JPH07206577A - レアア−ス・ガリウム・ペロブスカイト単結晶の育成方法 - Google Patents
レアア−ス・ガリウム・ペロブスカイト単結晶の育成方法Info
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- JPH07206577A JPH07206577A JP1493594A JP1493594A JPH07206577A JP H07206577 A JPH07206577 A JP H07206577A JP 1493594 A JP1493594 A JP 1493594A JP 1493594 A JP1493594 A JP 1493594A JP H07206577 A JPH07206577 A JP H07206577A
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Abstract
から蒸発するGa2O3の量に見合う量以上に、Ga2O3
過剰にしてネオジウムガレ−ト単結晶を育成する。 【効果】 単結晶をクラックの発生がなく得ることがで
き、かつ高価なイリジウム製るつぼの損傷を少なくでき
る。
Description
用の基板材料として使用されるレアア−ス・ガリウム・
ペロブスカイト単結晶、特にネオジウムガレート単結晶
を製造する方法に関するものである。
電導材料との格子整合性に優れ且つ双晶ができにくく、
誘電率が低いなどの優れた特性により、酸化物超電導薄
膜成長用の基板材料として近年注目されている。ネオジ
ウムガレート単結晶は、従来チョクラルスキー法(引き
上げ法)等により育成されている。
ムガレート単結晶を育成する際には、その育成中や育成
後の放置中に単結晶インゴットにクラックが発生すると
いう問題があり、それを解決する方法として、引上げ軸
方向の温度勾配を融液表面から20〜60mmの区間に
おいて40℃/cm以下にする方法が知られている(特
開平4−97989)。
O2の雰囲気下で、融液直上の温度勾配を45℃/cm
とし、引上げられた単結晶が融点より60℃以上冷却さ
れない温度分布下で育成し、冷却速度50℃/Hrで冷
却することにより、クラックや双晶のない単結晶が得ら
れたことが示されている( Journal of Crystal Growth
131 (1993) 413-418 , M. Sasaura,S. Miyazawa ,Twin-
free single crystal growth of NdGaO3 )。
2+3%O2の雰囲気下でネオジウムガレート単結晶を育
成すると、高価なイリジウム製るつぼが酸化して損傷
し、るつぼの寿命が短くなり、コストアップになるとい
う問題があった。
0%にして、その他の条件を笹浦らの文献と同様にして
も、単結晶インゴットの冷却中にクラックが発生してし
まうという問題点があった。
点を解決したもので、その目的は酸素を含まない雰囲気
下で育成しても単結晶インゴットにクラックが発生する
ことを防止し、酸化物超電導薄膜用基板材料として好適
なネオジウムガレート単結晶を安定して安価に製造する
方法を提供することにある。
N2+3%O2の雰囲気下ではクラックの発生がないの
に、酸素のないN2100%の雰囲気下ではクラックが
発生する原因について検討し、N2+3%O2の雰囲気下
では酸素分圧がかかることにより原料融液からのGa2
O3の蒸発が抑制されているのに対し、酸素のないN21
00%の雰囲気下では原料融液からのGa2O3の蒸発量
が多く、原料融液の組成がNd2O3リッチになっていく
ことにあると考え、育成中に原料融液から蒸発するGa
2O3の量に見合う量を始めから原料融液に入れる方法を
考え付いた。
との合計4kgに対し、過剰分のGa2O3を4g(0.
1wt%)、12g(0.3wt%)、24g(0.6wt
%)および60g(1.5wt%)添加したものを原料と
してネオジウムガレート単結晶の育成実験を行った。
1wt%)の場合には5回の育成で1回のクラック発生が
見られたが、その他の条件のものではクラックの発生は
なかった。ただし、過剰のGa2O3量が60g(1.5
wt%)の場合には単結晶中に微小傾角粒界が多く入り結
晶性の悪いものしか得られなかった。
されたもので、レアア−ス・ガリウム・ペロブスカイト
単結晶の育成方法において、原料融液の組成を、単結晶
育成中に原料融液から蒸発するGa2O3の量に見合う量
以上に、Ga2O3過剰にしておくことを特徴とするレア
ア−ス・ガリウム・ペロブスカイト単結晶の育成方法を
提供するものである。特に、レアア−ス・ガリウム・ペ
ロブスカイト単結晶がネオジウムガレート単結晶である
育成方法を提供するものである。
因についてははっきりと解明されていないが、化学量論
比の原料融液から育成される単結晶とNd2O3側にずれ
た原料融液から育成される単結晶とでは、単結晶中の欠
陥の構造が異なり熱膨張率に差が生じて冷却中にクラッ
クが生じ易くなったのに対し、Ga2O3過剰側ではその
ような差がないためと考えている。
のみでなく、ネオジウムガレートと同じGdFeO3構
造を持つPrGaO3,LaGaO3,(Nd,La)G
aO3などのレアア−ス・ガリウム・ペロブスカイト単
結晶にも有効であると考えられる。
晶を育成した実施例を示す。純度99.99%の酸化ネオジ
ウム粉末と酸化ガリウム粉末を用い、化学量論比の酸化
ネオジウムと酸化ガリウムの合計量4kgに対し、酸化
ガリウム粉末を12g(0.3wt%)過剰に添加・混合
し、成形後、1200℃で燒結させ、イリジウム製ルツ
ボに充填した。
波加熱炉に入れ、窒素100%気流中で加熱し、原料を
約1600℃で融解した。この融解した原料融液表面に
ネオジウムガレート種結晶を接触させて、回転させなが
らヒ−タの出力をコントロールしつつ引き上げることで
ネオジウムガレート単結晶を育成した。
用い、種結晶の回転数は20rpmとした。
/cmとし、引上げ速度は1.0mm/Hrとし、直径
40mmの単結晶を直胴長50mmまで引き上げた後、
育成した単結晶を融液から切り離し、30℃/Hrで冷
却した。
結晶は冷却中もその後の放置中もクラックの発生はなか
った。なお、同様の実験を合計5回行ったが、いずれも
クラックの発生はなかった。また、イリジウム製るつぼ
の損傷は少なく、10回の単結晶育成に連続して使用す
ることができた。
で行っているが、本発明はこれに限定されず、酸素分圧
を例えば0.1%程度に低くしたものや、酸素分圧を3
%にしたものでも単結晶の大型化(大口径化や長尺化)
により育成中に原料融液が酸化ネオジウム側にずれるよ
うな場合には有効である。
比に対し0.3wt%としたが、本発明はこれに限定され
ず、育成中の雰囲気や育成する結晶の大きさなどの条件
に応じて適宜選択されるが、本実施例のような条件下で
は0.2〜1.0wt%の範囲とされる。0.2wt%未満
ではクラックの発生が見られることがあり、1.0wt%
を超えると単結晶の結晶性が悪化するからである。
℃/cmとしたが、10〜50℃/cmの範囲であれば
良く、引上げ速度も1.0mm/Hrとしたが、0.5
〜6mm/Hrの範囲で適宜選択され、育成した単結晶
を融液から切り離した後の速度を30℃/Hrとした
が、10〜50℃/Hrの範囲とされる。
窒素100%の雰囲気下でもネオジウムガレート単結晶
をクラックの発生がなく得ることができ、高価なイリジ
ウム製るつぼの損傷を少なくできるので、酸化物超電導
薄膜用の基板材料として好適なネオジウムガレート単結
晶を安定して安価に製造することができる。
用い、種結晶の回転数は10rpmとした。
/cmとし、引上げ速度は1.0mm/Hrとし、直径
50mmの単結晶を直胴長80mmまで引き上げた後、
育成した単結晶を融液から切り離し、30℃/Hrで冷
却した。
Claims (2)
- 【請求項1】 レアア−ス・ガリウム・ペロブスカイト
単結晶の育成方法において、原料融液の組成を、単結晶
育成中に原料融液から蒸発するGa2O3の量に見合う量
以上に、Ga2O3過剰にしておくことを特徴とするレア
ア−ス・ガリウム・ペロブスカイト単結晶の育成方法。 - 【請求項2】 上記レアア−ス・ガリウム・ペロブスカ
イト単結晶がネオジウムガレート単結晶であることを特
徴とする請求項1記載のレアア−ス・ガリウム・ペロブ
スカイト単結晶の育成方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1493594A JP2733899B2 (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | レアア−ス・ガリウム・ペロブスカイト単結晶の育成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1493594A JP2733899B2 (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | レアア−ス・ガリウム・ペロブスカイト単結晶の育成方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07206577A true JPH07206577A (ja) | 1995-08-08 |
| JP2733899B2 JP2733899B2 (ja) | 1998-03-30 |
Family
ID=11874831
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1493594A Expired - Fee Related JP2733899B2 (ja) | 1994-01-14 | 1994-01-14 | レアア−ス・ガリウム・ペロブスカイト単結晶の育成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2733899B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006106875A1 (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Fukuda Crystal Laboratory | ガレート単結晶及びその作成方法並びに高温用圧電素子及び高温用圧電センサー |
| CN105957970A (zh) * | 2016-05-30 | 2016-09-21 | 哈尔滨工业大学 | 一种大尺寸单晶钙钛矿薄膜的制备方法 |
| WO2017030166A1 (ja) * | 2015-08-19 | 2017-02-23 | シチズンファインデバイス株式会社 | ランガテイト系単結晶の製造方法及びランガテイト系単結晶 |
-
1994
- 1994-01-14 JP JP1493594A patent/JP2733899B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2006106875A1 (ja) * | 2005-03-30 | 2006-10-12 | Fukuda Crystal Laboratory | ガレート単結晶及びその作成方法並びに高温用圧電素子及び高温用圧電センサー |
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| JP2013040093A (ja) * | 2005-03-30 | 2013-02-28 | Fukuda Crystal Laboratory | ガレート単結晶及び並びに高温用圧電素子及び高温用圧電センサー |
| JP5174456B2 (ja) * | 2005-03-30 | 2013-04-03 | 株式会社福田結晶技術研究所 | ガレート単結晶及びその作成方法 |
| WO2017030166A1 (ja) * | 2015-08-19 | 2017-02-23 | シチズンファインデバイス株式会社 | ランガテイト系単結晶の製造方法及びランガテイト系単結晶 |
| JPWO2017030166A1 (ja) * | 2015-08-19 | 2018-03-22 | シチズンファインデバイス株式会社 | ランガテイト系単結晶の製造方法及びランガテイト系単結晶 |
| CN105957970A (zh) * | 2016-05-30 | 2016-09-21 | 哈尔滨工业大学 | 一种大尺寸单晶钙钛矿薄膜的制备方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2733899B2 (ja) | 1998-03-30 |
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