JPH07201016A - 磁気抵抗性読取変換器アセンブリ - Google Patents
磁気抵抗性読取変換器アセンブリInfo
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- JPH07201016A JPH07201016A JP6270862A JP27086294A JPH07201016A JP H07201016 A JPH07201016 A JP H07201016A JP 6270862 A JP6270862 A JP 6270862A JP 27086294 A JP27086294 A JP 27086294A JP H07201016 A JPH07201016 A JP H07201016A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/127—Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
- G11B5/33—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
- G11B5/39—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
- G11B5/3903—Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 熱サイクル中安定した、改善された強化交換
・磁性特性を与える磁気抵抗性読取変換器アセンブリを
提供する。 【構成】 本発明に基づく磁気抵抗性(MR)読取変換
器アセンブリは、MR導電層の薄い膜18、MR導電層
に接する反強磁性体の極めて薄い膜20、並びに反強磁
性体の薄い膜に接しており、不利な環境にさらされるこ
とから生じる害から反強磁性体の層を保護するためのキ
ャッピング層22、から構成される。
・磁性特性を与える磁気抵抗性読取変換器アセンブリを
提供する。 【構成】 本発明に基づく磁気抵抗性(MR)読取変換
器アセンブリは、MR導電層の薄い膜18、MR導電層
に接する反強磁性体の極めて薄い膜20、並びに反強磁
性体の薄い膜に接しており、不利な環境にさらされるこ
とから生じる害から反強磁性体の層を保護するためのキ
ャッピング層22、から構成される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気媒体から情報信号
を読取るための磁気変換器に関するものであり、また特
に改良された磁気抵抗読取変換器アセンブリに関するも
のである。
を読取るための磁気変換器に関するものであり、また特
に改良された磁気抵抗読取変換器アセンブリに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】先行技術は、非常に高い線密度の磁気表
面からデータを読取ることができることが示されている
磁気抵抗(MR)センサ又はへツドと言われる磁気変換
器を開示している。MRセンサは、磁気抵抗性材料から
作られる読取エレメントの抵抗の変化を通じて、MR読
取エレメントによって感知される磁束の量と方向の関数
として磁界信号を検知する。
面からデータを読取ることができることが示されている
磁気抵抗(MR)センサ又はへツドと言われる磁気変換
器を開示している。MRセンサは、磁気抵抗性材料から
作られる読取エレメントの抵抗の変化を通じて、MR読
取エレメントによって感知される磁束の量と方向の関数
として磁界信号を検知する。
【0003】先行技術は、MRエレメントが最適に機能
するために様々なバイアスフィールドを与えるべきであ
ることも教示している。通常、MRエレメントと共に使
われるバイアスフィールドは、先行技術において、磁気
媒体の表面に平行に伸び且つMR読取エレメントの縦の
方向に伸びる縦バイアスフィールドとよばれている。
するために様々なバイアスフィールドを与えるべきであ
ることも教示している。通常、MRエレメントと共に使
われるバイアスフィールドは、先行技術において、磁気
媒体の表面に平行に伸び且つMR読取エレメントの縦の
方向に伸びる縦バイアスフィールドとよばれている。
【0004】本願出願人の米国特許第4103315号
は、MRセンサにそった一定の縦バイアスをもたらす反
強磁性/強磁性交換結合の利用を開示している。交換結
合は、面心立方FeMn反強磁性層とNiFe強磁性層
との間のインターフェース部分で生じる。
は、MRセンサにそった一定の縦バイアスをもたらす反
強磁性/強磁性交換結合の利用を開示している。交換結
合は、面心立方FeMn反強磁性層とNiFe強磁性層
との間のインターフェース部分で生じる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】FeMnの利用の際に
遭遇する問題の1つは、一定の環境に置かれた時にこの
物質が示す高い腐食度である。高い大気腐食度、並びに
変換器の処理中のFeMnの減損は、FeMnの反応的
な性質を示すものである。FeMnの反応的な性質は
又、真空処理に重い制約を課するものであり、許容でき
る真空を保証するのに要求される長いサイクル時間のた
め処理時間を増すことになる。
遭遇する問題の1つは、一定の環境に置かれた時にこの
物質が示す高い腐食度である。高い大気腐食度、並びに
変換器の処理中のFeMnの減損は、FeMnの反応的
な性質を示すものである。FeMnの反応的な性質は
又、真空処理に重い制約を課するものであり、許容でき
る真空を保証するのに要求される長いサイクル時間のた
め処理時間を増すことになる。
【0006】前述の米国特許は強磁性体と反強磁性体と
の交換結合を論じており、また強磁性MR層としてNi
Feを、また反強磁性層としてガンマ相(面心立方(F
CC))のマンガン(Mn)合金を提案している。記載
した可能なガンマMn合金の内で、鉄−マンガン(Fe
Mn)はNiFe層との結合を交換する最大の能力を示
しているように思われる。しかしながら、前に論じたよ
うに、FeMnの使用に際してはFeMnが腐食を受け
やすいことからくる問題が存している。
の交換結合を論じており、また強磁性MR層としてNi
Feを、また反強磁性層としてガンマ相(面心立方(F
CC))のマンガン(Mn)合金を提案している。記載
した可能なガンマMn合金の内で、鉄−マンガン(Fe
Mn)はNiFe層との結合を交換する最大の能力を示
しているように思われる。しかしながら、前に論じたよ
うに、FeMnの使用に際してはFeMnが腐食を受け
やすいことからくる問題が存している。
【0007】本発明は、腐食の受けやすさを大幅に減ら
しただけでなく、交換バイアスフィールドの強度を高め
た、強磁性層と反強磁性層との交換結合による縦バイア
スを提供する改良構造に向けられている。
しただけでなく、交換バイアスフィールドの強度を高め
た、強磁性層と反強磁性層との交換結合による縦バイア
スを提供する改良構造に向けられている。
【0008】従って、磁気抵抗性読取変換器アセンブリ
に、熱サイクル中安定した、改善された強化交換・磁性
特性を与えることが本発明の主な目的である。
に、熱サイクル中安定した、改善された強化交換・磁性
特性を与えることが本発明の主な目的である。
【0009】交換バイアスフィールドの減少をもたらす
ことなく、FeMnについての改良された腐食防御を有
する磁気抵抗性読取変換器アセンブリを提供することが
本発明のもう1つの目的である。
ことなく、FeMnについての改良された腐食防御を有
する磁気抵抗性読取変換器アセンブリを提供することが
本発明のもう1つの目的である。
【0010】
【課題を解決するための手段】反強磁性体の極めて薄い
層は、前に研究した構造よりも強い交換バイアスフィー
ルドをNiFeとの間でもたらす、ということが偶然に
も発見された。更に、極めて薄い反強磁性層の腐食特性
は、この反強磁性層と接触するキャッピング層を与える
ことによってかなり強めることができることが発見され
た。
層は、前に研究した構造よりも強い交換バイアスフィー
ルドをNiFeとの間でもたらす、ということが偶然に
も発見された。更に、極めて薄い反強磁性層の腐食特性
は、この反強磁性層と接触するキャッピング層を与える
ことによってかなり強めることができることが発見され
た。
【0011】本発明に基づく磁気抵抗性(MR)読取変
換器アセンブリは、MR導電層の薄い膜、MR導電層に
直接接する反強磁性体の極めて薄い膜、並びに反強磁性
体の薄い膜に接しており、不利な環境にさらされること
から生じる害から反強磁性体の層を保護するためのキャ
ッピング層、から構成される。
換器アセンブリは、MR導電層の薄い膜、MR導電層に
直接接する反強磁性体の極めて薄い膜、並びに反強磁性
体の薄い膜に接しており、不利な環境にさらされること
から生じる害から反強磁性体の層を保護するためのキャ
ッピング層、から構成される。
【0012】特定の実施例において、反強磁性体はFe
Mnであり、反強磁性層の厚さはおおよそ25−200
オングストロームの範囲にあり、キャッピング層はCr
2O3、Al2O3、並びにSiO2の如き誘電材料、ある
いはCr−SiO、Ni80Cr20−Cr2O3、Cr−A
l2O3、並びにNi80Cr20−SiO2の如き酸化金属
サーメット膜の何れかである。
Mnであり、反強磁性層の厚さはおおよそ25−200
オングストロームの範囲にあり、キャッピング層はCr
2O3、Al2O3、並びにSiO2の如き誘電材料、ある
いはCr−SiO、Ni80Cr20−Cr2O3、Cr−A
l2O3、並びにNi80Cr20−SiO2の如き酸化金属
サーメット膜の何れかである。
【0013】別の実施例においては、反強磁性層は三元
合金FeMn−Xであり、XはRh、Ti、もしくはC
rである。
合金FeMn−Xであり、XはRh、Ti、もしくはC
rである。
【0014】
【実施例】第1図に関連し、適当な基板14上の軟磁性
材料の層12から成る磁気抵抗性(MR)読取変換器ア
センブリ10が示されている。非磁性スペーサ層16
が、軟磁性層12をニッケル鉄(NiFe)の如き強磁
性体から構成されるMR材料の層18から離している。
軟磁性層12は、MR層18の磁界に記録媒体に平行で
はない方向のバイアスをかけるように意図された磁界を
与える。このバイアスフィールドは普通、横バイアスフ
ィールドといい、当該横バイアスはMR層を横切って検
知された信号が、MR層18によって磁気記憶媒体上の
被記録データから遮断された磁界の変化のためにMR層
において感知された抵抗変化の実質的な線型変換である
ようにするため、MR層18を線型応答モードに維持す
る。
材料の層12から成る磁気抵抗性(MR)読取変換器ア
センブリ10が示されている。非磁性スペーサ層16
が、軟磁性層12をニッケル鉄(NiFe)の如き強磁
性体から構成されるMR材料の層18から離している。
軟磁性層12は、MR層18の磁界に記録媒体に平行で
はない方向のバイアスをかけるように意図された磁界を
与える。このバイアスフィールドは普通、横バイアスフ
ィールドといい、当該横バイアスはMR層を横切って検
知された信号が、MR層18によって磁気記憶媒体上の
被記録データから遮断された磁界の変化のためにMR層
において感知された抵抗変化の実質的な線型変換である
ようにするため、MR層18を線型応答モードに維持す
る。
【0015】第2のバイアスフィールド即ち縦のバイア
スフィールドは、強磁性MR層18とこのMR材料の層
18に近接した層20に蒸着された反強磁性体との交換
結合にって生じる。当該縦バイアスは、MR層18に単
一定義域状態を造りだし、また単一定義域状態は、複数
磁性定義域状態を示すMR材料と結びつくバルクハルゼ
ン・ノイズを押さえるのに必須のものである。
スフィールドは、強磁性MR層18とこのMR材料の層
18に近接した層20に蒸着された反強磁性体との交換
結合にって生じる。当該縦バイアスは、MR層18に単
一定義域状態を造りだし、また単一定義域状態は、複数
磁性定義域状態を示すMR材料と結びつくバルクハルゼ
ン・ノイズを押さえるのに必須のものである。
【0016】図面に示された実施例において、MR層1
8に直接接したFeMnのような適当な反強磁性体の極
めて薄い層20(25−200オングストローム)が与
えられている。25−50オングストロームの薄さの膜
はNiFeとの結合を交換することができ、また大きな
交換バイアスフィールドを作ることができることが発見
された。上記の範囲の薄さの膜は依然として不連続であ
りうるので、上記の結果は少なからぬ驚きである。
8に直接接したFeMnのような適当な反強磁性体の極
めて薄い層20(25−200オングストローム)が与
えられている。25−50オングストロームの薄さの膜
はNiFeとの結合を交換することができ、また大きな
交換バイアスフィールドを作ることができることが発見
された。上記の範囲の薄さの膜は依然として不連続であ
りうるので、上記の結果は少なからぬ驚きである。
【0017】キャッピング層22は、反強磁性層を腐食
の害から保護するために、また反強磁性体の層への相互
拡散が交換結合を破壊するので拡散障壁として貢献する
ために、反強磁性体の極めて薄い層20と接触して与え
られている。キャッピング層22はCr2O3、Al
2O3、並びにSiO2の如き安定した誘電材料、あるい
はCr−SiO、Ni80Cr20−Cr2O3、Cr−Al
2O3並びにNi80Cr20−SiO2の如き酸化金属サー
メット膜で作られる。キャッピング層22の厚みは重要
ではなく、200−400オングストロームの範囲内に
あるキャッピング層は適当なものであることが分かって
いる。
の害から保護するために、また反強磁性体の層への相互
拡散が交換結合を破壊するので拡散障壁として貢献する
ために、反強磁性体の極めて薄い層20と接触して与え
られている。キャッピング層22はCr2O3、Al
2O3、並びにSiO2の如き安定した誘電材料、あるい
はCr−SiO、Ni80Cr20−Cr2O3、Cr−Al
2O3並びにNi80Cr20−SiO2の如き酸化金属サー
メット膜で作られる。キャッピング層22の厚みは重要
ではなく、200−400オングストロームの範囲内に
あるキャッピング層は適当なものであることが分かって
いる。
【0018】MRセンサ内に改良された反強磁性層を提
供するために、様々なFeMn構造が100ガウスの一
定の磁界でのRFスパッタ蒸着による薄い膜として作ら
れた。出力密度は2.6w/cm2、圧力は25ミリト
ル、並びに基板温度は50℃にそれぞれ固定されてい
る。基板はガラスで、表面は蒸着前に5分間スパッタ洗
浄された。鉄−ニッケル(Ni81Fe19)の膜は約40
0オングストロームの厚さまで1秒間に約1オングスト
ロームの割合で基板に蒸着された。鉄−ニッケル膜蒸着
の後に25オングストロームから350オングストロー
ムまでの様々な厚さのFe50Mn50のスパッタ蒸着が行
われた。FeMnの蒸着は、前と同じ圧力、出力密度の
元で1秒間に約1.5オングストロームの割合で行われ
た。厚さの数値はスパッタ出力と時間で決められ、厚さ
の測定のために較正された。上記交換構造は、約300
オングストロームの厚さのCr−SiOの如き保護サー
メツト膜によってキャップされた。キャッピング層は、
交換構造を熱サイクル実験中の酸化から守る保護コーテ
ィングを与えた。
供するために、様々なFeMn構造が100ガウスの一
定の磁界でのRFスパッタ蒸着による薄い膜として作ら
れた。出力密度は2.6w/cm2、圧力は25ミリト
ル、並びに基板温度は50℃にそれぞれ固定されてい
る。基板はガラスで、表面は蒸着前に5分間スパッタ洗
浄された。鉄−ニッケル(Ni81Fe19)の膜は約40
0オングストロームの厚さまで1秒間に約1オングスト
ロームの割合で基板に蒸着された。鉄−ニッケル膜蒸着
の後に25オングストロームから350オングストロー
ムまでの様々な厚さのFe50Mn50のスパッタ蒸着が行
われた。FeMnの蒸着は、前と同じ圧力、出力密度の
元で1秒間に約1.5オングストロームの割合で行われ
た。厚さの数値はスパッタ出力と時間で決められ、厚さ
の測定のために較正された。上記交換構造は、約300
オングストロームの厚さのCr−SiOの如き保護サー
メツト膜によってキャップされた。キャッピング層は、
交換構造を熱サイクル実験中の酸化から守る保護コーテ
ィングを与えた。
【0019】NiFe・MR層の交換バイアスフィール
ド(HUA)は、FeMn反強磁性層の厚みの関数として
第4図に図示されている。同様に第4図に示されている
のは、Fe50Mn50の厚みの関数としての交換飽和保磁
力(HCE)である。これらのプロットは、FeMnの厚
みが25オングストロームである時には、飽和保磁力は
交換バイアスよりも大きなものであったということを示
している。しかし、交換バイアスフィールドは50オン
グストロームのFeMn層について25エルステツド
(Oe)まで増加し、また飽和保磁力は約6エルステッ
ドまで減少した。観察された最大の交換バイアスフィー
ルドは50オングストロームのFeMn膜についてであ
り、交換バイアスフィールドは直線的に減少し、150
オングストロームのFeMnでは20(Oe)となり、
また150オングストロームから350オングストロー
ムまでは厚みに関係なく一定であった。
ド(HUA)は、FeMn反強磁性層の厚みの関数として
第4図に図示されている。同様に第4図に示されている
のは、Fe50Mn50の厚みの関数としての交換飽和保磁
力(HCE)である。これらのプロットは、FeMnの厚
みが25オングストロームである時には、飽和保磁力は
交換バイアスよりも大きなものであったということを示
している。しかし、交換バイアスフィールドは50オン
グストロームのFeMn層について25エルステツド
(Oe)まで増加し、また飽和保磁力は約6エルステッ
ドまで減少した。観察された最大の交換バイアスフィー
ルドは50オングストロームのFeMn膜についてであ
り、交換バイアスフィールドは直線的に減少し、150
オングストロームのFeMnでは20(Oe)となり、
また150オングストロームから350オングストロー
ムまでは厚みに関係なく一定であった。
【0020】キャッピング層をCr2O3と積層構造にさ
れた約300オングストロームの厚さのFeMnにした
別の実験を行った。この実験では、交換バイアスフィー
ルドは25−50オングストロームの範囲でピークに達
し、それから約200オングストロームまで直線的に減
少し、またその後350オングストロームまでは厚さに
関係なく一定であった。積層構造のキャッピング層構造
は、以下に一層詳細に説明されている。
れた約300オングストロームの厚さのFeMnにした
別の実験を行った。この実験では、交換バイアスフィー
ルドは25−50オングストロームの範囲でピークに達
し、それから約200オングストロームまで直線的に減
少し、またその後350オングストロームまでは厚さに
関係なく一定であった。積層構造のキャッピング層構造
は、以下に一層詳細に説明されている。
【0021】MR読取変換器がその一部となっている磁
気読取/書込変換器の特定の実施例についての製造プロ
セス中、磁気ヘッドを構成する薄い膜を焼なます効果を
有するいくつかの熱サイクルが用いられている。熱サイ
クルの結果、交換バイアスフィールドHUAも交換飽和保
磁力HCEも変化しないことが望ましい。第4図に描かれ
ているような50オングストロームのFeMn膜の厚み
を有するMR読取変換器の熱サイクル特性は、第5図に
示されている。260℃で9サイクルの後、交換バイア
スフィールドHUAも交換飽和保磁力HCEも特性の変化を
示していない。これらのサイクルの各々は、4時間の加
熱及び12時間の室温への冷却から構成されている。
気読取/書込変換器の特定の実施例についての製造プロ
セス中、磁気ヘッドを構成する薄い膜を焼なます効果を
有するいくつかの熱サイクルが用いられている。熱サイ
クルの結果、交換バイアスフィールドHUAも交換飽和保
磁力HCEも変化しないことが望ましい。第4図に描かれ
ているような50オングストロームのFeMn膜の厚み
を有するMR読取変換器の熱サイクル特性は、第5図に
示されている。260℃で9サイクルの後、交換バイア
スフィールドHUAも交換飽和保磁力HCEも特性の変化を
示していない。これらのサイクルの各々は、4時間の加
熱及び12時間の室温への冷却から構成されている。
【0022】極めて薄いFeMn及び変換特性の安定性
は、交換インターフェースに関わる厚みを考慮すると少
なからぬ驚きである。対照的に、第6図は400オング
ストロームのFeMn膜の厚みを持つ類似の構造の熱サ
イクル特性を示すものである。このケースにおいて、交
換バイアスフィールドも交換飽和保磁力も熱サイクルと
共に著しく変化することに注目すること。
は、交換インターフェースに関わる厚みを考慮すると少
なからぬ驚きである。対照的に、第6図は400オング
ストロームのFeMn膜の厚みを持つ類似の構造の熱サ
イクル特性を示すものである。このケースにおいて、交
換バイアスフィールドも交換飽和保磁力も熱サイクルと
共に著しく変化することに注目すること。
【0023】電子回折実験は、交換結合のFeMn厚み
への依存がFeMnの位相安定性に関係するということ
を示している。(NiFe上の)FeMnの厚みがおお
よそ25−200オングストロームの範囲にあれば、F
eMn相は大部分、単相面心立方である。しかしなが
ら、FeMnの厚みが臨界厚み(150−200オング
ストローム)を上回る場合、FeMnは面心立方(γ
相)及び室温では反強磁性ではない体心立方αMn相の
双方から構成される。FeMnが薄く且つ単相面心立方
であれば、FeMnは熱処理中、面心立方(γ相)及び
体心立方(αMn)相の双方から構成されている時より
も安定していると考えられる(第5図及び第6図を参照
のこと)。
への依存がFeMnの位相安定性に関係するということ
を示している。(NiFe上の)FeMnの厚みがおお
よそ25−200オングストロームの範囲にあれば、F
eMn相は大部分、単相面心立方である。しかしなが
ら、FeMnの厚みが臨界厚み(150−200オング
ストローム)を上回る場合、FeMnは面心立方(γ
相)及び室温では反強磁性ではない体心立方αMn相の
双方から構成される。FeMnが薄く且つ単相面心立方
であれば、FeMnは熱処理中、面心立方(γ相)及び
体心立方(αMn)相の双方から構成されている時より
も安定していると考えられる(第5図及び第6図を参照
のこと)。
【0024】本発明の代替実施例は、MR読取変換器ア
センブリの類似の構成要素が第1図に示す実施例と同一
の参照数字を与えられている第2図に示されている。し
かしながら、キャッピング層の働きは同じであるものの
キャッピング層22は異なるやり方で構成されているこ
とに注目すること。この実施例において、キャッピング
層24は積層構造のFeMn−Lxから成り、このxは
安定した酸化物、炭化物、窒化物、もしくは炭素であ
る。基本的な概念は、交換結合はFeMnの極めて薄い
層20のみに依存するものであり、キャッピング層24
は多くの腐食環境に不活性の高抵抗(即ち絶縁)層と積
層構造にされたMnFeから成り、またキャッピング層
の材料はFeMn層の機械的な保全性を実際に改善する
ことができるということである。Al2O3、Cr2O3、
SiO2等の如き酸化物は低拡散率を示すので、200
−300℃で非常に安定しており、交換インターフェー
スの近くに優れた拡散障壁を提供する。
センブリの類似の構成要素が第1図に示す実施例と同一
の参照数字を与えられている第2図に示されている。し
かしながら、キャッピング層の働きは同じであるものの
キャッピング層22は異なるやり方で構成されているこ
とに注目すること。この実施例において、キャッピング
層24は積層構造のFeMn−Lxから成り、このxは
安定した酸化物、炭化物、窒化物、もしくは炭素であ
る。基本的な概念は、交換結合はFeMnの極めて薄い
層20のみに依存するものであり、キャッピング層24
は多くの腐食環境に不活性の高抵抗(即ち絶縁)層と積
層構造にされたMnFeから成り、またキャッピング層
の材料はFeMn層の機械的な保全性を実際に改善する
ことができるということである。Al2O3、Cr2O3、
SiO2等の如き酸化物は低拡散率を示すので、200
−300℃で非常に安定しており、交換インターフェー
スの近くに優れた拡散障壁を提供する。
【0025】キャッピング層24は、第3図に拡大され
た形で示されている。キャッピング層は、FeMnの層
26と高抵抗の物質、例えばCr2O3、Al2O、Si
O2、並びに炭素の如き物質の層28の交互から成る積
層で構成されている。キャッピング層24は、10−4
0回転/分の速度で回転しつつ双方の源を働かせた状態
で、FeMnと高抵抗率物質の共同スパッタリングによ
って作られる。個々のラミネーションの厚さは回転速度
に依存しているが、重要な依存性を有するものであると
は思われなかった。キャッピング層24は300オング
ストロームの範囲の合計厚みに到るまでn回のラミネー
ションによって形成されるが、この回数も重要であると
は思われなかった。
た形で示されている。キャッピング層は、FeMnの層
26と高抵抗の物質、例えばCr2O3、Al2O、Si
O2、並びに炭素の如き物質の層28の交互から成る積
層で構成されている。キャッピング層24は、10−4
0回転/分の速度で回転しつつ双方の源を働かせた状態
で、FeMnと高抵抗率物質の共同スパッタリングによ
って作られる。個々のラミネーションの厚さは回転速度
に依存しているが、重要な依存性を有するものであると
は思われなかった。キャッピング層24は300オング
ストロームの範囲の合計厚みに到るまでn回のラミネー
ションによって形成されるが、この回数も重要であると
は思われなかった。
【0026】第7図は、三つの異なるラミネート材料、
Al2O3、SiO2、並びに炭素が利用されている50
オングストロームの厚さのFeMn膜上の積層構造のキ
ャッピング層についての熱サイクルデータを示してい
る。交換バイアスフィールドHUAも交換飽和保磁力HCE
も熱サイクルに対してかなり安定しており、SiO2が
最大の交換バイアスフィールドを示し、一方炭素構造が
熱サイクルに対し飽和保磁力において最大の変化を示し
たのと同じく最低のバイアスフィールドを示した。
Al2O3、SiO2、並びに炭素が利用されている50
オングストロームの厚さのFeMn膜上の積層構造のキ
ャッピング層についての熱サイクルデータを示してい
る。交換バイアスフィールドHUAも交換飽和保磁力HCE
も熱サイクルに対してかなり安定しており、SiO2が
最大の交換バイアスフィールドを示し、一方炭素構造が
熱サイクルに対し飽和保磁力において最大の変化を示し
たのと同じく最低のバイアスフィールドを示した。
【0027】実験データは、Cr2O3、Al2O3、並び
にSiO2を伴ったFeMnの積層構造を持つキャッピ
ング層は熱サイクルに対して安定した高交換フィールド
をもたらすことを示しているが、HfO2、ZrO2、並
びにTa2O5もまた、FeMnとの積層構造のキャッピ
ング層構造に含まれれば許容可能な装置性能をもたらす
ことができると結論づけることが可能である。
にSiO2を伴ったFeMnの積層構造を持つキャッピ
ング層は熱サイクルに対して安定した高交換フィールド
をもたらすことを示しているが、HfO2、ZrO2、並
びにTa2O5もまた、FeMnとの積層構造のキャッピ
ング層構造に含まれれば許容可能な装置性能をもたらす
ことができると結論づけることが可能である。
【0028】少量の第3のエレメントをFeMnに加え
て三元合金を作ることが改善された特性に結びつく可能
性があるという証拠が存在する。特に少量のチタン(T
i)、ロジウム(Rh)、あるいはクロム(Cr)が改
善された特性を持つ三元合金に結びつく。この理由のた
め、第1図あるいは第2図の何れかの反強磁性体の層2
0は、MnFe−Xから構成されうるもので、ここでX
はTi、Rh、もしくはCrである。
て三元合金を作ることが改善された特性に結びつく可能
性があるという証拠が存在する。特に少量のチタン(T
i)、ロジウム(Rh)、あるいはクロム(Cr)が改
善された特性を持つ三元合金に結びつく。この理由のた
め、第1図あるいは第2図の何れかの反強磁性体の層2
0は、MnFe−Xから構成されうるもので、ここでX
はTi、Rh、もしくはCrである。
【0029】交換結合のFeMnの厚みに対する依存度
は、本質的に同一の厚みへの依存度が高い底面圧、例え
ば10-7トル範囲でのスパッタリング・システムにおい
て認められたので、処理システムへの依存というよりも
寧ろ基本的な物質特性であるように思われる。
は、本質的に同一の厚みへの依存度が高い底面圧、例え
ば10-7トル範囲でのスパッタリング・システムにおい
て認められたので、処理システムへの依存というよりも
寧ろ基本的な物質特性であるように思われる。
【0030】
【発明の効果】熱処理サイクル中の磁気特性の安定性並
びに耐腐食性が改善された磁気抵抗性読取変換器アセン
ブリが得られる。
びに耐腐食性が改善された磁気抵抗性読取変換器アセン
ブリが得られる。
【図1】本発明を具体化するMR読取変換器アセンブリ
の特定の実施例の断面図である。
の特定の実施例の断面図である。
【図2】本発明を具体化するMR読取変換器アセンブリ
の代替実施例の断面図である。
の代替実施例の断面図である。
【図3】図2の積層キャッピング構造の拡大図である。
【図4】図1のMR読取変換器アセンブリにおけるFe
Mn層の厚みの関数としての交換バイアスフィールド及
び飽和保磁力のグラフである。
Mn層の厚みの関数としての交換バイアスフィールド及
び飽和保磁力のグラフである。
【図5】50オングストロームのFeMnを用いた図1
の構造についての焼なましサイクル回数に対する交換バ
イアスフィールド及び飽和保磁力のグラフである。
の構造についての焼なましサイクル回数に対する交換バ
イアスフィールド及び飽和保磁力のグラフである。
【図6】400オングストロームのFeMnを用いた図
1の構造についての焼なましサイクル数に対する交換バ
イアスフィールド及び飽和保磁力のグラフである。
1の構造についての焼なましサイクル数に対する交換バ
イアスフィールド及び飽和保磁力のグラフである。
【図7】キャッピング層がAl2O3、Cr2O3、もしく
は炭素と組になったFeMnである図2及び図3の構造
についての焼なましサイクル数に対する交換バイアスフ
ィールド及び飽和保磁力のグラフである。
は炭素と組になったFeMnである図2及び図3の構造
についての焼なましサイクル数に対する交換バイアスフ
ィールド及び飽和保磁力のグラフである。
10 読取変換器アセンブリ 12 磁性材料の層 14 基板 16 強磁性スペーサの層 18 MR材料の層 20 反強磁性体の層 22,24 キャッピング層 26 FeMnの層 28 炭素などの層
Claims (5)
- 【請求項1】磁気抵抗性導電層の薄膜と、 上記磁気抵抗性導電層との間に交換バイアス磁界が発生
するようにするため、該磁気抵抗性導電層に接して設け
た、25以上200オングストローム未満の厚さを有す
る反強磁性材料の膜と、 を備えたことを特徴とする磁気抵抗性読取変換器アセン
ブリ。 - 【請求項2】磁気抵抗性導電層の薄膜と、 上記磁気抵抗性導電層との間に交換バイアス磁界が発生
するようにするため、該磁気抵抗性導電層に接して設け
た、25以上100オングストローム未満の厚さを有す
る反強磁性材料の膜と、 を備えたことを特徴とする磁気抵抗性読取変換器アセン
ブリ。 - 【請求項3】磁気抵抗性導電層の薄膜と、 上記磁気抵抗性導電層との間に交換バイアス磁界が発生
するようにするため、該磁気抵抗性導電層に接して設け
た、25以上50オングストローム未満の厚さを有する
反強磁性材料の膜と、 を備えたことを特徴とする磁気抵抗性読取変換器アセン
ブリ。 - 【請求項4】磁気抵抗性導電層の薄膜と、 上記磁気抵抗性導電層との間に交換バイアス磁界が発生
するようにするため、該磁気抵抗性導電層に接して設け
た、FeMn−Rh、FeMn−Ti、又はFeMn−
Crの反強磁性材料の膜と、 を備えたことを特徴とする磁気抵抗性読取変換器アセン
ブリ。 - 【請求項5】磁気抵抗性導電層の薄膜と、 上記磁気抵抗性導電層との間に交換バイアス磁界が発生
するようにするため、該磁気抵抗性導電層に接して設け
た、25以上200オングストローム未満の厚さを有す
る、FeMn−Rh、FeMn−Ti、又はFeMn−
Crの反強磁性材料の膜と、 を備えたことを特徴とする磁気抵抗性読取変換器アセン
ブリ。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/115,142 US4825325A (en) | 1987-10-30 | 1987-10-30 | Magnetoresistive read transducer assembly |
| SG151094A SG151094G (en) | 1987-10-30 | 1994-10-17 | Magnetoresistive read transducer assembly |
| US115142 | 1998-07-14 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63204872A Division JPH01213819A (ja) | 1987-10-30 | 1988-08-19 | 磁気抵抗性読取変換器アセンブリ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07201016A true JPH07201016A (ja) | 1995-08-04 |
Family
ID=26664438
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63204872A Pending JPH01213819A (ja) | 1987-10-30 | 1988-08-19 | 磁気抵抗性読取変換器アセンブリ |
| JP6270862A Pending JPH07201016A (ja) | 1987-10-30 | 1994-11-04 | 磁気抵抗性読取変換器アセンブリ |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63204872A Pending JPH01213819A (ja) | 1987-10-30 | 1988-08-19 | 磁気抵抗性読取変換器アセンブリ |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4825325A (ja) |
| EP (1) | EP0314343B1 (ja) |
| JP (2) | JPH01213819A (ja) |
| CA (1) | CA1306803C (ja) |
| DE (1) | DE3883146T2 (ja) |
| SG (1) | SG151094G (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100333262B1 (ko) * | 1999-03-30 | 2002-04-25 | 포만 제프리 엘 | 덮개층이 향상된 스핀 밸브 센서를 구비한 판독 헤드 |
Families Citing this family (39)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4967298A (en) * | 1987-02-17 | 1990-10-30 | Mowry Greg S | Magnetic head with magnetoresistive sensor, inductive write head, and shield |
| US4994320A (en) * | 1988-06-08 | 1991-02-19 | Eastman Kodak Company | Thin magnetic film having long term stabilized uniaxial anisotropy |
| US4931892A (en) * | 1988-07-28 | 1990-06-05 | Eastman Kodak Company | Long life magnetoresistive head of the non-shunt bias type |
| FR2648942B1 (fr) * | 1989-06-27 | 1995-08-11 | Thomson Csf | Capteur a effet magnetoresistif |
| US5014147A (en) * | 1989-10-31 | 1991-05-07 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive sensor with improved antiferromagnetic film |
| US5287237A (en) * | 1990-03-16 | 1994-02-15 | Hitachi, Ltd. | Antiferromagnetic film superior in corrosion resistance, magnetoresistance-effect element and magnetoresistance-effect head including such thin film |
| US5390061A (en) | 1990-06-08 | 1995-02-14 | Hitachi, Ltd. | Multilayer magnetoresistance effect-type magnetic head |
| JP2812826B2 (ja) * | 1991-09-04 | 1998-10-22 | 株式会社日立製作所 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッドおよびその製造方法 |
| US5262914A (en) * | 1991-10-18 | 1993-11-16 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive head with enhanced exchange bias field |
| JPH05303724A (ja) * | 1992-02-26 | 1993-11-16 | Hitachi Ltd | 磁気ディスク装置 |
| US5475550A (en) * | 1992-08-25 | 1995-12-12 | Seagate Technology, Inc. | Enhanced cross-talk suppression in magnetoresistive sensors |
| JP2725977B2 (ja) * | 1992-08-28 | 1998-03-11 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 磁気抵抗センサ及びその製造方法、磁気記憶システム |
| MY108956A (en) * | 1992-11-12 | 1996-11-30 | Quantum Peripherals Colorado Inc | Magnetoresistive device and method having improved barkhausen noise suppression |
| JP2741837B2 (ja) * | 1993-08-06 | 1998-04-22 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション | 薄膜磁気抵抗ヘッド |
| US5699213A (en) * | 1993-11-16 | 1997-12-16 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Magnetoresistive head having a magnetic domain control layer |
| US5668523A (en) * | 1993-12-29 | 1997-09-16 | International Business Machines Corporation | Magnetoresistive sensor employing an exchange-bias enhancing layer |
| US5666247A (en) * | 1994-02-04 | 1997-09-09 | Seagate Technology, Inc. | No-field, low power FeMn deposition giving high exchange films |
| US5581427A (en) * | 1994-05-04 | 1996-12-03 | International Business Machines Corporation | Peak enhanced magnetoresistive read transducer |
| JPH10503883A (ja) * | 1994-06-18 | 1998-04-07 | ザ ユニヴァーシティ オブ シェフィールド | 磁場応答デバイス |
| JPH0845029A (ja) * | 1994-08-01 | 1996-02-16 | Alps Electric Co Ltd | 薄膜磁気ヘッド |
| JP2720806B2 (ja) * | 1995-01-31 | 1998-03-04 | 日本電気株式会社 | 磁気抵抗効果型ヘッドおよびその製造方法 |
| US5764445A (en) * | 1995-06-02 | 1998-06-09 | Applied Magnetics Corporation | Exchange biased magnetoresistive transducer |
| US5532892A (en) * | 1995-06-05 | 1996-07-02 | Quantum Peripherals Colorado, Inc. | Soft adjacent layer biased magnetoresistive device incorporating a natural flux closure design utilizing coplanar permanent magnet thin film stabilization |
| US5573809A (en) * | 1995-06-05 | 1996-11-12 | Quantum Peripherals Colorado, Inc. | Process for forming a magnetoresistive device |
| JP3635504B2 (ja) * | 1995-08-31 | 2005-04-06 | 富士通株式会社 | 磁気抵抗効果ヘッドとその製造方法及び磁気記録装置 |
| EP0768641A1 (en) * | 1995-10-09 | 1997-04-16 | TDK Corporation | Manufacturing method of magnetic head apparatus with spin valve effect magnetoresistive head |
| US5654854A (en) * | 1995-11-30 | 1997-08-05 | Quantum Corporation | Longitudinally biased magnetoresistive sensor having a concave shaped active region to reduce Barkhausen noise by achieving a substantially single magnetic domain state |
| US5717550A (en) * | 1996-11-01 | 1998-02-10 | Read-Rite Corporation | Antiferromagnetic exchange biasing using buffer layer |
| US6544801B1 (en) * | 2000-08-21 | 2003-04-08 | Motorola, Inc. | Method of fabricating thermally stable MTJ cell and apparatus |
| US6709767B2 (en) | 2001-07-31 | 2004-03-23 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | In-situ oxidized films for use as cap and gap layers in a spin-valve sensor and methods of manufacture |
| US6545906B1 (en) * | 2001-10-16 | 2003-04-08 | Motorola, Inc. | Method of writing to scalable magnetoresistance random access memory element |
| US20030169539A1 (en) * | 2002-03-07 | 2003-09-11 | International Business Machines Corporation | Electrostatic discharge insensilive recording head with a high-resistance gap layer |
| US7095646B2 (en) * | 2002-07-17 | 2006-08-22 | Freescale Semiconductor, Inc. | Multi-state magnetoresistance random access cell with improved memory storage density |
| US6956763B2 (en) * | 2003-06-27 | 2005-10-18 | Freescale Semiconductor, Inc. | MRAM element and methods for writing the MRAM element |
| US6967366B2 (en) * | 2003-08-25 | 2005-11-22 | Freescale Semiconductor, Inc. | Magnetoresistive random access memory with reduced switching field variation |
| US7446985B2 (en) * | 2003-12-19 | 2008-11-04 | Agency For Science Technology And Research | Epitaxial oxide cap layers for enhancing GMR performance |
| US7268977B2 (en) * | 2004-02-12 | 2007-09-11 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. | Capping layers with high compressive stress for spin valve sensors |
| US7129098B2 (en) * | 2004-11-24 | 2006-10-31 | Freescale Semiconductor, Inc. | Reduced power magnetoresistive random access memory elements |
| US9207292B2 (en) | 2011-02-02 | 2015-12-08 | Infineon Technologies Ag | Magnetoresistive device and method for manufacturing the same |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5410997A (en) * | 1977-06-24 | 1979-01-26 | Ibm | Magnetic thin film structure |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3887944A (en) * | 1973-06-29 | 1975-06-03 | Ibm | Method for eliminating part of magnetic crosstalk in magnetoresistive sensors |
| DE2365179C2 (de) * | 1973-12-29 | 1985-12-19 | Basf Ag, 6700 Ludwigshafen | Verfahren zur Herstellung von magnetischen Teilchen mit Austausch-Anisotropie und deren Verwendung |
| JPS5924958A (ja) * | 1982-07-27 | 1984-02-08 | Sumitomo Special Metals Co Ltd | 薄膜磁気ヘッド用基板の製造方法 |
| JPH061729B2 (ja) * | 1983-01-17 | 1994-01-05 | 株式会社日立製作所 | 磁性体膜およびそれを用いた磁気ヘッド |
| US4663685A (en) * | 1985-08-15 | 1987-05-05 | International Business Machines | Magnetoresistive read transducer having patterned longitudinal bias |
-
1987
- 1987-10-30 US US07/115,142 patent/US4825325A/en not_active Expired - Fee Related
-
1988
- 1988-07-22 CA CA000572877A patent/CA1306803C/en not_active Expired - Lifetime
- 1988-08-19 JP JP63204872A patent/JPH01213819A/ja active Pending
- 1988-10-13 DE DE88309575T patent/DE3883146T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1988-10-13 EP EP88309575A patent/EP0314343B1/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-10-17 SG SG151094A patent/SG151094G/en unknown
- 1994-11-04 JP JP6270862A patent/JPH07201016A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5410997A (en) * | 1977-06-24 | 1979-01-26 | Ibm | Magnetic thin film structure |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100333262B1 (ko) * | 1999-03-30 | 2002-04-25 | 포만 제프리 엘 | 덮개층이 향상된 스핀 밸브 센서를 구비한 판독 헤드 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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| SG151094G (en) | 1995-03-17 |
| US4825325A (en) | 1989-04-25 |
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