｘ線透視撮影方法及びｘ線透視撮影装置 |