JPH07206452A - 高oh基含有石英ガラスの製造方法 - Google Patents
高oh基含有石英ガラスの製造方法Info
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- JPH07206452A JPH07206452A JP35287993A JP35287993A JPH07206452A JP H07206452 A JPH07206452 A JP H07206452A JP 35287993 A JP35287993 A JP 35287993A JP 35287993 A JP35287993 A JP 35287993A JP H07206452 A JPH07206452 A JP H07206452A
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B19/00—Other methods of shaping glass
- C03B19/12—Other methods of shaping glass by liquid-phase reaction processes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B2201/00—Type of glass produced
- C03B2201/06—Doped silica-based glasses
- C03B2201/20—Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine
- C03B2201/23—Doped silica-based glasses doped with non-metals other than boron or fluorine doped with hydroxyl groups
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- Silicon Compounds (AREA)
Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 石英ガラス内部のOH基濃度を高濃度化し、
光学的特性に優れた紫外線領域で使用可能な光学部材用
石英ガラスをゾルーゲル法により容易かつ高歩留りにて
製造する方法を提供する。 【構成】 ゾルーゲル法による石英ガラスの製造方法
は、Siアルコシドおよびシリカ微粒子を主原料とし
て、調製した液状ゾルを所望形状の密閉容器中にてゲル
化させウェットゲルを作製した後、該ウェットゲルを乾
燥、焼結などの熱処理によりガラス化するゾルーゲル法
による石英ガラスの製造方法において、石英ガラス中の
OH基濃度を100〜1500ppmの範囲とするため
に、原料として用いるシリカ微粒子の径、Siアルコキ
シドとシリカ微粒子の混合比、ガラス化時の圧力および
雰囲気などを最適化することを特徴とする。
光学的特性に優れた紫外線領域で使用可能な光学部材用
石英ガラスをゾルーゲル法により容易かつ高歩留りにて
製造する方法を提供する。 【構成】 ゾルーゲル法による石英ガラスの製造方法
は、Siアルコシドおよびシリカ微粒子を主原料とし
て、調製した液状ゾルを所望形状の密閉容器中にてゲル
化させウェットゲルを作製した後、該ウェットゲルを乾
燥、焼結などの熱処理によりガラス化するゾルーゲル法
による石英ガラスの製造方法において、石英ガラス中の
OH基濃度を100〜1500ppmの範囲とするため
に、原料として用いるシリカ微粒子の径、Siアルコキ
シドとシリカ微粒子の混合比、ガラス化時の圧力および
雰囲気などを最適化することを特徴とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、主として波長400n
m以下の紫外線領域で使用される光学部材用石英ガラス
の製造方法に係わり、特にエキシマレーザー発振装置、
リソグラフィー用レーザー露光装置、レーザーCVD、
レーザー加工装置、レーザー医療装置等の紫外線波長域
のレーザーを利用した各種装置に用いるレンズ、窓部
材、ミラー、プリズム、フィルター、エタロン板、その
他の光学系を構成する光学的特性に優れた石英ガラスの
ゾルーゲル法による製造方法に関する。
m以下の紫外線領域で使用される光学部材用石英ガラス
の製造方法に係わり、特にエキシマレーザー発振装置、
リソグラフィー用レーザー露光装置、レーザーCVD、
レーザー加工装置、レーザー医療装置等の紫外線波長域
のレーザーを利用した各種装置に用いるレンズ、窓部
材、ミラー、プリズム、フィルター、エタロン板、その
他の光学系を構成する光学的特性に優れた石英ガラスの
ゾルーゲル法による製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】LSIの高集積化に伴いウエハー上の回
路パターンの微細化に対応するためのパターン描画技術
として光リソグラフィー技術の開発が急速に進んでい
る。その中で256MビットDRAM製造用の投影露光
装置としてエキシマレーザーを光源とするステッパーの
採用が見込まれている。エキシマレーザーは、主として
紫外域で発振する高出力パルスレーザーであり、ステッ
パー用としては、波長248nmのKrFや波長193
nmのArFが検討されている。
路パターンの微細化に対応するためのパターン描画技術
として光リソグラフィー技術の開発が急速に進んでい
る。その中で256MビットDRAM製造用の投影露光
装置としてエキシマレーザーを光源とするステッパーの
採用が見込まれている。エキシマレーザーは、主として
紫外域で発振する高出力パルスレーザーであり、ステッ
パー用としては、波長248nmのKrFや波長193
nmのArFが検討されている。
【0003】このエキシマレーザーステッパー用の光学
系構成材料として唯一使用可能とされているのが、均質
性、光透過性、レーザー耐性等の光学的特性に極めて優
れた石英ガラスである。石英ガラスとしては、四塩化珪
素(SiCl4 )ガスを酸水素炎中で加水分解して得ら
れる粒子をターゲットに付着させて形成させる、いわゆ
るダイレクト法等で製造される合成石英ガラスの中で、
OH基含有量と金属不純物濃度の規制値を満足するもの
が使用可能であると提案されている(特開平3−533
8号公報)。
系構成材料として唯一使用可能とされているのが、均質
性、光透過性、レーザー耐性等の光学的特性に極めて優
れた石英ガラスである。石英ガラスとしては、四塩化珪
素(SiCl4 )ガスを酸水素炎中で加水分解して得ら
れる粒子をターゲットに付着させて形成させる、いわゆ
るダイレクト法等で製造される合成石英ガラスの中で、
OH基含有量と金属不純物濃度の規制値を満足するもの
が使用可能であると提案されている(特開平3−533
8号公報)。
【0004】一方、従来のSiアルコキシドおよびシリ
カ微粒子を主原料とするゾルーゲル法により製造される
石英ガラスにおいては、原料の高純度化や製造プロセス
のクリーン化による紫外線透過率の向上等に関する検討
が多少なされている程度でエキシマレーザーに対応する
ための検討はほとんどされていなかった。
カ微粒子を主原料とするゾルーゲル法により製造される
石英ガラスにおいては、原料の高純度化や製造プロセス
のクリーン化による紫外線透過率の向上等に関する検討
が多少なされている程度でエキシマレーザーに対応する
ための検討はほとんどされていなかった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ダイレクト法
等による合成石英ガラスにおいては、原料として四塩化
珪素(SiCl4 )を用いるため石英ガラス中に塩素
(Cl)が残存し易く、また製造したインゴット中で前
述のOH基含有量と金属不純物濃度の規制値を満足する
部分は極少量であり、低歩留のため非常に高価なものに
なっている。
等による合成石英ガラスにおいては、原料として四塩化
珪素(SiCl4 )を用いるため石英ガラス中に塩素
(Cl)が残存し易く、また製造したインゴット中で前
述のOH基含有量と金属不純物濃度の規制値を満足する
部分は極少量であり、低歩留のため非常に高価なものに
なっている。
【0006】また、Siアルコキシドおよびシリカ微粒
子を主原料とするゾルーゲル法により製造された石英ガ
ラスにおいては、ガラス中に酸素欠乏欠陥(例えば≡S
i−Si≡)、酸素過多欠陥(例えば≡Si−O−O−
Si≡)などの各種構造欠陥が生成し、紫外光や紫外域
の短波長レーザー光照射時に蛍光を発したり、長時間の
照射により透過率の低下や構造欠陥の遍在による均質性
の低下などソラリゼーションが生じるという光学特性上
の課題を有する。
子を主原料とするゾルーゲル法により製造された石英ガ
ラスにおいては、ガラス中に酸素欠乏欠陥(例えば≡S
i−Si≡)、酸素過多欠陥(例えば≡Si−O−O−
Si≡)などの各種構造欠陥が生成し、紫外光や紫外域
の短波長レーザー光照射時に蛍光を発したり、長時間の
照射により透過率の低下や構造欠陥の遍在による均質性
の低下などソラリゼーションが生じるという光学特性上
の課題を有する。
【0007】そこで、本発明の目的は石英ガラス内部の
OH基濃度の高濃度化により、容易かつ高歩留りにて光
学的特性に優れた紫外線領域で使用可能な光学部材用石
英ガラスのゾルーゲル法による製造方法を提供すること
にある。
OH基濃度の高濃度化により、容易かつ高歩留りにて光
学的特性に優れた紫外線領域で使用可能な光学部材用石
英ガラスのゾルーゲル法による製造方法を提供すること
にある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、Siアルコキ
シドおよびシリカ微粒子を主原料として、調製した液状
ゾルを所望形状の密閉容器中にてゲル化させウエットゲ
ルを作成した後、該ウエットゲルを乾燥、焼結などの熱
処理によりガラス化することにより、石英ガラス中のO
H基濃度を100〜1500ppmとした高OH基含有
石英ガラスを得る方法並びにこのようにして得られた高
OH基含有石英ガラスである。そして、石英ガラス中の
OH基濃度を100〜1500ppmとした高OH基含
有石英ガラスを得るには、原料として用いるシリカ微粒
子径を0.1〜0.5μm、Siアルコキシドとシリカ
微粒子のモル比をSiアルコキシド/シリカ微粒子=
0.1〜1.0とし、焼結を10-5〜20Torrの減
圧下あるいはHe、Ar等の不活性ガス雰囲気における
加熱焼結により行うことが好ましい。
シドおよびシリカ微粒子を主原料として、調製した液状
ゾルを所望形状の密閉容器中にてゲル化させウエットゲ
ルを作成した後、該ウエットゲルを乾燥、焼結などの熱
処理によりガラス化することにより、石英ガラス中のO
H基濃度を100〜1500ppmとした高OH基含有
石英ガラスを得る方法並びにこのようにして得られた高
OH基含有石英ガラスである。そして、石英ガラス中の
OH基濃度を100〜1500ppmとした高OH基含
有石英ガラスを得るには、原料として用いるシリカ微粒
子径を0.1〜0.5μm、Siアルコキシドとシリカ
微粒子のモル比をSiアルコキシド/シリカ微粒子=
0.1〜1.0とし、焼結を10-5〜20Torrの減
圧下あるいはHe、Ar等の不活性ガス雰囲気における
加熱焼結により行うことが好ましい。
【0009】本発明において、原料として使用するSi
アルコキシドとしては、テトラメトキシシラン、テトラ
エトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラブト
キシシランなどを挙げることができ、好ましくはテトラ
メトキシシラン、テトラエトキシシランである。また、
シリカ微粒子としては、例えばSiアルコキシドを塩基
性溶液中で加水分解、縮重合反応により合成するシリカ
粒子等を使用する。塩基性溶液としては、エタノールあ
るいはメタノール等のアルコールと、水、アンモニア水
等の混合物が挙げられる。得られるシリカ微粒子分散液
におけるシリカ微粒子の粒子径、粒度分布は、Siアル
コキシドや塩基性溶液中の各組成との混合比率を調整す
ることにより異ならせることができ、本発明では0.1
〜0.5μmの粒子径のシリカ微粒子を使用することが
良好な結果を与える。ガラス中のOH基を前記した所望
の濃度に調整するため、0.1〜0.5μmの範囲で適
当なシリカ微粒子の粒子径を選定する。
アルコキシドとしては、テトラメトキシシラン、テトラ
エトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトラブト
キシシランなどを挙げることができ、好ましくはテトラ
メトキシシラン、テトラエトキシシランである。また、
シリカ微粒子としては、例えばSiアルコキシドを塩基
性溶液中で加水分解、縮重合反応により合成するシリカ
粒子等を使用する。塩基性溶液としては、エタノールあ
るいはメタノール等のアルコールと、水、アンモニア水
等の混合物が挙げられる。得られるシリカ微粒子分散液
におけるシリカ微粒子の粒子径、粒度分布は、Siアル
コキシドや塩基性溶液中の各組成との混合比率を調整す
ることにより異ならせることができ、本発明では0.1
〜0.5μmの粒子径のシリカ微粒子を使用することが
良好な結果を与える。ガラス中のOH基を前記した所望
の濃度に調整するため、0.1〜0.5μmの範囲で適
当なシリカ微粒子の粒子径を選定する。
【0010】本発明で使用する液状ゾルは、例えば上記
のシリカ微粒子を水に分散させたシリカゾル溶液に酸性
触媒下で、Siアルコキシドを滴下し、加水分解させて
調製することができる。この場合、Siアルコキシドの
滴下量は、Siアルコキシドとシリカ微粒子の割合(モ
ル比)が、Siアルコキシド/シリカ微粒子=0.1〜
1.0となるように調整することがよく、ガラス化時の
クラック発生をより効果的に防止する上で、好ましくは
前記モル比を0.2〜0.7に調整する。
のシリカ微粒子を水に分散させたシリカゾル溶液に酸性
触媒下で、Siアルコキシドを滴下し、加水分解させて
調製することができる。この場合、Siアルコキシドの
滴下量は、Siアルコキシドとシリカ微粒子の割合(モ
ル比)が、Siアルコキシド/シリカ微粒子=0.1〜
1.0となるように調整することがよく、ガラス化時の
クラック発生をより効果的に防止する上で、好ましくは
前記モル比を0.2〜0.7に調整する。
【0011】上記液状ゾルを所望形状の容器中でゲル化
させてウエットゲルを作成する。得られたウエットゲル
を適当な時間をかけて乾燥すると、脱水縮重合反応によ
り水を放出したドライゲルが得られる。このドライゲル
を焼結してガラス化するが、これは、次のようにして行
うことが好ましい。まず、このドライゲルを石英製容器
など、ドライゲルへの不純物混入のない容器中へ入れ、
酸素/窒素(大気)雰囲気中で段階的に900℃まで加
熱し、縮重合反応の促進、脱水、脱有機残基などを目的
とした仮焼処理を行う。
させてウエットゲルを作成する。得られたウエットゲル
を適当な時間をかけて乾燥すると、脱水縮重合反応によ
り水を放出したドライゲルが得られる。このドライゲル
を焼結してガラス化するが、これは、次のようにして行
うことが好ましい。まず、このドライゲルを石英製容器
など、ドライゲルへの不純物混入のない容器中へ入れ、
酸素/窒素(大気)雰囲気中で段階的に900℃まで加
熱し、縮重合反応の促進、脱水、脱有機残基などを目的
とした仮焼処理を行う。
【0012】前記焼成処理後、(1)900℃から14
00℃まで10-5〜20Torrの減圧下での焼結、ガ
ラス化に引続き、1400℃から1750℃までHe、
Ar等の不活性ガス雰囲気における加熱処理後、徐冷
し、透明石英ガラスを得る熱処理、または(2)前記焼
成処理後、900℃から1750℃までHe、Ar等の
不活性ガス雰囲気で焼結、ガラス化および加熱処理後、
徐冷し、透明石英ガラスを得る熱処理を行う。前記熱処
理において、目標とするガラス中のOH基濃度に応じ
て,雰囲気、温度、時間など加熱処理条件を調整し、適
正な熱処理条件を設定することにより、OH基濃度が1
00〜1500ppmの透明石英ガラスが得られる。
00℃まで10-5〜20Torrの減圧下での焼結、ガ
ラス化に引続き、1400℃から1750℃までHe、
Ar等の不活性ガス雰囲気における加熱処理後、徐冷
し、透明石英ガラスを得る熱処理、または(2)前記焼
成処理後、900℃から1750℃までHe、Ar等の
不活性ガス雰囲気で焼結、ガラス化および加熱処理後、
徐冷し、透明石英ガラスを得る熱処理を行う。前記熱処
理において、目標とするガラス中のOH基濃度に応じ
て,雰囲気、温度、時間など加熱処理条件を調整し、適
正な熱処理条件を設定することにより、OH基濃度が1
00〜1500ppmの透明石英ガラスが得られる。
【0013】
【作用】紫外光照射時の石英ガラスにおける透過率や屈
折率の変化および蛍光は、OH基含有量に依存し、OH
基含有量を増大させることによりこれらの光学特性の安
定性が向上することが報告されている(特開平1−16
7258)。これは、レーザー光透過体(石英ガラス)
に強力なレーザー光を照射した際、ガラス網目構造を構
成する元素間の結合が切断され、その結果として透過率
が低下し、吸収バンドが現われ蛍光強度も増加するが、
これら元素間の切断はガラス組織中に含有するOH基の
存在により大部分が修復されるとするものである。
折率の変化および蛍光は、OH基含有量に依存し、OH
基含有量を増大させることによりこれらの光学特性の安
定性が向上することが報告されている(特開平1−16
7258)。これは、レーザー光透過体(石英ガラス)
に強力なレーザー光を照射した際、ガラス網目構造を構
成する元素間の結合が切断され、その結果として透過率
が低下し、吸収バンドが現われ蛍光強度も増加するが、
これら元素間の切断はガラス組織中に含有するOH基の
存在により大部分が修復されるとするものである。
【0014】本発明の方法においては、原料として用い
るシリカ微粒子径、Siアルコキシドとシリカ微粒子の
混合比、ガラス化時の圧力および雰囲気などの製造条件
を制御することによりクラックや気泡の発生等のゾルー
ゲル法の本質的な問題点を解決した上で、石英ガラス中
のOH基濃度を100〜1500ppmの範囲にするこ
とが可能である。また、ゾルーゲル法ではその出発原料
が液体であるため高度精製により不純物金属(Li,N
a,K等のアルカリ金属元素、Mg,Ca等のアルカリ
土類金属元素、Ti,Cr,Fe,Ni,Cu等の遷移
金属元素など)をほとんど含有しない超高純度なガラス
を製造することは容易である。以上により、容易かつ高
歩留りにて光学的特性に優れた紫外線領域で使用可能な
光学部材用石英ガラスの製造が可能となる。
るシリカ微粒子径、Siアルコキシドとシリカ微粒子の
混合比、ガラス化時の圧力および雰囲気などの製造条件
を制御することによりクラックや気泡の発生等のゾルー
ゲル法の本質的な問題点を解決した上で、石英ガラス中
のOH基濃度を100〜1500ppmの範囲にするこ
とが可能である。また、ゾルーゲル法ではその出発原料
が液体であるため高度精製により不純物金属(Li,N
a,K等のアルカリ金属元素、Mg,Ca等のアルカリ
土類金属元素、Ti,Cr,Fe,Ni,Cu等の遷移
金属元素など)をほとんど含有しない超高純度なガラス
を製造することは容易である。以上により、容易かつ高
歩留りにて光学的特性に優れた紫外線領域で使用可能な
光学部材用石英ガラスの製造が可能となる。
【0015】
【実施例】以下に本発明の実施例を示し、本発明をさら
に詳細に説明する。
に詳細に説明する。
【0016】実施例、比較例 Siアルコキシドとしてエチルシリケートあるいはメチ
ルシリケートを用い、これとエタノールあるいはメタノ
ール、水、アンモニア水(29%)を混合、攪拌した
後、室温にて静置し、粒子を成長、熟成させた。この
後、減圧濃縮することにより分散性の良好なシリカ微粒
子分散液を調製した。ここでは、原料の混合比を調整す
ることにより、表1に示す粒子径および粒度分布の異な
る10種類のシリカ微粒子分散液を調製した。また、各
分散液中のシリカ微粒子濃度は何れも30wt%とし
た。
ルシリケートを用い、これとエタノールあるいはメタノ
ール、水、アンモニア水(29%)を混合、攪拌した
後、室温にて静置し、粒子を成長、熟成させた。この
後、減圧濃縮することにより分散性の良好なシリカ微粒
子分散液を調製した。ここでは、原料の混合比を調整す
ることにより、表1に示す粒子径および粒度分布の異な
る10種類のシリカ微粒子分散液を調製した。また、各
分散液中のシリカ微粒子濃度は何れも30wt%とし
た。
【0017】
【表1】
【0018】次に、上記各シリカ微粒子分散液に2規定
の塩酸を添加し、pH2.0に調整した後、エチルシリ
ケートあるいはメチルシリケートを混合し、加水分解反
応させ均質な液状ゾルになるまで十分に撹拌した。ここ
でのシリカ微粒子とエチルシリケートあるいはメチルシ
リケートとの混合モル比(Siアルコキシド/シリカ微
粒子)は、5/95,10/90,30/70,50/
50,60/40の各5種類とした。その後、該液状ゾ
ルに0.2規定のアンモニア水を添加してpHを5.0
に調整した後、直径40cmの円筒状の型に10cmの
高さまで注入した。更に、蓋をして密閉状態にてゲル化
させウェットゲルを各20個作成した。なお、エチルシ
リケートおよびメチルシリケートは、いずれも同様な結
果を示す。
の塩酸を添加し、pH2.0に調整した後、エチルシリ
ケートあるいはメチルシリケートを混合し、加水分解反
応させ均質な液状ゾルになるまで十分に撹拌した。ここ
でのシリカ微粒子とエチルシリケートあるいはメチルシ
リケートとの混合モル比(Siアルコキシド/シリカ微
粒子)は、5/95,10/90,30/70,50/
50,60/40の各5種類とした。その後、該液状ゾ
ルに0.2規定のアンモニア水を添加してpHを5.0
に調整した後、直径40cmの円筒状の型に10cmの
高さまで注入した。更に、蓋をして密閉状態にてゲル化
させウェットゲルを各20個作成した。なお、エチルシ
リケートおよびメチルシリケートは、いずれも同様な結
果を示す。
【0019】得られたウェットゲルを乾燥容器に入れ7
0℃に保持した恒温乾燥機にて乾燥し、ほぼ1ヶ月で乾
燥が終了し、直径28cm、高さ7cmの白色のドライ
ゲルが得られた。しかし、Siアルコキシド/シリカ微
粒子=5/95にしたゲルは原料シリカ微粒子の性状
(粒子径、粒度分布)に選らず何れも工程途中で割れて
しまった。また、平均粒子径0.8μmのシリカ分散液
(シリカ微粒子分散液No.9及びNo.10)を原料
として用いた場合も、その他の条件に選らず何れも工程
途中で割れてしまった。
0℃に保持した恒温乾燥機にて乾燥し、ほぼ1ヶ月で乾
燥が終了し、直径28cm、高さ7cmの白色のドライ
ゲルが得られた。しかし、Siアルコキシド/シリカ微
粒子=5/95にしたゲルは原料シリカ微粒子の性状
(粒子径、粒度分布)に選らず何れも工程途中で割れて
しまった。また、平均粒子径0.8μmのシリカ分散液
(シリカ微粒子分散液No.9及びNo.10)を原料
として用いた場合も、その他の条件に選らず何れも工程
途中で割れてしまった。
【0020】このようにして作成した乾燥ゲルは、酸素
/窒素(大気)雰囲気中で900℃まで加熱して、縮合
反応の促進、脱水、脱有機残基などの各種処理(焼成処
理)を行った後、以下に示す各条件下にて焼結してガラ
ス化した。 焼結条件 焼成処理した乾燥ゲルを、減圧下で1400℃まで昇温
して加熱焼結した。減圧処理時の圧力は、10-6,10
-2,20,30Torrの4水準とした。これを、さら
に窒素雰囲気中で1750℃まで昇温し、30分間保持
して加熱処理後、徐冷して、石英ガラスを得た。 焼結条件 焼成処理した乾燥ゲルを、不活性ガス雰囲気中で175
0℃まで昇温して焼結、加熱処理し、30分間保持した
後、徐冷して、石英ガラスを得た。不活性ガスは、ヘリ
ウム、窒素の2種を用いた。以上のようにして得られた
石英ガラスは、無色で透明性が高く、直径20cm、高
さ6cmの円柱状であった。
/窒素(大気)雰囲気中で900℃まで加熱して、縮合
反応の促進、脱水、脱有機残基などの各種処理(焼成処
理)を行った後、以下に示す各条件下にて焼結してガラ
ス化した。 焼結条件 焼成処理した乾燥ゲルを、減圧下で1400℃まで昇温
して加熱焼結した。減圧処理時の圧力は、10-6,10
-2,20,30Torrの4水準とした。これを、さら
に窒素雰囲気中で1750℃まで昇温し、30分間保持
して加熱処理後、徐冷して、石英ガラスを得た。 焼結条件 焼成処理した乾燥ゲルを、不活性ガス雰囲気中で175
0℃まで昇温して焼結、加熱処理し、30分間保持した
後、徐冷して、石英ガラスを得た。不活性ガスは、ヘリ
ウム、窒素の2種を用いた。以上のようにして得られた
石英ガラスは、無色で透明性が高く、直径20cm、高
さ6cmの円柱状であった。
【0021】しかし、平均粒子径0.05μmのシリカ
微粒子(シリカ微粒子分散液No.1及びNo.2)を
原料として用いた場合には、前記シリカ微粒子とエチル
シリケートあるいはメチルシリケートとの混合比(エチ
ルシリケートあるいはメチルシリケート/シリカ微粒
子)およびガラス化条件に選らず何れもガラス化時に発
泡してしまった。
微粒子(シリカ微粒子分散液No.1及びNo.2)を
原料として用いた場合には、前記シリカ微粒子とエチル
シリケートあるいはメチルシリケートとの混合比(エチ
ルシリケートあるいはメチルシリケート/シリカ微粒
子)およびガラス化条件に選らず何れもガラス化時に発
泡してしまった。
【0022】また、シリカ微粒子とエチルシリケートあ
るいはメチルシリケートとの混合比(エチルシリケート
あるいはメチルシリケート/シリカ微粒子)が60/4
0の場合も同様に原料シリカ微粒子の性状(粒子径、粒
度分布)およびガラス化条件に選らず何れもガラス化時
に発泡してしまった。さらに、窒素雰囲気中で加熱焼結
した場合(焼結条件の場合で、窒素ガス雰囲気下で行
った場合)、および減圧度30Torrの場合も同様
に、その他の条件に選らず何れも発泡してしまった。
るいはメチルシリケートとの混合比(エチルシリケート
あるいはメチルシリケート/シリカ微粒子)が60/4
0の場合も同様に原料シリカ微粒子の性状(粒子径、粒
度分布)およびガラス化条件に選らず何れもガラス化時
に発泡してしまった。さらに、窒素雰囲気中で加熱焼結
した場合(焼結条件の場合で、窒素ガス雰囲気下で行
った場合)、および減圧度30Torrの場合も同様
に、その他の条件に選らず何れも発泡してしまった。
【0023】工程途中での割れや発泡を生じることなく
得られた石英ガラスについて、20×20×20mmの
大きさに切断および平行研磨光学鏡面仕上げした後、以
下に示す光学特性の評価を行なった。 ・評価1:波長190〜400nmにおける透過率。 ・評価2:近赤外吸収スペクトル測定によるガラス内部
OH基濃度の定量。 ・評価3:波長248nm励起時の蛍光スペクトル。 ・評価4:評価1〜3の結果が良好なガラスに対してK
rFエキシマレーザー照射を行った。照射条件は、パル
ス当りエネルギー密度400mJ/cm2 ・pulse
で,照射パルス数1×106 pulseとした。照射
後、上記評価1および3を再度行なった。
得られた石英ガラスについて、20×20×20mmの
大きさに切断および平行研磨光学鏡面仕上げした後、以
下に示す光学特性の評価を行なった。 ・評価1:波長190〜400nmにおける透過率。 ・評価2:近赤外吸収スペクトル測定によるガラス内部
OH基濃度の定量。 ・評価3:波長248nm励起時の蛍光スペクトル。 ・評価4:評価1〜3の結果が良好なガラスに対してK
rFエキシマレーザー照射を行った。照射条件は、パル
ス当りエネルギー密度400mJ/cm2 ・pulse
で,照射パルス数1×106 pulseとした。照射
後、上記評価1および3を再度行なった。
【0024】評価1の結果は、得られた石英ガラスは何
れも波長190〜400nmには吸収がなく、透過率は
良好であった。
れも波長190〜400nmには吸収がなく、透過率は
良好であった。
【0025】評価2の結果を表2、表3、表4に示す。
表2には、シリカ微粉末の平均粒径が0.1μmである
シリカ微粉末分散液No.3及びNo.4を用いて得た
ガラスの結果を、表3にはシリカ微粉末の平均粒径が
0.3μmであるシリカ微粉末分散液No.5及びN
o.6を用いて得たガラスの結果を、表4にはシリカ微
粉末の平均粒径が0.5μmであるシリカ微粉末分散液
No.7及びNo.8を用いて得たガラスの結果をそれ
ぞれ示した。
表2には、シリカ微粉末の平均粒径が0.1μmである
シリカ微粉末分散液No.3及びNo.4を用いて得た
ガラスの結果を、表3にはシリカ微粉末の平均粒径が
0.3μmであるシリカ微粉末分散液No.5及びN
o.6を用いて得たガラスの結果を、表4にはシリカ微
粉末の平均粒径が0.5μmであるシリカ微粉末分散液
No.7及びNo.8を用いて得たガラスの結果をそれ
ぞれ示した。
【0026】
【表2】
【0027】
【表3】
【0028】
【表4】
【0029】また各表には、使用した原料シリカ微粒子
分散液No.、Siアルコキシドとシリカ微粒子の混合
モル比(Siアルコキシド/シリカ微粒子)、焼結条件
をあわせて示した。なお、各表の焼結条件の欄中に数値
を記載したものは、焼結条件で焼結を行ったものを示
し、その数値は減圧度(単位はTorr)を示し、焼結
条件の欄中にHeと記載したものは、ヘリウム雰囲気下
で焼結条件によって焼結を行ったものを示す。
分散液No.、Siアルコキシドとシリカ微粒子の混合
モル比(Siアルコキシド/シリカ微粒子)、焼結条件
をあわせて示した。なお、各表の焼結条件の欄中に数値
を記載したものは、焼結条件で焼結を行ったものを示
し、その数値は減圧度(単位はTorr)を示し、焼結
条件の欄中にHeと記載したものは、ヘリウム雰囲気下
で焼結条件によって焼結を行ったものを示す。
【0030】評価3の結果は、評価2の結果においてO
H基濃度が100ppm以下の石英ガラス試料(No.
1、5、9、13、17、21、25、29、33、3
7、41、45、49、53、57、61、65及び6
9)の全てに波長390nm付近をピークとする蛍光帯
が確認された。また、これらの蛍光帯が確認された試料
に水銀ランプを照射したところ青色の発光が見られ、こ
れらは紫外域の光学部材として不適当であることが判明
した。
H基濃度が100ppm以下の石英ガラス試料(No.
1、5、9、13、17、21、25、29、33、3
7、41、45、49、53、57、61、65及び6
9)の全てに波長390nm付近をピークとする蛍光帯
が確認された。また、これらの蛍光帯が確認された試料
に水銀ランプを照射したところ青色の発光が見られ、こ
れらは紫外域の光学部材として不適当であることが判明
した。
【0031】続いて、評価3の結果、蛍光が観測されな
かった石英ガラス試料に対して評価4を行なったところ
何れもレーザー照射後、透過率の低下や蛍光が生じるこ
となく安定であった。
かった石英ガラス試料に対して評価4を行なったところ
何れもレーザー照射後、透過率の低下や蛍光が生じるこ
となく安定であった。
【0032】
【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、ゾ
ルーゲル法により容易かつ高歩留りにて、光学的特性に
優れ、紫外線領域で使用可能な光学部材用として好適な
高OH基含有石英ガラスを作製することが可能である。
したがって本発明により提供される高OH基含有石英ガ
ラスは、これまで石英ガラスを使用していた分野ではも
ちろんのこと、特に高性能な光学特性を要求されるエキ
シマレーザー発振装置、リソグラフィー用レーザー露光
装置、レーザーCVD、レーザー加工装置、レーザー医
療装置等の紫外線波長域のレーザーを利用した各種装置
に用いるレンズ、窓部材、ミラー、プリズム、フィルタ
ー、エタロン板、その他の光学系を構成する部材など広
範な分野への利用が可能である。
ルーゲル法により容易かつ高歩留りにて、光学的特性に
優れ、紫外線領域で使用可能な光学部材用として好適な
高OH基含有石英ガラスを作製することが可能である。
したがって本発明により提供される高OH基含有石英ガ
ラスは、これまで石英ガラスを使用していた分野ではも
ちろんのこと、特に高性能な光学特性を要求されるエキ
シマレーザー発振装置、リソグラフィー用レーザー露光
装置、レーザーCVD、レーザー加工装置、レーザー医
療装置等の紫外線波長域のレーザーを利用した各種装置
に用いるレンズ、窓部材、ミラー、プリズム、フィルタ
ー、エタロン板、その他の光学系を構成する部材など広
範な分野への利用が可能である。
フロントページの続き (72)発明者 井上 初志 東京都杉並区下井草2−18−17 (72)発明者 河野 充 神奈川県川崎市中原区井田1618番地 新日 本製鐵株式会社先端技術研究所内
Claims (6)
- 【請求項1】 Siアルコキシドおよびシリカ微粒子を
主原料として調製した液状ゾルを所望形状の密閉容器中
にてゲル化させ、ウエットゲルを作成した後、該ウェッ
トゲルを乾燥、焼結、ガラス化することを特徴とする石
英ガラス中のOH基濃度が100〜1500ppmであ
る高OH基含有石英ガラスの製造方法。 - 【請求項2】 平均粒子径が0.1〜0.5μmのシリ
カ微粒子を用いる請求項1記載の石英ガラスの製造方
法。 - 【請求項3】 Siアルコキシドとシリカ微粒子の使用
割合(モル比)が、Siアルコキシド/シリカ微粒子=
0.1〜1.0である請求項1又は2記載の高OH基含
有石英ガラスの製造方法。 - 【請求項4】 10-5〜20Torrの減圧下で焼結し
た後、ガラス化する請求項1〜3のいずれかに記載の高
OH基含有石英ガラスの製造方法。 - 【請求項5】 不活性ガス雰囲気で焼結、ガラス化する
請求項1〜3のいずれかに記載の高OH基含有石英ガラ
スの製造方法。 - 【請求項6】 Siアルコキシドおよびシリカ微粒子を
主原料として、調製した液状ゾルをゲル化させて作成し
たウエットゲルを、乾燥、焼結、ガラス化してなる石英
ガラスであって、該ガラス中のOH基濃度が100〜1
500ppmであることを特徴とする高OH基含有石英
ガラス。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35287993A JPH07206452A (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 高oh基含有石英ガラスの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35287993A JPH07206452A (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 高oh基含有石英ガラスの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07206452A true JPH07206452A (ja) | 1995-08-08 |
Family
ID=18427079
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35287993A Withdrawn JPH07206452A (ja) | 1993-12-29 | 1993-12-29 | 高oh基含有石英ガラスの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07206452A (ja) |
-
1993
- 1993-12-29 JP JP35287993A patent/JPH07206452A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010306 |