JPH07205480A - 位置と強度の高速検出方法 - Google Patents
位置と強度の高速検出方法Info
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- JPH07205480A JPH07205480A JP6314693A JP31469394A JPH07205480A JP H07205480 A JPH07205480 A JP H07205480A JP 6314693 A JP6314693 A JP 6314693A JP 31469394 A JP31469394 A JP 31469394A JP H07205480 A JPH07205480 A JP H07205480A
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 3
- 229910002056 binary alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
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- H04N1/4005—Circuits exciting or modulating particular heads for reproducing continuous tone value scales with regulating circuits, e.g. dependent upon ambient temperature or feedback control
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ルックアップ回路によって、スキャンの非動
作部分の間のみでなく、スキャンの動作部分の間もＲＯ
Ｓレーザの校正を可能とする。 【構成】 レーザの実際のパワー出力と所定値との間の
エラー信号を発生する回路であって、ストリームの多数
のピクセルを捕獲する複数の記憶ロケーションを有する
レジスタと、ロケーションの状態に応答して出力を作り
出すルックアップテーブルと、ルックアップテーブルの
出力をアナログ電圧に変換するデジタル対アナログ変換
器と、レーザのパワー出力を測定する検出器と、検出器
に応答して測定されたレーザパワー出力とアナログ電圧
とを比較して差を生成する合計接続器と、レジスタのピ
クセルのビットパターンを多数の記憶されたパターンと
比較して整合を発見する捕獲回路と、捕獲回路の出力に
応答して差をエラー信号として出力するサンプル・保持
回路と、を備える回路。
作部分の間のみでなく、スキャンの動作部分の間もＲＯ
Ｓレーザの校正を可能とする。 【構成】 レーザの実際のパワー出力と所定値との間の
エラー信号を発生する回路であって、ストリームの多数
のピクセルを捕獲する複数の記憶ロケーションを有する
レジスタと、ロケーションの状態に応答して出力を作り
出すルックアップテーブルと、ルックアップテーブルの
出力をアナログ電圧に変換するデジタル対アナログ変換
器と、レーザのパワー出力を測定する検出器と、検出器
に応答して測定されたレーザパワー出力とアナログ電圧
とを比較して差を生成する合計接続器と、レジスタのピ
クセルのビットパターンを多数の記憶されたパターンと
比較して整合を発見する捕獲回路と、捕獲回路の出力に
応答して差をエラー信号として出力するサンプル・保持
回路と、を備える回路。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、スキャンの間にレーザ
パワーを校正するラスタ出力スキャナにおける回路に関
する。この回路は、ＯＦＦおよびＯＮピクセルの特定パ
ターンを発見するために先読みを行い、レーザ出力が比
較され得る基準レベルを発生するためにルックアップテ
ーブルを用いる。
パワーを校正するラスタ出力スキャナにおける回路に関
する。この回路は、ＯＦＦおよびＯＮピクセルの特定パ
ターンを発見するために先読みを行い、レーザ出力が比
較され得る基準レベルを発生するためにルックアップテ
ーブルを用いる。
【０００２】
【従来の技術】一般的なレーザ駆動型ラスタ出力スキャ
ナ（ＲＯＳ）では、レーザは、通常のスキャンを開始す
る前にレーザパワーを測定しこの測定値を所定の基準値
と比較してレーザパワーを所望のパワーレベルに制御す
ることにより校正され得る。しかしながら、スキャンの
間、一般には一連のＯＮ若しくはＯＦＦピクセルの後、
レーザ温度若しくはレーザパワーはその定められた値か
ら離れてしまう。このパワー変動は、画質を低下させ、
また、レーザに損傷を与える可能性もある。このため、
スキャンの間、幾つかの形態のレーザパワーは最後の校
正以降は時間の関数として僅かに減少され、損傷の可能
性を減少させ、また対応する画質の低下を減少させてい
る。レーザをより頻繁に校正すればかなりの改善が得ら
れるが、これは必然的にスキャンの動作部分の間もレー
ザを校正しなければならないことを意味する。問題は、
この校正プロセスが多数のピクセルにおけるパワーを測
定しなければならないこと、また、スキャンの間のデー
タは通常は不規則なＯＮおよびＯＦＦパルスの集合体で
あり、どのような校正も不正確なものとされてしまうこ
と、である。動作スキャン間隔の間、レーザを正確に校
正する方法が必要とされる。
ナ（ＲＯＳ）では、レーザは、通常のスキャンを開始す
る前にレーザパワーを測定しこの測定値を所定の基準値
と比較してレーザパワーを所望のパワーレベルに制御す
ることにより校正され得る。しかしながら、スキャンの
間、一般には一連のＯＮ若しくはＯＦＦピクセルの後、
レーザ温度若しくはレーザパワーはその定められた値か
ら離れてしまう。このパワー変動は、画質を低下させ、
また、レーザに損傷を与える可能性もある。このため、
スキャンの間、幾つかの形態のレーザパワーは最後の校
正以降は時間の関数として僅かに減少され、損傷の可能
性を減少させ、また対応する画質の低下を減少させてい
る。レーザをより頻繁に校正すればかなりの改善が得ら
れるが、これは必然的にスキャンの動作部分の間もレー
ザを校正しなければならないことを意味する。問題は、
この校正プロセスが多数のピクセルにおけるパワーを測
定しなければならないこと、また、スキャンの間のデー
タは通常は不規則なＯＮおよびＯＦＦパルスの集合体で
あり、どのような校正も不正確なものとされてしまうこ
と、である。動作スキャン間隔の間、レーザを正確に校
正する方法が必要とされる。
【０００３】
【発明の概要】このシステムでは、画像ピクセルのスト
リームをＲＯＳに直接送信するのではなく、それらは先
ず一時的にレジスタに記憶される。各クロックパルスに
おいて、レジスタの全てのロケーションの状態の並行出
力がルックアップテーブルへのアドレスビットとして使
用され、もしピクセル集合が多数の所定パターンの中の
１つである場合にはデジタル校正番号が出力される。こ
れはデジタル対アナログ変換器で変換され、レーザにと
っての新たな校正電圧として使用される。この校正電圧
が発生されると同時に光検出器がレーザパワーを測定す
る。合計接続器がこれら２つの電圧を比較し、必要なら
ばレーザパワーを訂正するためにエラー電圧を作り出
す。ピクセルパターンの例は２進システムにおいては、
全てが１であるものと全てが０であるものだろう。この
同じ回路を用いて、多数のレベルのパワーを出力するよ
う設計されたレーザを校正することもできる。例えば、
１０％増加させた（１０％、２０％等）パワーをレーザ
が出力できる場合には、レーザを各レベルにおいて校正
するのが妥当である。従来の校正回路を用いた場合に
は、スキャンの開始前にこれらの多数のレベルを校正す
るために利用可能な時間には限度があったため、これは
困難であった。しかしながら、このシステムを用いれ
ば、ほとんどの校正をスキャンの動作部分で行なうこと
が可能とされ、非動作部分で実行が必要とされるのはス
キャンの動作部分の間に校正されなかったレベルだけで
ある。
リームをＲＯＳに直接送信するのではなく、それらは先
ず一時的にレジスタに記憶される。各クロックパルスに
おいて、レジスタの全てのロケーションの状態の並行出
力がルックアップテーブルへのアドレスビットとして使
用され、もしピクセル集合が多数の所定パターンの中の
１つである場合にはデジタル校正番号が出力される。こ
れはデジタル対アナログ変換器で変換され、レーザにと
っての新たな校正電圧として使用される。この校正電圧
が発生されると同時に光検出器がレーザパワーを測定す
る。合計接続器がこれら２つの電圧を比較し、必要なら
ばレーザパワーを訂正するためにエラー電圧を作り出
す。ピクセルパターンの例は２進システムにおいては、
全てが１であるものと全てが０であるものだろう。この
同じ回路を用いて、多数のレベルのパワーを出力するよ
う設計されたレーザを校正することもできる。例えば、
１０％増加させた（１０％、２０％等）パワーをレーザ
が出力できる場合には、レーザを各レベルにおいて校正
するのが妥当である。従来の校正回路を用いた場合に
は、スキャンの開始前にこれらの多数のレベルを校正す
るために利用可能な時間には限度があったため、これは
困難であった。しかしながら、このシステムを用いれ
ば、ほとんどの校正をスキャンの動作部分で行なうこと
が可能とされ、非動作部分で実行が必要とされるのはス
キャンの動作部分の間に校正されなかったレベルだけで
ある。
【０００４】この結果、スキャンの開始時のみならず、
所定のビットパターンが観察された場合のスキャンの動
作部分の間のいずれの時間においても、レーザのパワー
レベルを校正することができる。ルックアヘッド技術に
基づいて高速に信号を取得し且つ処理するこの方法は、
今まではあまりに高価でありまた達成不可能であった実
質的に全ての性能および速度を訂正サブシステムに提供
する。
所定のビットパターンが観察された場合のスキャンの動
作部分の間のいずれの時間においても、レーザのパワー
レベルを校正することができる。ルックアヘッド技術に
基づいて高速に信号を取得し且つ処理するこの方法は、
今まではあまりに高価でありまた達成不可能であった実
質的に全ての性能および速度を訂正サブシステムに提供
する。
【０００５】
【実施例】図１を参照すれば、ビデオデータは印刷すべ
きパターンのデジタル表示である。シフトレジスタ１０
を用いて光出力の予測を可能としている。データがレジ
スタを通過する間にそのパターンが観察され、光出力の
サンプリングの妥当性に関して、また、サンプリングが
なされるべきならば正確に何時であるか、決定がなされ
る。アルゴリズムはまた、データの重みを計算して合計
を出す。この例として、いずれかのパワーレベルを捕獲
する際の検出器の全速度が総時間で４ピクセル若しくは
それ以下であると仮定する。簡単なアルゴリズムは、連
続して４ピクセル若しくはそれ以上であるようないずれ
かのレベルを求め、このパターンが発生した場合には、
適当なサンプルを選択し、そのデータを捕獲すべく保持
する。アルゴリズムの一部は、更新された異なるレベル
を追跡し、スキャンの動作時の間にサービスを受けなか
ったそれらのレベルは非動作時にサンプリングされる。
図１において、アルゴリズムがレジスタ１０で所定パタ
ーンを見つけた場合、パターンは制御ブロック１２へ移
される。この論理ブロックでは、各パワーレベルに対す
るチャンネルと、アルゴリズム出力を訂正チャンネルに
方向付けるようなマルチプレクサが保持されている。所
定のチャンネルに関して、アナログ電圧を発生するため
のデジタル対アナログ変換器やそれを保持するサンプル
・保持回路へデジタルパターンが送信される。同時に、
ビデオパターンがレーザダイオードアセンブリ１３へ送
信され、これにより、このレーザダイオードアセンブリ
は関連するレーザパワー出力を提供することができる。
このパワーはスキャン検出アセンブリ１４によって感知
され、パワー出力に比例する信号が生成され、２個の信
号が制御ブロック１２で比較されてエラー信号を作り出
す。
きパターンのデジタル表示である。シフトレジスタ１０
を用いて光出力の予測を可能としている。データがレジ
スタを通過する間にそのパターンが観察され、光出力の
サンプリングの妥当性に関して、また、サンプリングが
なされるべきならば正確に何時であるか、決定がなされ
る。アルゴリズムはまた、データの重みを計算して合計
を出す。この例として、いずれかのパワーレベルを捕獲
する際の検出器の全速度が総時間で４ピクセル若しくは
それ以下であると仮定する。簡単なアルゴリズムは、連
続して４ピクセル若しくはそれ以上であるようないずれ
かのレベルを求め、このパターンが発生した場合には、
適当なサンプルを選択し、そのデータを捕獲すべく保持
する。アルゴリズムの一部は、更新された異なるレベル
を追跡し、スキャンの動作時の間にサービスを受けなか
ったそれらのレベルは非動作時にサンプリングされる。
図１において、アルゴリズムがレジスタ１０で所定パタ
ーンを見つけた場合、パターンは制御ブロック１２へ移
される。この論理ブロックでは、各パワーレベルに対す
るチャンネルと、アルゴリズム出力を訂正チャンネルに
方向付けるようなマルチプレクサが保持されている。所
定のチャンネルに関して、アナログ電圧を発生するため
のデジタル対アナログ変換器やそれを保持するサンプル
・保持回路へデジタルパターンが送信される。同時に、
ビデオパターンがレーザダイオードアセンブリ１３へ送
信され、これにより、このレーザダイオードアセンブリ
は関連するレーザパワー出力を提供することができる。
このパワーはスキャン検出アセンブリ１４によって感知
され、パワー出力に比例する信号が生成され、２個の信
号が制御ブロック１２で比較されてエラー信号を作り出
す。
【０００６】この回路が図２により詳細に示されてい
る。ビデオストリームはレジスタ２０に入力される。こ
の図では、レジスタは６個のピクセルを記憶するものと
して示されている。勿論、それ以上の若しくはそれ以下
のピクセルを使用することもできるし、あるいは、レジ
スタ中の多数のピクセルのサブセットを用いて訂正サイ
クルを発生するパターンを決定することもできる。更
に、各ピクセルは１ビットであってもよいし、多数の可
能なレーザパワー出力の設定を表示するような多数ビッ
トであってもよい。全てのビットロケーションの状態が
ルックアップテーブル２１に送信される。このルックア
ップテーブル２１は、所定のパターンだけが出力に生じ
るようにプログラムされている。これらのパターンは、
２進システムにおいては全てが１というものであっても
よいし、全てが０というものであってもよく、種々のレ
ベルシステムでは全て同じパーセンテージであってもよ
いし、レーザを校正するのに有用であるとして決定され
た他のいずれの所定パターンであってもよい。ルックア
ップテーブルの出力は、デジタル対アナログ変換器２２
においてアナログ電圧に変換され、その出力は増幅器を
通じて合計接続器２４へ付与される。
る。ビデオストリームはレジスタ２０に入力される。こ
の図では、レジスタは６個のピクセルを記憶するものと
して示されている。勿論、それ以上の若しくはそれ以下
のピクセルを使用することもできるし、あるいは、レジ
スタ中の多数のピクセルのサブセットを用いて訂正サイ
クルを発生するパターンを決定することもできる。更
に、各ピクセルは１ビットであってもよいし、多数の可
能なレーザパワー出力の設定を表示するような多数ビッ
トであってもよい。全てのビットロケーションの状態が
ルックアップテーブル２１に送信される。このルックア
ップテーブル２１は、所定のパターンだけが出力に生じ
るようにプログラムされている。これらのパターンは、
２進システムにおいては全てが１というものであっても
よいし、全てが０というものであってもよく、種々のレ
ベルシステムでは全て同じパーセンテージであってもよ
いし、レーザを校正するのに有用であるとして決定され
た他のいずれの所定パターンであってもよい。ルックア
ップテーブルの出力は、デジタル対アナログ変換器２２
においてアナログ電圧に変換され、その出力は増幅器を
通じて合計接続器２４へ付与される。
【０００７】このとき、レーザパワーが光センサ２５に
よって検出され、この出力は、増幅器２６，２７を通じ
て同じ合計接続器に結合される。ここで、実際のパワー
レベルと所定のパワーレベルが比較され、その差が発生
される。同時に、ルックアップテーブルに送信されたデ
ータビットが捕獲回路２８に結合され、もし記憶された
データパターンの１つとビデオストリームの複数ビット
との間に整合が発見されたならば、出力電圧をジャンク
ション２４から捕獲するために信号がサンプル・保持回
路２９へ送信され、その出力がエラー信号として送信さ
れる。このエラー信号は、図３に示されたレーザパワー
を制御するために使用される。このエラー信号は、内部
ループ合計接続器３０を通じてレーザ３２を駆動するよ
うな電流発生装置に付与される。レーザの両端の電圧が
増幅器３３によって監視され、サンプル・保持装置３４
によってサンプリングされ、この出力が合計接続器３０
に再び付与される。レーザにおける測定値としての実際
の電圧と、エラー電圧として合計接続器に付与された基
準電圧とが比較され、この結果が電流発生装置３１に付
与される。このシステムの全体の働きにより、実際のデ
ータをリアルタイムで用いることにより、スキャンの動
作部分の間に、レーザ出力を様々なパワーレベルにおい
て頻繁に校正することが可能とされる。
よって検出され、この出力は、増幅器２６，２７を通じ
て同じ合計接続器に結合される。ここで、実際のパワー
レベルと所定のパワーレベルが比較され、その差が発生
される。同時に、ルックアップテーブルに送信されたデ
ータビットが捕獲回路２８に結合され、もし記憶された
データパターンの１つとビデオストリームの複数ビット
との間に整合が発見されたならば、出力電圧をジャンク
ション２４から捕獲するために信号がサンプル・保持回
路２９へ送信され、その出力がエラー信号として送信さ
れる。このエラー信号は、図３に示されたレーザパワー
を制御するために使用される。このエラー信号は、内部
ループ合計接続器３０を通じてレーザ３２を駆動するよ
うな電流発生装置に付与される。レーザの両端の電圧が
増幅器３３によって監視され、サンプル・保持装置３４
によってサンプリングされ、この出力が合計接続器３０
に再び付与される。レーザにおける測定値としての実際
の電圧と、エラー電圧として合計接続器に付与された基
準電圧とが比較され、この結果が電流発生装置３１に付
与される。このシステムの全体の働きにより、実際のデ
ータをリアルタイムで用いることにより、スキャンの動
作部分の間に、レーザ出力を様々なパワーレベルにおい
て頻繁に校正することが可能とされる。
【図１】校正回路のブロック図。
【図２】回路のより詳細な図。
【図３】この校正回路と共に用いることができるレーザ
を示す図。
を示す図。
１０ シフトレジスタ １２ 制御ブロック １３ レーザダイオードアセンブリ １４ スキャン検出アセンブリ ２１ ルックアップテーブル ２６，２７ 増幅器 ２８ 捕獲回路 ２９ サンプル・保持回路 ３０ 合計接続器 ３１ 電流発生装置 ３４ サンプル・保持装置
Claims (1)
- 【請求項１】 ビデオデータピクセルを表示する光を発
生するレーザを備えたラスタ出力スキャナにおいて、前
記レーザの実際のパワー出力と所定値との間のエラー信
号を発生する回路であって、 前記ストリームの多数のピクセルを捕獲する複数の記憶
ロケーションを有するレジスタと、 前記ロケーションの状態に応答して出力を作り出すルッ
クアップテーブルと、 前記ルックアップテーブルの出力をアナログ電圧に変換
するデジタル対アナログ変換器と、 前記レーザのパワー出力を測定する検出器と、 前記検出器に応答して前記測定されたレーザパワー出力
と前記アナログ電圧とを比較して差を生成する合計接続
器と、 レジスタの前記ピクセルのビットパターンを多数の記憶
されたパターンと比較して整合を発見する捕獲回路と、 前記捕獲回路の出力に応答して前記差を前記エラー信号
として出力するサンプル・保持回路と、を備えることを
特徴とする回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US08/173,014 US5473360A (en) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | Adaptive method for high speed detection of position and intensity |
| US08/173014 | 1993-12-27 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07205480A true JPH07205480A (ja) | 1995-08-08 |
Family
ID=22630156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6314693A Pending JPH07205480A (ja) | 1993-12-27 | 1994-12-19 | 位置と強度の高速検出方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5473360A (ja) |
| EP (1) | EP0660585B1 (ja) |
| JP (1) | JPH07205480A (ja) |
| DE (1) | DE69424988T2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7822086B2 (en) * | 2007-07-27 | 2010-10-26 | Microvision, Inc. | Laser projection temperature compensation |
| WO2011064077A1 (de) * | 2009-11-30 | 2011-06-03 | Osram Gesellschaft mit beschränkter Haftung | Laser-modul und verfahren zum betreiben eines laser-moduls |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4648119A (en) * | 1985-03-18 | 1987-03-03 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for forming 3×3 pixel arrays and for performing programmable pattern contingent modifications of those arrays |
| EP0264886B1 (en) * | 1986-10-20 | 1994-06-08 | Fuji Photo Film Co., Ltd. | Laser beam scanning method and apparatus |
| JP2905229B2 (ja) * | 1989-09-26 | 1999-06-14 | キヤノン株式会社 | 光ビーム駆動装置 |
| US5369423A (en) * | 1992-05-21 | 1994-11-29 | Xerox Corporation | Method and apparatus for the automatic calibration of an analog raster output scanner |
| US5410414A (en) * | 1993-10-28 | 1995-04-25 | Xerox Corporation | Halftoning in a hyperacuity printer |
-
1993
- 1993-12-27 US US08/173,014 patent/US5473360A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-12-19 JP JP6314693A patent/JPH07205480A/ja active Pending
- 1994-12-23 EP EP94120609A patent/EP0660585B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-12-23 DE DE69424988T patent/DE69424988T2/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE69424988D1 (de) | 2000-07-27 |
| EP0660585A3 (en) | 1995-12-20 |
| EP0660585A2 (en) | 1995-06-28 |
| DE69424988T2 (de) | 2000-10-19 |
| US5473360A (en) | 1995-12-05 |
| EP0660585B1 (en) | 2000-06-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20030707 |