JPH07202140A - 半導体メモリ・システム - Google Patents

半導体メモリ・システム

Info

Publication number
JPH07202140A
JPH07202140A JP6269386A JP26938694A JPH07202140A JP H07202140 A JPH07202140 A JP H07202140A JP 6269386 A JP6269386 A JP 6269386A JP 26938694 A JP26938694 A JP 26938694A JP H07202140 A JPH07202140 A JP H07202140A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
memory
memory system
semiconductor memory
signal
odd
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6269386A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2688177B2 (ja
Inventor
Duane E Galbi
デュアン・エルマー・ガルビ
Michael P Clinton
マイケル・パトリック・クリントン
Mark William Kellogg
マーク・ウイリアム・ケロッグ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JPH07202140A publication Critical patent/JPH07202140A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2688177B2 publication Critical patent/JP2688177B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1006Data managing, e.g. manipulating data before writing or reading out, data bus switches or control circuits therefor

Landscapes

  • Dram (AREA)
  • Memory System (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 同世代技術によるメモリ・チップを使用可能
とするメモリ・チップ・アーキテクチャを提供する。 【構成】 単一の制御信号を介して、少なくとも複数の
データ・ビットの独立の制御を可能とする多ビット・デ
ータ制御機能を実現する半導体メモリ・チップ・アーキ
テクチャが示される。論理的に構成されるメモリ・チッ
プが2N×4 チップとして構成され、1制御信号(CA
S0)が単一のデータ・ビットをイネーブルし、別の制
御信号(CAS1)が残りの3データ・ビットをイネー
ブルする。チップ上のデータ制御をこのように構成する
ことにより、最小数の制御信号が使用されるように、モ
ジュール設計を最適化することが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体メモリ・アレイが
各チップ・アクセス・サイクルにおいて複数データ・ビ
ットを提供する半導体メモリ・アレイ・アーキテクチャ
に関し、特に、データ・ビットのサブセットが独立にア
クセスされるアレイに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体メモリ技術の開発において、新規
技術の開発コストはメモリ製品の各後続の世代が、前世
代の4倍のメモリ・ビットを含むことを実現することを
目指している。例えばダイナミックRAM(DRAM)
製品は、1メガビット(Mb)、4Mb、16Mbそし
て64Mbの幾何的シリーズの道をたどった。(1メガ
ビットは220または1,048,576ビットに相
当。)
【0003】各世代は前世代と類似の機能及び構成機構
を提供するように努めるが、アドレッシング方法の互換
性は、ランダム・アクセス・メモリ(RAM)の各後続
の世代が追加のアドレス入力信号を使用することによ
り、そうした世代のメモリ・デバイスにおいて見い出さ
れる増加メモリ・セルをアドレスするように指向され
る。追加のアドレス入力信号は、DRAMメモリ・デバ
イスのメモリの深さを増すように作用する。深さまたは
総アドレス可能メモリの増加は、システム・レベルにお
けるメモリの利用度を越えるために、1個のDRAMチ
ップにつき単一のビットだけを提供する従来の手法が変
更され、データ・ビットの異なる細分性が提供されるよ
うになった。例えば16MbのDRAMは、16Mb×
1、4Mb×4、2Mb×8または1Mb×16の構成
により提供される。(こうした指定の"×n"部分は"by
n"、例えば"by 1"と呼ばれる。)前世代の4個の×1
チップを置換するために、1個の×4チップが使用され
る。これらの幅広の入出力チップは、後の世代の技術が
全く新たなアドレッシング方法の設計を必要とせずに、
前世代を機能的に置換することを可能とする。
【0004】半導体メモリ・デバイスの製作において、
複数のDRAMチップをシングル・イン・ライン・パッ
ケージ(SIP)またはシングル・イン・ライン・メモ
リ・モジュール(SIMM)と呼ばれる単一アセンブリ
またはサブ・アセンブリ上にパッケージすることが一般
的である。こうしたSIPまたはSIMMにおいては、
メモリ・コンポーネントがアクセスされるメモリ・デー
タをバイトとして知られる単位により、ホスト・プロセ
ッサまたはシステムに提供するように構成される。各デ
ータ・バイトは、通常、8データ・ビットを含み、各ビ
ットはメモリ・システムを構成する複数のDRAMチッ
プの1出力により供給される。メモリ・システムがホス
ト・プロセッサに提供するバイト数は、DRAMの細分
性と同様、通常は2の累乗にもとづく。前世代のプロセ
ッサは、2つの同時バイト情報を提供するメモリ・シス
テムを使用したが、当世代のプロセッサは通常、4また
は8同時バイト・データを提供するメモリ・システムを
使用する。メモリ・システム内で使用されるメモリ・チ
ップ数が、提供される同時バイト数に比例して増加しな
いように、より幅広の入出力DRAMチップが使用され
る。すなわち、1Mbメモリ世代では、メモリ・システ
ムは通常×1チップにより構成されたが、4Mbメモリ
世代では、メモリ・システムは通常×4メモリ・チップ
により構成される。これらの幅広の入出力メモリ・チッ
プを有するSIPまたはSIMMの構成は、むしろ単純
化された。
【0005】高信頼性のシステムでは、メモリ・システ
ムに関連するエラー訂正の有無に関わらず、ある種のエ
ラー検出を使用することが望ましい。エラー検出を実現
する最も単純な方法は、各バイトにそのバイト内の全て
のビットの関数である単一の"パリティ"・ビットを追加
することである。今日、8ビット・バイトに9番目のパ
リティ・ビットを追加することが一般的である。追加ビ
ットは9ビット・バイト構成を収容可能なメモリ・シス
テムを要求する。この要求は、かつてはメモリ・システ
ムを9の倍数の×1チップにより構成することにより満
たされた。しかしながら、上述のように1Mb世代以降
のメモリ世代においては、×1メモリ・チップを使用す
ると、メモリ・システムに含まれる総メモリが実際に使
用可能な量を越えてしまう。更にDRAMメモリ・シス
テム構成の共通機構によれば、各9ビット・バイトが独
立にアクセス可能である。従って、4バイトまたは8バ
イトのデータを同時に提供するメモリ・システムにおい
て、各バイトがアドレス可能でなければならない。
【0006】この細分性問題に対する解決法が、Neal及
びPoteetによる米国特許第5089993号において提
案されており、そこでは上記問題に対して2つのアプロ
ーチが述べられている。256Kバイト×36ビット
(4つの9ビット・ワード)として構成されるSIPま
たはSIMMを設計する上で、彼らは256K×4構成
の8個の1Mb DRAMと、256Kb×1構成の4
個の256Kb DRAMの、合計12個のメモリ・チ
ップを使用することを述べている。このアプローチに関
する問題は、メモリ・プロセッシング及び開発技術が同
一技術による異なる密度のチップの製造を可能としない
ことである。メモリ開発は各後続の世代の製品のチップ
密度に関し4倍の増加を要求するだけでなく、性能の向
上すなわちアクセス時間の低減などを要求する。従っ
て、256Kbである前世代のものと同じ性能を有する
1Mb DRAMを見い出すことは稀である。1Mb
DRAMが256Kb DRAMにより指定される遅い
レートで動作される限り、提案される組合わせは現実的
と言える。
【0007】Neal及びPoteetにより提案される前述の解
決法は、全てが同世代の技術による複数のチップを使用
するが、2つの異なるメモリ・チップ・アーキテクチャ
を要求する。1Mbの密度を有する新チップの設計は、
4個の別々の256Kb×1メモリとして構成され、ク
ワッドCASとして指定される。チップ上の4個のメモ
リの各々は、異なる列アドレス・ストローブ(CAS)
入力(CAS1...CAS4)に応答し、各CASn
は4つのデータ入出力ポートの1つを選択する。彼らが
述べる解決法は、複数の×4チップから成るメモリ・シ
ステムに対して作用するように意図されている。複数の
×8(幅広入出力)メモリ・チップから成るメモリ・シ
ステムに対して、この解決法を拡張するためには指定さ
れる "クワッドCAS" チップに対する相当数の別々の
CAS入力の増加が必要となる。従って、複数の×8チ
ップを使用することは、8ウェイCASチップを要求す
ることになる。
【0008】2の整数乗でないバイト・サイズを扱う問
題解決のための上述の各アプローチにおいて、上記解決
法は9番目のデータ・ビットを提供するためだけに、1
個以上の専用のチップを使用する。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、様々
なモジュール構成を提供するために、同世代技術による
メモリ・チップを使用可能とするメモリ・チップ・デー
タ・マッピング・アーキテクチャを提供することであ
る。
【0010】本発明の別の目的は、最小数の制御信号を
使用する多数のモジュール構成を提供することである。
【0011】更に本発明の別の目的は、データ入出力チ
ップ・マッピングにおいて非対称CASを有するメモリ
・モジュールを提供することである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のこれらの及び他
の目的が、単一の制御信号を介して、少なくとも複数の
データ・ビットの独立の制御を可能とする多ビット・デ
ータ制御機能の実現により達成される。例えば、論理的
に構成されるメモリ・チップが2N ×4チップとして構
成され、1制御信号(CAS0)が単一のデータ・ビッ
トをイネーブルし、別の制御信号(CAS1)が残りの
3データ・ビットをイネーブルする。チップ上のデータ
制御をこのように構成することにより、最小数の制御信
号が使用されるように、モジュール設計を最適化するこ
とが可能となる。
【0013】本発明は添付図を参照しながら、以降でよ
り詳細に説明される。
【0014】
【実施例】図1を参照すると、本発明のアプリケーショ
ンを表す典型的なDRAMチップ構成が示される。特定
の実施例が示されるが、少なくとも4つのデータ入出力
パッドを有する任意のマトリクス構成のメモリが、本発
明を実施するために使用される。データ入力及びデータ
出力の説明についても含まれることが理解されよう。デ
ータが実際に転送される方向は、特定のデータ入出力ラ
インの制御によるため、本発明には関係しない。
【0015】図示のように、チップ10は256K×4
として構成される1Mb DRAMであり、アドレス入
力12に従来の時分割マルチプレクス方式により供給さ
れるアドレス入力信号に応答する。アクセス・サイクル
の第1部分において、9本の行アドレス信号が行アドレ
ス・バッファ13に供給され、バッファ13はこの信号
を2つの行デコーダ回路11a及び11bに供給し、こ
れらが次にメモリ・サブアレイ10a、10b、10c
及び10d内の行ラインを選択する。アクセス・サイク
ルの第2部分において、9本の列アドレス信号が列アド
レス・バッファ15に供給され、これがその出力信号を
複数のセンス増幅器、中間バッファ及びマルチプレクサ
17に供給し、それによりデータ入出力バッファ18a
乃至18dを介して結合される4つの特定のビットが選
択される。また、2つの異なる列アドレス・ストローブ
(CAS)信号CAS0及びCAS1が、クロック発生
器及び制御回路31に供給される。
【0016】データ入出力バッファはCAS信号により
ストローブされ、データが4つのデータ・パッドDQ
0、DQ1、DQ2及びDQ3の1つを介して入力また
は出力される。
【0017】外部的に供給されるCAS信号は、メモリ
・チップの特定部分に対するクロック信号として作用
し、メモリ・チップ上の内部クロック及びタイミング信
号を開始するために使用される。
【0018】データ入出力バッファはCAS信号により
ストローブされ、データが4つのデータ・パッドDQ
1、DQ2、DQ3及びDQ4の1つを介して入力また
は出力される。CAS0信号はバッファ18aに接続さ
れ、データ・ビットDQ1を制御する。CAS1信号は
3つの残りのバッファ18b、18c及び18dに接続
され、データ・ビットDQ2、DQ3及びDQ4を制御
する。
【0019】通常のオペレーションでは、チップまたは
SIMMのデータ入出力パッドの構成に依存して、1本
乃至2本のCAS信号が存在する。メモリ・サイクルの
間に単一のCAS信号が存在する場合には、1データ・
ビットまたは3データ・ビットが活動状態となる。両方
のCAS信号が存在する場合には、4つの全てのビット
が活動状態となる。DRAMチップに供給される様々な
信号間の特定のタイミングを示す情報が必要な場合に
は、本願において参照される上記特許を参照されたい。
【0020】図2は、図1のデバイスと同じタイプの2
つのCAS入力を有する、1Mb×4構成の4Mbメモ
リの代表的パッケージを表す。図3は2個の異なるタイ
プのDRAMチップを使用する、4バイト×36パリテ
ィ72ピンSIMMアーキテクチャの1例を示す。3個
のチップは×1及び×3として構成され、残りのチップ
は×4チップとして構成される。ここでCAS0は2個
の×4チップ、及び第3のチップの×1部分を制御す
る。CAS1は3個のチップの3つの×3部分を制御す
る。更に各CASは3個のチップをドライブするため
に、非対称にバランスされる。
【0021】CAS信号及びデータ入出力マッピングの
非対称の割当てに関する別の実施例も可能である。高密
度DRAMメモリでは、チップ・アーキテクチャ構成が
N×4、2N×8、2N×16或いは2N ×32体系を
含むことが予想される。ここでNは16乃至30の範囲
に含まれる。エラー訂正またはパリティ・ビットが要求
される場合、こうしたデータ入出力体系は既に述べた2
56K×4体系の場合と同じ問題を提供する。本発明は
CAS制御式データ入出力体系を、×8チップにおいて
×5及び×3に変更することにより、こうした体系に容
易に適応される。他の組合わせも、単一バイトとしてア
クセス要求される特定のビット数に応じて、容易に導出
される。
【0022】図4は8バイト、72ビット・パリティS
IMMとしての本発明の別の実施例を表し、2N×4構
成の他に、2N×3及び2N×5 として構成されるチッ
プによる2N×8 DRAMアーキテクチャを用いて実現
される。3個の×3チップまたは1個の×4チップと1
個の×5チップの組合わせが、8つの各CAS入力に対
して要求される9ビット・バイトを形成するために使用
される。64Mb DRAM技術を使用することによ
り、8Mb×3/8Mb×5及び8Mb×4/8Mb×
4として構成される8Mb×8(N=23)のチップ・
アーキテクチャが使用可能となる。
【0023】図5は本発明を用いる別のメモリ・システ
ムを表し、ここでは4バイト、36ビット・パリティS
IMMが構成される。4つの各CAS入力に対して要求
される9ビット・バイトを形成するために、2N×9/
×7構成と同様、2N×9/×2/×5として構成され
る2N×16 DRAMアーキテクチャによるチップと、
前世代からの2N×4 構成のチップが使用される。すな
わち、16Mb DRAM技術を使用することにより、
1Mb×9/×2/×5及び1Mb×9/×7として構
成される1Mb×16のチップ・アーキテクチャが、前
世代からの1Mb×4と共に使用される。
【0024】本発明のアプリケーションでは、チップ部
品番号の数が最小化され、この機構を収容することが望
ましい。図3を再度参照すると、×3/×1チップが×
4チップとして機能するように変更することにより、×
4チップが提供されることが理解される。これは図6に
示されるように、各構成チップに最小の論理回路を追加
することにより達成される。図6は図1のチップ内のデ
ータ入出力回路の変形を示し、ここではデータ入出力回
路の1つの制御を可能にするために、モード制御信号が
提供される。モード制御信号が1状態の時、論理ゲート
50の出力がDQ1のデータ入出力がCAS0クロック
信号に応答することを許可する。こうした状態の下で
は、DRAMチップは前述のように動作する。モード制
御信号が反対の状態の時には、DQ1のデータ入出力は
CAS1に応答し、DQ1を残りのデータ入出力回路と
同時にイネーブルにする。すなわち、チップ自体は×4
チップとして応答する。モード制御入力を使用すること
により、図3のSIMMにおいて使用される全てのチッ
プに対して、同一のチップ部品番号が使用可能となる。
図7に、モード・ピンMを使用するチップ・パッケージ
のピン出力が示される。モード制御ピンMを固定電圧源
に接続することにより、所望のモード制御信号がSIM
Mレベルにおいて容易に供給される。
【0025】本発明の特徴は、各マルチチップ・モジュ
ール(SIMM)において、奇数の倍数のデータ入出力
の組合わせを含むチップ・アーキテクチャを構成するこ
とである。この特徴はシステムにおいて必要な9ビット
・バイトを提供するために要求される。
【0026】本発明の重要な利点は、各チップがたった
1つの余分なまたは2つのCAS入力を含むように要求
されるだけであり、より好適に設計される代替パッケー
ジング構成を可能とすることである。クワッドCAS解
決法の問題は、 "クワッドCAS" 設計における追加の
CAS入力に専用の、3つの追加の入力パッドが要求さ
れることである。×8"オクタルCAS"の利用は、各チ
ップに8つの追加のCAS入力を要求する。
【0027】当業者には、前世代の技術またはより複雑
なクワッドCASアーキテクチャを使用するように選択
する場合、本発明が従来技術の概念とも組合わされるこ
とが理解されよう。
【0028】本発明は限られた実施例に関して述べられ
てきたが、当業者には、本発明の詳細に関する多くの変
更が理解されよう。例えば、データ入出力回路を制御す
るために、外部CASクロック信号が内部生成されるク
ロック信号により補足されてもよい。
【0029】まとめとして、本発明の構成に関して以下
の事項を開示する。
【0030】(1)アドレス可能なメモリ・セルの少な
くとも1のアレイと、単一のメモリ・アクセス・サイク
ル内で複数の上記メモリ・セルをアドレスする手段と、
第1のクロック信号に応答して、第1の奇数の上記アド
レス・セルをアクセスし、第2のクロック信号に応答し
て、第2の奇数の上記アドレス・セルをアクセスし、上
記第1及び第2の奇数の一方が1よりも大きい回路手段
と、を含む半導体メモリ・システム。 (2)上記第1の奇数が1であり、上記第2の奇数が3
である、上記(1)記載の半導体メモリ・システム。 (3)上記第1及び第2のクロック信号が同一のメモリ
・アクセス・サイクルにおいて供給される、上記(1)
記載の半導体メモリ・システム。 (4)上記第1の奇数が3であり、上記第2の奇数が5
である、上記(1)記載の半導体メモリ・システム。 (5)追加のアドレス・セルをアクセスする第3のクロ
ック信号が提供される、上記(1)記載の半導体メモリ
・システム。 (6)上記クロック信号の少なくとも1つが外部的に供
給される信号である、上記(1)記載の半導体メモリ・
システム。 (7)上記外部的に供給される信号が列アドレス・スト
ローブ(CAS)信号である、上記(6)記載の半導体
メモリ・システム。 (8)上記回路手段が入出力回路手段である、上記
(1)記載の半導体メモリ・システム。 (9)供給信号に応答して上記第1及び第2のクロック
信号を同時に提供し、上記第1及び第2の奇数の合計を
同時にアクセスする回路手段を含む、上記(1)記載の
半導体メモリ・システム。 (10)上記供給信号が固定電圧レベルである、上記
(9)記載の半導体メモリ・システム。 (11)複数のメモリ・サブシステムを含む半導体メモ
リ・システムであって、第1のサブシステムが、少なく
とも1のアレイのアドレス可能なメモリ・セルと、単一
のメモリ・アクセス・サイクル内で複数の上記メモリ・
セルをアドレスする手段と、第1のクロック信号に応答
して、第1の奇数の上記アドレス・セルをアクセスし、
第2のクロック信号に応答して、第2の奇数の上記アド
レス・セルをアクセスし、上記第1及び第2の奇数の一
方が1よりも大きい入出力回路手段と、を含む半導体メ
モリ・システム。 (12)少なくとも上記クロック信号の1つに応答し
て、偶数のデータ・ビットに対するアクセスを提供する
ように構成されるメモリ・アレイを含む第2のメモリ・
サブシステムを含む、上記(11)記載の半導体メモリ
・システム。 (13)上記クロック信号が上記システムに供給される
列アドレス・ストローブ信号に相当する、上記(12)
記載の半導体メモリ・システム。 (14)上記第1及び第2のサブシステムが異なる数の
メモリ・セルを有するメモリ・アレイを含み、各上記ア
レイが2の整数乗のアクセス可能メモリ・セルを有す
る、上記(13)記載の半導体メモリ・システム。 (15)上記第1及び第2のサブシステムがアクセス可
能メモリ・セル数が4倍異なるメモリ・アレイを有す
る、上記(14)記載の半導体メモリ・システム
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
様々なモジュール構成に対応して、同世代技術によるメ
モリ・チップを使用可能とするメモリ・チップ・アーキ
テクチャが提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】データ入出力パッドとCAS入力との非対称関
係を表す、本発明のDRAMメモリ・チップの図であ
る。
【図2】入出力及びクロック信号のパッド割当てを表
す、本発明のパッケージ化メモリ・チップの図である。
【図3】本発明のアプリケーションを表す、複数の従来
メモリ・チップ及び本発明のメモリ・チップを含むメモ
リ・モジュールの図である。
【図4】×3、×5及び×8チップ構成を使用する本発
明の第2の実施例を表す図である。
【図5】CASマッピングに非対称データ入出力を使用
する本発明の別の実施例を表す図である。
【図6】本発明のメモリの非対称データ入出力機能を不
能にするモード選択回路を表す図である。
【図7】モード選択入力を含むモジュールの入出力及び
他の入力信号を表す別のパッケージ化メモリ・チップの
図である。
【符号の説明】
10 チップ 11a、11b 行デコーダ回路 13 行アドレス・バッファ 15 列アドレス・バッファ 17 マルチプレクサ 31 制御回路 50 論理ゲート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイケル・パトリック・クリントン アメリカ合衆国05452、バーモント州エセ ックス・ジャンクション、オークウッド・ レーン 13 (72)発明者 マーク・ウイリアム・ケロッグ アメリカ合衆国05452、バーモント州エセ ックス・ジャンクション、コーデュロイ・ ロード 29

Claims (15)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】アドレス可能なメモリ・セルの少なくとも
    1のアレイと、 単一のメモリ・アクセス・サイクル内で複数の上記メモ
    リ・セルをアドレスする手段と、 第1のクロック信号に応答して、第1の奇数の上記アド
    レス・セルをアクセスし、第2のクロック信号に応答し
    て、第2の奇数の上記アドレス・セルをアクセスし、上
    記第1及び第2の奇数の一方が1よりも大きい回路手段
    と、 を含む半導体メモリ・システム。
  2. 【請求項2】上記第1の奇数が1であり、上記第2の奇
    数が3である、請求項1記載の半導体メモリ・システ
    ム。
  3. 【請求項3】上記第1及び第2のクロック信号が同一の
    メモリ・アクセス・サイクルにおいて供給される、請求
    項1記載の半導体メモリ・システム。
  4. 【請求項4】上記第1の奇数が3であり、上記第2の奇
    数が5である、請求項1記載の半導体メモリ・システ
    ム。
  5. 【請求項5】追加のアドレス・セルをアクセスする第3
    のクロック信号が提供される、請求項1記載の半導体メ
    モリ・システム。
  6. 【請求項6】上記クロック信号の少なくとも1つが外部
    的に供給される信号である、請求項1記載の半導体メモ
    リ・システム。
  7. 【請求項7】上記外部的に供給される信号が列アドレス
    ・ストローブ(CAS)信号である、請求項6記載の半
    導体メモリ・システム。
  8. 【請求項8】上記回路手段が入出力回路手段である、請
    求項1記載の半導体メモリ・システム。
  9. 【請求項9】供給信号に応答して上記第1及び第2のク
    ロック信号を同時に提供し、上記第1及び第2の奇数の
    合計を同時にアクセスする回路手段を含む、請求項1記
    載の半導体メモリ・システム。
  10. 【請求項10】上記供給信号が固定電圧レベルである、
    請求項9記載の半導体メモリ・システム。
  11. 【請求項11】複数のメモリ・サブシステムを含む半導
    体メモリ・システムであって、第1のサブシステムが、 少なくとも1のアレイのアドレス可能なメモリ・セル
    と、 単一のメモリ・アクセス・サイクル内で複数の上記メモ
    リ・セルをアドレスする手段と、 第1のクロック信号に応答して、第1の奇数の上記アド
    レス・セルをアクセスし、第2のクロック信号に応答し
    て、第2の奇数の上記アドレス・セルをアクセスし、上
    記第1及び第2の奇数の一方が1よりも大きい入出力回
    路手段と、 を含む半導体メモリ・システム。
  12. 【請求項12】少なくとも上記クロック信号の1つに応
    答して、偶数のデータ・ビットに対するアクセスを提供
    するように構成されるメモリ・アレイを含む第2のメモ
    リ・サブシステムを含む、請求項11記載の半導体メモ
    リ・システム。
  13. 【請求項13】上記クロック信号が上記システムに供給
    される列アドレス・ストローブ信号に相当する、請求項
    12記載の半導体メモリ・システム。
  14. 【請求項14】上記第1及び第2のサブシステムが異な
    る数のメモリ・セルを有するメモリ・アレイを含み、各
    上記アレイが2の整数乗のアクセス可能メモリ・セルを
    有する、請求項13記載の半導体メモリ・システム。
  15. 【請求項15】上記第1及び第2のサブシステムがアク
    セス可能メモリ・セル数が4倍異なるメモリ・アレイを
    有する、請求項14記載の半導体メモリ・システム。
JP6269386A 1993-12-06 1994-11-02 半導体メモリ・システム Expired - Lifetime JP2688177B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/161,279 US5412613A (en) 1993-12-06 1993-12-06 Memory device having asymmetrical CAS to data input/output mapping and applications thereof
US161279 1993-12-06

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07202140A true JPH07202140A (ja) 1995-08-04
JP2688177B2 JP2688177B2 (ja) 1997-12-08

Family

ID=22580562

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6269386A Expired - Lifetime JP2688177B2 (ja) 1993-12-06 1994-11-02 半導体メモリ・システム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5412613A (ja)
EP (1) EP0657892A3 (ja)
JP (1) JP2688177B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007242736A (ja) * 2006-03-06 2007-09-20 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3099931B2 (ja) * 1993-09-29 2000-10-16 株式会社東芝 半導体装置
US5604710A (en) * 1994-05-20 1997-02-18 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Arrangement of power supply and data input/output pads in semiconductor memory device
JP3267462B2 (ja) * 1995-01-05 2002-03-18 株式会社東芝 半導体記憶装置
US5812478A (en) * 1995-01-05 1998-09-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory having improved data bus arrangement
US5636173A (en) * 1995-06-07 1997-06-03 Micron Technology, Inc. Auto-precharge during bank selection
US5815456A (en) * 1996-06-19 1998-09-29 Cirrus Logic, Inc. Multibank -- multiport memories and systems and methods using the same
JPH10106257A (ja) * 1996-09-06 1998-04-24 Texas Instr Inc <Ti> 集積回路のメモリ装置及びプリチャージ動作を与える方法
US5708597A (en) * 1996-11-20 1998-01-13 Xilinx, Inc. Structure and method for implementing a memory system having a plurality of memory blocks
KR100311035B1 (ko) * 1997-11-21 2002-02-28 윤종용 효율적으로 배치된 패드들을 갖는 반도체 메모리 장치
US5963482A (en) * 1998-07-14 1999-10-05 Winbond Electronics Corp. Memory integrated circuit with shared read/write line
US6392949B2 (en) * 2000-02-08 2002-05-21 International Business Machines Corporation High performance memory architecture
US6449209B1 (en) * 2001-01-19 2002-09-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device comprising more than two internal banks of different sizes
US7236385B2 (en) * 2004-06-30 2007-06-26 Micron Technology, Inc. Memory architecture
US8032688B2 (en) * 2005-06-30 2011-10-04 Intel Corporation Micro-tile memory interfaces
US8253751B2 (en) * 2005-06-30 2012-08-28 Intel Corporation Memory controller interface for micro-tiled memory access
US8878860B2 (en) * 2006-12-28 2014-11-04 Intel Corporation Accessing memory using multi-tiling
JP2010218641A (ja) * 2009-03-18 2010-09-30 Elpida Memory Inc メモリモジュール

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04339396A (ja) * 1991-05-16 1992-11-26 Mitsubishi Electric Corp ダイナミックランダムアクセスメモリ装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3560940A (en) * 1968-07-15 1971-02-02 Ibm Time shared interconnection apparatus
US3675218A (en) * 1970-01-15 1972-07-04 Ibm Independent read-write monolithic memory array
US5089993B1 (en) * 1989-09-29 1998-12-01 Texas Instruments Inc Memory module arranged for data and parity bits

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04339396A (ja) * 1991-05-16 1992-11-26 Mitsubishi Electric Corp ダイナミックランダムアクセスメモリ装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007242736A (ja) * 2006-03-06 2007-09-20 Toshiba Corp 不揮発性半導体記憶装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2688177B2 (ja) 1997-12-08
EP0657892A3 (en) 1996-01-17
US5412613A (en) 1995-05-02
EP0657892A2 (en) 1995-06-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2688177B2 (ja) 半導体メモリ・システム
US5907512A (en) Mask write enablement for memory devices which permits selective masked enablement of plural segments
JP5399442B2 (ja) 時間多重化誤り訂正符号化をサポートするメモリ・トランザクション・バースト動作及びメモリ装置
EP0419863B1 (en) Multiple I/O select memory
US5506814A (en) Video random access memory device and method implementing independent two WE nibble control
US5835436A (en) Dynamic type semiconductor memory device capable of transferring data between array blocks at high speed
US5590071A (en) Method and apparatus for emulating a high capacity DRAM
US9165621B2 (en) Memory system components that support error detection and correction
US5257233A (en) Low power memory module using restricted RAM activation
US5896404A (en) Programmable burst length DRAM
USRE36229E (en) Simulcast standard multichip memory addressing system
JP7473386B2 (ja) 高帯域幅メモリシステム及びメモリアドレス方法
US11449441B2 (en) Multi-ported nonvolatile memory device with bank allocation and related systems and methods
JP2607814B2 (ja) 半導体メモリ装置
EP0245882A2 (en) Data processing system including dynamic random access memory controller with multiple independent control channels
JPH11265315A (ja) 様々なdramバンクサイズと複数のインターリービング機構とをサポートする高速でコンパクトなアドレスビット経路指定機構
US6070262A (en) Reconfigurable I/O DRAM
JPH09231127A (ja) メモリ動作の制御方法およびコンピュータ・システム
KR100552886B1 (ko) 고속 인터리빙 성능을 가진 집적 dram
TWI909577B (zh) 記憶體裝置、系統及解碼電路
JPS6350998A (ja) 半導体記憶装置
KR20130018487A (ko) 히든 타이밍 파라미터들을 관리하는 메모리 장치
US12079488B2 (en) Memory system and method of operating the same
US20260066032A1 (en) Memory packages with dynamically allocated error correction information
TW202614047A (zh) 記憶體裝置、系統及解碼電路